JP2000501841A

JP2000501841A - 正規化された強度を持つ交流量の光学的測定方法及び光学的測定装置

Info

Publication number: JP2000501841A
Application number: JP09522410A
Authority: JP
Inventors: ウィルシュ、ミヒャエル; ボッセルマン、トーマス; メンケ、ペーター; ハイン、シュテファン
Original assignee: Siemens AG
Current assignee: Siemens AG
Priority date: 1995-12-15
Filing date: 1996-12-02
Publication date: 2000-02-15
Also published as: WO1997022883A2; DE59604624D1; WO1997022883A3; EP0866974B1; DE19547021A1; US6208129B1; CA2240523C; EP0866974A2; CA2240523A1

Abstract

(57)【要約】偏光された測定光（Ｌ）がセンサ装置（３）を通過し、しかる後２つの異なって直線偏光された光部分信号（Ｌ１、Ｌ２）に分割される。両光部分信号（Ｌ１、Ｌ２）及びその直流成分とから強度の正規化された測定信号（Ｍ）が導き出される。

Description

【発明の詳細な説明】正規化された強度を持つ交流量の光学的測定方法及び光学的測定装置この発明は、交流量を測定するための方法及び装置に関する。交流量とは、この場合及び以下において、その周波数スペクトルにおいて零と異なる周波数成分のみを持ち、従って特に時間的に変化する測定量と理解される。ＰＣＴ特許出願ＷＯ９５／１００４６号明細書から、交流量、特に交流磁場或いは交流電流を磁気光学的ファラデー効果を利用して測定するため、或いは交流電場或いは交流電圧を電気光学的ポッケルス効果を利用して測定するための光学的測定装置及び測定方法が公知である。交流量の影響を受けるセンサ装置には偏光された測定光が入射される。この測定光の偏光はセンサ装置において交流量に関係して変化する。この偏光の変化を分析するために測定光は少なくとも１回センサ装置を通過した後に異なる偏光面を持った２つの直線偏光された光部分信号に分割される。この２つの光部分信号の光強度の差及び和の商に相当し、強度の正規化された信号Ｐが形成される。強度の正規化された信号の交流信号成分と直流信号成分とから温度補償された測定信号が導き出される。この直流信号成分は、その場合、交流量の周波数成分を含んでおらず、温度補償のためにのみ使用される。社刊行物「光学的に結合された電流及び電圧Ｈ．Ｖ．センサ（Optical Combin edCurrent & Voltage H.V．Sensors）」、ＧＥＣアルストーム(Alsthom)社、Ｔ& Ｄにより、磁気光学変流器が公知であり、この変流器においては偏光子において直線偏光された光信号がファラデー・ガラスリングを通過し、しかる後に偏光性のビーム分割器により互いに垂直な、２つの直線偏光された光部分信号に分割される（２チャネル偏光評価）。両光部分信号はそれぞれ１つの光ファイバを介して所属のホトダイオードに導かれ、このホトダイオードにより対応する光部分信号を、所属の光部分信号の光強度に比例する電気的強度信号Ｓ１或いはＳ２に変換する。両光ファイバ中の異なる減衰に基づきこの両比例定数は互いに異なる可能性がある。この感度の差を補償するために特別な制御が行われている。第一のホトダイオードの出力側に接続された可制御の第一の増幅器が、強度信号Ｓ１を所属の増幅率Ｋ１だけ増幅し、第二のホトダイオードの出力側に接続された第二の増幅器が、第二の強度信号Ｓ２を第二の増幅率Ｋ２だけ増幅する。