JP4669660B2 - 偏光板取付装置 - Google Patents

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Description

本発明は、偏光板取付装置に関し、特に、多数のLCDユニットセルを含む組立基板上に偏光板を取り付けるための偏光板取付装置に関する。
一般的に、液晶表示装置は他の種類の表示装置に比べて重さ及び体積が相対的に少ない長所を有する。しかし、液晶表示装置は重さ及び体積を減少させるために非常に複雑な製造工程を必要とする。
従来の方法では、液晶表示装置を製造するための第一工程は、母基板にTFTユニットセル(unit cell)及びカラーフィルターユニットセル(color filter unit cell)を製造する工程が含まれる。第1工程は、たとえば、「特許文献1:表示装置の製造方法」に詳しく開示されている。
液晶表示装置を製造するための弟2工程は、母基板に形成されたTFTユニットセル及びカラーフィルターユニットセルに液晶を配向(alignment)するラビング工程(rubbing process)を含む。第2工程は、たとえば、「特許文献2:配向装置、液晶表示装置用基板」に液晶を配向するためのラビング布、液晶表示装置製造方法に詳しく開示されている。ラビング工程はラビングローラ(rubbing roller)にパイル(pile)が植設されたラビング布を配向膜に密着させて回転させる。これによって、配向膜の表面には液晶を予め傾斜(pre-tilt)させるための配向溝(alignment groove)が形成される。
液晶表示装置を製造するための第3工程は、特許文献1に開示されている。第3工程は、TFTユニットセルが形成された母基板及びカラーフィルターユニットセルが形成された母基板をアセンブリ(assembly)するアセンブリ工程を含む。この時、アセンブリされた第1母基板及び弟2母基板を“組立基板”と称し、アセンブリされたTFTユニットセル及びカラーフィルターユニットセルは、一般的に“LCDユニットセル(LCD unit cell)と称する。
液晶表示装置を製造するための第4の工程は、特許文献1に開示されている。第4工程は組立基板からLCDユニットセルを切断して分離する個別化工程を含む。組立基板から分離されたLCDユニットセルはLCDパネル(Liquid crystal displaypanel)であると称する。
液晶表示装置を製造するための第5工程は、組立基板から個別化されたLCDパネルにテスト駆行動信号を印加して、LCDパネルを検査する検査工程を含む。
液晶表示装置を製造するための第6工程は良品LCDパネルのTFTユニットセル及びカラーフィルターユニットセルの間に形成されたセルギャップ(cell gap)に液晶を供給する液晶工程及びセルギャップを調節するセルギャップ調節工程を含む。
液晶表示装置を製造するための第7の工程は,LCDパネルに偏光板を取り付けする偏光板取付工程及びLCDパネルに駆動モジュール(driving module)を設置するモジュール工程を含む。駆動モジュールの設置されたLCDパネルはLCDパネルアセンブリ(LCD panel assembly)と称する。
従来、液晶表示装置製造工程においては、第1工程および第7工程の順序を保持しながら各工程での工程不良及び工程誤謬を見つけ出し、改善する工程を繰り返して発展してきた。
しかし、従来の液晶表示装置を製造する工程はいくつかの欠陥を有している。代表的な問題点としては、第1工程ないし第3工程における工程進行速度と第4工程ないし第7工程における工程進行速度が互いに異なることである。一般的に第1工程ないし第3工程における進行速度が第4工程ないし第7工程の工程速度より速い。
例えば,TFTユニットセル製造工程、カラーフィルターユニットセル製造工程、組立基板を形成する工程の進行速度は、切断工程、検査工程、液晶注入工程、セルギャップ調節工程、モジュール工程を進行する進行速度より速い。
このようなことにより、第3工程を終了した組立基板は第4工程に進行むために一定の時間を待たざるを得ないことになる。工程待機時間が長くなればなるほど液晶表示装置の生産効率は減少する。
これを克服するためには、第4工程ないし第7工程を行う工程設備を多く増設する方法がある。しかし、この方法は組立基板の工程待機時間を短縮させる反面、設備投資費用を大幅増加させるという問題点を発生させる。
従来、液晶表示装置を製造する方法における細部的な問題点は次のようである。
先ず、第1の問題点は液晶を配向するラビング工程を行う過程で生じる。従来のラビング工程では、配向膜にパイルが形成されたラビング布を擦ることによって液晶を配向するための配向溝(align groove)を形成する。しかし、従来のラビング工程は配向溝が形成される過程で配向膜から多量の微細パーティクルが発生する問題点を有する。ラビング工程時に発生した微細なパーティクルは高い洗浄度を要求する薄膜製造設備での工程不良を誘発させる。
また、ラビング工程時に発生した微細パーティクルを取り除くためには洗浄工程を必ず実施べきである。洗浄工程は配向膜に取り付いている微細パーティクルを化学溶液で取り除くためのケミカル洗浄,ケミカルを除去するための純水洗浄及び純粋を乾かすための乾燥工程が含まれる。結局、洗浄工程が追加することによって液晶表示装置の全体製造時間は大きく増加する。
また、従来のラビング工程では、ラビング布を周期的に交換もしくはクリーニングしなければならない。従って、配向膜工程を実施ラビングする設備は連続的に運転しにくいので生産効率が低くなる。
かつ、従来のラビング工程は、ラビング布に形成されたパイルを使って配向溝を形成するので配向膜に配向溝を形成した後、配向溝の不良可否を判断しにくい問題も有する。配向溝の不良可否は液晶表示装置が製造された後、信頼性テスト中にしか発見できない。配向溝の形成状態が不良な液晶表示装置は表示品質が低下され、商品としての値が落ちてしまう。
また、配向溝不良は再作業(rework)が殆んど不可能なことになり、生産数率を大幅に低下させることになる。
第2の問題点は、組立基板を製造した後発生する。組立基板を製造した後、液晶を注入するために組立基板からLCDユニットセルを分離して、LCDパネルを製作する過程が行われる。この過程でLCDパネルに形成された信号入出力端子は大気中に露出される。信号入出力端子は大気中の酸素により酸化され、これによって厚さが薄い酸化被膜(oxidation film)が信号入出力端子の表面に形成される。高い抵抗を持つ酸化被膜は信号入出力端子の電気的特徴を多く低下させ、ディスプレイ(display)表面品質に影響を与える。
第3の問題点はモジュール工程で生じる。液晶が注入されたLCDパネルにはモジュールによって偏光板が取付けられる。この時、偏光板は組立基板から分離された各々のLCDパネル毎に個別的に取付けられるので、偏光板取り付けに相当の時間が必要とされる。このような問題点を克服するためには、偏光板は組立基板のLCDユニットセルに取り付けられた後切断することができる。しかしながら、このような方法は組立基板を切断する前にLCDユニットセルの良否を判別できない問題点が生じる。これにより、不良LCDユニットセルにも偏光板が取付けられることとなり、高価な偏光板が無駄になるという違う問題点を有することになる。
米国特許6、391、137号明細書 米国特許5、879、479号明細書
本発明の技術と課題は上記のようなことに着眼してなされたものであって、本発明の目的は、組立基板を切断する前にLCDユニットセルを取り付けることができる偏光板取付装置を提供することにある。このような本発明の目的を具現するため本発明のベース本体、ベース本体に配置され、第1偏光母基板より切断する第1切断モジュール、ベース本体に配置され、第1偏光板を覆っている第1保護をシートを剥離する第1保護シートストリップモジュール及びベース本体に配置され、第1保護シートが剥離された第1偏光板を第1面に取り付ける第1偏光板取付モジュールを含む偏光板取付装置を提供する。
本発明は少なくとも一つのLCDユニットセルを有する組立基板及び組立基板に偏光板まで付着した後LCDユニットセルを組立基板より分離してLCDパネルを製作し、LCDパネルに駆動モジュールを設置して液晶表示装置を製作して製造工程を大きく改善する効果を持ち得る。
また、本発明はLCDユニットセルのTFTユニットセル及びカラーフィルターユニットセルの上面に非接触方式で液晶を配向して従来のラビング工程によって液晶を配向するときに比べて製造工程短縮及び配向特性を大きく向上させる効果を有する。
また、本発明は組立基板に形成されたLCDユニットセルを個別化する前にLCDユニットセルを非接触方式で検査して偏光板製造工程で不良LCDユニットセルに偏光板が取り付けられないようにする効果を有する。
また、本発明は組立基板のLCDユニットセルに偏光板を取り付ける過程を組立基板上で実施することで偏光板を取り付ける際に必要とされる時間を大きく短縮させる効果を有する。
以下、図面を参照して本発明の望ましい一実施例をより詳細に説明する。
図1は、本発明の一実施例による液晶表示装置の製造方法を示したフローチャートである。
図1によると、液晶表示装置を製造するために、先ず、少なくとも1つのTFTユニットセル(thin film transistor unit cell)が第1母基板に形成され、少なくとも1つのカラーフィルターユニットセル(color filter unit cell)が第2母基板に形成される(段階100)。この時、第1母基板にTFTユニットセルを形成する過程と第2母基板にカラーフィルターユニットセルを形成する過程は互い異なる経路を通じて遂行される。
図2は、図1の段階100によって第1母基板及び第1母基板に形成されたTFTユニットセル形成領域を示した概念図である。
図2によると、第1母基板(10)は、例えば、1600mm×1400mmの平面積を有する。弟1母基板(10)は透明でありながら高い耐熱性を有する好ましいガラス基板(glass substrate)である。
TFTユニットセル形成領域(20)は第1母基板に少なくとも一つが形成される。本実施例では第1母基板(10)に6個のTFTユニットセル形成領域(20)が形成される。各TFTユニットセル形成領域(20)の内部にはTFTユニットセル(TFTunit cell;30)が形成される。
図3は、図2に図示されたTFTユニットセル形成領域に形成されたTFTユニットセルをなす画素電極及び薄膜トランジスター(transistor)を図示した概念図である。図4は、図3の薄膜トランジスター及び画素電極を示した断面図である。
図3若しくは図4によると、TFTユニットセル(30)は薄膜トラジスタ(thin film Transistor、TFT;40)、ゲートバスライン(gate bus line;50)、データバスライン(data bus line;60)及び画素電極(pixel electrode;70)を含む。
ゲートバスライン(50)は、ゲートライン(52)及びゲート電極(42)で構成される。データバスライン(data bus line;60)は、データライン(62)及びソース電極で構成される。
薄膜トランジスタ40は液晶表示装置の解像度が1024*768の場合、TFTユニットセル形成領域20の内部に1024*768*3個がマトリクス形状で形成される。
各薄膜トランジスタ40はゲートバスライン50から分岐されたゲート電極42、ゲート絶縁膜43、データべース50から分岐されたソース電極44、ドレーン電極46及びチャンネル層48で構成される。
画素電極70は光透過率及び電気導電度に優れかつ透明な物質で製作される。望ましくは、画素電極70はインジウム錫酸化膜物質またはインジウム亜鉛酸化膜物質から製作される。画素電極70は1つの薄膜トランジスタ40毎に1つずつ形成され、薄膜トランジスタ40のドレーン電極46に接続される。
図5は、本発明の実施例による第2の母基板及び第2の母基板に形成されたカラーフィルターユニットセル形成領域を示した概念図である。
第2の母基板80は1600mm*1400mmのサイズを有する。望ましくは、第2の母基板80は透明かつ高い耐熱性を有するガラス基板である。
カラーフィルターユニットセル形成領域90は、第2の母基板80に少なくとも1つが形成される。望ましくは、カラーフィルターユニットセル領域90は第2の母基板80に6つが形成される。カラーフィルターユニットセル100は各カラーフィルターユニットセル形成領域90毎に1つずつ形成される。
図6は、図5のカラーフィルターユニットセルの一部を切断した断面図である。
図5または図6を参照すると、カラーフィルターユニットセル100はカラーフィルター110及び共通電極120で構成される。
カラーフィルター110は白色光のうちレッド波長の光だけを通過させるレッドカラーフィルター112、白色光のうちグリーン波長の光だけを通過させるグリーンカラーフィルター114及び白色光のうちブルー波長の光だけを通過させるブルーカラーフィルター116で構成される。レッドカラーフィルター112、グリーンカラーフィルター114及びブルーカラーフィルター116は図3に示したTFTユニットセル30の画素電極70と1対1に対応する位置に形成される。
共通電極120は光透過率が高く導電度の高い物質で製作される。望ましくは共通電極120はインジウム錫酸化膜物質またはインジウム亜鉛酸化膜物質で製作される。共通電極120はカラーフィルター1の上面に形成され、カラーフィルターユニットセル形成領域90の全体に形成される。
また、図1に示すように、第1の母基板10にTFTユニットセル30、第2の母基板80にカラーフィルターユニットセル100が形成された後、TFTユニットセル30及びカラーフィルターユニットセル100の表面には非接触方式で液晶を配向する過程が実施される(段階200)。
TFTユニットセル30及びカラーフィルターユニットセル100の表面に非接触方式に液晶を配向することは、従来、配向膜に使用されたポリイミド薄膜及びラビング工程を通じて液晶を配向するときに発生する問題点らを解決するためのものである。
TFT基板ユニットセル30を有する第1の母基板10及びカラーフィルターユニットセル100を有する第2の母基板80は、重力方向に立てられた状態で自動搬送台車(Auto Guided Vehicle:AGV)または手動搬送台車によって液晶を配向するための後続工程へ移送される。
このとき、第1の母基板10及び第2の母基板80を垂直搬送する理由は、第1の母基板10及び第2の母基板80のサイズが次第に増して第1の母基板10及び第2の母基板を移送する過程においての様々な問題点を解決するためである。
