JP4817979B2 - 記憶装置、連続振動検出方法および制御装置 - Google Patents

Description

この発明は、落下を検出した場合に記憶媒体面上のヘッドを所定の退避位置に退避する記憶装置、記憶装置における連続振動検出方法、および、記憶装置を制御する制御装置に関し、特に、連続的な振動を落下として誤検出した場合に発生する性能低下を防ぐことができる記憶装置、連続振動検出方法および制御装置に関するものである。

磁気ディスク装置（記憶装置）は、主に、汎用コンピュータの補助記憶装置として利用される他、大容量のランダムアクセス記録を必要とする業務用専用装置に用いられる。また、近年、家庭電化製品のデジタル化が進み、音声や映像などのデータをデジタルデータとして記録する用途が生じてきたことから一般の家庭製品での利用も増えている（例えば、ハードディスクビデオレコーダー、携帯音楽再生装置等）。

しかし、磁気ディスク装置は落下等の強い衝撃を受けた場合、ヘッドがディスク面に衝突してディスクに傷が付き、データの読み書きが不可能となる場合がある。特に動作中の落下が故障しやすいため、携帯用とで使用される磁気ディスク装置を内蔵した製品を扱う場合は強い衝撃を与えないように注意を払う必要があった。

そこで、例えば特許文献１では、磁気ディスク装置の落下によるディスク面の損傷を防止するために、落下センサーを利用し、磁気ディスク装置の自由落下を検出した場合にヘッドをディスク面上から退避させるという技術が公開されている。

特開２００２−８３３６号公報

しかしながら、上述した従来の技術では、単純に、磁気ディスク装置の落下を検出した場合に強制的にヘッドをディスク面上から退避するだけであるため、磁気ディスク装置の性能が低下してしまうという問題があった。

なぜなら、従来の手法では、実際に磁気ディスク装置が落下をしていない通常使用時や磁気ディスク装置を持ち運んでいる最中に落下センサーが落下を誤検出してしまう場合があり、そのたびにヘッドをディスク面上から退避させてしまうからである。

例えば、磁気ディスク装置がパーソナルコンピュータに実装された場合、パーソナルコンピュータが運搬時に持ち上げられたり、膝の上で使用されたりする際には、磁気ディスク装置には、緩やかな周期の振動が連続的に伝わると考えられる。このような場合、落下センサーの特性上、緩やかな周期の振動が、ある一定時間の落下として誤検出されるという現象が見られる。この誤検出のたびにヘッドがディスク面の外に退避されると、データの記録および再生時に行なわれるディスクへのアクセスに遅延が発生することになり、その結果としてパーソナルコンピュータの処理性能が低下してしまう恐れがある。

この発明は、上述した従来技術による問題点を解消するためになされたものであり、連続的な振動を落下として誤検出した場合に発生する性能低下を防ぐことができる記憶装置、連続振動検出方法および制御装置を提供することを目的とする。

上述した課題を解決し、目的を達成するため、本発明にかかる記憶装置および制御装置は、落下しているか否かを示す落下情報を所定のサンプリング周期で落下センサーから取得して落下時間を計測する落下時間計測部と、前記落下時間計測部により計測された落下時間が所定の測定時間内で所定の落下判定閾値を超えた回数を計数し、該計数した回数が所定の上限回数を超えていた場合に、前記落下判定閾値を前記落下時間を上回る時間にまで延長する閾値変更部と、前記閾値変更部が前記落下判定閾値を延長した後に、前記落下時間計測部により計測された落下時間が前記閾値変更部により延長された落下判定閾値を超えた場合に、前記ヘッドを所定の退避位置に退避するヘッド退避部と、を備えたことを特徴とする。

また、本発明にかかる連続振動検出方法は、記憶装置における連続振動検出方法であって、落下しているか否かを示す落下情報を所定のサンプリング周期で落下センサーから取得して落下時間を計測する落下時間計測工程と、前記落下時間計測工程により計測された落下時間が所定の測定時間内で前記落下判定閾値を越えた回数を計数し、該計数した回数が所定の上限回数を超えていた場合に、前記落下判定閾値を前記落下時間を上回る時間にまで延長する閾値変更工程と、前記閾値変更工程により前記落下判定閾値を延長した後に、前記落下時間計測工程により計測された落下時間が前記閾値変更工程により延長された落下判定閾値を超えた場合に、前記ヘッドを所定の退避位置に退避するヘッド退避工程と、を含んだことを特徴とする。

従って、本発明によれば、連続的な振動を落下として誤検出した際にヘッドが固定シリンダに退避されないように制御することが可能になり、ヘッドが頻繁に退避されることによる磁気ディスク装置の性能低下を防ぐことができる。

また、本発明は、上記の発明において、前記落下時間計測部により計測された落下時間が前記測定時間内で前記落下判定閾値を越えた回数を計数し、該計数した回数が前記上限回数を超えていなかった場合に、前記落下判定閾値を短縮することを特徴とする。

また、本発明によれば、計測した落下時間が測定時間内で落下判定閾値を越えた回数を計数し、その回数が上限回数を超えていなかった場合に、前記落下判定閾値を短縮するので、例えば、大きな振幅の振動によって落下判定閾値が延長された場合でも、小さな振幅の振動に合わせて変更し直すことができる。すなわち、磁気ディスク装置に伝えられる連続的な振動を学習して、振動ごとに、計測される落下時間を上回る最小限の長さの第１スライス検出時間を設定することが可能になり、ヘッドが固定シリンダに退避されるタイミングを最適なタイミングに保つことができる。

また、本発明にかかる記憶装置、連続振動検出方法および制御装置は、上記の発明において、前記落下時間が第１閾値を超えた場合に前記ヘッドを固定シリンダへ移動し、その後さらに、前記落下時間が第２閾値を超えた場合に前記ヘッドを前記固定シリンダ以外の前記退避位置へ退避することを特徴とする。

