JP4813160B2 - Icモジュールおよび非接触icカード - Google Patents

Icモジュールおよび非接触icカード Download PDF

Info

Publication number
JP4813160B2
JP4813160B2 JP2005340893A JP2005340893A JP4813160B2 JP 4813160 B2 JP4813160 B2 JP 4813160B2 JP 2005340893 A JP2005340893 A JP 2005340893A JP 2005340893 A JP2005340893 A JP 2005340893A JP 4813160 B2 JP4813160 B2 JP 4813160B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit pattern
chip
module
longitudinal direction
substrate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2005340893A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2007148672A (ja
Inventor
義人 大川
恵市 飯山
浩一郎 黒田
秀樹 高橋
雅美 谷口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dai Nippon Printing Co Ltd
Panasonic Corp
Konica Minolta Medical and Graphic Inc
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Dai Nippon Printing Co Ltd
Panasonic Corp
Konica Minolta Medical and Graphic Inc
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dai Nippon Printing Co Ltd, Panasonic Corp, Konica Minolta Medical and Graphic Inc, Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Dai Nippon Printing Co Ltd
Priority to JP2005340893A priority Critical patent/JP4813160B2/ja
Publication of JP2007148672A publication Critical patent/JP2007148672A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4813160B2 publication Critical patent/JP4813160B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73201Location after the connecting process on the same surface
    • H01L2224/73203Bump and layer connectors
    • H01L2224/73204Bump and layer connectors the bump connector being embedded into the layer connector

Landscapes

  • Credit Cards Or The Like (AREA)

Description

本発明は、メモリ、CPU等の機能を有するICチップを基材上にアンテナ回路とともに搭載したICモジュールおよび非接触ICカードに関するものである。
従来、一般的に使用されている身分証明用IDカード、クレジットカード各種は、プラスチック製カード上に磁気ストライプをラミネートして、この部分に記録された情報を専用のカードリーダを用いて読み取る方法が広く用いられてきた。しかしながら磁気記録方式では、第三者によって情報が解読され易く、かつ、データの改ざんや偽造カードが出まわる可能性が高い。このような偽造カードによって被害をうける人も出てきており社会問題となっている。また、情報量の増加から記憶容量の増加も望まれている。
そこで、近年では、記憶容量の増加及び暗号化データを搭載することができ、より個人情報のセキュリティ性を向上することができる点から、メモリ、CPU等の機能を有するICチップを備えたICカードが注目を浴びている。
また、そのICカードの形態も、カード内部の回路とカード用のリーダとのデータ授受の手段として、電気的に接合するための接続端子を有している接触型のICカードは、その構造上、ICの静電気破壊、接続端子の接触不良、カード用リーダの構造の複雑さ等、様々な課題があり、それらを解決する手段として、非接触ICカードがあり、既に実用化されている。
この非接触ICカードの一般的な構造は、樹脂製のシートに、アルミ、銅等の金属箔を貼り付けたシート状のものを、オフセット印刷、グラビア印刷、スクリーン印刷、写真印刷等の公知の印刷方法でレジスト印刷を施した後、エッチング処理によって形成されるアンテナ回路上に、直接ICチップをベアチップ実装したICモジュールの片面もしくは両面にホットメルト接着剤等のコア材とその両面外側にプラスチック製の表面保護シートを積層させた状態で加熱プレス機による熱融着によって一体化させ、所定サイズに金型で打ち抜いたものである。
このような構造のICカードでは、ICチップに加わる「曲げストレス」に対して弱く、ICチップの破損や、アンテナ回路を構成しているアルミ、銅等の金属箔が断線を起こすケースが見られる。この問題を解消し、ICチップの破損に耐える構造が提案されている(例えば、特許文献1参照)。
すなわち、図11に示すように、特許文献1に開示されている非接触ICタグ100は、略矩形の基材101に一対の電極102を有するICチップ103と、電極102を通してICチップ103と接続するアンテナとなる回路パターン104を有する。一対の電極102を結ぶ直線Mが、基材101の長手方向Nに対して略垂直に配置され、これにより、非接触ICタグ100は基材101の長手方向に対して「曲げストレス」が加わってもICチップ103の破損や、回路パターン104の断線を防止するようになっている。
また、ICチップ103への点圧や衝撃に対する耐久強度を高める目的で、ICチップ103の電極102とは反対側となる面を覆う補強板を具備した構造も提案されている(例えば、特許文献2参照)。
特開2000−200328号公報 特開2002−163623号公報
しかしながら、市場でのトラブルを減少させようとする観点から、従来のJIS規格を上回る強度試験をクリアすることが求められる傾向にある。例えば、ICチップを搭載したカードを、ICチップを中心として長手方向で表裏両側に繰返し曲げて、破損しないものを合格とするものである。
従って、図11において前述したような非接触ICタグ100では、まだ「曲げストレス」に対して充分な強度を得ることができない虞がある。つまり、図12に示すように、非接触ICタグ100の長手方向にある程度の「曲げストレス」が生じた場合、ICチップ103の端面103aにより、回路パターン104に応力がかかり、この部分から回路パターン104にクラック105が生じで断線が発生するという課題がある。
また、特許文献2に記載された補強板を備えた構造の場合においては長手方向の「曲げストレス」に対して、補強板端面による回路パターンへの応力集中による断線不具合が発生するという課題がある。
本発明は、上記した課題に鑑みてなされたものであり、曲げストレスが生じて回路パターンに応力がかかっても、回路パターンの断線を防ぐことができるICモジュールおよび非接触ICカードを提供することを目的とする。
上記した目的を達成するため、本発明にかかるICモジュールの第1の特徴は、基材と、前記基材上に形成された回路パターンと、前記回路パターンと電気的に接合する複数の電極を有して前記基材にフェースダウン方式で実装されるICチップとを備えたICモジュールであって、前記回路パターンは、前記電極の接続部近傍において前記ICチップの角部を含むように前記ICチップの周縁より突出した突出部を備えている。
係る構成によれば、ICモジュールが長手方向に曲げられてICチップの一辺が回路パターンに当接し、当接した部分にクラックが入っても、突出部で回路パターンは接続されているため断線を防止することができる。
また、本発明にかかるICモジュールの第2の特徴は、基材と、前記基材上に形成された回路パターンと、前記回路パターンと電気的に接合する複数の電極を有して前記基材にフェースダウン方式で実装されるICチップとを備えたICモジュールであって、前記回路パターンは、前記基材の長手方向と直交する前記ICチップの一端を除いた周縁から突出して形成されている。
係る構成によれば、ICモジュールが長手方向に曲げられてICチップの一辺が回路パターンに当接しても、電極が接続する回路パターンはICモジュールの長手方向と直交するICチップの一端を除いた周縁から突出して形成されているので、突出部では回路パターンは破損することなく接続される。
また、本発明にかかるICモジュールの第3の特徴は、基材と、前記基材上に形成された回路パターンと、前記回路パターンと電気的に接合する複数の電極を有して前記基材にフェースダウン方式で実装されるICチップとを備えたICモジュールであって、前記回路パターンは、前記ICチップの周縁から前記基材の長手方向と直交する方向に延伸した第1の回路パターンと、前記基材の長手方向に延伸した第2の回路パターンとを備えている。
