KR100884783B1 - 광디스크 장치 - Google Patents

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Abstract

광디스크 장치에 있어서, 러닝 OPC(ROPC)를 확실히 실행하여 기록 품질을 향상시킨다. 블루레이 등의 차세대 디스크에 있어서 기록 유닛 블록(RUB)의 APC 영역 중, APC 동작용 영역의 잔류 영역을 이용하여 ROPC를 실행한다. ROPC는 기록할 데이터 길이의 규정 길이보다 긴 50T의 테스트 데이터를 시험 기록하고, 그때의 반사광량의 레벨 B를 검출함으로써 실행한다. APC 영역은 5워블 기간으로 구성된다. 처음의 2워블 기간에 APC를 실행하고, 나머지 3워블 기간에 ROPC를 실행한다.
광디스크, 블루레이, 반사광, 워블

Description

광디스크 장치{OPTICAL DISK DRIVE}
본 발명의 바람직한 실시예는 다음 도면을 참조하여 구체적으로 설명한다.
도 1은 실시예의 광디스크 장치의 전체 구성도다.
도 2는 광디스크 장치의 주요부 구성도다.
도 3은 기록 스트레티지의 설명도다.
도 4는 APC과 ROPC의 실행 타이밍 차트다.
도 5a 내지 5c는 ROPC의 실행 타이밍 차트다.
도 6은 기록 파워와 반사율의 관계를 나타내는 그래프다.
도 7은 광디스크의 디스크 반경과 ROPC 비율의 관계를 나타내는 그래프다.
도 8은 블루레이 디스크의 데이터 구조 설명도다.
도 9는 광디스크 장치의 또 다른 주요부 구성도다.
도 10은 테스트 데이터를 시험 기록하는 기록 펄스의 설명도다.
도 11a 내지 11d는 재생신호 파형(합 신호 파형)과 검파 파형의 타이밍 차트다.
도 12는 펄스와 β치의 관계를 나타내는 그래프다.
도 13은 펄스와 β치의 관계를 나타내는 또 다른 그래프다.
도 14는 광디스크 장치의 또 다른 주요부 구성도다.
도 15는 블루레이 디스크의 또 다른 데이터 구조 설명도다.
본 출원은 2006년 3월 8일 출원된 일본 특개 No. 2006-62998과 2006년 3월 8일 출원된 일본 특개 No. 2006-63002의 우선권을 주장하며, 그 모든 내용은 여기에 참조로 인용된다.
[기술분야]
본 발명은 광디스크 장치, 특히 기록 레이저광 파워의 조정에 관한 것이다.
[종래기술]
종래부터, 광디스크에 데이터를 기록할 때에, 광디스크의 소정의 테스트 에어리어에서 기록 레이저광 파워를 여러 가지로 변화시켜서 테스트 데이터를 기록하고, 테스트 데이터를 재생해서 그 재생 품질에 기초하여 최적 기록 파워를 설정하는 OPC(Optimum Power Control)의 기술과 함께, 실제의 데이터 기록시에 광디스크로부터의 반사광량을 검출하고, 반사광량에 따라 기록 레이저광 파워를 증감 조정하는 ROPC(러닝 OPC)가 실용화되었다.
ROPC에 있어서는, 데이터 기록 중의 반사광량 중, 기록 레이저광에 의해 피트가 형성되어서 그 반사광량이 안정되는 레벨 B 부분을 샘플링해서 검출하고, 이 레벨 B의 값에 따라 기록 레이저광 파워를 증감 조정한다. 예를 들면, 기록 레이저광 파워를 P, 레벨 B의 값을 B이라고 하면, B/Pn이 일정해지도록 기록 레이저광 파워 P를 조정한다. n은 예를 들면 2 등의 값으로 설정된다.
레벨 B 부분의 샘플링은, 레벨 B의 안정에 요하는 시간이나, 필터링의 대역 등을 고려하면, 가능한 한 데이터 길이가 긴 피트로 행하는 것이 바람직하다. 예를 들면, DVD의 경우에는, 9T ~ 11T, 14T 등의 데이터 길이에 있어서 반사광량을 샘플링해서, 레벨 B의 값을 얻는다.
특개 2002-157738호에는, 내주측에서 외주측을 향해서 시험 기록 영역, 버퍼 영역, 리드 인 영역, 프로그램 영역, 리드 아웃 영역이 설치되는 디스크를 각속도가 일정한 상태로 회전시키는 광디스크 장치에 대해 기재되어 있다. 공보에는 시험 기록 영역 및 리드 아웃 영역의 외측에 있는 외주영역에 테스트 신호를 기록하는 것과 함께 기록된 테스트 신호를 재생함으로써 레이저 출력 값의 설정 동작을 행하는 것이 기재되어 있다.
ROPC에서는, 가능한 한 데이터 길이가 긴 피트를 기록하는 타이밍에서 레벨 B를 검출한다. 하지만, 최근에는 데이터 기록 속도의 고속화 요구에 따라 기록 펄스의 절대시간이 짧아지고 있어, 설령 데이터 길이가 긴 피트에 주목하더라도 레벨 B를 안정되게 검출하는 것이 극히 곤란하다.
광디스크의 종류가 바뀌면, 데이터 길이가 긴 피트가 존재하지 않는 경우도 상정된다. 예를 들면 차세대 광디스크의 하나인 블루레이 디스크에서는, 최대 데이 터 길이가 8T이며, 동기신호여도 9T의 데이터 길이밖에 가지지 않고, 레벨 B의 검출이 한층 곤란해진다. 또한 기록 동작중에 데이터 기록을 중단되고, 직전에 기록한 데이터의 품질을 평가하고, 평가 결과에 따라 기록 레이저광 파워를 조정하는 "리콜법(recalling method)"도 알려져 있다. 직전의 기록품질을 β치나 γ치, 에러 레이트로 평가하여 기록 레이저광 파워를 조정할 때에, β치나 γ치 등의 평가 파라미터에 대해 기록 레이저광 파워를 어떻게 증감조정하면 되는지, 즉 기록 레이저광 파워와 평가 파라미터의 관계에 관해 정확히 알 필요가 있다. 이러한 지식은 OPC를 행하는 테스트 에어리어에 있어서 취득할 수 있다. OPC를 실행하는 테스트 에어리어와 실제로 데이터를 기록하는 영역은 기록감도가 다르다. 기록 레이저광 파워의 정확한 조정은 곤란하다.
본 발명은 데이터 기록 속도를 고속화하고, 혹은 차세대 광디스크의 짧은 데이터 길이에 의존하지 않고, 기록 레이저광의 파워를 조정하여, 기록 품질을 확보할 수 있는 광디스크 장치를 제공한다.