また、本発明は、上記の発明において、前記落下時間計測部により計測された落下時間が所定のサンプリング周期変更閾値を超えた場合には、前記サンプリング周期を短縮、或いは前記サンプリングのタイミングをずらし、前記落下時間計測部により計測された落下時間が前記サンプリング周期変更閾値を超えなかった場合には前記サンプリング周期を延長するサンプリング周期変更部をさらに備えたことを特徴とする。

また、本発明によれば、落下の検出精度が求められる場合にはサンプリング周期を細かく設定し、検出精度が求められない場合にはサンプリング周期を粗く設定することによって、必要に応じて、落下検出に関する処理の精度を自動的に調整することができる。

また、本発明によれば、サンプリングの精度が向上し、例えば振動の周期とサンプリング周期とが偶然一致していた場合でも、磁気ディスク装置が本当に落下しているのか否かを確認することができる。

また、本発明によれば、例えば、磁気ディスク装置が安定した場所に置かれて使用されている場合などは、落下検出に関する処理の負荷を小さくすることができ、磁気ディスク装置の消費電力の低減を図ることができる。

また、本発明によれば、例えば振動の周期とサンプリングの周期とが偶然一致していた場合でも、サンプリングのタイミングをずらすことによって、落下していないことを示す落下検出信号が検出され、これにより、実際には磁気ディスク装置が落下していないことを確認することができる。

また、本発明は、上記の発明において、前記サンプリング周期変更部は、長さが異なる複数のサンプリング周期変更閾値を段階的に設け、該サンプリング周期変更閾値ごとに決められたサンプリング周期を設定することを特徴とする。

また、本発明によれば、例えば、落下時間が長い時間継続して計測される場合には、段階的にサンプリング周期を細かくしていくことが可能になるなど、落下の検出状況に応じて、サンプリングの精度を調整することができる。

本発明によれば、連続的な振動を落下として誤検出した場合に発生する性能低下を防ぐことができ、コンピュータや家庭製品などの装置にこの記憶装置を用いた場合に、振動や揺れを気にせずに安心して利用できるなど、当該装置の利用価値を高めることができるという効果を奏する。

以下に添付図面を参照して、この発明に係る記憶装置、連続振動検出方法および制御装置の好適な実施例を詳細に説明する。なお、以下では、本発明を磁気ディスク装置に適用した場合について説明する。

まず、本実施例に係る磁気ディスク装置の概念について説明する。本実施例に係る磁気ディスク装置は、３軸（Ｘ−Ｙ−Ｚ）全方位で自由落下を検出する落下センサーを備えている。ここで、落下センサーは、３軸方向の加速度センサーにより出力されるアナログ波形に基づいて、自身が落下しているか否かを示す落下検出信号を発するものである。

そして、この磁気ディスク装置は、落下センサーが発する落下検出信号を所定のサンプリング周期で定期的に取得して落下時間を計測し、計測した落下時間が第１の閾値を超えた場合には、ヘッドを磁気ディスク面上の固定シリンダに退避し、さらに、第２の閾値を超えた場合には、ヘッドをランプに退避する。これにより、落下時にヘッドによって損傷磁気ディスクが傷つけられる事象を防ぐことができる。なお、ここで用いられる第１の閾値および第２の閾値を、以下ではそれぞれ「第１スライス検出時間」および「第２スライス検出時間」と称する。

図１は、本実施例に係る磁気ディスク装置の概念を説明するための説明図である。例えば、同図に示すような緩やかな周期の振動が連続的に磁気ディスク装置に伝わり、落下センサーから発せられた落下検出信号に基づいて、８０ｍｓの落下時間が１２０ｍｓ間隔で周期的に計測されたとする。

ここで、第１スライス検出時間が６０ｍｓであったとする。この場合、ヘッドは８０ｍｓの落下時間が計測されるたびに固定シリンダに退避される（図１の（１）を参照）。しかし、ここでは、あくまで磁気ディスクは振動によって緩やかな周期で揺れているだけであって、落下しているわけではないので、ヘッドを固定シリンダに退避させる必要はない。

このような状態に鑑み、本実施例に係る磁気ディスク装置は、落下時間が第１スライス検出時間を超えた場合にその回数をカウントし、所定の測定時間内にカウントした回数が所定の上限回数を超えた場合には、第１スライス検出時間を、周期的な落下時間を上回るまで延長するようにしている。これにより、磁気ディスク装置は、連続的な振動を受けた場合には、その振動を落下として検出せず、ヘッドが固定シリンダに退避されないように制御することができる。なお、ここで用いられる所定の測定時間を、以下では「閾値変更基準時間」と称する。

例えば、磁気ディスク装置が、第１スライス検出時間を６０ｍｓから１００ｍｓに延長したとする。これにより、図１に示した振動が磁気ディスク装置に伝わった場合でも、第１スライス検出時間が落下時間を上回るため、ヘッドは固定シリンダに退避されない（図１の（２）を参照）。

このように、本実施例に係る磁気ディスク装置は、落下しているか否かを示す落下検出信号を所定のサンプリング周期で落下センサーから取得して磁気ディスク装置の落下時間を計測するとともに、計測した落下時間が所定の閾値変更基準時間内で第１スライス検出時間を越えた回数を計数し、その回数が所定の上限回数を超えていた場合に第１スライス検出時間を延長し、そして、落下時間が第１スライス検出時間を超えた場合にヘッドを退避位置に退避するので、連続的な振動を落下として誤検出した際にヘッドが固定シリンダに退避されないように制御することが可能になり、ヘッドが頻繁に退避されることによる磁気ディスク装置の性能低下を防ぐことができる。

