JP4793412B2 - 積層型電子部品の不良品判別方法および積層型電子部品の製造方法 - Google Patents
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Description
内部電極用パターン層と内層用グリーンシートとが交互に積層された内層部と、当該内層部の積層方向の外側に積層される外層用グリーンシートから成る外層部とを有するグリーン積層体を準備する工程と、
前記グリーン積層体をプレス加工する前に、前記外層用グリーンシートの表面に、個々のチップに対応する位置で、マークを形成する工程と、
前記マークが形成された前記グリーン積層体を、プレス加工する工程と、
プレス加工後の前記グリーン積層体の表面に形成してあるマークの位置を読み取り、プレス加工前後におけるマークの位置の位置ずれ量を算出する工程と、
前記位置ずれ量を、しきい値と比較したデータに基づき、切断工程を含む次工程に進めるか否かを判断する工程とを有する。
好ましくは、前記マークの位置は、画像処理装置により読み取られる。
図1は本発明の一実施形態に係る製造方法により製造される積層セラミックコンデンサの概略断面図、
図2は図1に示す積層セラミックコンデンサを製造する過程で得られるグリーン積層体の斜視図、
図3は図2に示すグリーン積層体の要部断面図、
図4はグリーン積層体に付されるマークの一例を示すグリーン積層体の平面図、
図5(A)は切断不良がないグリーンチップの平面図、図5(B)は図5(A)に示すVB−VB線に沿う断面図、
図6はプレスによりマークに位置ずれが生じていることを示すグリーン積層体の平面図、
図7(A)は切断不良が生じたグリーンチップの平面図、図7(B)は図7(A)に示すVIIB−VIIB線に沿う断面図である。
次に、本発明の一実施形態としての積層セラミックコンデンサ2の製造方法について説明する。
4… コンデンサ素体
4a… グリーン積層体
4b,4b1… グリーンチップ
6… 第1端子電極
8… 第2端子電極
10… 第1内側誘電体層
10a… 第1グリーンシート
11… 第2内側誘電体層
11a… 第2グリーンシート
12… 第1内部電極層
12a… 第1内部電極パターン
13… 第2内部電極層
13a… 第2内部電極パターン
30… 切断線
M1,M2… マーク
Claims (6)
- 内部電極用パターン層と内層用グリーンシートとが交互に積層された内層部と、当該内層部の積層方向の外側に積層される外層用グリーンシートから成る外層部とを有するグリーン積層体を準備する工程と、
前記グリーン積層体をプレス加工する前に、前記外層用グリーンシートの表面に、個々のチップの中央に対応する設計位置で、マークを形成する工程と、
前記マークが形成された前記グリーン積層体を、プレス加工する工程と、
プレス加工後の前記グリーン積層体の表面に形成してあるマークの位置を読み取り、プレス加工前後におけるマークの位置の位置ずれ量を算出する工程と、
前記位置ずれ量を、しきい値と比較したデータに基づき、積層型電子部品の製造歩留まりを予測し、予測された製造歩留まりにより、切断工程を含む次工程に進めるか否かを判断する工程と、
前記グリーン積層体を個々のチップに切断して焼成した後に、前記チップに対する前記マークの位置ずれに基づき、不良品を判別する工程とを有する積層型電子部品の不良品判別方法。 - 前記マークは、レーザ加工により形成される請求項1に記載の積層型電子部品の不良品判別方法。
- プレス加工後の前記マークの位置と、設計されたマークの位置とを比較することで、プレス加工前後におけるマークの位置の位置ずれ量を算出する請求項1または2に記載の積層型電子部品の不良品判別方法。
- 前記グリーン積層体をプレス加工する前にも、前記マークの位置が読み取られ、プレス加工前の前記マークの位置と、プレス加工後の前記マークの位置と、を比較することで、プレス加工前後におけるマークの位置の位置ずれ量を算出する請求項1または2に記載の積層型電子部品の不良品判別方法。
- 前記マークの位置は、画像処理装置により読み取られる請求項1〜4のいずれかに記載の積層型電子部品の不良品判別方法。
- 請求項1〜5のいずれかに記載の積層型電子部品の不良品判別方法を有する積層型電子部品の製造方法。
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