JP4853474B2 - 光センサおよび光電流・電圧センサ - Google Patents

光センサおよび光電流・電圧センサ Download PDF

Info

Publication number
JP4853474B2
JP4853474B2 JP2007507064A JP2007507064A JP4853474B2 JP 4853474 B2 JP4853474 B2 JP 4853474B2 JP 2007507064 A JP2007507064 A JP 2007507064A JP 2007507064 A JP2007507064 A JP 2007507064A JP 4853474 B2 JP4853474 B2 JP 4853474B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
receiving element
light receiving
sensor
optical
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2007507064A
Other languages
English (en)
Other versions
JPWO2006095620A1 (ja
Inventor
潔 黒澤
和臣 白川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokyo Electric Power Co Inc
Original Assignee
Tokyo Electric Power Co Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Electric Power Co Inc filed Critical Tokyo Electric Power Co Inc
Priority to JP2007507064A priority Critical patent/JP4853474B2/ja
Publication of JPWO2006095620A1 publication Critical patent/JPWO2006095620A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4853474B2 publication Critical patent/JP4853474B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R15/00Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
    • G01R15/14Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks
    • G01R15/24Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using light-modulating devices
    • G01R15/247Details of the circuitry or construction of devices covered by G01R15/241 - G01R15/246

Description

この発明は光センサ、特に直流から高周波の交流までの広範囲の電流・電圧の測定が可能な光電流・電圧センサに関する。
近年、ファラデー効果を利用した交流電流検出用光ファイバ電流センサの開発・実用化が進められている(例えば非特許文献1参照)。この交流用センサの開発に伴い、パワーエレクトロニクス機器や、それを応用した直流送電設備,直流変電設備などへの適用を目的とする直流用光ファイバ電流センサの実現が期待されている。
この直流用センサでは、直流(周波数ゼロの成分)の検出のみではなく、高周波成分が重畳した直流電流の検出、および立上がり時間の短い電流(1msec以下、ときには1μsec)の検出が可能であることが必要とされる。このような要求に対しては、交流用に確立されてきた技術の活用に加えて、ゼロ点設定の方法(被測定電流がゼロのときに出力をゼロに設定すること)、および感度設定の方法(出力の感度を規定値設定すること)、さらにはそれらの設定値の安定化などが課題となる。これらの課題は、強度変調型交流センサにおいては、受信信号の変調度を演算処理にて求める方法により達成されており、前掲の非特許文献1にも記載されているところである。
一方、直流用には上記変調度演算方式を用いることが出来ないため、例えば光ファイバジャイロに用いられるサニャック干渉計を応用する方式(例えば、非特許文献2),光ヘテロダインを応用する方式(例えば、非特許文献3)などの開発が進められている。図8は、その非特許文献2に示す方式を図示したもので、以下、その概要について説明する。
