JP2003075117A - 光学式センサ装置および光学式センサの信号処理装置ならびに光学式センサ用の分岐コネクタ - Google Patents

光学式センサ装置および光学式センサの信号処理装置ならびに光学式センサ用の分岐コネクタ

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JP2003075117A
JP2003075117A JP2001294447A JP2001294447A JP2003075117A JP 2003075117 A JP2003075117 A JP 2003075117A JP 2001294447 A JP2001294447 A JP 2001294447A JP 2001294447 A JP2001294447 A JP 2001294447A JP 2003075117 A JP2003075117 A JP 2003075117A
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light
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Yuichi Inoue
祐一 井上
Kohei Tomita
公平 冨田
Hiroyuki Inoue
宏之 井上
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    • G01MEASURING; TESTING
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 1つの信号処理装置で種々のアプリケーショ
ンに対応できるようにする。 【解決手段】 コネクタ101は、変位センサ型検出部
に対して、電源ライン,駆動パルス信号P,一対の検知
信号A,A+B,読出し信号i,識別データjを中継す
るが、分岐コネクタを介して透過光量型検出部の投光部
および受光部に接続することも可能である。変位センサ
型検出部には、識別データjを保持するROMが組み込
まれており、CPU15は、読出し信号iの送信により
検出部から識別データjが送信されると、一対の検知信
号A,A+Bを用いた計測処理を実行する。他方、識別
データjが送信されない場合は、一方の検知信号のみを
用いて透過型センサ用の計測処理を実行する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、投光処理を行い
ながら、投光後に直進して所定位置に到達した光または
対象物により反射して回帰した光を受光して所定の計測
処理を行う光学式センサに関するもので、特にこの発明
は、受光信号による計測を行うための信号処理装置、お
よびこの信号処理装置を用いた光学式センサ装置、なら
びにこの信号処理装置に使用する光学式センサ用の分岐
コネクタに関する。
【0002】
【従来の技術】この種の光学式センサには、検知領域を
透過する検出光の光量、すなわち光路の遮光状態により
物体の位置や大きさ、あるいは物体の有無を検知する透
過光量型のセンサや、対象物からの反射光の到達位置や
結像位置に基づき対象物の変位等を計測する変位センサ
型のセンサ、さらには対象物からの反射光の光量に基づ
き物体の有無等を検知する反射光量型のセンサなどがあ
る。これらのセンサでは、一般に、投光素子や受光素子
の組み込まれた検出部とは別体の信号処理装置により、
受光素子からの検知信号を処理するようにしている。
【0003】図5は、代表的な変位センサ型センサであ
る変位センサの構成を示す。このセンサは、投光部3お
よび受光部4が一体化された検出部2a(以下、「変位
センサ型検出部2a」という。)と信号処理装置1aと
がケーブルにより電気接続される。
【0004】前記検出部2aの投光部3は、投光レンズ
31,レーザーダイオード32,およびレーザーダイオ
ード32の駆動回路33などにより構成される。一方、
受光部4は、受光レンズ41,PSD(Position Sensi
tive Device)42,およびPSD42からの一対の受
光信号A,Bに対応する増幅回路43,44や、各受光
信号A,Bを加算処理するための加算回路45などによ
り構成されており、信号処理装置1aへの検知信号とし
て、第1の受光信号Aおよび加算回路45による演算後
の信号A+Bが出力される。一方、信号処理装置1aに
は、各検知信号毎に、サンプルホールド回路11,12
およびA/D変換回路13,14が設けられるほか、C
PU15,D/A変換回路16,出力回路17などが設
けられる。
【0005】上記構成において、信号処理装置1a内の
CPU15は、検出部2aの駆動回路33に対し、所定
の時間毎に駆動パルス信号Pを与えてレーザーダイオー
ド32を発光させる。このレーザー光は、対象物5の表
面で反射した後に受光レンズ41を介してPSD42に
入射し、その入射位置によって強度の異なる2つの受光
信号A,Bが出力され、加算回路45により加算処理さ
れる。
【0006】信号処理装置1aに対して出力された一対
の検知信号A,A+Bは、それぞれサンプルホールド回
路11,12でサンプルホールドされた後、A/D変換
回路13,14によりディジタル変換されて、CPU1
5に入力される。
【0007】CPU15ではディジタル変換後の検知信
号A,A+Bについて、A/(A+B)の演算処理を行
い、さらにその演算結果に直線性の補正処理を施すなど
して対象物までの距離を算出する。この算出結果は、D
/A変換回路16に与えられてアナログ変換された後
に、出力回路17より出力される。さらにCPU15
は、前記距離の算出結果を所定のしきい値と比較し、そ
の比較判定結果を2値データとして外部に出力する。
【0008】つぎに図6は、透過光量型センサの構成を
示す。この透過光量型センサの検出部9(以下、「透過
光量型検出部」という。)は、別体に構成された投光部
6および受光部7により成る。これら投光部6,受光部
7は、所定距離を隔てて対向配備されるとともに、それ
ぞれ個別に信号処理装置8に接続される。投光部6に
は、投光レンズ61,レーザーダイオード62,駆動回
路63などが組み込まれ、受光部7には、受光レンズ7
1,フォトダイオード72,増幅回路73などが組み込
まれる。また信号処理装置8の内部には、サンプルホー
ルド回路81,A/D変換回路82,CPU83,D/
A変換回路84,出力回路85などが組み込まれる。
【0009】信号処理装置8内のCPU83は、前記変
位センサのCPU15と同様に、投光用の駆動パルス信
号を生成してこれを投光部6の駆動回路63に与え、レ
ーザーダイオード62を発光させる。レーザーダイオー
ド62から出射したレーザー光は、投光レンズ61によ
り平行化された後、受光部7との間に物体がない状態下
では、直進して受光部7に到達し、フォトダイオード7
2に入射する。またフォトダイオード72からの受光信
号Qは、増幅回路73を経た後に検知信号として信号処
