JPH02143173A - 光学式直流変成器 - Google Patents

光学式直流変成器

Info

Publication number
JPH02143173A
JPH02143173A JP63297066A JP29706688A JPH02143173A JP H02143173 A JPH02143173 A JP H02143173A JP 63297066 A JP63297066 A JP 63297066A JP 29706688 A JP29706688 A JP 29706688A JP H02143173 A JPH02143173 A JP H02143173A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical
alternating current
transformer
sensor
magnetic field
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP63297066A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0743397B2 (ja
Inventor
Masaru Higaki
勝 檜垣
Genji Takahashi
高橋 源治
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP63297066A priority Critical patent/JPH0743397B2/ja
Publication of JPH02143173A publication Critical patent/JPH02143173A/ja
Publication of JPH0743397B2 publication Critical patent/JPH0743397B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R15/00Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
    • G01R15/14Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks
    • G01R15/24Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using light-modulating devices
    • G01R15/247Details of the circuitry or construction of devices covered by G01R15/241 - G01R15/246

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野〕 本発明は、光学式変成器に係り、特に、直流の電流、電
圧を測定するのに好適な光学式直流変成器に関する。
〔従来の技術〕
従来の光学式電流、電圧センサは、例えば第9図に光学
式電流センサとして示すように1発光光源1と、光ファ
イバ2と、偏光子3と、鉛ガラス等の磁気光学効果を有
するファラデーセル4と、検光子Sと、光ファイバ6.
7と、光−電気変換回路8.9と、演算回路10とから
なっている。
このような光学式電流センサにおいては、被測定電流に
より生ずる磁界Hに対応した磁気光学効果による光偏光
面の回転が生じ、磁界Hがない場合に比べて入射光I0
の偏光面がθだけ回転するにの出射光を互いに直交する
二つの偏光成分に分け、さらに光−電気変換回路8,9
に通して出力V、、Vオを得る。ko、に、を比例定数
とすると。
次の(1)、(2)式が得られる。
V、=に、I。(1+5in2θ)    −・・−(
1)V2=に、1.(1−sin2θ)   −−−−
−−(2)今、何らかの方法でに工=に、となるように
調整できたとすると、次の(3)式が得られる。
V□+V□ sun 2θ(1の範囲ではsin 2θ〜2θとなり
、ファラデー回転角θに比例した出力すなわち導体電流
に比例した出力Vを得ることができる。
この検出方式は、前記(3)式を用いるため、被測定量
が直流電流でも検出できる。しかしS一般に、発光光源
1、光ファイバ2、偏光子3、ファラデーセル4、検光
子5、光ファイバ6.7、光−電気変換口ms、9など
の光伝送部分において、温度特性や経時変化などにより
光量の伝送特性が変化し、k1=に2の状態を保つこと
が非常に難しい、に1≠に2となル1(3)式テノ分子