光源を発した光がカプラ1、デポラライザを通過後、偏光子を通過して直線偏光とされる。光はさらに、カプラ2により2つに分けられてループ型ファイバ干渉計に入射し、それぞれループの内部を逆方向に回る光となる。2つの光は、1/4波長板で円偏波に変換された後、センサファイバを伝搬する。その際、被測定電流が誘起する磁界がセンサファイバに印加されることによって、ファラデー効果により両者の伝搬速度の間に差が生じる。この2つの光をカプラ2で合波した後、受光素子に入射することにより、位相差つまり電流に応じた受光強度の変化が起こる。この受光強度の変化から電流値を求める。
上記システムには、感度の確保と受光強度の変動に対する出力の安定性確保を目的として、圧電振動子(PZT)を用いて光の変調を行なうことによってキャリア信号を作り出し、ファラデー効果によってそのキャリアがさらに変調を受ける仕組みが用いられている。キャリアを復調することにより、システム出力を得る。すなわち、図8において、変調信号を作り出すために基準信号発生器、振動子駆動部および圧電振動子などが設けられる。
また、変調の効率を高めるため、付加ファイバ(例えば、100m程度)が設けられる。さらに、変調の深さを一定に保つため、受信信号の中から変調周波数の2倍波と4倍波を抽出して両者の比を求め、その比に比例する信号を変調回路にフィードバックする。信号処理部には、同期検波回路などのやや複雑な要素が必要となる。
サニャック干渉計方式では、変調を行なわないと、原理上電流が小さいときのシステムの感度がゼロとなるため、変調は必須である。さらに、この方式では、システムの測定精度を保つ上で変調・復調を行なうことのほかに1/4波長板、偏光子、デポラライザなどの光学部品には特性が高精度のものを選ぶ必要がある。
黒澤「光ファイバ電流センサの開発と応用」静電気学会誌28巻5号(第251−257頁)2004 M.takahashi,et al「Sagnac Interferometer-type fiber-optic current sensor using single-mode fiber down leads」Technical Digest of 16th International conference on optical fiber sensor 黒澤「光ヘテロダイン法を応用した光電流変成器の基本特性の検討」電気学会論文誌B117巻3号(第354−363頁)1997
上記のように、サニャック干渉計方式には次のような問題がある。
イ)繊細かつ複雑な光学系を必要とする。
ロ)複雑な信号処理回路を必要とする。
ハ)キャリア信号を作成し、その変調・復調という操作を行なうことから、応答速度を早くすることが難しい。応答速度を高めるためにはキャリア周波数を高める必要があり、その場合には変調電力が増すとともに、信号処理回路の負担も増加する。
したがって、この発明の課題は、キャリア信号を用いない、高速な(高速応答,立上がり時間の短い)受信信号光の強度に情報を持たせる光強度検出方式を実現して構成の簡素化を図るとともに、ゼロ点調整や出力の較正を容易にすることにある。
このような課題を解決するため、請求項1の発明では、光源からの光を光学部品からなるセンサに導き、このセンサにて物理量に基づき前記光の強度を変調し、変調された光を偏波の直交する2つの成分に分け、第1,第2の受光素子でそれぞれ受信し、第1,第2受光素子の出力から両成分の和と差の比を求めて物理量を検出するに当たり、
前記2つの受光素子のそれぞれ入射される光に対してはそれぞれ可変光減衰器、前記2つの受光素子からの出力信号に対してはそれぞれ可変増幅器の少なくとも1つを設け、光減衰率または増幅率を調整することで、センサ出力のゼロ点と感度の較正を可能にしたことを特徴とする。
請求項2の発明では、光源からの光を光学部品からなるセンサに導き、このセンサにて物理量に基づき前記光の強度を変調し、変調された光を偏波の直交する2つの成分に分け、2つの受光素子でそれぞれ受信する一方、前記光源からの光を直接抽出して第3の受光素子で受信し、第1,第2受光素子のいずれか一方の出力と第3の受光素子出力との差を求め、この差と第3の受光素子出力との比を求めて物理量を検出するに当たり、
前記第1,第2受光素子のいずれか一方と第3の受光素子のそれぞれに入射される光に対してはそれぞれ可変光減衰器、前記第1,第2受光素子のいずれか一方と第3の受光素子からの出力信号に対してはそれぞれ可変増幅器の少なくとも1つを設け、光減衰率または増幅率を調整することで、センサ出力のゼロ点と感度の較正を可能にしたことを特徴とする。
上記請求項1または2の発明に、ファラデー効果の原理を適用することで光電流センサを得ることができ(請求項3の発明)、または、ポッケルス効果の原理を適用することで光電圧センサを得ることができる(請求項4の発明)。
この発明によれば、キャリア信号を用いない、高速応答化が容易な光強度検出方式を実現したので、構成が著しく簡素化されるとともに、ゼロ点調整や出力の較正が容易となり、その結果、直流から高周波の交流までの広範囲の電流・電圧の測定が可能となる利点がもたらされる。