理装置8に伝送され、サンプルホールド回路81および
A/D変換回路82によりディジタル変換されてCPU
83に入力される。
【0010】CPU83は、入力された受光信号の示す
受光量から、検知エリア内を物体がどこまで遮光してい
るか(物体のエッジ位置)を検出したり、遮光されてい
る幅(物体の大きさ)を検出するなどの処理を行う。な
お、CPU83は、受光量やそれに基づいて算出した遮
光度合いについては、D/A変換回路84を介して出力
回路85よりアナログ出力する。また、受光量を所定の
しきい値と比較して物体の有無を判別し、その結果を、
2値データの形式で出力する。
【0011】なお、上記図5,6には示していないが、
いずれのセンサにおいても、信号処理装置1a,8内に
は、電源回路が組み込まれる。これらの電源回路は、外
部電源からの電流を受け取って装置内の各部に供給する
ほか、前記検出部2や投受光部6,7に駆動用の電流を
供給するようにしている。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】上記図5,6に示した
ように、変位センサ型センサ,透過光量型センサ等の各
センサ用の信号処理装置は、機能が豊富になるにつれて
充実した表示部や操作部が必要となり、CPUを動作さ
せるためのプログラムも複雑さを増しつつある。その一
方で、これらのセンサの信号処理装置は、ハードウェア
上は似通った構成を具備するにも関わらず、従来は、セ
ンサの種類に応じた専用の装置として製造されている。
このような事情により、信号処理装置の製造コストが高
くなったり、新機種の設計に要する時間がかかるなどし
て、設計および製造上の効率が著しく悪くなる、という
問題が生じている。
【0013】また、センサのユーザは、種々のアプリケ
ーション(ここでいうアプリケーションとは、何を対象
物としてどのような現象あるいは物理量をどのような環
境条件あるいはセンサ設置条件のもとに検出するのかと
いう観点で規定されるセンサの適用場面のことであ
る。)に対して各種のセンサを適切に選択して使用する
必要がある。従来は、アプリケーションが種々あること
に対応して多くの種類のセンサが市販されており、また
センサの信号処理装置がセンサの種類に応じた専用の装
置として製造されているために、ユーザはセンサの種類
の選択に応じてセンサの検出部だけでなく信号処理装置
についても別のものを用意しなければならなかった。
【0014】この発明は上記問題を解決するためになさ
れたもので、変位センサ型センサ,透過光量型センサ等
の各検出部を同じ構成の信号処理装置に接続できるよう
にするとともに、信号処理装置において接続された検出
部の種類に応じた計測処理を実行できるようにすること
により、信号処理装置の製作にかかるコストやセンサ別
に信号処理装置を設計する労力を削減することを目的と
する。さらにこの発明の他の目的は、一つの機種で種々
のアプリケーションに対応できる利便性の高い光学式セ
ンサの信号処理装置を提供することにある。
【0015】
【課題を解決するための手段】この発明にかかる光学式
センサ装置は、光を出射してその出射光に対する検知領
域からの反射光の受光量に基づく一対の検知信号を出力
する変位センサ型検出部と、光を出射してその出射光に
対する検知領域からの透過光の受光量に基づく検知信号
を出力する透過光量型検出部と、これら検出部からの検
知信号を処理するための信号処理装置とを具備する。前
記信号処理装置は、変位センサ型検出部および透過光量
型検出部のいずれに対しても電気的に接続可能であり、
かつこれら検出部を同時には接続できないように構成さ
れたコネクタと、前記コネクタに備えられ、前記変位セ
ンサ型検出部からの一対の検知信号および前記透過光量
型検出部からの検知信号を中継するための複数の検知信
号端子と、前記検知信号端子により中継された検知信号
を取り込み、前記変位センサ型検出部からの一対の検知
信号を用いた第1の計測処理方式と、前記透過光量型検
出部からの検知信号を用いた第2の計測処理方式とを選
択的に実行する制御部とを具備する。
【0016】前記各検出部は、いずれも光を出射するた
めの投光部と、前記出射光に対する反射光または透過光
を受光するための受光部とを具備する。このうち変位セ
ンサ型検出部は、投光部から出射された後に反射した光
を受光するもので、受光素子として位置検出素子が使用
される。なお、この明細書において、位置検出素子と
は、2つの受光信号を出力し、受光した光の位置が2つ
の受光信号の大きさの比に反映される受光素子を意味す
るものとする。PSD,2分割フォトダイオードなどが
位置検出素子に含まれる。
【0017】また前記変位センサ型検出部は、前記図5
に示したように、投光部および受光部が機体内に一体に
組み込まれ、かつこれら投受光部が固定配備された構成
とするのが望ましい。ただし、機体本体部を前記コネク
タへの接続部を残して二分割し、分割された一方の部分
に投光部を、他方に受光部を組み込んで、投受光部の相
対位置関係または投受光部の各光軸のなす角度を可変設
定できるように構成することもできる。
【0018】一方、透過光量型検出部は、投光部から出
射された後に、遮光されることなく所定位置に到達した
光(透過光)を受光するもので、前記図6のように投光
部と受光部とが分離した構成のほか、投受光部を連結し
て両者の間隔を固定した構成のものを用いることもでき
る。なお、変位センサ型,透過光量型のいずれの検出部
も、コネクタに対し、中継用のコネクタ(後記する分岐
コネクタを含む。)やケーブルを介して間接的に接続す
るように構成でき、またはコネクタに直接、接続するよ
うに構成することもできる。
【0019】各検出部の投光部には、レーザーダイオー
ド,LEDなどの発光素子が、受光部には、PSD,フ
ォトダイオードのような受光素子が、それぞれ組み込ま
れる。なお、信号処理装置または検出部には、前記投光
部への投光用の駆動信号を生成する駆動信号生成部を設
けることができる。この投光用の駆動信号とは、発光素
子をたとえば所定の時間毎に発光させるための駆動パル
ス信号であり、駆動信号生成部が信号処理装置の中に設
けられる場合は、前記投光用の駆動信号はコネクタを介
して検出部に出力される。
【0020】各検出部が出力する「検知信号」は、受光
素子からの受光出力に基づき得られるもので、検出部か
らコネクタを介して信号処理装置に入力される信号であ
り、物体の有無のほか、物体の位置,大きさ,物体まで
の距離などを示すことができる。なお、前記変位センサ
型検出部は、前記したように2つの受光信号を出力する
受光素子を具備するが、前記一対の検知信号としては、
前記図5に示したように、一方の受光信号Aと、各受光
信号A,Bの加算結果A+Bとを設定することができる
ほか、各受光信号A,Bを、そのまま一対の検知信号と
して使用することもできる。
【0021】信号処理装置または検出部の中には、信号
前処理部として、前記投光用の駆動信号に同期するタイ
ミングで検知信号を取り込むサンプルホールド回路や取
り込んだ受光信号をディジタル変換するためのA/D変
換回路を設けることができる。なお、この発明では、変
位センサ型検出部からの一対の検知信号を処理すること
ができるように、前記サンプルホールド回路やA/D変
換回路を、検知信号毎に個別に設けるのが望ましい。一
方、サンプルホールド回路やA/D変換回路を検出部側
に設けて、信号処理装置側にはディジタルデータを受け
付けるインターフェース回路を設けることも可能であ
る。しかしながら検出部は小型化した方が良いとの観点
からは、前記の各回路は、信号処理装置側に組み込むの
が望ましい。
【0022】前記コネクタの検知信号端子については、
変位センサ型検出部からの一対の検知信号および透過光
量型検出部からの検知信号のそれぞれに専用の端子を設
けても良く、また変位センサ型検出部と透過光量型検出
部との間で検知信号端子を共用するようにしても良い。
【0023】前記制御部は、マイクロコンピュータのC
PUにより構成するのが望ましく、たとえば、ユーザー
の切替操作に応じて第1、第2の計測処理方式のいずれ
かを選択して実行するように設定することができる。こ
れにより前記コネクタに変位センサ型検出部が接続され
ている場合は、一対の検知信号を用いた演算による第1
の計測処理方式を実行し、前記コネクタに透過光量型検
出部が接続されている場合は、単独の検知信号を用いた
演算による第2の計測処理方式を実行することが可能と
なり、いずれの検出部からの検知信号でも処理すること
ができる。このような構成によれば、信号処理装置の製
作にかかるコストや、センサ別に信号処理装置を設計す
る労力が削減できるとともに、信号処理装置の一つの機
種で変位センサ型検出部を要するアプリケーションにも
透過光量型検出部を要するアプリケーションにも対応で
き、ユーザに高い利便性を提供することができる。
【0024】さらにこの発明は、検知信号を中継するた
めの複数の検知信号端子を具備するコネクタと、前記検
知信号端子により中継された検知信号を取り込み、前記
検知信号端子のうちの2つの端子から入力された2つの
検知信号を用いた第1の計測処理方式と、前記検知信号
端子のうちの1つの端子から入力された1つの検知信号
を用いた第2の計測処理方式とを選択的に実行する制御
部とを具備する信号処理装置として規定することができ
る。
【0025】上記構成の信号処理装置によれば、コネク
タに一対の検知信号を出力する変位センサ型検出部が接
続された場合には、検知信号端子のうちの2つの端子か
ら各検知信号を入力して、これらの検知信号を用いた第
1の計測処理方式を実行することができる。またコネク
タに透過光量型検出部が接続された場合には、いずれか
1つの検知信号端子から検知信号を入力して第2の計測
処理方式を実行することができる。なお、この構成でい
うところの検知信号端子も、先に述べたのと同様に、変
位センサ型検出部,透過光量型検出部のそれぞれに対し
て個別の端子を設定しても良いし、また検出部間で端子
を共用するようにしてもよい。
【0026】上記信号処理装置の好ましい態様では、前
記コネクタは、接続された検出部の種類を示す識別デー
タを制御部に中継するための端子を具備し、前記制御部
は、コネクタを介して取り込まれた識別データの内容に
応じて前記第1,第2のいずれかの計測処理方式を選択
して実行するように設定される。たとえば検出部側に前
記識別データが格納されたメモリを組み込み、電源投入
時などに前記メモリから識別データを読み出すようにす
れば、制御部は、接続されている機器の種類を判別し
て、その機器に対応する計測処理を自動的に判別して実
行するようになり、手動による切替操作などを行う必要
なしに、センサの種類に応じた計測処理を実行すること
ができる。なお、制御部側からメモリ内の識別データを
読み出すために、前記メモリに読出し指示用のコマンド
(以下、「読出し信号」という。)を送信する必要があ
る場合は、前記コネクタは、前記識別データのほか読出
し信号を中継するように配線される。
【0027】さらに他の好ましい態様の信号処理装置で
は、コネクタに接続可能な変位センサ型検出部に、自装
置の種類を示す識別データが登録されたメモリを組み込
むとともに、コネクタ側に、前記メモリに識別データの
読出し信号を中継するための端子と、メモリより読み出
された識別データを制御部に中継するための端子とを設
ける。また前記制御部は、前記読出し信号を出力した
後、識別データが伝送された場合は第1の計測処理方式
を、識別データが伝送されなかった場合は第2の計測処
理方式を、それぞれ選択して実行するように設定され
る。この態様によれば、透過光量型検出部にメモリを組
み込む必要がないので、識別データが登録されたメモリ
を具備する変位センサ型検出部と、従来と同様の構成の
透過光量型検出部とを用いることにより、接続された検
出部の種類に応じて自動的に計測処理を切り替えること
が可能となる。
【0028】ここで、識別データが登録されたメモリを
透過光量型検出部ではなく、変位センサ型検出部に設け
ていることには、つぎのような背景がある。すなわち、
変位センサ型検出部を使用する場合には、たとえば変位
センサであれば、真の変位量とセンサの出力値との間の
直線性の補正を行うために必要なデータをメモリに格納
して、このメモリを検出部に設けることがある。そこで
このような変位センサ型検出部に設けられている直線性
補正データを格納するためのメモリの余分の記憶領域を
識別データを登録するためのメモリとして使用すれば、
識別データ登録用のメモリをわざわざ設ける必要がな
い。
【0029】また、直線性補正データを格納するための
メモリに限らず、一対の検知信号を出力する変位センサ
型検出部は、透過光量型検出部に比べて信号処理が複雑
である分、検出部にCPUやメモリを内蔵する可能性が
高い。いかなる目的であれ、検出部にメモリが内蔵され
ていれば、その余分の記憶領域を識別データの登録のた
めに使用することができる。さらに、直線性補正データ
やその他のデータの内容や形式自体に識別データとして
の意味を持たせることも可能である。
【0030】一方、透過光量型検出部の場合は、透過光
の断面が丸い形状であったり、透過光の断面における強
度分布があるために、もともと遮光状態(遮光物体の位
置や大きさ)とセンサ出力値との間の直線性を確保する
ことは難しく、せいぜい遮光状態が同じであればセンサ
出力値も同じであるという再現性が求められる程度であ
る。したがって、もともと透過光量型検出部に直線性補
正用のメモリが用意されていることは考えにくく、この
検出部に識別データ登録用のメモリを設けると、わざわ
ざその目的のためにメモリを追加することになる可能性
が高い。
【0031】以上のような事情から、透過光量型検出部
か一対の検知信号を出力する変位センサ型検出部のいず
れか一方に識別データを持たせるとすれば、一般的に変
位センサ型検出部の方に持たせるのが望ましい。
【0032】なお、前記読出し信号を送信して識別デー
タを取り込む処理は、装置電源投入時などに実行するだ
けでも良いが、前記投光用の駆動信号を出力する前など
に常時行うようにすることもできる。この場合、信号処
理装置の電源をオンにした状態で検出部が接続されて
も、接続後すぐに前記検出部に対応した計測処理を開始
することができ、利便性を大幅に向上することができ
る。
【0033】さらにこの発明では、上記したいずれかの
構成の信号処理装置に透過光量型検出部を接続するため
の機器として、透過光量型検出部の投光部と受光部とに
対してそれぞれ個別に接続するための接続部を具備する
とともに、上記いずれかの構成の信号処理装置のコネク
タに対する接続口を具備し、このコネクタと透過光量型
検出部との間に配備されて使用するための分岐コネクタ
を提供する。この分岐コネクタは、前記信号処理装置の
コネクタ、および透過光量型検出部の投受光部に対し、
それぞれ直接、または他の中継コネクタやケーブルを介
して間接的に接続されるように構成することができる。
この分岐コネクタにより、前記信号処理装置からの投光
部側への信号路と受光部側への信号路とを切り分けるこ
とができ、信号処理装置と透過光量型検出部との電気接
続を実現することができる。
【0034】さらに好ましい態様の分岐コネクタでは、
信号処理装置のコネクタに対する接続口に一組の電源ラ
インの中継端子が設けられるとともに、前記投光部およ
び受光部に対して前記電源ラインの中継ラインが一組ず
つ設けられ、信号処理装置から中継された電源ラインを
分岐させて投光部側および受光部側の各中継ラインに接
続するようにしている。また別の態様の分岐コネクタで
は、信号処理装置のコネクタに対する接続口に電源ライ
ンの中継端子が二組設けられるとともに、投光部および
受光部に対して前記電源ラインの中継ラインが一組ずつ
設けられ、信号処理装置から中継された二組の電源ライ
ンを組毎に分けて投光部側および受光部側の各中継ライ
ンに接続するようにしている。
【0035】上記2つの態様の構成によれば、信号処理
装置に電源を配備するか、または外部から信号処理装置
に電源を供給するようにすれば、信号処理装置から検出
部に駆動用の電源を供給することができるので、投光部
や受光部に、別途、電源回路を配備する必要がなく、図
6に示した従来と同様の構成の検出部を使用することが
できる。なお、2番目の態様のように、信号処理装置の
コネクタ側から二組の電源ラインを受ける場合、信号処
理装置側のコネクタにも二組の電源ラインの中継端子を
設ける必要があるが、このコネクタを変位センサ型検出
部に接続する場合には、前記コネクタと変位センサ型検
出部との間に介在させる中継コネクタなどにおいて、い
ずれか一方の電源ラインを中継しないようにすればよ
い。
【0036】つぎに、別の観点から規定したこの発明に
かかる光学式センサの信号処理装置は、接続された検出
部からの検知信号を中継するための検知信号端子を具備
するコネクタと、実行すべき計測処理方式についての指
示が入力される計測処理方式入力部と、計測処理方式入
力部に入力された指示に基づいてあらかじめ用意された
複数の計測処理方式のうちの一つを選択し、前記検知信
号端子により中継された検知信号を取り込んで、この検
知信号に前記選択した計測処理方式を適用して計測処理
を実行する制御部とを具備するものである。
【0037】この信号処理装置によれば、あらかじめ複
数の計測処理方式が用意されているので、各計測処理方
式に適合する異なる種類の検出部を接続して利用した
り、可能な場合には1つの検出部に対して異なる計測処
理方式を適用することができる。したがって信号処理装
置の製作にかかるコストやセンサ別に信号処理装置を設
計する労力が削減できるとともに、一つの機種で種々の
アプリケーションに対応できる利便性の高い光学式セン
サの信号処理装置を提供することができる。
【0038】上記構成の信号処理装置に接続される検出
部としては、変位センサ型検出部、光量型検出部などが
想定される。光量型検出部には、透過光量型検出部、反
射光量型検出部が含まれる。反射光量型検出部は、投光
部、受光部等の基本的には透過光量型検出部と同様の構
成要素からなり、出力される検知信号が受光量に対応し
た1つの信号である点も透過光量型検出部と同様である
が、投光部から出射された光が直接には受光部に入射せ
ず、検知領域に対象物体があった場合に対象物体からの
反射光が受光部に入射するように投光部と受光部とが配
置されている点において透過光量型検出部と異なる。
【0039】この信号処理装置にあらかじめ用意された
計測処理方式が複数であるというのは、方式として異な
ると評価できる計測処理の方法が複数用意されていると
いう意味である。たとえば、変位センサ型検出部が出力
する一対の検知信号を用いて除算を含む演算により距離
を求める計測処理と、光量型検出部が出力する1つの検
知信号に対して1つのしきい値による受光量大小の判別
を行う計測処理とは方式として異なるものである。一
方、検出部が透過光量型であっても反射光量型であって
も、1つの検知信号に対して1つのしきい値による判別
を行う点で共通していれば、計測処理の方式としては異
ならない。単にしきい値の値が異なったり、受光量の大
小と判別出力との間の論理(受光状態と遮光状態のどち
らを出力オン状態とするか)が反転している程度の相違
であれば、計測処理の方式としては異ならない。方式と
して異なる計測処理の他の例としては、CCD等のイメ
ージセンサが出力する画像信号を入力して光像の位置を
求める処理(その中にも相異なる種々の具体的処理方式
がありうる)等がある。
【0040】なお、信号処理装置を小型化する観点から
は、検知信号端子を具備するコネクタは1つだけ設ける
のが好ましい。また信号処理装置の筐体から検知信号ラ
インを含むケーブルを引き出し、そのケーブルの端に検
知信号端子を具備するコネクタを設けると、信号処理装
置をさらに小型化することができる。一方、検知信号端
子を具備するコネクタを複数設け、同時に複数の検出部
を接続できるようにしてもよい。
【0041】上記信号処理装置の好ましい実施態様にお
いては、制御部は、変位センサ型検出部の一対の検知信
号を用いる計測処理方式と光量型検出部の検知信号を用
いる計測処理方式とを選択的に実行するものとすること
ができる。この実施態様によれば、信号処理装置の一つ
の機種を変位センサ型検出部にも光量型検出部にも接続
して使用することができる。
【0042】前記計測処理方式入力部は、好ましい実施
態様においては、接続された検出部からの識別データを
前記制御部に中継するための端子であり、前記制御部は
識別データ中継用の端子により中継された識別データの
内容または識別データが中継されたか否かに基づき、前
記計測処理方式のうちの一つを選択して実行するものと
することができる。この場合、識別データの内容、識別
データが入力されたこと、識別データが入力されなかっ
たことなどが計測処理方式を選択するための指示とな
る。なお、識別データ中継用の端子は、検知信号端子を