본 발명은 소정의 기록 블록마다 데이터를 기록하는 광디스크 장치로서, 상기 기록 블록은 유저 데이터 영역을 포함하고, 상기 광디스크 장치는 기록 레이저광을 조사하는 조사수단과, 상기 기록 블록의 상기 유저 데이터 영역 이외의 소정 영역에 상기 기록 레이저광을 조사해서 소정 데이터 길이의 테스트 데이터를 시험 기록하고, 시험 기록시의 반사광량에 따라 기록 레이저광 파워를 조정하는 컨트롤 러를 가지고, 데이터 기록시에 상기 소정의 기록 블록마다 상기 기록 레이저광 파워를 반복 조정하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 의하면, 기록 블록 중 유저 데이터 영역 이외의 소정 영역에서 ROPC를 실행하여, ROPC의 실행을 보장해서 기록 품질을 확보할 수 있다. 특히, APC(Auto Power Control) 영역 중 잔존 영역을 사용하고, 기록하게 될 데이터의 규정 데이터 길이보다 긴 데이터 길이의 테스트 데이터를 사용함으로써 기록 속도의 증대에도 대응할 수 있다.
또한 본 발명은, 소정의 기록 블록마다 데이터를 기록하는 광디스크 장치로서, 상기 기록 블록은 유저 데이터 영역을 포함하고, 상기 광디스크 장치는 기록 레이저광을 조사하는 조사수단과, 데이터 기록시에 데이터 기록을 중단해서 기록 파워를 조정하는 컨트롤러를 가지고, 상기 컨트롤러는 데이터 기록을 중단한 경우에, 상기 기록 블록의 상기 유저 데이터 영역 이외의 소정 영역에서 파워를 변화시켜서 테스트 데이터를 시험 기록하고, 시험 기록한 테스트 데이터를 재생하여 얻어지는 신호 품질과 파워의 관계에 따라 상기 기록 레이저광 파워를 조정하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 의하면, 데이터 기록중에 데이터 기록을 중단해서 기록 파워를 고정밀도로 조정할 수 있다.
본 발명은 하기 기재된 실시예에 의해 더욱 명확히 이해된다. 그러나, 본 발명의 범위는 실시예에 한정되지 않는다.
이하, 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 관하여 설명한다.
도 1에, 본 실시예에 따른 광디스크 장치의 전체 구성도를 나타낸다. DVD, 차세대 광디스크(블루레이) 등의 데이터를 기록할 수 있는 광디스크(10)는 스핀들 모터(SPM)(12)에 의해 회전 구동된다. 스핀들 모터 SPM(12)는 드라이버(14)에 의해 구동되고, 드라이버(14)는 서보 프로세서(30)에 의해 원하는 회전속도가 되도록 서보 제어된다.
광 픽업(16)은 레이저광을 광디스크(10)에 조사하기 위한 레이저 다이오드(LD)와 광디스크(10)로부터의 반사광을 수광해서 전기신호로 변환하는 광검출기(PD)를 포함한다. 광 픽업(16)은 광디스크(10)에 대향 배치된다. 광 픽업(16)은 슬레드 모터(18)에 의해 광디스크(10)의 반경 방향으로 구동되고, 슬레드 모터(18)는 드라이버(20)에 의해 구동된다. 드라이버(20)는 드라이버(14)와 마찬가지로 서보 프로세서(30)에 의해 서보 제어된다. 또한, 광 픽업(16)의 LD는 드라이버(22)에 의해 구동되고, 드라이버(22)는 시스템 컨트롤러(32)로부터의 지령에 따라 LD의 발광량을 제어한다. 도면에서 드라이버(22)는 광 픽업(16)과 별도로 설치되어 있지만, 후술하는 바와 같이 드라이버(22)를 광 픽업(16)에 탑재해도 된다.
광디스크(10)에 기록된 데이터를 재생할 때는, 광 픽업(16)의 LD로부터 재생 파워의 레이저광이 조사되고, 광디스크(10)에 의해 반사된 반사광은 PD에 의해 전기신호로 변환되고, 변환된 전기신호는 RF회로(26)에 공급된다. RF 회로(26)는 재생 신호로부터 포커스 에러 신호와 트래킹 에러 신호를 생성하고, 이렇게 생성된 신호를 서보 프로세서(30)에 공급한다. 서보 프로세서(30)는 이들 에러 신호에 기 초하여 광 픽업(16)을 서보 제어하고, 광 픽업(16)을 온 포커스 상태 및 온 트랙 상태로 유지한다. RF회로(26)는 재생신호에 포함되는 어드레스 신호를 어드레스 디코드 회로(28)에 공급한다. 어드레스 디코드 회로(28)는 어드레스 신호로부터 광디스크(10)의 어드레스 데이터를 복조하고, 이렇게 복조된 어드레스 데이터를 서보 프로세서(30)나 시스템 컨트롤러(32)에 공급한다.
어드레스 신호의 하나의 예는 워블 신호다. 광디스크(10)의 절대 어드레스를 나타내는 시간정보의 변조 신호로 광디스크(10)의 트랙을 워블시킨다. 이 워블 신호를 재생 신호로부터 추출하여 디코드함으로써 어드레스 데이터(ATIP)를 얻을 수 있다. RF회로(26)는 재생 RF신호를 2치화 회로(34)에 공급한다. 2치화 회로(34)는 재생 RF신호를 2치화하고, 얻어지는 신호를 인코드/디코드회로(36)에 공급한다. 인코드/디코드 회로(36)에서는, 2치화 신호를 복조 및 에러 정정해서 재생 데이터를 얻고, 그 재생 데이터를 인터페이스 I/F (Interface) (40)를 통해 PC 등의 호스트 장치에 출력한다. 재생 데이터를 호스트 장치에 출력할 때에는, 인코드/디코드 회로(36)는 버퍼 메모리(38)에 재생 데이터를 일단 저장한 후에 출력한다.
광디스크(10)에 데이터를 기록할 때에는, 호스트 장치로부터 기록하게 될 데이터는 인터페이스 I/F(40)를 통해 인코드/디코드 회로(36)에 공급된다. 인코드/디코드 회로(36)는 기록하게 될 데이터를 버퍼 메모리(38)에 저장하고, 그 기록하게 될 데이터를 인코드하여, 변조 데이터로서 라이트 스트레티지 회로(42)에 공급한다. 라이트 스트레티지 회로(42)는 변조 데이터를 소정의 기록 스트레티지에 따라 멀티 펄스(펄스 트레인)로 변환하고, 기록 데이터로서 드라이버(22)에 공급한다. 기록 스트레티지는 기록 품질에 영향을 주기 때문에, 그 기록 스트레티지는 통상적으로 특정 최적 스트레티지에 고정된다. 기록 데이터에 의해 파워 변조된 레이저광이 광 픽업(16)의 LD로부터 조사됨으로써, 광디스크(10)에 데이터가 기록된다. 데이터를 기록한 후, 광 픽업(16)은 재생 파워의 레이저광을 조사해서 그 기록 데이터를 재생하고, 그 재생된 데이터를 RF회로(26)에 공급한다. RF회로(26)는 재생 신호를 2치화 회로(34)에 공급하고, 2치화된 데이터는 인코드/디코드 회로(36)에 공급된다. 인코드/디코드 회로(36)는, 변조 데이터를 디코드하고, 버퍼 메모리(38)에 저장되어 있는 기록 데이터와 대조한다. 대조 결과는 시스템 컨트롤러(32)에 공급된다. 시스템 컨트롤러(32)는 대조 결과에 따라, 계속해서 데이터를 기록할지, 혹은 교체 처리를 실행할지를 결정한다.
시스템 컨트롤러(32)는 시스템 전체의 동작을 제어하는데, 특히 OPC와 ROPC를 실행한다. OPC에서는, 광디스크(10)의 테스트 에어리어에 기록 파워를 단계적으로 변화시켜서 테스트 데이터를 시험 기록하고, 시험 기록한 테스트 데이터를 재생해서 그 β치나 γ치, 변조 정도, 에러 레이트 등을 측정한다. 에러 레이트 등의 재생 신호 품질이 원하는 값이 되는 기록 파워를 선택해서 최적 기록 파워 Po로 한다. 시스템 컨트롤러(32)는 선택한 기록 파워 Po가 되도록 드라이버(22)를 제어한다. 시스템 컨트롤러(32)는, ROPC도 실행한다. ROPC에서는 상기한 바와 같이 기록 레이저광으로 피트를 형성할 때의 레벨 B의 값을 샘플링하여 얻어지는 레벨 B의 값에 따라 드라이버(22)를 제어해 기록 파워를 증감 조정한다.
이하, 시스템 컨트롤러(32)에 있어서의 ROPC의 처리에 대해서, 광디스크(10) 로서 블루레이를 예로 들어 설명한다.
도 8에, 블루레이의 데이터구조를 나타낸다. 데이터는 기록 유닛 블록(RUB) 단위로 관리된다. 하나의 RUB는 2760 채널 비트(cbs)의 런인부(Runin부)와, 496×1932 채널 비트의 물리 클러스터(Physical Cluster)와, 1104 채널 비트의 런아웃부(Runout부)로 구성된다. 물리 클러스터가 유저 데이터 영역이다. 런인부, 물리 클러스터, 런아웃부 중, 선두의 런인부에는 APC 영역이 설정되어 있다. 이 APC 영역은 5워블(즉, 5×69 채널 비트)만큼 존재하고, 이 영역을 이용해서 APC가 실행된다. 여기에서, "APC"란, 레이저 다이오드(LD)의 발광 특성은 온도 의존성이 있어, 동일 구동전류라도 발광량이 변화될 수 있으므로, 전류(i)와 발광량(L)의 관계를 산출하여, 원하는 발광량이 얻어지는 구동전류를 조정한다는 것을 의미한다. 이 APC 영역을 이용하여, 구동전류를 여러 가지로 변화시켜서 발광량을 검출하고, 전류와 발광량의 관계를 산출하고, 원하는 발광량이 얻어지는 구동전류를 산출하는 처리를 실행한다. 예를 들면, 5mW와 15mW로 LD를 구동하고, 이때의 발광량을 LD 근방에 배치한 수광소자(프론트 모니터)에서 검출하고, LD의 i-L 특성을 학습 혹은 보정한다. APC 영역은 상기한 바와 같이 5워블만큼 확보되어 있지만, 실제로 i-L 특성을 학습 혹은 보정하기 위해서는 5워블만큼 필요로 하지 않고, APC 영역 중 나머지 영역은 미사용 상태로 남게 된다.
본 실시예에서는, 이 미사용 영역에 주목하여, APC 영역 중 APC에서 사용되지 않는 잔존 영역을 이용해서 ROPC를 실행한다. 예를 들면, APC 영역의 5워블 기간 중, 2워블 기간을 APC에서 사용하고, 나머지 3워블 기간을 ROPC에서 사용하는 등이다. 또한 블루레이에서는 데이터 길이로서 2T ~ 8T(동기신호를 포함하면 9T까지)의 데이터밖에 나타나지 않는다. 그러나 APC 영역에서는 임의의 테스트 데이터를 시험 기록할 수 있으므로, ROPC를 행할 때는 9T보다 긴 데이터 길이를 가지는 테스트 데이터, 예를 들면 50T 등의 테스트 데이터를 시험 기록하여 레벨 B를 검출한다.
도 2에, 기록 유닛 블록 RUB의 APC 영역에 있어서 APC 및 ROPC를 행하는 주요부 구성을 나타낸다. 광 픽업(16)은, LD나 4분할 광검출기 PD, 대물렌즈, 대물렌즈 구동회로(포커스 방향 및 트래킹 방향의 구동회로) 외에도, LD를 구동하는 드라이버(LDD)(22), LD의 근방에 배치되어 LD로부터의 발광량을 검출하는 프론트 모니터(FMT)(16b)를 구비한다. 프론트 모니터(16b)는 LD로부터의 발광량을 전기신호로 변환해서 시스템 컨트롤러(32)에 출력한다.
4분할 광검출기는, LD로부터의 레이저광 중 광디스크(10)에서 반사한 반사광량(리턴광량)을 검출하고, 그것을 로 패스 필터 LPF(44)에 공급한다.
로 패스 필터(44)는 반사광 신호에 포함되는 고영역 성분을 노이즈로서 제거하고, 샘플 홀드 회로 S/H46에 공급한다. 고영역 성분은, 예를 들면 데이터 기록시의 기록 스트레티지에 기인하는 변조 성분이 포함된다. 본 실시예에서는 50T 등의 데이터 길이가 긴 테스트 데이터를 샘플 홀드 하므로, 로 패스 필터(44)의 컷오프 주파수 fc를 높게 설정할 필요가 없다. 샘플 홀드 회로 S/H46은 로 패스 필터(44)로부터의 신호를 샘플 홀드 하고, 반사광량의 레벨 B를 검출해서 시스템 컨트롤러(32)에 공급한다. 샘플 홀드 회로 S/H46의 샘플 홀드 타이밍은, 인코더/디코 더(36)에 의해 주어진다. 인코더/디코더(36)는 기록 유닛 블록 RUB의 APC 영역인 것을 나타내는 포맷터 혹은 타이밍 제너레이터로부터의 타이밍 제어신호 Tapc를 입력하고, 이 신호에 기초하여 APC 영역의 시작 타이밍을 판정한다. 2워블 기간에 APC를 실행하는 타이밍 신호를 시스템 컨트롤러(32)에 공급하는 것과 함께, 2워블 기간의 종료 타이밍 신호, 즉 ROPC의 시작 타이밍 신호 신호를 시스템 컨트롤러(32) 및 샘플 홀드 회로 S/H46에 공급한다. 샘플 홀드 회로 S/H46은 인코더(36)로부터의 ROPC 시작 타이밍 신호에 따라, 반사광량을 샘플 홀드 하고, 레벨 B를 검출한다. 레벨 B는 상기한 바와 같이 피트가 형성되어서 반사광량이 안정된 타이밍에서의 값이며, ROPC의 시작 타이밍으로부터 소정 시간 경과 후의 타이밍으로서 규정된다.
