JP4552160B2 - 有機半導体薄膜の形成方法および薄膜半導体装置の製造方法 - Google Patents

有機半導体薄膜の形成方法および薄膜半導体装置の製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP4552160B2
JP4552160B2 JP2008195958A JP2008195958A JP4552160B2 JP 4552160 B2 JP4552160 B2 JP 4552160B2 JP 2008195958 A JP2008195958 A JP 2008195958A JP 2008195958 A JP2008195958 A JP 2008195958A JP 4552160 B2 JP4552160 B2 JP 4552160B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
thin film
organic semiconductor
organic
printing plate
substrate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2008195958A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2010034367A (ja
Inventor
章裕 野元
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP2008195958A priority Critical patent/JP4552160B2/ja
Priority to US12/508,007 priority patent/US8222096B2/en
Priority to CN2009101636013A priority patent/CN101640252B/zh
Publication of JP2010034367A publication Critical patent/JP2010034367A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4552160B2 publication Critical patent/JP4552160B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • H10K71/10Deposition of organic active material
    • H10K71/12Deposition of organic active material using liquid deposition, e.g. spin coating
    • H10K71/13Deposition of organic active material using liquid deposition, e.g. spin coating using printing techniques, e.g. ink-jet printing or screen printing
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K19/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic element specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching, covered by group H10K10/00
    • H10K19/10Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic element specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching, covered by group H10K10/00 comprising field-effect transistors

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Thin Film Transistor (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)

Description

本発明は有機半導体薄膜の形成方法および薄膜半導体装置の製造方法に関し、特には印刷技術を適用した有機半導体薄膜の形成方法、およびこの形成方法を用いた薄膜半導体装置の製造方法に関する。
近年、活性層として有機半導体薄膜を用いた薄膜トランジスタ、いわゆる有機薄膜トランジスタが注目されている。有機薄膜トランジスタは、活性層となる有機半導体薄膜のパターン形成に印刷法を適用することが可能である。このため、低コスト化に有利であると共に、プラスチック等の耐熱性のないフレキシブルな基板上への形成も可能である。