具備するコネクタの中に設けることができる。さらに、
検知信号端子と識別データ中継用の端子とを共用して、
検知信号と識別データとを異なるタイミングで取り込む
ようにしてもよい。
【0043】他の好ましい実施態様においては、計測処
理方式入力部として手動のモード切替用スイッチを設
け、このスイッチの手動操作によって計測処理方式を選
択するための指示を入力することができる。この実施態
様によれば、検出部側に識別データを持たせなくとも、
その検出部に適合する計測処理方式を選択することがで
きる。
【0044】他の好ましい実施態様においては、計測処
理方式入力部として外部からモード切替信号を入力する
モード切替信号入力部を備えることができる。この場
合、モード切替信号の内容が計測処理方式を選択するた
めの指示となる。この実施態様においても、検出部側に
識別データを持たせなくとも、その検出部に適合する計
測処理方式を選択することが可能となる。
【0045】なお、特定の種類の検出部に適合する計測
処理方式は一つであるとは限らず、同一の検出部に対し
て異なる計測処理方式を適用できる場合がある。たとえ
ば、変位センサ型検出部に対して、一対の検知信号を用
いて変位量を求める通常の計測処理に限らず、位置検出
素子の2つの出力の和信号を用いて、この和信号としき
い値とを比較することによって受光量の大小を判別する
処理を行うこともできる。この場合は、変位センサ型検
出部が反射光量型検出部と同様の働きをする。アプリケ
ーションによっては変位量に基づく判別と光量に基づく
判別とを使い分けたり両判別結果を組み合わせて判断し
たいことがあるが、上記実施態様のように、変位センサ
型検出部の一対の出力信号を用いる計測処理方式と光量
型検出部の出力信号を用いる計測処理方式とを選択的に
実行できる制御部を用い、さらに手動のモード切替用ス
イッチや外部からのモード切替信号によって計測処理方
式を選択するための指示を入力するようにすれば、この
ようなアプリケーションにも、1つの検出部と1つの信
号処理装置との組み合わせのみによって対応することが
できる。特に外部からのモード切替信号によって指示を
入力する場合には、外部の制御装置等が指示を出すこと
により、検出部の前を通過する対象物の種類によって計
測処理方式を切り替えるなど、高度に自動化された計測
処理を行うことができる。
【0046】
【発明の実施の形態】図1は、この発明の一実施例にか
かる信号処理装置1の外観を示す。この信号処理装置1
は、機体100の内部に、後記する図2に示す各回路が
組み込まれるとともに、機体100の上面には、表示部
103や設定部104が形成されている。また機体10
0の端面からはコード線102が引き出され、さらにこ
のコード線102の先端には、検出部に電気接続するた
めのコネクタ101が装着されている。
【0047】前記設定部104には、数値や機体の動作
モードなどを可変設定するための複数の押釦スイッチ1
05が配備される。表示部103は、数値やアルファベ
ットを可変表示するタイプの複数のディジタル表示器1
06や、報知用のランプ107などにより構成される。
なお、これら設定部104および表示部103には、開
閉可能なカバー108が被せられる。
【0048】また機体100の両側面には、信号伝達用
のコネクタ110を臨ませた開口部109が形成され
る。これらのコネクタ110は、この信号処理装置1を
変位センサとして使用する際に、物体の段差や厚みを計
測するためなどに他の信号処理装置1に接続して信号を
やりとりするために使用される。各開口部109には、
それぞれガイド溝111,112を介してスライド可能
な蓋部113が係合しており、前記の接続が不要な場合
は、開口部109は、前記蓋部113により塞がれた状
態となる。
【0049】この信号処理装置1は、投光部および受光
部が一体化された変位センサ型検出部に接続されて対象
物の変位を検出するための計測処理を行うほか、投光部
および受光部が分離した透過光量型検出部に接続されて
物体を検知する処理を行うことも可能に設定されてい
る。
【0050】図2は、前記機体100内に組み込まれた
回路構成を示す。この実施例の信号処理装置1は、基本
的に、前記図5に示した従来の変位センサ専用の信号処
理装置1aと同様の構成の回路を具備するもので、ここ
では図5と共通する構成に同一の符号を付けることで、
詳細な説明を省略する。なお、この図2の各回路は、基
板上に実装された状態で前記機体100内に組み込まれ
る。またここでは図示していないが、CPU15には、
入出力部として、前記操作部104の各スイッチ105
や表示部103の表示器106およびランプ107など
が接続される。
【0051】なお、図中の18は、前記図5では図示し
なかった電源回路である。この電源回路18は、外部電
源より12〜24Vの直流電源の供給を受けて、これを
機体内の各部に供給するほか、検出部への供給電源とし
て、5Vの電位を生成して出力する。
【0052】CPU15は、従来の装置と同様に、発光
用の駆動パルス信号Pを生成して出力するほか、各サン
プルホールド回路11,12およびA/D変換回路1
3,14を介して一対の検知信号A,A+Bを入力し、
通常は、これらの信号により変位センサ用の距離計測を
実行するように設定されている。さらにこの実施例のC
PU15は、電源投入時やリセット処理時に、検出部側
に、後記する識別データjの読み出しのための読出し信
号iを送信して識別データjを取り込むように設定され
ており、この識別データjが得られなかった場合には、
透過光量型センサ用の計測処理に切り替えて、一方の検
知信号A+Bのみを用いた計測を行うように設定されて
いる。なお、前記読出し信号iを所定の時間間隔をおい
て連続的に出力して識別データを常時取り込むようにす
れば、電源投入後に検出部を接続したり、計測処理を実
行中に接続が切り替えられた場合にも、速やかに対応す
ることができる。
【0053】前記コネクタ101には、それぞれ5V,
0Vの電位を持つ2本の電源ラインのほか、発光用の駆
動パルス信号Pを伝送するための信号線,一対の検知信
号A,A+Bを入力するための2本の信号線,前記読出
し信号iの伝送用の信号線,および識別データjの入力
用の信号線を中継するための端子が配備される。なお、
この識別データjを中継するための端子は前記計測処理
方式入力部に相当する。
【0054】さらに、この信号処理装置1に透過光量型
検出部が接続される場合には、投光部,受光部にそれぞ
れ個別に電源を供給する必要があるので、この実施例で
は、5V,0Vの各電源ラインをそれぞれ信号処理装置
1内で分岐させるとともに、コネクタ101に、分岐さ
れたライン毎に端子を設けるようにしている。
【0055】図3は、前記図1,2に示した信号処理装
置1のコネクタ101に変位センサ型検出部2を接続し
た具体例を示す。この変位センサ型検出部2は、前記図
5に示したのと同様の構成を具備するほか、前記した識
別データjが保存されたROM46が組み込まれてい
