JP4853610B2 - 硫酸イオンを含むメッキ液の再生装置及び硫酸イオン除去方法 - Google Patents

硫酸イオンを含むメッキ液の再生装置及び硫酸イオン除去方法 Download PDF

Info

Publication number
JP4853610B2
JP4853610B2 JP2005250792A JP2005250792A JP4853610B2 JP 4853610 B2 JP4853610 B2 JP 4853610B2 JP 2005250792 A JP2005250792 A JP 2005250792A JP 2005250792 A JP2005250792 A JP 2005250792A JP 4853610 B2 JP4853610 B2 JP 4853610B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
plating solution
exchange membrane
copper
chamber
anion exchange
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2005250792A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2007063617A (ja
Inventor
公伸 大澤
大三 犬塚
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kurita Water Industries Ltd
Original Assignee
Kurita Water Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kurita Water Industries Ltd filed Critical Kurita Water Industries Ltd
Priority to JP2005250792A priority Critical patent/JP4853610B2/ja
Publication of JP2007063617A publication Critical patent/JP2007063617A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4853610B2 publication Critical patent/JP4853610B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Water Treatment By Electricity Or Magnetism (AREA)
  • Separation Using Semi-Permeable Membranes (AREA)

Description

本発明は、使用済みの銅メッキ及び/又はコバルトメッキ用のメッキ液から硫酸イオンを除去して再生するための装置に関する。また、本発明は、使用済みの銅メッキ及び/又はコバルトメッキ用のメッキ液から硫酸イオンを選択的に除去する方法に関する。
銅イオン、必要に応じコバルトイオン等を含有する銅メッキ液は、長時間メッキ処理に使用されると、銅メッキ液中にメッキ反応を阻害する成分が蓄積される。メッキ処理を行うと、メッキ反応によって銅メッキ液中の銅イオンが消費されることから、銅イオンの最適濃度を維持するために、不足分の銅イオンを銅メッキ液中に供給しなければならないが、銅イオンは銅化合物の水溶液として供給されるため、この供給が繰り返されると、銅化合物における銅イオンの対陰イオンがメッキ液中に蓄積される。
銅メッキ液中に供給される銅化合物としては、主に硫酸銅が用いられるので、銅メッキ液中には硫酸イオン(SO 2−)が蓄積されることになる。この硫酸イオンは、銅メッキ液中においてHSOとして存在し、銅メッキ液のpHを低下させてしまう。したがって、銅メッキ液を再利用する場合、銅メッキ液のpHを調整するために、アンモニアを大量に添加しなければならないが、アンモニアの添加量が増大すると、銅とアンモニアとの錯体の構成比が変化してしまい、数回メッキ処理に使用した後には、使用済み銅メッキ液を廃棄し、新しい銅メッキ液に更新する必要がある。
