JP4811014B2 - 固体電解コンデンサ素子製造用乾燥装置 - Google Patents
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Description
例えば、コンデンサ素子の一例として図1に示す例は、複数のコンデンサ素子を積層した従来のチップ形状積層型固体電解コンデンサの断面図である。外装樹脂(16)の内部にあるコンデンサ素子(11)が方向を揃えて配置されており、コンデンサ素子(11)の陰極部(11a)はそれぞれ導電性接着剤で接合されており、陰極リード部(13)と導電性接着剤で接合されている。また、コンデンサ素子(11)の陽極部(11b)は陽極リード部(14)との接合部(15)において抵抗溶接により接合された状態を示しており、この全体がエポキシ樹脂等の外装樹脂(16)によって封口されている。
1.区分された断面形状を有している複数の通風路が内在された送風機構を有することを特徴とする乾燥装置。
2.断面形状が同一または類似している前記1に記載の乾燥装置。
3.区分された断面形状を有している複数の通風路の空気供給側及び/または空気回収側に、少なくとも1秒あたりの乾燥風量以上の容量を有するチャンバーを備えた送風機構を有する前記1または2に記載の乾燥装置。
4.チャンバーに接続された、区分された断面形状を有している複数の通風路が同じ長さを有している送風機構を有する前記1〜3のいずれかに記載の乾燥装置。
5.通風路の長さが、通風路断面形状の内接円直径の5倍以上である複数の通風路を有した送風機構を有する前記1〜4のいずれかに記載の乾燥装置。
6.前記通風路の断面形状が、直角三角形、二等辺三角形、正三角形、平行四辺形、長方形、菱形、台形、長方形、正方形、または正六角形である前記1〜5のいずれかに記載の乾燥装置。
7.温度及び/または湿度を制御した空気が、通風路入口に接続したチャンバーを通じて該通風路に流入し、該通風路出口から層流状態で流出して該通風路出口に設置した部材を乾燥する前記1〜6のいずれかに記載の乾燥装置。
8.コンデンサ素子となる化成箔に付着した溶液を乾燥する前記1〜7のいずれかに記載の乾燥装置。
9.保持体に下げられた複数の化成箔に付着した溶液を乾燥する装置であって、通風路の断面形状の辺長が前記化成箔相互間隔の1倍〜10倍である前記1〜8のいずれかに記載の乾燥装置。
10.保持体に下げられた複数の化成箔に対して、その一方向側または両方向側に設置して該化成箔に付着した溶液を乾燥する前記1〜9のいずれかに記載の乾燥装置。
11.通風路の送風速度が0.05〜1.5m/sである前記1〜10のいずれかに記載の乾燥装置。
12.化成箔に付着した溶液を乾燥する空気の通風路と共に、バイパス通風路を有する前記1〜11のいずれかに記載の乾燥装置。
13.バイパス通風路に風量調整用ダンパーが設けられている前記12に記載の乾燥装置。
14.化成箔に付着した溶液を乾燥する空気の通風路の空気量に対して、バイパス通風路の空気量が10倍以下である前記12または13に記載の乾燥装置。
15.化成箔に付着した溶液を乾燥する空気の通風路とバイパス通風路の何れか又は両方に、送風空気の温度及び/または湿度を測定するセンサーを有し、送風空気の雰囲気を制御する前記12〜14のいずれかに記載の乾燥装置。
16.弁作用金属表面に形成された誘電体皮膜上に固体電解質層が形成されたコンデンサ素子を含む固体電解コンデンサの製造方法において、固体電解質層を、モノマーを含む溶液に浸漬して乾燥する工程(乾燥工程1)と酸化剤を含む溶液に浸漬して乾燥する工程(乾燥工程2)により形成する場合において、前記1〜15のいずれかに記載の乾燥装置を用いて乾燥することを特徴とする固体電解コンデンサの製造方法。
17.前記16の製造方法で製造された固体電解コンデンサ。
18.電子機器用素子に付着した水分または液を乾燥する前記1〜7のいずれかに記載の乾燥装置。
19.前記17の乾燥装置を使用して製造された電子機器用素子。
また、本発明の乾燥装置は、通風路の上流に十分な容量を有したチャンバーを備え、チャンバーに断面形状を有した複数の通風路を接続した構造を有することによって、各通風路の風速ないし風量が均一になり、各通風路出口の直近にコンデンサ素子(化成箔)を配置することによって、化成箔が何れの通風路の出口に設置しても均一な風速ないし風量の乾燥用空気が化成箔に供給されるので、多数の化成箔を均一に乾燥させることが出来るため、均一な膜厚で形状安定性に優れた固体電解質を効率よく製造することができる。
本発明の乾燥装置を使用して製造する固体電解コンデンサ素子の一例を図2に示す。
図示するように、陽極基板(1)の表面に誘電体皮膜(2)が形成されており、誘電体皮膜(2)は、通常、弁作用を有する金属の多孔質成形体を化成処理する方法等により形成される。本発明に使用できる弁作用金属はアルミニウム、タンタル、ニオブ、チタン、ジルコニウム、マグネシウム、珪素などの金属単体、またはこれらの合金である。また、多孔質の形態については、圧延箔のエッチング物、微粉焼結体などの多孔質成形体の形態であればいずれでもよい。
乾燥装置(30)は、保持体(22)に下げられた多数の化成箔(21)を乾燥する場合、その一方向側または両方向側に設置して用いられる。例えば、通風路(31)から流れ出る乾燥空気流の方向が化成箔(21)の上から下である場合、通風路(31)の位置は化成箔(21)の上側のみにあっても、下側のみにあっても、或いは上側下側の双方にあっても良い。なお、上側下側の双方にあることが優れて好ましい。通風路(31)が化成箔(21)の上側のみにある場合、化成箔(21)に供給される空気の速度は一様となるが、排気の流れは通風路(31)で制限されることがないため、化成箔表面を流れる空気は、通風路(31)を上側下側の双方に設置した場合に比べて一様にならない。通風路(31)が化成箔の下側のみにある場合はその逆となり、同様に化成箔表面を流れる空気の速度は一様にならない。通風路(31)が上側下側の双方にあると、上側の通風路を出た空気は、化成箔などの障害物によって、ある程度、速度が不均一な状態となるものの、それを矯正するように下側の通風路が排気する空気の量を制限するため、結果的に極めて均一な風速を化成箔の全域で得ることが出来る。
アルミニウム化成箔()以下、化成箔と称する。)を短軸方向3mm×長軸方向10mmに切り出し、長軸方向を4mmと5mmの部分に区切るように、両面に幅1mmのポリイミド溶液を周状に塗布、乾燥させマスキングを作成した。この化成箔の3mm×4mmの部分を、10質量%のアジピン酸アンモニウム水溶液で4Vの電圧を印加して切り口部分に化成し、誘電体酸化皮膜を形成した。次に、この化成箔の3mm×4mmの部分を、3,4−エチレンジオキシチオフェンを溶解させたイソプロピルアルコール(IPA)溶液に5秒間含浸し、これを本発明の乾燥装置を用いて乾燥した(乾燥工程1)。この乾燥装置の通風路の断面形状を図6に示す。図示するように、この通風路は正六角形断面を有し、対向する辺の距離が9.5mmのものである(日本飛行機工業株式会社製、型式AL3/8-5052-.002、幅100mm)。その後、過硫酸アンモニウム水溶液に上記化成箔を浸漬した。続いてこの化成箔を本発明の乾燥装置(図4に示すもの)を上下に配置して、40℃、10分間乾燥し(乾燥工程2)、酸化的重合を行った。この浸漬工程及び重合工程を繰り返し、導電性重合体の固体電解質層をアルミニウム箔の外表面に形成した。最終的に生成したポリマー(3,4−エチレンジオキシチオフェン)を温水中で洗浄し、その後乾燥を行い、固体電解質層を形成した。
次に、固体電解質層を形成した3mm×4mmの部分を、アジピン酸アンモニウム溶液中に浸漬し、固体電解質層を形成していない部分の弁作用金属箔に陽極の接点を設けて電圧を印加し、再化成を行った。
本発明の乾燥装置において、通風路の断面形状が正六角形で対向する辺の距離が6.35mmのもの(日本飛行機工業株式会社製、型式:AL1/4-5052-.001、幅100mm、断面形状を図7に示す)を使用した以外は実施例1と同様にして合計100個のコンデンサを完成させた。これら100個のコンデンサ素子について、初期特性として120Hzにおける容量と損失係数(tanδ×100%)、等価直列抵抗(ESR)、及び漏れ電流を測定した。なお、漏れ電流は定格電圧を印加して1分後に測定した。表1にこれらの測定値の平均値と、0.002CV以上の漏れ電流を不良品としたときの不良数を示した。ここで、漏れ電流の平均値は不良品を除いて計算した値である。
本発明の乾燥装置において、通風路の断面形状が正方形で一辺の長さが12mmのもの(材質:SUS304、板厚0.2mm)を使用した以外は実施例1と同様にして合計100個のコンデンサを完成させた。これら100個のコンデンサ素子について、初期特性として120Hzにおける容量と損失係数(tanδ×100%)、等価直列抵抗(ESR)、及び漏れ電流を測定した。なお、漏れ電流は定格電圧を印加して1分後に測定した。表1にこれらの測定値の平均値と、0.002CV以上の漏れ電流を不良品としたときの不良数を示した。ここで、漏れ電流の平均値は不良品を除いて計算した値である。
本発明の乾燥装置において、通風路の断面形状が正三角形で一辺の長さが12mmのもの(材質:SUS304、板厚0.2mm)を使用した以外は実施例1と同様にして合計100個のコンデンサを完成させた。これら100個のコンデンサ素子について、初期特性として120Hzにおける容量と損失係数(tanδ×100%)、等価直列抵抗(ESR)、及び漏れ電流を測定した。なお、漏れ電流は定格電圧を印加して1分後に測定した。表1にこれらの測定値の平均値と、0.002CV以上の漏れ電流を不良品としたときの不良数を示した。ここで、漏れ電流の平均値は不良品を除いて計算した値である。
化成箔を3,4−エチレンジオキシチオフェンを溶解させたイソプロピルアルコール(IPA)溶液に5秒間含浸し、これを室内で5分間乾燥し(すなわち本発明の乾燥装置を用いずに乾燥工程1を実施した)。次に、この化成箔を過硫酸アンモニウム水溶液に5秒間浸漬した後、実施例1と同様の乾燥装置を上下に配し、40℃、10分間乾燥し(すなわち本発明の乾燥装置を用いて乾燥工程2を実施し)、酸化的重合を行い、その他は実施例1と同様にして合計100個のコンデンサを完成させた。これら100個のコンデンサ素子について、初期特性として120Hzにおける容量と損失係数(tanδ×100%)、等価直列抵抗(ESR)、及び漏れ電流を測定した。なお、漏れ電流は定格電圧を印加して1分後に測定した。表1にこれらの測定値の平均値と、0.002CV以上の漏れ電流を不良品としたときの不良数を示した。ここで、漏れ電流の平均値は不良品を除いて計算した値である。
化成箔を3,4−エチレンジオキシチオフェンを溶解させた2.0mol/Lのイソプロピルアルコール(IPA)溶液に5秒間含浸し、これを室内で5分間乾燥し、過硫酸アンモニウム水溶液に5秒間浸漬した後、市販の乾燥炉(本発明の乾燥装置とは異なる)を用いて40℃、10分間乾燥して、酸化的重合を行った以外は実施例1と同様にして合計100個のコンデンサを完成させた。これら100個のコンデンサ素子について、初期特性として120Hzにおける容量と損失係数(tanδ×100%)、等価直列抵抗(ESR)、及び漏れ電流を測定した。なお、漏れ電流は定格電圧を印加して1分後に測定した。表1にこれらの測定値の平均値と、0.002CV以上の漏れ電流を不良品としたときの不良数を示した。ここで、漏れ電流の平均値は不良品を除いて計算した値である。
2:誘電体皮膜
3:マスキング
4:固体電解質
5:導電体層
11:コンデンサ素子
11a:コンデンサ素子の陰極部
11b:コンデンサ素子の陽極部
13:陰極リード部
14:陽極リード部
15:陽極の接合部
16:外装樹脂
21:化成箔
22:保持体(ステンレス板)
23:マスキング
24:化成処理液
30:乾燥装置
31:通風路
32:主通風路
33:チャンバー
34:バイパス通風路
35:センサー
36:ダンパー
Claims (18)
- 区分された断面形状を有している複数の通風路が内在された送風機構を有し、温度及び/または湿度を制御した空気が、通風路入口に接続したチャンバーを通じて通風路に流入し、前記通風路出口から層流状態で流出して、前記通風路出口に保持体に下げて設置した複数の箔状部材に平行に空気が層流で流れて前記箔状部材を乾燥することを特徴とする固体電解コンデンサ素子製造用乾燥装置。
- 前記断面形状が同一または類似している請求項1に記載の固体電解コンデンサ素子製造用乾燥装置。
- 前記区分された断面形状を有している複数の通風路の空気供給側及び/または空気回収側に、少なくとも1秒あたりの乾燥風量以上の容量を有するチャンバーを備えた送風機構を有する請求項1または2に記載の固体電解コンデンサ素子製造用乾燥装置。
- チャンバーに接続された、前記区分された断面形状を有している複数の通風路が同じ長さを有している送風機構を有する請求項1〜3のいずれかに記載の固体電解コンデンサ素子製造用乾燥装置。
- 前記通風路の長さが、通風路断面形状の内接円直径の5倍以上である複数の通風路を有した送風機構を有する請求項1〜4のいずれかに記載の固体電解コンデンサ素子製造用乾燥装置。
- 前記通風路の断面形状が、直角三角形、二等辺三角形、正三角形、平行四辺形、長方形、菱形、台形、長方形、正方形、または正六角形である請求項1〜5のいずれかに記載の固体電解コンデンサ素子製造用乾燥装置。
- コンデンサ素子となる化成箔に付着した溶液を乾燥する請求項1〜6のいずれかに記載の固体電解コンデンサ素子製造用乾燥装置。
- 保持体に下げられた複数の化成箔に付着した溶液を乾燥する装置であって、前記通風路の断面形状の辺長が前記化成箔相互間隔の1倍〜10倍である請求項1〜7のいずれかに記載の固体電解コンデンサ素子製造用乾燥装置。
- 保持体に下げられた複数の化成箔の一方向側または両方向側に設置され、前記複数の該化成箔に付着した溶液を乾燥する請求項1〜8のいずれかに記載の固体電解コンデンサ素子製造用乾燥装置。
- 前記通風路の送風速度が0.05〜1.5m/sである請求項1〜9のいずれかに記載の固体電解コンデンサ素子製造用乾燥装置。
- 前記化成箔に付着した溶液を乾燥する空気の通風路と共に、バイパス通風路を有する請求項1〜10のいずれかに記載の固体電解コンデンサ素子製造用乾燥装置。
- 前記バイパス通風路に風量調整用ダンパーが設けられている請求項11に記載の固体電解コンデンサ素子製造用乾燥装置。
- 前記化成箔に付着した溶液を乾燥する空気の通風路の空気量に対して、前記バイパス通風路の空気量が10倍以下である請求項11または12に記載の固体電解コンデンサ素子製造用乾燥装置。
- 前記化成箔に付着した溶液を乾燥する空気の通風路と前記バイパス通風路のいずれかまたは両方に、送風空気の温度及び/または湿度を測定するセンサーを有し、送風空気の雰囲気を制御する請求項11〜13のいずれかに記載の固体電解コンデンサ素子製造用乾燥装置。
- 弁作用金属表面に形成された誘電体皮膜上に固体電解質層が形成されたコンデンサ素子を含む固体電解コンデンサの製造方法において、固体電解質層を、モノマーを含む溶液に浸漬して乾燥する工程(乾燥工程1)と酸化剤を含む溶液に浸漬して乾燥する工程(乾燥工程2)により形成する場合において、請求項1〜14のいずれかに記載の乾燥装置を用いてコンデンサ素子を乾燥することを特徴とする固体電解コンデンサの製造方法。
- 請求項15の製造方法で製造された固体電解コンデンサ。
- 固体電解コンデンサ素子に付着した水分または液を乾燥する請求項1〜6のいずれかに記載の固体電解コンデンサ素子製造用乾燥装置。
- 請求項1〜14のいずれかに記載の乾燥装置を使用して製造された固体電解コンデンサ素子。
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