JP2007025984A - 検査装置 - Google Patents

Abstract

【課題】 処理の効率を最適化することができ、消費電力の削減、あるいは、処理の高精度化を容易に実現することができる。
【解決手段】 複数の検査器１２（１２Ａ、…）と各検査器１２（１２Ａ、…）に対応して設けられている複数の処理基板２２（２２Ａ、…）とを具備する検査装置において、各処理基板２２（２２Ａ、…）は、動作状況あるいは検査対象の紙葉類の状態などに応じてメモリに記憶されている複数のプログラムから最適なプログラムを選択し、選択したプログラムがロードされたプログラマブルデバイス３２により各検査器１２（１２Ａ、…）が紙葉類から検知した種々の物理特性を示す信号を処理するようにしたものである。
【選択図】 図２

Description

この発明は、検査対象物の種々の物理特性を検査するものであり、例えば、紙葉類の種々の物理特性を検査し、それらの検査結果に基づいて紙葉類を搬送制御する紙葉類検査装置などに用いられる検査装置に関する。

従来、例えば、紙葉類検査装置では、紙葉類の搬送路上に複数のセンサを配置し、上記搬送路を搬送される紙葉類の種々の物理特性を検査し、それらの検査結果に応じて紙葉類を搬送制御するようになっている。このような紙葉類検査装置内で紙葉類は、搬送路上を個別に搬送される。この搬送路上に設置されるセンサは、紙葉類に対して検査したい物理特性を感知できるものが選択される。紙葉類に対して検知したい物理特性は、複数あるので、種々の物理特性を感知する種々のセンサが搬送路上に点在することになる。

これらのセンサにより検知された検知対象の物理特性は、電気信号として伝送路を介して処理部に送られる。処理部では、各センサから送られた電気信号に基づいて各紙葉類の物理特性を判定する。また、全ての物理特性の判定処理が終了すると、検知結果を総合的に判断し、その総合的な判定結果に基づいて紙葉類を搬送制御する。

しかしながら、従来の検査装置では、各センサ毎に用意した専用の処理ハードウェアや処理プログラムなどにより物理特性を判定するための処理を行っている。このため検査対象とする紙葉類の変更や検査内容の変更等に応じて処理プログラムを変更する必要が生じた場合、ハードウェアあるいは処理プログラムの交換あるいは追加などの作業を行う必要があり、非常に手間がかかるという問題がある。さらに、従来の検査装置では、装置の稼動中にはハードウェアあるいは処理プログラムの交換あるいは追加などを行えないため、動作状態や検査対象の紙葉類の状態に応じて臨機応変に処理を変更することができないという問題点がある。
特開平１０−３４４１８６号公報

この発明は、上記のような問題点を解決するためのものであり、装置内における処理を容易に最適化することができ、処理の効率化あるいは処理の高精度化を実現できる検査装置を提供することを目的とする。

この発明の検査装置は、検査対象物の物理特性を電気信号として検知する検査手段と、この検査手段により検知した電気信号を処理するための複数のプログラムを記憶している記憶手段と、この記憶手段に記憶されているプログラムから１つのプログラムを選択する選択手段と、この選択手段により選択されたプログラムに基づいて前記検査手段により検知した電気信号を処理する情報処理手段とを有する。

この発明の検査装置は、検査対象物の種々の物理特性をそれぞれ電気信号として検知する複数の検査器と、各検査器が検知した電気信号を処理する複数の処理基板と、各処理基板による複数の処理結果に基づいて前記検査対象物の状態を判定する主制御部とを有するものであって、各処理基板は、前記検査器により検知した電気信号を処理するための複数のプログラムを記憶している記憶手段と、前記主制御部からの信号に基づいて前記記憶手段に記憶されている複数のプログラムから１つのプログラムを選択する選択手段とこの選択手段により選択されたプログラムに基づいて前記検査器により検知した電気信号を処理する情報処理手段とを有する。

この発明によれば、装置内における処理を容易に最適化することができ、処理の効率化あるいは処理の高精度化を実現できる検査装置を提供することを目的とする。

以下、この発明を実施するための最良の形態について図面を参照して詳細に説明する。
図１は、この発明の各実施の形態が適用される紙葉類検査装置（検査装置）の概略構成を示す図である。この発明の各実施の形態に係る紙葉類検査装置は、図１に示すように、搬送路１１、複数の検査器１２（１２Ａ、…）、処理部１４および搬送制御部１５などを有している。なお、各実施の形態では、検知対象物として紙葉類を検査する紙葉類検査装置について説明するが、各実施の形態は紙葉類以外のものを検知対象とする検査装置についても適用可能である。

上記搬送路１１は、紙葉類Ｐを搬送するものである。上記搬送路１１は、モータや搬送ローラ等からなる搬送機構により構成されている。上記複数の検査器１２（１２Ａ、…）は、紙葉類の物理特性を電気信号に変換するものである。上記複数の検査器１２（１２Ａ、…）は、上記搬送路１１上を搬送される紙葉類から種々の物理特性としての特徴量を検知するものである。各検査器１２は、それぞれが検知すべき紙葉類の物理特性を電気信号として検出するように構成される。例えば、複数の検査器１２は、紙葉類の厚さを検知するセンサ、紙葉類の形状を検知するセンサ、紙葉類の画像を検知するセンサ、紙葉類の真偽を判定するセンサなどである。各検査器１２には、それぞれインターフェース部（図示しない）が設けられている。

各検査器１２に対応するインターフェース部は、検査器１２が検知した電気信号を上記処理部１４へ出力する。また、各インターフェース部は、例えば、対応する検査器１２が検知したアナログの電気信号を増幅するアンプ、アンプにより増幅された検査器１２が検知したアナログの電気信号をデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器、デジタル信号をシリアルデータからパラレルデータに変換するＳ／Ｐ変換器などにより構成される。

上記処理部１４は、各検査器１２から供給される電気信号を処理するものである。上記処理部１４では、各検査器１２で得られた電気信号に対してデータ処理を施して、その処理結果により紙葉類の状態などを判別し、その判別結果を上記搬送制御部１５へ通知するようになっている。

上記搬送制御部１５は、上記処理部１４での判別結果に応じて上記搬送路１１を制御する。このような構成により、紙葉類検査装置においては、搬送路１１上の紙葉類が、各検査器１２で検知された状態に応じて搬送処理されるようになっている。

また、上記処理部１４が各検査器１２にて検知した信号に基づいて実行する処理としては、例えば、以下のようなものがある。紙葉類の厚さを検知するセンサとしての検査器１２からの信号については、上記処理部１４は、検知した紙葉類が１枚であるか否かを判別する処理を行う。また、紙葉類の形状を検知するセンサとしての検査器１２からの信号については、上記処理部１４は、検知した紙葉類が正常に搬送されているか否かを判別する処理を行う。また、紙葉類の画像を検知するセンサとしての検査器１２からの信号については、上記処理部１４は、検知した紙葉類の種類を判別する処理を行う。また、紙葉類の真偽を検知するセンサとしての検査器１２からの信号については、上記処理部１４は、検知した紙葉類の真偽を判別する処理が行われる。

これらの例で示すように、紙葉類検査装置において、上記処理部１４では、各検査器１２からの信号に対して種々の処理を実施するようになっている。また、検査対象となる紙葉類の状態が一様でないため、上記処理部１４における各検査器１２からの信号に対する処理としては、処理状況、検査対象の紙葉類の状態、あるいは、検査項目などに応じて変更することが好ましい。

次に、上記処理部１４内の構成について説明する。
図１に示すように、上記処理部１４は、複数の処理基板２２（２２Ａ、…）、およびメインプロセッサ２３などから構成されている。上記複数の処理基板２２（２２Ａ、…）は、それぞれ各検査器１２（１２Ａ、…）に対応して設けられている。上記各処理基板２２での処理は、後述するような変更可能なプログラムにより実行される。また、各処理基板２２の構成については後で詳細に説明する。上記メインプロセッサ２３は、各処理基板２２によって処理された処理結果に基づいて各紙葉類の状態等を総合的に判定し、その判定結果を搬送制御部１５に通知するようになっている。

次に、各処理基板２２の基本構成について説明する。
図２は、各処理基板２２におけるハードウェアの基本構成例を示す図である。
各処理基板２２は、図２に示すように、処理プロセッサ３１、プログラマブルデバイス３２、不揮発性メモリ（コンフィグレーションメモリ）３３、セレクタ３４および共通インターフェース回路３５などを有している。

上記処理プロセッサ３１は、処理基板における動作制御やデータ処理などを司るものであり、例えば、ＣＰＵなどにより構成される。上記プログラマブルデバイス３２は、上記処理プロセッサ３１によりロードされたプログラムに従って動作する。上記プログラマブルデバイス３２は、ＳＲＡＭなどを有するＦＰＧＡ等により構成される。

上記不揮発性メモリ３３は、不揮発性の記憶手段として機能し、フラッシュＲＯＭあるいはＥＥＰＲＯＭなどの不揮発性のメモリで構成される。上記不揮発性メモリ３３には、上記プログラマブルデバイス３２にロードされるや設定データなどのデータが記憶される。上記不揮発性メモリ３３は、複数のコンフィグレーション用のメモリを有している。

