JP4802679B2 - 電子回路基板の実装方法 - Google Patents

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Description

本発明は、電子機器において用いられているプリント配線板に電子部品を実装する電子回路基板の実装方法に係り、特に半導体素子を含む複数の電子部品を実装した半導体モジュール基板の実装方法に関するものである。
携帯型電子機器などに搭載される回路基板は小型かつ高機能化が進み、電子部品を高密度に実装する技術に対するニーズが高い。なかでもプリント配線板との接続端子が多い制御用半導体素子と、これに比べて接続端子が少なく汎用的なメモリ用半導体素子および複数の受動部品を組み合わせて所定の機能を実現する回路モジュールをブロックとした実装が求められている。
このとき、接続端子の多い制御用半導体素子を接続端子とプリント配線板を対向させて接続するフリップチップ実装を用いて狭ピッチ実装し、汎用的な樹脂封止によるパッケージ形態ではんだボールによる接続端子を形成したメモリ用半導体素子を3次元的に実装することで小型化を実現することができる。
フリップチップ実装のような狭ピッチ実装をする場合、プリント配線板に高精度な配線パターンが必要であることから、このプリント配線板の製造コストは高くなってしまう。プリント配線板の製造コストは基板面積に依存するため、メインプリント配線板とは別に比較的小さなサブプリント配線板を設け、このサブプリント配線板に制御用半導体素子、メモリ用半導体素子および複数の受動部品を実装して回路モジュールとしたものをメインプリント配線板に実装する構造をとることが一般的である。
このような構造を実現する方法として、例えば特許文献1に記載されているようにサブプリント配線板上に電子部品をはんだ付けした後、メインプリント配線板に回路モジュールをはんだ付けするといった技術がある。
図3は、従来の電子回路基板の断面図を示している。図3(a)に示すように、サブプリント配線板101の上面および下面には、表面に銅箔による回路パターンを形成した配線層102および配線層103がそれぞれ設けられている。半導体素子104はフリップチップ実装方法で熱硬化性樹脂105の加熱加圧によりサブプリント配線板101に固定されると共に、半導体素子104の接続端子がサブプリント配線板101の配線層102に対して電気的に接続される。
次に図3(b)に示すように、配線層102上にはんだペーストがマスク印刷により供給され、セラミックコンデンサなどの受動部品106と、接続端子に予めはんだボール111が形成された半導体パッケージ107が配置されて、リフロー炉にてサブプリント配線板101の1回目の加熱を行うことによりはんだ付けが行われる。
次に図3(c)に示すように、メインプリント配線板108に形成された配線層109の上にはんだペースト112がマスク印刷により供給され、他の電子部品110を配置すると共に、メインプリント配線板108の配線層109と面が対向するようにサブプリント配線板101の配線層103が配置された後、サブプリント配線板101とメインプリント配線板108および他の電子部品110をまとめてリフロー炉にて2回目の加熱を行うことによりはんだ付けが行われ、電子回路基板が実装される。
特開2003−69181号公報(第3図)
しかしながら、上述のような従来の技術では、サブプリント配線板への実装とメインプリント配線板への実装のときに鉛フリーはんだを用いてはんだ付けする場合、220℃〜260℃の温度でリフロー加熱する工程を2回設ける必要がある。このため電子回路基板上の半導体素子や半導体パッケージに加わる実装時のダメージが増加し、部品の信頼性が損なわれるといった問題点があった。
上記問題点を解決するために、本発明は、上面および下面に配線層を設けると共に、前記上面の配線層に半導体素子および受動部品がはんだ付けにより実装される第1のプリント配線板と、前記第1のプリント配線板の下面の配線層がはんだ付けされる配線層を上面に有する第2のプリント配線板と、前記第1のプリント配線板の上面の配線層に接続端子がはんだ付けされる前記半導体素子とは別の半導体パッケージとを備えた電子回路基板の実装方法であって、前記第1のプリント配線板に前記受動部品の端子がはんだ付けされる貫通スルーホール配線部を設け、かつ前記第2のプリント配線板の配線層にはんだペーストを配置した後、前記半導体素子を実装した第1のプリント配線板を前記第2のプリント配線板上に、第1のプリント配線板の下面の配線層および貫通スルーホール配線部が前記第2のプリント配線板の配線層に前記はんだペーストを介して対向するように配置し、さらに前記受動部品を第1のプリント配線板の貫通スルーホール配線部上に配置すると共に、接続端子にはんだボールを形成した前記半導体パッケージを第1のプリント配線板上に配置し、その後前記第1のプリント配線板および第2のプリント配線板をリフロー炉で加熱することにより、前記はんだペーストを溶融させ、溶融したはんだペーストを前記貫通スルーホール配線部を通して吸い上げて前記受動部品の端子を貫通スルーホール配線部にはんだ付けすると共に、第1のプリント配線板の下面の配線層と第2のプリント配線板の配線層とをはんだ付けし、かつ前記半導体パッケージのはんだボールを溶融させて前記第1のプリント配線板にはんだ付けすることを特徴とするものである。
本発明によれば、電子回路基板へ半導体素子を実装するときのリフロー加熱の回数を減らすことができるので、熱ダメージによって部品信頼性を損なうことなく、信頼性の高い電子回路基板を提供することができるものである。また本発明による電子回路基板では、リフローの加熱回数を減らし、加熱工程数の少ない簡略化した製造工程で製作することが可能となる。
以下、本発明の実施の形態について、図を用いて説明する。
図1は本発明の実施の形態1における電子回路基板の断面図である。図2は実施の形態1におけるサブプリント配線板と受動部品の実装部分の拡大断面図である。
図1(a)に示すように第1のプリント配線板であるサブプリント配線板1の上面および下面には表面に銅箔による回路パターンを形成することにより配線層2および配線層3が設けられている。さらに、サブプリント配線板1には上面から下面にかけて貫通した穴によって形成された貫通スルーホール配線部4が設けられている。
半導体素子5はフリップチップ実装方法で熱硬化性樹脂6の加熱加圧によりサブプリント配線板1に固定されると共に、半導体素子5の接続端子がサブプリント配線板1の配線層2に対して電気的に接続される。さらに活性作用を有する液状フラックス7を配線層2の表面に噴霧する。
次に図1(b)に示すように第2のプリント配線板であるメインプリント配線板8の上面に形成された配線層9にマスク印刷によりはんだペースト13が供給され、他の電子部品10が配置される。サブプリント配線板1は、下面の配線層3がメインプリント配線板8の上面の配線層9に対向するようにはんだペースト13を介して配置される。次にセラミックコンデンサなどの受動部品11がサブプリント配線板1の上に配置される。
図2(a)に示すように受動部品11の端子11a、11bは貫通スルーホール配線部4の配線部4a、4bの上に合わせて配置され、液状フラックス7の粘着力によって位置固定されている。貫通スルーホール配線部4の配線部4a、4bの内径は、溶融したはんだペースト13の毛細管現象が発生しやすい内径として形成している。
さらに図1(b)に示すように接続端子に予めはんだボール14が形成された半導体パッケージ12サブプリント配線板1上に配置した後、サブプリント配線板1およびメインプリント配線板8は、これらに配置した全ての電子部品と共にまとめて1回だけリフロー炉にて加熱することにより、すべての箇所のはんだ付けを一度に行うことができる
このとき図2(b)に示すように、はんだペースト13は溶融して流動性を持ちながら貫通スルーホール配線部4の配線部4a、4bの内部へ毛細管現象により吸い上げられてはんだペースト13aとなり、液状フラックス7で表面活性化された受動部品11の端子11a、11bメインプリント配線板8の上面の配線層9とがはんだ付けされ固定される。
また、サブプリント配線板1の下面の配線層3と、互いに対向するメインプリント配線板8の上面の配線層9が、はんだペースト13によりはんだ付けされる。さらに、半導体パッケージ12は、接続端子のはんだボール14が溶融してサブプリント配線板1の上面の配線層2にはんだ付けされ固定される。他の電子部品10もはんだペースト13が溶融して、メインプリント配線板8の上面の配線層9にはんだ付けされ固定される。
以上のような構成で、電子回路基板を一括で実装することでリフロー加熱工程の回数を少なくし、半導体素子や半導体パッケージなどの電子部品の熱ダメージを少なくすると共に製造工程を簡略化できる。
本発明の電子回路基板実装方法は、半導体素子や半導体パッケージなどの電子部品の熱ダメージを少なくして信頼性品質を高めるとともに実装工程を簡略化することが可能であるといったことから高密度電子回路基板の実装用途に有用である。
本発明の実施の形態1における電子回路基板の断面図 本発明の実施の形態1におけるサブプリント配線板と受動部品の実装部分の拡大断面図 従来の電子回路基板の断面図
1 サブプリント配線板
2、3、9 配線層
4 貫通スルーホール配線部
5 半導体素子
6 熱硬化性樹脂
7 液状フラックス
8 メインプリント配線板
11 受動部品
12 半導体パッケージ
13 はんだペースト
14 はんだボール

Claims (1)

  1. 上面および下面に配線層を設けると共に、前記上面の配線層に半導体素子および受動部品がはんだ付けにより実装される第1のプリント配線板と、前記第1のプリント配線板の下面の配線層がはんだ付けされる配線層を上面に有する第2のプリント配線板と、前記第1のプリント配線板の上面の配線層に接続端子がはんだ付けされる前記半導体素子とは別の半導体パッケージとを備えた電子回路基板の実装方法であって、
    前記第1のプリント配線板に前記受動部品の端子がはんだ付けされる貫通スルーホール配線部を設け、
    かつ前記第2のプリント配線板の配線層にはんだペーストを配置した後、前記半導体素子を実装した第1のプリント配線板を前記第2のプリント配線板上に、第1のプリント配線板の下面の配線層および貫通スルーホール配線部が前記第2のプリント配線板の配線層に前記はんだペーストを介して対向するように配置し、さらに前記受動部品を第1のプリント配線板の貫通スルーホール配線部上に配置すると共に、接続端子にはんだボールを形成した前記半導体パッケージを第1のプリント配線板上に配置し、
    その後前記第1のプリント配線板および第2のプリント配線板をリフロー炉で加熱することにより、前記はんだペーストを溶融させ、溶融したはんだペーストを前記貫通スルーホール配線部を通して吸い上げて前記受動部品の端子を貫通スルーホール配線部にはんだ付けすると共に、第1のプリント配線板の下面の配線層と第2のプリント配線板の配線層とをはんだ付けし、かつ前記半導体パッケージのはんだボールを溶融させて前記第1のプリント配線板にはんだ付けすることを特徴とする電子回路基板の実装方法。
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