JP4771235B2 - 画像形成装置 - Google Patents

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Description

本発明は、画像形成装置に関する。
画像形成装置には、例えばレジストレーションパターンなど、複数のマークからなるパターンをベルト上に形成し、光学センサを利用してベルト上におけるマークの位置関係を検出し、その検出結果に基づき、用紙上における画像形成位置のずれ等を補正する機能を有するものがある。
ここで、例えばベルト上に傷、汚れ、ゴミなど(以下、「傷等」という)があると、その傷等の反射率に応じた信号波が、光学センサからの検出信号に含まれることになるため、傷等をマークであると誤検出してしまい、マークの位置関係の検出精度が低下するおそれがある。
このため、従来より、検出信号に含まれる各信号波の波高値と閾値との比較により、傷等に対応する信号波(以下、「ノイズ波」という)を除去し、マークに対応する信号波(以下、「マーク波」という)だけを抽出しようとする画像形成装置がある(特許文献1)。また、この画像形成装置では、上記閾値を変更できる。
特開2003−98795公報
しかし、上記従来の画像形成装置では、ノイズ波をより確実に除去するために、閾値をマーク波の波高値に近いレベルに設定すると、マーク波をノイズ波であるとして誤って除去してしまう危険性が高くなる。一方、マーク波をより確実に抽出するために、閾値を、マーク波の波高値から離れたレベルに設定すると、今度は、ノイズを、マーク波であるとして誤って抽出してしまう危険性が高くなる。
なお、ベルト上の傷等に限らず、例えば電磁ノイズなどにより上記検出信号にノイズ波が含まれることがある。
本発明は上記のような事情に基づいて完成されたものであって、その目的は、センサからの検出信号からマーク波を良好に抽出することが可能な画像形成装置を提供するところにある。
上記の目的を達成するための手段として、本発明の適用例1に係る画像形成装置は、対象物上に画像を形成する形成部と、複数のマークの画像を前記形成部に形成させる制御部と、前記対象物上における前記複数のマークの位置関係に応じた検出信号を出力するセンサと、前記検出信号に含まれる複数の信号波のうち、波形の評価指標についてマークに対応する基本波形との合致度合いが高いものから第1規定範囲内に属する信号波を、前記マークに対応する信号波であるマーク波として抽出する抽出部と、を備える。
検出信号に、マーク波(マークに対応する信号波)と、ノイズ波(例えば対象物上の傷・汚れ・ゴミ、電磁ノイズなど、マーク以外のものに対応する信号波)とが含まれる場合、ノイズ波は、マーク波に比べて、マークに対応する基本波形との合致度合いが低い場合が多い。
そこで、本適用例では、波形の評価指標(例えば波形、波高値、波幅、及び、他の波との相対位置など)について基本波形との合致度合いが高いものから第1規定範囲内に属する信号波を、マーク波として抽出することで、ノイズ波を除去するようにした。これにより、センサからの検出信号からマーク波を良好に抽出することができる。
本発明の適用例2に係る画像形成装置は、対象物上に画像を形成する形成部と、複数のマークの画像を前記形成部に形成させる制御部と、前記対象物上における前記複数のマークの位置関係に応じた検出信号を出力するセンサと、前記検出信号に含まれる複数の信号波のうち、波形の評価指標についてマークに対応する基本波形との合致度合いが低いものから第2規定範囲内に属する信号波以外を、前記マークに対応する信号波であるマーク波として抽出する抽出部と、を備える。
本適用例では、上記基本波形との合致度合いが低いものから第2規定範囲内に属する信号波をノイズ波として除去し、これ以外の信号波をマーク波として抽出するようにした。これにより、センサからの検出信号からマーク波を良好に抽出することができる。
適用例3は、適用例1,2において、前記基本波形の評価指標は、前記複数の信号波における評価指標の平均値である。
複数の信号波のほとんどはマークに対応する信号波であるので、それら複数の信号波における評価指標の平均値は、マークに対応する信号波群の平均的、代表的な波形の評価指標に近い。そこで、この平均値を、基本波形の評価指標として基本波形との合致度合いの高低を判断することが好ましい。また、この構成では、波形の評価指標の値が、平均値に近い信号波がマーク波として抽出され、平均値から離れた信号波はノイズ波として除去される。このため、例えば、マーク波よりも波高値が高いノイズ波を除去することができる。
適用例4は、適用例1〜3において、前記抽出部は、前記規定範囲を、前記複数の信号波における波形の評価指標のバラツキ度合いに応じて変更する。
例えば規定範囲(第1規定範囲、第2規定範囲)を固定としてもよいが、この場合、複数の信号波における波形の評価指標のバラツキ度合いによってはマーク波の抽出数が著しく少なくなるおそれがある。そこで、本適用例のように波形の評価指標のバラツキ度合いに応じて変更することが好ましい。
適用例5は、適用例4において、前記抽出部は、前記規定範囲を、前記複数の信号波における評価指標の標準偏差に応じて変更する。