しかしながら、メッキ処理を数回行っただけで銅メッキ液を定期的に更新していたのでは、メッキ処理にかかるコストが高くなってしまい、また、廃液から銅イオンなどの重金属化合物を除去するための廃液処理も煩雑なものとなる。
本発明は、このような実状に鑑みてなされたものであり、使用済みの銅/コバルトメッキ液中に含まれる硫酸イオンを効果的に除去し、銅/コバルトメッキ液の更新頻度を低減させることのできる銅/コバルトメッキ液再生装置、及び銅/コバルトメッキ液から硫酸イオンを除去する方法を提供することを目的とする。
上記課題を解決するために、第1に本発明の硫酸イオンを含むメッキ液の再生装置は、陰極と陽極との間に陰イオン交換膜とバイポーラ膜とによって区画された脱塩室と濃縮室とを有する電気透析装置と、前記電気透析装置の脱塩室に連通したメッキ液循環機構と、前記濃縮室に連通した硫酸イオン回収機構とを備えることを特徴とする(発明1)。
ここで、本明細書における硫酸イオンを含むメッキ液には、銅メッキを行うためのメッキ液、コバルトメッキを行うためのメッキ液、銅メッキ及びコバルトメッキを行うためのメッキ液のいずれもが含まれるものとする。
また、バイポーラ膜とは、陽イオン交換膜と陰イオン交換膜とが貼接された構造を有する複合膜の一種である。このバイポーラ膜は、水の電気分解に用いる隔膜として、又は酸とアルカリとの中和生成物である塩の水溶液から酸とアルカリとを再生する際の分離膜等として従来から広く使用されている公知のイオン交換膜である。
本発明においては、バイポーラ膜の陰イオン交換膜面が電気透析装置の陽極側に位置し、陽イオン交換膜面が陰極側に位置するようにして、陽極と陰極との間にバイポーラ膜が設置される。電気透析装置は、バイポーラ膜の陰イオン交換膜面と陰イオン交換膜とによって区画されて形成された脱塩室と、バイポーラ膜の陽イオン交換膜面と陰イオン交換膜とによって区画されて形成された濃縮室とを有する。バイポーラ膜内では、理論水電解電圧(0.83V)以上の電圧が印加されることによって、水解離が発生し、電流が流れる。
電気透析装置の脱塩室に銅イオン、コバルトイオン及び硫酸イオンを含むメッキ液を導入することにより、硫酸イオンが陰イオン交換膜から排出される。一方、銅イオン、コバルトイオン、アンモニウムイオン等のカチオンは、バイポーラ膜を透過しないのでそのまま残存することになる。このように、上記発明(発明1)によれば、使用済みの銅/コバルトメッキ液から硫酸イオンを選択的に除去することができる。しかも、バイポーラ膜内では水の解離が起こるので、脱塩室内に水酸イオンが補充されてイオンバランスも保たれることになる。一方、濃縮室には、脱塩室からの硫酸イオンと、バイポーラ膜内での水解離により生じた水素イオンとにより硫酸が生じることになる。
上記発明(発明1)において、前記電気透析装置の脱塩室には、陰イオン交換体が充填されていることが好ましい(発明2)。上記発明(発明2)によれば、電気透析装置に印加される電圧が低くてすみ、しかも濃度分極が抑制されるので、水酸化銅、水酸化コバルト等の水酸化物の生成を抑制することができ、硫酸イオンをさらに効率的に除去することができる。
このように、脱塩室にイオン交換体が充填された電気透析装置は、電気脱イオン装置と呼ばれているが、本明細書中において電気透析装置は、電気脱イオン装置をも含む概念として定義することとする。なお、上記発明(発明1,2)において、前記電気透析装置の濃縮室には、イオン交換体が充填されていてもよい(発明3)。
また、上記発明(発明1〜3)において、前記メッキ液循環機構の前記電気透析装置より上流側には、保護フィルタが設けられていることが好ましい(発明4)。銅イオン及びコバルトイオンは、アルカリ条件になると水酸化物を形成して析出してしまうので、上記発明(発明4)によれば、メッキ液再生装置の運転条件によりアルカリ条件になった場合でも、電気透析装置への固形分の混入を防止することができる。
第2に本発明の硫酸イオン除去方法は、陰極と陽極との間に陰イオン交換膜とバイポーラ膜とによって区画された脱塩室と濃縮室とを有する電気透析装置を用い、前記脱塩室に硫酸イオンを含むメッキ液を流通させることを特徴とする(発明5)。