인코더/디코더 회로(36)는 포맷터 혹은 타이밍 제너레이터로부터의 타이밍 신호에 따라, APC 영역에서 APC 및 ROPC를 실행하기 위한 기록 펄스를 드라이버(22)에 공급한다. 또한, 물리 클러스터에 있어서 유저 데이터를 기록해야 하는 소정의 기록 스트레티지에 따른 기록 펄스를 드라이버(22)에 공급한다. 도 3에, 유저 데이터를 기록할 때의 기록 스트레티지의 일례를 게시한다. 기록 스트레티지는, 선두 펄스 Ttop, 거기에 이어지는 멀티 펄스 Tmp, 라스트 펄스 Tlp로 이루어진다. 선두 펄스 Ttop의 펄스 폭이나 펄스 레벨(Pw), 멀티 펄스의 수나 펄스 레벨(Pb), 라스트 펄스 Tlp의 펄스 폭이나 펄스 레벨(Pw), 라스트 펄스 Tlp 후의 펄스 폭(Ts)이나 펄스 레벨(Pc)에 따라 기록 스트레티지는 다양하게 변화된다. 선두 펄스 Ttop나 멀티 펄스 Tmp, 라스트 펄스 Tlp는 바이어스 레벨 Ps에서 중첩되지만, 바이어스 레벨 Ps는 재생 레벨 혹은 소거 레벨로 설정된다. 기록하게 될 데이터 길이가 2T인 경우에는, 선두 펄스 Ttop만 존재할 뿐, 멀티 펄스 Tmp 및 라스트 펄스 Tlp는 존재하지 않는다. 기록하게 될 데이터 길이가 3T인 경우에는, 선두 펄스 Ttop 및 라스트 펄스 Tlp는 존재하지만, 멀티 펄스 Tmp는 존재하지 않는다. 기록하게 될 데이터 길이가 nT(n은 4 이상)인 경우에는, 선두 펄스 Ttop, 멀티 펄스 Tmp, 라스트 펄스 Tlp는 모두 존재하고, 기록 스트레티지는
Ttop + (n-3) × Tmp + Tlp
로 결정된다. 기록 스트레티지는 고정해도 되고, OPC 실행시에 최적화해도 된다.
실제의 데이터를 기록하는 경우에는 상기 스트레티지에 따라 동작한다. 그러나, APC를 실행하는 경우에는 단일 펄스로 드라이버(22)를 구동하면 된다. 또한, ROPC를 실행하는 경우에는 테스트 데이터를 시험 기록하는 것이므로 임의의 스트레티지를 사용할 수 있다. 본 실시예에서 인코더/디코더 회로(36)는 실제의 데이터를 기록할 때의 기록 스트레티지를 원용해서 테스트 데이터를 시험 기록하여 ROPC를 실행한다. 이로써 ROPC의 실효성을 확실히 보장한다. 구체적으로는, 데이터 길이가 50T인 테스트 데이터를 기록하기 위해, 상기 식을 따라 Ttop + 47 × Tmp + Tlp로 정의된 기록 스트레티지에 의해 테스트 데이터를 시험 기록한다.
시스템 컨트롤러(32)는, 인코더/디코더(36)로부터의 타이밍 신호에 따라 APC 영역에 있어서 APC 및 ROPC를 실행하기 위해 드라이버(22)를 제어한다. ROPC에서는, 이하와 같은 처리를 실행한다. 즉, 우선, 블루레이의 테스트 에어리어에서 OPC 를 실행해서 최적 기록 파워 Po를 설정하고, 설정된 최적 기록 파워 Po로 50T의 테스트 데이터를 시험 기록한다. 그때의 반사광량의 레벨 B(이것을 Bo라고 한다)를 검출해 메모리에 기억해 둔다. 이렇게 하여 얻어진 기록 파워 Po 및 레벨 B의 값 Bo는 이상적인 기록 조건 하에서 조합을 이룬다. 실제의 데이터 기록시에, 레벨 B의 값을 샘플링하고, Bo/Pon = B/Pn = 일정해지도록 기록 파워 P를 조정한다. 얻어지는 Po, Bo, B를 사용해서 다른 방법에 의해 기록 파워 P를 조정해도 된다. 예를 들면, 현재의 기록 파워 P와 얻어지는 레벨 B로부터 B/Pn을 산출하고, 이렇게 산출된 B/Pn과 Bo/Pon를 대소 비교한다. 비교 결과에 따라 주어진 양(예를 들면 ±0.2mW)만큼 현재의 기록 파워 P를 증감 조정해도 된다.
도 4에, APC 영역에서 APC 및 ROPC가 실행되는 타이밍을 나타낸다. 기록 유닛 블록 RUB의 선두에 APC 영역(100)이 존재하고, APC 영역(100)은 APC 동작용 에어리어(이후 "APC 동작 에어리어"라 한다)와 ROPC 동작용 에어리어(이후 "ROPC 동작 에어리어"라 한다)로 2분할된다. APC 동작 에어리어에서는, 도면에 도시한 바와 같이 2개의 파워 Pl 및 P2로 LD를 구동한다. 그때의 발광량을 프론트 모니터(16b)에서 검출해서 i-L 특성을 얻는다. 얻어지는 i-L 특성에 근거하여, 원하는 발광량이 얻어지는 구동전류를 산출하고, 산출한 구동전류로 LD를 구동한다. LD의 i-L 특성은 온도의 영향을 받아서 변동한다. 따라서, RUB당 APC를 실행해서 항상 i-L 특성을 보정 혹은 교정할 필요가 있다. ROPC 동작 에어리어에는, 상기한 바와 같이 50T의 테스트 데이터를 기록하고, 상기 테스트 데이터의 시험 기록중에 있어서의 반사광량을 샘플 홀드 해서 레벨 B를 검출한다. 50T의 테스트 데이터로 함으로써 충분히 대역이 낮은 로 패스 필터(44)를 통해, 멀티 펄스의 노이즈를 충분히 제거할 수 있다. 예를 들면, 채널 비트 레이트가 66MHz인 경우, 5OT는 0.76μS에 해당하므로, 로 패스 필터(44)의 컷오프 주파수 fc는 1.32MHz까지 하강시킬 수 있다. 도면에는, 반사광량 파형(리턴광 파형), 로 패스 필터(44) 통과 후의 파형, 및 샘플 홀드 회로 S/H46의 샘플 홀드 타이밍 파형을 나타낸다. 반사광의 파형에는 기록 스트레티지의 변조 성분이 중첩되지만, 로 패스 필터(44)에 의해 이 변조 성분이 제거되어 있다는 것을 알 수 있다.