本適用例によれば、標準偏差を利用することにより、波形の評価指標のばらつき度合いに関係なく、平均値を基準とする、マークの基本波形との合致度合いが高い信号波を、マーク波として一定数分、抽出することができる。
適用例6は、適用例1から5のいずれか一つにおいて、前記波形の評価指標は、前記信号波についての波高値、波幅、及び、他の波との相対位置のうち少なくともいずれか1つを含む。
波形自体を、波形の評価指標として波形の合致度合いの高低を判断する構成でもよい。しかし、本適用例のように、波高値、波幅、及び、他の波との相対位置のうち少なくともいずれか1つを波形の評価指標とすれば、波形自体を波形の評価指標とする構成に比べて、波形の合致度合いの高低を容易に判断することができる。
適用例7は、適用例1から6のいずれか一つにおいて、前記制御部は、前記抽出部での前記マーク波の抽出数よりも多い数のマークを前記形成部に形成させる。
本適用例によれば、抽出部でのマーク波の抽出数よりも多い数のマークが対象物上に形成されるから、ノイズ波がマーク波として抽出されることを抑制できる。
適用例8は、適用例1から7のいずれか一つにおいて、前記抽出部は、前記複数のマークのうち、端に位置するマークに対応する信号波を、前記合致度合いの高低にかかわらず、抽出対象外とする。
複数のマークのうち、端に位置するマークと端に位置しないマークとは、夫々に隣接するマークの数が異なるため、両者の信号波形の特性が異なることがあり、このことが、マークの位置関係の検出精度に悪影響を及ぼすおそれがある。そこで、本適用例では、端に位置するマークに対応する信号波を、波形の合致度合いの高低にかかわらず抽出対象外とするようにした。
適用例9は、適用例1から8のいずれか一つにおいて、前記抽出部は、前記波形の評価指標の値が基準範囲外である信号波を抽出対象外とし、残りの信号波群について前記波形の合致度合いの高低に基づき前記マーク波を抽出する。
本適用例によれば、波形の評価指標の値が基準範囲外であって、ノイズ波であることが明らかな信号波が、マーク波の抽出精度に悪影響を与えることを抑制できる。
本発明によれば、センサからの検出信号からマーク波を良好に抽出することが可能である。
本発明の一実施形態を図1〜図8を参照しつつ説明する。
[プリンタの全体構成]
図1は、本実施形態のプリンタ1(本発明の「画像形成装置」の一例)の概略構成を示す側断面図である。なお、以下の説明では、図1の紙面右方向がプリンタ1の前方向であり、各図ではF方向として示してある。また、プリンタ1は4色(ブラックK、シアンC、マゼンタM、イエローY)のトナーによりカラー画像を形成するカラープリンタであり、色ごとに対応した複数の構成部品を有する。以下、各構成部品を色ごとに区別する場合には、その構成部品の符号末尾に各色を意味するK(ブラック)、C(シアン)、M(マゼンタ)、Y(イエロー)を付すものとする。
図1に示すように、プリンタ1は、直接転写タンデム方式のカラーLEDプリンタであって、ケーシング3を備えている。ケーシング3の底部には供給トレイ5が設けられ、この供給トレイ5に、被記録媒体7(例えば用紙などのシート材)が積載される。
供給トレイ5上の被記録媒体7は、押圧板9によってピックアップローラ13に向かって押圧され、ピックアップローラ13の回転によって、レジストレーションローラ17へ送られる。レジストレーションローラ17は、被記録媒体7の斜行補正を行った後、所定のタイミングで、被記録媒体7をベルトユニット21上へ送り出す。
画像形成部19は、搬送機構の一例としてのベルトユニット21、露光ユニット23、プロセスユニット25、定着器28などを備えている。なお、本実施形態では、少なくとも露光ユニット23及びプロセスユニット25が本発明の「形成部」の一例である。
ベルトユニット21は、一対の支持ローラ27,29の間に架設される環状のベルト31を備える。そして、ベルト31は、例えば後側の支持ローラ29が回転駆動することで図1の反時計回り方向に循環移動し、そのベルト31上に載った被記録媒体7を後方へ搬送する。
露光ユニット23は、ブラック、シアン、マゼンタ、イエローの各色に対応した4つ露光ユニット23(23K,23C,23M,23Y)を備える。各露光ユニット23は、LED露光方式を採用し、感光体33の軸方向(主走査方向)に沿って列状に並べられた複数の発光ダイオード(図示せず)を備えており、それぞれに対応する色の画像データに基づき複数の発光ダイオードをオンオフ制御して、感光体33の表面を1走査ラインずつ露光して静電潜像を形成する。
プロセスユニット25は、ブラック,シアン,マゼンタ,イエローの各色に対応して4つ設けられている。各プロセスユニット25は、トナー(着色剤の一例)の色等を除いて同一の構成とされている。
各プロセスユニット25は、感光体33、帯電器35及び現像カートリッジ37を備えて構成されている。現像カートリッジ37には、トナー収容室39、現像ローラ41が設けられ、トナー収容室39内のトナーが現像ローラ41上に供給される。
感光体33の表面は、帯電器35により一様に正帯電される。その後、露光ユニット23からの光Jにより露光されて、被記録媒体7に形成すべき各色画像に対応した静電潜像が形成される。
次いで、現像ローラ41上に担持されているトナーが、感光体33の表面上に形成されている静電潜像に供給される。これにより、感光体33の静電潜像は、各色ごとのトナー像として可視像化される。
その後、転写ローラ43に転写バイアスが印加され、ベルト31によって搬送される被記録媒体7が、感光体33と転写ローラ43との間の各転写位置を通る間に、各感光体33の表面に担持されたトナー像が被記録媒体7に順次転写される。こうしてトナー像が転写された被記録媒体7は、定着器28にて熱定着された後に、排紙ローラ49により排紙トレイ51上に排出される。
図2は、光学センサ53及びベルト31の斜視図である。同図に示すように、プリンタ1は、1または複数台(本実施形態では例えば2台)の光学センサ53(本発明の「センサ」の一例)を備える。これらの光学センサ53は、ベルト31の後側下方において左右方向に並んで配置されている。各光学センサ53は、発光素子55(例えばLED)と受光素子57(例えばフォトトランジスタ)とを備える反射型のセンサである。発光素子55は、ベルト31の表面に対して斜め方向から光を照射し、受光素子57は、そのベルト31の表面からの反射光を受光し、その受光レベルに応じた検出信号SAを出力する。なお、発光素子55からの光がベルト31上に形成するスポット領域が、光学センサ53の検出領域Eとなる。
[プリンタの電気的構成]
図3はプリンタ1の電気的構成を示すブロック図である。プリンタ1は、CPU61、ROM63、RAM65、NVRAM67(メモリの一例)、操作部69、表示部71、既述の画像形成部19、ネットワークインターフェイス73、光学センサ53等を備えている。
ROM63には、プリンタ1の動作を制御するための各種プログラム(後述する形成ライン間隔の補正処理プログラムを含む)が記録されており、CPU61は、ROM63から読み出したプログラムに従って、その処理結果をRAM65やNVRAM67に記憶させながら、プリンタ1の動作を制御する。
操作部69は、複数のボタンからなり、ユーザによって印刷開始の指示などの各種の入力操作が可能である。表示部71は、液晶ディスプレイやランプからなり、各種の設定画面や動作状態等を表示することが可能である。ネットワークインターフェイス73は、通信回線75を介して外部のコンピュータ(図示せず)等に接続されており、相互にデータ通信が可能になっている。
[形成ライン間隔の補正処理]
(1)形成ライン間隔の補正処理の概要
例えば、感光体33やベルト31は回転速度が常に一定ではなく変動している。このため、各露光ユニット23による走査ラインの露光時間間隔(各走査ラインの書き出しタイミングの時間間隔)を一定にしても、被記録媒体7上に形成される画像を構成するライン(以下、「形成ライン」という)の間隔は規定ライン間隔に対してばらつき、画像品質が悪化するおそれがある。
そこで、CPU61は、所定の条件を満たした場合に形成ライン間隔の補正処理を実行する。所定の条件とは、例えばトナー消耗等により現像カートリッジ37が交換されたことや、ベルト31の劣化によりベルトユニット21が交換されたことなどである。この補正処理を実行することにより、感光体33等の回転速度の変動に起因する形成ライン間隔のばらつきを抑制するように、露光ユニット23による各走査ラインの露光時間間隔が適宜補正される。
具体的には、図2に示すように、複数のマーク81からなる検査用パターン83をベルト31(本発明の「対象物」の一例)上に形成し、光学センサ53を利用してベルト31上におけるマーク81の位置関係を決定する。この決定結果は感光体33等の回転速度の変動に応じて変化するため、当該決定結果から、形成ライン間隔を一律に揃えるために各露光時間間隔を補正すべき補正量を把握することができる。この補正量データはNVRAM67に記憶される。そして、例えば外部のコンピュータから画像指令を受けたときなどの通常の画像形成動作の実行時には、露光ユニット23は、上記補正量データにより補正した露光時間間隔で各走査ラインを感光体33に露光する。これにより、被記録媒体7上に形成ライン間隔が一律に揃った品質の高い画像を形成することができる。
図4は、形成ライン間隔の補正処理を示すフローチャートである。なお、この補正処理は、ブラックK、シアンC、マゼンタM、イエローYの各色ごとに実行される。以下の説明では、ブラックKを例に挙げて説明する。
(2)検査用パターン、及び、判別処理
CPU61は、まずS100で、ブラックKのプロセスユニット25により、各光学センサ53の検出領域Eを通過するベルト31上の位置に、検査用パターン83を1つずつ形成し始める。このとき、CPU61は本発明の「制御部」として機能する。各検査用パターン83は、複数のブラックのマーク81を、ベルト31の回転方向(副走査方向)に沿って、感光体33の少なくとも1周長以上の長さに亘って並べたものである。本実施形態では、各検査用パターン83のマーク81の数は、感光体33が1回転する間に露光すべき露光ライン数(例えばN個)に4加えた数(N+4)である。
そして、S200で所定の取得開始時点を基準に、光学センサ53からの検出信号SAを取得し始める。なお、CPU61は、検出信号SAをA/D変換して取得して、検出信号SAの信号波形自体を把握する。
図5は、ベルト31上に形成されたマーク81、検出信号SAの信号波形、及び、決定したマーク位置の関係を示した図である。なお、検出信号SAの信号波形については、同図紙面下方向に向かうほど受光素子57での受光レベル(受光量)が大きくなるものとする。ベルト31上に形成されたマーク81の表面よりも、マーク81が形成されていない面(以下、「ベルト面」という)の方が、光反射率が高い。このため、ベルト面に対応する信号レベルを基準に、マーク81に対応する信号波が突出するように現れる。以下、実際にマーク81に対応する信号波を「実マーク信号波WM」という。
CPU61は、図4のS200において、更に、検出信号SAから、実マーク波WMと、ベルト面に対応する信号波とを判別する判別処理を行う。図5中の判別値TH0は、その判別をするための閾値である。判別値TH0よりも上のレベル範囲が、本発明の「基準範囲」の一例である。検出信号SAに含まれる複数の信号波のうち、波高値が判別値TH0を超える信号波を、マークに対応する信号波と判別し、波高値が判別値TH0以下である信号波を、ベルト面に対応する信号波と判別する。これにより、明らかにマークに対応しない信号波をも事前に除去することができる。以下、この判別処理でマークに対応する信号波として判別されたものを、「判別後信号波WD」という。
そして、形成ライン間隔の補正処理では、原則として、上記各判別後信号波WD群について、その波形と判別値TH0との2つの交点P、P(図5参照)に基づきマーク81の位置を決定する。具体的には、上記2つの交点P、Pの中心位置Qを、マーク81の位置とし、検査用パターン83のマーク群の位置関係を決定する。
但し、本実施形態では、検査用パターン83のうち、ベルト31の回転方向における上流端、下流端に位置するマーク81に対応する実マーク波WM(1)、WM(N+4)(本発明の「端に位置するマーク」の一例)は、上記判別処理の対象から除外し、判別後信号波WDとして判別しないようにしている。その理由を次に述べる。
まず、光学センサ53の検出領域E内にマーク81が進入したとき、受光素子57は、そのマーク81からの反射光だけを受光するわけではなく、当該マーク81の周辺領域からの拡散光をも受光する。このため、各実マーク波WMの波形は、たとえ同じ色(光反射率)のマーク81に対応するものであっても、マーク81の周辺領域の光反射率によって異なる。
具体的には、例えば図5の実マーク波WM(2)に対応するマーク81についてみると、その前後(同図の紙面左右方向)の領域には、同じようにマーク81が存在する。このため、このように前後で他の実マーク波WMに挟まれる実マーク波WM(2)は、前後の領域からほぼ同等レベルの拡散光を含んだ、略左右対称の波形となる。従って、その波形における中心位置Qが、対応するマーク81の位置(中心位置)を正確に示す。
これに対して、端に位置する実マーク波WM(1)に対応するマーク81についてみると、その前領域にはマーク81が存在せず、後領域にだけマーク81が存在する。このため、実マーク波WM(1)は、後領域からの拡散光よりも前領域から拡散光を多量に含んだ、左右非対称の波形となる(実線波形参照)。なお、図5の点線波形は、前領域にもマーク81が存在した場合の左右対称波形を示す。従って、左右非対称の波形における中心位置Q'は、対応するマーク81の位置(中心位置)を示す位置Q(左右対称の波形の中心位置)からずれることになり、データとしての信用性が低い。実マーク波WM(N+4)も同様に左右非対称になり、データとしての信用性が低い。
従って、このように上流端、下流端に位置するマーク81に対応する実マーク波WM(1)、WM(N+4)を判別処理の対象外として、形成ライン間隔の補正処理に利用しないことにしている。なお、実マーク波WM(1)、WM(N+4)は、例えば、検査用パターン83の形成開始時点あるいは上記検出信号SAの取得開始時点から、各信号波の検出時点までの時間差から特定することができる。
(3)ノイズ波
ところで、図5に示すように、例えば、ベルト31上に傷Bがあり、その部分の反射率がベルト面よりも低い場合、この傷Bに対応する信号波も、波高値が判別値TH0を超えて、判別後信号波WDとして判別されることがある。そうすると、本来、マーク81が存在しない位置をもマーク81の位置であると誤認識し、マーク群の位置関係を正確に決定できなくなる。なお、このように、実際にマーク81に対応しない信号波(以下、「実ノイズ波WN」という)は、ベルト31上の傷Bに限らず、汚れやゴミ等の付着物がベルト31上に付着したり、プリンタ1自身や周辺機器などからの電磁ノイズが検出信号SAに乗ったりする場合などにも生じ得る。そこで、CPU61は、次に示す抽出処理を実行し、本発明の「抽出部」として機能する。
(4)抽出処理
図6は、抽出処理を示すフローチャートである。この抽出処理が実行されると、実ノイズ波WNを含み得る、判別後信号波WD群のうち、マークに対応する基本波形との合致度合いが高いものから第1規定範囲内に属するものが、マークに対応する信号波として抽出される。以下、この抽出処理により抽出される判別後信号波WDを、「みなしマーク波WM'」という。
具体的には、S301で、上記判別処理で抽出された各判別後信号波WDについて、波形の評価指標の値を求める。本実施形態では、評価指標は波幅DM、DNであり、この波幅DM、DNは、各判別後信号波WDの波形と判別値TH0との2つの交点P、P間の距離(時間差)である。また、全ての判別後信号波WDの波幅DM、DNに基づき、それらの平均値DA及び標準偏差SDを算出する。
次にS303で、判別後信号波WD群から、標準偏差SDに応じた範囲(以下、「第1規定範囲」という)に属する判別後信号波WDを、みなしマーク波WM'として抽出する。この第1規定範囲は、次の式で表すことができる。
DA−(k・SD) < 第1規定範囲 < DA+(k・SD)
これにより、波幅の分布状況にかかわらず、波幅について平均値との合致度合いが高いものから、kに応じた割合の範囲内に属する判別後信号波WDを、みなしマーク波WM'として抽出できる。なお、本実施形態ではkは「1」に設定されており、全判別後信号波WDのうち、平均値DAとの合致度合いが最も高いものから上位約9割の範囲内が、第1規定範囲とされている。なお、例えば操作部69におけるユーザの操作により、kの設定値を変更することにより、第1規定範囲を変えることができる。
ここで、判別後信号波WD群を全般的にみると、実マーク波WM群と、ノイズ波WN群とは波形の評価指標が大きく異なることが多い。図5では、実マーク波WM群に対して、実ノイズ波WN群の方が、波形が小さい例を示している。また、判別後信号波WD群の中には、実ノイズ波WNが含まれるものの、大多数は実マーク波WMである。従って、判別後信号波WD群全体についての波幅DM、DNの平均値DAは、実マーク波WM群の平均的或いは代表的な波形である基本波形の波幅と概ね一致する。
そうすると、判別後信号波WD群から、標準偏差SDに応じた範囲(k・SDに応じた範囲)に属する判別後信号波WDを抽出することは、上記基本波形との合致度合いが高いものから優先的に抽出することであり、その結果、判別後信号波WD群から、実マーク波WMを優先的に抽出し、ほぼ実ノイズ波WNを除外することが可能になる。そこで、S303では、第1規定範囲に属する判別後信号波WDを、みなしマーク波WM'として抽出し、第1規定範囲外の下位の判別後信号波WDは、ノイズに対応する波であるとみなし、抽出しないようにしている。図5の例では、上記抽出処理の結果、N+2個の実マーク波WM(2〜N+3)がみなしノイズ波WM'として抽出され、実ノイズ波WN(1,2)は抽出されない。
以上のように、抽出処理により、ノイズ波除去用の閾値を用いることなく、実ノイズ波WNを除去できる。しかも、その抽出処理は、実マーク波WMとベルト面に対応する信号波とを判別するための判別値TH0とは無関係に行われるから、判別値TH0を変更して上記判別処理の感度を自由に調整できる。
更に、基本波形との合致度合いの高低の判断基準となる、平均値DAは、検出信号SAに含まれる信号波に基づき定められるものである。従って、例えばベルト31の劣化などによって光学センサ53での受光レベルの絶対量が低下したとしても、その低下量に応じて平均値DAも変化することで、ほぼ同じ精度で抽出処理ができる。
(5)除外処理
上記抽出処理により、実ノイズ波WN(1,2)を除外できたとしても、それに隣り合う実マーク波WM(3,4,N−1,N)の波形(以下、「ノイズ近傍波」という)は、実ノイズ波WN(1,2)に影響され、左右非対称となり得る。そうすると、上記上流端及び下流端の実マーク波WM(1、N+4)と同様、マーク位置の特定情報としての信用性が低くなることがある。そこで、CPU61は、図4のS400で除外処理を実行する。
図7は、除外処理を示すフローチャートである。この除外処理が実行されると、上記抽出処理で抽出されたみなしマーク波WM'群から、実ノイズ波WNに影響され、マーク位置の特定情報としての信用性が低いものを除外することができる。
具体的には、S401で,上記みなしマーク波WM'群の中に、ノイズ近傍波が存在するかどうかを判断する。図5の例では、実マーク波WM(3,4,N−1,N)の波形が順次ノイズ近傍波として選択される。そして、それらのノイズ近傍波は、形成ライン間隔の補正処理に支障を来すほど、マーク位置の特定情報としての信用性が低いものかどうかを判定していく。
S403で、ノイズ近傍波と、それと隣り合う実ノイズ波WNとの距離(例えば各波幅DM、DNの中心位置Q、Q同士の距離)が、第1閾値TH1以上かどうかを判定する。そして、第1閾値TH1未満であれば(S403:NO)、当該ノイズ近傍波は、実ノイズ波WNによる影響を大きく受けて、マーク位置の特定情報としての信用性が低くなっているとみなされ、除外候補とされて、S407に進む。
一方、第1閾値TH1以上であれば(S403:YES)、上記ノイズ近傍波は、実ノイズ波WNによる影響が小さく、マーク位置の特定情報としての信用性を維持しているとみなし、S405に進む。図5の例では、実ノイズ波WN(1)に近い実マーク波WM(3)は除候補外とされるが、実ノイズ波WN(1)から離れた実マーク波WM(4)は除外候補とされない。一方、実ノイズ波WN(2)は、実マーク波WM(N−1、N)のほぼ真ん中に位置しているため、実マーク波WM(N−1、N)はいずれも除外候補とされない。