る。このROM46には、さらに真の変位量とセンサの
出力値との間の直線性の補正を行うために必要なデータ
がテーブル形式で格納されている。信号処理装置1は、
ROM46から直線性補正のためのデータをも読み出
し、このデータを利用して直線性補正処理を行う。この
ようにすれば、信号処理装置1に接続する変位センサ型
検出部2を他の変位センサ型検出部と交換しても測定精
度を維持することができる。なお、この図3において図
5と同様の構成については、前出と同じ符号を記すこと
で説明を省略する。
【0056】この変位センサ型検出部2は、中継用コネ
クタ102を介して前記コネクタ101に接続され、ま
た必要に応じて、中継用コネクタ102と変位センサ型
検出部2との間にケーブルを介在させることができる。
中継用コネクタ102からは、前記2組の電源ラインの
うちの一方と、駆動パルス信号P,各検知信号A,A+
B,読出し信号i,識別データjの各信号用の信号線と
が中継される。このような接続により検出部2の投受光
部3,4と信号処理装置1のCPU15との間では、従
来と同様の形式で信号がやりとりされる。またCPU1
5から送信される読出し信号iにより前記ROM46内
の識別データjが取り出されて、CPU15へと出力さ
れる。
【0057】図4は、透過光量型検出部9を構成する投
光部6および受光部7を前記信号処理装置1のコネクタ
101に接続するための具体例を示す。なお、この透過
光量型検出部9は、図6と全く同様の構成のものであ
り、ここでは前出と同じ符号を付すことにより、各構成
の説明を省略する。
【0058】この図4の例では、前記コネクタ101に
分岐コネクタ200を取り付けて信号路を二分し、さら
に分岐された各信号路に対し、それぞれ中継用コネクタ
やケーブル(図示せず。)を介して投光器6,受光器7
を接続するようにしている。
【0059】前記したように、コネクタ101からは5
V,0Vの二組の電源ラインが中継されている。この電
源ラインは、分岐コネクタ200内で組毎に分けられ
て、一方が投光部6側に、他方が受光部7側に、それぞ
れ導かれる。また分岐コネクタ200には、投光部6に
対して電源ラインおよび駆動パルス信号Pの中継ライン
が形成されるとともに、受光器7に対しては、電源ライ
ンおよび検知信号A+B用の中継ラインが形成される。
なお、検知信号A,識別データj,読出し信号iについ
ては、いずれも、分岐コネクタ200は中継しない。
【0060】上記図4の接続によれば、投光部6には、
コネクタ101および分岐コネクタ200を介して駆動
信号Pが供給されてレーザーダイオード62が発光す
る。またこの発光動作に応じて受光器7側のフォトダイ
オード72から検知信号Qが出力されると、この検知信
号Qは、分岐コネクタ200およびコネクタ101の検
知信号A+Bの端子により中継された後、信号処理装置
1のサンプルホールド回路12へと入力される。
【0061】なお、上記実施例には、電源ラインを信号
処理装置1内で分岐させ、分岐した各電源ラインをコネ
クタ101および分岐コネクタ200を介して投光部6
および受光部7に導いているが、これに限らず、信号処
理装置1からは1組の電源ラインを中継するのみとし、
分岐コネクタ200内で電源ラインを分岐させて、投光
部6および受光部7に導くようにしてもよい。
【0062】上記構成の信号処理装置1において、CP
U15は、電源投入時またはリセット時に、読出し信号
iを出力して検出部の種類をチェックする。ここで前記
図3に示すように、コネクタ101に変位センサ型検出
部2が接続されていると、前記読出し信号iに応じてR
OM46内の識別データjが読み出されてCPU15に
入力される。この識別データjの入力により、CPU1
5は、変位センサ用の信号処理を行うべきであると判断
し、検知信号A,A+Bを用いて対象物までの距離を計
測する。またこの計測結果を所定のしきい値と比較し
て、対象物の長さ(または高さ)が適正であるか否かな
どを判別する。
【0063】一方、図4に示すように、コネクタ101
に対して透過光量型検出部9の投光部6および受光部7
が接続されている場合には、前記読出し信号iに対する
識別データjは送信されてこないから、CPU15は、
透過光量型センサ用の信号処理を行うべきであると判断
する。そして検知信号A+B(実際には検知信号Q)の
みを用いて遮光の度合いを計測する処理を実行し、さら
にその計測結果を所定のしきい値と比較して、投受光部
6,7の間に物体が侵入したか否かなどを判別する。
【0064】なお、前記コネクタ101に透過光量型検
出部9の投受光器6,7を接続する場合、受光器7から
の検知信号Qは、検知信号A+B用の入力端子に限ら
ず、検知信号A用の入力端子に接続するようにしてもよ
い。また変位センサとして使用される場合にも、A,A
+Bの各検知信号に代えて、加算前の受光信号A,Bを
そのまま入力し、CPU15内で信号の加算処理を行う
ようにしてもよい。
【0065】また上記実施例では、識別データjの有無
によって信号処理装置1の行う計測処理を切り替えるよ
うにしたが、これに代えて前記操作部104にモード切
替用のスイッチを設定し、手動操作により計測処理を切
り替えるようにしてもよい。このように手動でモードを
切り替えるようにすれば、図5に示した従来型の変位セ
ンサ型検出部2aを使用することが可能となる。
【0066】また図3に示した変位センサ型検出部2を
接続したまま手動でモードを切り替えるようにすれば、
検知信号A+Bを用いて光量型の計測処理を実行でき、
変位センサ型検出部2を反射光量型検出部として使用す
ることが可能となる。さらに手動のモード切替用スイッ
チに代えて、外部からのモード切替信号を入力するため
の信号入力部を設け、モード切替信号による指示を受け
て計測処理を切り替えるようにしてもよい。
【0067】
【発明の効果】上記したように、この発明では、接続さ
れた検出部から検知信号を取り込み、取り込んだ検知信
号にあらかじめ用意された複数の計測処理方式の中から
選択した計測処理方式を適用して計測処理を実行するよ
うにしたので、異なる種類の検出部に同じ構成の信号処
理装置で対応することができ、信号処理装置の製作にか
かるコストや検出部の種類別に信号処理装置を設計する
労力を大幅に軽減することができる。また信号処理装置
の一つの機種を用いながら、接続する検出部や計測処理
方式を選択することにより種々のアプリケーションに対
応できる利便性を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一実施例にかかる信号処理装置の外
観を示す斜視図である。
【図2】信号処理装置の回路構成を示す。
【図3】変位センサ型検出部の構成をコネクタへの接続
例とともに示すブロック図である。
【図4】透過光量型検出部の構成をコネクタへの接続例
とともに示すブロック図である。
【図5】従来の変位センサの構成を示すブロック図であ
る。
【図6】従来の透過光量型センサの構成を示すブロック
図である。
【符号の説明】