次に両強度信号Ｓ１及びＳ２の直流信号成分（直流値）が決定され、両直流信号成分の差が第一の増幅器の増幅率Ｋ１を制御することによって制御量として零に制御される。両増幅器の出力端における一般に異なる強さで増幅された両強度信号Ｋ１・Ｓ１及びＫ２・Ｓ２から、増幅器の出力信号の差と和との商（Ｋ１・Ｓ１−Ｋ２・Ｓ２）／（Ｋ１・Ｓ１＋Ｋ２・Ｓ２）に相当する測定信号が形成される。この発明の課題は、偏光された測定光の偏光状態がセンサ装置において交流量に関係して変化し、この測定光がこの偏光の変化を評価するために少なくとも１回通過した後に異なって直線偏光された２つの光部分信号に分割され、測定光の光路及び両光部分信号における強度変化が補償されるようにした、交流量を測定するための光学的測定方法及び光学的測定装置を提供することにある。この課題は、この発明によれば、請求項１並びに請求項４の特徴でもって解決される。この発明による交流量の測定方法は次のステップを備えている。即ち、ａ）偏光された測定光が交流量の影響下にあって測定光の偏光を交流量に関係して変化させるセンサ装置を少なくとも１回通過し、しかる後に強度Ｉ１及びＩ２並びに異なる偏光面を持つ２つの直線偏光された光部分信号に分割され、ｂ）両光部分信号の光強度１１及び１２と、この両光強度１１及び１２のそれぞれの直流成分Ｉ１_DC及びＩ２_DCとから、商（Ｉ２_DC・Ｉ１−Ｉ１_DC・Ｉ２）／（Ｉ２_DC・Ｉ１＋Ｉ１_DC・Ｉ２）にほぼ比例する交流量に対する測定信号が形成され、その際両直流成分１１ _DCもしくはＩ２_DCは交流量の周波数成分を含まない。この発明による交流量の測定装置は次の手段、即ち、ａ）偏光された光の偏光を交流量に関係して変化させるセンサ装置、ｂ）偏光された測定光をセンサ装置に入射させるための手段、ｃ）センサ装置を少なくとも１回通過した後の測定光を、異なる偏光面並びに光強度Ｉ１及びＩ２を持つ２つの直線偏光された光部分信号に分割する手段、ｄ）両光部分信号の光強度Ｉ１及びＩ２と、この両光強度Ｉ１及びＩ２の、交流量の周波数成分を含まない直流成分Ｉ１_DC及びＩ２_DCとから、商（Ｉ２_DC・Ｉ１−Ｉ１_DC・Ｉ２）／（Ｉ２_DC・Ｉ１＋Ｉ１_DC・Ｉ２）にほぼ比例する交流量に対する測定信号を形成する手段を備えている。測定信号は、両光強度Ｉ１及びＩ２の直流信号成分Ｉ１_DC及びＩ２_DCを特に考慮することにより光路における前記の強度の変化の尺度として実用上完全に強度が正規化されている。この発明による方法及び装置の有利な構成例及び改良例はそれぞれ従属する請求項により明らかにされる。従って、この方法及び装置は第一の有利な実施形態においては、磁気光学的ファラデー効果を示すセンサ装置が使用され、測定信号が交流磁場に対する尺度として利用されることにより、交流磁場を測定するために有利に適用される。第二の有利な実施形態においては、この方法及び装置は、電気光学的ポッケルス効果を示すセンサ装置が使用され、測定信号が交流電圧或いは交流電場の尺度として利用されることにより、交流電圧或いは交流電場を測定するために適用される。両光部分信号は、好ましくは、それぞれ少なくとも１つの光ファイバを介して、又特にそれぞれ少なくとも２つの光ファイバと両光ファイバを取り外し可能に結合するための光学的プラグ接続とを介して伝送される。プラグ接続は、一方では一般に異なる電位にあるセンサ装置と、他方では評価電子回路を一時的に分離するのに有効である。測定信号は、この実施形態では、プラグ接続を開放し、それに続いて閉成した後のプラグ接続の減衰特性の変化による両光部分信号の光強度の変化にも無関係である。この発明をさらに説明するために以下の図面を参照する。図面において、図１は交流磁場、特に交流電流の交流磁場を測定するための測定装置の一実施例を、図２は交流電圧を測定するための測定装置の一実施例を、それぞれ概略的に示し、互いに対応する部分は同じ符号を付してある。