JP4727203B2 - 基板処理装置 - Google Patents

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Description

本発明は、スリットノズルを用いて基板に処理液を塗布する基板処理装置に関する。
液晶用ガラス角形基板、半導体基板、フィルム液晶用フレキシブル基板、フォトマスク用基板、カラーフィルター用基板などの各種基板の製造工程に用いられる塗布処理装置として、スリットノズルを基板に対して移動させつつそのスリットノズルから処理液を吐出することより基板全体に処理液を塗布する塗布処理(スリットコート)を行うスリットコータが知られている。
この塗布処理を高精度に遂行するためには、スリットノズルが塗布処理に適した所定状態となっていることが望ましい。より具体的には、図6及び図7の側面図に示すように、スリットノズルの先端部がその長手方向の全体に渡って、スリットノズル41の下端面に処理液Bが存在しない状態(図6)、あるいは、スリットノズル41の下端面に薄く均一に処理液Bの液溜まりが形成されている状態(図7)であることが理想である。つまり、スリットノズル41の先端部が、長手方向及び幅方向を問わず均一な状態となっていることが望ましいことになる。
しかしながら、塗布処理を繰り返し実行すると、図8に示すように、スリットノズル41の先端部の側面などに処理液Baが付着することがある。このように付着した処理液Baは、吐出口41aから吐出される処理液Bと干渉して塗布処理の精度を低下させる原因となる。これを解消するためにスリットコータでは、洗浄液を用いてスリットノズルの先端部を洗浄する洗浄処理がなされている。ただし、このような洗浄処理を行っても、図9に示すように吐出口41a内に洗浄液R(あるいは、空気)が入り込むことがあり、洗浄処理のみではスリットノズルの先端部を均一な所定状態に整えることは難しい。
このため従来より、スリットコータにおいては、洗浄処理を行った後にさらに、回転している略円筒状のローラの外周面にスリットノズルを近接させた状態で一定の処理液を吐出させ、これにより、スリットノズルの先端部を、図6,図7に示すような均一な所定状態に整えることがなされている(例えば、特許文献1,2参照)。この処理は、本来の基板に対する塗布処理の前に行われるため、「予備塗布処理(プリディスペンス)」と呼ばれる。
予備塗布処理によりローラの外周面に付着した処理液は、所定の洗浄液と混合された後、回転しているローラの外周面に当接される長尺状のブレードによって、ローラの外周面から掻き落とされて除去されるようになっている。一般に、このブレードは、ヤング率が610MPaから6530MPa程度のポリエチレン、ポリアセタール、ポリエステルなどのプラスチックで構成される。
特開2001−310147号公報 特開2004−167476号公報
ところで近年、基板のサイズの大型化に伴って、スリットコータのスリットノズルに要求されるサイズも長大化してきており、これにより、ローラの長手方向のサイズの長大化も進んでいる。
しかしながら、このようにローラの長大化が進むと、ローラの加工やその取り付けにおいて偏心が生じたり、取り付けたローラの自重によりローラの長手方向において微小な撓みが生じることがある。これにより、厳密なレベル(μmレベル)においては、ローラの外周面を、長手方向において直線的に配置することが難しくなってきている。
一方で、ローラへの付着物を除去するための上記のブレードは、ローラの長手方向に沿って略直線的に配置される。このため、ローラの外周面が長手方向において非直線となると、外周面の部分的には、ブレードによるローラへの押圧力が弱くなる箇所や、ブレードとローラとが接触しない箇所が生じることになる。その結果、ローラの外周面においては、部分的にブレードによって除去できなかった残留物が生じてしまい、この残留物がスリットノズルの所定状態への調整を阻害することになる。
本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであり、ローラの長手方向の全体に渡ってローラへの付着物を除去できる基板処理装置を提供することを目的とする。
上記課題を解決するため、請求項1の発明は、基板に処理液を塗布する基板処理装置であって、略水平な第1方向に沿って延び、前記第1方向に直交する略水平な第2方向に前記基板に対して相対移動しつつ前記基板に前記処理液を吐出可能なスリットノズルと、前記第1方向に沿って延び、外周面に前記スリットノズルから前記処理液を吐出させることにより、前記スリットノズルの先端部を所定状態に整える略円筒状のローラと、前記第1方向に沿って延び、前記ローラの前記外周面に当接することにより、前記外周面への付着物を除去する長尺状のブレードと、前記ローラの回転方向から見て前記ブレードの上流側に設けられており、前記ローラおよび前記ブレードの前記上流側により形成される空間に対して第1洗浄液を噴出する洗浄手段と、前記ローラの周囲を取り囲むように配置されており、内部に貯留された第2洗浄液に前記ローラを浸漬可能なハウジングと、を備え、前記ブレードは、ヤング率が1MPaから20MPaの範囲内である弾性体で構成され、前記第1および第2洗浄液は、同一の液である。
また、請求項2の発明は、基板に処理液を塗布する基板処理装置であって、略水平な第1方向に沿って延び、前記第1方向に直交する略水平な第2方向に前記基板に対して相対移動しつつ前記基板に前記処理液を吐出可能なスリットノズルと、前記第1方向に沿って延び、外周面に前記スリットノズルから前記処理液を吐出させることにより、前記スリットノズルの先端部を所定状態に整える略円筒状のローラと、前記第1方向に沿って延び、前記ローラの前記外周面に当接することにより、前記外周面への付着物を除去する長尺状のブレードと、前記ローラの回転方向から見て前記ブレードの上流側に設けられており、前記ローラおよび前記ブレードの前記上流側により形成される空間に対して第1洗浄液を噴出する洗浄手段と、前記ローラの周囲を取り囲むように配置されており、内部に貯留された第2洗浄液に前記ローラを浸漬可能なハウジングと、を備え、前記ブレードは、ゴムで構成され、前記第1および第2洗浄液は、同一の液である。
また、請求項3の発明は、請求項1または請求項2に記載の基板処理装置において、前記ブレードの厚さが、0.5mmから10mmの範囲内である。
また、請求項4の発明は、請求項1ないし請求項3のいずれかに記載の基板処理装置において、前記ローラに対する前記ブレードの押圧力を前記第1方向において部分的に調整可能な調整手段、をさらに備えている。
また、請求項5の発明は、請求項4に記載の基板処理装置において、前記調整手段は、前記ローラに対する前記ブレードの角度を前記第1方向において部分的に変更することで、前記押圧力を調整する。
請求項1ないし請求項5の発明によれば、ブレードがローラの外周面の形状に沿って変形可能なため、ローラにおいて自重撓みや偏心が生じたとしても、第1方向の全体に渡ってブレードがローラの外周面に接触できる。このため、第1方向の全体に渡ってローラへの付着物を除去できる。
また、特に請求項3の発明によれば、ブレードの耐久性と変形性能とのバランスをとることができる。
また、特に請求項4及び請求項5の発明によれば、ローラに対するブレードの押圧力を第1方向において部分的に調整可能なため、第1方向のいずれかにおいてブレードの押圧力が弱い部分があったとしてもこれを調整でき、第1方向の全体に渡ってローラへの付着物を除去できる。また特に請求項5の発明によれば、この押圧力を容易に変更できる。
以下、図面を参照しつつ本発明の実施の形態について説明する。
<1.基板処理装置の概要>
図1は、本発明の実施の形態に係る基板処理装置であるスリットコータ10の概略構成を示す斜視図である。スリットコータ10は、基板90の表面に処理液であるレジスト液を塗布するスリットコートと呼ばれる塗布処理を行う塗布処理装置であり、基板90の表面に形成された電極層などを選択的にエッチングするプロセスなどに利用される。スリットコータ10の塗布対象となる基板90は、代表的には液晶表示装置の画面パネルを製造するための角形のガラス基板であるが、半導体基板、フィルム液晶用フレキシブル基板、フォトマスク用基板、カラーフィルター用基板などの他の基板であってもよい。
図1に示すように、スリットコータ10は、装置全体を制御する制御部1と、塗布処理を実施する塗布処理部2とに大別される。制御部1は、塗布処理部2の各部と電気的に接続されており、塗布処理部2の各部の動作を統括的に制御する。制御部1は、CPU、RAM及びROMなどから構成されるマイクロコンピュータを備えている。制御部1による各種の制御機能は、CPUが所定のプログラムやデータに従ってRAMを利用しつつ演算処理を行うことにより実現される。また、制御部1には、オペレータからの入力操作を受け付ける操作部11と各種データを表示する表示部12とが設けられており、これらはユーザインタフェースとして機能する。
