JP4807619B2 - 真空装置の加熱機構 - Google Patents
真空装置の加熱機構 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4807619B2 JP4807619B2 JP2006059854A JP2006059854A JP4807619B2 JP 4807619 B2 JP4807619 B2 JP 4807619B2 JP 2006059854 A JP2006059854 A JP 2006059854A JP 2006059854 A JP2006059854 A JP 2006059854A JP 4807619 B2 JP4807619 B2 JP 4807619B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- stage
- temperature
- heating
- heating mechanism
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Description
Claims (4)
- 真空装置内において基板を加熱する加熱機構であって、
真空室内に基板を支持するステージを備え、
前記ステージは、ステージ内に加熱部を備えると共に、
加熱時における基板温度とステージ温度との違いに応じた表面特性を備え、
ステージ温度が基板温度よりも高くなる部分は輻射率が高い表面特性とし、
ステージ温度が基板温度よりも低くなる部分は反射率が高い表面特性とすることを特徴とする、真空装置の加熱機構。 - 真空装置内において基板を加熱する加熱機構であって、
真空室内に基板を支持するステージを備え、
前記ステージは、
基板を支持する支持面は、基板と接触する接触面と、当該接触面と異なるレベルに設けた非接触面とを備え、
前記接触面の下方のステージ内に加熱部を備えると共に、当該接触面上に高輻射材を備え、
前記非接触面上に高反射材を備えることを特徴とする、真空装置の加熱機構。 - 真空装置内において基板を加熱する加熱機構であって、
真空室内に基板を支持するステージを備え、
前記ステージは、
基板を支持する支持面は、基板と接触する接触面と、前記基板を搬出入する搬送部を出し入れする搬送部用溝とを備え、
前記接触面の下方のステージ内に加熱部を備えると共に、当該接触面上に高輻射材を備え、
前記搬送部用溝の内面に高反射材を備えることを特徴とする、真空装置の加熱機構。 - 前記搬送部用溝の内面において、底面又は側面、あるいはその両面に高反射材を備えることを特徴とする、請求項3に記載の真空装置の加熱機構。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006059854A JP4807619B2 (ja) | 2006-03-06 | 2006-03-06 | 真空装置の加熱機構 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006059854A JP4807619B2 (ja) | 2006-03-06 | 2006-03-06 | 真空装置の加熱機構 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007242709A JP2007242709A (ja) | 2007-09-20 |
JP4807619B2 true JP4807619B2 (ja) | 2011-11-02 |
Family
ID=38587994
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006059854A Expired - Fee Related JP4807619B2 (ja) | 2006-03-06 | 2006-03-06 | 真空装置の加熱機構 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4807619B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101574336B1 (ko) * | 2013-10-21 | 2015-12-07 | 에이피시스템 주식회사 | 지지장치 및 이를 구비하는 기판 처리 장치와 이를 이용한 기판 처리 방법 |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5000113A (en) * | 1986-12-19 | 1991-03-19 | Applied Materials, Inc. | Thermal CVD/PECVD reactor and use for thermal chemical vapor deposition of silicon dioxide and in-situ multi-step planarized process |
JPH088246B2 (ja) * | 1990-11-16 | 1996-01-29 | 日本碍子株式会社 | 加熱装置 |
JP2617064B2 (ja) * | 1992-07-28 | 1997-06-04 | 日本碍子株式会社 | 半導体ウェハー加熱装置およびその製造方法 |
JPH11354526A (ja) * | 1998-06-10 | 1999-12-24 | Sukegawa Electric Co Ltd | 板体加熱装置 |
JP2000164588A (ja) * | 1998-11-30 | 2000-06-16 | Ebara Corp | 基板加熱方法及び装置 |
JP2000236110A (ja) * | 1999-02-15 | 2000-08-29 | Anritsu Corp | 赤外線放射素子 |
JP3690217B2 (ja) * | 1999-11-29 | 2005-08-31 | 株式会社リコー | 貼り合せ光ディスクの製造装置及びその製造方法 |
JP2002151412A (ja) * | 2000-10-30 | 2002-05-24 | Applied Materials Inc | 半導体製造装置 |
JP2002146540A (ja) * | 2000-11-14 | 2002-05-22 | Ebara Corp | 基板加熱装置 |
JP3982674B2 (ja) * | 2001-11-19 | 2007-09-26 | 日本碍子株式会社 | セラミックヒーター、その製造方法および半導体製造装置用加熱装置 |
JP4038409B2 (ja) * | 2002-08-15 | 2008-01-23 | 日本碍子株式会社 | 加熱装置 |
JP3960429B2 (ja) * | 2003-06-27 | 2007-08-15 | 日本精工株式会社 | ワークチャック |
JP4441356B2 (ja) * | 2003-10-16 | 2010-03-31 | 東京エレクトロン株式会社 | 成膜装置 |
-
2006
- 2006-03-06 JP JP2006059854A patent/JP4807619B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2007242709A (ja) | 2007-09-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI400767B (zh) | 搬運機械手臂及搬運裝置 | |
KR102222601B1 (ko) | 적외선 가열 유닛 | |
TW201704894A (zh) | 基板支架、微影設備及製造裝置之方法 | |
JP2010199586A (ja) | 熱処理中に半導体ウェハの不適正な位置を識別する方法 | |
WO2014112628A1 (ja) | 試料処理装置およびその方法並びに荷電粒子線装置 | |
JP2018044881A (ja) | クラック検査装置及びクラック検査方法 | |
JP4807619B2 (ja) | 真空装置の加熱機構 | |
JP2008205116A (ja) | 基板処理装置 | |
TW201705343A (zh) | 薄膜框架握持裝置及薄膜框架握持方法 | |
JP2000266603A (ja) | 放射温度測定方法及び放射温度測定装置 | |
JPH11354526A (ja) | 板体加熱装置 | |
JP6376236B2 (ja) | 加熱装置、半導体製造装置 | |
US10916457B2 (en) | Heating device and semiconductor manufacturing apparatus | |
JP2004128196A (ja) | 電子線描画装置と電子線描画方法 | |
JP4863163B2 (ja) | Tft基板検査装置 | |
WO2023181367A1 (ja) | 矯正装置、露光装置、コータ・デベロッパ装置、露光システム、露光方法、及びデバイス製造方法 | |
JP2007036031A (ja) | 真空装置の加熱装置 | |
JP4149495B2 (ja) | 熱処理装置 | |
US20200350189A1 (en) | Heating device | |
JP5468895B2 (ja) | 加熱装置及び基板処理装置 | |
JPH09218104A (ja) | 基板の温度測定装置 | |
WO2021033528A1 (ja) | 真空装置 | |
JP2001148371A (ja) | 静電吸着装置、及び吸着状態判断方法 | |
JP5052371B2 (ja) | 真空蒸着装置 | |
KR100773284B1 (ko) | 반송 로봇 및 반송 장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080610 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20100216 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110209 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20110722 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20110804 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140826 Year of fee payment: 3 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 4807619 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |