JP4582074B2

JP4582074B2 - 光ディスク装置

Info

Publication number: JP4582074B2
Application number: JP2006239848A
Authority: JP
Inventors: 清幸末永
Original assignee: Panasonic Corp; Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Current assignee: Panasonic Corp; Panasonic Holdings Corp
Priority date: 2006-09-05
Filing date: 2006-09-05
Publication date: 2010-11-17
Anticipated expiration: 2026-09-05
Also published as: JP2008065869A

Description

本発明は、光ディスクに少なくとも情報の記録を行う光ディスク装置及びその記録学習方法に関するものである。

従来の光ディスク装置における記録学習方法について、図を用いて説明する。

図９は、従来の光ディスク装置における記録学習方法を示す模式図である。

図９において、１は情報が記録される光ディスク、１ｅは光ディスク１への情報の記録に先立って記録学習が行われる記録学習領域である。従来の記録学習方法において光ディスク装置は、光ディスク１が装着されると、通常光ディスク１の内周に設けられている記録学習領域１ｅ内に、複数種類のレーザパワー、例えばＰ１〜Ｐ５というレーザパワーを用いて試し書きを行い、また、記録学習領域１ｅ内に複数種類のレーザパターン、例えばＳ１〜Ｓ５というレーザパターンを用いて試し書きを行い、次にその試し書きを再生し、その中で最も記録品質の良かった例えばレーザパワーＰ１とレーザパターンＳ４とを選択して、情報の記録に用いるレーザパワーとレーザパターンとを決定するという記録学習を行っていた。

また、従来の光ディスク装置では、起動時には、光ディスク領域のうち内周側の領域でのみチルト学習を行い、他の領域におけるチルト学習は、シークが発生するごとに所定の判定のもとに行うものがあった（例えば、特許文献１参照。）。
特開２００６−０４８８２４号公報

しかしながら、上記従来の光ディスク装置では、以下のような問題が生じていた。

即ち、従来の光ディスク装置による記録学習方法では、記録学習領域１ｅの一回転の中の任意の位置における最良のレーザパワーＰ１と、任意の位置における最良のレーザパターンＳ４と、が採用されているため、仮に光ディスク装置に装着された光ディスクが、大きなチルトや偏心や面ぶれを有する場合、光ディスクが回転すると、光ディスクと対物レンズとの関係が大きく変化するため、学習によって選択したレーザパワーＰ１とレーザパターンＳ４とでは、光ディスクの一回転にわたっては適切な記録を行うことができない可能性があった。

そこで、本発明は上記課題に鑑みてなされたものであって、一回転の間に適正なレーザパワーとレーザパターンとが大きく変化するような、チルトや偏心や面ぶれが大きい光ディスクに記録を行う場合でも、光ディスクの一回転にわたって良好な記録品質を確保することができる光ディスク装置及びその記録学習方法を提供することを目的とする。

本発明は上記課題を解決するためになされたものであって、光ディスク一回転分の対物レンズの駆動量を測定して対物レンズの駆動量の最大値と駆動量が最大となる光ディスク上の位置を検出した後に、駆動量の最大値と所定値とを比較し、駆動量の最大値が所定値よりも大きい場合には、対物レンズの駆動量を測定した領域を４つの領域に分割した後、駆動量が最大となる光ディスク上の位置を含む領域のみで記録学習を行って修正値を得て、その修正値に基づいてレーザ駆動部を制御するものである。

本発明は上記構成により、光ディスクを周方向に複数領域に分割して厳密に学習し最悪の場合の修正値に基づいてレーザ制御を行うので、一回転の間に適正なレーザパワーとレーザパターンとが大きく変化するような、チルトや偏心や面ぶれが大きい光ディスクに記録を行う場合でも、光ディスクの一回転にわたって良好な記録品質を確保することができる。

上記課題を解決するため、請求項１記載の光ディスク装置は、本光ディスクに情報を書込む際に適正とされる基準レーザパワー及び基準レーザパターンを記憶した光ディスクと、光ディスクにレーザ光を出射する光源と、レーザ光を光ディスクに集光し光ディスクに追従して駆動される対物レンズと、レーザ光のレーザパワーまたはレーザパターンを制御するレーザ駆動部と、光ディスクを回転させるスピンドルモータと、光ディスクに記録された基準レーザパワー及び基準レーザパターンに基づいてレーザ光を出射して光ディスクに試し書きを行い、その読取り結果に基づいて基準レーザパワーまたは基準レーザパターンを修正する記録学習を行う制御部と、を具備し、制御部は、光ディスク一回転分の対物レンズの駆動量を測定して対物レンズの駆動量の最大値と駆動量が最大となる光ディスク上の位置を検出した後に、駆動量の最大値と所定値とを比較し、駆動量の最大値が所定値よりも大きい場合には、対物レンズの駆動量を測定した領域を４つの領域に分割した後、駆動量が最大となる光ディスク上の位置を含む領域のみで記録学習を行って修正値を得て、その修正値に基づいてレーザ駆動部を制御するものである。

本発明によれば、一回転の間に適正なレーザパワーとレーザパターンとが大きく変化するような、チルトや偏心や面ぶれが大きいディスクに記録を行う場合でも、光ディスクの一回転にわたって良好な記録品質を確保することができる。

また、請求項２記載の光ディスク装置は、光ディスクにレーザ光を出射する光源と、光源から出射されたレーザ光の基準レーザパワー及び基準レーザパターンを記憶した記録部と、レーザ光を光ディスクに集光し光ディスクに追従して駆動される対物レンズと、レーザ光のレーザパワーまたはレーザパターンを制御するレーザ駆動部と、記録部に記録された基準レーザパワー及び基準レーザパターンに基づいてレーザ光を出射して光ディスクに試し書きを行い、その読取り結果に基づいて基準レーザパワーまたは基準レーザパターンを修正する記録学習を行う制御部と、を具備し、制御部は、光ディスク一回転分の対物レンズの駆動量を測定して対物レンズの駆動量の最大値と駆動量が最大となる光ディスク上の位置を検出した後に、駆動量の最大値と所定値とを比較し、駆動量の最大値が所定値よりも大きい場合には、対物レンズの駆動量を測定した領域を４つの領域に分割した後、駆動量が最大となる光ディスク上の位置を含む領域のみで記録学習を行って修正値を得て、その修正値に基づいてレーザ駆動部を制御するものである。

本発明によれば、一回転の間に適正なレーザパワーとレーザパターンとが大きく変化するような、チルトや偏心や面ぶれが大きい光ディスクに記録を行う場合でも、光ディスクの一回転にわたって良好な記録品質を確保することができる。