塗布処理部2は主として、基板90を保持するためのステージ3と、ステージ3に保持された基板90に対してレジスト液を吐出する吐出機構4と、吐出機構4を所定の方向に移動させる移動機構5とから構成される。
なお、以下の説明においては、方向及び向きを示す際に、適宜、図中に示す3次元のXYZ直交座標を用いる。このXYZ軸はステージ3に対して相対的に固定される。ここで、X軸及びY軸方向は水平方向、Z軸方向は鉛直方向(+Z側が上側)である。また、便宜上、X軸方向を奥行方向(+X側が正面側、−X側が背面側)とし、Y軸方向を左右方向(正面側からみたとき、+Y側が右側、−Y側が左側)とする。
ステージ3は略直方体の形状を有する花崗岩等の石材で構成されており、その上面は略水平に平坦に加工されて基板90の保持面30として機能する。保持面30には多数の真空吸着口が分散して形成されている。これらの真空吸着口により基板90が吸着されることにより、塗布処理の際に基板90が所定の位置に水平状態に保持される。
吐出機構4は主として、レジスト液を吐出するスリットノズル41と、スリットノズル41を支持するノズル支持部42と、ノズル支持部42の両端を支持して昇降させる2つの昇降機構43とから構成される。
スリットノズル41は、図外の供給機構から供給されるレジスト液を、スリット状の吐出口から基板90の上面へ吐出する。このスリットノズル41は、その吐出口が保持面30に対して略平行なY軸方向に沿って延び、かつ、鉛直下方(−Z側)に向けてレジスト液を吐出可能に、ノズル支持部42によって支持される。ノズル支持部42は、Y軸方向を長手方向とするカーボンファイバ補強樹脂等の板状部材で構成される。
2つの昇降機構43は、ノズル支持部42の左右両端部に連結されている。これらの昇降機構43はそれぞれ、ACサーボモータ及びボールネジ等を備え、ノズル支持部40及びそれに支持されたスリットノズル41を鉛直方向(Z軸方向)に昇降可能となっている。これら2つの昇降機構43により、スリットノズル41と基板90との間隔(ギャップ)や、基板90に対するスリットノズル41の姿勢等が調整される。
図1に示すように、これらのスリットノズル41、ノズル支持部42及び2つの昇降機構43を含む吐出機構4の全体により、ステージ3の左右両端部をY軸方向に沿って掛け渡す架橋構造が形成される。移動機構5は、このような架橋構造を有する吐出機構4の全体をX軸方向に沿って移動させる。
図に示すように移動機構5は、左右対称(+Y側と−Y側とでの対称)構造となっており、左右のそれぞれにおいて、吐出機構4の移動をX軸方向に案内する走行レール51と、吐出機構4を移動するための移動力を発生するリニアモータ52と、吐出機構4の位置を検出するためのリニアエンコーダ53とを備えている。
2つの走行レール51はそれぞれ、ステージ3のY軸方向の端部(左右端部)にX軸方向に沿って延設されている。これら2つの走行レール51に沿って2つの昇降機構43の下端部がそれぞれ案内されることにより、吐出機構4の移動方向がX軸方向に規定される。
2つのリニアモータ52はそれぞれ、固定子52aと移動子52bとを有するACコアレスリニアモータとして構成される。固定子52aは、ステージ3のY軸方向の側面(左右側面)にX軸方向に沿って設けられている。一方、移動子52bは、昇降機構43の外側に対して固設されている。リニアモータ52は、これら固定子52aと移動子52bとの間に生じる磁力によって吐出機構4を移動する。
また、2つのリニアエンコーダ53はそれぞれ、スケール部53aと検出部53bとを有している。スケール部53aはステージ3に固設されたリニアモータ52の固定子52aの下部にX軸方向に沿って設けられている。一方、検出部53bは、昇降機構43に固設されたリニアモータ52の移動子52bのさらに外側に固設され、スケール部53aに対向配置される。リニアエンコーダ53は、スケール部53aと検出部53bとの相対的な位置関係に基づいて、X軸方向における吐出機構4の位置(より具体的には、スリットノズル41の吐出口の位置)を検出する。
以上のような構成によって、スリットノズル41は、基板90が保持される保持面30の上部空間を、保持面30に対して平行なX軸方向に、保持面30に対して相対的に移動可能とされる。
このスリットノズル41は、塗布処理を行う前には、基板90の搬入が可能なように基板90を保持すべき所定の位置よりも背面側(−X側)の所定の待避エリア31に待避される(図1に示す状態)。