この発明の原理説明図 図1におけるPA,PBとθFとの関係説明図 この発明の実施の形態を示す構成図 この発明の他の実施の形態を示す構成図 図3と図4とを兼用可能な構成図 2信号方式のシステム構成図 1信号方式のシステム構成図 従来例としてのサニャック干渉計方式を示す構成図
符号の説明
1…光源、2…ビームスプリッタ、3…偏光子、4…ファラデー素子、5…検光子、61,62,63…受光素子(PD)、71,72,73…可変光減衰器(ATT)、81,82,83…可変増幅器(G)、91…加算器、92…減算器、10…割算器(DIV)、11…低域通過フィルタ(LPF)12…ミラー、13…偏/検光子。
図1はこの発明の原理構成図である。
同図において、1は光源、2はビームスプリッタ、3は偏光子、4はファラデー素子、5は検光子、61,62,63はフォトダイオード(PD)等の受光素子である。
いま、図1のビームスプリッタ2の分離率をR、光量の伝送効率をη1、ファラデー素子4の長さをL、ファラデー回転角をθF、ベルデ定数をV、電流Iにより生成する磁界の強さをHとして
|2θF|≪π/2,θF=VHL=VI…(1)
とおくと、受光素子61,62および63にそれぞれ入射する光量PA,PBおよびPRは次式で表わされる。
A=η1・η2・ηA・(1−R)(1/2)P0(1+2θF)…(2)
B=η1・η2・ηB・(1−R)(1/2)P0(1−2θF)…(3)
R=η1・ηR・R・P0…(4)
理想状態では、
R=0…(5)
η1=η2=ηR=ηA=ηB=1…(6)
なので、(5),(6)式を(2),(3),(4)に代入すると、
A=(1/2)P0(1+2θF)…(7)
B=(1/2)P0(1−2θF)…(8)
R=0…(9)
となる。
(1)2信号方式
AとPBの両方の信号を用いる方式である。ここで、(7)式+(8)式を求めると、
A+PB=P0…(10)
A−PB=P0・2θF…(11)
となる。よって、変調度をM2とすると、
2=(PA−PB)/(PA+PB)=2θF…(12)
と表わすことができる。PA,PBとθFとの関係を図示すると、図2のようになる。
すなわち、理想状態ならば変調度M2をセンサ出力とすることにより、精度を確保できるが、実際は、η1,η2,ηR,ηA,ηB≠1である。そこで、R=0として、上記(2),(3)式から変調度M2を求めると、
2=(PA−PB)/(PA+PB
={ηA(1+2θF)−ηB(1−2θF)}/{ηA(1+2θF)+ηB(1−2θF)}
…(13)
となり、ηA=ηBでない限り、明らかに
2≠2θF
である。
したがって、直接(12)式で表わされるM2を求めても、センサ出力の精度は確保できない。そこで、図1の受光素子61,62に入射する光量PA,PBに係数GA,GBを乗じて、
A’=GAA…(14)
B’=GBB…(15)
として、上記(13)式のPA,PBに置き換えて変調度M2を求めると、
2={GA・ηA(1+2θF)−GB・ηB(1−2θF)}/{GA・ηA(1+2θF
+GB・ηB(1−2θF)} …(16)
となる。
いま、GA・ηA=GB・ηB…(17)
とおいて、これを(16)式に代入すると、
2=2θF…(18)
が得られる。GA,GBの調整は、θF=0のときに、M2=0となるようにすればよい。
(2)1信号方式
一方の信号のみを用いる方式である、ここでは、例えばPAを用いこととし、PAを示す(7)式を下記する。
A=(1/2)P0(1+2θF)…(7)
上記(7)式からP0/2を差し引いたものを、変調度M1として求める。
1=PA−P0/2=θF…(19)
上式より、理想状態であれば変調度M1をセンサ出力とすることにより、精度を確保できるが、実際は、η1,η2,ηA≠1である。そこで、R=0として、上記(2)式から変調度M1を求めると、
1=η1η2ηA・(1/2)P0(1+2θF)−(1/2)P0
=(1/2)P0{η1η2ηA・(1+2θF)−1}…(20)
となる。
上式はη1η2ηA=1でない限りは、明らかにM1≠θFである。したがって、(19)式で表わされるM1を求めても、センサ出力の精度は確保できない。そこで、受光素子61に入射する光量PAに係数GAを乗じるとともに、通常、光源の安定化が困難であることを考慮し、P0と比例関係にある参照信号PRを用いる。このとき、受光素子63に入射する光量PRにも係数GRを乗じるものとする。すなわち、
A’=GAA…(21)
R’=GRR…(22)
とする。
(21),(22)式に先の(2),(4)式を代入し、次式で表わされる変調度M1を求める。
1={GA・η1η2ηA(1−R)(1/2)P0(1+2θF)−GR・η1ηRRP0}/GR・η1ηRRP0
={GA・η2ηA(1−R)(1/2)(1+2θF)−GR・ηRR}/GR・ηR
・・・(23)
いま、
(1/2)GA・η2ηA(1−R)=GR・ηRR=K…(24)
とおいて(23)式に代入すると、次式のようになる。
1={2KθF+(K−K)}/K=2θF…(25)