図１には交流磁場Ｈを測定するための、特に電流導体２内の交流電流Ｉを測定するための光学的測定装置が示されている。交流磁場Ｈにはファラデー・センサ装置３が配置されている。このセンサ装置３は、少なくとも１つの測定巻数を持つ測定巻線において電流導体２を取り巻き磁気光学的ファラデー効果を有している光導体、好ましくは光ファイバで構成されている。しかしながら、ファラデー・センサ装置３としては、特に電流導体２を取り巻く光路を形成し、ファラデー物質からなる１つ或いは複数の中実体、好ましくはガラスリングが設けられることができる。ファラデー・センサ装置３は電流導体２を閉鎖された光路において取り巻く必要はなく、電流導体２の空間的な近傍においてのみ交流電流Ｉの磁場Ｈに配置することもできる。直線偏光された測定光Ｌは特に偏光を維持する光導体３４を介してセンサ装置３に入射される。この直線偏光された測定光Ｌを作るために、光源及び所属の図示されてない偏光手段或いはまたそれ自体偏光性の光源４、例えばレーザーダイオード及び場合によっては図示されてない付加的な偏光手段が設けられてもよい。直線偏光された測定光Ｌはセンサ装置３を少なくとも１回通過し、その際交流磁場Ｈもしくは交流電流Ｉに関係してその偏光面のファラデー回転ρを受ける。センサ装置３を通過した後に測定光Ｌは検光子７に導かれ、この検光子７において２つの直線偏光された光部分信号Ｌ１及びＬ２に分割され、これら光部分信号Ｌ１及びＬ２の偏光面は互いに異なっている。特に両光部分信号Ｌ１及びＬ２の偏光面は互いに垂直に向いている（直交分割）。検光子７としては偏光性のビーム分割器、例えばウラストン・プリズム、或いはまた部分透光性の鏡を持つ簡単なビーム分割器に、相応の角度及び特に９０゜で交差した２つの偏光フィルタを光学的に出力側に直列接続したものが設けられてもよい。センサ装置３と検光子７とは自由放射装置或いはまた偏光を維持する光導体３７、特に単一モード光ファイバ、例えばＨｉＢｉ（高複屈折）ファイバ或いはＬｏＢｉ（低複屈折）ファイバを介して互いに光学的に結合されることができる。センサ装置３の光導体は測定光Ｌを入射するための光導体３４及び測定光Ｌを出射するための光導体３７とそれぞれ１つの接合部３５及び３９を介して接続されていると有利である。図示されていない実施例においては測定光Ｌはファラデー・センサ装置３を１回通過した後に反射して戻され、光部分信号Ｌ１及びＬ２に分割される前にファラデー・センサ装置３を２回目は逆方向に通過する（反射型）。両光部分信号Ｌ１及びＬ２はそれぞれ光電変換器１２及び２２に、特に増幅回路に接続されたそれぞれ１つのホトダイオードに導かれる。検光子７からそれぞれの変換器１２及び２２への両光部分信号Ｌ１及びＬ２の伝送は、図に示すように自由放射装置或いはそれぞれ光導体を介して行うことができる。第一の光電変換器１２は第一の光部分信号Ｌ１をその強度Ｉ１にほぼ比例する、即ちＳ１＝Ｋ１・Ｉ１である第一の電気的強度信号Ｓ１に変換する。第二の光電変換器２２は第二の光部分信号Ｌ２をその強度１２にほぼ比例する、即ちＳ２＝Ｋ２・１２である第二の電気的強度信号Ｓ２に変換する。この変換の比例係数Ｋ１及びＫ２は変換器２１及び２２における信号の光電変換効率及び増幅度により定まり、擾乱の影響により時間と共に変化し得る。両強度信号Ｓ１及びＳ２の評価ユニット２０における評価は好ましくは次のように行われる。両電気強度信号Ｓ１及びＳ２の各々は、所属の第一の掛算器２３もしくは第二の掛算器２４の入力端と、所属の低域特性を持つ第一のフィルタ２８もしくは第二のフィルタ２９の入力端とに導かれる。第一のフィルタ２８は、第一の光信号Ｌ１の光強度Ｉ１のＫ１倍の直流成分Ｉ１_DCに相当する第一の強度信号Ｓ１の直流信号成分Ｄ１、即ちＤ１＝Ｋ１−Ｉ１_DCを形成する。フィルタ２８の出力側に出る第一の強度信号Ｓ１の直流信号成分Ｄ１は第一の掛算器２３の第二の入力端に導かれる。第二のフィルタ２９は、第二の光信号Ｌ２の光強度Ｉ２のＫ２倍の第二の強度信号Ｓ２の直流成分Ｉ２_DCに相当する直流信号成分Ｄ２、即ちＤ２＝Ｋ２・Ｉ２_DCを形成する。第二のフィルタ２９の出力側に出る第二の強度信号Ｓ２の直流信号成分Ｄ２は第二の掛算器２４の第二の入力端に導かれる。フィルタ２８及び２９としては、例えば分離周波数がそれぞれ電流量、図示の実施例では交流磁場Ｈもしくは交流電流Ｉのスペクトルにおける最低の周波数以下に設定されているアナログ或いはデジタル低域フィルタを使用することができる。両直流信号成分Ｄ１及びＤ２、従って両直流光成分Ｉ１_DC及びＩ２_DCも、それ故交流量（特に交流磁場Ｈ）に関する何らの情報も含んでいないが、正に、両光強度Ｉ１及びＩ２の望ましくない動作点ドリフトに関する情報を含んでいる。強度ドリフトに関するこの情報が次のようにして強度の正規化された測定信号を導き出すために使用される。第一の掛算器２３は第一の強度信号Ｓ１と第二の強度信号Ｓ２の直流信号成分Ｄ２との積Ｄ２・Ｓ１を形成する。第二の掛算器２４は第一の強度信号Ｓ１の直流信号成分Ｄ１と第二の強度信号Ｓ２との積Ｄ１・Ｓ２を形成する。これら量積Ｄ２・Ｓ１及びＤ１・Ｓ２は対応する掛算器２３もしくは２４の出力からそれぞれ減算器２５の入力端及びそれぞれ加算器２６の入力端に導かれる。減算器２５によって形成される２つの積の信号Ｄ２・Ｓ１とＤ１・Ｓ２との差信号Ｄ２・Ｓ１−Ｄ１・Ｓ２は割算器２７の第一の入力端に加えられる。割算器２７の第二の入力端には、加算器２６によって形成される２つの積Ｄ２・Ｓ１とＤ１・Ｓ２との和信号Ｄ２・Ｓ１＋Ｄ１・Ｓ２が加わえられる。割算器２７の出力端から、それ故交流磁場Ｈもしくは交流電流Ｉに対する測定信号Ｍ＝（Ｄ２・Ｓ１−Ｄ１・Ｓ２）／（Ｄ２・Ｓ１＋Ｄ１・Ｓ２）（１）が、差信号Ｄ２・Ｓ１−Ｄ１・Ｓ２と和信号Ｄ２・Ｓ１＋Ｄ１・Ｓ２との商の信号に相当する信号として取り出される。評価ユニット２０における信号評価の図示されていない変形された実施例においては、先ず両直流信号成分Ｄ１及びＤ２の商が修正係数Ｋ＝Ｄ１／Ｄ２として求められる。この修正係数Ｋにより測定信号Ｍ’＝（Ｓ１−Ｋ・Ｓ２）／（Ｓ１＋Ｋ・Ｓ２）（２）が形成される。式（１）による測定信号Ｍ及び式（２）による測定信号Ｍ’はいずれも直接光強度Ｉ１及びＩ２とその直流成分Ｉ１_DC及びＩ２_DCとから形成された商に等しい。即ち、Ｍ＝Ｍ’＝（Ｉ１−Ｉ２_DC−Ｉ２・Ｉ１_DC）／（Ｉ１・Ｉ２_DC＋Ｉ２・Ｉ１_DC) （３）である。両変換器１２及び２２の感度Ｋ１及びＫ２は式（１）による測定信号Ｍ或いは式（２）による測定信号Ｍ’を形成する際に脱落する。アナログ算術的モジュールを備えた評価ユニット２０の図示のような実施例の利点は信号処理が速いことである。勿論、測定信号Ｍ或いはＭ’は真理値表により及び／又はデジタルモジュールによっても求めることができる。式（１）乃至（３）により求められた測定信号ＭもしくはＭ’はさらに実用上殆ど完全に強度が正規化されている。このことは、伝送損失による両光部分信号Ｌ１及びＬ２の光強度Ｉ１及びＩ２の望ましくない変化がもはや測定信号Ｍ或いはＭ’に影響しないということを意味する。測定信号Ｍ或いはＭ’から電流導体２の交流電流Ｉがセンサ装置３におけるファラデー効果のヴェルデ定数Ｖと電流導体２の回りを回る測定光Ｌの回転数Ｎの関係ρ＝ＮＶＩにより求めることができる。図２は、電気光学的ポッケルス効果を示すセンサ装置３’により交流量Ｘとしての交流電圧Ｕを測定するための光学的測定装置の１つの実施例を示す。測定すべき交流電圧Ｕは２つの電極３５及び３６を介してポッケルス・センサ装置３’ に印加される。ポッケルス・センサ装置３’には偏光された測定光Ｌが入射される。この測定光Ｌはポッケルス・センサ装置３’を通過し、その際、印加された交流電圧Ｕに関係する偏光の変化を受ける。