有機半導体薄膜の印刷法によるパターン形成は、次のように行なう。先ず、例えば撥水性を有するポリジメチルシロキサン(PDMS)を用い、表面側に凹凸パターンを有する平板状のスタンプ版を形成する。そしてこのスタンプ版の表面(撥水面)全域に、スピンコート法により有機半導体インクを塗布する。有機半導体インクは、例えばポリ−3ヘキシルチオフェン(poly(3-hexylthiophene(P3HT))からなる有機半導体材料をクロロホルムからなる溶媒に溶解させたものが用いられる。次に、スタンプ版に塗布された有機半導体インクを乾燥させて有機半導体薄膜とした後、スタンプ版における有機半導体薄膜の形成面を、薄膜トランジスタが形成される装置基板に押し圧する。これにより、スタンプ版の凸パターン上に形成された有機半導体薄膜部分を装置基板の基板面に密着させる。次いで、装置基板側からスタンプ版を剥がし取ることにより、撥水性を有するスタンプ版側の凸パターン上から装置基板側に有機半導体薄膜をパターン転写する(以上、例えば下記特許文献1参照)。
特開2007−67390号公報
しかしながら、以上のような有機半導体薄膜の印刷形成においては、スタンプ版からの転写印刷が可能な有機半導体材料が限られており、材料選択の自由度が低かった。例えば、薄膜トランジスタの活性層として用いた場合に、良好な特性を示す有機半導体材料としてTIPSペンタセン(6,13-bis(triisopropylsilylethynyl)pentaceneが知られている。ところがTIPSペンタセンは、印刷法を適用した膜形成において装置基板側に転写されず、印刷法によるパターン形成を行うことができない。これは、TIPSペンタセンを用いた薄膜半導体装置の製造を妨げる要因となっている。
そこで本発明は、転写印刷による有機半導体薄膜の形成において有機半導体材料の選択の自由度が高く、これにより印刷法を適用して特性の良好な薄膜半導体装置を得ることが可能な有機半導体薄膜の形成方法および薄膜半導体装置の製造方法を提供することを目的とする。
本発明の有機半導体薄膜の形成方法および薄膜半導体装置の製造方法は、溶剤に溶解させたインクの状態において印刷版から基板への転写が不可能な有機半導体材料と共に転写が可能な有機材料を混合した混合インク層を、印刷版の一主面側に形成する工程と、印刷版側の混合インク層を基板上に転写することにより、当該基板上に当該混合インク層を転写してなる有機半導体薄膜を形成する工程とを含むものである。このとき、印刷版の表面エネルギーα、有機半導体材料の表面エネルギーβ1、および有機材料の表面エネルギーβ2の関係が、α>β1かつα<β2となるようにする。
このような方法では、印刷版からの転写が不可能な有機半導体材料のインクであっても、転写が可能な有機材料を混合することで、基板への転写が可能となることが分かった。これにより、従来、印刷法による薄膜形成が不可能であった有機半導体材料を用いて、基板上に有機半導体薄膜を転写形成することができ、有機半導体薄膜の形成における有機半導体材料の選択性が高められる。
以上説明したように本発明は、転写印刷による有機半導体薄膜の形成において有機半導体材料の選択の自由度が高く、これにより印刷法を適用して特性の良好な薄膜半導体装置を得ることが可能になる。
<第1実施形態>
図1および図2は、本発明の第1実施形態の製造方法を説明するための断面工程図である。以下、これらの図1および図2に基づいて第1実施形態の有機半導体薄膜の形成方法と、これを適用した薄膜半導体装置の製造方法を説明する。尚、本第1実施形態においては、ボトムゲート・ボトムコンタクト型の有機薄膜トランジスタを複数設けた薄膜半導体装置の製造を説明する。
先ず、図1(1)に示すように、印刷版1を用意する。この印刷版1は、例えば支持基板1aの表面を、撥液性を有するPDMAからなるブランケット層1bで覆ってなるものであり、ブランケット層1bの表面側が撥液面Aとなっている。
次に、図1(2)に示すように、印刷版1の撥液面A上に、本発明に特徴的な混合インク層3を塗布形成し乾燥させる。この混合インク層3は、目的とする有機半導体材料(目的材料)と共に、他の有機材料(混合材料)を含有している。このうち、有機半導体材料(目的材料)は、溶剤に溶解させたインクの状態において、印刷版1から他の基板上への転写印刷が不可能な材料である。一方、このような有機半導体材料(目的材料)と共に混合インク層3を構成する有機材料(混合材料)は、溶剤に溶解させたインクの状態において印刷版から基板への転写が可能な有機材料である。
ここで用いる有機半導体材料(目的材料)は、上述したように溶剤に溶解させたインクの状態において、印刷版1から他の基板上への転写印刷が不可能な材料である。このような有機半導体材料は、印刷版1(PDMS)の表面エネルギーα、TIPSペンタセン(有機半導体材料)の表面エネルギーβ1とした場合、α>β1となっている材料である。このような有機半導体材料として、例えばTIPSペンタセンが例示される。TIPSペンタセンは、トルエンなどにTIPSペンタセンを溶解させたインクを、印刷版1の撥液面Aに塗布してインク層を形成し、このインク層を他の基板に転写印刷しようとした場合に、印刷版1から基板側に転写することができない。