v、−v2の誤差が大幅に増加ル、直流電流を検出する
際の誤差が大きくなるという欠点があった。直流電圧の
測定においても、(3)式を用いるため、同じような欠
点がある。
〔発明が解決しようとする課題〕
この点を改良し、直流電圧・電界を測れるようにする試
みとして、特開昭57−141562号に記載のように
、一定直流レベルの上に一定振幅の交流を重畳させた光
強度信号を光応用電圧センサに入射させ、その出射光を
電気信号に変換したのち9.この電気信号から交流信号
成分のみを除いた信号と交流信号成分のみを求めた信号
との二つの信号に分け、これら二つの信号の比を求める
とともに、入射光での直流成分と交流成分との比を求め
、これら二つの差を演算することも考えられている。す
なわち、光伝送経路での光量変動は。
もともとの発光強度に含まれる直流成分、交流成分とに
同じ割合いで表われるため、光伝送経路中ではその比は
ほぼ一定とみなしうろことに着目し。
その比を用いてセンサからの検出信号を補正しようとす
るものである。しかし、この方法では、センサからの出
射光の交流成分にもセンサ中でのポッケルス効果による
変調分が重畳されることに対する配慮がなく、直流電圧
を測定する際に非常に誤差が大きいという欠点がある。
さらに、特開昭59−88665号に記載のように、光
応用磁気センサからの出射光に含まれる交流成分を求め
、それを用いて検出信号を補正する方法も考えられてい
るが、被測定直流電流に含まれる交流電流分が小さいと
測定できないという欠点がある。また、被測定直流電流
に含まれる交流電流分の周波数が変わると測定誤差が大
きくなり・、さらに、交流電流分の周波数が低いとセン
サとしての応答速度が非常に遅いなどの欠点がある。
本発明の目的は、光伝送経路中に光量変動があっても、
その変動分を演算回路中で補正でき、直流電流または直
流電圧を高精度かつ安定に測定可能な光応用電流、電圧
変成器を提供することである。
〔課題を解決するための手段〕
本発明は、センサ゛自体に外部から一定の交流磁界また
は交流電界を印加し、センサからの出射光を少なくとも
二つの光信号に分け、各光信号を電気信号に変換したの
ち、各電気信号を交流信号成分と交流信号を除去した成
分とに分け、交流信号成分により前記交流信号を除去し
た成分を補正し、前記温度特性、経時変化等に起因する
検出誤差を常時補正するようにしたものである。
すなわち、本発明は、上記目的を達成するために、一定
レベルの光を出射する発光光源と、前記出射光を偏光さ
せる偏光子と、磁気光学的効果または電気光学的効果を
前記偏光に与えるセンサと、このセンサからの出射光の
偏光の程度を検出する検光子と、検光子から出射する少
なくとも二つの光信号をそれぞれ電気信号に変換する光
−電気変換回路と、各電気信号から前記センサに印加さ
れる磁界または電界の強さを求める演算回路とを含む光
学式直流変成器において、前記センサが、そのセンサの
中に一定の交流磁界または交流電界を発生させる手段を
備え、前記演算回路が、各電気信号から前記交流成分の
みを求める手段と、各交流成分の比を求める手段と、前
記交流成分を除去した各電気信号を求める手段と、前記
各交流成分の比を用いて前記交流成分を除去した電気イ
ボ号を補正する手段とを備えた光学式直流変成器を提案
するものである。
本発明は、また、前記センサが、そのセンサの中に一定
の交流磁界または交流電界を発生させる手段を備え、前
記演算回路が、各電気信号から前記交流成分のみを求め
る手段と、前記交流成分を除去した各電気信号を求める
手段と、各光信号に対応して前記交流成分を除去した電
気信号と交流成分との客死を求める手段と、客死の信号
の差と和とを求める手段と、この差と和との比を用いて
前記磁界または電界の強さを求める手段とを備えた光学
式直流変成器を提案するものである。
前記磁気光学的効果を有するセンサは、具体的には、フ
ァラデーセルからなり、前記交流磁界発生手段は、ファ
ラデーセルの少なくとも一部に巻き回され一定の交流磁
界を発生するコイルと、このコイルに交流電力・を供給
する交流電源とを含む。
前記磁気光学的効果を有するセンサは、ギャップ付き鉄
心のギャップに挟持されたファラデーセルとすることも
でき、その場合は、前記交流磁界発生手段が、前記ギャ
ップ付き鉄心の少なくとも一部に巻き回され一定の交流
磁界を発生コイルと、当該コイルに交流電力を供給する
交流電源とを含む。
前記磁気光学的効果を有するセンサは、被測定磁界が印
加されるセルを含む複数のファラデーセルとし、偏波面
を保存し得る先導波路でそれらファラデーセル間を結合
してもよい。
一方、前記電気光学的効果を有するセンサが、一部分に