A,GRの調整は、θF=0のときに、M1=0となるようにすればよい。
ところで、簡素な構成の強度検出方式でゼロ点と感度の設定、設定値の安定化、高速応答などの特性を持つ装置を構築するには、以下のような条件を考慮する必要がある。
イ)受信光信号の値は、光源強度と光源から受光素子に至る光路の伝送効率に応じて決まる。これらの値は装置を組立てる際に一定の値に定まるのではなく、光学系毎に異なる。
ロ)光源から光ファイバ電流素子の間は必ず、コア径の細い単一モードファイバとなることなどから、光学系の僅かな狂いがセンサ素子に入射する光量の変化を引き起こし易い。一方、センサ素子直近の検光子を通過した光の受光素子までの伝送には、コア径の太いマルチモードファイバを用いることができる。したがって、センサ素子への入射光量の安定化と、センサ素子通過光の受光素子までの伝送効率の安定化の困難度を比較すると、前者のセンサ素子への入射光量の安定化の方が難しい。
以上の考察から、強度変調による直流電流検出装置を構築する上では、以下のことが有効であることが分かる。
a)被測定電流がゼロのときに、光学的または電気的手段によって信号の値を調整し、出力をゼロに較正できるよう、光学系と信号処理系を工夫する。
b)センサ素子への入射光量に対し出力が変動しないよう、光学系と信号処理系を工夫する。
そこで、この発明では以下のようにする。図3はこの発明の実施の形態を示す構成図である。これは、2信号方式における(17)式を満たすように、係数GA,GB,GRを調整可能にした信号処理基本構成例を示す。
例えば、センサ出力光を偏波の直交する2つの成分に分けて得たPA,PBのそれぞれを、可変光減衰器(ATT)71,72を介して受光素子(PD)61,62に導くとともに、受光素子PDからの出力信号に対しては可変増幅器(G)81,82を挿入したものである。なお、91は減算器、92は加算器、10は割算器(DIV)を示す。
その調整方法は、(1)被測定電流=0とした状態で、(2)ATT71,72の減衰率αA,αB、またはG81,82の増幅率gA,gBを変え、出力S=0となるように調整する。このようにすると、先の(17)式の条件が満たされる。すなわち、
A・ηA=GB・ηB…(17)
が成立する。ここに、
A=αAA…(26)
B=αBB…(27)
である。なお、(17),(26),(27)式を満たす条件として、αA,αB,gA,gBのすべてを調節する必要は無く、これら4つのパラメータのうちの少なくとも1つを調整すれば良い。
図4はこの発明の別の実施の形態を示す構成図である。これは、1信号方式における(24)式を満たすように、係数GA,GB,GRを調整可能な信号処理基本構成例を示す。
例えば、センサ出力光を偏波の直交する2つの成分に分けて得たPA,PBのいずれか一方と参照光PRを、可変光減衰器(ATT)71,73を介して受光素子(PD)61,63に導くとともに、受光素子PDからの出力信号に対しては可変増幅器(G)81,83を挿入したものである。なお、11はローパスフィルタ(LPF)で、参照信号にリップルなどの交流成分が含まれている場合に、この影響を取り除くために設けられる。
その調整方法は、図3の場合と同様である。すなわち、(1)被測定電流=0とした状態で、(2)ATT71,73の減衰率αA,αR、またはG81,83の増幅率gA,gRを変え、出力S=0となるように調整する。このようにすると、先の(24)式の条件が満たされる。すなわち、
(1/2)GA・η2ηA(1−R)=GR・ηRR…(24)
が成立する。ここに、
A=αAA…(28)
R=αRR…(29)
である。なお、(24),(28),(29)式を満たす条件として、αA,αR,gA,gRのすべてを調節する必要は無く、これら4つのパラメータのうちの少なくとも1つを調整すれば良い。
図5に図3と図4の両方に兼用し得る回路例を示す。
これは、上側の系統に信号PA,PBのいずれか一方(ここではPA)を導入し、下側の系統に信号PBまたはPRを選択的に導入するとともに、2つのスイッチSWを図示の位置にそれぞれ設けたものである。したがって、下側の系統に信号PBを導入しスイッチSWをオンとすれば図3の回路、また下側の系統に信号PRを導入しスイッチSWをオフとすれば図4の回路を得ることができる。
図6,図7に以上のようなセンサ光学系と信号処理系とからなる全体構成図を示す。
図6は2信号方式、図7は1信号方式の例で、図6(a)は透過型、(b)は反射型を示し、図7(a)は透過型、(b)は反射型(その1)、(c)は反射型(その2)をそれぞれ示す。その機能・作用は上述の通りであるので、説明は省略する。なお、図6(b)、図7(b),(c)の符号12はミラー、13は偏/検光子(偏光子と検光子の機能を有する)である。
なお、以上では主として電流センサについて説明したが、この発明はファラデー効果に代えてポッケルス効果の原理を適用することで光電圧センサを提供することができ、電流,電圧を含む物理量を検出する光センサを提供することができる。

Claims (4)

  1. 光源からの光を光学部品からなるセンサに導き、このセンサにて物理量に基づき前記光の強度を変調し、変調された光を偏波の直交する2つの成分に分け、第1,第2の受光素子でそれぞれ受信し、前記第1,第2受光素子の出力から両成分の和と差の比を求めて物理量を検出するに当たり、
    前記第1の受光素子と前記第2の受光素子の少なくとも一方の受光素子の前段に該受光素子へ入射される光を減衰させる可変光減衰器を設け、該可変光減衰器を設けた受光素子の後段に該受光素子から出力される信号を増幅させる可変増幅器を設け、前記可変光減衰器の光減衰率または前記可変増幅器の増幅率を調整することで、センサ出力のゼロ点と感度の較正を可能にしたことを特徴とする光センサ。
  2. 光源からの光を光学部品からなるセンサに導き、このセンサにて物理量に基づき前記光の強度を変調し、変調された光を偏波の直交する2つの成分に分け、その一方を第1の受光素子で受、前記光源からの光を直接抽出して第の受光素子で受信し、前記第1受光素子の出力と前記の受光素子出力との差を求め、この差と前記の受光素子出力との比を求めて物理量を検出するに当たり、
    前記第1の受光素子と前記第2の受光素子の少なくとも一方の受光素子の前段に該受光素子へ入射される光を減衰させる可変光減衰器を設け、該可変光減衰器を設けた受光素子の後段に該受光素子から出力される信号を増幅させる可変増幅器を設け、前記可変光減衰器の光減衰率または前記可変増幅器の増幅率を調整することで、センサ出力のゼロ点と感度の較正を可能にしたことを特徴とする光センサ。
  3. 前記請求項1または2に記載の光センサに、ファラデー効果を用いた光電流センサ。
  4. 前記請求項1または2に記載の光センサに、ポッケルス効果を用いた光電圧センサ。
JP2007507064A 2005-03-08 2006-03-01 光センサおよび光電流・電圧センサ Active JP4853474B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007507064A JP4853474B2 (ja) 2005-03-08 2006-03-01 光センサおよび光電流・電圧センサ