図２に示す構成例では、上記不揮発性メモリ３３は、第１のコンフィグレーション用メモリ３３ａと第２のコンフィグレーション用メモリ３３ｂとを有している。上記第１のコンフィグレーション用メモリ３３ａと第２のコンフィグレーション用メモリ３３ｂとには、異なるコンフィグレーションプログラム（以下、単にプログラムとも称する）が記憶されている。すなわち、上記第１のコンフィグレーション用メモリ３３ａには、上記プログラマブルデバイス３２にロードされる第１のプログラムおよび設定データなどのデータが記憶されている。上記第２のコンフィグレーション用メモリ３３ｂには、上記プログラマブルデバイス３２にロードされる上記第１のプログラムとは異なる第２のプログラムおよび設定データなどのデータが記憶されている。

上記セレクタ３４は、プログラマブルデバイス３２にロードするプログラムを選択するものである。図２に示す構成例において、上記セレクタ３４は、上記第１のコンフィグレーション用メモリ３３ａに記憶されている第１のプログラム、あるいは、上記第２のコンフィグレーション用メモリ３３ｂに記憶されている第２のプログラムの何れかをプログラマブルデバイス３２にロードするようになっている。

つまり、上記セレクタ３４は、上記プログラマブルデバイス３２が実行する処理を切り換えるものであり、当該処理基板２２の動作モードを設定するものである。また、上記セレクタ３４は、上記処理プロセッサ３１あるいは上記プログラマブルデバイス３２からの情報に基づいて、上記プログラマブルデバイス３２にロードするプログラムを選択するようになっている。

また、上記共通インターフェース回路３５は、当該処理基板２２と上記メインプロセッサ２３とのインターフェースとして機能する。従って、各処理基板２２と上記メインプロセッサ２３とは、上記共通インターフェース回路３５を介してデータの送受信を行うように構成されている。また、上記共通インターフェース回路３５は、たとえば、上記処理プロセッサ３１および上記メインプロセッサ２３からアクセス可能な共通メモリなどにより実現される。

上記のように構成される各処理基板２２では、上記プログラマブルデバイス３２にロードするプログラムによって種々の処理が可能である。すなわち、各処理基板は、物理的に実装されるデバイスが同様な構成であっても種々の処理を実行することができるようになっている。この結果、複数の処理基板のハードウエア構成を共通にすることができ、検査装置全体としての製造コストの削減などが実現できる。

次に、上記のように構成される上記処理部１４内の各処理基板２２での処理について概略的に説明する。
上記各検査器１２は、上記搬送路１１上を搬送される紙葉類の物理特性を示すアナログの電気信号として検知する。各検査器１２のインターフェース部では、検知した紙葉類の物理特性としてのアナログの電気信号をデジタル信号に変換し、デジタル信号に変換したデータを上記処理部１４内の対応する処理基板２２へ出力する。

これに対して、上記処理部１４内の各処理基板２２では、各検査器１２からのデジタル信号としてのデータをプログラマブルデバイス３２に入力する。上記プログラマブルデバイス３２では、対応する検査器１２から供給されたデータを上記セレクタ３４によりロードされているプログラムによって処理する。上記プログラマブルデバイス３２により処理されたデータは、上記処理プロセッサ３１の制御により上記共通インターフェース回路３５を介してメインプロセッサ２３へ出力される。

また、各処理基板２２内では、複数のコンフィグレーション用メモリ３３ａ、３３ｂにそれぞれ異なったプログラムが記憶されている。各コンフィグレーション用メモリ３３ａ、３３ｂに記憶されているプログラムは、セレクタ３４により選択され、プログラマブルデバイス３２にロードされる。つまり、上記セレクタ３４では、プログラマブルデバイス３２にロードするプログラムを複数のプログラムから選択（切替）するようになっている。これにより、各処理基板２２が実行する処理を適宜切り換えることができ、各処理基板２２の効率的な運用が実現できる。

また、上記のような紙葉類検査装置では、搬送路１１により搬送中の紙葉類に対して、各検査器１２にて物理特性を検知し、各検査器１２にて検知したデータに対する処理を上記処理部１４内の各検査器１２に対応する各処理基板２２が行い、各処理基板２２による処理結果に基づいて総合判定し、その総合判定の結果に応じて当該紙葉類を搬送制御（例えば、区分処理など）する。このため、上記処理部１４の各処理基板２２では、各検査器１２にて検知したデータに対する処理を上記搬送路１１における紙葉類の搬送速度及び搬送時間に応じた所定の時間内で終えなければならない。従って、処理部１４内の各処理基板２２では、各検査器１２で得られたデータに対して所定の時間内に処理結果としてのレスポンスをメインプロセッサ２３へ通知しなければならないという制約がある。

また、各処理基板２２では、検査対象としている紙葉類の状態あるいは検査対象とする紙葉類の搬送状態などによって処理状況が異なる。各処理基板２２での処理状況が異なると、最適なプログラムも異なる。例えば、処理の負荷が少ない場合、上記処理基板２２では、負荷が少ない状態の処理に最適化されたプログラムにより、プログラマブルデバイス３２の使用率を削減したり、動作周波数を落としたりすることにより少ない処理能力で処理を行うことが可能である。この結果として、上記処理基板２２における消費電力を減少させることができる。言い換えれば、セレクタ３４により状況に応じた最適なプログラムを実行することにより上記処理基板２２における処理を最適化することが可能である。