被測定電界が印加されるポッケルスセルからなる場合は
、前記交流電界発生手段は、ポッケルスセルの他の部分
に交流電界を印加する手段を含む。
前記電気光学的効果を有するセンサも、被測定電界が印
加されるセルを含む複数のポッケルスセルとし、偏波面
を保存し得る先導波路でそれらポッケルスセル間を結合
してもよい。
さらに具体的には、交流成分を除去した信号を求める手
段は低域フィルタからなり、交流成分のみを求める手段
はバンドパスフィルタおよび整流回路からなり、交禿成
分の比を求める手段は除算器からなり、補正手段は乗n
f!からなる。
また、交流成分を除去した信号と交流成分のみの(3号
との比を求める手段も除算器からなる。
〔作用〕
光学式磁気センサについて考える。センサへの入射光量
をJ。とじ、被測定電流によるファラデーセルでの回転
角を08とする。ファラデーセルに、印加する交流磁界
の周波数をf、ω=2πfとして、この交流磁界による
ファラデーセルでの回転角をθt sin ωtとする
と、出射端において互いに直交する二つの偏光成分は、 V、=に、J、 (1+ sin (20+2θt s
in ωt)) ”・(4)VP= kz Jo (1
−sin (2θ+2θt sjn ωt)) =−(
5)となる。2θ、2θ!ともπ/2に比べて十分小さ
いとすると、 V1=に、J、(1+28+2θt sin ωt)=
に、Jo(1+20)十に、Jo2oz sin ωt
  −・(6)V2=に、J、(1−20)−に、J、
2θt sinωt  −(1)を得る。k8. k2
は光伝送経路での光量変動を含む比例定数である。(6
) 、 (7)式の右辺第2項が交流成分のみの信号で
あるから、これをとり出すことによりkよ、に2の比が
求められる。 (6)、(7)式から交流成分のみを除
去すると、 ■1′=に1・Jo(1千2θI)  ・・・・・・(
8)V、’ =に、・Jo(1−2θI)  ・・・・
・・(9)となる。前記に1.に、の比が求められてい
ると、(8)、(9)式中のに、、 k、にその補正を
加えることにより、(8)、(9)式の比例係数に1.
に、をほぼ同じにでき、前記(1)〜(3)式と同様フ
ァラデー回転角θ1に比例した出力が得られる。被測定
磁界はこの回転角θ1に比例するから、被測定磁界が求
められる。
また、(6)式の第1項と第2項の比をとり、(7)式
の第1項と第2項の比をとり、それらの差をとると、フ
ァラデー回転角に比例した出力が得られる。
一方、光学式電界センサにおいても、被測定電界による
ポッケルスセルでの位相差をFlとし。
交流電界によるポッケルスセルでの位相差を「tsin
 ωtとすると、光学式磁界センサと同様、VL=に、
’J、(1+sin (r”++r’z sin ωt
))  =(10)Vz=J’JIl(1sin (r
’t+r’z sin ωt))  ・=(]、1)と
なるsrl+r’fiともπ/2に比べて十分小さいと
すると、 V1=に1′Ja(1+ I” t + ri sin
 ωt)=に1J6 (1+ r” t) + k% 
J@ r t sxn (1) t  ・・(12)v
2=i<2’Jaci  pi)  kz’J6r”x
 Sin ωt  −(i3)を、得る。すなわち、前
記光電圧センサと同様、位相差r+に比例した出力が得
られ、被測定電界はこの位相差「、に比例するから、被
測定電界が求められる。
〔実施例〕
以下1本発明による光学式直流変成器の一実施例を第1
図および第2図により説明する。
本実施例の光学式直流変成器は、第1図に示すように1
発光光源1.と、光ファイバ2と、偏光子3と、ファラ
デーセル4と、検光子5と、光ファイバ6.7と、光−
電気変換回路8,9と演算回路10と、交流電源20と
、交流磁界を発生するためのコイル21とからなる。演
算回路10の詳細は第2図により後述する。
発光光源1は1発光ダイオード、レーザダイオードなど
により一定出力の光を発光する。この光は、光ファイバ
2に導びかれた後、偏光子3で直線偏光され、ファラデ
ーセル4に入射する。ファラデーセル4では、導体15
に流れる電流により生ずる磁界に比例したファラデー回
転θ1と、コイル21により外部から印加した交流磁界
に比例したファラデー回転θi Sin ωtが生ずる
。交流電源20の周波数f(ω=2πf)は、被測定電
流または被測定磁界に含まれる交流成分の周波・数より
十分大きい値に選んでおけば良い。ファラデーセル4か
らの光は、セル4の出射光端においた検光子5により、
互いに直交する二本の偏光成分Ip、Isに分けられ、
光ファイバ6.7により伝送された後、光−電気変換回