例えば、自動搬送台車または手動搬送台車が第1の母基板10及び第2の母基板80を重力方向に対して垂直方向である水平方向に搬送する場合、第1の母基板10及び第2の母基板80は重力によって撓みが発生する。第1の母基板10または第2の母基板80に撓みが発生する場合、第1の母基板10に形成されたTFTユニットセル30または第2の母基板80に形成されたカラーフィルターユニットセル100に形成されたパターンが崩れたり壊れたりする問題点を有する。
第1の母基板10及び第2の母基板80に形成されたパターンの崩れまたは壊れは垂直搬送によって解決される。これは第1の母基板10及び第2の母基板80を垂直搬送する場合、重力による第1の母基板10及び第2の母基板80の撓みを最小化することができるからである。
また、第1の母基板10及び第2の母基板80を垂直搬送する場合、クリーンルームの天井から床の方向にダウンフローする空気と第1の母基板10及び第2の母基板80の接触面積を縮小して、ダウンフローする空気による第1の母基板10及び第2の母基板80の汚染を大きく減少させることができる。
さらに、液晶表示装置を製造する設備の殆どは基板垂直方向に立てて設備に固定させた後に基板を水平方法に寝かせて工程を進めるので、第1の母基板10及び第2の母基板80を垂直搬送する場合、設備においての工程時間をさらに短縮することができる。
以下、垂直搬送されたTFTユニットセル30及びカラーフィルターユニットセル100に非接触方式で液晶を配向する方法及び装置を多数の実施例をもって説明する。
非接触液晶方法の実施例1
非接触方式で図2に示されたTFTユニットセル30または図5に示されたカラーフィルターユニットセル100に液晶を配向するためには、特別に製作された配向膜及び配向膜に走査される原子ビームが必要とされる。
図7は、本発明の第1実施例による第1の母基板または第2の母基板の表面に形成された配向膜を示した断面図である。
図7を参照すると、配向膜130はTFTユニットセル30及びカラーフィルターユニットセル100の表面に形成されたダイアモンドライクカーボン薄膜(Diamond-Like-Carbon film、以下、DLC:130)である。
配向膜としてDLC薄膜130を使用する理由は、DLC薄膜130が炭素原子間二重結合構造を有するからである。外力によってDLC薄膜130の炭素二重結合構造が壊れて単一結合に変更される場合、単一結合された炭素原子は化学的、電気的に極性を有するラジカル状態になる。
このようにラジカル状態を有するDLC薄膜130に数μmの厚さを有する液晶を配置すると、液晶はラジカル状態を有するDLC薄膜130によってセルフアライン(self-align)になる。
これは液晶分子が結晶と液体の特性を両方とも持っており、電気的な力に対して一定の規則で配列する方向因子を有するからである。
本発明においては、原子ビームを用いてDLC薄膜130の表面にラジカルを形成する。このとき、最も問題となる部分は液晶のプリティルト角(pre-tilt angle)である。液晶のプリティルト角は液晶表示装置の視野角に多くの影響を及ぼす。例えば、液晶のプリティト角が液晶表示装置で位置によって局部的に変更される場合、画面にムラが見えるディスプレイ不良が発生する。原子ビームでDLC薄膜130にラジカルを形成するとき、原子ビームとDLC薄膜130のなす角度が局部的に相異なる場合、液晶のプリティルト角は局部的に変更される。従って、原子ビーム及びDLC薄膜130がなす走査角度はディスプレイの品質面で極めて重要である。
図8は、本発明の第1実施例による非接触液晶配向方法を示したフローチャートである。
図8に示すように、非接触方式でDLC薄膜の表面に液晶を配向するためには、先ず第1のイオンビームを形成する段階が遂行される(段階205)。
図9は、第1のイオンビームが発生する過程を順に示した図である。
図9に示すように、第1のイオンビームが発生する過程(工程205)は改めてソースガスの供給を受ける過程(段階206)、ソースガスを解離してイオンを発生させる過程(段階207)及びイオンを加速する過程(段階208)で構成される。
ソースガスの供給を受ける過程(段階206)においてはアルゴンガスの供給を受ける。ソースガスを解離してイオンを発生する過程(段階207)では、プラズマを用いる方法と2500K以上の高温を用いる2つの方法が使用される。本発明においては望ましくはソースガスを2500K以上の高温で解離する方法が使用される。ソースガスを解離してイオンを発生する過程(段階207)後にはソースガスから解離されたイオンを指定した方向に加速させる過程(段階208)が遂行される。イオンを加速させる過程(段階208)は、イオンから所定距離に離隔されたところにイオンと反対極性を有する電源を印加することによって具現できる。
例えば、ソースガスから解離されたイオンが(+)極性を有するアルゴンイオンの場合は、(+)極性を有するアルゴンイオンを十分に加速化するためにはDLC薄膜側には(−)極性が形成される。これによってアルゴンイオンはクーロンの法則により(−)極性が形成されたDLC薄膜に向う方向に引かれて行く。なお、アルゴンイオンは(−)極性に近づくほど速く加速化される。
このとき、第1のイオンビームは、マスクに形成されたスリット状の開口を通過することによってDLC薄膜に達することができる。第1のイオンビームは開口を通過することによってDLC薄膜に開口の形状と似た形で到達する。
しかしながら、このようにマスクを通じて第1のイオンビームをDLC薄膜に走査方法する方法の場合、第1のイオンビームをDLC薄膜に達するようにすることができるが、走査角度を精密に制御することは困難である。
このようなことにより、図8に示すように、本発明においては第1のイオンビームを形成した後に第1のイオンビームを第2のイオンビームに変更する過程を実施する(段階210)ことが望ましい。
第2のイオンビームは第1のイオンビームの形状を電気的な方法及び物理的な方法で変更させる。第2のイオンビームは第1のイオンビームの形状に関わらずDLC薄膜に幅よりも長さの長い長方形の帯状に走査される。具体的には、第2のイオンビームの形状は第1イオンビームがDLC薄膜に向って走査される途中で長方形状に変更される。第2のイオンビームを形成するためには、入口は広く出口は長方形の状を有する筒体を用いることが望ましい。
このとき、第2のイオンビームとDLC薄膜がなす角度は極めて重要である。これは液晶のプリティルト角が第2イオンビームとDLC薄膜がなす角度によって決められるからである。
第2のイオンビーム及びDLC薄膜がなす角度は0°〜90°である。例えば、液晶がツイステッドネマチック液晶(Twisted Nematic Liquid Crystal、TN)の場合は、第2のイオンビーム及びDLC薄膜がなす角度は0°〜45°である。反面、液晶が垂直配向モード液晶の場合は、第2のイオンビーム及びDLC薄膜がなす角度は45°〜90°、望ましくは80°〜90°である。
図8を改めて参照すると、第1のイオンビームはDLC薄膜に向う途中で原子ビームに変更される(段階215)。このとき、原子ビームが有する速度及び方向は第2イオンビームの有する速度及び方向と同一に保持される。
これを具現するためには、第2のイオンビームの進行経路には第2のイオンビームに含まれたイオンを中性状態であるソースガス状態に還元するために多量の電子が供給される。第2のイオンビームは電気的に極めて不安定な状態なので、供給された電子と易しく結合して安定した中性状態の原子ビームに還元される。
このとき、原子ビームは第2のイオンビームと同じ形状を維持することからDLC薄膜の長方形の状態で走査される。従って、原子ビームをDLC薄膜の全体面積に走査するためには原子ビームをDLC薄膜にスキャンニングする過程が遂行される(段階220)。
原子ビームを配向膜にスキャンニングする過程は原子ビームを固定した状態でDLC薄膜を移送する方法またはDLC薄膜を固定した状態で原子ビームを移送する方法のいずれも用いることができる。
本発明においては2つの方法が用いられるが、望ましくはDLC薄膜を固定した状態で原子ビームをスキャンニングする方法が使用される。
図10は、本発明の第1の実施例による非接触液晶配向装置を示した概念図である。図11は、図10の第1のイオンビーム発生モジュール、第2のイオンビーム発生モジュール及び原子ビーム形成モジュールを示した概念図である。図12は、図10の非接触液晶配向装置及びDLC薄膜形成装置を一緒に示した概念図である。
図10を参照すると、非接触液晶配向装置140は第1のイオンビーム発生モジュール150、第2のイオンビーム発生モジュール160、原子ビーム形成モジュール170、移送装置180を含む。
図11を参照すると、第1のイオンビーム発生モジュール150は、第1のイオンビームハウジング152、ソースガス供給ユニット154、ソースガス解離ユニット156及びイオン加速ユニット158を含む。
第1のイオンビームハウジング152は、第1のイオンビームを形成するために外部に対して隔離された空間を提供する。第1のイオンビームハウジン152は、イオン発生領域、イオン加速領域に分けられる。
第1のイオンビームハウジング152のイオン発生領域にはソースガス供給ユニット154が連結される。ソースガス供給ユニット154は、ソースガス供給配管155を通して第1のイオンビームハウジング152の内部にアルゴンガスを供給する。アルゴンガスは原子量が大きくて加速された状態でDLC薄膜の表面に炭素二重結合構造を壊すのに適している。
ソースガス解離ユニット156はイオン発生領域へ供給されたアルゴンガスを解離する。ソースガス解離ユニット156は極めて多様な構成を有することができる。
例えば、ソースガス解離ユニット156は、カソード電極、カソード電極に対向するアノード電極及びカソード電極とアノード電極に電源を供給する電源供給装置で構成してもよい。
具体的には、電源供給装置はカソード電極及びアノード電極にアルゴンガスを解離するに十分な電圧差を印加する。これによってアルゴンガスはカソード電極及びアノード電極の間でアルゴン原子及び電子及び中性子に解離される。
また、他の例を挙げると、ソースガス解離ユニット156は、電子を放出するタングステンフィラメント156a、タングステンフィラメント156aを加熱する第1の電源供給装置156bで構成し得る。タングステンフィラメント156aは、2500K以上に加熱されながら多量の電子を放出する。グステンフィラメント156aから放出された電子は、アルゴンガスと衝突しながらアルゴンガスをアルゴン解離させる。
イオン加速ユニット158は、第1のイオンビームハウジング152のイオン加速領域に設けられる。イオン加速ユニット158は、ソースガス解離ユニット156で隔離されたイオンを加速させる。イオン加速ユニット158は、イオンをDLC薄膜の表面と衝突させながらDLC薄膜の表面の二重結合構造を壊すのに十分な速度に加速させる。
イオン加速ユニット158はメッシュ構造を有するイオン加速電極158a及びイオンと反対極性を有する電源を供給する第2の電源供給装置158bで構成される。例えば、ソースガス隔離ユニット156によって第1のイオンビームハウジング152の内部に(+)極性を有するイオンが生成されると、イオン加速ユニット158の第2の電源供給装置158bはイオン加速電極158aに(−)極性を有する電源を印加する。イオンはクーロンの法則の力によってイオン加速電極158aに向って移動する。このとき、イオン加速電極158aに印加される電源の強度によってイオンの速度が調節される。
このとき、イオン加速電極158aにあまりにも大きい電源が印加されると、イオンはDLC薄膜の表面を貫いてイオン注入されてDLC薄膜の表面を損傷させる。反面、イオン加速電極158aにあまりにも小さい電源が印加されると、イオンはDLC薄膜の表面の二重結合構造を破壊することができない。従って、イオン加速電極158aに印加される電源はDLC薄膜の表面に注入されずにDLC薄膜の表面の二重結合構造を壊すのに適した電源を印加されるようにする。
このような過程を通じて第1のイオンビーム発生モジュール150で発生した第1のイオンビームは、電気的な力によって十分に加速された状態で第2のイオンビーム発生モジュール160に印加される。
第2のイオンビーム発生モジュール160は、第2のイオンビームハウジング162、第2のイオンビーム発生体164、第1のイオンビーム加速装置166及び第2の電源供給装置168で構成される。
第2のイオンビームハウジング162は絶縁体で製作され、漏斗形状を有する。第2のイオンビームハウジング162は、第1のイオンビームハウジング152と絶縁された状態に結合する。第2のイオンビームハウジング162には第2のイオンビーム発生体164が設けられる。第2のイオンビーム発生体164は第2のイオンビームハウジング162の内側に挟まる漏斗形状を有し、第1のイオンビームが入射する第1のイオンビーム流入口164a及び第2のイオンビームを放出する第2のイオンビーム放出口164bを含む。
第1のイオンビーム流入口164aは、第1のイオンビームが入射するのに十分な断面積を有する。第1のイオンビーム流入口164aには第1のイオンビーム流入口に横たわるプレート形状を有する導電性材質で形成される第1のイオンビーム加速装置166が設けられる。第1のイオンビーム加速装置166には、第1のイオンビームを出射するのに十分な多孔が形成される。
第1のイオンビーム加速装置166には、第1のイオンビームと反対極性を有する電源が第2の電源供給装置168から印加される。第1のイオンビーム流入口164aに設けられた第1のイオンビーム加速装置166は、第1のイオンビームを再び加速させる役割を遂行する。
反面、第2のイオンビーム放出口164bは、幅が狭くて長さの長い長方形の形状を有する。従って、第1のイオンビームは第1のイオンビーム流入口164aを経て、第2のイオンビーム放出口164bに到達する。第1のイオンビームは第2のイオンビーム放出口164bの形状によって長方形に変更され、第2のイオンビーム放出口164bからは長方形状の第2のイオンビームが放出される。
一方、原子ビーム形成モジュール170は原子ビーム発生領域に設けられる。具体的には原子ビーム形成モジュール170は第2のイオンビームハウジング162を介して設られる。原子ビーム形成モジュール170は第2のイオンビームを原子ビームに変更させる。原子ビーム形成モジュール170は、電子を発生させる電子発生ユニット172及び電子を移動させる電子移動ユニット174で構成される。
電子発生ユニット172は、タングステンフィラメント172a及びタングステンフィラメント172aを2500K以上に加熱して自由電子を発生させるのに必要な電源を供給する第3の電源供給装置172bで構成される。
電子移動ユニット174は、電子発生ユニット172と向き合うように設けられる。電子移動ユニット174は電子発生ユニット172から発生した自由電子を電気的な力で引寄せて移動させる。これを具現するために、電子移動ユニット174は自由電子と反対極性を有する電源を印加する第4の電源供給装置174a及び電極174bで構成される。

従って、電子発生ユニット(172)で発生した自由電子は電子移動ユニット(174)の方向へ一定の経路を保ちながら移動する。このとき、電子発生ユニット(172)から電子移動ユニットに移動する自由電子の経路は前述した第2イオンビームの経路と交差する。
従って、第2イオンビームは自由電子と交差しながら第2イオンビーム及び自由電子は急速に結合する。従って、第2イオンビームを構成するイオンの最外角軌道から欠損された原子価電子(valence electron)はすべて満たされ、第2イオンビームは電気的に安定した原子ビームへ還元される。即ち、第2イオンビームをなすアルゴンイオンは速度および方向を維持した状態で電気的に安定したアルゴン(Ar)に還元される。この時、還元されたアルゴンは第2イオンビームと実施的に同じ速度および方向を有する。以下、第2イオンビームと実施的に同じ速度及び方向を有するソースガスを原子ビームと称する。
このような構成を有する原子ビーム形成モジュール(170)を通過しながら形成された原子ビームはDLC薄膜の一部分に長方形の形成で走査される。従って、DLC薄膜の全体面積に原子ビームを走査するためには原子ビームまたはDLC薄膜を移送しなければならない。
移送装置180は相互結合された第1イオンビーム発生モジュール150と第2イオンビーム発生モジュール160及び原子ビームモジュール170を相対移送させる。
このような構成を持つ非接触液晶配向装置140で原子ビームとDLC薄膜が成す角度は0゜〜90゜である。この時、DLC薄膜(130)の上面に配向される液晶がツイステッドネマティク液晶の場合、原子ビームとDLC薄膜(130)が成す角度は0°〜45°である。DLC薄膜(130)の上面に配向される液晶が垂直配向モード液晶の場合、原子ビームとDLC薄膜(130)が成す角度は45°〜90°であり、80°〜90°が望ましい角度である。
一方、非接触液晶配向装置(140)は、第1イオンビーム−第2イオンビーム−原子ビームが形成される経路が少なくとも2つ以上構成され、DLC薄膜に配向される液晶の種類によって原子ビーム及びDLC薄膜が成す走査角度を変更することも可能である。
以上、ダイヤモンドライクカーボン薄膜に非接触方法で液晶を形成する方法及び装置についての説明である。
これについて、図12に図示された実施例のようにDLC薄膜形成装置でDLC薄膜を母基板に形成した後、母基板を非接触液晶配向装置で移送して液晶を配向するための工程をインライン方式で進行するのが望ましい。
具体的に、非接触方式で液晶を配向するためのDLC薄膜形成装置(190)は前述したTFTユニットセル(30)またはカラーフィルターユニットセル(100)に非接触方式で液晶が配向されることを可能にする。この時、液晶を非接触方式で配向するためには原子間二重結合構造を有するDLC薄膜を必要とする。
DLC薄膜形成装置(190)はチャンバ(191)、第一母基板(10)または第2母基板(80)が固定される基板固定ユニット(192)、反応ガス供給モジュール(193)、真空ポンプ(194)及びプラズマ発生装置(195,196)を含む。
基板固定ユニット(192)はチャンバ(191)の内部に設置される。基板固定ユニット(192)の上面にはTFTユニットセル(30)が形成された第1母基板(10)またはカラーフィルターユニットセル(100)が形成された第2母基板(80)が移送されて固定される。
反応ガス供給モジュール(193)はチャンバ(191)内部にヘリウムガス(He)またはアルゴンガス(Ar)、水素ガス(H2)、メタン(CH4)またはアセチレン(C2H2)を供給する役割を果たす。
真空ポンプ(194)はチャンバ(191)の内部を約60Torrを超えない程度の高真空圧が形成されるようにする。これによって反応ガス以外の不純物またはガスが、DLC薄膜を形成する工程に関与することがなくなる。
プラズマ形成装置(195,196)はチャンバ(191)の内部へ供給された反応ガスが化学気相反応して、DLCが生成されるようにする。プラズマ形成装置(195,196)はヘリウムまたはアルゴンガスをイオン化するのに十分な電圧差を発生させるカソード電極(195)とアノード電極(196)と電源供給装置(196)とで構成される。
このような構成を有するDLC薄膜形成装置(190)及び非接触液晶配向装置(140)は直接連結することができる。
反面、図12に図示されたようにDLC薄膜形成装置(190)及び非接触液晶配向装置(140)は第1母基板(10)及び第2母基板(80)が臨時に待機するロードラックチャンバ(200)によって間接的に連結することができる。
図12に示されたようにDLC薄膜形成装置190、ロードラックチャンバ200及び非接触液晶配向装置140をインライン方式で設置する場合、液晶配向工程を実施するのに必要とされる工程時間を大きく短縮することができる。また、第1母基板10または第2母基板80が大気中の汚染原によって汚染されることを最小化できる。
本実施例によると、母基板はDLC薄膜が形成され、非接触方式でDLC薄膜の表面に原子ビームが走査されて原子ビームによってDLC薄膜の炭素二重結合構造を炭素単一結合構造に変更して液晶非接触方式で配向することができる。
非接触液晶配向実施例2
図13は本発明の第2実施例によって非接触方式で液晶を配向する方法を示したフローチャートである。
図2に図示されたTFTユニットセル30が形成された第1母基板10または図5に図示されたカラーフィルターユニットセル100が形成された第2母基板80の表面に原子間二重結合構造を含む薄膜を形成する過程が先行される。ここで、薄膜は化学気相蒸着によって形成されたDLC薄膜である。
図13に示すように、非接触方式で液晶を配向するためにまず、実施例1で説明したように、DLC薄膜の表面には加速された原子ビームが衝突するメカニズムによって液晶配向用極性作用器が形成される(段階225)。
図14は、本発明の第2実施例によってDLC薄膜の表面に液晶配向用極性作用器を形成する過程を図示したフローチャートである。
図14に示すように、まず、DLC薄膜から所定の距離離間されたところよりDLC薄膜に向かって加速された第1イオンビームが形成される。
続いて、第1イオンビームはDLC薄膜に向かう過程でDLC薄膜の表面に長方形形態のライン形状を有する第2イオンビームに変更される(段階227)。この時、第2イオンビームは第1イオンビームと速度が類似しており、第2イオンビームの走査の方向はDLC薄膜に対して0°〜45°、80°〜90°を有する。
第2イオンビームは再びDLC薄膜に向かう過程で第2イオンビームと交差する方向に走査された電子ビームによって再び原子ビームに変更される(段階228)。ここで、原子ビームは第2イオンビームと速度及び方向が類似している。
原子ビームはそのままDLC薄膜の表面に到達して衝突し、原子ビームはDLC薄膜の表面に沿ってスキャンニングされる(段階229)。
DLCの薄膜に衝突した原子ビームはDLC薄膜の表面を変化させる。具体的に、原子ビームはDLC薄膜をなす炭素原子の二重結合構造を破壊し、これによってDLC薄膜の表面には単一結合及びラジカルによって液晶を配向するには充分な液晶配向用極性作用器が形成される。DLC薄膜の表面に形成された液晶配向用極性作用器は人為的に形成されたので電気的に非常に不安定な状態を有する。このようなことから液晶配向用極性作用器は時間が経過するにつれて不安定な単一構造から安定的な二重結合構造の状態に還元される傾向を有する。
原子ビームによってDLC薄膜の表面に形成された単一構造が安定した二重構造に還元する場合、DLC薄膜の表面に形成されていた液晶配向用極性作用器はなくなる。このように液晶配向用極性作用器がなくなる場合、液晶はプリティルト角を保持することができなくなる。勿論、液晶がプリティルト角を保持することができない場合、液晶表示装置によって所望する映像を表示することができなくなる。
従って、原子ビームと衝突する過程でDLC薄膜の表面に形成された液晶配向用極性作用器は永久的に持続されるべきである。これを具現するために配向膜の表面に液晶配向用極性作用器を形成する過程以後には液晶配向用極性作用器を永久的に保持する過程が実施される(段階230)。
DLC薄膜に液晶配向用極性作用器を保持させるために、液晶配向用極性作用器には極性作用器を保持させるための物質を化学的に結合させることが望ましい。
図15は本発明の第2実施例によって液晶配向用極性作用器に水酸基を結合する過程を示したフローチャートである。
まず、液晶配向用極性作用器を永久的に保持させるために、原子ビームによって形成されたDLC薄膜の液晶配向用極性作用器には水酸基(OH−)が結合され、DLC薄膜には炭素と水酸基が結合されたC−OH結合構造が形成される。
水酸基をDLC薄膜の液晶配向用極性作用器に結合させるためにはまず、純水を約100℃位に加熱して水蒸気状態にする過程が実施される(段階231)。水蒸気状態である純水は液晶配向用極性作用器が形成されたDLC薄膜の表面に噴射される(段階232)。
この時、純水を加熱して水蒸気状態に形成する過程(段階231)は必ずしも必要ではないが、純水と液晶配向用極性作用器の結合を活性化させるのに影響を及ばす。
液晶配向用極性作用器に純水に含まれた水酸基(OH−)が結合される場合、液晶配向用極性作用器は炭素と再結合することができなくなり、DLC薄膜の炭素原子は相変わらず単一結合を保持するので電気的に不安定な状態即ち、液晶配向用極性作用器はそのまま保持される。
本実施例によると、原子ビームによってDLC薄膜に形成された液晶配向用極性作用器に水酸基を結合させてDLC薄膜が電気的に中性状態に還元されることを防止する。

非接触液晶配向実施例3
図16は本発明の第3実施例によって液晶配向用極性作用器に水素気を結合する過程を示したフローチャートである。
水素基(H+)をDLC薄膜の液晶配向用極性作用器に結合するためにDLC薄膜の表面に純水を供給する過程が実施される(段階233)。
DLC薄膜に純水が供給された後DLC薄膜のサブチェーンに水素基(H+)を結合するために純水が供給されたDLC薄膜には紫外線が照射される過程が実施される(段階234)。
純水に紫外線が照射されると、純水は<化学式1>と同じ反応をして水素基が発生する。
[化学式1]
2O → H++O-2
紫外線によって解離された水素基(H+)はDLC薄膜に形成された液晶配向用極性作用器に結合されてC−H結合構造を形成する。
DLC薄膜に形成された液晶配向用極性作用器に水素基(H+)が結合される場合、サブチェーンは炭素と再び再結合することができなくなってDLC薄膜の炭素原子は相変わらず単一結合を保持するから電気的に不安定な状態即ち、液晶配向用極性作用器がそのまま保持される。
本発明の実施例で、このような紫外線及び純水を利用して液晶配向用極性作用器に水素基を結合させる方法は低い温度で工程が実施できる長所を有する。
一方、液晶配向用極性作用器に水素基H+を形成するために水素ガスを2500K以上に加熱された領域を通過させることで水素を水素基で分離することができる。例えば、水素は高真空状態で2500K以上に加熱された領域を通過して水素基で解離され、高温によって熱分解された水素基は前述したように液晶配向用極性作用器に結合されてC−H結合構造を形成する。