S405では、ノイズ近傍波と隣り合う実ノイズ波WNの波高値が第2閾値TH2以下かどうかを判定する。そして、第2閾値TH2超であれば(S405:NO)、ノイズ近傍波は、その実ノイズ波WNによる影響を大きく受けて、マーク位置の特定情報としての信用性が低くなっているとみなされ、除外候補とされて、S407に進む。
一方、第2閾値TH2以下であれば(S405:YES)、上記ノイズ近傍波は、実ノイズ波WNによる影響が小さく、マーク位置の特定情報としての信用性を維持しているとみなし、S401に戻る。図5の例では、実ノイズ波WN(2)は、第2閾値TH2を超えるため、これと隣り合う実マーク波WM(N−1、N)が除外候補とされる。
S407では、上記S403、S405で除外候補とされたノイズ近傍波について、その勾配(例えば判別値TH0を交差する前後の波形の変動量)が第3閾値TH3以上かどうかを判定する。第3閾値TH3以上であれば(S407:YES)、たとえ実ノイズ波WNとの距離が近かったり、当該実ノイズ波WNの波高値が大きかったりしても、当該実ノイズ波WNの有無に応じて相違する拡散光の影響をほとんど受けずにマーク位置の特定情報としての信用性を維持しているとみなし、除外候補からはずし、みなしマーク波WM'群から除外しない。
一方、第3閾値TH3未満であれば(S407:NO)、上記ノイズ近傍波はやはりマーク位置の特定情報としての信用性が低いとみなし、S409で、みなしマーク波WM'群から除外する。たとえばブラックのマーク81は、他の色のマーク81に比べて、ベルト31表面との反射率差が大きいため、ブラックのマーク81に対応するノイズ近傍波は、勾配が比較的に大きくなり、その結果、S407で除外候補から外される可能性がある。なお、全てのノイズ近傍波について上記処理を実行すると(S401:NO)、本除外処理を終了する。
(6)決定処理
上記除外処理により実マーク波WM(3、N−1、N)が除外されると、それに対応するマーク位置を決定することができない。現在残存しているみなしマーク波WM'群について、マーク81の位置を決定すると、例えば図5の下段において実線で示したようになる。そこで、CPU61は、図4のS500の決定処理において、マーク81の位置を修正しつつ、マーク81の位置を最終的に決定する。
図8には、決定処理のうち、マーク81の位置の修正処理のみを示すフローチャートである。S501で、現在残存しているみなしマーク波WM'群について、互いに隣り合うもの同士の距離(以下、「マーク間距離L」という)をそれぞれ求めて、それらのうち下限値を下回るものがあるかを判断する。下限値を下回るものがあれば(S501:YES)、それは、現在残存しているみなしマーク波WM'群に、実ノイズ波WNが含まれているとし、S505でマーク位置の削除処理を行う。
仮に、図5の例で、実ノイズ波WN(2)の波幅がより大きくて、上記抽出処理でみなしマーク波WM'として抽出されれば、その両隣りに位置する実マーク波WM(N−1、N)も除外処理で除外されずに残ることになる。そうすると、実ノイズ波WN(2)と各実マーク波WM(N−1、N)とにおける2つのマーク間距離Lは、上記下限値を下回ることになり、それら2つのマーク間距離Lを区切るマーク位置を、実ノイズ波WN(2)に対応するものとして削除する。そして、S501に戻る。
一方、下限値を下回るものがなければ、あるいは、なくなれば(S501:NO)、S503に進み、マーク間距離Lが上限値を上回るものがあるかどうかを判断する。上限値を上回るものがあれば(S503:YES)、それは、除外処理等で実マーク波WMが除外されたとし、S507でマーク位置の補完処理を実行する。図5の例では、実マークWM(3、N−1、N)が除外されており、それに対応するマーク位置を補完する必要がある。
補完方法としては、上限値を超える各マーク間距離Lを上記規定ライン間隔で除算する。そして、その解の整数値と同じ数のマーク位置を、当該マーク間距離L内に均等配置してもよいし、当該マーク間距離Lの前後に位置する他の複数のマーク間距離Lの増減傾向に倣うように配置するようにしてもよい。そして、上限値を上回るものがなければ、あるいは、なくなれば(S503:NO)、本修正処理を終了する。
上記修正処理により、図5の下段の二点鎖線で示すように、マーク位置が補完され、これにて、各検査用パターン83についてマーク群の位置関係を決定することができる。そして、各検査用パターン83についてのマーク群の位置関係に基づき、形成ライン間隔を一律に揃えるための補正量データを生成し、例えばNVRAM67に記憶する。仮に、補正量データが既に記憶されていれば最新のものに更新する。
<他の実施形態>
本発明は上記記述及び図面によって説明した実施形態に限定されるものではなく、例えば次のような種々の態様も本発明の技術的範囲に含まれる。特に、各実施形態の構成要素のうち、最上位の発明の構成要素以外の構成要素は、付加的な要素なので適宜省略可能である。
(1)上記実施形態では、抽出処理において、標準偏差SDに応じた範囲に属する判別後信号波WDを抽出する構成であったが、これに限らない。例えば波幅DM、DNが,平均値DAから所定量ずれたものまで抽出する構成であってもよい。但し、上記実施形態の構成であれば、波幅の分布状況にかかわらず、kに応じた割合の範囲内に属する判別後信号波WDを抽出できるから、抽出数の決定、調整が容易である。