係る構成によれば、ICモジュールが長手方向の曲げを受けた際に、第2の回路パターンがICチップに当接して破損しても、長手方向と直交する方向に延伸した第1の回路パターンは破損しないので、ICモジュールは回路パターンが断線する可能性を小さくすることができる。
また、本発明にかかるICモジュールの第4の特徴は、上記本発明の第1乃至第3の特徴において、前記ICチップの電極とは反対側となる面を覆う補強板を具備している。
係る構成によれば、ICモジュールはICチップ14上に補強板21を具備しているので、ICチップ14への点圧や衝撃に対する耐久強度を高めることができる。
また、本発明にかかるICモジュールの第5の特徴は、基材と、前記基材上に形成された回路パターンと、前記回路パターンと電気的に接合する複数の電極を有して前記基材にフェースダウン方式で実装されるICチップと、前記ICチップの電極とは反対側となる面を覆う補強板を備えたICモジュールであって、前記回路パターンは、前記電極の接続部近傍において前記補強板の角部を含むように前記補強板の周縁より突出した突出部を備えている。
係る構成によれば、ICモジュールが長手方向に曲げられて補強板の一辺が回路パターンに当接し、当接した部分にクラックが入っても、突出部で回路パターンは接続されているため断線を防止することができる。
また、本発明にかかるICモジュールの第6の特徴は、基材と、前記基材上に形成された回路パターンと、前記回路パターンと電気的に接合する複数の電極を有して前記基材にフェースダウン方式で実装されるICチップと、前記ICチップの電極とは反対側となる面を覆う補強板を備えたICモジュールであって、前記回路パターンは、前記基材の長手方向と直交する前記補強板の一端を除いた周縁から突出して形成されている。
係る構成によれば、ICモジュールが長手方向に曲げられて補強板の一辺が回路パターンに当接しても、電極が接続する回路パターンはICモジュールの長手方向と直交する補強板の一端を除いた周縁から突出して形成されているので、突出部では回路パターンは破損することなく接続される。
また、本発明にかかるICモジュールの第7の特徴は、基材と、前記基材上に形成された回路パターンと、前記回路パターンと電気的に接合する複数の電極を有して前記基材にフェースダウン方式で実装されるICチップと、前記ICチップの電極とは反対側となる面を覆う補強板を備えたICモジュールであって、前記回路パターンは、前記補強板の周縁から前記基材の長手方向と直交する方向に延伸した第1の回路パターンと、前記基材の長手方向に延伸した第2の回路パターンとを備えている。
係る構成によれば、ICモジュールが長手方向に曲げられて補強板の一辺が第2の回路パターンに当接し、当接した部分にクラックが入っても、第1の回路パターンは接続されているため断線を防止することができる。
また、本発明にかかる非接触ICカードの第8の特徴は、上記本発明の第1乃至第7の特徴のICモジュールを備えたことにある。
このように構成された非接触ICカードにおいては、ICカードの長手方向の曲げを受けた際に、ICチップからICモジュールの長手方向に突出している回路パターンがICチップに接触して破損するような場合が生じても、ICチップの周縁よりICモジュールの長手方向と直交する方向に突出している突出部は破損しないので、回路パターンの断線を防止することができる。
本発明によれば、基材上に形成された回路パターンに、ICチップの電極との接続部近傍においてICチップの角部を含むようにICチップの周縁より突出した突出部を備えている、または曲げの応力がかからない方向に回路パターンが延伸しているという簡単なパターンの形成により、ICモジュールが長手方向に曲げられてICチップにより応力が加わっても、回路パターンとICチップの電極との接続は破損しないので、曲げストレスに強いICモジュールを提供することができる。
また、チップへの点圧や衝撃に対する耐久強度を高める目的で、チップの電極とは反対側となる面を覆う補強板を備える構造においても、基板上に形成された回路パターンに、曲げの応力がかからない方向に回路パターンが延伸しているという簡単なパターンの形成により、ICモジュールが長手方向に曲げられてICチップ補強板により応力が加わっても、回路パターンとICチップの電極との接続は破損しないので、曲げストレスに強いICモジュールを提供することができる。
以下、本発明に係る好適な実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。
図1は本発明に係る第1の実施の形態によるICモジュールの一例を示す平面図、図2は図1におけるII−II位置の拡大断面図である。
図1に示すように、本発明の第1の実施の形態であるICモジュール10は、基材11と、この基材11上に形成された回路パターン12と、回路パターン12と電気的に接合する複数の電極(バンプ)13、13を有して基材11にフェースダウン方式で実装されるICチップ14とを具備している。
回路パターン12は、電極13の接続部近傍においてICチップ14の角部の周縁14a,14bよりそれぞれ基材の長手方向(図1において左右方向)およびそれに直交する方向(図1において上下方向)に突出した突出部15を備えている(図2参照)。
なお、図1に示すICモジュール10では、電極13が接続される回路パターン12が、基材11の長手方向に直交する方向に突出するとともに、前記突出部とともにICチップ14の一端14bから基材11の長手方向に向かって形成されている。
ICモジュール10は、樹脂製シート、例えばPET(ポリエステルテレフタレート)、PEN(ポリエチレンナフタレート)、PI(ポリイミド)製のシートから構成されている。
このICモジュール10の片面もしくは両面(本実施形態では片面のみ)には、アルミもしくは銅等の金属シートで構成された導体回路としてのコイル状の回路パターン12が形成されており、この回路パターン12は、電極13との接続部分においてICチップ14の角部の周縁14aより基材の長手方向(図1において左右方向)および直交する方向(図1において上下方向)に突出した突出部15を形成している。
回路パターン12は、外部機器との間で信号を送受する目的、例えば、電波信号を送受信するアンテナとしての機能の他に、ICチップ14を実装するための電極パット用途および、ICチップ14に回路構成されたCPU等の動作用電力を外部機器から受けることを目的としている。