非接触液晶配向実施例4
図17は本発明の第4実施例によって液晶配向用極性作用器に窒素基を結合する過程を示したフローチャートである。
まず、液晶配向用極性作用器を永久的に保持させるために、原子ビームによって形成されたDLC薄膜の液晶配向用極性作用器には窒素基(N−)が結合される。
窒素基をDLC薄膜の液晶配向用極性作用器に結合するためにはまず、窒素を窒素イオンに変換する過程が実施される(段階235)。
窒素を窒素イオンに変換するためには窒素にイオン化電圧より高い電圧を印加して窒素を窒素基(N−)に変換する。プラズマメカニズムによって窒素から得られた窒素基はDLC薄膜に形成された液晶配向用極性作用器に結合されて、DLC薄膜にはC−N結合構造が形成される。
液晶配向用極性作用器に窒素基(N−)が結合される場合、液晶配向用極性作用器は炭素と再結合することができなくなり、炭素原子は相変わらず単一結合を保持するので電気的に不安定の状態即ち、液晶配向用極性作用器がそのまま保持される。
前述した実施例3または実施例4では不安定の液晶配向用極性作用器に例えば、水酸基、水素基及び窒素基を結合させて液晶配向用極性作用器を永久的に保持させる技術を説明している。

非接触液晶配向実施例5
図18は本発明の第5実施例による非接触液晶配向装置を示した概念図である。
図18に示すように、非接触液晶配向装置210は原子ビーム走査装置220及び極性保持装置240で構成されている。
これに加えて、非接触液晶配向装置210は第1母基板10または第2母基板80にDLC薄膜を形成するDLC薄膜形成装置230をさらに含む構成とすることができる。
DLC薄膜形成装置230はチャンバ231、第1母基板10または第2母基板80が固定される基板固定ユニット232、反応ガス供給モジュール233、真空ポンプ234及びプラズマ発生装置235、236を含む。
基板固定ユニット232はチャンバ231の内部に設置される。基板固定ユニット232の上面にはTFTユニットセル30が形成された第1母基板10または母基板10なたはカラーフィルターユニットセル100が形成された第2母基板80が移送されて固定される。
反応ガス供給モジュール233はチャンバ231内部にヘリウム(He)、アルゴンガス(Ar)、水素ガス(H2)のようなプラズマガス及びメタン(CH4)またはアセチレンのようなソースガスを供給する役割をする。
真空ポンプ234はチャンバ231の内部を約60Torr程度の高真空圧が形成されるようにする。これによって反応ガス以外の不純物はDLC薄膜を形成する工程に関与できなくなる。
プラズマ形成装置235、236はチャンバ231の内部に供給された反応ガスが化学気相反応して、第1母基板10または第2母基板80にDLCが生成されるようにする。プラズマ形成装置235、236はヘリウム、アルゴンガスまたは水素ガスをイオン化することにおいて充分な電圧差を発生させるカソード電極235及びアノード電極236及び電源供給装置237から構成される。
このような構成を有するDLC薄膜形成装置230及び原子ビーム走査装置220は直接連結することができる。
反面、図18に図示されたようにDLC薄膜形成装置230及び原子ビーム走査装置220は第1母基板10及び第2母基板80が臨時的に待機するロードラックチャンバ240によって間接的に連結できる。
図18に示すように、DLC薄膜装置230、ロードラックチャンバ240、原子ビーム走査装置220及び極性保持装置240をインライン方式で設置する場合、液晶配向工程を実施することに必要とされる工程時間を大きく短縮させることができ、第1母基板10または第2母基板80が大気中の汚染原に汚染されることを最小化できる長所を有する。
DLC薄膜形成装置230でDLC薄膜が形成された第1母基板10または第2母基板80は原子ビーム走査装置220にアンローディングされる。
第1母基板10または第2母基板80のローディングを受けた原子ビーム走査装置220は炭素原子間二重結合構造を含むDLC薄膜の表面に原子ビームを衝突させる。DLC薄膜の表面に衝突された原子ビームはDLC薄膜の表面に液晶配向用極性作用器を形成する。
極性保持装置240はDLC薄膜に形成された液晶配向用極性作用器が永久的に持続できるようにする。
図18に示すように、極性保持装置240は極性保持チャンバ241、純水供給モジュール242及び純水噴射モジュール243を含む。
極性保持チャンバ241は第1母基板10または第2母基板80に形成されたDLC薄膜に表面に形成された液晶配向用極性作用器を保持させるための工程が行われる空間及び工程環境を提供する。
純水供給モジュール242は極性保持チャンバ241の外部から極性保持チャンバ241の内部に純水を供給する役割をする。この時、純水供給モジュール242は純水を水蒸気状態に作る純水加熱ユニット244をさらに含む構成とすることができる。
純水噴射モジュール243は、第1母基板10または第2母基板80に均一に塗布されるように純水または純水水蒸気を噴射する。純水噴射モジュール243は純水噴射ノズル243aを含む。
DLC薄膜に形成された液晶配向用極性作用器には純水供給モジュール242及び純水噴射ノズル243aを通じて母基板に噴射された純水によって水素基OH−が結合される。従って、DLC薄膜にはC−OH結合が形成される。
液晶配向用極性作用器に水酸基OH−が結合されるによって液晶配向用極性作用器は炭素と再結合することができなくなり、DLC薄膜の液晶配向用極性作用器は永久的に持続される。

非接触液晶配向実施例6
図19は本発明の第6実施例による非接触液晶配向装置の概念図である。本実施例でDLC薄膜形成装置230及び原子ビーム走査装置220の構成及び作用は前述した実施例5と同一であるため省略することとする。
図19に示すように、極性保持装置250は純水供給装置260及び紫外線照射装置270で構成される。
純水供給装置260は純水供給チャンバ261、純水供給モジュール262及びぞ噴射モジュール263を含む。
純水供給チャンバ261は第1母基板10または第2母基板80に形成されたDLC薄膜の表面に純水が供給される空間を提供する。
純水供給モジュール262は純水供給チャンバ261の外部から純水供給チャンバ261の内部に純水を供給する役割をする。純水加熱ユニット264は純水供給モジュール262で供給された純水を約100℃に加熱する。
純水噴射モジュール263は、第1母基板10または第2母基板80に均一に塗布されるように純水を噴射する。純水噴射モジュール263は純水噴射ノズル263aを含む。
紫外線照射装置270は紫外線照射チャンバ271及び紫外線照射モジュール272で構成される。紫外線照射モジュール272は紫外線照射チャンバ271の内部に設置される。紫外線照射モジュール272は純水が塗布されたDLC薄膜の表面に紫外線を照射する。紫外線DLC薄膜の表面に走査された純水をO−2イオン及び水素基H+で解離させる。ここで、発生した水素基H+はDLC薄膜に形成された液晶配向用極性作用器と反応して結合する。
液晶配向用極性作用器に水素基が結合することによって液晶配向用極性作用器は炭素と結合することができなくなり、炭素原子は二重結合できなくなるによって液晶配向用極性作用器は永久的に持続される。
このように純水及び紫外線を利用して約100℃程度の比較的低い温度でDLC薄膜に形成された液晶配向用極性作用器を保持させることができるという長所を有する。

非接触液晶配向実施例7
図20は本発明の第7実施例による非接触液晶配向装置を示した概念図である。本発明の実施例でDLC薄膜薄膜装置230及び原子ビーム走査装置220の構成及び作用は前述した実施例5と同一であるため重複する説明は省略することとする。
図20を参照すると、極性保持装置280は極性保持チャンバ281、水素供給モジュール283、水素解離モジュール285を含む。
極性保持チャンバ281は高真空状態、例えば、60Torr以下の圧力状態を保持する。これを具現するために極性保持チャンバ281には真空ポンプ284が設置される。真空ポンプ284は極性保持チャンバ281を高真空状態に保持して極性保持物質を解離する過程で極性保持物質が大気中に含まれた他のガスと反応することを防止するためである。
特に、極性保持物質が化学的に不安定な水素である場合、極性保持チャンバ281の内部を高真空状態にしなければならない。極性保持チャンバ281には水素供給モジュール283が連結されて指定された流量で水素を供給する。
図20に示すように、水素供給モジュール283は水素を極性保持チャンバ281に供給する。
水素解離モジュール285は水素を解離して水素イオンを生成する。水素解離モジュール285は減圧状態で水素を2500K以上の高温に加熱される水素加熱部材287及び水素加熱部材287を加熱するのに必要とされる電源を供給する電源供給装置286で構成される。水素加熱部材287はタングステンフィラメントであり、タングステンフィラメントはメッシュ(mesh)形状を有する。2500K以上に加熱された水素加熱部材287には水素が供給され、水素は水素加熱部材287によって水素気イオン及び電子に分離される。水素イオンはDLC薄膜に形成された液晶配向用極性作用器に結合されたC−H結合を形成する。
液晶配向用極性作用器に水素基H+が結合されることで液晶配向用極性作用器は炭素と結合することができなくなり、炭素原子は二重結合できなくなることによって液晶配向用極性作用器は永久的に持続される。

非接触液晶配向実施例8
図21は本発明の第8実施例による非接触液晶配向装置を示した概念図である。本実施例でDLC薄膜形成装置230及び原子ビーム走査装置220の構成及び作用は前述した実施例5と同一であるため略することにする。
図21を参照すると、極性保持装置290は極性保持チャンバ291、窒素供給モジュール293及び窒素解離モジュール295を含む。
極性保持チャンバ291には窒素供給モジュール293が連結されて指定された流量で窒素を供給する。窒素供給モジュール293は窒素を極性保持チャンバ291に供給する。窒素解離モジュール295は窒素を解離して窒素イオンを生成する。窒素を解離して窒素イオンを生成するために、極性保持チャンバ291の内部には窒素解離モジュール295が設置される。窒素解離モジュール295は2500K以上の高温で加熱される窒素加熱部材297及び窒素加熱部材297を加熱する電源を供給する電源供給装置296で構成される。窒素加熱部材297はタングステンフィラメントであることが望ましく、そのタングステンフィラメントはメッシュ形状を有することが望ましい。2500K以上に加熱された窒素加熱部材には窒素が供給される。窒素は窒素加熱部材207によって窒素イオン及び電子に分離される。窒素イオンはDLC薄膜に形成された液晶配向用極性作用器に結合されてC−N結合を形成する。
液晶配向用極性作用器に窒素基N−が結合されるによって液晶配向用極性作用器は炭素と結合することができなくなり、炭素原子は二重結合できなくなるによって液晶配向用極性作用器は永久的に持続される。
前述した実施例1〜実施例8では第1母基板に形成されたTFTユニットセルまたは第2母基板に形成されたカラーフィルターユニットセルに非接触方式で液晶配向用極性作用器を形成し、液晶配向用極性作用器を保持する多数の実施例を説明している。
以下で説明する実施例9では原子ビームを形成する他の方法及び装置をより具体的に説明する。

非接触液晶配向実施例9
図22は本発明の第9実施例による原子ビーム形成方法を示したフローチャートである。
図22に示すように、原子ビームを形成するためにはまず、イオンを発生させる過程が実施される(段階235)。
イオンはソースガスの解離によって生成される。ソースガスはアルゴンガスが使用される。アルゴンガスが使用される理由は大きく二つである。
第1に、アルゴンガスは他のガスと化学的に反応しにくい不活性ガスであり、第2に、アルゴンガスは他の不活性ガスの中でも原子量が大きくてDLC薄膜により大きい衝撃量を加えて炭素原子間結合をたやすく切ることができるからである。
ソースガスからイオンを得るためには2つの方法が使用される。第1の方法は、ソースガスにプラズマ電圧を印加してソースガスをイオン、電子及び中性子で解離する。第2の方法は、ソースガスを2500K以上加熱してソースガスをイオン化する。
ソースガスからイオンが発生された後にはイオンを加速して第1イオンビームを形成する過程が実施される(段階240)。第1イオンビームを形成する過程はイオンを加速するためにはイオンが加速される第1方向にイオンを引き寄せて加速させる第1大きさの第1電源を印加する過程をさらに含む。ここで、第1電源はイオンと反対極性を有する。また、第1イオンビームを形成する過程は、第1イオンビームの横断面が円形または長方形であるような第1形状に変更する過程をさらに含む。
第1イオンビームが形成された後には第1形状を変更して第2イオンビームを形成する過程が実施される(段階245)。第2イオンビームを形成する過程は重要である。第2イオンビームによってDLC薄膜に形成される液晶配向品質が決定されるからである。第2イオンビームは長方形状の断面を有する。この時、長方形状の断面を有する第2イオンビームの幅は液晶が配向される間隔によって決定される。液晶が配向される間隔が狭くなるほど第2イオンビームの幅は狭くなる。この時、第2イオンビームは第1イオンビームをライン形態でフォーカシングして形成される。第2イオンビームは光と違って流れを有する。従って、第1イオンビームをレンズを通じてフォーカシングすることは不可能である。レンズで第2イオンビームをフォーカシングする場合、第1イオンビームはライン形態にフォーカシングするために第1イオンビームは入口が広く、出口は長方形のスリットの形状を有するハウジングを通過してフォーカシングする物理的な方法が使用される。第2イオンビームは長方形状を有するスリット形状のハウジングを通過しながら形成される。この時、ハウジングの入口には第2大きさを有し、極性は第1イオンビームと反対である第2電極が形成されている。これによって、第1イオンビームから第2イオンビームが形成される途中に速度が減少される問題を解決できる。
第2イオンビームが形成された後、第2イオンビームには電子が供給されて原子ビームを形成する工程が実施される(段階250)。原子ビームを形成する工程は第2イオンビームの進行経路と交差する方向に電子を移動させることで進行される。
このような方法で得られる原子ビームは多様な分野に適用される。例えば、中性状態の原子ビームを薄膜の内部に注入して薄膜特性を変更するか、DLC薄膜に適用されてDLC薄膜の表面に液晶のプリティルト角を保持させることに使用される。