また、上記のような紙葉類検査装置では、状態が類似した複数の紙葉類を連続して処理することが多い。このため、検査対象としている紙葉類の状態に応じてプログラマブルデバイス３２が実行する処理（プログラム）を変更するようにしても良い。この場合、セレクタ３４により検査中の紙葉類の状態に応じた最適なプログラムを選択することにより上記処理基板２２における処理を高精度化することが可能である。

すなわち、本実施の形態の紙葉類検査装置では、複数の検査器に対応して設けられている各処理基板が、動作状況あるいは検査対象の紙葉類の状態などに応じてメモリに記憶されている複数のプログラムから最適なプログラムを選択し、選択したプログラムがロードされたプログラマブルデバイスにより各検査器１２が紙葉類から検知した種々の物理特性を示す信号を処理するようにしたものである。これにより、処理の効率を最適化することができ、消費電力の削減、あるいは、処理の高精度化を容易に実現することができる。

以下、上記のような紙葉類検査装置に適用される第１〜第３の応用例について説明する。
まず、本実施の形態の第１の応用例について説明する。
図３は、本実施の形態の第１の応用例としての処理基板４２（４２Ａ、…）の構成例を示す図である。
この第１の応用例では、各処理基板４２（４２Ａ、…）内において上記プログラマブルデバイス３２の動作頻度を計測し、計測された動作頻度に応じて上記セレクタ３４がプログラマブルデバイス３２にロードするプログラムを選択するようにしたものである。

従って、図３に示す処理基板４２（４２Ａ、…）の構成例は、図２に示す処理基板の構成に、上記プログラマブルデバイス３２の動作頻度を計測する動作頻度計測部４６を加えたものとなっている。このため、図３に示す処理基板４２（４２Ａ、…）の構成において図２に示す処理基板２２（２２Ａ、…）と同様な構成については、同一箇所に同一符号を付して詳細な説明を省略する。

図３に示すように、処理基板４２（４２Ａ、…）は、処理プロセッサ３１、プログラマブルデバイス３２、不揮発性メモリ３３、セレクタ３４、共通インターフェース回路３５および動作頻度計測部４６などを有している。

上記動作頻度計測部４６は、上記プログラマブルデバイス３２の動作頻度を計測するものである。また、上記動作頻度計測部４６は、上記プログラマブルデバイス３２の動作頻度として、上記プログラマブルデバイス３２の動作期間、停止期間、あるいは両者を計測する。ここでは、上記動作頻度計測部４６は、動作期間と停止期間とを計測するものとする。なお、上記動作頻度計測部４６では、上記プログラマブルデバイス３２の動作頻度を定量的に計測するものであれば良く、たとえば、動作回数を計測するようにしても良いし、動作回数と動作期間あるいは停止期間とを計測するようにしても良い。

また、各処理基板４２（４２Ａ、…）において不揮発性メモリ３３には、例えば、動作頻度に応じて選択される複数のプログラムが記憶されている。ここでは、コンフィグレーション用メモリ３３ａには高速処理用のコンフィグレーションプログラムを記憶しておき、コンフィグレーション用メモリ３３ｂには低速機用のコンフィグレーションプログラムを記憶しておくものとする。

上記コンフィグレーション用メモリ３３ａに記憶される高速処理用のコンフィグレーションプログラムは、コンフィグレーション用メモリ３３ｂに記憶される低速機用のコンフィグレーションプログラムよりも高速な処理が可能である。従って、当該処理基板４２にかかる処理の負荷が大きいためにプログラマブルデバイス３２に高速な処理が要求される場合、上記プログラマブルデバイス３２には、高速処理用のコンフィグレーションプログラムをロードすることが好ましい。

これに対して、上記コンフィグレーション用メモリ３３ｂに記憶される低速機用のコンフィグレーションプログラムは、上記コンフィグレーション用メモリ３３ａに記憶される高速処理用のコンフィグレーションプログラムよりも消費電力を減らすことが可能である。このように消費電力が削減されるのは、低速機用のコンフィグレーションプログラムが、高速処理用のコンフィグレーションプログラムに比べて、プログラマブルデバイス３２の使用率を削減したり、動作周波数を落としたりするように構成されているためである。従って、当該処理基板４２にかかる処理の負荷が小さいためにプログラマブルデバイス３２の処理が低速で良い場合、上記プログラマブルデバイス３２には、上記低速機用のコンフィグレーションプログラムをロードすることが好ましい。