また、請求項３記載の光ディスク装置は、請求項１乃至２のいずれかに記載の光ディスク装置において、駆動量は、チルト方向の駆動量であるものである。

本発明によれば、反りを有する光ディスクに情報を記録する場合、対物レンズは、その光軸が光ディスクの面に対して略垂直となるように機械的中立状態から斜めに傾けられる。つまり、チルト方向に駆動される。チルト方向に駆動された対物レンズによって結ばれる焦点には収差が発生するため、この場合、一般に、光ディスクに情報を記録するために求められる適正なレーザパワーとレーザパターンは、反りのない光ディスクに機械的中立状態における対物レンズによって情報を記録する場合のレーザパワーとレーザパターンとは異なる。このため、さらに、反りの状態が変化するような光ディスクに記録を行う場合、光ディスクの一回転の間にレーザパワーとレーザパターンとを変化させることが求められるが、駆動量は、チルト方向の駆動量であることにより、光ディスクの一回転の間でより厳密な記録条件が求められる、チルト方向の駆動量が大きい領域への記録を学習結果に基づいて行うことができるので、光ディスクの一回転にわたって良好な記録品質を確保することができる。

また、請求項４記載の光ディスク装置は、請求項１乃至２のいずれかに記載の光ディスク装置において、駆動量は、トラッキング方向の駆動量であるものである。

本発明によれば、偏心を有する光ディスクに情報を記録する場合、対物レンズは、その出射光が光ディスクの情報トラックに追従するようにトラッキング方向に駆動される。対物レンズがトラッキング方向に駆動されると、光軸も移動し光ピックアップの光学系との位置関係が変わるため、この場合、一般に、光ディスクに情報を記録するために求められる適正なレーザパワーとレーザパターンは、機械的中立状態において情報を記録する場合のレーザパワーとレーザパターンとは異なる。このため、偏心を有する光ディスクに記録を行う場合、光ディスクの一回転の間にレーザパワーとレーザパターンとを変化させることが求められるが、駆動量は、トラッキング方向の駆動量であることにより、光ディスクの一回転の間でより厳密な記録条件が求められる、トラッキング方向の駆動量が大きい領域への記録を学習結果に基づいて行うことができるので、光ディスクの一回転にわたって良好な記録品質を確保することができる。

また、請求項５記載の光ディスク装置は、請求項１乃至２のいずれかに記載の光ディスク装置において、駆動量は、フォーカス方向の駆動量であるものである。

本発明によれば、面ぶれを有する光ディスクに情報を記録する場合、対物レンズは、その出射光が光ディスクの記録面に焦点を結ぶようにフォーカス方向に駆動される。対物レンズがフォーカス方向に駆動されると、光ピックアップの光学系との距離が変わるため、この場合、一般に、光ディスクに情報を記録するために求められる適正なレーザパワーとレーザパターンは、機械的中立状態において情報を記録する場合のレーザパワーとレーザパターンとは異なる。このため、面ぶれを有する光ディスクに記録を行う場合、光ディスクの一回転の間にレーザパワーとレーザパターンとを変化させることが求められるが、駆動量は、フォーカス方向の駆動量であることにより、光ディスクの一回転の間でより厳密な記録条件が求められる、フォーカス方向の駆動量が大きい領域への記録を学習結果に基づいて行うことができるので、光ディスクの一回転にわたって良好な記録品質を確保することができる。

（実施の形態１）
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。

図１は本発明の実施の形態における光ディスク装置のブロック図である。図１において、１は光ディスク、２はピックアップモジュール、３はスピンドルモータ、４はレンズホルダ、５は対物レンズ、６はアクチュエータ、７はキャリッジ、８は光ピックアップ、９はフィード部、１０はフィードモータ、１１はアナログ信号処理部、１２はサーボ処理部、１３はモータ駆動部、１４はコントローラ、１５はＲＯＭ、１６はＲＡＭ、１７はレーザ駆動部、１８はレーザ光源である。また、図１において、１０１は光ピックアップ８からアナログ信号処理部１１に出力されるピックアップ出力信号、１０２はアナログ信号処理部１１からサーボ処理部１２に出力されるサーボエラー信号、１０３はピックアップモジュール２からコントローラ１４に出力されるスピンドルＦＧ信号、１０４は光ピックアップ８からコントローラ１４に出力されるチルト信号、１０５はコントローラ１４からサーボ制御部１２に出力される制御信号、１０６はサーボ処理部１２からモータ駆動部１３とコントローラ１４とに出力されるピックアップモジュール制御信号、１０７はモータ駆動部１３からピックアップモジュール２に出力されるピックアップモジュール駆動信号、１０８はコントローラ１４からレーザ駆動部１７に出力されるレーザ制御信号、１０９はレーザ駆動部１７から光ピックアップ８に出力されるレーザ駆動信号である。

光ディスク１にレーザの発光パターンを利用して情報の記録または再生の少なくとも一方を行うピックアップモジュール２は、光ディスク１を保持し回転させるスピンドルモータ３と、光ディスク１の情報記録面にレーザを集光する対物レンズ５と、キャリッジ７に対して移動可能に設けられ、対物レンズ５を保持するレンズホルダ４と、レンズホルダ４が搭載されたキャリッジ７を光ディスク１の半径方向に移動させるフィードモータ１０を備えたフィード部９とによって構成されたものである。レンズホルダ４やキャリッジ７には、図示しないコイルやマグネット等が設けられており、コイルに電流を流すことによりレンズホルダ４をフォーカス方向やトラッキング方向に駆動するアクチュエータ６を構成している。対物レンズ５は、レンズホルダ４を介して駆動される。アナログ信号処理部１１は光ピックアップ８内部の図示しない分割光センサからの出力信号であるピックアップ出力信号１０１に基づいて、対物レンズ５のフォーカス制御やトラッキング制御に用いるフォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号等のサーボエラー信号１０２を生成しサーボ処理部１２に出力する。ここで、サーボエラー信号１０２のうちフォーカスエラー信号は、光スポットと光ディスク１の情報トラックのある記録面との光ディスク１厚さ方向のずれを示し、サーボエラー信号１０２のうちトラッキングエラー信号は、光スポットと光ディスク１の情報トラックとの光ディスク１半径方向のずれを示す。

サーボ処理部１２は、アナログ信号処理部１１からのサーボエラー信号１０２に基づいて、対物レンズ５のフォーカス動作の制御を行うフォーカス駆動電圧信号やトラッキング動作の制御を行うトラッキング駆動電圧信号を含むピックアップモジュール制御信号１０６を生成し、モータ駆動部１３に出力する。なお、サーボ処理部１２はデジタル信号処理を行うデジタル信号処理部である。

モータ駆動部１３は、サーボ処理部１２から送られてきたピックアップモジュール制御信号１０６に基づいて、対物レンズ５を光ディスク１の情報トラックに追従させるフォーカス動作やトラッキング動作等のサーボ動作を行うための駆動電流信号であるピックアップモジュール駆動信号１０７を生成し、その信号を出力することにより、対物レンズ５のサーボ動作を行う。言い換えると、ドライバＩＣであるモータ駆動部１３は、サーボ処理部１２からのピックアップモジュール制御信号１０６に基づいて、スピンドルモータ３とアクチュエータ６とフィードモータ１０とに電流を流して駆動する。また、サーボエラー信号１０２のうちトラッキングエラー信号の低域成分を用いて対物レンズ５が概略中立位置を保持するようにフィード制御を行う。フィード部９は、フィードモータ１０と図示しないギヤやスクリューシャフト等から構成され、フィードモータ１０を回転させることによってキャリッジ７が移動し、その際フィードモータ１０よりフィードモータパルスが周期的に出力されるようになっている。

制御手段であるコントローラ１４には、ピックアップモジュール２やアナログ信号処理部１１等の各部から信号が入力され、これらの信号の演算処理等を行い、この演算処理の結果（信号）を各部に送出し、各部にて駆動、処理を実行させ、各部の制御を行うものである。なお、コントローラ１４は、少なくとも、演算機能を備えたＣＰＵ、ＭＰＵ等の演算処理装置や、ＲＯＭ１５、ＲＡＭ１６等の記憶部を備える。ここで、ＲＯＭ１５は、光ディスク１に情報を記録する際のレーザの基準レーザパワー及び基準レーザパターンを各種光ディスク１毎に記憶したテーブルを有している。基準レーザパワー及び基準レーザパターンは、光ディスク１自体にも記憶されており、コントローラ１４は、そのいずれかを用いて、光ディスク１への情報の記録に用いる最適なレーザパワー及びレーザパターンを決定する記録学習を行う。なお、コントローラ１４はデジタル信号処理を行うデジタル信号処理部である。

レーザ駆動部１７は、コントローラ１４から送られてきたレーザ制御信号１０８に基づいて、光ピックアップ８のレーザ光源１８を所定のレーザパワー及びレーザパターンで駆動するレーザ駆動信号１０９を生成し、その信号を出力することにより、レーザ光源１８を発光させる。言い換えると、ドライバＩＣであるレーザ駆動部１３は、コントローラ１４からのレーザ制御信号１０８に基づいて、光ピックアップ８のレーザ光源１８に電流を流して駆動する。

以上のような構成の光ディスク装置における記録学習の原理について、図２と図３とを用いて説明する。

図２は図１の光ディスク装置に面ぶれ光ディスクが装着された状態を示す模式図である。図２に示す光ディスク１は、スピンドルモータ３の回転軸３ａに対して傾いて装着されているような光ディスク１である。つまり、スピンドルモータ３に装着された状態において、その記録面が回転軸３ａに対して非垂直になっているような光ディスク１である。この光ディスク１は、反りと面ぶれの両方を有していると考えることができる。なお、光ディスク１の回転中心Ｑ（図３参照）は、光ディスク１がスピンドルモータ３に装着された際に、スピンドルモータ３の回転軸３ａに一致し、図２において光ディスク１は、その回転中心Ｑを含む断面が示されている。

図２に示すような光ディスク１に対して情報の記録を行う場合、対物レンズ５は、その光軸が光ディスク１の面に対して略垂直となるように機械的中立状態から斜めに傾けられる。つまり、チルト方向に駆動される。チルト方向に駆動された対物レンズ５によって結ばれる焦点には収差が発生するため、この状態で光ディスク１に記録された情報は、一般に、記録品質が悪くなる。なお、以下の説明において、対物レンズ５のチルトとは、対物レンズ５の傾きを示し、チルト方向の駆動量Ｔ（φ）が大きいほど、対物レンズ５が大きく傾いていることを表す。

本実施の形態においては、光ディスク１を周方向に複数領域に分割し、その中で対物レンズ５のチルト方向の駆動量Ｔ（φ）が最大となる記録学習領域１ａにおいて記録学習を行う。

例えば図２に示すように、光ディスク１の内周に設けられている記録学習領域を４つに分割し、その中で対物レンズ５のチルト方向の駆動量Ｔ（φ）が最大となる記録学習領域１ａ内に、複数種類の例えばＰ１〜Ｐ５というレーザパワーと、複数種類の例えばＳ１〜Ｓ５というレーザパターンとで試し書きを行い、次にその試し書きを再生し、その中で最も記録品質の良かった例えばレーザパワーＰ３とレーザパターンＳ４とを選択して、情報の記録に用いるレーザパワーとレーザパターンとしてＲＡＭ１６に記憶する。

これにより、一回転のうちで特に記録品質が悪くなりがちな領域に良好に記録を行うことができるレーザパワーとレーザパターンとが得られるので、光ディスクの一回転にわたって良好な記録品質を確保することができる。

なお、図２に示すような光ディスク１に対して情報を記録する場合、対物レンズ５は、チルト方向に駆動されるとともに、その出射光が光ディスク１の記録面に焦点を結ぶようにフォーカス方向にも駆動される。対物レンズ５がフォーカス方向に駆動されると、光ピックアップ８の光学系との距離が変わるため、この状態で光ディスク１に記録された情報は、一般に、記録品質が悪くなる。

本実施の形態においては、図２に示すように、光ディスク１の一回転のうち、対物レンズ５のフォーカス方向の駆動量Ｈ（φ）が最大となる記録学習領域１ａにおいて記録学習を行う。

図３は図１の光ディスク装置に偏心光ディスクが装着された状態を示す模式図である。図３は、図１に示すスピンドルモータ３に装着された光ディスク１を、紙面上方向から見た図であるが、説明のために、本来は光ディスク１に覆われて見えない対物レンズ５とキャリッジ７も示している。図３に示す光ディスク１は、記憶学習領域を含む情報トラックの中心Ｐが、光ディスク１の回転中心Ｑからずれているような偏心を有する光ディスク１である。なお、光ディスク１の回転中心Ｑは、光ディスク１がスピンドルモータ３に装着された際に、スピンドルモータ３の回転軸３ａに一致する。

図３に示すような偏心を有する光ディスク１に対して情報を記録する場合、対物レンズ５は、その出射光が光ディスク１の情報トラックに追従するようにトラッキング方向に駆動される。対物レンズ５が機械的中立位置からトラッキング方向に駆動されると、対物レンズ５の光軸も移動し光ピックアップ８の光学系との位置関係変わり、得られるサーボエラー信号１０２の振幅量が少なくなる。この状態で光ディスク１に記録された情報は、一般に、記録品質が悪くなる。

本実施の形態においては、光ディスク１を周方向に複数領域に分割し、その中で対物レンズ５のトラッキング方向の駆動量Ｒ（φ）が最大となる記録学習領域１ａにおいて記録学習を行う。

例えば図３に示すように、光ディスク１の内周に設けられている記録学習領域を４つに分割し、その中で対物レンズ５のトラッキング方向の駆動量Ｒ（φ）が最大となる記録学習領域１ａ内に、複数種類の例えばＰ１〜Ｐ５というレーザパワーと、複数種類の例えばＳ１〜Ｓ５というレーザパターンとで試し書きを行い、次にその試し書きを再生し、その中で最も記録品質の良かった例えばレーザパワーＰ４とレーザパターンＳ５とを選択して、情報の記録に用いるレーザパワーとレーザパターンとしてＲＡＭ１６に記憶する。

次に、図１の光ディスク装置における光ディスク１の回転と対物レンズ５の駆動量の関係について、図４を用いて説明する。

図４は図１の光ディスク装置におけるスピンドルＦＧ信号と対物レンズの駆動量の関係を示す図である。図４において、（ａ）はピックアップモジュール２からコントローラ１４に出力されるスピンドルＦＧ信号１０３を示し、（ｂ）は対物レンズ５のチルト方向の駆動量Ｔ（φ）を示し、（ｃ）はフォーカス方向の駆動量Ｈ（φ）を示し、（ｄ）はトラッキング方向の駆動量Ｒ（φ）を示す。

なお、図４（ａ）は、一回転のうちに８個のパルスを出力するようなスピンドルＦＧ信号１０３であり、コントローラ１４は、スピンドルモータ３に装着された光ディスク１の一回転をそれぞれのパルスの立上りと立下りとで１６分割して把握している。ここでは、１６分割された光ディスク１の回転位相角をφ０〜φ１５とし、対物レンズ５に対向する位置における光ディスク１の回転位相角をφ（ｋ）で表す。

また、図４（ｂ）は、ここでは対物レンズ５のチルト方向の駆動量Ｔ（φ）として説明するが、実際には光ディスク１のチルト量の測定値である。チルト量の測定値は、ピックアップモジュール制御信号１０６のうち、対物レンズ５のフォーカス動作の制御を行うフォーカス駆動電圧信号を用いて測定することができる。コントローラ１４は、アナログ信号処理部１１の出力から得られるフォーカス駆動電圧信号を、光ディスク１の異なる２つの半径位置で測定し、その２つの測定値と、測定を行った２点間の距離との関係から光ディスク１の傾きであるチルト量を測定する。なお、光ディスク１のチルト量は、光ピックアップ８にチルトセンサを備えて測定することも同様に実施可能である。この場合、チルト量の測定値は、チルト信号１０４としてピックアップモジュール２から出力されコントローラ４に入力する。

また図４（ｃ）は、ここでは対物レンズ５のトラッキング方向の駆動量Ｒ（φ）として説明するが、実際には光ディスク１の偏心量の測定値である。偏心量の測定値は、ピックアップモジュール制御信号１０６のうち、対物レンズ５のトラッキング動作の制御を行うトラッキング駆動電圧信号に相当し、コントローラ１４はアナログ信号処理部１１の出力からこのトラッキング駆動電圧信号を得る。

また図４（ｄ）は、対物レンズ５のフォーカス方向の駆動量Ｈ（φ）として説明するが、実際には対物レンズ５のレンズ高さの測定値である。レンズ高さの測定値は、ピックアップモジュール制御信号１０６のうち、対物レンズ５のフォーカス動作の制御を行うフォーカス駆動電圧信号に相当し、コントローラ１４はアナログ信号処理部１１の出力からこのフォーカス駆動電圧信号を得る。

図４を用いて、図２において説明したような面ぶれを有する光ディスク１が、図１の光ディスク装置に装着された場合の記録学習について説明する。

図４（ｂ）に示される対物レンズ５のチルト方向の駆動量Ｔ（φ）は、図４（ａ）に示されるようにスピンドルモータ３の回転位相角が、φ（ｋ）＝φ２の時に最大値Ｔ（φ）ｍａｘ（＝Ｔ（φ２））をとる。このＴ（φ）ｍａｘは、負の極性での所定の閾値である−Ｔｔｈよりも負に大きな値をとっている。

このようにコントローラ１４は、対物レンズ５の駆動量が閾値よりも大きい場合、光ディスク１を回転位相角φ０〜φ４の領域、回転位相角φ４〜φ８の領域、回転位相角φ８〜φ１２の領域、及び回転位相角φ１２〜φ０の領域に分割し、チルト方向の駆動量が最大となるφ（ｋ）＝φ２を含む回転位相角φ０〜φ４の領域における記録学習領域１ａにおいて、記録学習を行って修正値を得て、その修正値に基づいてレーザ駆動部１７を制御する。

一方、コントローラ１４は対物レンズ５のチルト方向の駆動量Ｔ（φ）の最大値Ｔ（φ）ｍａｘが閾値であるＴｔｈもしくは−Ｔｔｈを超えない場合、つまり、対物レンズ５の駆動量が閾値以下の場合、光ディスク１の一回転の中の任意の領域において、記録学習を行って修正値を得て、その修正値に基づいてレーザ駆動部１７を制御する。

因みに、図４（ｂ）に示される１ａ、１ｂ、１ｃ、及び１ｄは、それぞれ図２に示す光ディスク１の回転位相角φ０〜φ４の領域における記録学習領域１ａ、回転位相角φ４〜φ８の領域における記録学習領域１ｂ、回転位相角φ８〜φ１２の領域における記録学習領域１ｃ、及び回転位相角φ１２〜φ０の領域における記録学習領域１ｄを示している。なお、図２に示す光ディスク１は断面図であるため、記録学習領域１ｂと記録学習領域１ｄは図示されていない。

なお、ここではチルト方向の駆動量Ｔ（φ）に基づいて光ディスク１を複数領域に分割し、記録学習を行ったが、トラッキング方向の駆動量Ｒ（φ）に基づいて光ディスク１を複数領域に分割して記録学習を行うことも、フォーカス方向の駆動量Ｈ（φ）に基づいて光ディスク１を複数領域に分割して記録学習を行うことも同様に実施可能である。図２において説明したような面ぶれを有する光ディスク１が、図１の光ディスク装置に装着された場合、フォーカス方向の駆動量Ｈ（φ）は、スピンドルモータ３の回転位相角が、φ（ｋ）＝φ２の時に最大値Ｈ（φ）ｍａｘ（＝Ｈ（φ２））をとり、光ディスク１の領域の分割等は、前述のチルト方向の駆動量Ｔ（φ）に基づく記録学習と同様に行われるので説明を省略する。

図４を用いて、図３において説明したような偏心を有する光ディスク１が、図１の光ディスク装置に装着された場合の記録学習について説明する。

図４（ｃ）に示される対物レンズ５のトラッキング方向の駆動量Ｒ（φ）は、図４（ａ）に示されるようにスピンドルモータ３の回転位相角が、φ（ｋ）＝φ１３の時に最大値Ｒ（φ）ｍａｘ（＝Ｒ（φ１３））をとる。このＲ（φ）ｍａｘは、正の極性での所定の閾値であるＲｔｈよりも正に大きな値をとっている。

このようにコントローラ１４は、対物レンズ５の駆動量が閾値よりも大きい場合、光ディスク１を回転位相角φ１１〜φ１５の領域、回転位相角φ１５〜φ３の領域、回転位相角φ３〜φ７の領域、及び回転位相角φ７〜φ１１の領域に分割し、トラッキング方向の駆動量が最大となるφ（ｋ）＝φ１３を含む回転位相角φ１１〜φ１５の領域における記録学習領域１ａにおいて、記録学習を行って修正値を得て、その修正値に基づいてレーザ駆動部１７を制御する。

一方、コントローラ１４は対物レンズ５のトラッキング方向の駆動量Ｒ（φ）の最大値Ｒ（φ）ｍａｘが閾値であるＲｔｈもしくは−Ｒｔｈを超えない場合、つまり、対物レンズ５の駆動量が閾値以下の場合、光ディスク１の一回転の中の任意の領域において、記録学習を行って修正値を得て、その修正値に基づいてレーザ駆動部１７を制御する。

因みに、図４（ｃ）に示される１ａ、１ｂ、１ｃ、及び１ｄは、それぞれ図３に示す光ディスク１の回転位相角φ１１〜φ１５の領域における記録学習領域１ａ、回転位相角φ１５〜φ３の領域における記録学習領域１ｂ、回転位相角φ３〜φ７の領域における記録学習領域１ｃ、及び回転位相角φ７〜φ１１ｄの領域における記録学習領域１ｄを示している。

なお、以上の説明では、チルト方向の駆動量Ｔ（φ）、トラッキング方向の駆動量Ｒ（φ）、及びフォーカス方向の駆動量Ｈ（φ）に基づいて光ディスク１を複数の領域に分割して記録学習を行うことについて説明したが、これらを組合わせて記録学習を行うことも同様に実施可能である。例えば、α、β、及びγをα≫β≒γという関係の重み付け計数として、ｆ（φ）＝αＴ（φ）＋βＲ（φ）＋γＨ（φ）という駆動量の関数を定義し、ｆ（φ）が最大となるｆ（φ）ｍａｘの時のφ（ｋ）＝φ（ｉ）を検出し、光ディスク１を回転位相角φ（ｉ−２）〜φ（ｉ＋２）の領域、回転位相角φ（ｉ＋２）〜φ（ｉ＋６）の領域、回転位相角φ（ｉ＋６）〜φ（ｉ＋１０）の領域、及び回転位相角φ（ｉ＋１０）〜φ（ｉ＋１４）の領域に分割し、チルト方向の駆動量が最大となるφ（ｋ）＝φ（ｉ）を含む回転位相角φ（ｉ−２）〜φ（ｉ＋２）の領域における記録学習領域において、記録学習を行って修正値を得て、その修正値に基づいてレーザ駆動部１７の制御を行う。

この方法は、図２を用いて説明したような反りと面ぶれ、図３を用いて説明したような情報トラックの偏心とを共に有するような光ディスク１を、図１の光ディスク装置に装着して回転させた場合にも有効になると考えられる。なお、ここでは重み付け計数をα≫β≒γとしたが、これらの計数の関係は、光ピックアップ８の特性に応じて適宜変更して用いてもよい。

このように、対物レンズの駆動量を把握し、記録媒体を周方向に複数領域に分割し、駆動量が最も大きくなる領域において、記録学習を行って修正値を得て、その修正値に基づいてレーザ駆動部を制御することにより、光ディスクを周方向に複数領域に分割して厳密に学習し最悪の場合の修正値に基づいてレーザ制御を行うので、一回転の間に適正なレーザパワーとレーザパターンとが大きく変化するような、チルトや偏心や面ぶれが大きいディスクに記録を行う場合でも、光ディスクの一回転にわたって良好な記録品質を確保することができる。

以下、上述のように動作する光ディスク装置の制御について、図５を用いて説明する。ここでは、光ディスク装置に偏心光ディスクが装着された場合について説明する。

図５は図１の光ディスク装置における記録学習方法を示すフローチャートである。

Ｓ１０１においてコントローラ１４が、記録学習と光ディスク１に対する情報の記録とを行う記録モードを開始する。Ｓ１０２から記録学習の処理が開始する。

Ｓ１０２ではコントローラ１４が、光ディスク１の偏心量を測定することにより、対物レンズ５のトラッキング方向の駆動量Ｒ（φ）を把握する。コントローラ１４は、スピンドルＦＧ信号１０３のパルスの立上りと立下りの時点毎に駆動量Ｒ（φ）を測定し、光ディスク１の一回転のうち、駆動量Ｒ（φ）が最大となる時点を検出し、その時点における回転位相角φ（ｉ）と駆動量の最大値Ｒ（φ）ｍａｘ＝Ｒ（φ（ｉ））とを共にＲＡＭ１６に記憶する。

次に、Ｓ１０３においてコントローラ１４は、Ｓ１０２においてＲＡＭ１６に記憶されたＲ（φ）ｍａｘの大きさと、ＲＯＭ１５に記憶されている所定の閾値Ｒｔｈの大きさを比較する。コントローラ１４は、Ｒ（φ）ｍａｘがＲｔｈよりも大きい場合は、本実施の形態の記録学習を行うため、処理をＳ１０４に進める。一方、Ｒ（φ）ｍａｘがＲｔｈ以下である場合は、図９を用いて説明したような通常の記録学習を行うため、処理をＳ１０５に進める。駆動量が所定値以下の場合、記録媒体の一回転の中の任意の領域において、記録学習を行って修正値を得て、その修正値に基づいてレーザ駆動部を制御することにより、光ディスクのチルトや偏心や面ぶれが小さく、対物レンズの駆動量が所定値以下の場合は、光ディスクを周方向に複数領域に分割し駆動量が最大となる領域を検出しなくても、光ディスクの一回転の中の任意の領域において記録学習を行えば、記録品質を確保することができるので、コントローラの負荷を軽減し、迅速に記録学習を行うことができる。

Ｓ１０４においてコントローラ１４は、φ０〜φ１５のスピンドルＦＧ信号１０３を４分割する。駆動量Ｒ（φ）が最大となる時点の回転位相角がφ（ｉ）である場合、光ディスク１の一回転を回転位相角によって回転位相角φ（ｉ−２）〜φ（ｉ＋２）の領域、回転位相角φ（ｉ＋２）〜φ（ｉ＋６）の領域、回転位相角、φ（ｉ＋６）〜φ（ｉ＋１０）の領域、及び回転位相角φ（ｉ＋１０）〜φ（ｉ＋１４）の領域に分割する。

次に、Ｓ１０６においてコントローラ１４は、光ディスク１の一回転のうちＳ１０２で検出した駆動量Ｒ（φ）が最大となる回転位相角φ（ｉ）の位置を含む回転位相角φ（ｉ−２）〜φ（ｉ＋２）の領域、つまり記録学習領域１ａにおいて、記録学習を行い、学習によって得られたレーザパワーの学習値Ｐａとレーザパターンの学習値ＳａとをＲＡＭ１６に記憶して記録学習を終了し、処理をＳ１０７に進める。

Ｓ１０７でコントローラ１４は、光ディスク１に対する情報の記録を開始する。

Ｓ１０８でコントローラ１４は、Ｓ１０６においてＲＡＭ１６に記憶した学習値ＰａとＳａとに基づいてレーザ制御信号１０８をレーザ駆動部１７に送出する。レーザ駆動部１７は、レーザ制御信号１０８に基づいて、光ピックアップ８のレーザ光源１８を駆動するレーザ駆動信号１０９を生成し、その信号を出力することにより、レーザ光源１８を発光させ、光ディスク１への情報の記録を行う。

また、Ｓ１０９においてコントローラ１４は光ディスク１への情報の記録が終了したか否かを判定し、終了していなければ処理をＳ１０８に戻して記録を続け、一方終了した場合は、処理をＳ１１０に進める。

Ｓ１１０では、Ｓ１０９で記録が終了したと判断した場合に、コントローラ１４は一連の記録学習と光ディスク１に対する情報の記録とを行う記録モードを終了する。

（実施の形態２）
実施の形態１の説明では、光ディスク１を周方向に複数領域に分割し、駆動量が最も大きくなる記録学習領域１ａにおいて、記録学習を行うことについて説明したが、図６に示すように、光ディスク１を周方向に複数領域に分割し、分割領域毎に記録学習を行うことも同様に実施可能である。以下、図６を用いて説明する。

図６は、図１の光ディスク装置における記録学習方法を示す模式図である。対物レンズ５の駆動量を把握し、光ディスク１を周方向に複数領域に分割するまでの手順は、以上に述べた方法と同じであるため、説明を省略する。

ここでは、図６に示されるように、上述の方法で分割された光ディスク１の、回転位相角φ１１〜φ１５の領域における記録学習領域１ａ、回転位相角φ１５〜φ３の領域における記録学習領域１ｂ、回転位相角φ３〜φ７の領域における記録学習領域１ｃ、及び回転位相角φ７〜φ１１ｄの領域における記録学習領域１ｄのそれぞれにおいて、記録学習を行って修正値を得て、その修正値に基づいてレーザ駆動部１７を制御する。

例えば図６に示すように、光ディスク１の内周に設けられている記録学習領域を４つに分割した、記録学習領域１ａ、記録学習領域１ｂ、記録学習領域１ｃ、及び記録学習領域１ｄのそれぞれに対して、複数種類の例えばＰ１〜Ｐ５というレーザパワーと、複数種類の例えばＳ１〜Ｓ５というレーザパターンとで試し書きを行う。次にその試し書きを再生し、その中で最も記録品質の良かった例えば記録学習領域１ａについては、レーザパワーＰ４とレーザパターンＳ５とを選択して、記録学習領域１ｂについては、レーザパワーＰ２とレーザパターンＳ２とを選択して、記録学習領域１ｃについては、レーザパワーＰ５とレーザパターンＳ３とを選択して、及び記録学習領域１ｄについては、レーザパワーＰ２とレーザパターンＳ１とを選択して、それぞれ情報の記録に用いるレーザパワーとレーザパターンとして、ＲＡＭ１６に記憶する。

これにより、一回転の間に適正なレーザパワーとレーザパターンとが大きく変化するような、面ぶれや偏心量の大きな光ディスク１に記録を行う場合にも、それぞれの領域において適正な記録条件で記録を行うことができるので、光ディスク１の一回転にわたって良好な記録品質を確保することができる。

以下、このような光ディスク装置の制御について、図７を用いて説明する。ここでは、光ディスク装置に図３で説明したような偏心光ディスクが装着された場合について説明する。

図７は図１の光ディスク装置における記録学習方法を示すフローチャートである。

図７に示すＳ２０１〜Ｓ２０５の処理は、それぞれ図５を用いて説明したＳ１０１〜Ｓ１０５の処理と同じであるため説明を省略する。

Ｓ２０６においてコントローラ１４は、回転位相角φ（ｉ−２）〜φ（ｉ＋２）の領域における記録学習領域１ａにおいて、記録学習を行い、学習によって得られたレーザパワーの学習値Ｐａとレーザパターンの学習値ＳａとをＲＡＭ１６に記憶する。

Ｓ２０７においてコントローラ１４は、回転位相角φ（ｉ＋２）〜φ（ｉ＋６）の領域における記録学習領域１ｂにおいて、記録学習を行い、学習によって得られたレーザパワーの学習値Ｐｂとレーザパターンの学習値ＳｂとをＲＡＭ１６に記憶する。

Ｓ２０８においてコントローラ１４は、回転位相角φ（ｉ＋６）〜φ（ｉ＋１０）の領域における記録学習領域１ｃにおいて、記録学習を行い、学習によって得られたレーザパワーの学習値Ｐｃとレーザパターンの学習値ＳｃとをＲＡＭ１６に記憶する。

Ｓ２０９においてコントローラ１４は、回転位相角φ（ｉ＋１０）〜φ（ｉ＋１４）の領域における記録学習領域１ｄにおいて、記録学習を行い、学習によって得られたレーザパワーの学習値Ｐｄとレーザパターンの学習値ＳｄとをＲＡＭ１６に記憶する。

Ｓ２１０でコントローラ１４は、光ディスク１に対する情報の記録を開始する。

Ｓ２１１においてコントローラ１４は、スピンドルＦＧ信号１０３の回転位相角を検出する。回転位相角がφ（ｉ−２）〜φ（ｉ＋２）である場合は、処理をＳ２１２に進め、回転位相角がφ（ｉ−２）〜φ（ｉ＋２）でない場合は、処理をＳ２１３に進める。

Ｓ２１２でコントローラ１４は、Ｓ２０６においてＲＡＭ１６に記憶した学習値ＰａとＳａとに基づいてレーザ制御信号１０８をレーザ駆動部１７に送出する。レーザ駆動部１７は、レーザ制御信号１０８に基づいて、光ピックアップ８のレーザ光源１８を駆動するレーザ駆動信号１０９を生成し、その信号を出力することにより、レーザ光源１８を発光させ、光ディスク１への情報の記録を行う。

Ｓ２１３においてコントローラ１４は、スピンドルＦＧ信号１０３の回転位相角を検出する。回転位相角がφ（ｉ＋２）〜φ（ｉ＋６）である場合は、処理をＳ２１４に進め、回転位相角がφ（ｉ＋２）〜φ（ｉ＋６）でない場合は、処理をＳ２１５に進める。

Ｓ２１４でコントローラ１４は、Ｓ２０７においてＲＡＭ１６に記憶した学習値ＰｂとＳｂとに基づいてレーザ制御信号１０８をレーザ駆動部１７に送出する。レーザ駆動部１７は、レーザ制御信号１０８に基づいて、光ピックアップ８のレーザ光源１８を駆動するレーザ駆動信号１０９を生成し、その信号を出力することにより、レーザ光源１８を発光させ、光ディスク１への情報の記録を行う。

Ｓ２１５においてコントローラ１４は、スピンドルＦＧ信号１０３の回転位相角を検出する。回転位相角がφ（ｉ＋６）〜φ（ｉ＋１０）である場合は、処理をＳ２１６に進め、回転位相角がφ（ｉ＋６）〜φ（ｉ＋１０）でない場合は、処理をＳ２１７に進める。

Ｓ２１６でコントローラ１４は、Ｓ２０８においてＲＡＭ１６に記憶した学習値ＰｃとＳｃとに基づいてレーザ制御信号１０８をレーザ駆動部１７に送出する。レーザ駆動部１７は、レーザ制御信号１０８に基づいて、光ピックアップ８のレーザ光源１８を駆動するレーザ駆動信号１０９を生成し、その信号を出力することにより、レーザ光源１８を発光させ、光ディスク１への情報の記録を行う。

Ｓ２１７においてコントローラ１４は、スピンドルＦＧ信号１０３の回転位相角を検出する。回転位相角がφ（ｉ＋１０）〜φ（ｉ＋１４）である場合は、処理をＳ２１８に進め、回転位相角がφ（ｉ＋１０）〜φ（ｉ＋１４）でない場合は、処理をＳ２１９に進める。

Ｓ２１８でコントローラ１４は、Ｓ２０９においてＲＡＭ１６に記憶した学習値ＰｄとＳｄとに基づいてレーザ制御信号１０８をレーザ駆動部１７に送出する。レーザ駆動部１７は、レーザ制御信号１０８に基づいて、光ピックアップ８のレーザ光源１８を駆動するレーザ駆動信号１０９を生成し、その信号を出力することにより、レーザ光源１８を発光させ、光ディスク１への情報の記録を行う。このように、対物レンズの駆動量を把握し、記録媒体を周方向に複数領域に分割し、駆動量が最も大きくなる領域において、記録学習を行って修正値を得て、その修正値に基づいてレーザ駆動部を制御することにより、光ディスクを周方向に複数領域に分割して厳密に学習し最悪の場合の修正値に基づいてレーザ制御を行うので、一回転の間に適正なレーザパワーとレーザパターンとが大きく変化するような、面ぶれや偏心量の大きな光ディスク１に記録を行う場合にも、それぞれの領域において適正な記録条件で記録を行うことができるので、光ディスク１の一回転にわたって良好な記録品質を確保することができる。

また、Ｓ２１９においてコントローラ１４は光ディスク１への情報の記録が終了したか否かを判定し、終了していなければ処理をＳ２１１に戻して記録を続け、一方終了した場合は、処理をＳ２２０に進める。

Ｓ２２０では、Ｓ２１９で記録が終了したと判断した場合に、コントローラ１４は一連の記録学習と光ディスク１に対する情報の記録とを行う記録モードを終了する。

（実施の形態３）
実施の形態２において説明した記録学習方法では、分割領域毎に記録学習を行って修正値を得て、それぞれの修正値に基づいてレーザ駆動部１７を制御したが、記録学習を行って得た修正値のうち、レーザパワーが最大となる領域における修正値に基づいてレーザ駆動部１７を制御することも同様に実施可能である。

以下、このような光ディスク装置の制御について、図８を用いて説明する。ここでは、光ディスク装置に図３で説明したような偏心光ディスクが装着された場合について説明する。

図８は図１の光ディスク装置における記録学習方法を示すフローチャートである。

図８に示すＳ３０１〜Ｓ３０９の処理は、それぞれ図７を用いて説明したＳ２０１〜Ｓ２０９の処理と同じであるため説明を省略する。

Ｓ３１０でコントローラ１４は、Ｓ３０６〜Ｓ３０９において学習しＲＡＭ１６に記憶したレーザパワーＰａ、Ｐｂ、Ｐｃ、及びＰｄのうち最大のものを選択してＰｍａｘとし、対応するレーザパターンをＳｍａｘとして、ＰｍａｘとＳｍａｘとを共にＲＡＭ１６に記憶する。

Ｓ３１１でコントローラ１４は、光ディスク１に対する情報の記録を開始する。

Ｓ３１２でコントローラ１４は、Ｓ３１０においてＲＡＭ１６に記憶した学習値ＰｍａｘとＳｍａｘとに基づいてレーザ制御信号１０８をレーザ駆動部１７に送出する。レーザ駆動部１７は、レーザ制御信号１０８に基づいて、光ピックアップ８のレーザ光源１８を駆動するレーザ駆動信号１０９を生成し、その信号を出力することにより、レーザ光源１８を発光させ、光ディスク１への情報の記録を行う。このように、分割領域毎に記録学習を行って得た修正値のうち、レーザパワーが最大となる領域における修正値に基づいてレーザ駆動部を制御することにより、面ぶれや偏心量の大きな光ディスク１に記録を行う場合、対物レンズ５の、チルト方向、トラッキング方向、及びフォーカス方向の駆動量が大きいところほど大きなレーザパワーが必要になると考えられるので、記録学習の結果から対物レンズ５の駆動量が大きくなっていると考えられる領域での修正値を用いて記録を行うことができるので、光ディスク１の一回転にわたって良好な記録品質を確保することができる。また、光ディスク１の一回転にわたって同じレーザパワーとレーザパターンとを用いて情報の記録を行うので、コントローラ１２に過大な負荷を与えることなく、良好な記録品質を確保することができる。

また、Ｓ３１３においてコントローラ１４は光ディスク１への情報の記録が終了したか否かを判定し、終了していなければ処理をＳ３１２に戻して記録を続け、一方終了した場合は、処理をＳ３１４に進める。

Ｓ３１４では、Ｓ３１３で記録が終了したと判断した場合に、コントローラ１４は一連の記録学習と光ディスク１に対する情報の記録とを行う記録モードを終了する。

本発明は、一回転の間に適正なレーザパワーとレーザパターンとが大きく変化するような、チルトや偏心や面ぶれが大きいディスクに記録を行う場合でも、光ディスクの一回転にわたって良好な記録品質を確保することが必要な光ディスク装置等の用途にも適用できる。

本発明の実施の形態における光ディスク装置のブロック図図１の光ディスク装置に面ぶれ光ディスクが装着された状態を示す模式図図１の光ディスク装置に偏心光ディスクが装着された状態を示す模式図図１の光ディスク装置におけるスピンドルＦＧ信号と対物レンズの駆動量の関係を示す図図１の光ディスク装置における記録学習方法を示すフローチャート図１の光ディスク装置における記録学習方法を示す模式図図１の光ディスク装置における記録学習方法を示すフローチャート図１の光ディスク装置における記録学習方法を示すフローチャート従来の光ディスク装置における記録学習方法を示す模式図

符号の説明

１光ディスク
１ａ，１ｂ，１ｃ，１ｄ，１ｅ記録学習領域
２ピックアップモジュール
３スピンドルモータ
３ａ回転軸
４レンズホルダ
５対物レンズ
６アクチュエータ
７キャリッジ
８光ピックアップ
９フィード部
１０フイードモータ
１１アナログ信号処理部
１２サーボ処理部
１３モータ駆動部
１４コントローラ
１５ＲＯＭ
１６ＲＡＭ
１７レーザ駆動部
１８レーザ光源
１０１ピックアップ出力信号
１０２サーボエラー信号
１０３スピンドルＦＧ信号
１０４チルト信号
１０５制御信号
１０６ピックアップモジュール制御信号
１０７ピックアップモジュール駆動信号
１０８レーザ制御信号
１０９レーザ駆動信号

Claims

本光ディスクに情報を書込む際に適正とされる基準レーザパワー及び基準レーザパターンを記憶した光ディスクと、
前記光ディスクにレーザ光を出射する光源と、
前記レーザ光を前記光ディスクに集光し前記光ディスクに追従して駆動される対物レンズと、
前記レーザ光のレーザパワーまたはレーザパターンを制御するレーザ駆動部と、
前記光ディスクを回転させるスピンドルモータと、
前記光ディスクに記録された基準レーザパワー及び基準レーザパターンに基づいてレーザ光を出射して前記光ディスクに試し書きを行い、その読取り結果に基づいて基準レーザパワーまたは基準レーザパターンを修正する記録学習を行う制御部と、を具備し、
前記制御部は、
前記光ディスク一回転分の前記対物レンズの駆動量を測定して前記対物レンズの駆動量の最大値と前記駆動量が最大となる光ディスク上の位置を検出した後に、前記駆動量の最大値と所定値とを比較し、
前記駆動量の最大値が前記所定値よりも大きい場合には、
前記対物レンズの駆動量を測定した領域を４つの領域に分割した後、前記駆動量が最大となる光ディスク上の位置を含む領域のみで前記記録学習を行って修正値を得て、その修正値に基づいて前記レーザ駆動部を制御することを特徴とする光ディスク装置。
光ディスクにレーザ光を出射する光源と、
前記光源から出射されたレーザ光の基準レーザパワー及び基準レーザパターンを記憶した記録部と、
前記レーザ光を前記光ディスクに集光し前記光ディスクに追従して駆動される対物レンズと、前記レーザ光のレーザパワーまたはレーザパターンを制御するレーザ駆動部と、
前記記録部に記録された基準レーザパワー及び基準レーザパターンに基づいてレーザ光を出射して前記光ディスクに試し書きを行い、その読取り結果に基づいて基準レーザパワーまたは基準レーザパターンを修正する記録学習を行う制御部と、を具備し、
前記制御部は、
前記光ディスク一回転分の前記対物レンズの駆動量を測定して前記対物レンズの駆動量の最大値と前記駆動量が最大となる光ディスク上の位置を検出した後に、前記駆動量の最大値と所定値とを比較し、
前記駆動量の最大値が前記所定値よりも大きい場合には、
前記対物レンズの駆動量を測定した領域を４つの領域に分割した後、前記駆動量が最大となる光ディスク上の位置を含む領域のみで前記記録学習を行って修正値を得て、その修正値に基づいて前記レーザ駆動部を制御することを特徴とする光ディスク装置。
前記駆動量は、チルト方向の駆動量であることを特徴とする請求項１乃至２のいずれかに記載の光ディスク装置。
前記駆動量は、トラッキング方向の駆動量であることを特徴とする請求項１乃至２のいずれかに記載の光ディスク装置。
前記駆動量は、フォーカス方向の駆動量であることを特徴とする請求項１乃至２のいずれかに記載の光ディスク装置。