이상과 같이 하여, 소정 주기로 나타나는 APC 영역에서 ROPC를 실행하고, 기록 파워를 증감 조정하면서 데이터를 기록한다. ROPC 실행시에는 도면에 도시한 바와 같이, 50T의 테스트 데이터를 1회만 시험 기록하여 레벨 B를 검출해도 된다. 그러나, APC 영역(100)은 5워블 기간에 해당하고, 3워블 기간을 ROPC로 충당하는 경우, 3×69 = 207 채널 비트 확보할 수 있다. 그러므로, 50T의 테스트 데이터는 1 회만이 아니라 4 회만큼 시험 기록할 수 있다. 따라서, 소정의 테스트 에어리어에서 OPC를 실행할 때에 기록 파워를 단계적으로 변화시키는 것과 마찬가지로, 기록 파워를 복수 단계로 변화시켜서 50T의 테스트 데이터를 시험 기록하여 ROPC를 실행해도 된다.
도 5a 내지 5c에, 기록 파워를 P4, P5, P6, P7로 변화시켜서 50T의 테스트 데이터를 시험 기록하는 경우의 타이밍 차트를 나타낸다. 도 5a는 기록 펄스 파형으로서, 50T의 테스트 데이터를 시험 기록하기 위한 기록 스트레티지가 4회 반복 출현하는 파형이다. 도 5b는 그때의 반사광량(리턴광) 파형이며, 도면 중, 로 패스 필터(44)를 통과한 후의 신호 파형을 실선으로 나타낸다. 도 5c는 샘플 홀드 회로 S/H46의 샘플 홀드 타이밍을 나타낸다. 합계 4회의 50T의 테스트 데이터의 시험 기록 및 반사광량의 샘플 홀드에 의해, 합계 4쌍의 기록 파워와 레벨 B의 값이 얻어진다. 이 쌍을 (P4, B4), (P5, B5), (P6, B6), (P7, B7)라고 한다. 다음으로 이들 조합을 이용해서 ROPC를 실행하기 위해, 반사율 R = B/P를 산출한다. 즉, R4 = B4/P4, R5 = B5/P5, R6 = B6/P6, R7 = B7/P7을 산출한다. 또한, 이들 반사율 R과 기록 파워의 관계식을 산출한다. 도 6에, 기록 파워 P와 반사율 R의 관계를 나타낸다. 시스템 컨트롤러(32)는 기록 파워 P와 반사율 R의 관계로부터 f(Px, Rx)을 산출한다. OPC의 실행시에 얻어지는 이상적인 (Po, Bo)로부터 이상적인 반사율 Ro를 산출한다. 이 이상적인 반사율 Ro를 관계식 f(Px, Rx)에 대입함으로써, ROPC 실행 위치에 있어서의 이상적인 기록 파워를 얻을 수 있다. ROPC 처리를 정리하면 아래와 같다.
(1) 블루레이의 테스트 에어리어에서 OPC를 실행하고, 최적 기록 파워 Po로 50T의 테스트 데이터를 시험 기록하여 레벨 B를 검출한다. 이상적인 기록 파워 Po와 레벨 B의 값 Bo의 조합(Po, Bo)을 구한다.
(2) (Po, Bo)로부터 이상적인 반사율 Ro = Bo/Po를 구한다.
(3) APC 영역에서 APC를 실행한 후, 기록 파워를 복수 단계로 변화시키면서 50T의 테스트 데이터를 복수 회 반복해서 시험 기록하고, 그때의 레벨 B를 각각 검출해서, 기록 파워 P와 레벨 B의 조합을 구한다.
(4) 기록 파워와 레벨 B의 조합으로부터 반사율 R을 구한다.
(5) 기록 파워와 반사율 사이의 관계식 f(Px, Bx)을 산출한다.
(6) 이상적인 반사율 Ro와 관계식 "f"로부터 기록 파워를 산출하여, 현재의 기록 파워를 증감 조정한다.
본 실시예에서는 APC 영역에서 ROPC를 반복해 실행하므로, 언제나 기록 파워를 최적치로 조정할 수 있다. 또한, 50T만큼의 데이터 길이의 테스트 데이터를 사용해서 ROPC를 실행하므로, 기록 속도 증대에도 대응할 수 있다.
본 실시예에서는 5워블 기간 중, 2워블 기간은 APC 동작용, 나머지 3워블 기간은 ROPC 동작용으로 한다. 그러나, 3워블 기간은 APC 동작용, 나머지 2워블 기간은 ROPC 동작용으로 하는 등, 임의로 설정할 수 있다. 또한 광디스크마다, 혹은 동일 광디스크여도 반경 위치마다 APC 동작용과 ROPC 동작용의 비율을 적절히 변화시켜도 된다. 예를 들면, 내주 측에서는 APC 동작용에 3워블 기간, ROPC 동작용에 2워블 기간을 할당하고, 외주 측에서는 APC 동작용에 2워블 기간, ROPC 동작용에 3워블 기간을 할당하는 등이다. 내주 측에서는 OPC에서 설정한 최적 기록 파워 Po을 그대로 적용할 수 있는 가능성이 있으므로, 내주 측에서는 5워블 기간을 APC 동작용으로 할당하고, ROPC 동작은 행하지 않아도 된다. 일반적으로는, 외주만큼 ROPC의 필요성이 높아진다. 따라서, ROPC의 실행 정밀도를 상승시키기 위해 ROPC 동작용 비율을 증대시키는 것이 바람직하다.
도 7에, APC 영역에 대한 ROPC동작 영역의 비율의 예를 게시한다. 즉, 3개의 경우를 예시하고 있다. 비율 "a"는, ROPC의 비율이 반경에 의존하지 않고 60%(5워 블 기간 중 3워블 기간)로 고정한 경우다. 비율 "b"는, 어떤 반경 위치 r2까지는 ROPC의 비율이 40%이며, 그 이상의 반경에서는 60%로 증대하는 경우다. 비율 "c"는, 어떤 반경 r1까지는 ROPC의 비율은 0%, 즉 ROPC는 실행하지 않고 APC만을 실행하고, 반경 r1 ~ r2까지는 반경 위치에 따라 순차 ROPC의 비율이 증대하고, 반경 위치 r2 이상에서는 ROPC의 비율이 100%, 즉 ROPC만을 실행하는 경우다. 비율 "c"는, 광디스크(10)의 모든 영역에 있어서 APC과 ROPC를 항상 실행하는 것이 아니고, 적어도 일부의 영역에서 APC 영역을 사용해서 APC과 ROPC를 실행하는 것을 나타낸다.
본 실시예에서는 ROPC 실행시에 B/P 혹은 B/P2을 이용해서 기록 파워를 증감 조정한다. 그러나, 보다 일반적으로 B/Pn("n"은 1 이상의 실수)을 이용해서 기록 파워를 증감 조정해도 된다.