また、本発明によれば、連続的な振動を落下として誤検出した場合に発生する性能低下を防ぐことができるので、コンピュータや家庭製品などの装置にこの磁気ディスク装置を用いた場合に、振動や揺れを気にせずに安心して利用できるなど、当該装置の利用価値を高めることができる。

次に、本実施例に係る磁気ディスク装置の構成について説明する。図２は、本実施例に係る磁気ディスク装置の構成を示す機能ブロック図である。同図に示すように、この磁気ディスク装置１００は、磁気ディスク１１０と、ランプ１２０と、ヘッド１３０と、アクチュエータ１４０と、リードチャネル１５０と、サーボコンボチップ１６０と、ショックセンサー１７０と、インターフェース１８０と、落下センサー１９０と、ＲＡＭ（Random Access Memory）２００と、制御部２１０と、ＲＯＭ（Read Only Memory）２２０とを備えて構成される。なお、その他の構成は、ロード・アンロード方式にかかる一般的な磁気ディスク装置と同様であるため説明を省略する。

磁気ディスク１１０は、金属またはガラス製の円盤（ディスク）状の基板に磁性膜を形成した記録媒体である。この磁気ディスク１１０にデータの記録を行う場合には、磁気ディスク１１０のデータを記録する記憶領域に、ヘッド１３０からの磁界を照射して、磁気ディスク１１０の磁性体の磁化状態を変化させることによって、データを記録する。また、磁気ディスク１１０からデータの再生を行う場合には、再生対象となる磁気ディスク１１０上の記録領域にヘッド１３０を移動させ、磁気ディスク１１０の磁性膜の磁化状態を読み取り、データを再生する。

なお、磁気ディスク１１０には固定シリンダ（あるいはアンロードシリンダ）が設定されている。磁気ディスク装置１００がヘッド１３０をランプ１２０に退避させる場合には、一旦、磁気ディスク１１０に設定された固定シリンダにヘッド１３０を移動させた後に、ヘッド１３０をランプ１２０に退避させる。磁気ディスク１１０に設定された固定シリンダの位置とランプ１２０の位置との距離は一定に保たれている。ここで、ランプ１２０は、退避時のヘッド１３０を停止させる部品である。

ヘッド１３０は、磁気ディスク１１０に対するデータの記録および再生を行う装置である。また、このヘッド１３０は、磁気ディスク１１０からトラック位置などを制御するためのサーボ信号を読み出し、このサーボ信号を磁気ディスク１１０から再生された再生データと共にリードチャネル１５０に出力する。

アクチュエータ１４０は、ボイスコイルモータ（ＶＣＭ）を備え、サーボコンボチップ１６０から出力される制御電流によってヘッド１３０を移動させる装置である。リードチャネル１５０は、ヘッド１３０から再生データおよびサーボ信号を取得し、取得した再生データおよびサーボ信号を制御部２１０に出力する装置である。

サーボコンボチップ１６０は、制御部２１０からの指示に従って、制御電流をアクチュエータ１４０に出力し、ヘッド１３０の移動を制御する装置である。また、サーボコンボチップ１６０は、図示しないスピンドルモータに制御電流を出力し、磁気ディスク１１０の回転制御も行う。

ショックセンサー１７０は、磁気ディスク装置１００に与えられる衝撃を検出するセンサーである。また、このショックセンサー１７０は、検出した衝撃にかかる情報を、サーボコンボチップ１６０を介して制御部２１０に出力する。

インターフェース１８０は、図示しないホストコンピュータとの間における通信を制御する装置である。落下センサー１９０は、３軸（Ｘ−Ｙ−Ｚ）全方位で磁気ディスク装置１００の自由落下を検出し、磁気ディスク装置１００が落下しているか否かの情報を示す落下検出信号を制御部２１０に出力するセンサーである。

ＲＡＭ２００は、制御部２１０による各種処理に必要なデータを記憶する装置であり、特に本発明に密接に関連するものとしては、記録・再生データ２００ａと、判定時間データ２００ｂとを記憶している。

このうち、記録・再生データ２００ａは、ホストコンピュータから取得した磁気ディスク１１０に記録するデータあるいは磁気ディスク１１０から再生されたデータを示す。磁気ディスク装置１００は、磁気ディスク１１０に記録するデータおよび磁気ディスク１１０から読み出すデータを一旦、ＲＡＭ２００に記憶させる。

判定時間データ２００ｂは、ヘッド１３０を固定シリンダに移動させるか否かを判断する第１スライス検出時間と、固定シリンダからヘッド１３０をランプ１２０に移動させるか否かを判定する第２スライス検出時間とを含む。ここで、第１スライス検出時間と第２スライス検出時間との間には、第１スライス検出時間＜第２スライス検出時間の関係が成り立っている。

これら第１スライス検出時間および第２スライス検出時間を閾値として、磁気ディスク装置１００は、落下時間が第１スライス検出時間を越えた場合には、ヘッド１３０を磁気ディスク面上の固定シリンダに移動し、落下時間が第２スライス検出時間を越えた場合には、固定シリンダ上のヘッド１３０をランプ１２０に退避する。

図３は、判定時間データ２００ｂの一例を示す図である。例えば、第１のスライス検出時間には２０２ｍｓなどが設定され、第２のスライス検出時間には２４７ｍｓなどが設定される。なお、これら第１のスライス検出時間および第２のスライス検出時間を含む判定時間データ２００ｂは、あらかじめＲＡＭ２００に記憶されるとしてもよいし、利用者によって、図示しない入力装置（キーボードなど）から入力された時間が記憶されるとしてもよい。

図１に戻って、制御部２１０は、ＲＯＭ２２０に記録された各種の処理手順を規定したプログラムや制御データを用いて、種々の処理を実行する装置であり、特に、本発明に密接に関連するものとしては、データ処理部２１０ａと、アクチュエータ制御部２１０ｂと、判定時間データ変更部２１０ｃと、サンプリング周期変更部２１０ｄとを備える。