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005063609 2005-03-08
JP2005063609 2005-03-08
PCT/JP2006/303872 WO2006095620A1 (ja) 2005-03-08 2006-03-01 光センサおよび光電流・電圧センサ
JP2007507064A JP4853474B2 (ja) 2005-03-08 2006-03-01 光センサおよび光電流・電圧センサ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2006095620A1 JPWO2006095620A1 (ja) 2008-08-14
JP4853474B2 true JP4853474B2 (ja) 2012-01-11

Family

ID=36953220

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007507064A Active JP4853474B2 (ja) 2005-03-08 2006-03-01 光センサおよび光電流・電圧センサ

Country Status (3)

Country Link
US (1) US7786719B2 (ja)
JP (1) JP4853474B2 (ja)
WO (1) WO2006095620A1 (ja)

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8378661B1 (en) 2008-05-29 2013-02-19 Alpha-Omega Power Technologies, Ltd.Co. Solar simulator
US9134344B2 (en) 2009-10-28 2015-09-15 Gridview Optical Solutions, Llc. Optical sensor assembly for installation on a current carrying cable
US9535097B2 (en) 2012-07-19 2017-01-03 Gridview Optical Solutions, Llc. Electro-optic current sensor with high dynamic range and accuracy
JP6309200B2 (ja) 2013-03-26 2018-04-11 三菱重工業株式会社 雷電流計測装置及び雷電流計測方法
US9465052B2 (en) 2013-06-10 2016-10-11 General Electric Company Systems and methods for monitoring fiber optic current sensing systems
US9146358B2 (en) 2013-07-16 2015-09-29 Gridview Optical Solutions, Llc Collimator holder for electro-optical sensor
KR102098626B1 (ko) * 2013-10-16 2020-04-08 한국전자통신연구원 광섬유 전류 센서
US9823277B1 (en) 2014-03-21 2017-11-21 Fiber Optic Sensor Systems Technology Corporation Fiber optic electromagnetic phenomena sensors
US9377489B2 (en) 2014-04-15 2016-06-28 General Electric Company Systems and methods for monitoring fiber optic current sensing systems
US11150114B1 (en) * 2014-05-20 2021-10-19 Smartsensecom, Inc. Fiber optic electromagnetic phenomena sensor system
US10107839B1 (en) 2014-06-12 2018-10-23 Fiber Optic Sensor Systems Technology Corporation Fiber optic sensor system for detection of electric currents and other phenomena associated with geomagnetic disturbances
US10197603B2 (en) 2015-04-01 2019-02-05 General Electric Company Optical current transducer with offset cancellation and current linearization
NL2020869B1 (en) * 2018-05-03 2019-11-12 Fugro Tech Bv A body for holding a fiber optic strain sensor, a system including the body, and a method for determining strain in an object.
US11079412B1 (en) 2019-01-10 2021-08-03 Honeywell Federal Manufacturing & Technologies, Llc Optical current monitor

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58139082A (ja) * 1982-02-15 1983-08-18 Hitachi Ltd 磁界測定装置
JPH10221379A (ja) * 1997-02-12 1998-08-21 Toshiba Corp 光変流器