塗布処理にあたっては、まず、基板90が搬入されてステージ3の保持面30に保持される。続いて、スリットノズル41が基板90の背面側(−X側)の端部の直上位置まで移動されるとともに、スリットノズル41の吐出口からレジスト液の吐出が開始される。そして、このレジスト液を吐出した状態を維持したまま、スリットノズル41は正面側(+X側)へ向けて所定の速度で移動される。これにより、基板90に対するスリットノズル41による走査(吐出走査)がなされる。
そして、スリットノズル41が基板90の正面側(+X側)の端部の直上位置まで移動すると、吐出走査は完了し、スリットノズル41からのレジスト液の吐出が停止される。このような処理によって、基板90の略全面にわたって均一にレジスト液が塗布され、基板90の表面上に所定の膜厚のレジスト液の層が形成される。その後、スリットノズル41は再び待避エリア31に待避され、ステージ3から処理後の基板90が搬出される。これにより、一の基板90に対する一連の塗布処理が完了することになる。このような塗布処理に係る制御は制御部1によってなされることになる。
<2.ノズル調整部>
また、スリットコータ10は、上述した一連の塗布処理を行う前に、スリットノズル41の先端部を均一な正常状態に整える処理であるノズル調整処理を行うノズル調整部6を備えている。ノズル調整部6は、待避エリア31に待避中のスリットノズル41に対して処理が可能なように、待避エリア31の下方(−Z側)に配置される。このノズル調整部6も制御部1と電気的に接続され、制御部1によって制御される。
図2は、ノズル調整部6の構成を示す−Y側からの側面図である。ノズル調整処理は、スリットノズル41を洗浄液で洗浄する洗浄処理と、スリットノズル41に一定量のレジスト液を吐出させる予備塗布処理との2段階で行われる。このため、ノズル調整部6は、図に示すように、洗浄処理を行う洗浄処理部61と、予備塗布処理を行う予備塗布部62とを備えている。洗浄処理部61は、スリットノズル41の先端部の形状に合わせた洗浄空間61aを有しており、その洗浄空間61aへの対向面には洗浄液を噴出する複数の噴出口が配置されている。
また、予備塗布部62は主として、スリットノズル41からのレジスト液の吐出対象となるプリディスペンスローラ(以下、単に「ローラ」という。)63と、そのローラ63の周囲を取り囲むハウジング64とを備えて構成される。
ローラ63は、直径が例えば100mmから120mm、長手方向のサイズがスリットノズル41のY軸方向のサイズよりも若干大となる略円筒状の部材であり、その長手方向(軸心63aが延びる方向)がY軸方向に沿うように配置されている。ローラ63の材質は鉄であり、その外周面を含む表面には硬質黒メッキが施されている。ローラ63は、図外の駆動機構により軸心63aを中心として回転可能とされており、その回転方向は図中において矢印Arで示す方向(図2において時計回り)となっている。
ハウジング64は箱状の部材であり、その上部には開口部が形成されている。ローラ63は、その上部がハウジング64の開口部から外側に露出するように、ハウジング64内に配置される。また、ローラ63の外周面の最上部63bは、ステージ3に配置される基板90の高さとおおよそ一致されている。予備塗布処理を行う際には、この最上部63bに対して、スリットノズル41からレジスト液が吐出される。一方で、ハウジング64の内部には所定量の洗浄液81が貯留されており、ローラ63の下部はこの洗浄液81に浸漬される。
また、予備塗布部62は、ローラ63の外周面に付着した付着物を除去するための付着物除去部7を備えている。付着物除去部7は、Y軸方向に沿って延びる長尺状のブレード(ドクターブレード)71を、ローラ63の外周面に当接させた状態で備えている。このブレード71が、ローラ63の回転によりローラ63の外周面を走査することにより、ローラ63の外周面への付着物が掻き落とされるようになっている。この付着物除去部7についての詳細については後述する。
このような構成を有するノズル調整部6により実施されるノズル調整処理も制御部1の制御によってなされることになる。ノズル調整処理にあたっては、まず、洗浄処理を行うために、スリットノズル41が、その先端部が洗浄処理部61の洗浄空間61aに入る位置(図2において破線で示す位置)まで移動される。そして、洗浄処理部61の複数の噴出口からスリットノズル41の先端部に対して洗浄液が噴出される。これにより、スリットノズル41の先端部の側面などに付着したレジスト液が除去される。
