JP4801432B2 - 集束イオンビーム加工方法およびそれを用いた透過型電子顕微鏡試料の作製方法 - Google Patents
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FIB照射により薄片化部分を形成し、
試料台を傾けて薄片化部分の側辺部に上端の部分に接続部分を残すように切り込み加工を行い、その後、試料台を元に戻してFIB照射により薄片化部分の仕上げ加工を行うものである。
試料台を傾けて薄片化部分の側辺部に表面から0.1μm〜2.0μmの部分を残すようにして切り込み加工を行い、その後、試料台を元に戻してFIB照射により薄片化部分の仕上げ加工を行うものである。
保護膜を形成した部分にFIB照射により薄片化部分を形成し、
試料台を傾けて薄片化部分の側辺部に上端の部分に接続部分を残すように切り込み加工を行い、その後、試料台を元に戻してFIB照射により薄片化部分の仕上げ加工を行うものである。
試料表面に保護膜を形成し、
保護膜を形成した部分にFIB照射により薄片化部分を形成し、
試料台を傾けて薄片化部分の側辺部に表面から高さ方向に保護膜の厚さよりも短い長さの接続部分を残すようにして切り込み加工を行い、その後、試料台を元に戻してFIB照射により薄片化部分の仕上げ加工を行うものである。
試料表面に保護膜を形成し、
保護膜を形成した部分にFIB照射により薄片化部分を形成し、
試料台を傾けて薄片化部分の底辺部に切り込み加工を行い、
試料台を傾けた状態のまま薄片化部分の側辺部に上端の部分に接続部分を残すように切り込み加工を行い、その後、試料台を元に戻してFIB照射により薄片化部分の仕上げ加工を行い、
FIB照射により薄片化部分の切り離しを行うものである。
試料表面に保護膜を形成し、
保護膜を形成した部分にFIB照射により薄片化部分を形成し、
試料台を傾けて薄片化部分の底辺部に切り込み加工を行い、
試料台を傾けた状態のまま薄片化部分の側辺部に表面から高さ方向に保護膜の厚さよりも短い長さの接続部分を残すようにして切り込み加工を行い、
その後、試料台を元に戻してFIB照射により薄片化部分の仕上げ加工を行い、
FIB照射により薄片化部分の切り離しを行うものである。
本実施の形態では、薄片化部分の試料の側辺部に切り込み加工を行う方法について図1、図2を用いて説明する。加工する試料は、基板上に半導体デバイスや多層膜などの薄膜が積層されてなる薄膜層を有している。
実施の形態1では、試料をそのまま薄片化加工して薄片化された試料を取り出す例を示したが、試料から小ブロックを切り出しそれを加工する方法においても同様に薄片化部分の側辺部に切り込み加工を行うことができる。この方法について図4、図5を用いて説明する。加工する試料は、基板上に半導体デバイスや多層膜などの薄膜が積層されてなる薄膜層を有している。
102 薄片化部分
103 穴
104 穴
201 基板
202 薄膜層
203 保護膜
204 底辺部の加工部分
205 側辺部の加工部分
206 切り離しの加工部分
207 切り離しの加工部分
208 試料
401 小ブロック
402 保護膜
403 薄片化部分
501 基板
502 薄膜層
503 保護膜
505 側辺部の加工部分
Claims (11)
- 試料の薄片化加工を行う集束イオンビーム加工方法において、
薄片化部分を形成し、
前記薄片化部分の両側の側辺部の上端部に接続部を残して切り込み加工を行い、
前記両側の側辺部の上端部に前記接続部を残して前記薄片化部分の仕上げ加工を行うことを特徴とする集束イオンビーム加工方法。 - 試料の薄片化加工を行う集束イオンビーム加工方法において、
薄片化部分を形成し、
前記薄片化部分の底辺部に第1の切り込み加工を行い、
前記薄片化部分の両側の側辺部の上端部に接続部を残して第2の切り込み加工を行い、
前記両側の側辺部の上端部に前記接続部を残して前記薄片化部分の仕上げ加工を行い、
前記薄片化部分の切り離しを行うことを特徴とする集束イオンビーム加工方法。 - 請求項1又は請求項2において、
前記薄片化部分を形成する前に試料表面に保護膜を形成することを特徴とする集束イオンビーム加工方法。 - 試料の薄片化加工を行う集束イオンビーム加工方法において、
試料表面に保護膜を形成し、
前記保護膜を形成した部分に薄片化部分を形成し、
前記薄片化部分の両側の側辺部の上端部に前記保護膜の厚さよりも短い長さの接続部を残して切り込み加工を行い、
前記両側の側辺部の上端部に前記接続部を残して前記薄片化部分の仕上げ加工を行うことを特徴とする集束イオンビーム加工方法。 - 試料の薄片化加工を行う集束イオンビーム加工方法において、
試料表面に保護膜を形成し、
前記保護膜を形成した部分に薄片化部分を形成し、
前記薄片化部分の底辺部に第1の切り込み加工を行い、
前記薄片化部分の両側の側辺部の上端部に前記保護膜の厚さよりも短い長さの接続部を残して第2の切り込み加工を行い、
前記両側の側辺部の上端部に前記接続部を残して前記薄片化部分の仕上げ加工を行い、
前記薄片化部分の切り離しを行うことを特徴とする集束イオンビーム加工方法。 - 請求項2又は請求項5において、
前記第2の切り込み加工は、前記第1の切り込み加工と同じか又はより深くまで行うことを特徴とする集束イオンビーム加工方法。 - 請求項1又は請求項4において、
前記切り込み加工は、集束イオンビームの照射方向と前記薄片化部分を有する試料表面とが非垂直となるように傾けて行い、
前記仕上げ加工は、集束イオンビームの照射方向と前記薄片化部分を有する試料表面とが概略垂直となるように傾けて行うことを特徴とする集束イオンビーム加工方法。 - 請求項5において、
前記薄片化部分は基板上に設けられた薄膜又は積層膜を有し、
前記第2の切り込み加工は、前記基板から前記薄膜又は前記積層膜表面の前記保護膜に達するように行うことを特徴とする集束イオンビーム加工方法。 - 請求項2又は請求項5において、
前記第1及び第2の切り込み加工は、集束イオンビームの照射方向と前記薄片化部分を有する試料の表面とが非垂直となるように傾けて行い、
前記仕上げ加工は、集束イオンビームの照射方向と前記薄片化部分を有する試料の表面とが概略垂直となるように傾けて行うことを特徴とする集束イオンビーム加工方法。 - 請求項1乃至請求項9のいずれか一において、
前記薄片化部分の側辺部の上端部に設ける前記接続部は、前記薄片化部分の表面から0.1μm以上2.0μm以下の深さに形成されることを特徴とする集束イオンビーム加工方法。 - 請求項1乃至請求項10のいずれか一に記載の集束イオンビーム加工方法を用いることを特徴とする透過型電子顕微鏡試料の作製方法。
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