JP4880932B2 - 検査装置 - Google Patents
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Description
図1は、この発明の各実施の形態が適用される紙葉類検査装置(検査装置)の概略構成を示す図である。この発明の各実施の形態に係る紙葉類検査装置は、図1に示すように、搬送路11、複数の検査器12(12A、…)、処理部14および搬送制御部15などを有している。なお、各実施の形態では、検知対象物として紙葉類を検査する紙葉類検査装置について説明するが、各実施の形態は紙葉類以外のものを検知対象とする検査装置についても適用可能である。
図1に示すように、上記処理部14は、複数の処理基板22(22A、…)、およびメインプロセッサ23などから構成されている。上記複数の処理基板22(22A、…)は、それぞれ各検査器12(12A、…)に対応して設けられている。上記各処理基板22での処理は、後述するような変更可能なプログラムにより実行される。また、各処理基板22の構成については後で詳細に説明する。上記メインプロセッサ23は、各処理基板22によって処理された処理結果に基づいて各紙葉類の状態等を総合的に判定し、その判定結果を搬送制御部15に通知するようになっている。
図2は、各処理基板22におけるハードウェアの基本構成例を示す図である。
各処理基板22は、図2に示すように、処理プロセッサ31、プログラマブルデバイス32、不揮発性メモリ(コンフィグレーションメモリ)33、セレクタ34および共通インターフェース回路35などを有している。
上記各検査器12は、上記搬送路11上を搬送される紙葉類の物理特性を示すアナログの電気信号として検知する。各検査器12のインターフェース部では、検知した紙葉類の物理特性としてのアナログの電気信号をデジタル信号に変換し、デジタル信号に変換したデータを上記処理部14内の対応する処理基板22へ出力する。
まず、本実施の形態の第1の応用例について説明する。
図3は、本実施の形態の第1の応用例としての処理基板42(42A、…)の構成例を示す図である。
この第1の応用例では、各処理基板42(42A、…)内において上記プログラマブルデバイス32の動作頻度を計測し、計測された動作頻度に応じて上記セレクタ34がプログラマブルデバイス32にロードするプログラムを選択するようにしたものである。
図4は、本実施の形態の第2の応用例としての処理基板52(52A、…)の構成例を示す図である。
上記のように、第2の応用例の処理基板52では、処理プロセッサ31が処理基板52における動作状況や検査対象となっている紙葉類の状態を監視し、セレクタ34が上記処理プロセッサ31による監視結果に応じて最適なプログラムを選択して上記プログラマブルデバイス32にロードする。
これにより、上記第2の応用例によれば、処理基板52の処理状況あるいは処理対象の紙葉類の状態に応じた最適なプログラムを上記プログラマブルデバイス32にロードすることができる。この結果として、各処理基板52における処理を最適化することができ、処理の精度及び効率を向上させることができる。
図5は、本実施の形態の第3の応用例としての処理基板62(62A、…)の構成例を示す図である。
これにより、第3の応用例によれば、装置全体の動作状況、他の処理基板62の動作状況あるいは検査対象となっている紙葉類(処理された紙葉類)の状態に応じた最適なプログラムを上記プログラマブルデバイス32にロードすることができる。この結果として、各処理基板62における処理を最適化することができ、処理の精度及び効率を向上させることができる。
Claims (3)
- 検査対象物の物理特性を電気信号として検知する検査手段と、
この検査手段により検知した電気信号を処理するための複数のプログラムを記憶している記憶手段と、
この記憶手段に記憶されているプログラムから1つのプログラムを選択する選択手段と、
この選択手段により選択されたプログラムに基づいて前記検査手段により検知した電気信号を処理する情報処理手段と、を有し、
前記選択手段は、前記情報処理手段による前記検査手段により検知した電気信号に対する処理状況に応じて前記記憶手段に記憶されているプログラムから1つのプログラムを選択する、
ことを特徴とする検査装置。 - 検査対象物の物理特性を電気信号として検知する検査手段と、
この検査手段により検知した電気信号を処理するための複数のプログラムを記憶している記憶手段と、
この記憶手段に記憶されているプログラムから1つのプログラムを選択する選択手段と、
この選択手段により選択されたプログラムに基づいて前記検査手段により検知した電気信号を処理する情報処理手段と、
前記情報処理手段による前記検査手段により検知した電気信号に対する処理の頻度を計測する頻度計測手段と、を有し、
前記選択手段は、前記頻度計測手段により計測した前記情報処理手段による処理の頻度に応じて前記記憶手段に記憶されているプログラムから1つのプログラムを選択する、
ことを特徴とする検査装置。 - 検査対象物の物理特性を電気信号として検知する検査手段と、
この検査手段により検知した電気信号を処理するための複数のプログラムを記憶している記憶手段と、
この記憶手段に記憶されているプログラムから1つのプログラムを選択する選択手段と、
この選択手段により選択されたプログラムに基づいて前記検査手段により検知した電気信号を処理する情報処理手段と、
前記情報処理手段による処理結果に基づいて前記検査手段により検知した検査対象物の状態を判別する判別手段と、を有し、
前記選択手段は、前記判別手段により判別した前記検査対象物の状態に応じて前記記憶手段に記憶されているプログラムから1つのプログラムを選択する、
ことを特徴とする検査装置。
Priority Applications (1)
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JP2005205918A JP4880932B2 (ja) | 2005-07-14 | 2005-07-14 | 検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2005205918A JP4880932B2 (ja) | 2005-07-14 | 2005-07-14 | 検査装置 |
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JP2007025984A JP2007025984A (ja) | 2007-02-01 |
JP4880932B2 true JP4880932B2 (ja) | 2012-02-22 |
Family
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Family Applications (1)
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JP2005205918A Active JP4880932B2 (ja) | 2005-07-14 | 2005-07-14 | 検査装置 |
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2005
- 2005-07-14 JP JP2005205918A patent/JP4880932B2/ja active Active
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