路8,9に入り、電気信号に変換される。このとき、出
射端でのP偏光面に対して45°傾けた直線偏光を得る
ように偏光子3を設置すると、前記二つの偏光成分Ip
、Isとして次式を得る。
Tp=kp・Io・(1+5in(20++201si
n ωt))・・・・・・(]4) Is=ks・Io・(1−sin(2θ1+201 s
jn (11t))・・・・・・(15) ここで、kp、ksは比例定数であり、工0も含めて一
般に時間的に変動するものである。2θ1および2θ、
をπ/2に比べて十分小さくなるように選ぶこと。
Ip= kp・Io(1+ 2θt+20x sin 
(11t) −=(16)Is=ks4o(1−2B+
+20t sin (1) t) −−(17)を得る
このような二つの偏光成分Ip、IS+は第1図での光
−電気変換回路8,9に導びかれ、演算回路10により
被測定電流または磁界に比例したファラデー回転角θ、
として検出される。第2図を参照して、その演算方法を
説明する。
前記二つの光信号IP+ISは、光−電気変換回路8,
9により電気信号に変換された後、おのおの二つの信号
処理回路への入力信号として分岐される。一方は、バン
ドパスフィルタ101゜102を通り、整流回路103
,104により整流される。バンドパスフィルタ101
,102の通過周波数は、交流電源20の周波数と−・
致させる。このときに出力されるのは交流成分のみとな
り。
I P(AC)=に’・kP・■0・2θ□ ・・・出
(18)I s (AC)= kI−ks−Io2θt
  −−(19)を得る。そこで、除算器107により
、Ip(AC)とl5(AC)の比を求めて。
l5(AC)     ks を得る。一方、前記二つの信号処理回路への入力信号と
して分岐された他方の信号は、低域フィルタ105,1
06を通る。この低域フィルタのカットオフ周波数は、
交流電源2oの周波数より十分低く、しかも、被測定磁
界に含まれる周波数より高く選ぶ、このとき、低域フィ
ルタ105,106の出力信号は、 1: p(DC)=Jc’ ・kpIo(1+2θ、)
・(21)T s (DC)= k’ ・ks・Io(
1−2s+)−(22)となる、このl5(DC)に前
記I p (AC) /I s  (AC)=kpsを
乗算すると。
kpsXIs(DC)=(kp/ks)・k、’−ks
・Io(1−201)=に’ ・kp・Io(1−2θ
υ −−−−−−(23)を得る。Ip (DC)とこ
のkps・I s(D C)に基づき、減算器109.
加算器110.除算器111、を用いて、(24)式を
演算することにより、Ip(DC)+kps・l5(D
C) 被測定電流または被測定磁界に比例するファラデー回転
角θfが求められる。上記演算回路は、直流信号を除去
することなくファラデー回転角θ1を求めることができ
るという特徴を持っている。
ファラデー回転角θ鷺を検出する演算方法の他の実施例
を第3図に、より説明する。第3@において、前記第1
図の構成により検出される二つの光信号Ip、Isは、
光−電気変換回路8,9により電気信号に変換された後
、おのおの二つの信号処理回路への入力信号として分岐
される。それぞれの信号の一方は低域フィルタ105,
106を通る。この低域フィルタのカットオフ周波数は
前記と同じ考えで選ばれる。このとき、低域フィルタ1
05.106からの出力信号として前記(21)。
(22)式を得る。一方、前記二つの信号処理回路への
へ力として分岐されたそれぞれの他方の信号は、バンド
パスフィルタ101,102を通り、整流回路103,
104により整流される。バンドパスフィルタの通過周
波数は前記と同じ考えで選ばれる。このときに出力され
る信号は交流成分のみとなり、前記(1g)、 (19
)式を得る。このようにして得られた4つの信号を、除
算回路112゜113の入力信号として、 I P(DC)/ I P(AC)=(k’/k”)(
1+ 201)/2θ。
・・・・・(25) I 5(DC)/ I 5CAC)=(k’/に’)(
1−20+)/2L・・・・・・(26) を得る。このI P (、D C)/ I P (A 
C)とl5(DC)/l5(AC)に基づき、減算器1
14.加算器115、除算器116を用いて、(27)
式を演算することにより I P(DC)/ I P(A C)+ I 5(DC
)/ r 5(AC:)・・・・・・(27) 被測定電流または被測定磁界に比例するファラデー回転
角θ、が求められる。上記演算回路は、直流信号を除去
することなくファラデー回転角θ1を求めることができ
るという特徴を持っている。
本発明の他の実施例を第4図に示す。本実施例では、被