上記発明(発明5)によれば、電気透析装置の脱塩室に銅イオン、コバルトイオン及び硫酸イオンを含むメッキ液を流通させることにより、硫酸イオンを陰イオン交換膜から排出することができる。これにより、硫酸イオンを含むメッキ液から硫酸イオンを選択的に除去することができる。
上記発明(発明5)においては、前記電気透析装置で処理したメッキ液のpHが3.0〜8.0になるように、前記電気透析装置の電圧及び/又は電流を制御することが好ましい(発明6)。
上記発明(発明6)によれば、銅/コバルトメッキ液のpHを調整することにより、効率良く硫酸イオンを除去することができる。しかも、銅及び/又はコバルトの水酸化物が生成するのを防止することもできる。
本発明の硫酸イオンを含むメッキ液の再生装置及び硫酸イオン除去方法によれば、銅イオン、コバルトイオン及び硫酸イオンを含む使用済みのメッキ液中に含まれる硫酸イオンを効果的に除去し、銅/コバルトメッキ液の更新頻度を低減させることができる。
以下、本発明の一実施形態に係るメッキ液の再生装置を図面に基づいて詳細に説明する。
図1は、本発明の一実施形態に係るメッキ液の再生装置を示す概略系統図であり、図2は、本発明の一実施形態に係るメッキ液の再生装置の電気透析装置を示す概略図であり、図3は、本発明の一実施形態に係るメッキ液の再生装置の電気透析装置におけるイオンの流れを示す概略図である。
図1に示すように、本実施形態に係るメッキ液の再生装置は、メッキ液貯槽1と、電気透析装置2と、硫酸貯槽3とを備えてなる。メッキ液貯槽1は、ポンプ5と保護フィルタ6とを有する第1の送液管4を介して電気透析装置2の脱塩室11に連通しており、これらのメッキ液貯槽1、ポンプ5、保護フィルタ6及び第1の送液管4によりメッキ液循環機構Aが構成されている。一方、硫酸貯槽3は、ポンプ8を有する第2の送液管7により電気透析装置2の濃縮室12に連通しており、これらの硫酸貯槽3、ポンプ8及び第2の送液管7により硫酸イオン回収機構Bが構成されている。
メッキ液貯層1には、pHセンサ9が備えられており、電気透析装置2には、電気透析装置2に電気を供給する直流電源10が備えられている。これらのpHセンサ9及び直流電源10は、図示しないパーソナルコンピュータ等の制御装置に接続されていて、当該制御装置は、pHセンサ9から送信されるメッキ液貯槽1中のメッキ液MのpHのデータに基づき、電気透析装置2の陰極及び陽極にかかる電圧及び/又は電流を制御する。
上述したようなメッキ液再生装置において、電気透析装置2は、図2に示すように、電極(陽極13,陰極14)の間に陰イオン交換膜である複数のアニオン交換膜15とバイポーラ膜16とが交互に配設されており、陽極13と陰極14との間に配設されたアニオン交換膜15及びバイポーラ膜16によって脱塩室11と濃縮室12とが交互に形成されている。
バイポーラ膜16は、アニオン交換膜(陰イオン交換膜)層16Aとカチオン交換膜(陽イオン交換膜)層16Bとが貼接された構成を有している。バイポーラ膜16のアニオン交換膜層16Aは、陽極13側に位置しており、カチオン交換膜層16Bは、陰極14側に位置している。すなわち、アニオン交換膜層16Aは、脱塩室11に面して位置しており、カチオン交換膜層16Bは、濃縮室12に面して位置している。なお、図2に示すように、電気透析装置2の両側には、陽極室17及び陰極室18が備えられている。
本実施形態におけるメッキ液の再生装置において用いられるアニオン交換膜15及びバイポーラ膜16としては、公知のものを適宜使用することができ、それぞれ塩の分離、水解離に有効な膜を選択すればよい。アニオン交換膜15としては、陰イオンを透過せしめるものであって、4級アンモニウム、3級アンモニウム又は2級アンモニウムを含むものであれば、特に限定されるものではなく、従来のいかなる膜であっても用いることができる。また、バイポーラ膜16は、アニオン交換膜層16Aとカチオン交換膜層16Bとを有しており、水解離効率が高いものであればよい。
脱塩室11及び濃縮室12には、メッシュスペーサーを挿入するか、イオン交換体を充填することが好ましい。これらのうち、イオン交換体を充填した方が、電圧が低くなり、また濃度分極が緩和され、水酸化銅、水酸化コバルトの生成を防止することができるため好ましい。このイオン交換体としては、公知のものを用いることができ、イオン交換樹脂、イオン交換繊維、又は任意の基材に放射線・電子線グラフト重合によりグラフト鎖を当該基材に導入した後、イオン交換基を導入することにより製造したイオン交換体等を用いることができる。その中では安価なコストで入手可能なイオン交換樹脂を用いるのが好ましい。
具体的には、脱塩室11には、アニオン交換体が充填されていることが好ましい。これにより、電気透析装置2に印加される電圧が低くてすみ、しかも濃度分極が抑制されるので、水酸化銅、水酸化コバルト等の水酸化物の生成を抑制することができ、硫酸イオンをさらに効率的に除去することができる。また、濃縮室12には、カチオン交換体、又はアニオン交換体とカチオン交換体とを混合したものが充填されていることが好ましい。
上記構成を有するメッキ液再生装置の作用について説明する。
メッキ反応に用いられた後の使用済み銅/コバルトメッキ液Mは、メッキ液貯槽1から第1の送液管4を通じて電気透析装置2の脱塩室11に循環通水される。この銅/コバルトメッキ液Mは、メッキ処理への使用により液中の銅イオン(Cu2+)及び/又はコバルトイオン(Co2+)が消費されているため、上記陽イオンの対陰イオンである硫酸イオン(SO 2−)が余剰に含まれている。
そして、電気透析装置2に直流電源10から直流電圧を印加し電流を流すと、脱塩室11内では硫酸イオンが陽極13側に移動し、アニオン交換膜15を通過して濃縮室12に排出される。また、バイポーラ膜16内では下記式(1)に示す水解離によって生じた水酸イオン(OH)が脱塩室内に供給される。
O → OH + H ・・・(1)
また、銅イオン及びコバルトイオンは、陰極14側へ移動するが、脱塩室11の陰極14側は、バイポーラ膜16のアニオン交換膜層16Aであるため、重金属の陽イオン(銅イオン及びコバルトイオン)はバイポーラ膜16(アニオン交換膜層16A)を通過することができない。したがって、銅イオン及びコバルトイオンは、脱塩室11内に蓄積される。そして、電気透析装置2により処理されたメッキ液Mはメッキ液貯槽1に返送される。
このメッキ液貯槽1に貯留された銅/コバルトメッキ液M中に銅イオン(Cu2+)及び/又はコバルトイオン(Co2+)が不足している場合には、不足分に相当する量の硫酸銅及び/又は硫酸コバルトを硫酸化合物補充槽(図示せず)から補充し、銅/コバルトメッキ液M中の銅イオン及びコバルトイオンの濃度を最適濃度に調整する。また、必要に応じてアンモニア及び/又はホウ酸をメッキ液貯層1に補充することにより、銅/コバルトメッキ液Mを再生する。以上のようにして再生された銅/コバルトメッキ液Mは、再度メッキ処理に用いられる。
一方、濃縮室12には、硫酸貯槽3に貯留された濃縮水Wが、第2の送液管7を通じて循環通水される。この濃縮室12には、脱塩室11から排出された硫酸イオン(SO 2−)が蓄積されるとともに、バイポーラ膜16内では上記式(1)の水解離によって生じた水素イオン(H)が濃縮室12内に供給される。この結果、濃縮水W中には硫酸溶液(HSO)が含まれることになる。この濃縮水Wは、何度も循環させることによりその硫酸濃度が高くなるので、濃縮水Wの硫酸濃度が所定の濃度(例えば、1.0mol/L)以上となったら、濃縮水Wを取り替えればよい。
上述したような銅イオン、コバルトイオン及び硫酸イオンを含むメッキ液Mからの硫酸イオンの選択的除去方法においては、メッキ液貯槽1の銅/コバルトメッキ液MのpHが3.0〜8.0、好ましくは3.5〜7.0の範囲内となるように電気透析装置2の電圧/電流値を調整するのが好ましい。メッキ液MのpHが8.0を超えると、下記式(2)及び(3)に示すように、銅及び/又はコバルトの水酸化物が析出してしまい、この析出物が電気透析装置2に混入すると電気透析装置2の運転に支障をきたすおそれがある。また、メッキ液MのpHが3.0未満であると、メッキ処理におけるメッキの「のり」が良好でなくなる等によりメッキ製品に悪影響を与えるおそれがある。
Cu2+ + 2OH → Cu(OH)↓ ・・・(2)
Co2+ + 2OH → Co(OH)↓ ・・・(3)