非接触液晶配向実施例10
図23は本発明の第10実施例による原子ビーム形成装置を示した概念図である。
図23に示すように、原子ビーム形成装置300はイオン発生装置310、第1イオンビーム発生装置320、第2イオンビーム発生装置330及び原子ビーム発生装置340を含む。
イオン発生装置310はイオン発生チャンバ312、ソースガス供給ユニット314及びソースガス解離ユニット316で構成される。
イオン発生チャンバ312はイオンが発生される環境及び空間を提供する。または、イオン発生チャンバ312は発生したイオンを吐出口313を有する。
この時、イオン吐出口313は幅及び幅より長い長さを有する長方形状に形成するか、半径を有する円形に形成することができる。
イオン発生チャンバ312はソースガス供給ユニット314及びソースガス解離ユニット316で構成される。
ソースガス供給ユニット314はアルゴンガスをイオン発生チャンバ312の内部に供給する。この時、ソースガスとしてアルゴンガスが使用される理由は大きく二つである。
一番目は、アルゴンガスは他のガスと化学的に反応しにくい不活性ガスであり、2番目はアルゴンガスは他の不活性ガスの中でも原子量が大きくて、DLC薄膜により大きい衝撃量を加えて炭素原子間二重結合を単一結合にたやすく切ることができるからである。
ソースガス解離ユニット316はソースガス供給ユニット314によってイオン発生チャンバ312に供給されたソースガス、例えばアルゴンガスを解離する。ソースガス解離ユニット316はソースガスを2500K以上加熱してソースガスをイオン化するためのタングステンフィラメント317及びタングステンフィラメント317を加熱するための電源を供給する電源供給装置318を含む構成とすることができる。
一方、ソースガス解離ユニット316はソースガスにプラズマ電圧を印加するカソード電極、アノード電極及びプラズマ電源供給装置を含むことができる。
第1イオンビーム発生装置320はイオン発生装置310で発生したイオンを加速させる。
第1イオンビーム発生装置320は第1電極322及び第1電極322に第1電源を供給する第1電源供給装置324を含む。第1電極322はイオン発生チャンバ312と向き合うところに導電性ワイヤをメッシュ形状で製作する第1電極をメッシュ形状で製作することはイオンを引き寄せて加速させ、加速されたイオンが通過できるようにするためである。第1電源供給装置324は第1電極322に前記イオンと反対の極性を有する第1電源を供給する。この時、第1電源の大きさによってイオンの移動速度が決定される。イオンの速度は第1電源の大きさが増加するほど増加し、第1電源の大きさが減少するほど減少される。
第2イオンビーム発生装置330は第1イオンビームの形状を変更させる。第2イオンビーム発生装置330は、第1面積を有する第1イオンビームの投与量を減少しないで第1面積を第1面積より小さい第2面積に変更する。即ち、第2イオンビーム発生装置330は第1イオンビームを狭い面積にフォーカシングすることに適合する形状に変更する。
これを具現するために、第2イオンビーム発生装置330は第2イオンビーム発生本体332、第2電極334及び第2電源供給装置336で構成される。
第2イオンビーム発生本体332は中空の三角柱形状を有する。第2イオンビーム発生本体332のいずれか一面には第1イオンビームが供給される第1イオンビーム注入口333aが形成され、第1イオンビーム注入口333aと向き合う第2イオンビーム発生本体332の端には第1イオンビームの形状を変更及びフォーカシングして発生した第2イオンビームが放出される第2イオンビーム放出口336bが形成される。
第2電極334は第2イオンビーム発生本体332の第1イオンビーム注入口333aに設置される。第2電極334は導電性ワイヤをメッシュ形態に形成する。第2電源供給装置336は第1イオンビームと反対極性を有する第2電源を供給して第1イオンビームを再び加速する役割を果たす。
原子ビーム発生装置340は電子発生装置342及び電子加速装置346で構成される。
電子発生装置342は、電子を発生させるタングステンフィラメント343及びタングステンフィラメント343に電源を供給する第3電源供給装置344で構成される。タングステンフィラメント343は第3電源供給装置344から供給された電源によって2500K以上で加熱されることにより電子を放出する。
電子加速装置346は電子加速電極347及び電子加速電極347に+極性を有する電源を供給する第4電源供給装置348で構成される。電子加速電極347はDLC薄膜343と向き合う関係を有し、電子発生装置342で発生された電子を引き寄せて電子ビームが形成されるようにする。
電子発生装置342及び電子加速装置346は、電子ビームが第2イオンビームの走査経路と交差するように配置される。電子発生装置342及び電子加速装置346から発生する電子ビームは第2イオンビームと交差し、第2イオンビームに含まれたイオンが電子と結合する。従って、第2イオンビームに含まれたイオンは中性原子に還元される。ここで、還元された原子は速度及び方向を保持する原子ビーム形態を有するようになる。
これ以外にも、第1イオンビーム発生装置320及び第2イオンビーム発生装置330の順序を変えることもでき、イオン発生装置310及び原子発生装置340の間に第2イオンビーム発生装置330のみを配置してもよい。
また、第2イオンビーム発生装置330は三角柱形状の他にも入口は円形で、出口は長方形状に製作することもできる。

非接触液晶配向実施例11
図24は本発明の第11実施例によって非接触方式で液晶を配向する方法を示したフローチャートである。図25は第1母基板または第2母基板に形成された透明薄膜を示した概念図である。図26は透明薄膜の表面に炭素化合物重合体形成されたことを示した概念図である。
図24〜図26に示すように、TFTユニットセルが形成された第1母基板10またはカラーフィルターユニットセルが形成された第2母基板80に非接触方式で液晶を配向するために、まず、第1母基板10のTFTユニットセルの表面または第2母基板80のカラーフィルターユニットセル表面には透明薄膜365を形成する段階が実施される(段階255)。
透明薄膜365を形成する過程は真空状態で密閉された空間に第1母基板10または第2母基板80をローディングした状態で実施される。透明薄膜365はアモルフィスシリコン薄膜である。真空状態で密閉された空間で第1母基板10または第2母基板80の透明薄膜365を形成するために、真空及び密閉された空間にはシランガスSiH4及び水素ガスが供給される。続いて、真空状態で密閉された空間ではシランガス及び水素ガスが化学反応してアモルファスシリコンが形成される。アモルファスシリコンは第1母基板10のTFTユニットセルの表面または第2母基板80のカラーフィルターユニットセルの表面に蒸着されて透明のアモルファスシリコン薄膜が形成される。
第1母基板10または第2母基板80に透明薄膜365が形成された後、第1母基板10または第2母基板80には液晶を配向するための液晶配向突起358を形成する過程が実施される(段階260)。液晶配向突起358を形成する過程は真空状態で密閉された空間にローディングされた第1母基板10または第2母基板80の表面に重合体を蒸着する過程である。透明薄膜365が形成された第1母基板10または第2母基板80に重合体を蒸着するために真空状態で密閉された空間には過フッ化炭化水素CF4、トリフルオロメタンCHF3及び酸素が供給され、過フッ化炭化水素CF4、トリフルオロメタンCHF3及び酸素は気相化学反応よって重合体を形成する。重合体は炭素化合物重合体358である。炭素化合物重合体358は第1母基板10または第2母基板80に蒸着される。炭素化合物重合体358を透明薄膜365上に蒸着するとき、炭素化合物重合体358は薄膜形態ではなく、島形状で蒸着する。このように炭素化合物重合体358を島形状で形成する工程は半導体薄膜製造工程のうち半球形結晶粒子を形成するとき結晶を成長させるための種を均一に分散する場合と類似するメカニズムによって具現できる
このとき、炭素化合物重合体358間の間隔及び高さは非常に重要である。炭素化合物重合体358の間に配列され得る間隔を保持することが望ましく、炭素化合物重合体358の高さは約10Å〜100Å位になるようにする。また、炭素化合物重合体358の形成方向は透明薄膜365の表面に対して垂直方向を有するようにすることが望ましい。