測定電流が流れる導体15を囲むようにギャップ付き鉄
心16が配置され、そのギャップ部に偏光子3.ファラ
デーセル4.検光子5を有する光応用磁界センサが置か
れる。鉄心16の少なくとも一部に交流電源20からの
交流磁界発生用コイル21が巻き回されており、鉄心中
に交流磁界を流す。このとき、鉄心中に生ずる磁束は、
導体15中を流れる。電流により生ずる磁束と、交流電
源による磁束とが重畳して形成されることになる。した
がって、発光光源1からの光が偏光子3を通ってファラ
デーセル4に入射すると、出射光はファラデー回転を受
ける。その結果、検光子5の出力は、 Ip=kp、・In(L+5in(2θ++2Lsin
ωt)  −(28)1、=に5,4゜(1−5in(
2Or+2θz sir+ωt)  −・−=−(29
)になる。ここで、θ、は導体に流れる被測定電流に対
応した磁界により生ずるファラデー回転角。
Olは交流磁界により生ずるファラデー回転角である、
このIp、Isは、前記(14)、 (1,5)式と同
じである。このIP、I5を用いて前記と同じように演
算すると、被測定電流に比例する回転角θ1を検出でき
る。
本発明の他の実施例を第5図に示す、ファラデーセル4
の少なくとも一部に交流磁界発生用コイル21を巻き回
す、偏光子3を通って直線偏光された光は、ファラデー
セル4を往復反射しながら進む間に、被測定磁界Hおよ
び交流磁界の影響を受けてファラデー回転する。その結
果、検光子5の出力は、 Ip=kp2’l6(1+5in(2θh+2  θz
  sinωt)   −(30)I s= k sz
 ・I 5 (1,−5in(2θ、+2θx 5in
c、+t)  =−=(31)になる、θhは被測定磁
界Hにより生ずるファラデー回転角である。このIp、
Isは、前記(14)。
(15)式と同じであり、前記と同様に演算すると、被
測定磁界に比例する回転角θ、を検出できる。
本発明の他の実施例を第6図に示す。ファラデーセル4
を少なくとも二つ以上に分割し、偏光面を保持しうる光
導波路17でその間を接続し、−方のファラデーセル4
に被測定電流により生ずる磁、界が加わるようにし、他
方のファラデーセル4Aに交流電源2oによる交流磁界
発生用コイル21を巻き回した構成とする。偏光子3に
より直線偏光された光は、一方のファラデーセル4Aを
通ることによりファラデー回転θt sinωtを受け
偏光面を保持しうる光導波路17によりその偏光状態を
保ったまま他方のファラデーセル4に入射する。ファラ
デーセル4において被測定電流により生ずる磁界に対応
するファラデー回転θ1を受ける。その結果、検光子5
の出力は。
工p=L34.(1+5in(2θ1+2θt sin
ωt)  −−−(32)Is=ks3・Io(1−5
Ln(2L+2θt 5inc、+t)  −−(33
)になる、このLl 丁Sは、前記(1,6)、 (1
,7)式と同じであり、前記と同様に演算すると、被測
定電流または被測定磁界に比例したファラデー回転角θ
1を検出できる。偏光面を保持する光導波路17を1例
えば光学ガラスまたは空間伝送路とすれば、ファラデー
セル4を高電位部に置いてファラデーセル4Aを大地電
位部に置けば、その間の絶縁を保持することが容易とな
る。
第7図は、本発明の他の実施例すなわち光学式電圧変成
器の例を示している。ポッケルスセル11の一部に交流
型g20による電界を加え、他の部分に被測定電界Eo
cを加える。偏光子3により直線偏光された光は、1/
4波長板12を通って円偏光となる。この円偏光がポッ
ケルスセル11を通るうちに、交流電界による位相差F
sinωtと被測定電界Eocによる位相差Flが発生
する。したがって、出射端の検光子5の出力は、Ip=
kp4・Io(1+5in(「++r”1sinωt)
  −−−−−−(34)Is=ks、4.(1−si
n(r’t+r’zsinωt)  ・−・(35)と
なる。このIp、Isは、前記(14)、 (1s)式
において、2θ、の代わりにrIを、また2azの代わ
りにF!を代入しただけである。したがって、前記と同
様に演算すると、被測定電界に比例した位相差「、を検
出できる。
第8図は、本発明の他の実施例すなわち光学式電圧変成
器の例を示している。ポッケルスセル11を少なくとも
二つ以上に分割し、偏光面を保持しうる光導波路17で
その間を接続し、一方のポッケルスセル11に被測定電
界Eocを加え、他方のポッケルスセルIIAに交流電
源20による交流電界を加える。偏光子3により直線偏
光とされた光は、1/4波長板12を通って円偏光とな
る。この円偏光がポッケルスセル11. Aを通るうち