1 信号処理装置 2 変位センサ型検出部 3,6 投光部 4,7 受光部 9 透過光量型検出部 11,12 サンプルホールド回路 13,14 A/D変換回路 15 CPU 18 電源回路 46 ROM 101 コネクタ 200 分岐コネクタ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 井上 宏之 京都市下京区塩小路通堀川東入南不動堂町 801番地 オムロン株式会社内 Fターム(参考) 2F065 AA09 AA12 AA22 AA67 DD02 FF01 GG06 HH13 JJ01 JJ16 PP22 QQ03 QQ27 QQ28 UU01 UU02 UU05 2H051 AA00 BB11 CB23 CC02 5J050 AA49 BB22 CC00 DD03 EE31 EE36 EE39 FF05 FF10

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光を出射してその出射光に対する検知領
    域からの反射光の受光量に基づく一対の検知信号を出力
    する変位センサ型検出部と、光を出射してその出射光に
    対する検知領域からの透過光の受光量に基づく検知信号
    を出力する透過光量型検出部と、これら検出部からの検
    知信号を処理するための信号処理装置とを具備する光学
    式センサ装置であって、 前記信号処理装置は、 前記変位センサ型検出部および透過光量型検出部のいず
    れに対しても電気的に接続可能であり、かつこれら検出
    部を同時には接続できないように構成されたコネクタ
    と、 前記コネクタに備えられ、前記変位センサ型検出部から
    の一対の検知信号および前記透過光量型検出部からの検
    知信号を中継するための複数の検知信号端子と、 前記検知信号端子により中継された検知信号を取り込
    み、前記変位センサ型検出部からの一対の検知信号を用
    いた第1の計測処理方式と、前記透過光量型検出部から
    の検知信号を用いた第2の計測処理方式とを選択的に実
    行する制御部とを具備して成る光学式センサ装置。
  2. 【請求項2】 検知信号を中継するための複数の検知信
    号端子を具備するコネクタと、 前記検知信号端子により中継された検知信号を取り込
    み、前記検知信号端子のうちの2つの端子から入力され
    た2つの検知信号を用いた第1の計測処理方式と、前記
    検知信号端子のうちの1つの端子から入力された1つの
    検知信号を用いた第2の計測処理方式とを選択的に実行
    する制御部とを具備して成る光学式センサの信号処理装
    置。
  3. 【請求項3】 光を出射してその出射光に対する検知領
    域からの反射光の受光量に基づく一対の検知信号を出力
    する変位センサ型検出部、および光を出射してその出射
    光に対する検知領域からの透過光の受光量に基づく検知
    信号を出力する透過光量型検出部のいずれに対しても電
    気的に接続可能であり、かつこれら検出部を同時には接
    続できないように構成されたコネクタと、 前記コネクタに備えられ、前記変位センサ型検出部から
    の一対の検知信号および前記透過光量型検出部からの検
    知信号を中継するための複数の検知信号端子と、 前記検知信号端子により中継された検知信号を取り込
    み、前記変位センサ型検出部からの一対の検知信号を用
    いた第1の計測処理方式と、前記透過光量型検出部から
    の検知信号を用いた第2の計測処理方式とを選択的に実
    行する制御部とを具備して成る光学式センサの信号処理
    装置。
  4. 【請求項4】 前記コネクタは、接続された検出部の種
    類を示す識別データを制御部に中継するための端子を具
    備し、前記制御部は、コネクタを介して取り込まれた識
    別データの内容に応じて前記第1,第2のいずれかの計
    測処理方式を選択して実行する請求項2または3に記載
    された光学式センサの信号処理装置。
  5. 【請求項5】 前記コネクタは、自装置の種類を示す識
    別データが登録されたメモリが組み込まれた変位センサ
    型検出部と接続可能であるとともに、この変位センサ型
    検出部のメモリに識別データの読出し信号を中継するた
    めの端子と、メモリより読み出された識別データを制御
    部に中継するための端子とを具備しており、 前記制御部は、前記読み出し信号を出力した後、識別デ
    ータが伝送された場合に前記第1の計測処理方式を選択
    して実行し、識別データが伝送されなかった場合に前記
    第2の計測処理方式を選択して実行する請求項2または
    3に記載された光学式センサの信号処理装置。
  6. 【請求項6】 光を出射してその出射光に対する検知領
    域からの透過光の受光量に基づく検知信号を出力する透
    過光量型検出部の投光部と受光部とに対してそれぞれ個
    別に接続するための接続部を具備するとともに、請求項
    2〜5のいずれかの信号処理装置のコネクタに対する接
    続口を具備し、前記コネクタと前記透過光量型検出部と
    の間に配備して使用するための光学式センサ用の分岐コ
    ネクタ。
  7. 【請求項7】 請求項6に記載された分岐コネクタであ
    って、 前記信号処理装置のコネクタに対する接続口に一組の電
    源ラインの中継端子が設けられるとともに、前記投光部
    および受光部に対して前記電源ラインの中継ラインが一
    組ずつ設けられており、前記信号処理装置から中継され
    た電源ラインを分岐させて投光部側および受光部側の各
    中継ラインに接続して成る光学式センサ用の分岐コネク
    タ。
  8. 【請求項8】 請求項6に記載された分岐コネクタであ
    って、 前記信号処理装置のコネクタに対する接続口に電源ライ
    ンの中継端子が二組設けられるとともに、前記投光部お
    よび受光部に対して前記電源ラインの中継ラインが一組
    ずつ設けられており、前記信号処理装置から中継された
    二組の電源ラインを組毎に分けて投光部側および受光部
    側の各中継ラインに接続して成る光学式センサ用の分岐
    コネクタ。
  9. 【請求項9】 接続された検出部からの検知信号を中継
    するための検知信号端子を具備するコネクタと、 実行すべき計測処理方式についての指示が入力される計
    測処理方式入力部と、 前記計測処理方式入力部に入力された指示に基づいてあ
    らかじめ用意された複数の計測処理方式のうちの一つを
    選択し、前記検知信号端子により中継された前記検知信
    号を取り込んで、この検知信号に前記選択した計測処理
    方式を適用して計測処理を実行する制御部とを具備して
    成る光学式センサの信号処理装置。
  10. 【請求項10】 前記制御部は、変位センサ型検出部の