非接触液晶配向実施例12
図27は本発明の第12実施例による非接触方式で液晶を配向する装置を示した概念図である。
図25〜図27に示すように、非接触液晶配向装置369は透明薄膜形成装置360、液晶配向用突起形成装置350を含む。
透明薄膜形成装置360は薄膜形成チャンバ361、反応ガス供給装置362、プラズマ発生装置364、366及び高真空ポンプ368で構成される。
反応ガス供給装置362はシランガス、水素ガス及びプラズマガス薄膜形成チャンバ361内部に供給する。
プラズマ発生装置364、366はカソード電極364及びアノード電極366で構成され、カソード電極364及びアノード電極366にはプラズマガスを解離することにおいて充分な電界が印加される。
シランガス及び水素ガスはプラズマ発生装置364、366で発生したプラズマによって反応する。
図27の参照符号363は透明薄膜365が形成された第1母基板10または第2母基板80が臨時的に待機するロードラックチャンバである。
液晶配向用突起装置350はチャンバ351、反応ガス供給ユニット353、反応ガス重合ユニット355、357を含む。
チャンバ351は透明薄膜365が形成された第1母基板10または第2母基板80がローディングされ、高真空状態を保持する。ここで、透明薄膜365はアモルファスシリコンである。
反応ガス供給ユニット353はチャンバ351の内部に反応ガスを供給する。反応ガスによって透明薄膜365の表面には炭素化合物重合体358が形成される。反応ガスは過フッ化炭素CF4ガス、トリフルオロメタンCHF3ガス及び過フッ化炭化水素CF4ガス、トリフルオロメタンCHF3ガスを重合するのに必要とされる酸素で構成される。
反応ガス重合ユニット355、357は反応ガスを反応させて炭素化合物重合体358を形成する。これを具現するために反応ガス重合ユニット355、357は真空状態で酸素をプラズマ状態にするカソード電極355及びアノード電極357及びプラズマ電源供給装置を含む。
プラズマ電源供給装置はカソード電極355及びアノード電極357の間に酸素をプラズマ状態に励起させるに充分な電源を供給する。
前述した実施例1〜実施例12では第1母基板に形成されたTFTユニットセル及び第2母基板に形成されたカラーフィルターユニットセルに非接触方式で液晶を配向する方法及び装置を開示している。
図1に示すように、第1母基板に形成されたTFTユニットセル及び第2母基板に形成されたカラーフィルターユニットセルに液晶配向用極性作用器が形成されると、第1母基板及び第2母基板はアセンブリされて組立基板が製造される過程が実施される(段階300)。
この時、第1母基板10及び第2母基板80は垂直方向に自動搬送台車または手動搬送台車にローディングされた後組立基板設備で移送される。
組立基板を製造するためには第1母基板形成されたTFTユニットセル、第2母基板に形成されたカラーフィルターユニットセルのうちいずれかに液晶を収納するための液晶フェンスを形成する過程が実施される(段階305)。
液晶フェンスは紫外線によって硬化する紫外線硬化物質及び第1母基板10及び第2母基板80を接着する接着物質を含む。液晶フェンスは帯形状カラーフィルターユニットセル及びTFTユニットセルのエッジに沿って形成される。
液晶フェンスが形成された状態で液晶フェンスの内部に滴下方式で液晶が供給される(段階310)。
滴下方式で液晶を供給するためには液晶フェンスに囲まれている平面積及びTFTユニットセル30及びカラーフィルターユニットセル80に間の空間であるセルギャップを考慮して液晶量を算出する工程を先行して行う。
液晶フェンスによって形成された空間に液晶を供給する段階では、液晶フェンス内部の多数の箇所に液晶が滴下される。液晶フェンス内部に液晶が滴下されて供給されると、真空状態で第1母基板10と第2母基板80は液晶フェンスを間に介在させた状態でアセンブリされる。このとき、第1母基板10のTFTユニットセル、液晶及び第2母基板80のカラーフィルターユニットセルは正確に整列された状態でアセンブリされる。アセンブリされた第1母基板10及び第2母基板80上に向き合うように配置されたTFTユニットセル、液晶及びカラーフィルターユニットセルはLCDユニットセルである。
LCDユニットセルが形成された第1母基板10及び第2母基板80は大気圧状態で1時間の間放置される。このようにLCDユニットセルが形成された第1母基板10及び第2母基板80を大気圧状態で1時間放置するのはTFTユニットセル30及びカラーフィルターユニットセル80の間の多数の箇所に滴下された液晶を均一に拡散させるためである。
しかし、液晶の粘度、セルギャップ及び外部環境によって、LCDユニットセルに注入された液晶の一部は1時間が経過しても完全に拡散しないという問題点を有する。LCDユニットセルの全面積に渡って液晶が完全に拡散しない場合、液晶が存在しない液晶アンフィルド領域では正常に表示されないという問題点が発生する。
このような理由から、第1母基板10及び第2母基板80がアセンブリされた状態で1時間経過した後、液晶アンフィルド領域が存在するか否かを検査する過程が実施される。
図28は本発明の液晶が満たされていない領域検査を示したフローチャートである。
図28に示すように、液晶が満たされていない領域を検査するために第1母基板10の下部で第1母基板10及び液晶を通過する第1光を発生させる過程が実施される(段階315)。
第1光は、液晶を通過する第1光と違う特性を有する第2光に変更された後、第2母基板80を通じて外部に放出される。
液晶アンフィルド領域を検査するために、第2母基板80の上部に対して第2光を検出する過程が実施される(段階320)。
検出された第2光はアナログ信号形態からディジタル信号形態を有するイメージデータに変換される。検出された第2光のイメージデータは検査の基準になる基準データと比較される(段階325)。
第2光のイメージデータ及び基準データが互いに異なるか否かを判断した結果(段階330)、基準データとイメージデータが同一ではない場合、液晶LCDユニットセルのセルギャップに全部満たされてない状態であるため、再び、2時間の間後続工程に移送しないで大気圧状態で所定時間の間待機する(段階335)。
または、液晶アンフィルド領域が存在するLCDユニットセルに外力を加えることで人為的にLCDユニットセルに供給された液晶を拡散させる方法も可能である。
一方、LCDユニットセルにおいて液晶アンフィルド領域が発見されなかった場合、第1母基板10及び第2母基板80をアセンブリするのに使用された液晶フェンスを硬化させる過程を実施する。液晶フェンスを硬化させるためには液晶フェンスに紫外線を照射する。
以下、液晶アンフィルド領域を検査する設備をより具体的に説明する。
図29は本発明の一実施例による液晶が満たされていない領域検査設備を示した概念図である。
図29に示すように、液晶アンフィルド領域検査設備370はベース本体371、バックライトユニット373、アンフィルド領域検出器375及び制御ユニット378で構成される。
ベース本体371はバックライトユニット373、液晶アンフィルド領域検出器375及び制御ユニット378が設置される場所を提供する。
ベース本体371の表面にはバックライトユニット373が設置される。バックライトユニット373は第1光374aを発生させる複数のランプ374、ランプ374を点燈するための電源供給ユニット374bが含まれる。
バックライトユニット373の上部には選択的に母基板移送ユニット374cが設置される。母基板移送374cは相互アセンブリされた第1母基板10及び第2母基板80をベース本体371にローディング及びベース本体371からアンローディングする。母基板移送ユニット374cはベース本体371の表面に一例に配置されたローラー374d及びローラー374dを駆動する駆動ユニットで構成される。ここで、ローラー374dには第1母基板10が接触する。
液晶アンフィルド領域ディテクター375はバックライトアセンブリ373と向き合うところに設置される。即ち、液晶アンフィルド領域検出器375は第2母基板80と向き合うように設置される。
液晶アンフィルド領域検出器375は第1光374aのうち液晶を通過した第2光375a及び第1光374aのうちアンフィルド領域を通過した第3光375bを全部検出する。このとき、第2光375a及び第3光375bの区分は第2光375aと第3光375bとの輝度差、色などを利用する。
これを具現するために、液晶アンフィルド領域検出器375は第2光375a及び第3光375bを撮影するためのCCDカメラであることが望ましい。液晶アンフィルド領域検出器375によって発生した映像はディジタルデータ形態で制御ユニット378のデータ保存モジュール377に保存される。以下、液晶アンフィルド領域検出器375によって発生されたディジタルデータを検出データ(detecting data)と称する。
比較ユニット376は基準データと検出データを比較する。
例えば、比較ユニット376はデータ保存モジュール377に保存された検出データを読み込んで基準データと比較する。比較ユニット376は検出データ及び基準データが類似または一致する場合、LCDユニットセルに液晶アンフィルド領域が発生していないと判断する。
反面、比較ユニット376は検出データ及び基準データが予め設定された範囲を逸脱して相互一致しない場合、LCDユニットセルに液晶アンフィルド領域が発生したと判断する。
LCDユニットセルに液晶アンフィルド領域の検査が終了された後、組立基板は垂直状態で自動搬送台車または手動搬送台車によって重力の方向に立った状態で非接触LCDユニットセルを検査する設備に移送する。
図1に示すように、液晶が供給される工程まで終了すると、LCDユニットセルを第1母基板10及び第2母基板80から分離する前にLCDユニットセルの良否を検査する過程が実施される(段階400)。
このような方法は、従来の組立基板からLCDユニットセルを分離して製造されたLCDパネルを検査する方法と差別化される。しかし、組立基板からLCDユニットセルを分離しない状態でLCDユニットセルを検査することはとても難しい。これは第1母基板10及び第2母基板80の内部にLCDユニットセルを駆動する信号入力線が位置しているからである。
本実施例では、第1母基板10及び第2母基板80の内部に形成されてLCDユニットセルを駆動する信号入力線に非接触方式でテスト駆動信号を印加してLCDユニットセルを検査する方法を開示する。
図30は本発明の非接触LCDユニットセル検査本発明の方法によってLCDユニットセルを検査する方法を示したフローチャートである。
図30に示すように、まず、第1母基板10及び第2母基板80の内部に配置されたLCDユニットセルを駆動するためには光電流によって発生した光電圧をTFTユニットセル及びカラーフィルターユニットセルに印加する過程が実施される(段階410)。
図31は図30のうちLCDユニットセルを駆動する工程を示したフローチャートである。
図31に示すように、光電流をTFTユニットセル及びカラーフィルターユニットセルに印加する過程は光電流誘導を利用して発生した第1駆動電圧を図3に示されたTFTユニットセル30のゲートライン50に印加する過程(段階412)、光電流誘導を利用して発生した第2駆動電圧をTFTユニットセル30のデータライン60に印加する過程(段階414)、光電流誘導を利用して発生した第3駆動電圧を図6に示されたカラーフィルターユニットセル100の共通電極120に印加する過程(段階416)で構成される。
光電流誘導を利用してゲートライン50に印加された第1光電流はゲートライン50の抵抗によって第1電圧を発生させる。ここで、第1光電圧は少なくとも二つのゲートライン50に同時に加えるか、一つのゲートライン50のみに供給することができる。このとき、第1光電圧の大きさは図3に図示された薄膜トランジスター40のチャンネル層48をターンオンさせるのに充分である必要があり、薄膜トランジスター40のチャンネル層48を破損しない範囲とするべきである。
光電流誘導を利用して図3に示されたデータライン60に印加された第2光電流データライン60の抵抗によって第2光電圧を発生させる。ここで、第2光電圧は少なくとも二つのデータライン60に同時に加えるか一つのデータライン60のみに供給することができる。第2光電流によって発生した第1光電圧は薄膜トランジスター40のソース電極44に印加される。このとき、第2光電流はテスト映像を具現するためにデータライン60毎に互いに違う大きさを有するようにすることが望ましい。
光電流誘導を利用して図6に示されたカラーフィルターユニットセル100の共通電極120に印加された第3光電流は電極120の固有の抵抗によって第3光電圧を発生させる。
このとき、第1光電圧をゲートライン50、第2電圧をデータライン60及び第3光電圧を共通電極120に同時に印加させることでLCDユニットセルの内部に配置された液晶は配列が変更される。
この時、LCDユニットセルの第1母基板10から液晶及び第2母基板80に向かうディスプレイ光は配列が変更された液晶及び第2母基板80を通じた後テスト映像が表示される。
LCDユニットセルの良否はテスト映像によって検査される(段階420)。
図32は図30のLCDユニットセルを検査する過程を示したフローチャートである。
図32に示すように、ディスプレイ光CCDカメラによって撮影され(段階422)、CCDカメラによって撮影されて発生したイメージデータは基準データと比較される(段階424)。続いて、LCDユニットセルはイメージデータと基準データとの比較結果によって良品であるか不良品であるかが判定される(段階430)。
続いて、CCDカメラによって良品であるか不良品であるかが判別されたLCDユニットセルのうち不良品には不良LCDユニットセルを知らせるマーキング作業が実施される。
このような非接触方式でLCDユニットセルを駆動してLCDユニットセルの良品または不良品を決定するのは第1母基板10及び第2母基板80からLCDユニットセルを切断する前に良品LCDユニットセルに偏光板を付着するためである。
図33は非接触方式でLCDユニットセルを検査する装置を示した概念図である。
図33に示すように、非接触LCDユニットセル検査装置380はベース本体390、光電圧印加装置400、ディスプレイ光供給装置410、検出器420及び制御ユニット430を含む。
ベース本体390にはLCDユニットセルが形成された第1母基板10及び第2母基板80で構成された組立基板がローディング及びアンローディングされる。
光電圧印加装置400は第1光電圧印加装置402、第2電圧印加装置404及び第3電圧印加装置406で構成される。
第1光電圧印加装置402は、図3に示されたLCDユニットセルの一部分であるTFTユニットセルに含まれたゲートライン50に第1光電圧を印加して、薄膜トランジスター40のチャンネル層48をターンオンさせる。このとき、第1光電圧印加装置402は一つのゲートライン50に第1光電圧を印加するか、少なくとも二つのゲートライン50に第1光電圧を印加する。
第2光電圧印加装置404は、図3に示されたLCDユニットセルの一部分であるTFTユニットセルに含まれたデータライン60に第2光電圧を印加して、薄膜トランジスター40のソース電極44に第2光電圧が印加されるようにする。第2光電圧は、ゲートライン50に印加された第1光電圧によって薄膜トランジスター40のドレーン電極46を経て画素電極70に印加される。
第3光電圧印加装置406は、図6に図示されたLCDユニットセルの一部分であるカラーフィルターユニットセルの共通電極120に第3光電圧を印加する。共通電極120に印加された第3光電圧及び画素電極70に印加された第2光電圧はLCDユニットセルに含まれた液晶に光が通過できるように液晶を配列する。
しかし、LCDユニットセルに液晶を通過する光を供給しないと、第1〜第3光電圧印加装置によって液晶が配列された状態でLCDユニットセルの駆動状態を正確に認識することができない。
ディスプレイ光供給装置410は駆動されたLCDユニットセルの駆動状態を認識することができるように第1母基板10から液晶及び第2母基板80を通過する方向にディスプレイ光411を供給する。
検出器420はディスプレイ光供給装置410で発生して第1母基板10、液晶及び第2母基板80を通過したテスト映像412を撮影する。検出器420はアナログ信号をディジタル信号に変換する。検出器420はテスト映像412をディジタル形態のデータに変換する。例えば、前記検出器420はCCDカメラに成り得る。
制御ユニット430はディスプレイ光供給装置410及び光電圧印加装置400によって駆動されたLCDユニットセルの駆動状態を比較して検査する。
図30または図33に示された非接触LCDユニットセル検査装置によってLCDユニットセルの良品または不良品が判別されると、組立基板は垂直状態で自動搬送車または手動搬送車によって搬送された後、組立基板のうち良品LCDユニットセルに偏光板を取り付ける過程が実施される。
図34は本発明による偏光板取付装置の実施例を示した概念図である。
図34に示すように、偏光板取付装置440はベース本体450、第1偏光板取付モジュール460、第2偏光板取付モジュール470、第1切断モジュール480、第2切断モジュール490、第1保護シートストリップモジュール500、第2保護ストリップモジュール510を含む。
ベース本体450は第1偏光板取付460、第2偏光板取付モジュール470、第1切断モジュール480、第2切断モジュール490、第1保護ストリップモジュール500、第2保護ストリップモジュール510が設置される場所を提供する。
ベース本体450は一実施例として直方体のボックス形状を有する。このとき、ベース本体450のうち長さが長い方向をX方向、長さが短い方向をY方向と称する。
ベース本体450には組立基板ローダー520が設置される。組立基板ローダー520は前述した非接触LCDユニットセル設備で良品の可否が検査された組立基板が複数ローディングされる。
一方、ベース本体450には組立基板ローダー520と離間されたところに第1偏光板原緞ローダー530及び第2偏光板原緞ローダー450がY軸方向に一例に配置される。
第1偏光板原緞ローダー530には組立基板の大きさと対等の大きさを有し、TFTユニットセルに取り付けられる第1偏光板原緞が複数ローディングされる。
図35は本発明による偏光板取付装置に使用される第1偏光板原緞を示した断面図である。
図35に示すように、第1偏光板原緞534は第1ベースフィルム531、第1偏光板532及び第1保護シート533で構成される。
これとは異なる実施例として、第1偏光板原緞534は組立基板の大きさより少し小さく形成することが可能である。例えば、組立基板にLCDユニットセルが3*2行列形態に配置されたとき、第1偏光板原緞534には三つの第1偏光板532が形成されるのに充分な大きさを有するようにするか、二つの第1偏光板532が形成されることができる。
第2偏光板原緞540には組立基板の多くさと対等の多くさを有し、組立基板のカラーフィルターユニットセルに取り付けられる第2偏光板原緞544が複数ローディングされる。
これとは違う実施例として、第2偏光板原緞544は組立基板の大きさより少し小さく形成される。例えば、組立基板にLCDユニットセルが3*2の行列形態に配置されたとき、第2偏光板原緞544は三つの第2偏光板542を切断するのに充分な大きさを有するか、二つの第2偏光板542を切断するのに充分な大きさを有する。
図36は本発明による偏光板取付装置に使用される第2偏光板原緞を示した断面図である。
図36に示すように、第2偏光板原緞544は第2ベースフィルム541、第2偏光板542及び第2保護シート543で構成される。
図34に図示されたように、ベース本体450のうち第1偏光板原緞ローダー540及び組立基板ローダー520の間には第1切断モジュール480及び第2切断モジュール490が配置される。
第1切断モジュール480は第1偏光板原緞ローダー530からアンローディングされた第1偏光板原緞534をTFTユニットセルの数及び大きさに適合するように切断する。ここで、第1切断モジュール480は第1偏光板原緞534にTFTユニットセルの数と対等に第1偏光板532を形成する。一方、第1切断モジュール480は組立基板に行列方式で配置されたTFTユニットセルのうち一つの行に属するTFTユニットセルに取り付けられるように第1偏光板原緞に第1偏光板532を切断するか、一つの列に属するTFTユニットセルに取り付けられるように第1偏光板原緞に第1偏光板532を切断することができるように構成される。
第2切断モジュール490は第2偏光板原緞ローダー540からアンローディングされた第2偏光板原緞544をTFTユニットセルの大きさに適合するように切断する。ここで、第2切断モジュール490は第2偏光板原緞544にTFTユニットセルの数と対等に第2偏光板原緞542を形成する。一方、第2切断モジュール490は組立基板に行列方式で配置されたTFTユニットセルのうち一つの行に属するTFTユニットセルに取り付けられるように第2偏光板原緞544に第2偏光板542を切断するか、一つの列に属するTFTユニットセルに取り付けられるように第2偏光板原緞に第2偏光板542を切断することができるように構成される。
図37は本発明による偏光板取付装置の第1切断モジュールを示した概念図である。
第1切断モジュール480は第1X軸ブレイドモジュール481及び第1Y軸ブレイドモジュール486で構成される。
第1X軸ブレイドモジュール481は第1X軸ブレイド482及び第1X軸ブレイド駆動ユニット483で構成される。第1X軸ブレイド482はTFTユニットセルのうちX軸方向のエッジの長さと対等である。第1X軸ブレイド駆動ユニット483は第1X軸ブレイド482をアップダウンさせて第1X軸ブレイド482が第1偏光板取付534の第1偏光板532及び第1保護シート533は完全に切断し、ベースフィルム531は一部が切断されるようにする。
図38は本発明による偏光板取付装置の第1X軸ブレイドモジュールによって第1偏光板原緞が全体的に切断されることを示した概念図である。
図38に示すように、第1X軸ブレイドモジュール481によって第1偏光板原緞534のX軸方向には規則的な切断が発生する。
図39は本発明による偏光板取付装置の第1X軸ブレイドモジュールによって第1偏光板原緞の左側部が切断された場合を示した概念図であり、図40は本発明による偏光板取付装置の第1X軸ブレイドモジュールによって第1偏光板原緞の右側部が切断された場合を示した概念図である。
図39及び図40に示すように、第1偏光板のサイズが大きくなる場合には図39及び図40のように第1偏光板のエッジ部を左側部及び右側部を2回にかけて切断する。この場合、第1X軸ブレイドの長さは第1偏光板のX軸方向の長さより短く、X軸方向の長さの半分よりは長くすることが好ましい。
偏光板のサイズが大きい場合、第1X軸ブレイドが第1偏光板原緞をプッシュする過程で偏光板に損傷が生じるおそれがある。この場合、数回にかけて第1偏光板原緞を切断することが有利であるが、相対的に長い時間が必要とされるので2回程度で切断する方が有利である。
第1Y軸ブレイドモジュール486は第1Y軸ブレイド484及び第1Y軸ブレイド駆動ユニットで構成される。第1Y軸ブレイド484はTFTユニットセルのうちY軸方向のエッジの長さと対等である。第1Y軸ブレイド駆動ユニット485は、第1Y軸ブレイド484をアップダウンさせて、第1偏光板原緞534の第1偏光板532及び第2保護シート533を完全に切断し、ベースフィルム541の一部を切断する。
図41は本発明による偏光板取付装置の第1Y軸ブレイドモジュールによって第2偏光板原緞が全体的に切断されたことを示した概念図である。
図41に示すように、第1Y軸ブレイドモジュール486によって第1偏光板原緞はY軸方向に切断される。このように第1X軸ブレイドモジュール481及び第1Y軸ブレイドモジュール486によって第1偏光板原緞534より第1偏光板532は分離される。以下、第1偏光板原緞534より分離された第1偏光板532を切断された第1偏光板532aと称する。
図42は本発明による偏光板取付装置の第1Y軸ブレイドモジュールによって第1偏光板原緞の上部が切断されたことを示した概念図であり、図43は本発明による偏光板取付装置の第1Y軸ブレイドモジュールによって第1偏光板原緞の下部が切断されたことを示す概略図である。
図42及び図43に示すように、第1偏光板のサイズが大きくなる場合には第1偏光板のY軸方向のエッジ部を上部及び下部の2回にかけて切断する。この場合、第1Y軸ブレイドの長さは第1偏光板のY軸方向の長さより短くて、Y軸方向の長さの半分より長くするようにすることが好ましい。
第1切断モジュール480及び第2切断モジュール490は同一の構造を有するので第2切断モジュール490の重複する説明は省略することとする。
図34に示すように、ベース本体450のうち第1切断モジュール480及び第2切断モジュール490と隣接するところには第1偏光板原緞534及び第2偏光板原緞544を除去する第1保護シートストリップモジュール500及び第2保護シートストリップモジュール510が配置される。
図44は本発明による偏光板取付装置の第1保護シートストリップモジュール500を示す概念図である。
図44に示すように、第1保護シートストリップモジュール500は第1切断モジュール480によって第1偏光板原緞534から切断された第1偏光板532aの表面に覆われている第1保護シート533aを除去する。
第1保護シートストリップモジュール500は真空圧を発生するピッカー(picker:501)及びピッカー駆動モジュール503を含む。
ピッカー駆動モジュール503はピッカー501を切断された第1偏光板532aの表面に取り付けられた第1保護シート533aの方にアップダウンさせる。
ピッカー501は第1保護シート533aの表面を真空圧で吸着する。この状態でピッカー駆動モジュール503は再び逆方向に進行する。このとき、ピッカー501と第1保護シート533aの吸着力が第1保護シート533a及び切断された第1偏光板532aの吸着力より大きい場合、第1保護シート533aは切断された第1偏光板532aから分離される。
第1保護シート533aが除去されることで切断された第1偏光板532aはLCDユニットセルのTFTユニットセルに取付が可能になる。
第2保護シートストリップモジュール510は第1保護シートストリップモジュール500と同一な構成であるので重複する説明は省略することとする。
図34の図面符号560、570(説明せず)は裁たれた第1偏光板原緞、第2偏光板原緞を覆す反転モジュールである。反転モジュール560,570は第1、第2保護シートがストリップされることで外部に露出された第1、第2偏光板部分がTFTユニットセルまたはカラーフィルターユニットセルと向き合うようにする。
一方、第1偏光板取付モジュール460及び第2偏光板取付モジュール470はベース本体450の中央部分にY軸方向に一例に設置される。
第1偏光板取付モジュール460及び第2偏光板取付モジュール470は第1、第2偏光板原緞534,544及び組立基板が取り付けられるようにする。
図45は本発明による偏光板取付装置の第1偏光板取付モジュール460を示した概念図である。
図45を参照すると、第1偏光板取付モジュール460は第1組立基板固定ユニット461及び第1偏光板取付ユニット466で構成される。
第1組立基板固定ユニット461は組立基板85を固定する役割をする。第1組立基板固定ユニット461は、第1組立基板固定プレート462及び第1組立基板吸着ユニット463で構成される。
第1組立基板固定プレイト462には多数の貫通孔462aが形成される。
第1組立基板吸着ユニット463は第1真空配管463a及び第1真空圧発生装置463bで構成される。第1真空配管463aの第1端部は第1組立基板固定プレート462に形成された第1貫通孔462aに結合され、第1真空配管の第2端部は第1真空圧発生装置463bに結合される。第1真空圧発生装置463bによって発生した真空圧によって組立基板85は第1組立基板固定プレート462に固定される。
第1偏光板取付ユニット466は第1偏光板加圧プレイト468及び第1偏光板加圧プレート駆動モジュール467で構成される。
第1偏光板加圧プレート駆動モジュール467は、第1偏光板加圧プレート468をアップダウンさせて、第1偏光板原緞534上に第1保護シート533が剥離された第1偏光板532aをTFTユニットセルの表面に密着させる。これによって、第1偏光板原緞534のベースフィルム531から切断された第1偏光板532aは分離されてTFTユニットセルには第1偏光板が取り付けられる。
第2偏光板取付ユニット470は第1偏光板取付ユニット460と同一な構成を有するため重複する説明は省略することとする。
図34に示したように、第1偏光板取付ユニット460及び第2偏光板取付ユニット470の間にはターンオーバーユニット580がさらに設置される。ターンオーバーユニット580は第1偏光板取付ユニット460で第1偏光板が取付けられた組立基板を反転してカラーフィルターユニットセルに第2偏光板を取り付けることができるようにするためである。
組立基板のTFTユニットセル及びカラーフィルターユニットセルに第1偏光板及び第2偏光板が全部取り付けられると、移送アームは偏光板が取り付けられた組立基板を組立基板アンローダー590に移送する。ここで、組立基板アンローダー590は2つ形成される。
また、図1に示すように、組立基板のTFTユニットセルに第1偏光板及びカラーフィルターユニットセルに第2偏光板が全部取り付けられた状態で、組立基板に形成されたLCDユニットセルは非接触方式でガラス基板を切断するレーザービーム切断装置または接触方式でガラス基板を切断するダイヤモンドブレイドによって個別化される(段階500)。
組立基板から個別化されたLCDユニットセルを以下LCDパネルと称する。
LCDパネルにはプレキシブルなテープキャリアパケッジ及びLCDパネルを作動させるための印刷回路基板が付着されてLCDパネルアセンブリが製造される(段階600)。
LCDパネルアセンブリには光を供給するバックライトアセンブリが結合されて液晶表示装置が製造される。
以上、本発明の実施例を参照して説明したが、該当の技術分野の熟練した当業者なら特許請求範囲に記載した本発明の思想及び領域から逸脱することなく本発明を多様に修正及び変更させることができることを理解できる。
本発明の一実施例による液晶表示装置の製造方法を示したフローチャートである。 図1の段階100によって第1母基板および第1母基板に形成されたTFTユニットセル形成領域を示す概念図である 図2に示されたTFTユニットセル形成領域に形成されたTFTユニットセルを成す電極及び薄膜トランジスター(transistor)を示した概念図である 図3の薄膜トランジスター及び画素電極を示した断面図である。 本発明の一実施例による第2母基板及び第2母基板に形成されたカラーフィルターユニットセル形成領域を示した概念図である。 図5のカラーフィルターユニットセルの一部を切断した断面図である。 本発明の第一実施例による第1母基板または第2母基板の表面に形成された配向膜を示した断面図である。 本発明の第1実施例による非接触液晶配向方法を示したフローチャートである。 第1イオンビームを発生する過程を示したフローチャートである。 本発明の第1実施例による非接触液晶配向装置を示した概念図である。 図10の第1イオンビーム発生モジュール、第2イオンビーム発生モジュール及び原子ビーム形成モジュールを示した概念図である。 図10の非接触液晶配向装置及びDLC薄膜形成装置を同時に示した概念図である。 本発明の第2実施例によって非接触方式で液晶を配向する方法を示したフローチャートである。 本発明の第2実施例によってDLC薄膜の表面に液晶配向用極性作用器を形成する過程が示されたフローチャートである。 本発明の第2実施例によって液晶配向用極性作用器に水酸基を結合する過程を示したフローチャートである。 本発明の第3実施例によって液晶配向用極性作用器に水素基を結合する過程を示したフローチャートである 本発明の第4実施例によって液晶配向用極性作用器に窒素基を結合する過程を示したフローチャートである。 本発明の第5の実施例による非接触液晶配向装置を示した概念図である。 本発明の第6実施例による非接触液晶配向装置の概念図である。 本発明の第7実施例による非接触液晶配向装置を示した概念図である。 本発明の第8実施例による非接触液晶配向装置を示した概念図である。 本発明の第9実施例による原子ビーム形成方法を示したフローチャートである。 本発明の第10実施例による原子ビーム形成装置を示した概念図である。 本発明の第11実施例によって非接触方式で液晶を配向する方法を示したフローチャートである。 本発明の第12実施例によって非接触方式で液晶を配向する装置を示した概念図である。 第1母基板または第2母基板に形成された透明薄膜を示す概念図である。 透明薄膜の表面に炭素化合物重合体が形成されたのを示した概念図である。 本発明の液晶アンフィルド領域検査方法を示したフローチャートである。 本発明の一実施例による液晶アンフィルド領域検査設備を示した概念図である。 本発明の非接触LCDユニットセル検査方法によるLCDユニットセルを検査する方法を示したフローチャートである。 図30のうちLCDユニットセルを駆動する工程を示したフローチャートである。 図30のLCDユニットセルを検査する過程を示したフローチャートである。 非接触方式でLCDユニットセルを検査する装置の概念図である。 本発明による偏光板取付装置の実施例を示した概念図である。 本発明による偏光板取付装置に使用される第1偏光板原緞を示した断面図である 本発明による偏光板取付装置に使われている第2偏光板原緞を示した断面図である。 本発明による偏光板取付装置の第1裁ちモジュールを示した概念図である。 本発明による偏光板取付装置の第1X軸ブレイド(blade)モジュールによって第1偏光板原緞が全体的に切断されたものを示した概念図である。 本発明にとる偏光板取付装置の第1X軸ブレイド(blade)モジュールによって第1偏光板原緞の左側部が切断されたものを示した概念図である。 本発明による偏光板取付装置の第1X軸ブレイドモジュールによって第1偏光板原緞の右側部が切断されたものを示す概念図である。 本発明による偏光板取付装置の第1Y軸ブレイドモジュールによって第2偏光板原緞が全体的に切断されたものを示す概念図である。 本発明による偏光板取付装置の第1Y軸ブレイドモジュールによって第1偏光板原緞の上部が切断されたものを示す概念図である。 本発明による偏光板取付装置の第1Y軸ブレイドモジュールによって第1偏光板原緞の下部が切断されたものを示す概念図である。 本発明による偏光板取付装置の第1保護シートストリップモジュールを示す概念図である。 本発明による偏光板取付装置の第1偏光板取付モジュールを示す概念図である。
符号の説明
10 第1の母基板
20 TFTユニットセル形成領域
40 薄膜トランジスター
70 画素電極
80 第2の母基板
90 カラーフィルターユニットセル形成領域
100 カラーフィルターユニットセル
112 レッドカラーフィルター
114 グリーンカラーフィルター
116 ブルーカラーフィルター
130 配向膜
154 ソースガス供給ユニット
156b、158b、168、172b、174a、197 電源供給装置
190 DLC薄膜形成装置
191 チャンバ
192 基板固定ユニット
193 反応ガス供給モジュール
194 真空ポンプ
195、196 プラズマ発生装置
235、236 プラズマ形成装置
237 電源供給装置
240 極性保持装置
241 極性保持チャンバ
242 純水供給モジュール
243 純水噴射モジュール
320 第1イオンビーム発生装置
322 第1電極
324 第1電源供給装置
330 第2イオンビーム発生装置
332 第2イオンビーム発生本体
334 第2電極
336 第2電源供給装置
342 電子発生装置
344 第3電源供給装置
350 液晶配向用突起形成装置
351 チャンバ
353 反応ガス供給ユニット
355,357 反応ガス重合ユニット355、357
360 透明薄膜形成装置
361 薄膜形成チャンバ
362 反応ガス供給装置
364 プラズマ発生装置
368 高真空ポンプ
369 非接触液晶配向装置
370 液晶アン−フィルド領域検査設備
371 ベース本体
373 バックライトユニット
375 液晶アンフィルド領域検出器
377 データ保存モジュール
378 制御ユニット
380 非接触LCDユニットセル検査装置
390 ベース本体
400 光電圧印加装置
410 ディスプレイ光供給装置
420 検出器
430 制御ユニット
461 第1組立基板固定ユニット
462 第1組立基板固定プレート
462a 第1貫通孔
463 第1組立基板吸着ユニット
463a 第1真空配管
463b 第1真空圧発生装置
501 ピッカー
503 ピッカー駆動モジュール
531 第1ベースフィルム
532 第1偏光板532
533 第1保護シート
532a 第1偏光板
533a 第1保護シート
534 第1偏光板原緞
540 第2偏光板原緞
544 第2偏光板原緞

