JP4831492B2 - セラミック基板の製造方法 - Google Patents
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Description
図1乃至図7は、本発明によるセラミック基板の製造方法の好適な第1実施形態によってセラミック基板を製造する手順を示す工程図(フロー図)であり、各工程におけるセラミック基板の要部を示す概略断面図である。
図8乃至図12は、本発明によるセラミック基板の製造方法の好適な第2実施形態によってセラミック基板を製造する手順を示す工程図(フロー図)であり、各工程におけるセラミック基板の要部を示す概略断面図である。
図13乃至図16は、本発明によるセラミック基板の製造方法の好適な第3実施形態によってセラミック基板を製造する手順を示す工程図(フロー図)であり、各工程におけるセラミック基板の要部を示す概略断面図である。
表1に示す組成系のLTCC材料、及び、液相形成用の焼結助剤を含有するセラミック基板の素地材料(グリーンシート母剤)を調製した。
上記A材、B材、C材、及びD材をセラミック基板の素地材料として用い、上述した第1実施形態と同様の方法を用いて図4に示す状態のセラミック基板(実施例1〜4)を得た。
評価用の参考例1〜4として、実施例1〜4で形成したグリーンシート10に金属ペースト層及び拘束層を設けることなく、そのままの状態で、約900℃で所定時間焼成し、誘電体層のみからなる焼結体を得た。この焼結体は、無収縮プロセスではなく自由収縮プロセスを適用したものであり、セラミック基板の各素地材料の焼結体に対して望まれる焼結密度及び抗折強度の指標となるものである。
金属ペースト層11を形成しなかったこと以外は、実施例4(D材)と同様にして焼結体を得た。すなわち、比較例1の焼結体は、グリーンシート10の両面に金属ペースト層11を形成することなく、拘束層12を直接形成して焼結した後、未焼結体として残存する拘束層12をブラスト処理で除去したものである。
実施例1〜4で得たセラミック基板を、アンモニア水と過酸化水素水を同量(50vol%/50vol%)混合した溶液に浸漬し、金属ペースト層11の焼成によって形成された導体層11aを除去した。実施例1〜4から得られたこれらの誘電体層10aのみの焼結体、参考例1〜4で得られた誘電体層10aのみの焼結体、及び、比較例1で得られた誘電体層10aのみの焼結体について、それらの焼結密度及び抗折強度を測定した。なお、焼結密度は、水を用いたアルキメデス法による焼結体の嵩密度と重量の測定結果から算出し、抗折強度の測定は、JIS SR 1601に規定する抗折強度の測定に準拠して行った。得られた結果を表2にまとめて示す。
Claims (5)
- セラミック基板の素地材料からなるグリーンシートを形成し、
前記グリーンシートの少なくとも片面に金属を含む第1の層を形成し、
前記第1の層上に、前記第1の層上に所定のマスクパターンを形成した後、さらに前記素地材料の焼成温度では焼結しない第2の層を形成し、
前記第2の層が形成された積層体を焼成し、
前記焼成された積層体から前記第2の層を除去し、
前記第2の層が除去された後の前記第1の層を、前記マスクパターンを用いてパターニングすることにより配線層を形成する、
セラミック基板の製造方法。 - 前記素地材料として、非ガラス系材料を用いる、
請求項1記載のセラミック基板の製造方法。 - 前記第1の層が焼結助剤を含む、
請求項1又は2記載のセラミック基板の製造方法。 - 前記第2の層が除去された前記第1の層上に、所定のパターンを有するマスクを形成し、
前記マスクを用いて前記第1の層をパターニングすることにより前記配線層を形成する、
請求項1記載のセラミック基板の製造方法。 - 前記第1の層を形成した後でかつ前記第2の層を形成する前に、前記第1の層上に、前記第1の層に含まれる金属と同じ金属を含む所定のマスクパターンを形成し、
前記第2の層が除去された後の前記第1の層を、前記マスクパターンを用いてパターニングすることにより前記配線層を形成する、
請求項1記載のセラミック基板の製造方法。
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