さらに、上記動作頻度計測部４６では、上記プログラマブルデバイス３２の動作頻度を計測している。このため、当該処理基板４２のセレクタ３４では、上記動作頻度計測部４６により計測される上記プログラマブルデバイス３２の動作頻度に基づいて、上記プログラマブルデバイス３２に高速処理用のコンフィグレーションプログラムをロードするか上記低速機用のコンフィグレーションプログラムをロードするかを選択している。

たとえば、上記動作頻度計測部４６が上記プログラマブルデバイス３２の動作期間と停止期間とを計測するものである場合、上記セレクタ３４は、上記動作頻度計測部４６により計測した上記プログラマブルデバイス３２の動作期間と停止期間との比が所定の値以下であるか否かを判定する。この判定により上記プログラマブルデバイス３２の動作期間と停止期間との比が所定の値以下であると判定した場合、上記セレクタ３４は、上記コンフィグレーション用メモリ３３ｂに記憶されている低速機用のコンフィグレーションプログラムを選択し、上記プログラマブルデバイス３２にロードする。また、上記プログラマブルデバイス３２の動作期間と停止期間との比が所定の値よりも大きいと判定した場合、上記セレクタ３４は、上記コンフィグレーション用メモリ３３ａに記憶されている高速処理用のコンフィグレーションプログラムを選択し、上記プログラマブルデバイス３２にロードする。

上記のように、第１の応用例の処理基板４２では、上記プログラマブルデバイス３２の動作頻度を動作頻度計測部４６により計測し、この動作頻度計測部４６により計測した動作頻度に基づいてセレクタ３４が複数のプログラムから１つのプログラムを選択し、選択したプログラムを上記プログラマブルデバイス３２にロードするようにしたものである。

これにより、第１の応用例を適用した紙葉類検査装置によれば、上記プログラマブルデバイス３２の動作頻度に応じて、最適なプログラムを上記プログラマブルデバイス３２にロードすることができる。この結果として、各処理基板４２における処理を効率化し、紙葉類検査装置全体の消費電力を削減することができる。

次に、本実施の形態の第２の応用例について説明する。
図４は、本実施の形態の第２の応用例としての処理基板５２（５２Ａ、…）の構成例を示す図である。

この第２の応用例では、各処理基板５２（５２Ａ、…）内において、上記処理プロセッサ３１が当該処理基板５２の動作状況を監視し、その監視している当該処理基板５２の動作状況をセレクタ３４に通知し、上記処理プロセッサ３１から通知された動作状態に応じて上記セレクタ３４がプログラマブルデバイス３２にロードするプログラムを選択するようにしたものである。

従って、図４に示す処理基板５２（５２Ａ、…）の構成例は、図２に示す処理基板の構成に、上記処理プロセッサ３１から上記セレクタ３４に動作状況を通知する構成を加えたものとなっている。このため、図４に示す処理基板５２（５２Ａ、…）の構成において図２に示す処理基板２２（２２Ａ、…）と同様な構成については、同一箇所に同一符号を付して詳細な説明を省略する。

図４に示すように、処理基板５２（５２Ａ、…）は、処理プロセッサ３１、プログラマブルデバイス３２、不揮発性メモリ３３、セレクタ３４、共通インターフェース回路３５および動作頻度計測部４６などを有している。

また、処理基板５２において、上記処理プロセッサ３１は、上述した基本構成としての機能に加えて、上記プログラマブルデバイス３２の処理結果などに基づいて当該処理基板５２の動作状況を監視する監視機能と、この監視機能により監視している動作状況をセレクタ３４に通知する通知機能を有している。

上記処理プロセッサ３１の監視機能としては、たとえば、上記プログラマブルデバイス３２の動作状態、あるいは、上記プログラマブルデバイス３２の処理結果に基づいて検査対象となった紙葉類（処理した紙葉類）の状態を監視する。一例として、ここでは、上記処理プロセッサ３１は、監視機能として検査対象となった紙葉類の状態を監視する場合について説明するものとする。この場合、上記処理プロセッサ３１は、上記プログラマブルデバイス３２による処理結果に基づいて当該紙葉類が汚れた紙葉類であるか新しい紙葉類であるかを監視する。汚れた紙葉類とは、汚れの度合いが大きい紙葉類のことであり、新しい紙葉類とは、汚れの度合いが小さい紙葉類のことであるものとする。

また、各処理基板５２（５２Ａ、…）において、不揮発性メモリ３３には、検査対象となった紙葉類の状態に応じて選択される複数のプログラムが記憶されている。ここでは、コンフィグレーション用メモリ３３ａには汚れた紙葉類（汚れの度合いが大きい紙葉類）から検知した信号の処理にカスタマイズしたコンフィグレーションプログラム（ここでは、汚れ紙葉類用のプログラムと呼ぶこととする）を記憶しておき、コンフィグレーション用メモリ３３ｂには新しい紙葉類（汚れの度合いが小さい紙葉類）から検知した信号の処理にカスタマイズしたコンフィグレーションプログラム（ここでは、新しい紙葉類用のプログラムと呼ぶこととする）を記憶しておくものとする。