このうち、データ処理部２１０ａは、ホストコンピュータから取得したデータを記録・再生データ２００ａに記録すると共にホストコンピュータからの要求に応じて、記録・再生データからデータ（磁気ディスク１１０から再生されたデータなど）を取得し、ホストコンピュータに出力する処理部である。

アクチュエータ制御部２１０ｂは、サーボコンボチップ１６０に制御命令を出力し、ヘッド１３０を所定の位置に移動させる処理部である。具体的には、このアクチュエータ制御部２１０ｂは、磁気ディスク装置１００が落下しているか否かを示す落下検出信号を落下センサー１９０から所定のサンプリング周期で取得し、取得した落下検出信号に基づいて磁気ディスク装置１００の落下時間を計測する。

そして、アクチュエータ制御部２１０ｂは、計測した落下時間が、判定時間データ２００ｂに含まれている第１スライス検出時間（図３を参照）を超えた場合には、ヘッド１３０を固定シリンダに移動させる。また、磁気ディスク装置１００の落下している時間が、判定時間データ２００ｂに含まれている第２スライス検出時間（図３を参照）を超えた場合には、ヘッド１３０をランプ１２０に移動させる。

なお、アクチュエータ制御部２１０ｂは、磁気ディスク装置１００に対するデータの記録あるいは再生を行う場合にも、ヘッド１３０を磁気ディスク１１０の所定の領域に移動させる。

判定時間データ変更部２１０ｃは、落下時間が第１スライス検出時間を超えた回数に基づいて、第１スライス検出時間を変更する処理部である。具体的には、この判定時間データ変更部２１０ｃは、アクチュエータ制御部２１０ｂによって計測された落下時間を監視し、所定の閾値変更基準時間内で落下時間が第１スライス検出時間を越えた回数（以下、第１スライス検出回数と呼ぶ）をカウントする。そして、判定時間データ変更部２１０ｃは、カウントした回数が所定の上限回数を超えていた場合には、判定時間データ２００ｂに含まれている第１スライス検出時間に所定の延長時間を加算し、一方、所定の上限回数を超えていなかった場合には、判定時間データ２００ｂに含まれている第１スライス検出時間から所定の短縮時間を減算する。

ここで、判定時間データ変更部２１０ｃが、閾値変更基準時間内で落下時間が第１スライス検出時間を越えた回数が所定の上限回数を超えていた場合に、第１スライス検出時間を所定の延長時間だけ延長することによって、連続的な振動が磁気ディスク装置１００に伝えられた場合には、その振動によって計測される落下時間を上回るように第１スライス検出時間を設定して、ヘッドが固定シリンダに退避されないようにすることができる。

一方、判定時間データ変更部２１０ｃが、閾値変更基準時間内で落下時間が第１スライス検出時間を越えた回数が所定の回数を超えていなかった場合に、第１スライス検出時間を所定の変更時間だけ短縮することによって、例えば、大きな振幅の振動によって第１スライス検出時間が延長された場合でも、小さな振幅の振動に合わせて変更し直すことができる。すなわち、磁気ディスク装置１００に伝えられる振動を学習して、振動ごとに、計測される落下時間を上回る最小限の長さの第１スライス検出時間を設定することが可能になり、ヘッドが固定シリンダに退避されるタイミングを最適なタイミングに保つことができる。

なお、あらかじめ第１スライス検出時間の上限値を決めておき、第１スライス検出時間を延長する際には、上限値を上回らないように制限してもよい。同様に、第１スライス検出時間の下限値を決めておき、第１スライス検出時間を延長する際には、下限値を下回らないように制限してもよい。これにより、ヘッドを退避する条件が極端に緩やかになったり、厳しくなったりするのを防ぐことが可能になり、所定範囲内での落下に対する安全性を保証することができる。

サンプリング周期変更部２１０ｄは、落下時間に基づいてサンプリング周期を変更する処理部である。具体的には、このサンプリング周期変更部２１０ｄは、アクチュエータ制御部２１０ｂによって計測された落下時間を監視し、落下時間が所定のサンプリング周期変更閾値を越えた場合には、アクチュエータ制御部２１０ｂを制御してサンプリング周期を所定の長さだけ短縮し、落下時間がサンプリング周期変更閾値を越えなかった場合には、アクチュエータ制御部２１０ｂを制御してサンプリング周期を所定の長さだけ延長する。なお、ここで用いられるサンプリング周期変更閾値を、以下では「サンプリング周期変更時間」と称する。

ここで、サンプリング周期変更部２１０ｄが、落下時間が所定のサンプリング周期変更時間を越えた場合にサンプリング周期を短縮することによって、サンプリングの精度が向上し、例えば振動の周期とサンプリング周期とが偶然一致していた場合でも、磁気ディスク装置１００が本当に落下しているのか否かを確認することができる。

一方、サンプリング周期変更部２１０ｄが、落下時間が所定のサンプリング周期変更時間を越えない場合にサンプリング周期を延長することによって、例えば、磁気ディスク装置１００が安定した場所に置かれて使用されている場合などは、落下検出に関する処理の負荷を小さくすることが可能になり、磁気ディスク装置の消費電力の低減を図ることができる。

すなわち、落下の検出精度が求められる場合にはサンプリング周期を細かく設定し、検出精度が求められない場合にはサンプリング周期を粗く設定することによって、制御部２１０で実行される処理の負荷を減らすとともに、消費電力の低減を図ることができる。