交流電圧Ｕは図示の実施例では測定光Ｌの光の伝播方向に対して垂直に印加される（横方向実施形態）が、光の伝播方向に対して平行にも印加されることもできる（縦方向実施形態）。測定光Ｌをセンサ装置３’に入射するための手段として光源４、例えば発光ダイオード及び光源４の光を直線偏光するための偏光子５が設けられている。光源４と偏光子５とは特に光導体４３、例えばマルチモード光ファイバを介して光学的に互いに接続されているが、自由放射結合により光学的に互いに接続することもできる。光導体４３からの光を偏光子５に入射するために、好ましくはコリメータレンズ（グリンレンズ）２５が設けられている。偏光子５からは直線偏光された測定光Ｌがポッケルス・センサ装置３’に入射される。ポッケルス・センサ装置３’を通過した後測定光Ｌはλ／４板６を介して検光子７に導かれる。検光子７において測定光Ｌは、偏光面が互いに異なる２つの直線偏光された光部分信号Ｌ１及びＬ２に分割される。特に２つの光部分信号Ｌ１及びＬ２の偏光面は互いに垂直に向けられている（直交分割）のがよい。検光子７として偏光性ビーム分割器、例えばウォラストンプリズム、或いはまた所定の角度、特に９０゜で交差した２つの偏光フィルタとその前に接続された簡単なビーム分割器を設けることもできる。図２による測定装置の動作点は、ポッケルス・センサ装置３’に電場が印加されてないとき、特に検光子７において円偏光された測定光が加わるように調整されるのが好ましい。ポッケルス・センサ装置３’における直線複屈折の両固有軸は、この場合測定光Ｌによって「均一に照射」される。このことは、両固有軸に投射される測定光Ｌの成分がそれぞれ同一の強度を持っていることを意昧する。一般に、その場合、両光部分信号Ｌ１及びＬ２は同様にその強度において同じ強さである。交流電圧（Ｕ≠０Ｖ）がポッケルス・センサ装置３’に印加される際、測定光Ｌの成分はポッケルス・センサ装置３’の直線的複屈折の電気光学的に活性な固有軸に沿ってその強度が交流電圧Ｕに関係して変化される。図２に示された、偏光子５、ポッケルス・センサ装置３’、λ／４板６及び検光子７の光学的直列回路に代わって、偏光子５、λ／４板６、ポッケルス・センサ装置３’及び検光子７からなる光学的直列回路、即ちλ／４板６とポッケルス・センサ装置３’の順序を入れ換えた光学的直列回路を設けることもできる。この場合、測定光Ｌはポッケルス・センサ装置３’に入射される前に円偏光される。さらに、光源４及び偏光子５の代わりに、直線偏光された光を送る光源、例えばレーザーダイオードを設け、偏光された測定光Ｌをポッケルス・センサ装置３ ’もしくはλ／４板６に入射することもできる。光導体４３は、その場合、偏光性を保持する光導体である。光部分信号Ｌ１もしくはＬ２の伝送はさらにまた自由放射装置においても行うこともできる。検光子７はまたλ／４板６もしくはポッケルス・センサ装置３’と偏光を維持する光導体を介して光学的に接続されることもできる。両光部分信号Ｌ１及びＬ２は特にそれぞれコリメータレンズ１１及び２１を介してそれぞれ光導体１３及び１６に入射される。各光導体１３及び１６はそれぞれ光学的プラグ接続１４及び１７を介してそれぞれ他の光導体１５及び１８に接続されている。プラグ接続１４及び１７によりセンサ装置３は評価ユニット２０から分離される。両光部分信号Ｌ１及びＬ２は所属のプラグ接続１４及び１７並びに所属の他の光導体１５及び１８を介して結合される。ポッケルス・センサ装置３を通過した後測定光Ｌはλ／４板６を介して検光子７に導かれる。この検光子７において測定光Ｌは、偏光面が互いに異なる２つの直線偏光された光部分信号Ｌ１及びＬ２に分割される。特に両光部分信号Ｌ１及びＬ２の偏光面は互いに垂直に向けられているのがよい（直交分割）。検光子７として偏光性ビーム分割器、例えばウォラストンプリズム、或いはまた所定の角度、特に９０゜で交差した２つの偏光フィルタと簡単なビーム分割器を設けることもできる。