洗浄処理が完了すると、次に、予備塗布処理を行うために、スリットノズル41は、ローラ63の外周面の最上部63bの直上位置(図2において実線で示す位置)まで移動され、ローラ63の外周面と所定のギャップを隔てて配置される。続いて、ローラ63の回転が開始され、この回転しているローラ63の外周面に対してスリットノズル41から一定時間、一定量のレジスト液が吐出される。これにより、予備塗布処理が実行され、図6あるいは図7に示す如くスリットノズル41の先端部が均一な所定状態に整えられる。これにより、ノズル調整処理は完了する。
予備塗布処理においてローラ63の外周面のうちレジスト液が吐出された部分(以下、「注目面」という。)は、ローラ63の回転によりハウジング64の下部に貯留されている洗浄液81に順次に浸漬される。これにより、注目面に付着したレジスト液と洗浄液81とが混合し、注目面からレジスト液がおおよそ除去される。
さらにローラ63が回転すると、洗浄液81に浸漬された注目面は、洗浄液81から引き上がられた後、ブレード71によって走査される。これにより、注目面への付着物(主に洗浄液やレジスト液の残留物など)がブレード71によって掻き取られ、注目面から付着物が除去される。このような処理により、レジスト液の吐出対象となるローラ63の外周面の最上部63bは、常に付着物が存在しない状態とされることになる。
このようにしてブレード71によって掻き取られた掻取物は、ローラ63とブレード71とによって形成される空間65に蓄積する。この蓄積した掻取物を放置しておくとブレード71の掻き取り性能に悪影響を与えるため、ハウジング64の内部の適位置には、掻取物が蓄積する空間65に対して洗浄液82を噴出して掻取物を下方に落とす洗浄ノズル66が設けられている。
この洗浄ノズル66は、図3に示すようにY軸方向に沿って配置され、空間65のY軸方向の全体に渡って洗浄液82を噴出可能とされている。洗浄ノズル66には、制御部1によって開閉制御可能な制御弁84を介して洗浄液供給部83から洗浄液が供給される。これにより、洗浄ノズル66による洗浄液82の噴出は、制御部1により制御されるようになっている。
またところで、予備塗布処理を繰り返すと、ハウジング64内に貯留された洗浄液81がレジスト液によって次第に汚染され、洗浄液81の洗浄能力が低下することになる。このため、スリットコータ10では、ハウジング64内に貯留された洗浄液81を定期的に交換できるようにされている。
すなわち、図3に示すように、ハウジング64のY軸方向の両側面には洗浄液81を供給するための供給口64aが設けられており、一方で、ハウジング64の下部には洗浄液81を排出するための排出口64bが設けられている。供給口64aは、制御弁85を介して洗浄液供給部83と接続され、排出口64bは制御弁86を介してスリットコータ10の外部まで導かれている。制御弁85及び制御弁86の双方は、制御部1によって開閉制御可能とされ、これらの制御弁85,86の開閉によって、ハウジング64内に貯留された洗浄液81の交換がなされるようになっている。なお、洗浄液81の液面の高さは、ハウジング64の下面に形成されるオーバフロー管64cによって、常に一定に保たれるようになっている。
洗浄ノズル66から洗浄液82を噴出するタイミングや、ハウジング64に貯留される洗浄液81を交換するタイミングは特に限定されないが、例えば、起動時、停止時、動作中断時、所定の枚数の基板を処理するごとなど、スリットコータ10の動作における所定のイベント毎に行えばよい。
<3.付着物除去部>
次に、付着物除去部7についてさらに詳細に説明する。図4は付着物除去部7の構成を詳細に示す図である。図に示すように付着物除去部7は、弾性体のブレード71と、ブレード71を保持する金属製のブレード保持部材72とで構成される。
弾性体のブレード71の具体的な素材としては、シリコンゴム(シリコン樹脂)、EPDM(Ethylene Propylene Diene Methylene Linkage/エチレンプロピレンジエン三元共重合体/エチレンプロピレンゴム)、ブチルゴム、フッ素ゴム、パーフロ(登録商標)、及び、カルレッツ(登録商標)などの合成ゴムを採用することが好ましい。
このブレード71の素材のヤング率として好ましい範囲は1MPaから20MPa(すなわち1MPa以上かつ20MPa以下)であり、さらに好ましい範囲は6MPaから20MPaである。また特に、ブレード71としてシリコンゴムを採用する場合においては、そのヤング率として好ましい範囲は6MPaから9.5MPaである。