また、ここで用いる他の有機材料(混合材料)は、上述したように溶剤に溶解させたインクの状態において、印刷版1から他の基板上への転写印刷が可能な材料であれば良い。このような有機材料は、印刷版1(PDMS)の表面エネルギーα、有機材料の表面エネルギーβ2とした場合、α<β2となっている材料である。また、例えば有機半導体材料がTIPSペンタセンのような低分子材料であれば、高分子材料であることが好ましく、これによって混合インク層3の粘度を調整できる。ここでは、このような有機材料として、ポリスチレンが例示される。
そして、以上のような有機半導体材料(目的材料)と有機材料(混合材料)との混合割合は、これらを混合した混合インクの粘度が印刷に適する範囲で、かつこの混合インクを用いて形成される有機半導体薄膜に半導体特性が得られる範囲に設定されることとする。
ここでは例えば、TIPSペンタセン:ポリスチレン=4:1(重量比)を、トルエンに5重量%で溶解させて混合インクを調整し、スピンコート法によって印刷版1の撥液面A上に混合インクを塗布して混合インク層3を形成し乾燥させる。尚、スピンコート法によって塗布形成した混合インク層3は、塗布過程において溶剤が揮発して乾燥が進む。このため、必要に応じて乾燥工程を行えば良い。
尚、有機半導体材料(目的材料)が高分子材料であれば、この有機半導体材料によって混合インク層3の粘度調整ができるため、有機材料(混合材料)は低分子材料であっても良く高分子材料であっても良い。つまり、混合インク層3に含有されている有機半導体材料または有機材料の少なくとも一方が高分子材料であれば、混合インク層3の粘度を調整できるために好ましいのである。また、有機半導体材料と共に用いる有機材料は、上述したポリスチレンのような絶縁性材料であっても良いが、半導体材料であっても良い。
次に、図1(3)に示すように、印刷用凹版5を用意する。この印刷用凹版5は、例えば支持基板5aと感光性樹脂層5bとで構成されている。そして、感光性樹脂層5bの表面側には、リソグラフィーによって形成された凹パターン5cが設けられていることとする。これらの凹パターン5cは、最終的に転写印刷によって形成される有機半導体薄膜の外形形状に一致するように、平面視的な開口形状で形成されていることとする。
以上のような構成の印刷用凹版5は、その凹パタ−ン5cの形成面を、印刷版1における混合インク層3の形成面側に対向させる状態で配置される。この状態で、印刷用凹版5を印刷版1の混合インク層3に押し圧し、凹パターン5c間に設けられた凸部分に混合インク層3を密着させる。
次いで図1(4)に示すように、印刷版1側から印刷用凹版5を引き剥がす。これにより、印刷用凹版5に密着している混合インク層3部分が印刷用凹版5側に転写され、印刷用凹版5の凹パターン5cに対応する部分が印刷版1側に残される。そして、印刷版1上には、印刷版1側に残された混合インク層3部分の形状にパターン化された混合インク層(以下インクパターンと記す)3aが形成される。
次に、図2(1)に示すように、インクパターン3aが形成された印刷版1を、基板10に対向配置させる。
ここでこの基板10は、例えば絶縁性の支持基板11上にゲート電極13が配列形成され、これらのゲート電極13を覆う状態でゲート絶縁膜15が設けられ、このゲート絶縁膜15上にソース電極17sおよびドレイン電極17dが設けられた構成であることとする。ここで各ソース電極17sおよびドレイン電極17dは、各ゲート電極13の両側に対をなして配置されている。このうちゲート電極13、ソース電極17s、およびドレイン電極17dは、例えば金(Au)蒸着膜をリフトオフし電極形成したものとし、50nmの膜厚を有する。またゲート絶縁膜15は、例えばポリビニルフェノール(Polyvinylphenol:PVP)とオクタデシルトリクロオシラン(OTS)との混合材料からなり、330nmの膜厚を有する。
以上のような基板10におけるソース電極17sおよびドレイン電極17dの形成面側に、インクパターン3aを対向させた状態で印刷版1を配置する。そして、基板10におけるソース電極17sおよびドレイン電極17dに対して、印刷版1のインクパターン3aを位置合わせする。この状態で、基板10に対して印刷版1を押し圧し、基板10にインクパターン3aを密着させる。
次に、図2(2)に示すように、基板10側から印刷版1を引き剥がす。これにより、基板10における各ソース電極17s−ドレイン電極17d間に、印刷版1側からインクパターン3aを転写印刷する。基板10側に転写印刷されたインクパターン3aは、有機半導体材料を含有する混合インク層(3)で構成された有機半導体薄膜19として形成される。
以上により、基板10には、ゲート電極13上にゲート絶縁膜15を介してソース電極17sおよびドレイン電極17dが設けられ、これらのソース電極17sおよびドレイン電極17d間に有機半導体薄膜19が形成された薄膜トランジスタTrが設けられる。
このような第1実施形態によれば、印刷版1からの転写印刷が不可能であった有機半導体材料(TIPSペンタセン)とともに、転写印刷が可能な有機材料を用いて混合インク層3を形成することにより、混合インク層3(インクパターン3a)の基板10上への転写印刷が可能になった。これにより、特性は良好であったが印刷に不向きな有機半導体材料を印刷プロセスに適用することが可能になり、有機半導体薄膜の印刷形成における有機半導体材料の選択性が高められる。この結果、印刷法を適用して特性の良好な薄膜半導体装置を得ることが可能になる。