    一対の検知信号を用いる計測処理方式と光量型検出部の
    検知信号を用いる計測処理方式とを選択的に実行する請
    求項9に記載の光学式センサの信号処理装置。
  11. 【請求項11】 前記計測処理方式入力部は接続された
    検出部からの識別データを前記制御部に中継するための
    端子であり、 前記制御部は、前記識別データ中継用の端子により中継
    された識別データの内容または識別データが中継された
    か否かに基づき前記計測処理方式のうちの一つを選択し
    て実行する請求項9または10に記載の光学式センサの
    信号処理装置。
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DE10227137A DE10227137A1 (de) 2001-06-19 2002-06-18 Optische Sensorvorrichtung, Signalprozessor für diese und Verzweigungsverbinder für diese

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006039885A (ja) * 2004-07-26 2006-02-09 Omron Corp センサ用ケーブル
US7157917B2 (en) 2004-03-31 2007-01-02 Omron Corporation Sensor cable having easily changeable entire length and allowing accurate and high speed signal transmission even when entire length is made longer, and amplifier-separated type sensor with the cable
JP2007025984A (ja) * 2005-07-14 2007-02-01 Toshiba Corp 検査装置

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004031694A1 (de) * 2002-09-25 2004-04-15 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh Verfahren zum betrieb einer positionsmesseinrichtung und geeignete positionsmesseinrichtung hierzu
EP1782037A2 (en) 2004-07-28 2007-05-09 Omniprobe, Inc. Strain detection for automated nano-manipulation
EP1817557A4 (en) * 2004-11-03 2010-06-16 Omniprobe Inc DEVICE AND METHOD FOR DETECTING CONTACT BETWEEN A PROBE TIP AND A SURFACE
EP1812945B1 (en) 2004-11-03 2017-01-25 Omniprobe, Inc. Method and apparatus for the automated process of in-situ lift-out
CN101451861B (zh) * 2007-12-07 2010-09-01 台达电子工业股份有限公司 马达绝对位置的信号处理装置
JP5677378B2 (ja) * 2012-07-25 2015-02-25 富士フイルム株式会社 内視鏡システム
JP6647524B2 (ja) * 2015-10-27 2020-02-14 北陽電機株式会社 エリアセンサ及び外部記憶装置
CN117906650A (zh) * 2024-03-19 2024-04-19 深圳市志奋领科技有限公司 多模式集成型光电传感器装置

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5351126A (en) * 1991-10-31 1994-09-27 Matsushita Electric Works, Ltd. Optical measurement system for determination of an object's profile or thickness
US5784581A (en) * 1996-05-03 1998-07-21 Intel Corporation Apparatus and method for operating a peripheral device as either a master device or a slave device
WO1999018496A1 (en) * 1997-10-07 1999-04-15 Electronics Development Corporation Transducer assembly with smart connector
AU3991799A (en) * 1998-05-14 1999-11-29 Metacreations Corporation Structured-light, triangulation-based three-dimensional digitizer
DE59915109D1 (de) * 1999-07-06 2010-01-21 X Rite Europe Gmbh Lichtmessvorrichtung
US6483595B1 (en) * 2000-07-22 2002-11-19 Basis Software, Inc. Three dimensional optical scanner

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7157917B2 (en) 2004-03-31 2007-01-02 Omron Corporation Sensor cable having easily changeable entire length and allowing accurate and high speed signal transmission even when entire length is made longer, and amplifier-separated type sensor with the cable
JP2006039885A (ja) * 2004-07-26 2006-02-09 Omron Corp センサ用ケーブル
JP2007025984A (ja) * 2005-07-14 2007-02-01 Toshiba Corp 検査装置

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