プラスチックではなく、硬さが比較的小となるこのような弾性素材をブレード71として採用することにより、ブレード71が比較的容易に変形することになる。このため、図4に示すように、ブレード71は、当接によってXZ平面内にて変形することにより、ローラ63の外周面に対して線接触でなく面接触でき、ローラ63の外周面の付着物を掻き落す性能を大幅に向上できる。
さらに、ブレード71は、そのY軸方向においても比較的容易に変形できる。このため、偏心や自重を原因としてローラ63の外周面に「うねり」や「たわみ」があり、ローラ63の外周面がY軸方向に沿った直線上に配置されていなくても、当接しているローラ63の外周面のY軸方向の形状(「うねり」や「たわみ」)に合わせてブレード71が変形する。その結果、Y軸方向においてブレード71とローラ63の外周面とが接触しない箇所がなくなり、ブレード71がローラ63の外周面のY軸方向の全体に渡って接触することになる。つまり、ローラ63の外周面のY軸方向の全体の付着物が、ブレード71により除去されることになる。
このブレード71の厚さ(図4中の符号71tで示す長さ)は、0.5mmから10mm(すなわち0.5mm以上かつ10mm以下)の範囲内であることが好ましい。ブレード71の厚さを小さくするとブレード71の耐久性が低くなり、頻繁にブレード71を交換する必要がある。一方で、ブレード71の厚さを大きくすると耐久性は向上するが、ブレード71のY軸方向における変形性能が低下する。ブレード71の厚さが上記の範囲にあることで、このようなブレード71の耐久性と変形性能とのバランスをとることができることになる。
ところで、ローラ63の外周面に対するブレード71の押圧力は、ブレード71のハウジング64に対する相対的な角度(以下、「配置角度」という。)を変更することで調整できるようになっている。つまり、ハウジング64とローラ63との相対的な配置関係は固定的なため、ブレード71の配置角度は、ローラ63に対するブレード71の角度を規定し、さらには、ローラ63に対するブレード71の押圧力を規定することになる。このブレード71の配置角度は、ブレード71を保持するブレード保持部材72によって変更可能とされている。
図4に示すように、ブレード保持部材72は主として、ブレード71を2つの爪73a,73bによって直接的に保持する第1保持部73と、第1保持部73を支持する第2保持部74と、ハウジング64に対して固設される第3保持部75とから構成される。
第2保持部74と、第3保持部75とは相互間の角度を調整可能なように角度調整ネジ76を介して固定されている。したがって、角度調整ネジ76を調節することで、第2保持部74と、それに保持される第1保持部73と、さらにその第1保持部73に保持されるブレード71との、ハウジング64に対する相対的な角度(すなわち、「配置角度」)が調整されることになる。
また、このブレード71の配置角度は、Y軸方向において部分的に変更することも可能とされている。図に示すように、第1保持部73は、上下2つのボルト77,79及びバネ78により、第2保持部74に支持される。下方ボルト77は、第1保持部73を非結合で貫通し、その先端部が第2保持部74に対して固定されている。そして、この下方ボルト77の頭部と第1保持部73の下面との間にはバネ78が配置され、これにより第1保持部73には、第2保持部74に対して接近する向きの付勢力が与えられる。
一方で、上方ボルト79は、第2保持部74に形成されるネジ山に結合されつつ第2保持部74を貫通し、その先端部が第1保持部73の上部に当接されている。つまり、上方ボルト79は、バネ78による付勢力に逆らうように第1保持部73に当接することになる。
また、この上方ボルト79が当接する第1保持部73の上部側の爪73aは、例えば2mm程度の比較的薄いステンレス板で構成され、上方ボルト79による押圧力によって弾性的に変形可能とされている。このため、上方ボルト79を締めると、それに当接している部分の爪73aが変形し、さらに、その変形した爪73aに保持された部分のブレード71も変形して下方に向くことになる。つまり、上方ボルト79を締め具合を調整することにより、Y軸方向において、その上方ボルト79の当接箇所のみに関してのブレード71の配置角度を調整できることになる。
図5のブレード71の背面図に示すように、このような上方ボルト79は、Y軸方向の複数の箇所で所定の間隔ごとに配置されている。したがって、この上方ボルト79が配置される位置ごとに、局所的にブレード71の配置角度を調整できることになる。つまり、Y軸方向の全体に関してのブレード71の配置角度は角度調整ネジ76によって変更でき、Y軸方向の部分的なブレード71の配置角度は上方ボルト79によって変更できることになる。