図４は、サンプリング周期変更部２１０ｄによるサンプリング周期変更処理を説明するための説明図である。例えば磁気ディスク装置１００に伝わった振動の周期とサンプリング周期とが一致していた場合、同図に示すように、アクチュエータ制御部２１０ｂによって、落下を示す落下検出信号が連続して取得される（図４の（１）〜（３）を参照）。しかし、実際には、磁気ディスク装置１００は落下しているのではなく、振動によって周期的に揺れているだけである。

ここで、アクチュエータ制御部２１０ｂが計測した落下時間がサンプリング周期変更時間を越えると、サンプリング周期変更部２１０ｄは、アクチュエータ制御部２１０ｂを制御してサンプリング周期を所定の長さだけ短縮する（図４の（４）を参照）。すると、同図に示すように、それまで検出されていなかった非落下を示す落下検出信号が検出されるようになるため（図４の（６）および（８）を参照）、磁気ディスク装置１００が実際には落下していないことを確認することができる。

なお、ここでは単一のサンプリング周期変更時間を用いた場合を説明したが、長さが異なる複数のサンプリング周期変更時間を段階的に設け、それらサンプリング周期変更時間ごとにあらかじめ決められたサンプリング周期を設定するようにしてもよい。これにより、例えば、落下時間が長い時間継続して計測される場合には、段階的にサンプリング周期を細かくしていくことが可能になるなど、落下の検出状況に応じて、サンプリングの精度を調整することができる。

また、ここでは、サンプリング周期を短縮することによってサンプリングの精度を向上させる場合を説明したが、サンプリングのタイミングを所定の間隔だけずらすことによって、磁気ディスク装置１００が本当に落下しているか否かを確認できるようにしてもよい。これにより、例えば振動の周期とサンプリングの周期とが偶然一致していた場合でも、サンプリングのタイミングをずらすことによって、落下していないことを示す落下検出信号が検出され、これにより、実際には磁気ディスク装置１００が落下していないことを確認することができる。

次に、本実施例に係る磁気ディスク装置１００によるヘッド退避処理の処理手順について説明する。図５は、本実施例に係る磁気ディスク装置１００によるヘッド退避処理の処理手順を示すフローチャートである。同図に示すように、この磁気ディスク装置１００は、アクチュエータ制御部２１０ｂが、落下センサーから落下検出信号を取得して落下時間を計測する（ステップＳ１０１）。

ここで、判定時間データ変更部２１０ｃが、落下時間が第１スライス検出時間を越えた回数（第１スライス検出回数）をカウントし（ステップＳ１０２）、カウントした回数が所定の上限回数を超えているか否かを判定する（ステップＳ１０３）。そして、カウントした回数が閾値変更基準時間内で上限回数を超えていた場合は（ステップＳ１０４，Ｙｅｓ）、判定時間データ変更部２１０ｃは、第１スライス検出時間を所定の延長時間だけ延長し（ステップＳ１０５）、一方、上限回数を超えていなかった場合は（ステップＳ１０４，Ｎｏ）、第１スライス検出時間を所定の短縮時間だけ短縮する（ステップＳ１０６）。

また、アクチュエータ制御部２１０ｂが、落下時間が第１スライス検出時間を越えているか否かを判定し（ステップＳ１０７）、超えていた場合には（ステップＳ１０８，Ｙｅｓ）、固定シリンダにヘッドをシークする（ステップＳ１０９）。一方、落下時間が第１スライス検出時間を越えていなかった場合には（ステップＳ１０８，Ｎｏ）、アクチュエータ制御部２１０ｂは、ステップＳ１０１に制御を移す。

さらに、アクチュエータ制御部２１０ｂは、落下時間が第２スライス検出時間を越えているか否かを判定し（ステップＳ１１０）、超えていた場合には（ステップＳ１１１，Ｙｅｓ）、ヘッドをランプに退避する（ステップＳ１１２）。一方、落下時間が第２スライス検出時間を越えていなかった場合には（ステップＳ１１１，Ｎｏ）、アクチュエータ制御部２１０ｂは、ステップＳ１０１に制御を移す。

このように、アクチュエータ制御部２１０ｂが落下時間を計測し、判定時間データ変更部２１０ｃが、所定の閾値変更基準時間内で落下時間が第１スライス検出時間を超えた回数をカウントするとともに、カウントした回数が所定の上限回数を超えているか否かを判定し、超えていた場合は第１スライス検出時間を延長する一方、超えていなかった場合は第１スライス検出時間を短縮することによって、連続的な振動が磁気ディスク装置１００に伝えられた場合には、その振動によって計測される落下時間を上回るように第１スライス検出時間を設定して、ヘッドが固定シリンダに退避されないように制御することが可能になり、ヘッドが頻繁に退避されることによる磁気ディスク装置の性能低下を防ぐことができる。

次に、サンプリング周期変更部２１０ｄによるサンプリング周期変更処理の処理手順について説明する。図６は、サンプリング周期変更部２１０ｄによるサンプリング周期変更処理の処理手順を示すフローチャートである。同図に示すように、サンプリング周期変更部２１０ｄは、アクチュエータ制御部２１０ｂが、落下センサーから落下検出信号を取得して落下時間を計測すると（ステップＳ２０１）、その落下時間がサンプリング周期変更時間を越えているか否かを判定する（ステップＳ２０２）。

そして、サンプリング周期変更部２１０ｄは、落下時間がサンプリング周期変更時間を越えていた場合には（ステップＳ２０３，Ｙｅｓ）、サンプリング周期を所定の長さだけ短縮する（ステップＳ２０４）。一方、落下時間がサンプリング周期変更時間を越えていなかった場合には（ステップＳ２０３，Ｎｏ）、サンプリング周期変更部２１０ｄは、サンプリング周期を所定の長さだけ延長する（ステップＳ２０５）。

このように、サンプリング周期変更部２１０ｄが、落下時間に基づいてサンプリング周期を変更することによって、落下の検出精度が求められる場合にはサンプリング周期を細かく設定し、検出精度が求められない場合にはサンプリング周期を粗く設定することによって、必要に応じて、落下検出に関する処理の精度を自動的に調整することができる。

なお、上記で説明したヘッド退避処理とサンプリング周期変更処理とは、ともに落下時間に基づいて実行されるものであり、どちらが先に実行されてもよいものである。

上述してきたように、本実施例では、アクチュエータ制御部２１０ｂが、落下しているか否かを示す落下検出信号を所定のサンプリング周期で落下センサーから取得して磁気ディスク装置の落下時間を計測するとともに、判定時間データ変更部２１０ｃが、落下時間が所定の閾値変更基準時間内で第１スライス検出時間を越えた回数を計数し、その回数が所定の上限回数を超えていた場合に第１スライス検出時間を延長する。そして、アクチュエータ制御部２１０ｂは、落下時間が第１スライス検出時間を超えた場合にヘッドを退避位置に退避するので、連続的な振動を落下として誤検出した際にヘッドが固定シリンダに退避されないように制御することが可能になり、ヘッドが頻繁に退避されることによる磁気ディスク装置の性能低下を防ぐことができる。

また、本実施例では、判定時間データ変更部２１０ｃが、落下時間が測定時間内で第１スライス検出時間を越えた回数を計数し、その回数が上限回数を超えていなかった場合に第１スライス検出時間を短縮するので、例えば、大きな振幅の振動によって第１スライス検出時間が延長された場合でも、小さな振幅の振動に合わせて変更し直すことができる。すなわち、磁気ディスク装置１００に伝えられる連続的な振動を学習して、振動ごとに、計測される落下時間を上回る最小限の長さの第１スライス検出時間を設定することが可能になり、ヘッドが固定シリンダに退避されるタイミングを最適なタイミングに保つことができる。

ところで、上記実施例で説明した各種の処理は、予め用意されたプログラムを、磁気ディスク装置１００に備えられたＣＰＵ（Central Processing Unit）（若しくは、ＭＣＵ（Micro Control Unit）やＭＰＵ（Micro Processing Unit）などの処理装置）で実行することによって実現することができる。図２に示す例では、上述した各種の処理を実現する各種のプログラムがＲＯＭ２２０に記憶されており、制御部２１０がＲＯＭ２２０に記録された各種のプログラムを読み出して実行することにより、上述した各種の処理部（データ処理部２１０ａ、アクチュエータ制御部２１０ｂ、判定時間データ変更部２１０ｃおよびサンプリング周期変更部２１０ｄ）の機能を実現する各種プロセスが起動される。

なお、これら各種プログラムは、必ずしも最初からＲＯＭ２２０に記憶させておく必要はない。例えば、ホストコンピュータに挿入されるフレキシブルディスク（ＦＤ）や、ＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤディスク、光磁気ディスク、ＩＣカードなどの「可搬用の物理媒体」、または、ホストコンピュータの内外に備えられるハードディスクドライブ（ＨＤＤ）などの「固定用の物理媒体」、さらには、公衆回線、インターネット、ＬＡＮ（Local Area Network）、ＷＡＮ（Wide Area Network）などを介してホストコンピュータに接続される「他のコンピュータ（またはサーバ）」などに各種プログラムを記憶しておき、ＲＯＭ２２０にインストールして実行するようにしてもよい。

さて、これまで本発明の実施例について説明したが、本発明は上述した実施例以外にも、特許請求の範囲に記載した技術的思想の範囲内において種々の異なる実施例にて実施されてもよいものである。

また、本実施例において説明した各処理のうち、自動的に行われるものとして説明した処理の全部または一部を手動的に行うこともでき、あるいは、手動的に行なわれるものとして説明した処理の全部または一部を公知の方法で自動的に行うこともできる。

この他、上記文書中や図面中で示した処理手順、制御手順、具体的名称、各種のデータやパラメータを含む情報については、特記する場合を除いて任意に変更することができる。

また、図示した各装置の各構成要素は機能概念的なものであり、必ずしも物理的に図示のように構成されていることを要しない。すなわち、各装置の分散・統合の具体的形態は図示のものに限られず、その全部または一部を、各種の負荷や使用状況などに応じて、任意の単位で機能的または物理的に分散・統合して構成することができる。

さらに、各装置にて行われる各処理機能は、その全部または任意の一部が、ＣＰＵ（ＭＣＵ、ＭＰＵ）および当該ＣＰＵ（ＭＣＵ、ＭＰＵ）にて解析実行されるプログラムにて実現され、あるいは、ワイヤードロジックによるハードウェアとして実行され得る。

（付記１）落下を検出した場合に記憶媒体面上のヘッドを所定の退避位置に退避する記憶装置であって、
落下しているか否かを示す落下情報を所定のサンプリング周期で落下センサーから取得して落下時間を計測する落下時間計測部と、
前記落下時間計測部により計測された落下時間が所定の測定時間内で所定の落下判定閾値を越えた回数を計数し、該計数した回数が所定の上限回数を超えていた場合に、前記落下判定閾値を延長する閾値変更部と、
前記落下時間計測部により計測された落下時間が前記閾値変更部により延長された落下判定閾値を超えた場合に、前記ヘッドを前記退避位置に退避するヘッド退避部と、
を備えたことを特徴とする記憶装置。

（付記２）前記閾値変更部は、前記落下時間計測部により計測された落下時間が前記測定時間内で前記落下判定閾値を越えた回数を計数し、該計数した回数が前記上限回数を超えていなかった場合に、前記落下判定閾値を短縮することを特徴とする付記１に記載の記憶装置。

（付記３）前記落下時間計測部により計測された落下時間に基づいて前記サンプリング周期を変更するサンプリング周期変更部をさらに備えたことを特徴とする付記１または２に記載の記憶装置。