Family Cites Families (38)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2053502A5 (ja) * 1969-07-07 1971-04-16 Merlin Gerin
CH513413A (de) * 1970-02-25 1971-09-30 Bbc Brown Boveri & Cie Verfahren zur elektronischen Auswertung modulierter Lichtbündel
FR2355299A1 (fr) * 1976-06-18 1978-01-13 Thomson Csf Appareil destine a mesurer un champ magnetique
DE3364239D1 (en) * 1982-03-08 1986-07-31 Hitachi Ltd Apparatus for optically measuring a current
JPS5961783A (ja) 1982-09-30 1984-04-09 Toshihiko Yoshino 光学物質を用いた測定装置
JPS62118255A (ja) * 1985-11-19 1987-05-29 Toshimitsu Musha 磁界を用いた免疫反応の検出法
US4694243A (en) * 1986-05-28 1987-09-15 Westinghouse Electric Corp. Optical measurement using polarized and unpolarized light
FR2613839B1 (fr) * 1987-04-10 1990-11-16 Alsthom Procede de mise a jour du facteur d'echelle d'un appareil de mesure d'intensite d'un courant electrique alternatif par effet faraday
JPS6488373A (en) 1987-09-30 1989-04-03 Toshiba Corp Optical fiber sensor
US4916387A (en) * 1988-10-21 1990-04-10 Asea Brown Boveri, Inc. Optical system for a Faraday effect current sensor
DE59004896D1 (de) * 1989-12-01 1994-04-14 Asea Brown Boveri Faseroptischer Stromwandler.
JP2540223B2 (ja) 1990-03-30 1996-10-02 浜松ホトニクス株式会社 電圧検出装置
JP2527829B2 (ja) * 1990-04-25 1996-08-28 三菱電機株式会社 光応用測定装置
US5063290A (en) * 1990-09-14 1991-11-05 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy All-optical fiber faraday rotation current sensor with heterodyne detection technique
US5363363A (en) * 1992-10-16 1994-11-08 Eastman Kodak Company Apparatus and method for laser noise cancellation in an optical storage system using a front facet monitor signal
DE4312183A1 (de) * 1993-04-14 1994-10-20 Siemens Ag Optisches Meßverfahren zum Messen eines elektrischen Wechselstromes mit Temperaturkompensation und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
DE4312184A1 (de) * 1993-04-14 1994-10-20 Siemens Ag Optisches Meßverfahren zum Messen eines elektrischen Wechselstromes mit Temperaturkompensation und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
CA2173142C (en) * 1993-10-01 2000-11-14 Thomas Bosselmann Method and device for measuring an electrical alternating quantity with temperature compensation
DE4342410A1 (de) * 1993-12-13 1995-06-14 Abb Research Ltd Verfahren zur magnetooptischen Strommessung und magnetooptische Strommeßeinrichtung
DE4432146A1 (de) * 1994-09-09 1996-03-14 Siemens Ag Verfahren und Vorrichtung zum Messen eines elektrischen Wechselstromes mit Temperaturkompensation
US5491682A (en) * 1994-09-21 1996-02-13 Eastman Kodak Company Apparatus and method for controllable gain and phase matching in an optical data storage system with source noise subtraction
DE4436181A1 (de) * 1994-10-10 1996-04-11 Siemens Ag Verfahren und Vorrichtung zum Messen einer elektrischen Wechselgröße mit Temperaturkompensation durch Fitting
DE19545759A1 (de) * 1995-12-07 1997-06-12 Siemens Ag Optisches Meßverfahren und optische Meßvorrichtung zum Messen eines magnetischen Wechselfeldes mit Intensitätsnormierung
DE19547021A1 (de) * 1995-12-15 1997-06-19 Siemens Ag Optisches Meßverfahren und optische Meßanordnung zum Messen einer Wechselgröße mit Intensitätsnormierung
DE19601727C1 (de) * 1996-01-18 1997-04-30 Siemens Ag Optisches Meßverfahren und optische Meßanordnung zum Messen eines magnetischen Wechselfeldes mit erweitertem Meßbereich und guter Linearität
US6563589B1 (en) * 1996-04-19 2003-05-13 Kvh Industries, Inc. Reduced minimum configuration fiber optic current sensor
CA2266596A1 (en) * 1996-09-19 1998-03-26 Siemens Aktiengesellschaft Sensor to measure electrical current intensity and/or voltage
EP0927360A1 (de) * 1996-09-20 1999-07-07 Siemens Aktiengesellschaft Verfahren zur gewinnung eines temperaturgangkompensierten ausgangssignals bei einem optischen strommessensor
WO1999041617A1 (de) * 1998-02-12 1999-08-19 Siemens Aktiengesellschaft Verfahren und einrichtung zum messen eines magnetfeldes mit hilfe des faraday-effektes
JPH11264766A (ja) 1998-03-18 1999-09-28 Hitachi Ltd 光応用電流変成器
US6122415A (en) * 1998-09-30 2000-09-19 Blake; James N. In-line electro-optic voltage sensor
JP2000266787A (ja) 1999-03-18 2000-09-29 Hitachi Ltd 光電流センサ
US6479979B1 (en) * 1999-07-09 2002-11-12 Srico, Inc. Opto-electric device for measuring the root-mean-square value of an alternating current voltage
FR2811085B1 (fr) * 2000-06-30 2002-08-23 Schneider Electric Ind Sa Dispositif de mesure d'un courant electrique par effet faraday
TW434380B (en) * 2000-08-15 2001-05-16 Chung Shan Inst Of Science Sagnac interference optical fiber distribution type online leakage detection method and device
US6630819B2 (en) * 2001-02-22 2003-10-07 The University Of Chicago Magneto-optic current sensor
US6946827B2 (en) * 2001-11-13 2005-09-20 Nxtphase T & D Corporation Optical electric field or voltage sensing system
EP1857824A4 (en) * 2005-03-08 2012-02-29 Tokyo Electric Power Co INTENSITY MODULE TYPE PHOTO SENSOR AND PHOTO CURRENT / VOLTAGE SENSOR