このように銅/コバルトメッキ液MのpHを調整することで、効果的に硫酸イオンを除去することができる。メッキ液MのpHの調整は、メッキ液貯槽1中に設けられたpHセンサ9から送信されるデータに基づき、図示しない制御装置により電気透析装置2の直流電源10を調整して電気透析装置2の陽極13及び陰極14にかかる電圧及び/又は電流を制御すればよい。
本実施形態においては、メッキ液再生装置の誤動作やメッキ液Mの状態の急激な変化などにより、万一メッキ液Mがアルカリ性になった場合のことを考慮して、電気透析装置2の脱塩室11の上流側に保護フィルタ6を設置し、電気透析装置2に銅及び/又はコバルトの水酸化物の析出物が混入しないようになっている。この保護フィルタ6の孔径は、0.05μm〜100μmであるのが好ましく、特に0.2μm〜50μmが好ましい。
上述したような本実施形態に係る硫酸イオンを含むメッキ液の再生装置、及び硫酸イオン除去方法によれば、銅/コバルトメッキ液中の銅及び/又はコバルトとアンモニアとの錯体の構成比を変化させないため、銅/コバルトメッキ液の更新頻度を低減させることができ、また、硫酸イオンのみを選択的に除去して他のイオン組成を変えないため、効果的に銅/コバルトメッキ液を再生することができる。
以上説明した実施形態は、本発明の理解を容易にするために記載されたものであって、本発明を限定するために記載されたものではない。したがって、上記実施形態に開示された各要素は、本発明の技術的範囲に属する全ての設計変更や均等物をも含む趣旨である。
以下、実施例によって本発明を具体的に説明するが、本発明は、下記の各実施例に何ら限定されるものではない。
〔実施例1〕
[1]電気透析装置
本実施例における電気透析装置2のイオン交換膜及びイオン交換体として、下記のものを使用した。
(1)アニオン交換膜…商品名:ネオセプタAHA,株式会社アストム製
(2)バイポーラ膜…商品名:BP1,株式会社アストム製
(3)脱塩室に充填したアニオン交換樹脂…商品名:SA10A,三菱化学株式会社製
(4)濃縮室に充填したイオン交換樹脂…「商品名:SA10A,三菱化学株式会社製」と「商品名:SK1B(カチオン交換樹脂),三菱化学株式会社製」との混合物(混合比=6:4)
[2]模擬メッキ液の調製
被処理液であるメッキ液Mとして、以下に示す模擬メッキ液を調製した。
(1)銅濃度=1000ppm
(2)コバルト濃度=1000ppm
(3)硫酸濃度=1%
(4)アンモニア濃度=0.5%
(5)pH=3.5
[3]試験条件及び結果
図1及び図2に示す装置において、メッキ液貯槽1に模擬メッキ液を貯留し、この模擬メッキ液500mLを電気透析装置2の脱塩室11に6L/hの循環流量で循環通水した。また、硫酸貯槽3に純水500mLを貯留し、濃縮室12に6L/hの循環流量で循環通水した。この電気透析装置2の陽極13と陰極14との間に1.5A、20Vの電流・電圧で電気を供給して、30分間循環しながら模擬メッキ液を処理した。
処理後の模擬メッキ液のpHを測定したところ7.0に上昇しており、硫酸イオンが除去されたことが確認された。一方、銅イオン/コバルトイオンの濃度を測定したが大きな変化はなく、電気透析装置2内で水酸化物の析出も認められなかった。
さらに、これらの結果から電流効率(%)を下記式により算出した。
電流効率(%)=硫酸イオン排出量(mol)/[電流(A)×通電時間(s)/196485(C/mol)]×100
なお、上記式において、硫酸イオン排出量は、模擬メッキ液のpHが3.5から7.0へ上昇したことによる水酸化物イオン濃度の増加分に基づき換算したものである。
上記式により電流効率を算出した結果、電流効率は80%にまで到達しており、効率よく硫酸イオンを除去できていることが確認された。
本発明の硫酸イオンを含むメッキ液の再生装置及び硫酸イオン除去方法は、例えば、プラズマディスプレイ用の銅箔製造ラインで使用する銅/コバルトメッキ液等の再生に好適である。
本発明の一実施形態に係るメッキ液の再生装置を示す概略系統図である。 本発明の一実施形態に係るメッキ液の再生装置の電気透析装置を示す概略図である。 本発明の一実施形態に係るメッキ液の再生装置の電気透析装置におけるイオンの流れを示す概略図である。
符号の説明
2 電気透析装置
6 保護フィルタ
11 脱塩室
12 濃縮室
13 陽極
14 陰極
15 アニオン交換膜
16 バイポーラ膜
A メッキ液循環機構
B 硫酸イオン回収機構
M メッキ液