도 15에, 블루레이의 데이터구조를 다시 나타낸다. 가드 영역에는 소정의 반복 비트 패턴 영역과 APC 영역이 설정된다. 가드 영역은 8워블 기간(8×69 채널 비트)에 해당한다. 이 기간 중 반복 비트 패턴 영역은 3워블 기간 할당되고, 나머지 5워블 기간은 APC 영역에 할당된다. APC 영역은 5워블만큼 확보되어 있지만, 실제로 i-L 특성을 학습 혹은 보정하기 위해 5워블만큼은 필요로 하지 않는다. APC 영역 중 나머지의 영역은 미사용인 상태로 남게 된다. 또한 APC 영역은 RUB의 선두의 런 인 영역에도 설정되어 있으므로, 반드시 가드 영역에 있어서의 APC 영역을 사용할 필요는 없다. 이 경우에는 5워블 기간이 그대로 미사용 영역으로 남게 된다.
본 실시예에서는, 이렇게 데이터 중단시에 기록된 가드 영역 중, 반복 비트 패턴 영역에 이어 APC 영역에 주목한다. 이 APC 영역을 이용하여 리콜법에 있어서 참조할 기록 파워와 평가 파라미터의 관계를 취득한다. 즉, 데이터 기록을 중단한 후, 직전에 기록한 데이터의 품질을 평가하는 것과 함께, APC 영역을 이용하여 기록 파워와 평가 파라미터의 관계를 산출한다. 직전에 기록된 데이터의 품질, 및 산출한 관계를 이용하여 현재의 기록 파워를 증감 조정한다. 기록 파워와 평가 파라미터의 관계는 OPC를 실행하는 테스트 에어리어가 아니고, 데이터 기록을 중단한 에어리어에서 산출된다. 따라서, 정확히 기록 파워를 조정할 수 있다.
도 9에, 기록 유닛 블록 RUB의 가드 영역에 포함되는 APC 영역에서 기록 파워의 조정을 행하는 주요부 구성도를 나타낸다. 광 픽업(16)은 LD나 4분할 광검출기 PD, 대물렌즈, 대물렌즈 구동회로(포커스 방향 및 트래킹 방향의 구동회로) 외에도, LD를 구동하는 드라이버(LDD)(22)를 구비한다.
4분할 광검출기로부터의 차 신호(내주측 신호와 외주측 신호의 차분 신호)는 재생신호 및 워블신호로서 PLL회로를 포함하는 재생계 회로(2치화 회로)(34) 및 인코드/디코드 회로(36)의 디코더(36b)에 공급된다. 4분할 광검출기로부터의 합 신호(내주측 신호와 외주측 신호의 합 신호)는 로 패스 필터 및 이퀄라이저(141)에 공급된다. 합 신호로부터 고주파 노이즈가 제거되고, 신호의 소정 주파수 성분이 부스트되고 레벨 등화된다. 그 후에, 합 신호는 피크 홀드 회로(143), 평균치 회로(144), 및 보톰 홀드 회로(146)에 공급된다.
피크 홀드 회로(143)는 합 신호의 피크 레벨을 검파하고, 그것을 샘플 홀드 회로(S/H)(148)에 출력한다. 평균치 회로(144)는 합 신호의 평균치를 검파하고, 그것을 샘플 홀드 회로(150)에 출력한다. 보톰 홀드 회로(146)는 합 신호의 보톰 레벨을 검파하고, 그것을 샘플 홀드 회로(152)에 출력한다.
샘플 홀드 회로(148, 150, 152)는 각각 피크 레벨, 평균치 레벨, 보톰 레벨을 검파한다. 이러한 샘플 홀드 레벨은 시스템 컨트롤러(32)에 공급된다. 샘플 홀드 회로(148, 150, 152)의 샘플 타이밍은 재생계 회로(34)의 PLL회로에서 얻어진 클록 신호로부터 주어진다.
인코드/디코드 회로(36)의 인코더(36a)는 포매터 또는 타이밍 제너레이터로부터의 OPC 타이밍 신호에 따라, 데이터를 중단한 후에 기록할 가드 영역(Guard3)의 반복 비트 패턴 영역에 이어 APC 영역인 것을 나타내는 타이밍 신호 Topc를 수신하고, 기록 파워와 평가 파라미터의 관계를 산출하도록, 기록 파워가 단계적으로 변화하도록 하는 기록 펄스를 생성하여 드라이버(22)에 공급한다. 드라이버(22)는 이 기록 펄스에 따라 가드 영역의 APC 영역에서 테스트 데이터를 시험 기록한다. 시험 기록된 테스트 데이터의 재생신호는 재생계 회로(34) 및 디코더(36b)에 공급되고, 복조되어 시스템 컨트롤러(32)에 공급된다. 시스템 컨트롤러(32)는 복조 데이터를 평가하고, 기록 파워와 평가 파라미터의 관계를 산출한다. 예를 들면, 각 기록 파워로 시험 기록한 테스트 데이터의 β를 평가하여, 기록 파워와 β치의 관계를 산출한다. 직전에 기록한 데이터의 β치와, 기록 파워의 β치의 관계를 이용하여, 본래 얻어지는 목표 β치가 되는 기록 파워를 산출하여 기록 파워를 증감 조정한다. 구체적으로, 시스템 컨트롤러(32)는 이하의 순서로 기록 파워를 조정한다.
(1) 데이터 기록에 앞서, 광디스크(10)의 테스트 에어리어(PCA)에서 OPC를 실행하고, 최적 기록 파워 Po를 설정한다.
(2) 최적 기록 파워 Pc로 데이터를 기록한다.
(3) 미리 설정된 기록 길이만큼 데이터를 기록한 경우, 또는 미리 설정된 시간만큼 데이터를 기록한 경우, 또는 미리 설정된 양의 온도 상승이 검출된 경우, 또는 버퍼 언더 런이 발생한 경우 등에 데이터 기록을 중단한다.
(4) 가드 영역에 반복 비트 패턴을 기록하는 것과 함께, 가드 영역의 APC 영역에 기록 파워를 단계적으로 변화시켜 테스트 데이터를 시험 기록한다.
(5) 시험 기록 종료 후, 기록 중단 직전의 임의의 데이터 부분을 재생해서 품질(예를 들면 β치)을 평가한다.
(6) 시험 기록한 테스트 데이터를 재생해서 품질을 평가하고, 기록 파워와 평가 파라미터의 관계를 산출한다.
(7) 상기의 (6)의 결과에 따라, 또는 상기 (5)와 (6)의 관계에 따라 현재의 기록 파워를 조정한다.