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58139082A (ja) * 1982-02-15 1983-08-18 Hitachi Ltd 磁界測定装置
JPH10221379A (ja) * 1997-02-12 1998-08-21 Toshiba Corp 光変流器

Also Published As

Publication number Publication date
WO2006095620A1 (ja) 2006-09-14
US20090212763A1 (en) 2009-08-27
US7786719B2 (en) 2010-08-31
JPWO2006095620A1 (ja) 2008-08-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4853474B2 (ja) 光センサおよび光電流・電圧センサ
JP5083321B2 (ja) 光ファイバ電流計測装置および電流計測方法
US5834933A (en) Method for magnetooptic current measurement and magnetooptic current-measuring device
US20100253320A1 (en) Optical fiber electric current sensor and electric current measurement method
JP2000515979A (ja) 精密電流検知のための光ファイバ装置及び方法
JP5676117B2 (ja) 共振器光ファイバ・ジャイロスコープ(rfog)内の残留強度変調(rim)制御ループ
US20040070766A1 (en) Method and apparatus for a Jones vector based heterodyne optical polarimeter
JP5645011B2 (ja) 変調光解析装置とその変調光解析装置を用いた電界あるいは磁界測定プローブ装置
KR101097396B1 (ko) 광변류기 및 이의 신호처리방법
JP2000501841A (ja) 正規化された強度を持つ交流量の光学的測定方法及び光学的測定装置
JP3872456B2 (ja) 電界センサ
JP2638312B2 (ja) 光センサ
JPH07306095A (ja) 偏光変調光信号の偏光分析評価方法
JPH0743397B2 (ja) 光学式直流変成器
JP3041637B2 (ja) 光応用直流電流変成器
JP3201729B2 (ja) 光センサシステムの使用方法
CA2380696A1 (en) Reduced minimum configuration fiber opic current sensor
JP2672414B2 (ja) ロックインアンプ用参照信号生成装置
JPH10267756A (ja) 光スペクトラムアナライザ
JPH07191060A (ja) 光電流センサ
JPH0431068B2 (ja)
JPH05119134A (ja) 光センサ
JPH06331660A (ja) 光方式センサ
JPS5963513A (ja) 光フアイバ・ジヤイロスコ−プ
JPH0743395B2 (ja) 光変流器

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20101102

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110104

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110927

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20111010

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141104

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4853474

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350