Claims (6)

  1. 陰極と陽極との間に陰イオン交換膜とバイポーラ膜とを交互に配設することによって区画された脱塩室と濃縮室とを有する電気透析装置と、
    前記電気透析装置の脱塩室に連通したメッキ液循環機構と、
    前記濃縮室に連通した硫酸イオン回収機構と
    を備えており、
    前記脱塩室は前記バイポーラ膜の陰イオン交換膜層と前記陰イオン交換膜とによって区画されて形成され、前記濃縮室は前記バイポーラ膜の陽イオン交換膜層と前記陰イオン交換膜とによって区画されて形成されていることを特徴とする硫酸イオンを含むメッキ液の再生装置。
  2. 前記電気透析装置の脱塩室には、陰イオン交換体が充填されていることを特徴とする請求項1に記載の硫酸イオンを含むメッキ液の再生装置。
  3. 前記電気透析装置の濃縮室には、イオン交換体が充填されていることを特徴とする請求項1又は2に記載の硫酸イオンを含むメッキ液の再生装置。
  4. 前記メッキ液循環機構の前記電気透析装置より上流側には、保護フィルタが設けられていることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の硫酸イオンを含むメッキ液の再生装置。
  5. 硫酸イオンを含むメッキ液から硫酸イオンを選択的に除去する方法であって、
    陰極と陽極との間に陰イオン交換膜とバイポーラ膜とを交互に配設することによって区画された脱塩室と濃縮室とを有し、前記脱塩室は前記バイポーラ膜の陰イオン交換膜層と前記陰イオン交換膜とによって区画されて形成され、前記濃縮室は前記バイポーラ膜の陽イオン交換膜層と前記陰イオン交換膜とによって区画されて形成されている電気透析装置を用い、
    前記脱塩室に前記メッキ液を流通させることを特徴とする硫酸イオン除去方法。
  6. 前記電気透析装置で処理したメッキ液のpHが3.0〜8.0になるように、前記電気透析装置の電圧及び/又は電流を制御することを特徴とする請求項5に記載の硫酸イオン除去方法。
JP2005250792A 2005-08-31 2005-08-31 硫酸イオンを含むメッキ液の再生装置及び硫酸イオン除去方法 Active JP4853610B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005250792A JP4853610B2 (ja) 2005-08-31 2005-08-31 硫酸イオンを含むメッキ液の再生装置及び硫酸イオン除去方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005250792A JP4853610B2 (ja) 2005-08-31 2005-08-31 硫酸イオンを含むメッキ液の再生装置及び硫酸イオン除去方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2007063617A JP2007063617A (ja) 2007-03-15
JP4853610B2 true JP4853610B2 (ja) 2012-01-11