Claims (29)

  1. ベース本体と、
    前記ベース本体に配置され、LCDユニットセルが形成された組立基板の第1面に取り付けられる第1偏光板を第1偏光板原緞より切断する第1切断モジュールと、
    前記ベース本体に搭載され、前記第1偏光板を覆っている第1保護シートを剥離する第1保護シートストリップモジュールと、
    前記ベース本体に配置され、前記第1保護シートが剥離された前記第1偏光板を前記第1面に取り付ける第1偏光板取付モジュールと、
    前記ベース本体上に配置され、前記第1偏光板の前記第1保護シートが剥離された面が前記組立基板対向するように前記第1偏光板を反転させる第1反転モジュールと、
    を含むことを特徴とする偏光板取付装置。
  2. 前記第1反転モジュールは、前記ベース本体のうち前記第1保護シートストリップモジュール及び前記第1偏光板取付モジュールの間に設置されることを特徴とする請求項1記載の偏光板取付装置。
  3. 前記ベース本体には前記第1切断モジュールに前記第1偏光板を供給するための第1偏光板ローダーがさらに設置されたことを特徴とする請求項1記載の偏光板取付装置。
  4. 前記ベース本体には前記第1偏光板取付モジュールに前記組立基板を供給するための組立基板ローダーがさらに設置されたことを特徴とする請求項1記載の偏光板取付装置。
  5. 前記ベース本体には前記第1偏光板取付モジュールで前記第1偏光板が取り付けられた前記組立基板をアンローディングする組立基板アンローダーがさらに設置されることを特徴とする請求項1記載の偏光板取付装置。
  6. 前記第1切断モジュールは前記第1偏光母板をX軸方向に切断するための第1X軸ブレイドモジュール及び前記第1X軸方向に垂直であるY軸方向に切断するための第1Y軸ブレイドモジュールを含むことを特徴とする請求項1記載の偏光板取付装置。
  7. 前記X軸ブレイドモジュールは第1X軸ブレイド及び前記第1X軸ブレイドをアップダウンさせる第1X軸ブレイド駆動ユニットを含み、第1Y軸ブレイドモジュールは第1Y軸ブレイド、前記第1Y軸ブレイドをアップダウンさせる第1Y軸ブレイド駆動ユニットを含むことを特徴とする請求項6記載の偏光板取付装置。
  8. 前記第1X軸ブレイド、前記第1Y軸ブレイドの長さはそれぞれ、前記第1偏光板のX軸方向エッジ長さ及び前記第1偏光板のY軸方向エッジ長さと実質的に同一であることを特徴とする請求項7記載の偏光板取付装置。
  9. 前記第1X軸ブレイドの長さは、前記第1偏光板のX軸方向エッジ長さより短くて前記第1偏光板のX軸方向エッジ長さの半分よりは長く、前記第1Y軸ブレイドの長さは前記第1偏光板のY軸方向エッジ長さより短くて前記第1偏光板のY軸方向エッジ長さの半分より長いことを特徴とする請求項7記載の偏光板取付装置。
  10. 前記第1保護シートストリップモジュールは真空圧が形成される第1ピッカー、前記第1ピッカーを前記第1保護シートの方にアップダウン駆動するための第1ピッカー駆動モジュールを含むことを特徴とする請求項1記載の偏光板取付装置。
  11. 前記第1偏光板取付モジュールは前記組立基板を固定する第1組立基板固定ユニット及び前記第1保護シートが剥離された前記第1偏光板を前記LCDユニットセルに取り付ける第1偏光板取付ユニットを含むことを特徴とする請求項1記載の偏光板取付装置。
  12. 前記第1組立基板固定ユニットは前記組立基板を固定するために複数の貫通孔が形成された第1組立基板固定プレート、前記組立基板を吸着する第1組立基板吸着ユニットを含むことを特徴とする請求項11記載の偏光板取付装置。
  13. 前記第1組立基板吸着ユニットは前記第1貫通孔に連結される第1真空配管、前記第1真空配管に連結される第1真空圧発生装置を含むことを特徴とする請求項12記載の偏光板取付装置。
  14. 前記第1偏光板取付ユニットは第1偏光板を前記LCDユニットセルの方に加圧する第1偏光板加圧プレート及び前記第1偏光板加圧プレートを駆動させる第1偏光板加圧プレート駆動モジュールを含むことを特徴とする請求項11記載の偏光板取付装置。
  15. 前記組立基板には行列形態で前記LCDユニットセルが形成され、前記第1切断モジュールは第1偏光母板に前記組立基板に形成されたLCDユニットセルの行数または列数通りに前記第1偏光板を切断することを特徴とする請求項1記載の偏光板取付装置。
  16. 前記ベース本体の前記第1切断モジュールと並んで配置され、LCDユニットセルが形成された組立基板の第2面に取り付けられる第2偏光板を第2偏光母板より切断する第2切断モジュールと、
    前記ベース本体の前記第1保護シートストリップモジュールと並んで配置され、前記第2偏光板を覆っている第2保護シートを剥離する第2保護シートストリップモジュールと、
    前記ベース本体の第1偏光板取付モジュールに並んで配置され、前記第2保護シートが剥離された前記第2偏光板を前記第2面に取り付ける第2偏光板取付モジュールと、
    前記第1偏光板が取り付けられた組立基板のカラーフィルタ単位セルが上面に向かうように反転させるターンオーバーユニットと、
    を含むことを特徴とする請求項1記載の偏光板取付装置。
  17. 前記ベース本体のうち前記第2保護シートストリップモジュール及び前記第2偏光板取付モジュールの間には前記第2偏光板の前記第2保護シートが剥離された面が前記組立基板に対向するように前記第2偏光板を反転するための第2反転モジュールがさらに設置されることを特徴とする請求項16記載の偏光板取付装置。
  18. 前記ベース本体には前記第2切断モジュールに前記第2偏光板を供給するための第2偏光板ローダーがさらに設置されたことを特徴とする請求項16記載の偏光板取付装置。
  19. 前記ベース本体には前記第2偏光板取付モジュールに前記組立基板を供給するための組立基板ローダーがさらに設置されたことを特徴とする請求項16記載の偏光板取付装置。
  20. 前記ベース本体には前記第2偏光板取付モジュールで前記第2偏光板が取り付けられた前記組立基板をアンローディングする組立基板アンローダーがさらに設置されることを特徴とする請求項16記載の偏光板取付装置。
  21. 前記第2切断モジュールは前記第2偏光母板を切断するための第2X軸ブレイドモジュール、前記第2Y軸ブレイドモジュールを含むことを特徴とする請求項16記載の偏光板取付装置。
  22. 前記第2X軸ブレイドモジュールは第2X軸ブレイド及び前記第2X軸ブレイド及び前記第2X軸ブレイドをアップダウンさせる第2X軸ブレイド駆動ユニットを含み、第2Y軸ブレイドモジュールは第2Y軸ブレイド、前記第2Y軸ブレイドをアップダウンさせる第2Y軸ブレイド駆動ユニットを含むことを特徴とする請求項21記載の偏光板取付装置。
  23. 前記第2X軸ブレイド、前記第2Y軸ブレイドの長さは前記第2偏光板のエッジ長さと実質的に同一であることを特徴とする請求項22記載の偏光板取付装置。
  24. 前記第2X軸ブレイドの長さは前記第2偏光板のX軸方向エッジ長さより短くて前記第2偏光板のX軸方向エッジ長さ半分よりは長く、前記第2Y軸ブレイドの長さは前記第1偏光板のY軸方向エッジ長さより短くて前記第2Y軸方向エッジ長さの半分より長いことを特徴とする請求項22記載の偏光板取付装置。
  25. 前記第2保護シートストリップモジュールは、真空圧が形成される第2ピッカー、前記第2ピッカーを前記第2保護シートの方にアップダウン駆動するための第2ピッカー駆動モジュールを含むことを特徴とする請求項16記載の偏光板取付装置。
  26. 前記第2偏光板取付モジュールは前記組立基板を固定する第2組立基板固定ユニット及び前記第2保護シートが剥離された前記第2偏光板を前記LCDユニットセルに取り付ける第2偏光板取付ユニットを含むことを特徴とする請求項16記載の偏光板取付装置。
  27. 前記第2組立基板固定ユニットは前記組立基板を固定するために複数の貫通孔が形成された第2組立基板固定プレート、前記組立基板を吸着する第2組立基板吸着ユニットを含むことを特徴とする請求項26記載の偏光板取付装置。
  28. 前記第2組立基板吸着ユニットは前記第2貫通孔に連結される第2真空配管、前記第2真空配管に連結された第2真空圧発生装置を含むことを特徴とする請求項27記載の偏光板取付装置。
  29. 前記第2偏光板取付ユニットは第2偏光板を前記LCDユニットセルの方に加圧する第2偏光板加圧プレート及び前記第2偏光板加圧プレートを駆動させる第2偏光板加圧プレート駆動モジュールを含むことを特徴とする請求項26記載の偏光板取付装置。
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