JP4711649B2 - ラスタ顕微鏡 - Google Patents
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Description
更に、各従属請求項により、付加的な効果が後述の通りそれぞれ達成される。
(形態1)上記基本構成のとおり。
(形態2)スペクトル分解された前記検出光を2つの相異なる個別検出器に供給するミラー装置が設けられていることが好ましい。
(形態3)前記被検対象の透過光が前記差込入射装置に供給されることが好ましい。
(形態4)前記差込入射装置が、プラグ部材を有する前記光伝送ガイド部材と接続するための差込結合部と、前記光伝送ガイド部材からの光を射出するための射出光学系とを含み、前記差込入射装置のミラーが、前記光伝送ガイド部材からの光を前記検出ビーム路の光軸へ偏向することが好ましい。
(形態5)前記光伝送ガイド部材が取り外されると、外部に対して光を遮断するよう前記差込入射装置を自動的に閉鎖する閉鎖装置を有することが好ましい。
(形態6)前記外部の検査装置からの光を前記検出器へ偏向する偏向要素が前記検出ビーム路内へ挿入可能であることが好ましい。
(形態7)該ラスタ顕微鏡は共焦点ラスタ顕微鏡として構成されることが好ましい。
(形態8)前記光源が、フォトニックバンドギャップ物質を含む連続発振レーザとして構成されていることが好ましい。
3 光源
5 照明光ビーム
7 被検対象(試料)
8 走査ユニット
9 照明ピンホール絞り
11 主ビームスプリッタ
13 走査ミラー
15 顕微鏡対物レンズ
17 検出光
19 検出ピンホール絞り
21 検出器
23 分散要素(スペクトル分解要素)
25 ミラー装置
27 個別検出器(検出要素)
28 個別検出器(検出要素)
29 個別検出器(検出要素)
31 差込入射装置
33 非検出光光
35 差込結合部
37 光伝送ガイド部材
39 外部の装置ないし検査系
41 射出光学系
43 (偏向)ミラー(偏向要素)
45 半導体レーザ
46 プリズム
47 半導体レーザ
48 フィールドレンズ
49 偏向ミラー
51 絞り面(Blendenbacken)
53 絞り面
55 連続(発振)レーザ
57 透過光
59 コンデンサ
61 差込光学系
63 ランプハウジング
65 ビーム結合器
67 ビームトラップ
69 回転軸線
71 リンク装置
73 引っ張りバネ
Claims (8)
- ラスタ顕微鏡内の被検対象を照明するための光源と、検出ビーム路とを有し、外部の検査装置からの光をもスペクトル検出可能なラスタ顕微鏡において、
前記検出ビーム路内には検出器としてマルチバンド検出器又はスペクトロメータが配され、前記被検対象から射出する検出光が分散要素を用いてスペクトル分解され、前記検出器により検出され、更に該ラスタ顕微鏡には前記検出ビーム路の光軸方向に光を入射させる差込入射装置が前記分散要素の前に挿入可能であり、更に前記差込入射装置が光伝送ガイド部材と接続されていて、この光伝送ガイド部材が、該ラスタ顕微鏡の外部の検査装置からの光を前記差込入射装置に供給し、前記差込入射装置がこの光を前記検出ビーム路に差込入射し、前記検出ビーム路の光軸へ偏向し、前記分散要素を介して前記検出器に供給すること、及び、
前記差込入射装置が挿入されると、リンク装置を介して前記検出ビーム路内へ移動する少なくとも1つのビームトラップが設けられていること
を特徴とするラスタ顕微鏡。 - スペクトル分解された前記検出光を2つの相異なる個別検出器に供給するミラー装置が設けられていること
を特徴とする請求項1に記載のラスタ顕微鏡。 - 前記被検対象の透過光が前記差込入射装置に供給されること
を特徴とする請求項1に記載のラスタ顕微鏡。 - 前記差込入射装置が、プラグ部材を有する前記光伝送ガイド部材と接続するための差込結合部と、前記光伝送ガイド部材からの光を射出するための射出光学系とを含み、前記差込入射装置のミラーが、前記光伝送ガイド部材からの光を前記検出ビーム路の光軸へ偏向すること
を特徴とする請求項1に記載のラスタ顕微鏡。 - 前記光伝送ガイド部材が取り外されると、外部に対して光を遮断するよう前記差込入射装置を自動的に閉鎖する閉鎖装置を有すること
を特徴とする請求項1〜4の何れか1項に記載のラスタ顕微鏡。 - 前記外部の検査装置からの光を前記検出器へ偏向する偏向要素が前記検出ビーム路内へ挿入可能であること
を特徴とする請求項1〜5の何れか1項に記載のラスタ顕微鏡。 - 該ラスタ顕微鏡は共焦点ラスタ顕微鏡として構成されること
を特徴とする請求項1〜6の何れか1項に記載のラスタ顕微鏡。 - 前記光源が、フォトニックバンドギャップ物質を含む連続発振レーザとして構成されていること
を特徴とする請求項1〜7の何れか1項に記載のラスタ顕微鏡。
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