(2)上記実施形態では、判別後信号波WD群における波形の評価指標(波幅)の平均値を基準にマークに対応する基本波形との合致度合いの高低を判断したが、本発明はこれに限られない。例えば、判別後信号波WD群における評価指標の最大値と最小値との間の中心値であってもよし、下記変形例(4)の評価指標の最大値や最小値であってもよい。また、判別後信号波WD群に基づき定める値に限らず、予め設計的或いは実験的に定められた値であってもよい。要するに、実マーク波WM群の代表的、基本的、理想的な波形の評価指標になるものであればよい。
(3)上記実施形態では、第1規定範囲を標準偏差に応じて変更したが、本発明はこれに限られない。例えば、判別後信号波WD群における評価指標の最大値と最小値との差分量に応じて変更してもよい。要するに、判別後信号波WD群における波形の評価指標のバラツキ度合いに応じて変更する構成であればよい。
(4)また、図5に示すように、例えば実マーク波WM群の波形が、全体的に実ノイズ波WN群よりも大きい場合には、判別後信号波WD群のうち、波形の評価指標が最も大きいものの波形が、実マーク波WM群の代表的な波形である基本波形とみなすことができる。そこで、波形の評価指標の値が大きいものから規定数分、或いは、規定割合分(本発明の「第1規定範囲」の一例)の判別後信号波WD群を、みなしマーク波WM'として抽出する構成であってもよい。
具体的には、図9に示すように、S311でカウントHを初期化し、このカウントHが規定数に達していない間(S313:NO)、S315で判別後信号波WD群の中から、波幅DM、DNが最大のものを、みなしマーク波WM'として抽出し、S317でカウントHに1加えてS313に戻る。以後、S315では、みなしマーク波WM'として抽出したものを除いた、残りの判別後信号波WD群の中から、波幅DM、DNが最大のものを、みなしマーク波WM'として順次抽出していく。そして、みなしマーク波WM'の抽出数(カウントH)が規定数に達した場合に(S313:YES)、本抽出処理を終了する。
また、逆に、波形の評価指標の値が小さいものから規定数分、或いは、規定割合分(本発明の「第2規定範囲」の一例)の判別後信号波WD群を、ノイズに対応する信号波として除去し、残りの判別後信号波WD群を、みなしマーク波WM'として抽出する構成であってもよい。但し、上記実施形態の構成であれば、実マーク波WMよりも波高値が高い実ノイズ波WNを除去できる。
(5)検査用パターン83のマーク数を、補正処理で必要な数よりも大目にすることにより、実ノイズ波WNがみなしマーク波WM'として抽出される確率を下げることができる。なお、前回の補正処理で除去した実ノイズ波WNの数を例えばNVRAM67に記憶しておき、次回の補正処理時には、NVRAM67に記憶された実ノイズ波WNの数データに基づき、検査用パターン83のマーク数を増減させるようにしてもよい。
(6)上記実施形態では、抽出処理で使用する波形の評価指標は波幅DM、DNであったが、これに限らない。例えば波形の波高値、他の信号波との相対位置(例えば隣り合う他の信号波との距離(位相差))、波形の面積などであってもよい。なお、これらのうち、少なくとも2つ以上の評価指標を使って、基本波形との合致度合いの高低を判断するようにしてもよい。例えば波高値について第1規定範囲に属し、且つ、他の信号波との距離について第1規定範囲に属する場合に、みなしマーク波WM'として抽出すれば、より精度の高い判断ができる。
(7)また、上記実施形態では、判別処理と抽出処理とで同じ評価指標(波幅)を使用したが、本発明はこれに限られず、各処理ごとに異なる評価指標を使用する構成であってもよい。
(8)上記実施形態では、実ノイズ波WNに隣り合う実マーク波WMを全てノイズ近傍波として除外処理の対象としたが、これに限られない。1つの実ノイズ波WNに隣り合う2つの実マーク波WMのうち、実ノイズ波WNに近いものだけを除外処理の対象とすることで、マーク群の位置関係の決定に使用できるみなしマーク波WM'を多く確保するようにしてもよい。
(9)上述したように、ブラックのマーク81は、ベルト31表面との反射率差が大きいため、ブラックのマーク81に対応する信号波の勾配が比較的に大きく、実ノイズ波WNによる影響を受けにくい。そこで、このようにベルト31表面との反射率差が大きい色のマークに対応する信号波は、上記除外処理において除外しないようにしてもよい。
(10)上記実施形態では、S405でノイズ波WNの波高値が第2閾値TH2以下かどうかを判断したが、これに限られない。要するに、ノイズ近傍波に対するノイズ波の相対的な大きさが小さければ、当該ノイズ波による影響は小さいので、その相対的な大きさを判断すればよい。例えば、ノイズ近傍波に対するノイズ波の相対的な高さや相対比が所定の閾値以下かどうかを判断する構成であってもよい。
(11)上記実施形態では、検査用パターン83をベルト31上に形成する構成であったが、本発明の「対象物」はこれに限られない。例えば、光学センサ53がベルト31の上方に位置していれば、ベルト31で搬送する被記録媒体7に検査用パターン83を形成する構成であってもよい。