この場合、汚れた紙葉類から検知した信号の処理には、上記コンフィグレーション用メモリ３３ｂに記憶される新しい紙葉類用のプログラムよりも上記コンフィグレーション用メモリ３３ａに記憶される汚れ紙葉類用のプログラムが適している。これは、汚れ紙葉類用のプログラムが汚れた紙葉類から検知した信号を処理するための特化して設計されているためである。言い換えると、汚れ紙葉類用のプログラムでは、検査器１２が汚れた紙葉類から検知した信号については、高い精度で処理を行うことができるようになっている。従って、検査対象の紙紙葉類が汚れた紙葉類である場合、あるいは、検査対象の紙紙葉類が汚れた紙葉類である可能性が高い場合、上記プログラマブルデバイス３２には、汚れ紙葉類用のプログラムをロードすることが好ましい。

これに対して、新しい紙葉類から検知した信号の処理には、上記コンフィグレーション用メモリ３３ａに記憶される汚れ紙葉類用のプログラムよりも上記コンフィグレーション用メモリ３３ｂに記憶される新しい紙葉類用のプログラムが適している。これは、新しい紙葉類用のプログラムが新しい紙葉類から検知した信号を処理するための特化して設計されているためである。言い換えると、新しい紙葉類用のプログラムでは、検査器１２が新しい紙葉類（汚れの度合いが少ない紙葉類）から検知した信号については、高い精度で処理を行うことができるようになっている。従って、検査対象の紙葉類が新しい紙葉類であることが分かっている場合、あるいは、検査対象の紙紙葉類が新しい紙葉類である可能性が高い場合、上記プログラマブルデバイス３２には、新しい紙葉類用のプログラムをロードすることが好ましい。

また、各処理基板５２では、それぞれ対応する検査器１２が検出する物理特性を示す信号を処理するようになっている。つまり、１つの検査器１２は、それぞれ紙葉類における１種類の物理特性を検出する。このため、１つの処理基板５２の処理プロセッサ３１では、上記プログラマブルデバイス３２の処理結果により検査対象の紙葉類における１つの物理特性を判定できる。従って、処理プロセッサ３１の監視機能として処理した紙葉類が汚れた紙葉類であるか新しい紙葉類であるかを監視する場合、各処理基板５２の処理プロセッサ３１には、対応する検査器１２が検知する物理特性を示す信号に対する判定基準を設定しておき、その判定基準に基づいて汚れた紙葉類であるか新しい紙葉類であるかを監視するようにすれば良い。

このように構成した処理基板５２では、上記処理プロセッサ３１は、監視機能により検査対象となった紙葉類（処理した紙葉類）が汚れた紙葉類であるか新しい紙葉類であるかを監視している。この監視結果は、動作状態通知として、上記処理プロセッサ３１からセレクタ３４へ供給される。

上記セレクタ３４では、上記処理プロセッサ３１から受信した動作状態通知に基づいて上記コンフィグレーション用メモリ３３ａに記憶されている汚れ紙葉類用のプログラムか上記コンフィグレーション用メモリ３３ｂに記憶されている新しい紙葉類用のプログラムかを選択する。ここで、上記セレクタ３４は、検査対象となった紙葉類が汚れた紙葉類であった場合には汚れ紙葉類用のプログラムを選択し、新しい紙葉類であった場合には新しい紙葉類用のプログラムを選択する。

さらに、汚れた紙葉類あるいは新しい紙葉類が所定数連続したか否かによりプログラマブルデバイス３２にロードするプログラムを選択するようにしても良い。つまり、所定数以上連続して汚れた紙葉類を処理した場合には汚れた紙葉類が連続する可能性が高いと予測し、汚れ紙葉類用のプログラムをプログラマブルデバイス３２にロードし、処理基板５２内の処理を汚れた紙葉類から検知した信号の処理にカスタマイズしたものに切り換える。同様に、所定数以上連続して新しい紙葉類を処理した場合には今後も新しい紙葉類が連続する可能性が高いと予測し、新しい紙葉類用のプログラムをプログラマブルデバイス３２にロードし、処理基板５２内の処理を新しい紙葉類から検知した信号の処理にカスタマイズしたものに切り換える。
上記のように、第２の応用例の処理基板５２では、処理プロセッサ３１が処理基板５２における動作状況や検査対象となっている紙葉類の状態を監視し、セレクタ３４が上記処理プロセッサ３１による監視結果に応じて最適なプログラムを選択して上記プログラマブルデバイス３２にロードする。
これにより、上記第２の応用例によれば、処理基板５２の処理状況あるいは処理対象の紙葉類の状態に応じた最適なプログラムを上記プログラマブルデバイス３２にロードすることができる。この結果として、各処理基板５２における処理を最適化することができ、処理の精度及び効率を向上させることができる。

次に、本実施の形態の第３の応用例について説明する。
図５は、本実施の形態の第３の応用例としての処理基板６２（６２Ａ、…）の構成例を示す図である。

この第３の応用例では、各処理基板６２（６２Ａ、…）内において、上記処理プロセッサ３１がメインプロセッサ２３からの情報に基づいて紙葉類検査装置全体の処理状況をセレクタ３４に通知し、上記処理プロセッサ３１から通知された情報に応じて上記セレクタ３４がプログラマブルデバイス３２にロードするプログラムを選択するようにしたものである。

従って、図５に示す処理基板６２（６２Ａ、…）の構成例は、図４に示す処理基板５２（５２Ａ、…）の構成に、メインプロセッサ２３から処理プロセッサ３１に情報を通知する構成を加えたものとなっている。このため、図５に示す処理基板６２（６２Ａ、…）の構成において図４に示す処理基板５２（５２Ａ、…）と同様な構成については、同一箇所に同一符号を付して詳細な説明を省略する。

図５に示すように、処理基板６２（６２Ａ、…）は、処理プロセッサ３１、プログラマブルデバイス３２、不揮発性メモリ３３、セレクタ３４および共通インターフェース回路３５などを有している。また、処理基板６２において、上記共通インターフェース回路３５は、メインプロセッサ２３との双方向の通信が可能となっている。これにより、上記処理プロセッサ３１は、上記メインプロセッサ２３からの情報を上記共通インターフェース回路３５を介して受信できるようになっている。

また、処理基板６２において、上記処理プロセッサ３１は、上述した基本構成としての機能に加えて、上記メインプロセッサ２３からの情報を受信する受信機能と、このメインプロセッサ２３からの情報に基づく装置全体の処理状況などを示す情報をセレクタ３４に通知する通知機能を有している。各処理基板６２の処理プロセッサ３１が上記メインプロセッサ２３から受信する情報は、たとえば、装置全体の処理状況を示す情報あるいは他の処理基板６２での処理状況を示す情報などである。

また、上記セレクタ３４は、上記第２の応用例と同様に、上記処理プロセッサ３１から通知された情報に基づいて上記プログラマブルデバイス３２にロードするプログラムを選択するようになっている。上記第２の応用例では、処理プロセッサ３１自身が監視している処理基板５２内の処理状況や上記プログラマブルデバイス３２の処理結果から判定される検査対象となった紙葉類の状態などをセレクタ３４に通知する。

これに対して、本第３の応用例では、メインプロセッサ２３からの情報に基づく装置全体の処理状況あるいは各処理基板６２の処理結果を総合判定した結果から判定される検査対象となった紙葉類の状態などを処理プロセッサ３１からセレクタ３４に通知する。従って、第３の応用例では、上記セレクタ３４は、装置全体あるいは他の処理基板６２の処理状況に応じて上記プログラマブルデバイス３２にロードするプログラムを選択する。

一例として、ここでは、上記処理プロセッサ３１がメインプロセッサ２３からの情報に基づいて検査対象となった紙葉類の状態をセレクタ３４に通知する場合について説明するものとする。また、各処理基板６２（６２Ａ、…）において、コンフィグレーション用メモリ３３ａには汚れた紙葉類（汚れの度合いが大きい紙葉類）から検知した信号の処理にカスタマイズしたコンフィグレーションプログラム（ここでは、汚れ紙葉類用のプログラムと呼ぶこととする）を記憶され、コンフィグレーション用メモリ３３ｂには新しい紙葉類（汚れの度合いが小さい紙葉類）から検知した信号の処理にカスタマイズしたコンフィグレーションプログラム（ここでは、新しい紙葉類用のプログラムと呼ぶこととする）を記憶されているものとする。

上記メインプロセッサ２３では、各処理基板６２から出力される処理結果に基づいて各処理基板の処理状況を監視しているとともに、各処理基板の処理結果を総合的に判定して１つの紙葉類に対する検査結果を判定している。さらに、第３の応用例では、上記メインプロセッサ２３では各処理基板６２の共通インターフェース回路３５に検査対象となった紙葉類の状態を示す情報を送信するようになっている。これにより、上記処理プロセッサ３１は、上記メインプロセッサ２３からの情報に基づいて処理された紙葉類が汚れた紙葉類であったか新しい紙葉類であったかを監視している。この監視結果は、状態通知として、上記処理プロセッサ３１からセレクタ３４へ供給される。

上記セレクタ３４では、上記第２の応用例と同様に、処理された紙葉類が汚れた紙葉類であった場合には汚れ紙葉類用のプログラムを選択してプログラマブルデバイス３２にロードし、新しい紙葉類であった場合に新しい紙葉類用のプログラムを選択してプログラマブルデバイス３２にロードする。