プラグ接続はまた測定装置の全ての他の実施例、特に図１に示された実施例においても設けることができる。両電気強度信号Ｓ１及びＳ２はアナログ／デジタル変換器３０によりデジタル化され、このデジタル化された信号はマイクロプロセッサ或いはデジタル信号プロセッサ４０により、式（１）による測定信号Ｍ或いは式（２）による測定信号Ｍ’を形成するためさらに処理される。このアナログ／デジタル変換器３０及びプロセッサ４０はその場合評価ユニット２０を構成する。プロセッサ４０は直流信号成分Ｄ１及びＤ２のフィルタリングをデジタルに行い、式（１）もしくは（２）により測定信号Ｍ或いはＭ’を計算する。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者メンケ、ペータードイツ連邦共和国デー―91054 エルランゲンカトーリッシャーキルヒェンプラッツ７ (72)発明者ハイン、シュテファンドイツ連邦共和国デー―91090 エッフェルトリッヒアイヒェンリング３

Claims

【特許請求の範囲】１．ａ）偏光された測定光（Ｌ）が、交流量（Ｈ、Ｕ）の影響下にあって測定光（Ｌ）の偏光を交流量（Ｈ、Ｕ）に関係して変化させるセンサ装置（３）を少なくとも１回通過し、しかる後異なる偏光面を持つ２つの直線偏光された光部分信号（Ｌ１、Ｌ２）に分割され、ｂ）両光部分信号（Ｌ１、Ｌ２）の第一もしくは第二の光部分信号の光強度Ｉ１及びＩ２と、この両光強度Ｉ１及びＩ２の直流成分Ｉ１_DC及びＩ２_DCとから、商（Ｉ２_DC・Ｉ１−Ｉ１_DC・Ｉ２）／（Ｉ２_DC・Ｉｌ＋Ｉ１_DC・Ｉ２）にほぼ比例する交流量（Ｈ、Ｕ）に対する測定信号（Ｍ）が形成され、ｃ）両直流成分Ｉ１_DC及びＩ２_DCが交流量（Ｈ、Ｕ）の周波数成分を含まない交流量の測定方法。２．ファラデー効果を示すセンサ装置（３）が使用され、測定信号（Ｍ）が交流磁場（Ｈ）に対する尺度として使用される交流磁場（Ｈ）を測定するための請求項１に記載の方法。３．ポッケルス効果を示すセンサ装置（３’）が使用され、測定信号（Ｍ’）が交流電圧（Ｕ）或いは交流電場に対する尺度として使用される交流電圧（Ｕ）或いは交流電場を測定するための請求項１に記載の方法。４．ａ）偏光された光の偏光を交流量（Ｈ、Ｕ）に関係して変化させるセンサ装置（３、３’）と、ｂ）偏光された測定光（Ｌ）をセンサ装置（３）に入射するための手段（１０、１１、１２、１３）と、ｃ）少なくとも１回センサ装置（３）を通過した後測定光（Ｌ）を異なる偏光面を持つ２つの直線偏光された光部分信号（Ｌ１、Ｌ２）に分割するための手段（７）と、ｄ）両光部分信号（Ｌ１、Ｌ２）の第一もしくは第二の光部分信号の光強度Ｉ１及びＩ２と、交流量（Ｈ、Ｕ）の周波数成分を含まないこれら両光強度Ｉ１及びＩ２の直流成分Ｉ１_DC及びＩ２_DCとから、商（Ｉ２_DC・Ｉ１−Ｉ１_DC・Ｉ２）／（Ｉ２_DC・Ｉ１＋Ｉ１_DC・Ｉ２）にほぼ比例する交流量（Ｈ、Ｕ）に対する測定信号（Ｍ）を形成するための手段（２０）とを備えた交流量の測定装置。５．センサ装置（３）が磁気光学的ファラデー効果を示す交流磁場（Ｈ）を測定するための請求項４に記載の装置。６．センサ装置（３’）が電気光学的ポッケルス効果を示す交流電圧（Ｕ）或いは交流電場を測定するための請求項４に記載の装置。７．両光部分信号（Ｌ１、Ｌ２もしくはＬ１’、Ｌ２’）を伝送するために、それぞれ少なくとも１つの光ファイバ（４、７）を備えた請求項４乃至６のいずれか１つに記載の装置。８．両光部分信号（Ｌ１、Ｌ２もしくはＬ１’、Ｌ２’）を伝送するために、それぞれ少なくとも２つの光ファイバ（４１、４３もしくは７１、７３）及び両光ファイバ（４１、４３もしくは７１、７３）を取り外し可能に接続するための光学的プラグ接続（４２もしくは７２）を備えた請求項７に記載の装置。