도 10에, 기록 중단 후에 기록하는 가드 영역(Guard3)의 APC 영역에 있어서의 테스트 데이터의 시험 기록에 이용되는 기록 펄스(또는 LD로부터의 발광 패턴)를 나타낸다. 도 10에서는, 기록 파워를 5단계로 변화시킨다. 즉, 현재의 기록 파워 Pc에 대해, 30% 감소시킨 파워(0.7Po), 15% 감소시킨 파워(0.85Po), 현재의 파워 Po, 15% 증가시킨 파워(1.15Po), 30% 증가시킨 파워(1.3Po)다. APC 영역의 5워블 기간 중, 하나의 파워를 하나의 워블 기간에 할당하여 테스트 데이터를 시험 기 록한다. 제1 워블 기간에는 기록 파워를 0.7Po로 하고, 제2 워블 기간에는 기록 파워를 0.85Po로 하는 등이다. 테스트 데이터는 랜덤으로 해도 되고, 소정의 데이터 길이를 가져도 된다. 도면에서는, 최단 길이를 가지는 데이터와 최장 길이를 가지는 데이터의 반복 패턴으로 한다.
도 11a 내지 11d에, 도 10의 테스트 데이터를 시험 기록한 경우의 재생 신호 파형을 나타낸다. 도 11a는 테스트 데이터의 합 신호 파형, 도 11b는 피크 홀드 회로(43)에서 합 신호 파형을 피크 검파한 파형, 도 11c는 평균치 회로(44)에서 합 신호 파형을 평균치 검파한 파형, 도 11d는 보톰 홀드 회로(46)에서 합 신호 파형을 보톰 검파한 파형이다. 재생신호의 β치는 RC 결합된 재생신호의 피크 레벨을 A, 그 보톰 레벨을 B로 하면, β = (A-B)/(A+B)로 정의된다. 시스템 컨트롤러(32)는 이들 값을 이용하여, 각 기록 파워당 β치를 산출하여 메모리에 저장한다. 디코더(36b)는 시스템 컨트롤러(32)에 그 타이밍(테스트 데이터의 재생 타이밍)을 송신하고, 시스템 컨트롤러(32)는 그 타이밍 신호에 따라 각 기록 파워마다 β치를 산출한다.
도 12에, 5단계로 변화시킨 각 기록 파워(이것을 P1 ~ P5라고 한다)마다 산출된 β치(이것을 β1 ~ β5라고 한다)를 플롯한 도면을 나타낸다. 시스템 컨트롤러(32)는, 이러한 (P, β)의 쌍을 이용해서, 양자의 관계식 β = f(P)를 산출한다. 이 관계식에 목표가 되는 β인 βm을 대입함으로써, 목표가 되는 기록 파워 Pm을 산출하고, 현재 기록 파워를 증감 조정한다.
한편, 도 12에 나타내는 β1 ~ β5의 검출은 단시간으로 행해진다. 따라서, 피크 홀드 회로(43) 등의 검파 회로의 시정수에 따라서는 오프 셋이 일어날 우려가 있다. 그래서, 도 13에 나타낸 바와 같이, 시스템 컨트롤러(32)는 양자의 관계식 β = f(P)에서 오프 셋이 발생한다고 가정하고 β = f(P) + α를 설정하고(α는 정수), 이 식에 기록 중단 전에 기록한 데이터를 재생해서 얻어지는 (P, β)의 쌍을 대입해서 α를 산출한다. 그리고, 이 관계식에 목표가 되는 β치인 βm을 대입함으로써, 목표가 되는 기록 파워 Pm을 산출하고, 현재 기록 파워를 증감 조정한다. 물론, 평가 파라미터로서의 β치는 일례다. 일반적으로 평가 파라미터를 Q로 한 경우, Q = f(P) + α로 해서 기록 파워와 평가 파라미터 사이의 관계를 규정하면 되고, 오프 셋 α는 데이터 기록 중간 직전의 데이터의 평가 파라미터 Qo와 파워 Po로부터 결정하면 된다.
시스템 컨트롤러(32)는 다른 방법에 의해 기록 파워를 조정해도 된다. 예를 들면, 급격한 기록 파워의 변화는 재생시의 에러를 발생할 경우가 있다. 그러므로, 데이터 기록 중단 직전의 기록 파워 Po와, 상기 방법에 의해 산출한 기록 파워 Pm 사이에서, 특정 계수 "k"를 이용해서 기록 파워를 설정해도 된다. 구체적으로는, P = Po + k(Pm - Po)Po로부터 기록 파워를 설정한다.
이렇게, 본 실시예에서는, 데이터 기록 중단시에, 중단한 부위에서 기록 파워와 평가 파라미터(β치 등) 사이의 관계를 산출한다. 이 관계에 따라 기록 파워를 조정하므로, 기록 파워 조정의 정밀도가 향상된다. 또한 기록 파워와 평가 파라미터 사이의 관계를 산출하기 위해서 사용하는 영역은, 미리 데이터 기록 중단시에 확보되어 있는 가드 영역을 원용하므로, 광디스크(10)의 기록 용량을 저하시키지도 않는다.
이상, 본 발명의 실시예에 관하여 설명했지만, 본 발명은 이에 한정되지 않고 다른 형태도 가능하다.
예를 들면, 본 실시예에서는 도 9 및 도 11에 나타낸 바와 같이, 합 신호를 피크 홀드 회로(143) 등의 아날로그 검파회로로 검파하여 시스템 컨트롤러(32)에 공급한다. 그러나, 도 14에 나타낸 바와 같이, A/D 변환기(154)에서 디지털 신호로 변환하여 시스템 컨트롤러(32)에 공급하고, 시스템 컨트롤러(32)에서 피크치나 보톰치를 검출하여 β치를 산출해도 된다.
또한, 본 실시예에서는, 가드 영역 내의 APC 영역의 5워블 기간을 모두 사용하여 테스트 데이터를 시험 기록하지만, APC 영역의 5워블 기간 중 임의의 기간을 테스트 데이터의 시험 기록 영역으로 사용할 수 있다. 그 영역 사이즈는 고정해도 되고 가변적으로 해도 된다. 가변적으로 하는 경우, 기록 파워를 조정할 필요성에 따라 영역 사이즈를 순차 크게 설정하는 것이 바람직하다. 예를 들면, 광디스크(10)의 내주 부분에서는 3워블 기간만을 사용하여 파워를 3단계만 변화시킨다. 외주 부분에서는 5워블 기간 모두를 사용하여 파워를 5단계로 변화시킨다. 이에 따라, 광디스크(10)의 반경 위치에 따라 영역 사이즈를 가변 조정한다. 또는, 광디스크(10)의 종류에 따라 테스트 데이터의 시험 기록 영역 사이즈를 가변 조정해도 된다. 3워블 기간만을 테스트 데이터의 시험 기록으로 사용하는 경우, 나머지 2워블 기간은 본래의 목적인 APC에 사용할 수 있다.
본 발명은 데이터 기록 속도를 고속화하고, 혹은 차세대 광디스크의 짧은 데이터 길이에 의존하지 않고, 기록 레이저광의 파워를 조정하여, 기록 품질을 확보할 수 있는 광디스크 장치를 제공한다.