図1および図2に示すように、ICチップ14の一対の電極13、13は、ICチップ14の長手方向に沿ってレイアウトされている。
電極13、13は、例えば、金からなり、メッキや、スタッドバンプ方式などにより形成される。
ICチップ14は、チップの長手方向が、基材11の長手方向に対してほぼ垂直方向となるように配置した状態でフェースダウン方式により基材11上に搭載され、チップ接合用接着シート16を介してフリップチップ工法により実装される。
このように実装することにより、ICチップ14は、基材11の長手方向とほぼ平行にレイアウトした場合と同程度の曲げストレスを受けたとしても、より少ない曲げ変形量ですむ。したがって、ICチップ14の曲げストレスによる破損の可能性を軽減できる。
上記コイル状の回路パターン12は、樹脂製シートにアルミ、銅等の金属シートを接着シート16で貼り合わせた後、オフセット印刷、グラビア印刷、スクリーン印刷、写真印刷等の公知の印刷方法でレジスト印刷を施した後エッチング処理によって形成されるか、もしくは、導電性ペーストをスクリーン印刷によって形成する。もしくは、それらの組み合わせである。
回路パターン12とICチップ14との接合に使用しているチップ接合用接着剤17は、ペースト状態でのディスペンサー塗布か印刷法による塗布、もしくは、シート状態での貼付け手段により電極13を介して、ICチップ14がフリップチップ工法により、回路パターン12に接続される。
ペースト状の接合用接着剤としては、ACP(Anisotropic Conductive Paste:異方性導電ペースト)やNCP(Non Conductive Paste:非導電性ペースト)等があり、シート状の接合用接着剤としては、ACF(Anisotropic Conductive Film:異方性導電フィルム)等がある。
以上、前述した第1の実施の形態に係るICモジュール10によれば、ICチップ14の電極13との接続部付近の回路パターン12に、電極の接続部近傍においてICチップ14の角部を含むように基材11の長手方向およびそれに直交する方向に突出した突出部15を設けたので、ICチップ14を中心に、ICモジュール10を基材11の長手方向に折り曲げてもICチップ14の一端14bによる応力を受けない回路パターン12が存在することになる。従って、ICモジュール10に長手方向の曲げ試験が繰返し作用した際に、ICチップ14の一端14b側で回路パターン12の対応面が断線しても、突出部15においてはICチップ14と回路パターン12とは導通状態を維持することができる。これにより、ICモジュール10は長手方向の曲げに強い回路パターン12を構成することができる。
また、併せて、ICチップ14の一対の電極13、13は、ICチップ14の長手方向に沿ってレイアウトされ、かつ、ICチップ14の長手方向が基材11の長手方向に対してほぼ垂直方向となるように基材11に搭載されているため、ICチップ14自体にかかる曲げストレスを軽減することができる。
次に、本発明に係る第2の実施の形態について説明する。
図3には、本発明の第2の実施の形態に係るICモジュール10BにおけるICチップ14の電極13と回路パターン12との接続が示されている。なお、前述した第1の実施の形態と共通する部位には同じ符号を付して、重複する説明を省略することとする。
図3に示すように、このICモジュール10Bでは、ICチップ14の電極13に接続される回路パターン12の一部の回路パターン12aが、基材11の長手方向と直交するICチップ14の一端14bを除いた周縁14aから突出して形成されている。
以上、前述したICモジュール10Bによれば、ICチップ14の電極13から延伸されている回路12aは、基材11の長手方向に垂直の方向に出ているため、ICモジュールの長手方向に曲げが繰返し作用しても、回路パターン12aには、ICチップ14の応力がかからないため、回路パターン12aに断線が生じるのを防止できる。これにより、ICモジュール10Bは、長手方向の曲げに強い回路パターン12を構成できる。
なお、ここでは、回路パターン12aが、ICチップ14の周縁から基材11の長手方向と直交する方向に延伸しているとしたが、基材11の長手方向と直交するICチップ14の端面を通らない時は、斜めに延伸しても同様の効果を得ることができる。
次に、本発明に係る第3の実施の形態について説明する。
図4には、本発明の第3の実施の形態に係るICモジュール10CにおけるICチップ14の電極13と回路パターン12との接続部が示されている。なお、前述した第1の実施の形態と共通する部位には同じ符号を付して、重複する説明を省略することとする。
図4に示すように、このICモジュール10Cでは、電極13に接続される回路パターン12が、ICチップ14の周縁14a,14bより基材11の長手方向と直交する方向(図4において上下方向)に延伸する第1の回路パターン12Aと基材11の長手方向(図4において左右方向)に延伸する第2の回路パターン12Bとを装備している。
以上、前述したICモジュール10Cによれば、基材11の長手方向と直交する方向に延伸する第1の回路パターン12Aと、基材11の長手方向に延伸する第2の回路パターン12Bを設けたので、ICモジュール10Cに、長手方向に曲げが繰返し作用して、ICチップ14の応力により、第2の回路パターン12Bが破損した場合でも、第1の回路パターン12Aにより導通を図ることができる。これにより、ICモジュール10Cは長手方向の曲げに強い回路パターン12を構成できる。
次に、本発明に係る第4の実施の形態について説明する。
図5は、本発明の第4の実施の形態によるICモジュールの一例を示す平面図、図6は図5におけるII−II位置の拡大断面図である。
本実施の形態は、先に述べた第1の実施の形態に対し、ICチップ14上に補強板21を具備した構造で、これによりICチップ14への点圧や衝撃に対する耐久強度を高めている。
回路パターン12は、ICチップ14の角部を含むように前記ICチップ14の周縁14a,14bより突出した突出部を備えている。あるいは、回路パターン12は基材11の長手方向と直交するICチップ14の周縁14bを除いた周縁14aから突出して形成されている。あるいは、回路パターン12は、ICチップ14の周縁14a,14bから基材11の長手方向と直交する方向と長手方向の両方向に延伸して形成されており、ICモジュール10Dは長手方向に曲げられて、ICチップ14や補強板21に圧力が加わっても、回路パターン12とICチップ14の電極13との接続は破損しないという曲げストレスに強い回路パターン12を構成している。
次に、本発明に係る第5の実施の形態について説明する。
図7は、本発明の第5の実施の形態によるICモジュール10Eにおける回路パターン12と補強板21の位置関係を示す平面図である。
ICチップ14の端面で、回路パターン12が断線するのと同様、補強板21の端面でも回路パターン12が断線する虞がある。回路パターン12は、電極13の接続部近傍において補強板21の角部を含むように補強板21の周縁21a,21bより突出して形成されている。これにより、ICモジュール10Eの長手方向の曲げに対し、補強板21により回路パターン21が断線することが無いため、長手方向の曲げに強いICモジュールの構成となっている。
次に、本発明に係る第6の実施の形態について説明する。
図8は、本発明の第6の実施の形態によるICモジュール10Fにおける回路パターン12と補強板21の位置関係を示す平面図である。
このICモジュール10Fでは、回路パターン12は、基材11の長手方向と直交する補強板21の周縁21bを除いた周縁21aから突出して形成されている。これにより、ICモジュール10Fの長手方向の曲げに対し、補強板21により回路パターン12が断線することが無いため、長手方向の曲げに強いICモジュールの構成となっている。なお、図8では回路パターン12が補強板21の周縁から基材11の長手方向と直交する方向に延伸して形成されているが、基材11の長手方向と直交する補強板21の端面を通らないときは、斜めに延伸しても同様の効果を得ることができる。
次に、本発明に係る第7の実施の形態について説明する。
図9は、本発明の第7の実施の形態によるICモジュール10Gにおける回路パターン12と補強板21の位置関係を示す平面図である。
このICモジュール10Gでは、回路パターン12は、補強板21の周縁21a,21bから基材11の長手方向と直交する方向に延伸して形成された第1の回路パターン12Aと、基材11の長手方向に延伸して形成された第2の回路パターン12Bとを備えている。これにより、ICモジュール10Gは長手方向に曲げられて、補強板21の周縁21bにより回路パターン12Bが断線しても、他の回路パターン12Aは断線しないため、電気的特性は維持される。したがって、ICモジュール10Gは長手方向に強い構成となっている。
次に、本発明に係る第8の実施の形態について説明する。
図10は、本発明の第1から第7の実施の形態に係るICモジュールを内蔵する非接触ICカード18の構成例を示す。
非接触ICカード18は、コア材19がホットメルト接着剤で構成され、ICモジュールにIC実装部の凸部があってもホットメルト接着剤が凸部の周辺に回り込むためにICモジュールを平らに装填でき、必要に応じてICモジュールの裏面にもコア材19を接合し、さらに表裏両面にオーバーレイの表面保護シート20をラミネート加工して構成されている。
以上、前述した非接触ICカード18においては、非接触ICカード18が長手方向の曲げを受けた際に、ICチップ14の電極13の接続部近傍において前記ICチップ14の角部の周縁より非接触カード18の長手方向およびそれに直交する方向に回路パターン12が突出した突出部15を備えている、または曲げの応力がかからない方向に回路パターン12が延伸しているという構成により、非接触カード18が長手方向に曲げられてICチップ14による応力が加わっても、回路パターン12とICチップ14の電極13との接続は破損しないので、曲げストレスに強い非接触ICカード18を成形することができる。
ICチップに補強板を備えた場合でも、補強板が無い場合と同様にICカードを構成でき、ICチップの端面および補強板の端面での曲げストレスに対しても強い非接触ICカード18を形成することができる。
なお、本発明のICモジュールは、前述した各実施の形態に限定されるものでなく、適宜な変形,改良等が可能である。
例えば、前述した各実施の形態において、ICモジュールを非接触ICカードに仕上げることを前提として説明しているが、ICタグ等、広く曲げストレスを受ける半導体装置にも適用可能である。
本発明の非接触ICカード用ICモジュールは、回路パターンの構成により非接触カードの長手方向の曲げに強い構造を提供するもので、実施は容易であり、また今後非接触ICカードが広く使われるようになると、使い方もさまざまとなり、さらに剛性が求められるケースにおいて、本発明は有用である。
本発明の第1の実施の形態に係るICモジュールの一例を示す平面図である。 図1におけるII−II位置の拡大断面図である。 本発明の第2の実施の形態に係るICモジュールの一例を示す平面図である。 本発明の第3の実施の形態に係るICモジュールの一例を示す平面図である。 本発明の第4の実施の形態に係るICモジュールの一例を示す平面図である。 図5におけるII−II位置の拡大断面図である。従来の問題点を示す非接触ICタグにおける断面図である。 本発明の第5の実施の形態に係るICモジュールの一例を示す平面図である。 本発明の第6の実施の形態に係るICモジュールの一例を示す平面図である。 本発明の第7の実施の形態に係るICモジュールの一例を示す平面図である。 本発明の第8の実施の形態に係る非接触ICカードの断面図である。 従来のICモジュールの平面図である。 従来の非接触ICカードの問題点を示すICチップ近傍の断面図である。
符号の説明
10 ICモジュール
11、101 基材
12 回路パターン
12A 第1の回路パターン
12B 第2の回路パターン
13、102 電極
14、103 ICチップ
14a、14b 周縁
15 突出部
16 接着シート
17 チップ接合用接着剤
18 非接触ICカード
19 コア材
20 表面保護シート
21 補強板
21a、21b 補強板の周縁