（付記４）前記サンプリング周期変更部は、前記落下時間計測部により計測された落下時間が所定のサンプリング周期変更閾値を越えた場合に、前記サンプリング周期を短縮することを特徴とする付記３に記載の記憶装置。

（付記５）前記サンプリング周期変更部は、前記落下時間計測部により計測された落下時間が前記サンプリング周期変更閾値を超えなかった場合に、前記サンプリング周期を延長することを特徴とする付記４に記載の記憶装置。

（付記６）前記サンプリング周期変更部は、前記落下時間計測部により計測された落下時間が所定のサンプリング周期変更閾値を超えた場合に、前記サンプリングのタイミングをずらすことを特徴とする付記３に記載の記憶装置。

（付記７）前記サンプリング周期変更部は、長さが異なる複数のサンプリング周期変更閾値を段階的に設け、該サンプリング周期変更閾値ごとに決められたサンプリング周期を設定することを特徴とする付記３に記載の記憶装置。

（付記８）落下を検出した場合に記憶媒体面上のヘッドを所定の退避位置に退避する記憶装置における連続振動検出方法であって、
落下しているか否かを示す落下情報を所定のサンプリング周期で落下センサーから取得して落下時間を計測する落下時間計測工程と、
前記落下時間計測工程により計測された落下時間が所定の測定時間内で前記落下判定閾値を越えた回数を計数し、該計数した回数が所定の上限回数を超えていた場合に、前記落下判定閾値を延長する閾値変更工程と、
前記落下時間計測工程により計測された落下時間が前記閾値変更工程により延長された落下判定閾値を超えた場合に、前記ヘッドを前記退避位置に退避するヘッド退避工程と、
を含んだことを特徴とする連続振動検出方法。

（付記９）前記閾値変更工程は、前記落下時間計測工程により計測された落下時間が前記測定時間内で前記落下判定閾値を越えた回数を計数し、該計数した回数が前記上限回数を超えていなかった場合に、前記落下判定閾値を短縮することを特徴とする付記８に記載の連続振動検出方法。

（付記１０）前記落下時間計測工程により計測された落下時間に基づいて前記サンプリング周期を変更するサンプリング周期変更工程をさらに備えたことを特徴とする付記８または９に記載の連続振動検出方法。

（付記１１）前記サンプリング周期変更工程は、前記落下時間計測工程により計測された落下時間が所定のサンプリング周期変更閾値を越えた場合に、前記サンプリング周期を短縮することを特徴とする付記１０に記載の連続振動検出方法。

（付記１２）前記サンプリング周期変更工程は、前記落下時間計測工程により計測された落下時間が前記サンプリング周期変更閾値を超えなかった場合に、前記サンプリング周期を延長することを特徴とする付記１１に記載の連続振動検出方法。

（付記１３）落下を検出した場合に記憶媒体面上のヘッドを所定の退避位置に退避する記憶装置で実行される連続振動検出プログラムであって、
落下しているか否かを示す落下情報を所定のサンプリング周期で落下センサーから取得して落下時間を計測する落下時間計測手順と、
前記落下時間計測手順により計測された落下時間が所定の測定時間内で前記落下判定閾値を越えた回数を計数し、該計数した回数が所定の上限回数を超えていた場合に、前記落下判定閾値を延長する閾値変更手順と、
前記落下時間計測手順により計測された落下時間が前記閾値変更手順により延長された落下判定閾値を超えた場合に、前記ヘッドを前記退避位置に退避するヘッド退避手順と、
を前記記憶装置に実行させることを特徴とする連続振動検出プログラム。

（付記１４）落下を検出した場合に記憶媒体面上のヘッドを所定の退避位置に退避する記憶装置を制御する制御装置であって、
前記記憶装置が落下しているか否かを示す落下情報を所定のサンプリング周期で落下センサーから取得して該記憶装置の落下時間を計測する落下時間計測部と、
前記落下時間計測部により計測された落下時間が所定の測定時間内で所定の落下判定閾値を越えた回数を計数し、該計数した回数が所定の上限回数を超えていた場合に、前記落下判定閾値を延長する閾値変更部と、
前記落下時間計測部により計測された落下時間が前記閾値変更部により延長された落下判定閾値を超えた場合に、前記ヘッドを前記退避位置に退避するヘッド退避部と、
を備えたことを特徴とする制御装置。

（付記１５）前記閾値変更部は、前記落下時間計測部により計測された落下時間が前記測定時間内で前記落下判定閾値を越えた回数を計数し、該計数した回数が前記上限回数を超えていなかった場合に、前記落下判定閾値を短縮することを特徴とする付記１４に記載の制御装置。

（付記１６）前記落下時間計測部により計測された落下時間に基づいて前記サンプリング周期を変更するサンプリング周期変更部をさらに備えたことを特徴とする付記１４または１５に記載の制御装置。

（付記１７）前記サンプリング周期変更部は、前記落下時間計測部により計測された落下時間が所定のサンプリング周期変更閾値を越えた場合に、前記サンプリング周期を短縮することを特徴とする付記１６に記載の制御装置。

（付記１８）前記サンプリング周期変更部は、前記落下時間計測部により計測された落下時間が前記サンプリング周期変更閾値を超えなかった場合に、前記サンプリング周期を延長することを特徴とする付記１７に記載の制御装置。

（付記１９）前記サンプリング周期変更部は、前記落下時間計測部により計測された落下時間が所定のサンプリング周期変更閾値を超えた場合に、前記サンプリングのタイミングをずらすことを特徴とする付記１６に記載の制御装置。

（付記２０）前記サンプリング周期変更部は、長さが異なる複数のサンプリング周期変更閾値を段階的に設け、該サンプリング周期変更閾値ごとに決められたサンプリング周期を設定することを特徴とする付記１６に記載の制御装置。

