JP4641472B2 - 画像形成システム - Google Patents
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Description
前記光学走査装置は、
当該光学走査装置の個体ごとの特性を含む前記光学走査装置を制御するためのユニットデータを記憶する第1の記憶手段を有し、
前記画像形成装置は、
前記第1の記憶手段から前記ユニットデータを読み出す読出手段と、
前記第1の記憶手段から読み出された前記ユニットデータを記憶する第2の記憶手段と、
前記第1の記憶手段から読みだされたユニットデータと前記第2の記憶手段に記憶されているユニットデータとが整合しているか否かを判定し、前記ユニットデータらが整合している場合、前記第2の記憶手段に記憶されているユニットデータに基づいて前記光学走査装置を制御し、前記ユニットデータらが整合していない場合、前記ユニットデータらが整合していないことを報知する制御手段と、
を有することを特徴とする。
図1は、実施形態に係る光学走査装置1と画像形成装置2とを含む画像形成してムの例示的なブロック図である。光学走査装置1には、レーザ駆動部3、半導体レーザ4a及び4b、並びに記憶素子(以下、EEPROMと略す。)5が含まれている。画像形成装置のレーザ制御部16から出力されるレーザ駆動部3は、レーザ制御信号17により、複数の半導体レーザ4a及び4bを駆動する。
ステップS301において、EEPROM制御部8は、EEPROM5から機種コードを読み出す。ステップS302において、EEPROM制御部8は、搭載する光学走査装置1が画像形成装置2に合致したユニットであるか否かを判定する。例えば、EEPROM制御部8は、読み出した機種コードと、バックアップメモリ9に記憶されている機種コードとを比較する。機種コードが整合すれば、ステップS305に進む。
本実施形態では、画像形成装置2に搭載されている光学走査装置1が交換されたか否かの判定を行う。例えば、工場出荷時の光学走査装置1に不具合が発生すると、新しい光学走査装置1に交換されることがある。光学走査装置1は、個体(シリアル番号)ごとに、特性が異なることがある。そのため、光学走査装置1が交換されると、バックアップメモリ9のユニットデータを更新することが望ましい。そこで、光学走査装置1のシリアル(製造管理)番号の照合を行う。
図4は、実施形態に係るユニットデータの一例を示す図である。この図を用いて、チェックサムの算出方法の一例を示す。まず、EEPROM制御部8は、各アドレスに格納されているデータについて、同一列ごとの加算を実行する。なお、EEPROM制御部8は、加算結果について、データ長以上の繰上げは無視するものとする。次に、EEPROM制御部8は、加算結果をビット反転することで、チェックサムとする。
図5は、実施形態に係る工具(治具)の一例を示すブロック図である。この工具500は、完成した光学走査装置1の各種特性などのデータを測定するための装置である。CPU501は、制御プログラムに応じて、光学走査装置1などを制御したり、各種の演算を実行したりする制御ユニットである。ROM502は、制御プログラムなどを格納する記憶ユニットである。RAM503は、ワークエリアとして機能する記憶ユニットである。インタフェース504は、レーザ駆動部3やEEPROM5などと接続するための通信回路である。センサ530、531aおよび531bは、主に、光ビームを検出するための素子である。
ステップS601において、CPU501は、光学走査装置1を実際に駆動することで、各種データを測定する。すなわち、CPU501は、レーザ制御部16に代わって、各種の制御信号をレーザ駆動部3に出力する。また、CPU501は、取得した各種データのうち、必要な演算を実行することで、ユニットデータの一部を算出する。算出の具体例については、後述する。なお、CPU501は、光学走査装置1の機種コード及びシリアル番号も含むよう、ユニットデータを作成する。このユニットデータは、一旦、RAM503に格納される。
ステップS603において、CPU501は、算出したユニットデータ及びチェックサムを、インタフェース504を介して、EEPROM5に書き込む。
ステップS604において、CPU501は、EEPROM5に格納されたユニットデータを読み出す。ステップS605において、CPU501は、RAM503に格納されているユニットデータと、EEPROM5から読み出されたユニットデータとが全て整合するか否かを照合する。全て整合すれば、ステップS609に進む。
図7は、実施形態に係る光学走査装置のEEPROMに格納されるユニットデータのアドレスマップ表である。ここでは、一例として、EEPROM5の記憶容量が2Kbit(128×16bit)であるものとする。EEPROM5に格納される各データは以下の通りである。なお、デフォルトの設定データの算出方法については、試作段階で測定されたサンプルデータから算出されたバラツキデータを元に算出してもよい。例えば、複数の試作機からユニットデータを算出し、これらのユニットデータから平均値を算出し、この平均値をデフォルトの設定データとしてもよい。
例えば、機種コードについては、ユニットデータおよびデフォルトの設定データとも算出方法は同一とする。例えば、機種コードが「S123」であれば、CPU501は、頭文字の「S」を削除し、残りの番号をHEX変換する:
例:S123→123(DEC)→7B(HEX)。
シリアル番号については、ユニットデータのみに設定され、デフォルトの設定データには設定されないものとする。デフォルトの設定データは、全ての個体に共通となるユニットデータだからである。
図8は、実施形態に係るビーム位相を説明するための図である。半導体レーザ4aの発光点と、半導体レーザ4bの発光点とのビーム間隔Lは、画像の品質を維持する上で重要である。ところで、感光ドラム28上における副走査方向で所定の解像度が得られるように、発光点の間隔を調整すると、各発光点の主走査方向の位置が正しい位置からずれてしまうことが多い。
副走査解像度:600<dpi>
主走査速度:2<μm/ns>
主走査倍率:3
ビーム間隔:100μm。
(デバイス上のピッチ間隔)=(1002−42.42)1/2
=90.6μm
ビーム位相=(デバイス上のピッチ間隔)×(主走査倍率)÷(主走査速度)
=90.6<μm>×3÷2<μm/ns>
=135.8<ns>
よって、135.8<ns>が求めるべきビーム位相となる。
図9は、光量補正を説明するための図である。ここでは、一例として、半導体レーザ4a、4bから出射される光ビームを回転多面鏡24の反射面全体に照射するような光学系を考慮する。この光学系では、回転多面鏡24が回転するため、回転多面鏡24からの出射角が異なる。よって、感光ドラム28上での各像高位置で、光量差が発生する。
図10は、倍率補正を説明するための図である。半導体レーザ4a、4bから出射される各光ビームの発振波長には差がある。この差は、例えば、製造精度が原因で発生する。そして、この波長差により、fθレンズ26の屈折率が変わってしまう。すなわち、fθレンズ26の屈折率は、波長依存性を有している。この光ビームごとの屈折率の違いによって、感光ドラム28上の照射位置の精度が劣化してしまう。さらに、図10に示すようにfθレンズ26の主走査倍率は、像高位置で均一ではない。
上述の実施形態では、光学走査装置1から正しいユニットデータを得られなくなると、複数の光学走査装置について共通に使用されるデフォルトの設定データを使用していた(S390など)。そこで、本実施形態では、デフォルトの設定データを用いる代わりに、画像形成装置2の動作を停止させる例について説明する。
Claims (10)
- 光学走査装置と画像形成装置とを含む画像形成システムであって、
前記光学走査装置は、
当該光学走査装置の個体ごとの特性を含む前記光学走査装置を制御するためのユニットデータを記憶する第1の記憶手段を有し、
前記画像形成装置は、
前記第1の記憶手段から前記ユニットデータを読み出す読出手段と、
前記第1の記憶手段から読み出された前記ユニットデータを記憶する第2の記憶手段と、
前記第1の記憶手段から読みだされたユニットデータと前記第2の記憶手段に記憶されているユニットデータとが整合しているか否かを判定し、前記ユニットデータらが整合している場合、前記第2の記憶手段に記憶されているユニットデータに基づいて前記光学走査装置を制御し、前記ユニットデータらが整合していない場合、前記ユニットデータらが整合していないことを報知する制御手段と、
を有することを特徴とする画像形成システム。 - 前記制御手段は、前記ユニットデータらが整合していない場合、再度、前記読出手段に前記第1の記憶手段から前記ユニットデータを読み出させ、前記第1の記憶手段から再度読みだされたユニットデータと前記第2の記憶手段に記憶されているユニットデータとが整合しているか否かを判定し、前記ユニットデータらが整合している場合、前記第2の記憶手段に記憶されているユニットデータに基づいて前記光学走査装置を制御し、再度の読出しを実行しても前記ユニットデータらが整合していない場合、前記ユニットデータらが整合していないことを報知することを特徴とする請求項1に記載の画像形成システム。
- 前記画像形成装置は光学走査装置の個体ごとの特性に拘わらず使用可能な前記光学走査装置を制御するための設定データを記憶する第3の記憶手段を有し、
前記制御手段は、再度の読出しを実行しても前記ユニットデータらが整合していない場合、前記設定データに基づいて前記光学走査装置を制御することを特徴とする請求項1または2に記載の画像形成システム。 - 前記制御手段は、
前記第1の記憶手段に記憶されているユニットデータについて所定の演算により予め算出されて記憶されている、該ユニットデータよりもデータサイズの小さい照合データを前記第1の記憶手段から読み出す手段と、
前記第2の記憶手段に記憶されているユニットデータに前記所定の演算を施すことで参照データを算出する手段と、
前記照合データと前記参照データとを比較する手段と
を有し、
前記制御手段は、前記照合データと前記参照データとの比較結果に基づいて、前記第1の記憶手段から読みだされたユニットデータと前記第2の記憶手段に記憶されているユニットデータとが整合しているか否かを判定することを特徴とする請求項1ないし3のいずれか1項に記載の画像形成システム。 - 前記参照データと前記照合データはチェックサムであることを特徴とする請求項4に記載の画像形成システム。
- 前記ユニットデータには、前記光学走査装置の認識データ、製造番号、前記光学走査装置に含まれる光源の光量補正値、主走査書き出し位置および印字倍率のうち少なくとも一つが含まれていることを特徴とする請求項1ないし5のいずれか1項に記載の画像形成システム。
- 前記制御手段は、前記ユニットデータらが整合していない場合、前記画像形成装置の動作を停止することを特徴とする請求項1ないし6のいずれか1項に記載の画像形成システム。
- 前記第1の記憶手段に記憶されているユニットデータは、前記画像形成システムの電源投入時またはリセット時に読み出されて、前記第2の記憶手段に書き込まれることを特徴とする請求項1ないし7のいずれか1項に記載の画像形成システム。
- 前記制御手段は、
前記画像形成システムの電源投入時またはリセット時に、前記第1の記憶手段から機種コードを読み出して、前記第2の記憶手段に記憶されている機種コードと比較し、両者が一致すると、前記ユニットデータの読出し処理に移行し、前記両者が一致しなければ、再度、前記第1の記憶手段から機種コードを読み出して、前記第2の記憶手段に記憶されている機種コードと比較し、両者が一致すると、前記ユニットデータの読出し処理に移行し、両者が一致しなければ、前記ユニットデータの読出し処理を実行せずに前記ユニットデータらが整合していないことを報知するアラームを出力することを特徴とする請求項8に記載の画像形成システム。 - 前記光学走査装置は、
画像データに基づいて変調された光ビームを射出する半導体レーザと、
前記光ビームをコリメート光とするコリメートレンズ、該光ビームを偏向する回転多面鏡、該回転多面鏡によって偏向された光ビームを等角および等速で走査するよう変換するfθレンズ、像担持体の所定の位置に照射するよう調整するための反射ミラーを含む光学ユニットと
を含み、
前記ユニットデータは、前記半導体レーザや前記光学ユニットを構成する部品の偏差及び前記光学走査装置の組立公差から得られたデータであることを特徴とする請求項1ないし9のいずれか1項に記載の画像形成システム。
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