Claims (4)

  1. 基材と、前記基材上に形成された回路パターンと、前記回路パターンと電気的に接合する複数の電極を有して前記基材にフェースダウン方式で実装されるICチップとを備えたICモジュールであって、
    前記回路パターンは、複数の第一の回路パターンと複数の第二の回路パターンとを備え、
    前記複数の第一の回路パターンのそれぞれは、その一端が前記複数の電極のひとつとそれぞれ接合され、前記基材の長手方向と直交する方向に延伸したものであり、
    前記複数の第二の回路パターンのそれぞれは、その一端が前記複数の電極のひとつとそれぞれ接合され、前記基材の長手方向に延伸したものである、
    ことを特徴とするICモジュール。
  2. 前記ICチップの電極とは反対側となる面を覆う補強板を具備していることを特徴とする請求項1に記載のICモジュール。
  3. 基材と、前記基材上に形成された回路パターンと、前記回路パターンと電気的に接合する複数の電極を有して前記基材にフェースダウン方式で実装されるICチップと、前記ICチップの電極とは反対側となる面を覆う補強板を備えたICモジュールであって、
    前記回路パターンは、複数の第一の回路パターンと複数の第二の回路パターンとを備え、
    前記複数の第一の回路パターンのそれぞれは、その一端が前記複数の電極のひとつとそれぞれ接合され、前記基材の長手方向と直交する方向に延伸したものであり、
    前記複数の第二の回路パターンのそれぞれは、その一端が前記複数の電極のひとつとそれぞれ接合され、前記基材の長手方向に延伸したものである、
    ことを特徴とするICモジュール。
  4. 請求項1から請求項のいずれか1項に記載のICモジュールを備えたことを特徴とする非接触ICカード。
JP2005340893A 2005-11-25 2005-11-25 Icモジュールおよび非接触icカード Expired - Fee Related JP4813160B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005340893A JP4813160B2 (ja) 2005-11-25 2005-11-25 Icモジュールおよび非接触icカード