Claims (20)

  1. 소정의 기록 블록마다 데이터를 기록하는 광디스크 장치로서,
    상기 기록 블록은 유저 데이터 영역을 포함하고,
    상기 광디스크 장치는,
    기록 레이저광을 조사하는 조사수단과,
    상기 기록 블록의 상기 유저 데이터 영역 이외의 소정 영역에 상기 기록 레이저광을 조사해서, 소정의 길이를 가지는 테스트 데이터를 시험 기록하고, 시험 기록시의 반사광량에 따라 기록 레이저광의 파워를 조정하는 컨트롤러를 포함하고,
    데이터 기록시에 상기 소정의 기록 블록마다 상기 기록 레이저광의 파워를 반복 조정하는 것을 특징으로 하는 광디스크 장치.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 유저 데이터 영역 이외의 소정 영역은, 파워를 조정하기 위해 사용되는 APC(Auto Power Control) 영역인 것을 특징으로 하는 광디스크 장치.
  3. 제 2항에 있어서,
    상기 컨트롤러는 상기 APC(Auto Power Control) 영역 중, 전류와 발광량 사이의 관계를 산출하기 위해서 사용하는 영역의 잔존 영역을 사용해서 상기 소정의 길이를 가지는 데이터를 시험 기록하는 것을 특징으로 하는 광디스크 장치.
  4. 제 1항에 있어서,
    상기 소정의 길이는, 기록하게 될 데이터의 규정 길이보다 긴 것을 특징으로 하는 광디스크 장치.
  5. 제 1항에 있어서,
    상기 테스트 데이터의 기록 스트레티지는, 기록하게 될 데이터의 기록 스트레티지와 동일한 것을 특징으로 하는 광디스크 장치.
  6. 제 1항에 있어서,
    상기 컨트롤러는, 상기 테스트 데이터를 시험 기록하는 경우, 피트 형성의 결과 반사광량이 안정화되는 타이밍에서의 반사광량인 레벨 B의 값에 따라 기록 레이저광의 파워를 조정하는 것을 특징으로 하는 광디스크 장치.
  7. 제 6항에 있어서,
    상기 컨트롤러는, 상기 테스트 데이터를 시험 기록하는 경우의 기록 레이저광의 파워 P와 상기 레벨 B의 값 B로부터 B/Pn("n"은 1 이상의 실수)을 산출하고, B/Pn에 따라 기록 레이저광의 파워를 조정하는 것을 특징으로 하는 광디스크 장치.
  8. 제 6항에 있어서,
    상기 컨트롤러는, 기록 레이저광의 파워를 변화시켜 상기 테스트 데이터를 시험 기록하고, 상기 기록 레이저광의 파워에 있어서의 상기 레벨 B의 값에 따라 상기 기록 레이저광의 파워를 조정하는 것을 특징으로 하는 광디스크 장치.
  9. 제 3항에 있어서,
    상기 APC(Auto Power Control) 영역에 있어서의 상기 잔존 영역의 비율은, 상기 광디스크마다 가변적으로 조정되는 것을 특징으로 하는 광디스크 장치.
  10. 제 3항에 있어서,
    상기 APC(Auto Power Control) 영역에 있어서의 상기 잔존 영역의 비율은, 상기 광디스크의 반경 위치에 따라 가변적으로 조정되는 것을 특징으로 하는 광디스크 장치.
  11. 소정의 기록 블록마다 데이터를 기록하는 광디스크 장치로서,
    상기 기록 블록은 유저 데이터 영역을 포함하고,
    상기 광디스크 장치는,
    기록 레이저광을 조사하는 조사수단과,
    데이터 기록시에 데이터 기록을 중단해서 기록 파워를 조정하는 컨트롤러를 포함하고,
    상기 컨트롤러는, 데이터 기록이 중단된 경우에, 상기 기록 블록의 상기 유저 데이터 영역 이외의 소정 영역에서 파워를 변화시켜서 테스트 데이터를 시험 기록하고, 상기 시험 기록한 테스트 데이터를 재생하여 얻어지는 신호의 품질과 파워 사이의 관계에 따라 상기 레이저광의 파워를 조정하는 것을 특징으로 하는 광디스크 장치.
  12. 제 11항에 있어서,
    상기 컨트롤러는, 중단 직전에 기록된 데이터의 품질을 평가하고, 시험 기록한 테스트 데이터를 재생해서 얻어지는 신호 품질과 파워 사이의 관계 및 중단 직전에 기록한 상기 데이터의 품질에 따라 상기 레이저광의 파워를 조정하는 것을 특 징으로 하는 광디스크 장치.
  13. 제 11항에 있어서,
    상기 유저 데이터 영역 이외의 소정 영역은 런 아웃 영역에 이어지는 가드 영역인 것을 특징으로 하는 광디스크 장치.
  14. 제 13항에 있어서,
    상기 유저 데이터 영역 이외의 소정 영역은, 상기 가드 영역 내에 설치된 파워를 조정하기 위한 APC(Auto Power Control) 영역인 것을 특징으로 하는 광디스크 장치.
  15. 제 11항에 있어서,
    상기 컨트롤러는, 소정의 길이까지, 또는 기록 시간 동안만 데이터를 기록한 시점에서 데이터 기록을 중단하는 것을 특징으로 하는 광디스크 장치.
  16. 제 11항에 있어서,
    상기 컨트롤러는, 소정 양의 온도 변화가 검출된 시점에 데이터 기록을 중단 하는 것을 특징으로 하는 광디스크 장치.
  17. 제 11항에 있어서,
    상기 컨트롤러는, 버퍼의 언더 런이 검출된 시점에 데이터 기록을 중단하는 것을 특징으로 하는 광디스크 장치.
  18. 제 12항에 있어서,
    상기 컨트롤러는, 시험 기록한 상기 테스트 데이터를 재생해서 얻어지는 신호의 품질 Q와 상기 신호의 파워 P 사이의 관계를, 소정의 오프 셋으로서 기능하는 Q = f(P) + α로서 산출하고, 데이터 기록을 중단하기 직전의 파워 Po와 데이터의 신호 품질 Qo를 이용해서 상기 오프 셋 α를 산출하는 것을 특징으로 하는 광디스크 장치.
  19. 제 11항에 있어서,
    상기 소정 영역에 있어서의 상기 테스트 데이터를 시험 기록하는 영역의 사이즈는, 광디스크의 종류에 따라 가변적으로 조정되는 것을 특징으로 하는 광디스크 장치.
  20. 제 11항에 있어서,
    상기 소정 영역에 있어서의 상기 테스트 데이터를 시험 기록하는 영역의 사이즈는, 광디스크의 반경 위치에 따라 가변적으로 조정되는 것을 특징으로 하는 광디스크 장치.
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