Family

ID=37926146

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005250792A Active JP4853610B2 (ja) 2005-08-31 2005-08-31 硫酸イオンを含むメッキ液の再生装置及び硫酸イオン除去方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4853610B2 (ja)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009161839A (ja) * 2008-01-09 2009-07-23 Kurita Water Ind Ltd 電気透析装置の運転方法
JP5136774B2 (ja) * 2008-03-31 2013-02-06 栗田工業株式会社 薬品精製用電気脱イオン装置を用いた薬品精製方法
CN103732544B (zh) * 2011-08-04 2016-03-30 奥加诺株式会社 用于制备去离子水的电去离子装置
JP6011238B2 (ja) * 2012-10-18 2016-10-19 栗田工業株式会社 アミン液の再生方法および装置

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01312099A (ja) * 1988-06-10 1989-12-15 Asahi Glass Co Ltd 電気メッキ浴の管理方法
JPH06146094A (ja) * 1992-11-11 1994-05-27 Kawasaki Steel Corp 亜鉛−クロム電気めっき液へのイオンの供給方法
JP3783972B2 (ja) * 1996-02-22 2006-06-07 ペルメレック電極株式会社 シアン含有水の処理方法
JP2005082843A (ja) * 2003-09-05 2005-03-31 Ebara Corp 電解液管理方法及び管理装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2007063617A (ja) 2007-03-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
AU2014212394B2 (en) Rechargeable electrochemical cells
KR101739609B1 (ko) 막 전기분해 스택, 스택을 포함한 전기 투석 기기 및 무전해 도금 배스의 재생 방법
JP2008036486A (ja) 電気脱イオン装置
JP4403621B2 (ja) 電気脱イオン装置
JP4853610B2 (ja) 硫酸イオンを含むメッキ液の再生装置及び硫酸イオン除去方法
JP5120533B2 (ja) めっき液添加剤のカチオン除去装置、及びめっき液添加剤の処理方法
JP6863510B1 (ja) 超純水製造装置の制御方法
JP3952127B2 (ja) 電気脱イオン化処理方法
JP5817123B2 (ja) シュウ酸インジウム水溶液からのシュウ酸イオンの回収装置、及びシュウ酸インジウム水溶液からのシュウ酸イオンの回収方法
JP2008036473A (ja) 電気脱イオン装置
JP2017217596A (ja) 酸性イオン交換体の再生廃液からの酸性溶液の回収装置及びこれを用いた回収方法
JP2012183485A (ja) 水処理方法及び水処理システム
JP2011121027A (ja) 電気式脱イオン水製造装置
JP5786376B2 (ja) 水処理方法及び水処理システム
JP4505965B2 (ja) 純水の製造方法
JP4915843B2 (ja) 電気軟化装置、軟化装置及び軟水製造方法
JP2013039510A (ja) 電気式脱イオン水製造装置
JP2008030004A (ja) 電気脱イオン装置
JP2010209370A (ja) オゾン水製造設備及びオゾン水製造方法
JP2008030005A (ja) 電気脱イオン装置
JP6407734B2 (ja) 電気式脱イオン水製造装置の運転方法、及び電気式脱イオン水製造装置を備えた純水製造システム
JP5392448B2 (ja) 電気脱塩装置の運転方法及び電気脱塩装置
JP7477009B1 (ja) 電気脱イオン装置の運転方法
JP2012183488A (ja) 水処理方法及び水処理システム
JP2012183484A (ja) 水処理方法及び水処理システム

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080804

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20090302

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110511

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110711

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110928

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20111011

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141104

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4853610

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250