JP4669167B2 - Ｘ線ビーム傾斜補償付きのイメージング・システム - Google Patents

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本願の発明は、全般的には、Ｘ線イメージング・システムにおいてＸ線照射野の形状の歪みを補正または補償するための方法及び装置に関するものである。さらに詳細には、本発明は、上記のタイプの方法であって、その歪みがＸ線ビームの傾斜（anguration；すなわち、Ｘ線検出器に向けた９０度未満の角度でのＸ線ビームの投影）によって生ずるような方法に関するものである。またさらに詳細には、本発明は、上記のタイプの方法であって、Ｘ線ビームが検出器の面に投射されて傾斜により歪んだ際にＸ線ビーム域の幾何中心を計算して検出器に対して選択的に位置決めするような方法に関するものである。
【０００２】
【発明の背景】
周知のように、典型的なＸ線イメージング・システムでは、患者は、Ｘ線管と、Ｘ線フィルムやディジタル半導体検出器などの２次元イメージング表面を有する画像レセプターとの間に配置される。Ｘ線管は、撮影しようとする患者の身体構造を通過するようにＸ線放射ビームを検出器表面に向けて投射する。検出器上に入射する投射Ｘ線放射の領域は、有効イメージング領域（active imaging area ：ＡＩＡ）を規定する。一般に、本明細書ではＸ線ビーム域、すなわち撮影域（ＦＯＶ）、を投射されたビームと検出器面の交点として規定しており、画像データの損失を防止するため、検出器表面の境界と一致させるか、この境界内に位置させる必要がある。ＦＯＶは、投射されたＸ線ビームの方向を変更するためにＸ線管を回転または傾斜させること、さらに、Ｘ線ビームの幅及び長さ方向の寸法を変更するためにコリメータを操作することにより調整することができる。さらに、この調整はＸ線管及び／または検出器の直線的平行移動により行うことができる。
【０００３】
Ｘ線ビーム（より詳細には、Ｘ線ビームの軸または中心線束）が検出器面に垂直の（すなわち、直角の）関係に向くようにＸ線管を方向付けすると、検出器面に投射されたビーム域は長方形の構成となる。しかし、Ｘ線技師またはオペレータは、撮影手続きのための設定の際に、検出器に向けて９０未満の角度でビームが方向付けされるように、ビームを傾斜させたり、Ｘ線管を回転させる（すなわち、ピボットさせる）ことが必要となることがある。この操作は、例えば、そのビームを確実に撮影しようとする患者の特定の身体構造を通過させるために必要となることがある。しかし、Ｘ線ビームの傾斜角を増加させるのに伴い、検出器に投射されるビーム域はそれに応じて歪んで台形となり、さらにビームの中心線束の中心位置は投射されたＸ線照射野の幾何中心から偏位(offset)する。こうした中心ズレ及び歪みの結果が影響してくるのに伴い、オペレータによる整列を達成するための操作はさらに困難で、時間がかかり、かつより大きな誤差を伴うことになる。より具体的には、検出器上の投射された画像に対して最適な中心合わせが達成されるように、オペレータがＸ線ビームをより小さい照射野サイズにコリメートし直すか、画像検出器をビーム域と整列し直すことが必要となることがある。さらに、患者の位置決めし直しが必要となることもある。最適な（すなわち、適正な）中心合わせをしないと、撮影処置の間に、検査の再実行が必要となるような解剖構造上の欠落を生じさせ、これにより手順サイクルタイムの増加、検査コストの増大、及び患者に対する正味の放射線量の増加をもたらすことがある。さらに、ビームの傾斜によりビームの入射角が±１０°を超えると、現行の調整器ではコリメータを調整するための自動化機構を使用することができない。したがって、システムのオペレータがビームを手作業でコリメートして所望の照射野サイズにする必要がある。
【０００４】
【発明の概要】
本発明は、ビームの傾斜や傾斜による歪みの影響があっても解剖構造上の欠落及び不正確な位置決めが防止されるような方式により、Ｘ線システムのオペレータに対してＸ線検出器を撮影対象及び投射されたＸ線ビームと迅速かつ効率よく整列させることを可能とするための配置構成に関するものである。さらに、本発明では、±１０°を超えるビームの入射角に対して自動コリメーションを可能にし、かつ、検出器を自動的にシフトさせるようにすることによってサイクルタイムを短縮させている。
【０００５】
本発明の実施の一形態は、Ｘ線管と、その表面を指定した面に位置させた検出器とが設けられており、そのＸ線管が検出器表面から第１の軸に沿って線源−イメージ間距離（ＳＩＤ）だけ離間しており、かつ、Ｘ線管がビーム方向角度φ及びビーム幅角度γにより特徴付けられるＸ線ビームを検出器の方向に投射するように配置されているようなイメージング・システムのための整列方法を目的としている。本方法は、指定した検出器面に投射されたビーム域に対して、第１の軸と直角な第２の軸に沿って計測される長さ方向の寸法を指定するステップを含む。本方法はさらに、指定したビーム域の長さ、ＳＩＤ及びビーム方向角度からビーム幅角度の値を計算するステップと、次いで、計算したビーム幅角度、ＳＩＤ及びビーム方向角度からビーム域の幾何中心を位置特定するステップと、を含む。これに従って、検出器表面の中心とビーム域の幾何中心との間に選択した位置関係が確立される。
【０００６】
本発明の好ましい実施の一形態では、この位置特定のステップは、投射されたビームの中心軸が検出器面と交差する点を決定するステップと、次いで、ビーム軸交点から第２の軸に沿って計算したオフセット値だけ離間した点に幾何中心を位置特定するステップとを含む。このオフセット値は、ＳＩＤ及びビーム方向角度、並びにビーム幅角度の計算値から計算される。さらに、検出器表面の中心は、このオフセット値を決定し終えた後に、ビーム域の幾何中心と整列させることが好ましい。有用な実施の一形態では、ビーム域の指定した長さは検出器表面の第２の軸に沿って延びる長さに等しい。別の有用な実施形態では、ビーム域の指定した長さは検出器表面の第２の軸に沿って延びる長さと比べて選択的により短い。
【０００７】
【発明の実施の形態】
図１について説明すると、垂直に向いた支柱１４と軸着され、すなわち回動自在に装着されているＸ線管１２を備えたＸ線イメージング・システム１０を図示している。システム１０はさらに、患者その他の撮影対象（図１では図示せず）を水平面で支持するように配置した寝台１６を含んでいる。通常は、支柱１４は軌道１８からつり下げられており、Ｘ線管及び支柱はこの軌道に沿い寝台１６の長さ方向に平行移動させることができる。図１ではさらに、寝台１６が寝台ベース２２上に保持されており、この寝台ベース２２はさらに寝台１８の直下にある平坦なＸ線検出器２０を支持するように図示している。検出器２０は、２次元画像受信表面２０ａを有しており、さらに通常は、Ｘ線フィルムまたはディジタル半導体検出器を備えている。
【０００８】
図１では、図示の目的で患者を水平に支持するように表しており、本発明の範囲を限定しようとする意図は全くないことを理解されたい。別の実施形態では、患者を垂直その他の向きに配置することがある（ただし、Ｘ線管と検出器のそれぞれは、これらの間に患者が配置されるように位置決めする）。
【０００９】
撮影対象を寝台１６上に配置した後、指定した身体構造が撮影されるようにＸ線放射ビームが対象のある領域を通過して投射されるようにＸ線管１２が調整される。Ｘ線管位置は、支柱１４に対してＸ線管をピボットさせること、さらには、支柱及びＸ線管を寝台に対して平行移動することによって調整することができる。投射されるＸ線ビームの寸法は、Ｘ線管１２に結合されておりかつ投射されたビームが横断している従来式設計のコリメータ２４によって調整することができる。検出器２０は、同様に寝台１６に沿って平行移動するように装着されており、指定した身体構造の画像を受信するように配置されている。しかし、上述したように、所望の画像データのすべてを確実に検出するためには、検出器を投射されたビーム域（すなわち、ＦＯＶ）と適正に整列させる必要がある。通常は、検出器とビーム域とを自動的に整列させるための手段を設けることができる。さらに図１について説明すると、以下に記載するような、本発明の実施の一形態に従った計算を実行し、整列手段の動作を制御するための電子装置２６を図示している。図１にはさらに、基準を示す目的で、互いに直交するＸ、Ｙ、Ｚの座標軸を示しており、そのＺ軸は垂直の方向に、Ｘ軸は寝台１６の長手方向に平行に、Ｙ軸は寝台を横切る方向に示している。この座標系の中心はＸ線管１２の焦点と一致しており、Ｘ線管はこの座標系の中心の周りを回転するように装着されている。
【００１０】
図２について説明すると、そのＸ線ビーム３０が寝台１６上に位置決めされた患者２８を通過して検出器２０に向かって投射されるように方向付けされたＸ線管１２を示している。より具体的には、Ｘ線管１２は、ビーム軸を構成している中心線束Ｒ_C が垂直なＺ軸に対して角度φ（ここで、φは４５°とすることがあり、以下において「ビーム方向角度」という）をなすように方向付けされている。しかし、本発明の原理は、±９０°未満の任意のビーム方向角度φに適用されることを理解されたい。さらに、ビーム３０の中心線束Ｒ_C は、φが０°のときには９０°の角度で検出器表面２０ａに向けられており、またφがゼロでない場合には９０°未満の角度で検出器表面に向けられていることを理解されたい。したがって、φがゼロでない場合、ビーム３０は上述のように傾斜している。図２にはさらに、投射されたビーム３０の境界がＸ−Ｚ平面において、ビームのそれぞれの辺縁方向に延びている線束Ｒ₁ 及びＲ₂ により定められていることを示している。図２はさらに、ビーム３０がコリメータ２４を通過するように表している。コリメータ２４によりＸ−Ｚ平面でのビーム３０の角度γが確立されており、このコリメータ２４はγの値を選択的に変更できるように調節可能である。以下において、このγを「ビーム幅角度」という。ビーム３０の中心線束Ｒ_C は角度φをなしているので、図２に示すように、線束Ｒ₁ 及びＲ₂ はそれぞれ［φ＋γ／２］と［φ−γ／２］の角度に方向付けされることが明らかである。
【００１１】
さらに図２について説明すると、Ｘ線ビーム３０は、検出器２０の検出器表面２０ａにあたる検出器面３２と交差するように表している。この交差によりビーム域（すなわち、ＦＯＶ）が規定される、すなわち、ビームの検出器面への投影が規定される。ビーム域の長さＦＯＶ_l （すなわち、Ｘ軸に沿ったＦＯＶの寸法）は、検出器面３２がＸ線ビーム３０の線束Ｒ₁ 及びＲ₂ とそれぞれ交差する点にあたるＸ₁ とＸ₂ の間の距離である。ビームのＦＯＶを検出器表面２０ａと整列させるためには、Ｘ軸に沿ったビームのＦＯＶの、既知の基準点に対する位置を知る必要がある。
【００１２】
さらに図２について説明すると、ビーム軸Ｒ_Cが検出器面と交差する点であって、検出器とビーム域を整列させる際に有用な基準点の役目をさせることができる点Ｘ_C は、φとＳＩＤ_Z とから容易に決定することができる。さらに詳細には、Ｘ_C はＳＩＤ_Z ｔａｎφに等しい（ここで、ＳＩＤ_Z はＺ軸に沿った線源−イメージ間距離、すなわち、Ｘ線管１２と検出器面３２の間の距離であって、既知の値である）。さらに、上述したように、Ｘ線管１２をφがゼロでない角度にピボットさせることによりＸ線ビーム３０を傾斜させたときに、検出器面３２に投射されるビーム域には歪みが生じ、ビーム域の幾何中心はＸ_C からシフトすることになる。この様子を、上述のように検出器面３２に投射されたビーム３０のビーム域３４が台形の構成となっているように表した図３に図示している。さらに、図３では、ビーム軸の交点Ｘ_C がビーム域３４の幾何中心Ｃ_geomから量δだけ偏位しているように表している。その結果、図２と図３の両方で図示しているように、ビーム域３４の一部は検出器２０上に入射せず、このためこのビーム部分により提供される画像データを受信することができない。データが脱落しないようにビーム域３４と検出器表面２０ａを適正に整列させるためには、このオフセット値δを決定することが必要となる。
【００１３】
図２では、Ｘ線管１２をＺ軸に対してピボットさせることにより傾斜させたビーム３０を表しているが、このビームは、別法として、検出器２０をピボットさせるか回転させることによって傾斜させることも可能である。一般に、本発明は、そのビーム方向角度φを±９０°未満にまでさせるような、Ｘ線管と検出器の間の任意の相対的移動に対して適用可能である。
【００１４】
図４について説明すると、Ｘ線管１２が検出器面に向けて９０°の角度でＸ線ビームを投射させるような、φを０°に設定した場合に得られるビーム域３６を比較のために示してある。ビーム域３６は対称な長方形であり、その幾何中心は点Ｘ_Cと一致している。
【００１５】
さらに図４について説明すると、φを−４５°などの値に設定した場合に得られるビーム域３８を示してある。ビーム域３８は、図３のビーム域３４と同様に台形と見なすことができるが、歪みの方向は反対である。さらに、ビーム域３８では、点Ｘ_C が幾何中心からＸ軸に沿って左方向に偏位しており、ビーム域３４に関して表した右方向ではない。
【００１６】
オフセットδの値を決定するには、先ず、図２に示す線束Ｒ₁ 、Ｒ₂ 及びＲ_C のそれぞれの勾配にあたる勾配Ｍ₁ 、Ｍ₂ 及びＭ_C を決定することが有用である。これらの勾配の各々は規定された角度φ及びδを用いて、以下のように規定することができる。
【００１７】
Ｍ_center＝ｔａｎ（φ） （式１）
Ｍ₁ ＝ｔａｎ［φ＋（γ／２）］ （式２）
Ｍ₂ ＝ｔａｎ［φ−（γ／２）］ （式３）。
【００１８】
図２に示すＸ−Ｚ平面に関する上述の座標系では、該平面内に表示される直線の方程式は、一般形としてｘ_i ＝Ｍ_i ｚ_i ＋ｂ_i （ここで、（ｘ_i ，ｚ_i ）はこの直線に沿った点の座標、またＭ_i は直線の勾配である）で表すことができる。しかし、Ｘ線管１２の焦点がＸ線管支持装置の回転中心と一致するようにイメージング・システム１０を設計しておけば、計算上の複雑さを低減させることができる。この場合では、これらの方程式はこの座標系の原点を通過しているため、ｂ_i の項は０になり、これにより、ビーム線束Ｒ₁ 、Ｒ₂ 及びＲ_C を記述するのに有用である式ｘ_i ＝Ｍ_i ｚ_i が得られる。さらに、ｚ_i ＝ＳＩＤ_Z で線源−イメージ間距離が既知の場合、線束Ｒ₁ 及びＲ₂ に関するそれぞれの交点Ｘ₁ 及びＸ₂ は次式より得られる。
【００１９】
Ｘ₁ ＝Ｍ₁ ＳＩＤ_Z ＝ＳＩＤ_Z ｔａｎ［φ＋（γ／２）］ （式４）
Ｘ₂ ＝Ｍ₂ ＳＩＤ_Z ＝ＳＩＤｔａｎ［φ−（γ／２）］ （式５）。
【００２０】
ビーム域３４の長さＦＯＶ_l は検出器表面２０ａのＸ軸方向に延びる長さ方向の寸法以上の大きさとなり得ることを理解することが重要である。したがって、ビーム域３４のＦＯＶ_l は、検出器表面２０ａの長さと等しくするか、あるいは選択的にこの長さ未満となるように事前指定される。したがって、ＦＯＶ_lは事前に決定した既知の値となる。図２から、ＦＯＶ_l は（Ｘ₁ −Ｘ₂ ）に等しいことが分かる。したがって、ＦＯＶ_l はＳＩＤ_Z 、φ及びγと以下の関係となる。
【００２１】

【００２２】
周知の三角関数の関係式ｔａｎ（Ａ−Ｂ）＝（ｔａｎＡ−ｔａｎＢ）／（１＋ｔａｎＡｔａｎＢ）及びｔａｎ（Ａ＋Ｂ）＝（ｔａｎＡ＋ｔａｎＢ）／（１−ｔａｎＡｔａｎＢ）を使用すると、（式６）は次式のように書き換えられる。
【００２３】
【数１】

【００２４】
（式７）の各項を整理して方程式を解くと、次の２次方程式が得られる。
【００２５】
Ａ tan²（γ／２）＋Ｂ tan（γ／２）＋Ｃ＝０ （式８）
上式において、Ａ＝tan²（φ）、Ｂ＝２（１＋tan²（φ））×（SID_Z／FOV_l）、またＣ＝−１である。２次方程式（式８）を解くことにより可能性のある２つの解が得られる。
【００２６】
【数２】

【００２７】
イメージング・システム１０により提供されるＸ線ビームの幾何学的状態では、（式９）により提供される解γ₁ のみが有効である。したがって、γ₁ を決定した後、ビーム３０に対してビーム幅角度γ₁ を確立するのに必要な調整をコリメータ２４に対して施す。これにより、長さＦＯＶ_l はそのために事前指定した値に設定される。さらに、ＦＯＶ_l の値、ビーム方向角度φ、ＳＩＤ_Z 及びγ₁ から、オフセットδを直接計算し、投射されたＸ線照射野の中心に整列させるのに必要な検出器の変位を確定することができる。δを計算するためには、投射されたビーム域３４の幾何中心Ｃ_geomが座標Ｘ₁ 及びＸ₂ の平均値Ｘ￣（すなわち、Ｘ￣＝（Ｘ₁＋Ｘ₂）／２）で規定されることに留意されたい。（式４）及び（式５）でγ＝γ₁ とすることにより、Ｘ￣を次式により表すことができる。
【００２８】
【数３】

【００２９】
上述したように、Ｘ_C はＳＩＤ_Z ｔａｎ（φ）に等しい。したがって、オフセットδは次式により得られる。
【００３０】
【数４】

【００３１】
図１に示すと共にコンピュータ制御機構などを備えている電子制御装置２６は、φ、ＳＩＤ_Z 及びＦＯＶ_l に関する指定した値を入力として受け取るように配置されると共に、上記の式に従った計算を実行するように構成されている。したがって、装置２６は、指定した入力を受け取ると、（式７）〜（式９）を計算しその入力に対応したビーム幅角度γ₁ を決定するように動作する。コリメータ２４が信号に応答した自動調節が可能である場合には、制御装置２６はさらに、コリメータ２４を調整するためのγ₁ を表す信号と結合するように構成され、これにより自動コリメーションを提供することができる。
【００３２】
γ₁ を決定した後、制御装置２６を（式１１）及び（式１２）に従って動作させてオフセットδを計算する。図１に示すようにイメージング・システム１０にサーボ機構４０を設けている場合、制御装置２６はオフセットδを表す信号と結合させサーボ機構４０に対して検出器２０の中心を上述のように点Ｃ_geomに整列させるように指示する。図１にはさらに、回転自在なボールねじ／ボールナット装置などの機械的連結機構４２を表しており、これによりサーボ機構４０による検出器２０のＸ軸に沿った選択的な平行移動が可能となる。したがって、検出器の整列とコリメーションの両方を自動的に実施している本発明の実施の一形態を提供することができる。
【００３３】
本発明の別の実施形態では、制御装置２６により検出器及び／またはコリメータを手作業で調整する際に使用する情報がシステムのオペレータに提供される。
【００３４】
電子制御装置２６に関する以上の記述は、ＦＯＶ_l 、φ及びＳＩＤ_Z の指定した値を与えている本発明の一様式向けのものである。したがって、必要となる計算作業としては、与えられたそれぞれの式を使用したビーム幅角度γ₁ の決定、次いでオフセット値δの決定となる。本発明の第２の様式では、γ₁ 、並びにφ及びＳＩＤ_Z の値が初めから与えられている。この様式では、（式１１）及び（式１２）を使用したオフセットδの計算のみが必要である。この状況は、例えば、ＦＯＶ_l が事前に選択されており、かつこれに伴うγ₁ の値が与えられた画像パラメータに対して初めから既知である場合に生じることがある。
【００３５】
上述の教示に照らして、本発明に対するその他の多くの修正及び変形が可能であることは明らかである。したがって、開示した概念の範囲内で、本発明を具体的に記述した以外によって実施することができることを理解されたい。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の一形態に関して使用されるＸ線イメージング・システムの構成要素を表した斜視図である。
【図２】本発明の実施の一形態の原理を図示するために、図１のシステムの構成要素を撮影対象を伴って簡略に表した概要図である。
【図３】Ｘ線ビームの傾斜によるビーム域の歪みを図示するために、図２の線３−３に沿って切った断面図である。
【図４】図３のビーム域と比較するために、別の２つのビーム域を表した略図である。
【符号の説明】
１０ Ｘ線イメージング・システム
１２ Ｘ線管
１４ 支柱
１６ 寝台
１８ 軌道
２０ Ｘ線検出器
２０ａ 検出器表面、画像受信表面
２２ 寝台ベース
２４ コリメータ
２６ 電子制御装置
２８ 患者
３０ Ｘ線ビーム
３２ 検出器面
３４ ビーム域
３６ ビーム域
３８ ビーム域
Ｃ_geom ビーム域の幾何中心
ＦＯＶ_l ビーム域の長さ
Ｍ₁ 線束Ｒ₁ の勾配
Ｍ₂ 線束Ｒ₂ の勾配
Ｍ_C 線束Ｒ_C の勾配
Ｒ₁ 線束
Ｒ₂ 線束
Ｒ_C ビーム軸
ＳＩＤ 線源−イメージ間距離
Ｘ₁ 線束Ｒ₁ と検出器面の交点
Ｘ₂ 線束Ｒ₂ と検出器面の交点
Ｘ_C 線束Ｒ_C と検出器面の交点
γ ビーム幅角度
δ 偏位、オフセット値
φ ビーム方向角度

Claims (10)

1. Ｘ線管（１２）と、指定した面（３２）に位置する表面（２０ａ）を持つ検出器（２０）とを具備し、前記Ｘ線管（１２）は前記検出器表面（２０ａ）から第１の軸に沿って線源−イメージ間距離だけ離間しており、かつ、前記Ｘ線管（１２）はビーム方向角度及びビーム幅角度により特徴付けられるＸ線ビーム（３０）を前記検出器（２０）へ向けて投射するように配置されているようなイメージング・システム（１０）において、前記検出器表面（２０ａ）と前記指定した面に投射された前記ビームの投射域とを選択的に整列させるための方法であって、前記ビーム幅角度の値を提供するステップと、前記距離、前記ビーム方向角度及び前記ビーム幅角度の値から前記ビーム域（３４、３６、３８）の幾何中心を位置特定するステップと、前記第１の軸に対して直角な第２の軸に沿って、前記検出器表面（２０ａ）の中心と前記ビーム域（３４、３６、３８）の前記幾何中心との間に指定された位置関係を確立するステップと、を含む方法。
2. 前記位置特定のステップが、前記投射されたビーム（３０）の中心軸が前記指定した面（３２）と交差する点を決定するステップと、前記幾何中心を、前記ビーム軸の交点から前記第２の軸に沿って、前記距離、前記ビーム方向角度及び前記計算されたビーム幅角度の関数からなるオフセット値だけ離間した点に位置特定するステップと、を含む請求項１に記載の方法。
3. 前記ビーム幅角度の値が、前記第２の軸に沿った前記ビーム域（３４、３６、３８）の寸法を指定し、次いで前記指定したビーム域寸法、前記距離及び前記ビーム方向角度から前記ビーム幅角度の値を計算することにより提供されている、請求項２に記載の方法。
4. 前記位置関係が、前記検出器表面（２０ａ）の中心と前記ビーム域（３４、３６、３８）の前記幾何中心とを共通軸に沿って整列させることにより確立されている、請求項３に記載の方法。
5. Ｘ線管（１２）と、表面（２０ａ）を指定した面（３２）に位置させた検出器（２０）とが設けられていて、前記Ｘ線管（１２）が前記検出器表面（２０ａ）から第１の軸に沿って線源−イメージ間距離（ＳＩＤ）だけ離間しているイメージング・システム（１０）において、請求項１に記載の方法がさらに、前記Ｘ線管（１２）と前記検出器（２０）をこれらの間に支持した患者（２８）に対して位置決めするための方法であって、前記患者（２８）の選択した領域を通過し前記指定した面（３２）に向かってＸ線ビーム（３０）が投射されるように前記Ｘ線管（１２）を方向付けするステップであって、前記投射されたビーム（３０）の中心軸が前記第１の軸に対して角度φをなすように配置されるようにした、方向付けステップと、前記第１の軸と直角な第２の軸に沿って、前記ビーム（３０）と前記指定した面（３２）の交点で規定されるビーム域（３４、３６、３８）の長さを指定するステップと、前記角度φ及び前記ＳＩＤに対して前記指定したビーム域長さを提供するビーム幅角度γ1 を計算するステップと、γ1 、φ及びＳＩＤのそれぞれの値を利用して前記ビーム域の幾何中心の位置を決定するステップと、前記検出器表面（２０ａ）の中心と前記ビーム域（３４、３６、３８）の前記幾何中心との間に指定された位置関係を確立するステップと、を含む方法。
6. 前記幾何中心の位置が、γ1 、φ及びＳＩＤの関数としてオフセット値を計算すること並びに前記中心ビーム軸が前記指定した面（３２）と交差する点を位置特定することによって決定されており、前記幾何中心を前記ビーム軸交点から前記第２の軸に沿って前記オフセット値だけ離間させるようにした、請求項５に記載の方法。
7. 前記位置関係が、前記検出器表面（２０ａ）の中心と前記ビーム域（３６）の前記幾何中心とを共通軸に沿って整列させることにより確立されている、請求項５に記載の方法。
8. 表面（２０ａ）を指定した面（３２）に位置させた検出器（２０）と、前記検出器表面（２０ａ）から第１の軸に沿って線源−イメージ間距離（ＳＩＤ）だけ離間したＸ線管（１２）であって、撮影対象（２８）の選択した領域を通過し前記指定した面（３２）に向けてＸ線ビーム（３０）が投射されるように前記第１の軸に対して角度φまで回転可能としたＸ線管（１２）と、前記投射されたビーム（３０）が横切るコリメータ（２４）であって、前記ビームの幅角度を選択的に調整し、これにより前記ビーム（３０）と前記指定した面（３２）の交点で規定されるビーム域（３４、３６、３８）の前記第１の軸と直角な第２の軸に沿った長さを調節するように配置したコリメータ（２４）と、前記ビーム域長さ、前記ＳＩＤ及び前記角度φに対する指定した値をそれぞれ表している入力信号を受信し、前記ビーム域（３４、３６、３８）の幾何中心の位置を表している出力信号を発生させるように配置した電子制御装置（２６）と、前記出力信号に応答して、前記検出器表面の中心と前記ビーム域の前記幾何中心との間に指定された位置関係を確立するための整列装置（４０）と、を備えるＸ線イメージング・システム（１０）。
9. 前記制御装置（２６）が、前記ＳＩＤ及び前記角度φに対して前記指定したビーム域長さを提供するビーム幅角度γ1 を計算するようになっている、請求項８に記載のシステム。
10. 前記制御装置（２６）が、γ1 、φ及びＳＩＤの関数としてオフセット値を計算すること並びに前記ビーム（３０）の中心軸が前記指定した面（３２）と交差する点を位置特定することによって前記幾何中心の位置を決定するようになっており、前記幾何中心が前記ビーム軸交点から前記第２の軸に沿って前記オフセット値だけ離間されている、請求項９に記載のシステム。

Images