(12)上記実施形態では、形成ライン間隔の補正処理について本発明を適用した例を説明したが、本発明の適用対象はこれに限られない。例えば、被記録媒体7に対する、ブラック,シアン,マゼンタ,イエローの4色の画像の形成位置ずれ(色ずれ)を補正するための、いわゆるレジストレーション処理などでもよい。要するに、ベルト31などの対象物上に形成した複数のマークの位置関係を、センサ等を利用して決定し、その決定結果に基づき実行する処理(画像品質の補正処理)であればよい。
(13)上記レジストレーション処理の中には、次のようなものがある。例えば4色のマークで1組をなす複数のグループを有する、レジストレーションパターンをベルト31上に形成し、光学センサ53からの検出信号SAに基づき、各グループごとに各色マーク間の位置関係を決定する。そして、その位置関係に関して全グループの平均から、最終的に各色マーク間の位置関係を決定し、その決定結果から色ずれを補正するための補正量データを生成する。
このように、決定処理にて、複数のマークを、グループ単位で扱う場合、グループ内の1つのマークに対応する信号波が除外されたときには当該グループ全体を除外することが好ましい。
(14)上記実施形態では、CPU61は、検出信号SAをA/D変換して、検出信号SAの信号波形自体をそのまま把握する構成であったが、本発明はこれに限られない。例えば、検出信号SAレベルを基準レベル(例えば上記判別値TH0)と比較して2値化信号としてCPU61が取得する構成であってもよい。この場合、2値化信号の各パルス波形に基づきマークの位置決定、上記抽出処理等を行うことになる。
本発明の一実施形態に係るプリンタの概略構成を示す側断面図 光学センサ及びベルトの斜視図 プリンタの電気的構成を示すブロック図 形成ライン間隔の補正処理を示すフローチャート マーク、検出信号の信号波形、及び、マーク位置の関係を示した図 抽出処理を示すフローチャート 除外処理を示すフローチャート 修正処理を示すフローチャート 変形例の抽出処理を示すフローチャート
符号の説明
1...プリンタ(画像形成装置)
23...露光ユニット(形成部)
25...プロセスユニット(形成部)
31...ベルト(対象物)
53...光学センサ(センサ)
61...CPU(制御部、抽出部)
81...マーク
SA...検出信号

Claims (9)

  1. 対象物上に画像を形成する形成部と、
    前記形成部により複数のマークの画像を前記対象物上に形成させる制御部と、
    前記対象物上に光を照射する発光素子、及び、前記対象物からの反射光に応じた検出信号を出力する受光素子を有するセンサと、
    前記検出信号に含まれる複数の信号波のうち、波形の評価指標についてマークに対応する基本波形との合致度合いが高いものから第1規定範囲内に属する信号波を、前記マークに対応する信号波であるマーク波として抽出する抽出部と、を備える画像形成装置。
  2. 対象物上に画像を形成する形成部と、
    前記形成部により複数のマークの画像を前記対象物上に形成させる制御部と、
    前記対象物上に光を照射する発光素子、及び、前記対象物からの反射光に応じた検出信号を出力する受光素子を有するセンサと、
    前記検出信号に含まれる複数の信号波のうち、波形の評価指標についてマークに対応する基本波形との合致度合いが低いものから第2規定範囲内に属する信号波以外を、前記マークに対応する信号波であるマーク波として抽出する抽出部と、を備える画像形成装置。
  3. 請求項1または請求項2に記載の画像形成装置であって、
    前記基本波形の評価指標は、前記複数の信号波における評価指標の平均値である画像形成装置
  4. 請求項1から請求項3のいずれか一項に記載の画像形成装置であって、
    前記抽出部は、前記規定範囲を、前記複数の信号波における波形の評価指標のバラツキ度合いに応じて変更する画像形成装置
  5. 請求項4に記載の画像形成装置であって、
    前記抽出部は、前記規定範囲を、前記複数の信号波における評価指標の標準偏差に応じて変更する画像形成装置
  6. 請求項1から請求項5のいずれか一項に記載の画像形成装置であって、
    前記波形の評価指標は、前記信号波についての波高値、波幅、及び、他の波との相対位置のうち少なくともいずれか1つを含む画像形成装置
  7. 請求項1から請求項6のいずれか一項に記載の画像形成装置であって、
    前記制御部は、前記抽出部での前記マーク波の抽出数よりも多い数のマークを前記形成部に形成させる画像形成装置
  8. 請求項1から請求項7のいずれか一項に記載の画像形成装置であって、
    前記抽出部は、前記複数のマークのうち端に位置するマークに対応する信号波を、前記合致度合いの高低にかかわらず、抽出対象外とする画像形成装置
  9. 請求項1から請求項8のいずれか一項に記載の画像形成装置であって、
    前記抽出部は、前記波形の評価指標の値が基準範囲外である信号波を抽出対象外とし、残りの信号波群について前記波形の合致度合いの高低に基づき前記マーク波を抽出する画像形成装置
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