このように、ブレード71の配置角度がY軸方向において部分的に変更できることにより、ブレード71のローラ63に対する押圧力もY軸方向において部分的に調整できることになる。ブレード71として上記のような弾性素材を採用したとしても、経年劣化などにより、ローラ63の外周面に対するブレード71の押圧力がY軸方向において一定とならず局所的に押圧力が弱くなる可能性がある。このため、このような箇所に関しては、ローラ63に対するブレード71の押圧力が上がるように調整すれば、この箇所においても確実に付着物を除去できる。したがって、ローラ63への付着物を、Y軸方向の全体に渡ってさらに確実に除去できることになる。
スリットコータの概略構成を示す斜視図である。 ノズル調整部の構成を示す側面図である。 洗浄液の供給系統及び排出系統を示す図である。 付着物除去部の構成を詳細に示す図である。 上方ボルトの配置を示す図である。 スリットノズルの先端部の正常状態の一例を示す図である。 スリットノズルの先端部の正常状態の一例を示す図である。 スリットノズルの先端部の不良状態の一例を示す図である。 スリットノズルの先端部の不良状態の一例を示す図である。
符号の説明
1 制御部
2 塗布処理部
6 ノズル調整部
61 洗浄処理部
62 予備塗布部
63 ローラ
71 ブレード
72 ブレード保持部材
79 上方ボルト

Claims (5)

  1. 基板に処理液を塗布する基板処理装置であって、
    略水平な第1方向に沿って延び、前記第1方向に直交する略水平な第2方向に前記基板に対して相対移動しつつ前記基板に前記処理液を吐出可能なスリットノズルと、
    前記第1方向に沿って延び、外周面に前記スリットノズルから前記処理液を吐出させることにより、前記スリットノズルの先端部を所定状態に整える略円筒状のローラと、
    前記第1方向に沿って延び、前記ローラの前記外周面に当接することにより、前記外周面への付着物を除去する長尺状のブレードと、
    前記ローラの回転方向から見て前記ブレードの上流側に設けられており、前記ローラおよび前記ブレードの前記上流側により形成される空間に対して第1洗浄液を噴出する洗浄手段と、
    前記ローラの周囲を取り囲むように配置されており、内部に貯留された第2洗浄液に前記ローラを浸漬可能なハウジングと、
    を備え、
    前記ブレードは、ヤング率が1MPaから20MPaの範囲内である弾性体で構成され
    前記第1および第2洗浄液は、同一の液であることを特徴とする基板処理装置。
  2. 基板に処理液を塗布する基板処理装置であって、
    略水平な第1方向に沿って延び、前記第1方向に直交する略水平な第2方向に前記基板に対して相対移動しつつ前記基板に前記処理液を吐出可能なスリットノズルと、
    前記第1方向に沿って延び、外周面に前記スリットノズルから前記処理液を吐出させることにより、前記スリットノズルの先端部を所定状態に整える略円筒状のローラと、
    前記第1方向に沿って延び、前記ローラの前記外周面に当接することにより、前記外周面への付着物を除去する長尺状のブレードと、
    前記ローラの回転方向から見て前記ブレードの上流側に設けられており、前記ローラおよび前記ブレードの前記上流側により形成される空間に対して第1洗浄液を噴出する洗浄手段と、
    前記ローラの周囲を取り囲むように配置されており、内部に貯留された第2洗浄液に前記ローラを浸漬可能なハウジングと、
    を備え、
    前記ブレードは、ゴムで構成され
    前記第1および第2洗浄液は、同一の液であることを特徴とする基板処理装置。
  3. 請求項1または請求項2に記載の基板処理装置において、
    前記ブレードの厚さが、0.5mmから10mmの範囲内であることを特徴とする基板処理装置。
  4. 請求項1ないし請求項3のいずれかに記載の基板処理装置において、
    前記ローラに対する前記ブレードの押圧力を前記第1方向において部分的に調整可能な調整手段、
    をさらに備えることを特徴とする基板処理装置。
  5. 求項4に記載の基板処理装置において、
    前記調整手段は、前記ローラに対する前記ブレードの角度を前記第1方向において部分的に変更することで、前記押圧力を調整することを特徴とする基板処理装置。
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