以上のように、本発明に係る記憶装置、連続振動検出方法および制御装置は、落下を検出した場合に記憶媒体面上のヘッドを所定の退避位置に退避する記憶装置に有用であり、特に、パーソナルコンピュータや携帯音楽再生装置等、可搬性のある装置に搭載される磁気ディスク装置などに適している。

本実施例に係る磁気ディスク装置の概念を説明するための説明図である。 本実施例に係る磁気ディスク装置の構成を示す機能ブロック図である。 判定時間データの一例を示す図である。 サンプリング周期変更部によるサンプリング周期変更処理を説明するための説明図である。 本実施例に係る磁気ディスク装置によるヘッド退避処理の処理手順を示すフローチャートである。 サンプリング周期変更部によるサンプリング周期変更処理の処理手順を示すフローチャートである。

符号の説明

１００ 磁気ディスク装置
１１０ 磁気ディスク
１２０ ランプ
１３０ ヘッド
１４０ アクチュエータ
１５０ リードチャネル
１６０ サーボコンボチップ
１７０ ショックセンサー
１８０ インターフェース
１９０ 落下センサー
２００ ＲＡＭ
２００ａ 記録・再生データ
２００ｂ 判定時間データ
２１０ 制御部
２１０ａ データ処理部
２１０ｂ アクチュエータ制御部
２１０ｃ 判定時間データ変更部
２１０ｄ サンプリング周期変更部
２２０ ＲＯＭ

Claims (9)

1. 落下しているか否かを示す落下情報を所定のサンプリング周期で落下センサーから取得して落下時間を計測する落下時間計測部と、
   前記落下時間計測部により計測された落下時間が所定の測定時間内で所定の落下判定閾値を超えた回数を計数し、該計数した回数が所定の上限回数を超えていた場合に、前記落下判定閾値を前記落下時間を上回る時間にまで延長する閾値変更部と、
   前記閾値変更部が前記落下判定閾値を延長した後に、前記落下時間計測部により計測された落下時間が前記閾値変更部により延長された落下判定閾値を超えた場合に、前記ヘッドを所定の退避位置に退避するヘッド退避部と、
   を備えたことを特徴とする記憶装置。
2. 前記ヘッド退避部は、前記落下時間が第１閾値を超えた場合に前記ヘッドを固定シリンダへ移動し、その後さらに、前記落下時間が第２閾値を超えた場合に前記ヘッドを前記固定シリンダ以外の前記退避位置へ退避することを特徴とする請求項１に記載の記憶装置。
3. 前記閾値変更部は、前記落下時間計測部により計測された落下時間が前記測定時間内で前記落下判定閾値を越えた回数を計数し、該計数した回数が前記上限回数を超えていなかった場合に、前記落下判定閾値を短縮することを特徴とする請求項１または２に記載の記憶装置。
4. 前記落下時間計測部により計測された落下時間が所定のサンプリング周期変更閾値を超えた場合には、前記サンプリング周期を短縮、或いは前記サンプリングのタイミングをずらし、前記落下時間計測部により計測された落下時間が前記サンプリング周期変更閾値を超えなかった場合には前記サンプリング周期を延長するサンプリング周期変更部をさらに備えたことを特徴とする請求項１ないし３のいずれか１つに記載の記憶装置。
5. 前記サンプリング周期変更部は、長さが異なる複数のサンプリング周期変更閾値を段階的に設け、該サンプリング周期変更閾値ごとに決められたサンプリング周期を設定することを特徴とする請求項４に記載の記憶装置。
6. 記憶装置における連続振動検出方法であって、
   落下しているか否かを示す落下情報を所定のサンプリング周期で落下センサーから取得して落下時間を計測する落下時間計測工程と、
   前記落下時間計測工程により計測された落下時間が所定の測定時間内で前記落下判定閾値を越えた回数を計数し、該計数した回数が所定の上限回数を超えていた場合に、前記落下判定閾値を前記落下時間を上回る時間にまで延長する閾値変更工程と、
   前記閾値変更工程により前記落下判定閾値を延長した後に、前記落下時間計測工程により計測された落下時間が前記閾値変更工程により延長された落下判定閾値を超えた場合に、前記ヘッドを所定の退避位置に退避するヘッド退避工程と、
   を含んだことを特徴とする連続振動検出方法。
7. 前記ヘッド退避工程において、前記落下時間が第１閾値を超えた場合に前記ヘッドを固定シリンダへ移動し、その後さらに、前記落下時間が第２閾値を超えた場合に前記ヘッドを前記固定シリンダ以外の前記退避位置へ退避することを特徴とする請求項６に記載の連続振動検出方法。
8. 記憶装置を制御する制御装置であって、
   前記記憶装置が落下しているか否かを示す落下情報を所定のサンプリング周期で落下センサーから取得して該記憶装置の落下時間を計測する落下時間計測部と、
   前記落下時間計測部により計測された落下時間が所定の測定時間内で所定の落下判定閾値を越えた回数を計数し、該計数した回数が所定の上限回数を超えていた場合に、前記落下判定閾値を前記落下時間を上回る時間にまで延長する閾値変更部と、
   前記閾値変更部が前記落下判定閾値を延長した後に、前記落下時間計測部により計測された落下時間が前記閾値変更部により延長された落下判定閾値を超えた場合に、前記ヘッドを所定の退避位置に退避するヘッド退避部と、
   を備えたことを特徴とする制御装置。
9. 前記ヘッド退避部は、前記落下時間が第１閾値を超えた場合に前記ヘッドを固定シリンダへ移動し、その後さらに、前記落下時間が第２閾値を超えた場合に前記ヘッドを前記固定シリンダ以外の前記退避位置へ退避することを特徴とする請求項８に記載の制御装置。

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