また、上記セレクタ３４では、汚れた紙葉類あるいは新しい紙葉類が所定数連続したか否かによりプログラマブルデバイス３２にロードするプログラムを選択するようにしても良い。つまり、所定数以上連続して汚れた紙葉類を処理している場合には汚れた紙葉類が連続する可能性が高いと予測し、汚れ紙葉類用のプログラムをプログラマブルデバイス３２にロードし、処理基板５２内の処理を汚れた紙葉類から検知した信号の処理にカスタマイズしたものに切り換える。また、所定数以上連続して新しい紙葉類を処理している場合には今後も新しい紙葉類が連続する可能性が高いと予測し、新しい紙葉類用のプログラムをプログラマブルデバイス３２にロードし、処理基板５２内の処理を新しい紙葉類から検知した信号の処理にカスタマイズしたものに切り換える。

上記のように、第３の応用例の処理基板６２では、処理プロセッサ３１がメインプロセッサ２３からの情報に基づいて装置全体の動作状況、他の処理基板６２の動作状況あるいは検査対象となっている紙葉類の状態を監視し、セレクタ３４が上記処理プロセッサ３１による監視結果に応じて最適なプログラムを選択して上記プログラマブルデバイス３２にロードする。
これにより、第３の応用例によれば、装置全体の動作状況、他の処理基板６２の動作状況あるいは検査対象となっている紙葉類（処理された紙葉類）の状態に応じた最適なプログラムを上記プログラマブルデバイス３２にロードすることができる。この結果として、各処理基板６２における処理を最適化することができ、処理の精度及び効率を向上させることができる。

この発明の実施の形態に係る紙葉類検査装置の概略構成を示すブロック図。 本実施の形態に係る各処理基板の基本構成を示す図。 本実施の形態の第１の応用例に係る各処理基板の構成例を示す図。 本実施の形態の第２の応用例に係る各処理基板の構成例を示す図。 本実施の形態の第３の応用例に係る各処理基板の構成例を示す図。

符号の説明

Ｐ…紙葉類、１１…搬送路、１２（１２Ａ、…）…検査器（検査手段）、１４…処理部、１５…搬送制御部、２２（２２Ａ、…）、４２（４２Ａ、…）、５２（５２Ａ、…）、６２（６２Ａ、…）…処理基板、２３…メインプロセッサ（主制御部）、３１…処理プロセッサ、３２…プログラマブルデバイス（情報処理手段）、３３…不揮発性メモリ（記憶手段）、３３ａ…第１のコンフィグレーション用メモリ、３３ｂ…第２のコンフィグレーション用メモリ、３４…セレクタ、３５…共通インターフェース回路、４６…動作頻度計測部（計測手段）

Claims (5)

1. 検査対象物の物理特性を電気信号として検知する検査手段と、
   この検査手段により検知した電気信号を処理するための複数のプログラムを記憶している記憶手段と、
   この記憶手段に記憶されているプログラムから１つのプログラムを選択する選択手段と、
   この選択手段により選択されたプログラムに基づいて前記検査手段により検知した電気信号を処理する情報処理手段と、
   を有することを特徴とする検査装置。
2. 前記選択手段は、前記情報処理手段による前記検査手段により検知した電気信号に対する処理状況に応じて前記記憶手段に記憶されているプログラムから１つのプログラムを選択する、
   ことを特徴とする前記請求項１に記載の検査装置。
3. さらに、前記情報処理手段による前記検査手段により検知した電気信号に対する処理の頻度を計測する頻度計測手段を有し、
   前記選択手段は、前記頻度計測手段により計測した前記情報処理手段による処理の頻度に応じて前記記憶手段に記憶されているプログラムから１つのプログラムを選択する、
   ことを特徴とする前記請求項１に記載の検査装置。
4. さらに、前記情報処理手段による処理結果に基づいて前記検査手段により検知した検査対象物の状態を判別する判別手段を有し、
   前記選択手段は、前記判別手段により判別した前記検査対象物の状態に応じて前記記憶手段に記憶されているプログラムから１つのプログラムを選択する、
   ことを特徴とする前記請求項１に記載の検査装置。
5. 検査対象物の種々の物理特性をそれぞれ電気信号として検知する複数の検査器と、各検査器が検知した電気信号を処理する複数の処理基板と、各処理基板による複数の処理結果に基づいて前記検査対象物の状態を判定する主制御部とを有する検査装置であって、
   各処理基板は、
   前記検査器により検知した電気信号を処理するための複数のプログラムを記憶している記憶手段と、
   前記主制御部からの信号に基づいて前記記憶手段に記憶されている複数のプログラムから１つのプログラムを選択する選択手段と、
   この選択手段により選択されたプログラムに基づいて前記検査器により検知した電気信号を処理する情報処理手段と、を有する、
   ことを特徴とする検査装置。

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