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005340893A JP4813160B2 (ja) 2005-11-25 2005-11-25 Icモジュールおよび非接触icカード

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2007148672A JP2007148672A (ja) 2007-06-14
JP4813160B2 true JP4813160B2 (ja) 2011-11-09

Family

ID=38210036

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005340893A Expired - Fee Related JP4813160B2 (ja) 2005-11-25 2005-11-25 Icモジュールおよび非接触icカード

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4813160B2 (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009217670A (ja) * 2008-03-12 2009-09-24 Panasonic Corp Rfidタグとそれを用いた管理システム
JP6679244B2 (ja) * 2015-08-27 2020-04-15 富士通株式会社 Rfidタグ
US10032104B2 (en) 2016-06-02 2018-07-24 Fujitsu Limited RFID tag

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06340192A (ja) * 1993-06-02 1994-12-13 Mitsubishi Electric Corp Icカード
US5975420A (en) * 1995-04-13 1999-11-02 Dai Nippon Printing Co., Ltd. Apparatus and method of manufacturing an integrated circuit (IC) card with a protective IC module
JP2003258528A (ja) * 2002-02-27 2003-09-12 Toppan Forms Co Ltd Icチップ実装体
JP4322558B2 (ja) * 2003-05-30 2009-09-02 株式会社ルネサステクノロジ 電子タグ用インレットの製造方法
JP2005129779A (ja) * 2003-10-24 2005-05-19 Seiko Epson Corp 半導体装置および半導体モジュール
JP2005293460A (ja) * 2004-04-05 2005-10-20 Matsushita Electric Ind Co Ltd 非接触icカード用インレットおよび非接触icカード

Also Published As

Publication number Publication date
JP2007148672A (ja) 2007-06-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101105626B1 (ko) 반도체장치, 반도체장치의 제조방법, 전자상거래방법 및트랜스폰더 독취장치
US20110011939A1 (en) Contact-less and dual interface inlays and methods for producing the same
JP2011018319A (ja) コンビカード及びそれを用いたコンビカード通信装置
JP2011087025A (ja) Icカード
JP4813160B2 (ja) Icモジュールおよび非接触icカード
JP4176244B2 (ja) チップカード
KR100846236B1 (ko) 스마트 카드 웹 및 그 제조 방법
JP5771946B2 (ja) 非接触及び接触共用icカード
JP2007193598A (ja) Icカード
JP2003006588A (ja) Icモジュールとその製造方法、およびicカード製造方法
JP2000200328A (ja) 半導体装置
JP6011124B2 (ja) 非接触及び接触共用icカード、非接触及び接触共用icカードの製造方法
JP2000172814A (ja) 複合icモジュール及び複合icカード
JP5699825B2 (ja) 非接触及び接触共用icカード、非接触及び接触共用icカードの製造方法
JP6451298B2 (ja) デュアルインターフェイスicカード、及び、当該icカードに用いられるicモジュール
JP4929930B2 (ja) アンテナシート、icインレット及び情報記録媒体
JP2007114991A (ja) 複合icカードと複合icカード用icモジュール
KR200440089Y1 (ko) 알에프아이디 카드
JP2005078101A (ja) 接触型非接触型ハイブリットicモジュールとそれを使用した接触型非接触型ハイブリットicカード
JP5216390B2 (ja) 接続部材
JP2005293460A (ja) 非接触icカード用インレットおよび非接触icカード
JP2001266099A (ja) 非接触icカード
JP2004220305A (ja) 複合型icカード
JP4469639B2 (ja) Rf−idメディア
JP2006344027A (ja) Icカードモジュール

Legal Events

Date Code Title Description
RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20071113

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20071120

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20081125

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711

Effective date: 20110210

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20110210

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110517

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110715

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110802

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110824

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4813160

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140902

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313115

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313117

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees