JP4651001B2 - 工作物熱加工機械の加工ヘッドの光学素子を監視する装置 - Google Patents
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Description
対数による散乱光検出によって、5ディケード(100dB)を上回る範囲で散乱光信号を検出して評価することができる。これにより、W〜KW範囲のレーザ出力において、また汚染の程度が大きく相違したり、例えば反射および溶接の炎などの外乱量が「加算」される際に信号を確実に検出することができる。
1. 第1保護ガラス3の保護ガラスエッジ18において(基準);
2. 第2保護ガラス4の保護ガラスエッジ11において(スパッタ監視);
3. 第2保護ガラス4の上の第1保護ガラス3と第2保護ガラス4との間で(煙監視);
4. コリメーションレンズにおいて(加工ヘッドへのファイバー入力結合が、過大な散乱光値になることを監視)
検出するのである。
log(SignalZwischenraum) - log(SignalReferenz)
= log(SignalZwischenraum/SignalReferenz)
であり、ここでZwischenraumおよびReferenzは、中間スペースおよび基準をそれぞれ表す。
log(SignalOptikoberflaeche) - log(SignalReferenz)
= log(SignalOptikoberflaeche/SignalReferenz)
であり、ここでOptikoberflaecheおよびReferenzは、光学系表面および基準の信号をそれぞれ表す。
2 光学系表面
3 第1保護ガラス
4 第2保護ガラス
5〜7 ガラスプラグ
8 レーザビーム
9 スパッタ
10 散乱光
11 保護ガラスエッジ
12 煙
13 散乱光
14 中間スペース
15,16,19 ダイオード
17 散乱光
18 保護ガラスエッジ
20〜22 対数化器
23 コントローラ
Claims (5)
- 工作物を熱加工する機械の加工ヘッドの第2光学素子(4)の汚染を監視する装置であって、
ここで当該の監視は、前記の第2光学素子(4)にて散乱光(10)を検出し、また第1光学素子(3)にて基準としての散乱光(17)を検出することによって行われる形式の、工作物を熱加工する機械の加工ヘッドの第2光学素子(4)の汚染を監視する装置において、
当該の汚染にて散乱しかつ前記の第1光学素子(3)と第2光学素子(4)との間の中間スペース(14)に入射する散乱光(13)を検出する手段(6,15)と、
前記の汚染にて散乱しかつ第2光学素子(4)のエッジにて出射する散乱光を検出する手段とが設けられていることを特徴とする、
工作物の熱加工機械の加工ヘッドの光学素子を監視する装置。 - 検出した信号を対数化して相応する電圧に変換するための手段(20,21,22)が設けられている、
請求項1に記載の装置。 - 前記の対数化された測定信号と、対数化された基準値との差分を評価するマイクロコントローラ(23)が設けられていることを特徴とする、
請求項2に記載の装置。 - 前記の光学素子およびマイクロコントローラを保持するため、前記機械の加工ヘッドに挿入および取り外し可能なカセットが設けられている、
請求項1から3までのいずれか1項に記載の装置。 - 前記カセットには光バーグラフ表示器が設けられており、
該光バーグラフ表示器により、前記第2光学素子(4)の汚染度が表示される、
請求項4に記載の装置。
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