、交流電界による位相差r”rsinωtを生じ、偏光
面を保持しうる光導波路17によりその偏光面を保った
まま他方のポッケルスセル11に入射する。ポッケルス
セル11において被測定電界Eocにより位相差FIを
生ずる。その結果、検光子5の出力は、 Ip=kps4゜(1+5in(r’t+r’r si
nωt)  −−−−−(3s)Is=ks54゜(1
−sin(ri+F1sinωt)  =−・(37)
となる。このIP、Isは、前記(14)、 (15)
式において201の代わりにrIを、また2θlの代わ
りにF□を代入しただけである。したがって、前記と同
様に演算すると、被測定電界Eocに比例した位相差「
1を検出できる。
〔発明の効果〕
本発明によれば、光伝送経路中における温度特性や経時
変化などに起因する直流電流または直流電圧の検出誤差
を常時補正できるので、直流電流または直流電圧の高精
度測定を長期間にわたり安定に実行可能である。
さらに1本発明によれば、直流だけでなく交流電流・電
圧についても同様に測定できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による光学式電流変成器の一実施例の構
成を示す図、第2図は第1図実施例に用いる演算回路の
一実施例の構成を示すブロック図。 第3図は第1図実施例に用いる演算回路の他の実施例の
構成を示すブロック図、第4図、第5図。 第6図はそれぞれ本発明による光学式電流変成器の他の
実施例の構成を示す図、第7図、第8図はそれぞれ本発
明による光学式電圧変成器の実施例の構成を示す図、第
9図は従来の光学式電流変成器の一例の構成を示す図で
ある。 1・・・発光光源、2・・・光ファイバ、3・・・偏光
子。 4.4A・・・ファラデーセル、5・・・検光子、6゜
7・・・光ファイバ、8,9・・・光−電気変換回路、
10・・・演算@路、11.IIA・・・ポッケルスセ
ル、12・・・174波長板、15・・導体、16・・
・ギャップ付鉄心、17・・・先導波路、2o・・・交
流電源、21・・・交流磁界発生用コイル、101゜1
02・・・バンドパスフィルタ、103,104・・整
流回路、105,106・・・低域フィルタ。 107.111,11.2,113・・・除算器。 108・・・乗算器、109,114・・・減算器。 110.115・・・加算器。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、一定レベルの光を出射する発光光源と、前記出射光
    を偏光させる偏光子と、磁気光学的効果または電気光学
    的効果を前記偏光に与えるセンサと、当該センサからの
    出射光の偏光の程度を検出する検光子と、当該検光子か
    ら出射する少なくとも二つの光信号をそれぞれ電気信号
    に変換する光−電気変換回路と、前記各電気信号から前
    記センサに印加される磁界または電界の強さを求める演
    算回路とを含む光学式直流変成器において、 前記センサが、当該センサの中に一定の交流磁界または
    交流電界を発生させる手段を備え、前記演算回路が、前
    記各電気信号から前記交流成分のみを求める手段と、前
    記各交流成分の比を求める手段と、前記交流成分を除去
    した各電気信号を求める手段と、前記各交流成分の比を
    用いて前記交流成分を除去した電気信号を補正する手段
    とを備えた ことを特徴とする光学式直流変成器。 2、一定レベルの光を出射する発光光源と、前記出射光
    を偏光させる偏光子と、磁気光学的効果または電気光学
    的効果を前記偏光に与えるセンサと、当該センサからの
    出射光の偏光の程度を検出する検光子と、当該検光子か
    ら出射する少なくとも二つの光信号をそれぞれ電気信号
    に変換する光−電気変換回路と、前記各電気信号から前
    記センサに印加される磁界または電界の強さを求める演
    算回路とを含む光学式直流変成器において、 前記センサが、当該センサの中に一定の交流磁界または
    交流電界を発生させる手段を備え、前記演算回路が、前
    記各電気信号から前記交流成分のみを求める手段と、前
    記交流成分を除去した各電気信号を求める手段と、前記
    各光信号に対応して前記交流成分を除去した電気信号と
    前記交流成分との各比を求める手段と、前記各比の信号
    の差と和とを求める手段と、当該差と和との比を用いて
    前記磁界または電界の強さを求める手段とを備えた ことを特徴とする光学式直流変成器。 3、請求項1または2に記載の光学式直流変成器におい
    て、 前記磁気光学的効果を有するセンサが、ファラデーセル
    からなり、 前記交流磁界発生手段が、前記ファラデーセルの少なく
    とも一部に巻き回され一定の交流磁界を発生するコイル
    と、当該コイルに交流電力を供給する交流電源とを含む ことを特徴とする光学式直流変成器。 4、請求項1または2に記載の光学式直流変成器におい
    て、 前記磁気光学的効果を有するセンサが、ギャップ付き鉄
    心のギャップに挟持されたファラデーセルからなり、 前記交流磁界発生手段が、前記ギャップ付き鉄心の少な
    くとも一部に巻き回され一定の交流磁界を発生コイルと
    、当該コイルに交流電力を供給する交流電源とを含む ことを特徴とする光学式直流変成器。 5、請求項1または2に記載の光学式直流変成器におい
    て、 前記磁気光学的効果を有するセンサが、被測定磁界が印
    加されるセルを含む複数のファラデーセルからなり、 前記交流磁界発生手段が、前記被測定磁界が印加される
    セル以外のファラデーセルの少なくとも一部に巻き回さ
    れ一定の交流磁界を発生するコイルと、当該コイルに交
    流電力を供給する交流電源とを含み、 偏波面を保存し得る光導波路で前記ファラデーセル間を
    結合した ことを特徴とする光学式直流変成器。 6、請求項1または2に記載の光学式直流変成器におい
    て、 前記電気光学的効果を有するセンサが、一部分に被測定
    電界が印加されるポッケルスセルからなり、 前記交流電界発生手段が、前記ポッケルスセルの他の部
    分に交流電界を印加する手段を含むことを特徴とする光
    学式直流変成器。 7、請求項1または2に記載の光学式直流変成器におい
    て、 前記電気光学的効果を有するセンサが、被測定電界が印
    加されるセルを含む複数のポッケルスセルからなり、 前記交流電界発生手段が、前記被測定電界が印加される
    セル以外のポッケルスセルに一定の交流電界を印加する
    手段を含み、 偏波面を保存し得る光導波路で前記ポッケルスセル間を
    結合した ことを特徴とする光学式直流変成器。 8、請求項1に記載の光学式直流変成器において、前記
    交流成分を除去した信号を求める手段が、低域フィルタ
    からなり、 前記交流成分のみを求める手段が、バンドパスフィルタ
    および整流回路からなり、 前記交流成分の比を求める手段が、除算器からなり、 前記補正手段が、乗算器からなる ことを特徴とする光学式直流変成器。 9、請求項2に記載の光学式直流変成器において、前記
    交流成分を除去した信号を求める手段が、低域フィルタ
    からなり、 前記交流成分のみを求める手段が、バンドパスフィルタ
    および整流回路からなり、 前記交流成分を除去した信号と交流成分のみの信号との
    比を求める手段が、除算器からなることを特徴とする光
    学式直流変成器。
JP63297066A 1988-11-24 1988-11-24 光学式直流変成器 Expired - Lifetime JPH0743397B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63297066A JPH0743397B2 (ja) 1988-11-24 1988-11-24 光学式直流変成器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63297066A JPH0743397B2 (ja) 1988-11-24 1988-11-24 光学式直流変成器

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH02143173A true JPH02143173A (ja) 1990-06-01
JPH0743397B2 JPH0743397B2 (ja) 1995-05-15

Family

ID=17841777

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63297066A Expired - Lifetime JPH0743397B2 (ja) 1988-11-24 1988-11-24 光学式直流変成器

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0743397B2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1997022883A3 (de) * 1995-12-15 1997-09-04 Michael Willsch Optisches messverfahren und optische messanordnung zum messen einer wechselgrösse mit intensitätsnormierung
JP2018091782A (ja) * 2016-12-06 2018-06-14 三菱電機株式会社 電圧測定装置および電圧測定方法
JP2020051871A (ja) * 2018-09-26 2020-04-02 横河電機株式会社 電界センサ

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1997022883A3 (de) * 1995-12-15 1997-09-04 Michael Willsch Optisches messverfahren und optische messanordnung zum messen einer wechselgrösse mit intensitätsnormierung
US6208129B1 (en) 1995-12-15 2001-03-27 Siemens Ag Optical method and arrangement for measuring a periodic value having at least one frequency component
JP2018091782A (ja) * 2016-12-06 2018-06-14 三菱電機株式会社 電圧測定装置および電圧測定方法
JP2020051871A (ja) * 2018-09-26 2020-04-02 横河電機株式会社 電界センサ
US11885841B2 (en) 2018-09-26 2024-01-30 Yokogawa Electric Corporation Electric field sensor

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0743397B2 (ja) 1995-05-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4046243B2 (ja) 精密電流検知のための光ファイバ装置及び方法
JP4853474B2 (ja) 光センサおよび光電流・電圧センサ
US6946827B2 (en) Optical electric field or voltage sensing system
JP2818302B2 (ja) 温度補償付きの電気交流量の測定方法および装置
JPH0224349B2 (ja)
WO2000019217A9 (en) In-line electro-optic voltage sensor
JPH0670651B2 (ja) 光による電・磁気量測定方法及び装置
JPS5897669A (ja) 磁界−光変換器
JP2000501841A (ja) 正規化された強度を持つ交流量の光学的測定方法及び光学的測定装置
JP2986503B2 (ja) 光方式直流電圧変成器
JPH02143173A (ja) 光学式直流変成器
Li et al. Optical voltage sensor using a pulse-controlled electrooptic quarter waveplate
JP3300184B2 (ja) 光ファイバ型計測装置及び計測方法
JPS59159076A (ja) 光学式磁界センサ
RU2767166C1 (ru) Измеритель тока оптический интерференционный
JP3201729B2 (ja) 光センサシステムの使用方法
KR0177874B1 (ko) 광전류센서를 이용한 비정현성 고주파 대전류 측정장치
JPH0720158A (ja) 光変流器
JPS6152800A (ja) 光フアイバ−計測装置
JPH0534378A (ja) 光変成器
JP3538181B2 (ja) 光電磁界センサー及び光電磁界検出装置
SU1262392A1 (ru) Магнитооптический способ измерени силы тока и устройство дл его осуществлени
JPS5935156A (ja) 光変流器
JPH10111318A (ja) 光電圧・光電流センサ
RU2035049C1 (ru) Магнитооптический измеритель постоянных магнитных полей и токов