図3には、上述の第1実施形態で例示した構成を適用して作製したボトムゲート・ボトムコンタクト型の有機薄膜トランジスタTrのTFT特性を示す。尚、この有機薄膜トランジスタTrの作製においては、Auからなるゲート電極13(膜厚50nm)上に、PVP−OTSからなるゲート絶縁膜15(膜厚330nm)を介してAuからなるソース電極17sおよびドレイン電極17d(膜厚330nm)を設けた基板10を用いた。そして、ソース電極17sおよびドレイン電極17d間の基板10上に、TIPSペンタセン:ポリスチレン=4:1(重量比)をトルエンに5重量%で溶解させてた混合インクを用いた転写印刷によって、有機半導体薄膜19を形成した。
この図3に示すように、本発明を適用した第1実施形態の手順で得られた有機薄膜トランジスタTrは、チャネル長(Lch)=5μm、チャネル幅(Wch)=47.2
mmであって、トランジスタ特性を示すことが確認された。
<第2実施形態>
図4および図5は、本発明の第2実施形態の製造方法を説明するための断面工程図である。以下、これらの図4および図5に基づいて第2実施形態の有機半導体薄膜の形成方法と、これを適用した薄膜半導体装置の製造方法を説明する。尚、本第2実施形態においては、第1実施形態と同様に、ボトムゲート・ボトムコンタクト型の有機薄膜トランジスタを複数設けた薄膜半導体装置の製造を説明する。
先ず、図4(1)に示すように、第1実施形態と同様の印刷版1を用意する。すなわちこの印刷版1は、例えば支持基板1aの表面を、撥液性を有するPDMAからなるブランケット層1bで覆ってなるものであり、ブランケット層1bの表面側が撥液面Aとなっている。
次に、図4(2)に示すように、印刷版1の撥液面A上に、本発明に特徴的な混合インク層3’を塗布形成し乾燥させることで複数層に分離した混合インク層3’を形成する。この混合インク層3’は、有機半導体材料と共に、他の有機材料を含有していることは第1実施形態と同様である。すなわち有機半導体材料は、溶剤に溶解させたインクの状態において、印刷版1から他の基板上への転写印刷が不可能な材料である。一方、このような有機半導体材料と共に混合インク層3’を構成する有機材料は、溶剤に溶解させたインクの状態において印刷版から基板への転写が可能な有機材料である。
このような有機半導体材料は、第1実施形態と同様に、溶剤に溶解させたインクの状態において、印刷版1から他の基板上への転写印刷が不可能な材料であることとする。すなわち有機半導体材料は、印刷版1(PDMS)の表面エネルギーα、TIPSペンタセン(有機半導体材料)の表面エネルギーβ1とした場合、α>β1となっている材料でありTIPSペンタセンが例示される。
また、このような有機材料は、第1実施形態と同様に、溶剤に溶解させたインクの状態において、印刷版1から他の基板上への転写印刷が可能な材料であれば良い。すなわち、有機材料は、印刷版1(PDMS)の表面エネルギーα、有機材料の表面エネルギーβ2とした場合、α<β2となっている材料である。
ただし、有機半導体材料と有機材料とは、乾燥の過程で相分離が進みやすいように、有機半導体材料に合わせて有機材料を組み合わせて用いることとする。この場合、例えば所望の有機半導体材料に対して、インク用の溶剤に対する溶解度に差がある有機材料を用いることが好ましい。
また、第1実施形態でも説明したように、混合インク層3’に含有されている有機半導体材料または有機材料の少なくとも一方が高分子材料であれば、混合インク層3の粘度を調整できるために好ましい。さらに、有機半導体材料と共に用いる有機材料は、上述したポリスチレンのような絶縁性材料であっても良いが、半導体材料であっても良い。
そして混合インク層3’は、主に有機半導体材料(目的材料)を含有する有機半導体層3-1と、主に有機材料(混合材料)を含有する有機層3-2とに相分離し、例えば図示したように有機半導体層3-1間に有機層3-2が挟持された構成となる。尚、有機半導体層3-1は、主に有機半導体材料(目的材料)を含有していれば、他の半導体材料(混合材料)が含有されていて良い。同様に、有機層3-2は、主に上述した他の有機材料(混合材料)を含有していれば、有機半導体材料(目的材料)が含有されていても良い。
次に、図4(3)に示すように、第1実施形態と同様の印刷用凹版5を用意する。すなわち印刷用凹版5は、例えば支持基板5aと感光性樹脂層5bとで構成されており、感光性樹脂層5bの表面側に、リソグラフィーによって形成された凹パターン5cが設けられていることとする。これらの凹パターン5cは、最終的に転写印刷によって形成される有機半導体薄膜の外形形状に一致するように、平面視的な開口形状で形成されていることとする。
以上のような構成の印刷用凹版5は、その凹パタ−ン5cの形成面を、印刷版1における混合インク層3’の形成面側に対向させる状態で配置される。この状態で、印刷用凹版5を印刷版1の混合インク層3’に押し圧し、凹パターン5c間に設けられた凸部分に混合インク層3’を密着させる。
次いで図4(4)に示すように、第1実施形態と同様に、印刷版1側から印刷用凹版5を引き剥がす。これにより、印刷用凹版5に密着している混合インク層3’部分が印刷用凹版5側に転写され、印刷用凹版5の凹パターン5cに対応する部分が印刷版1側に残される。
そして、印刷版1上には、印刷版1側に残された混合インク層3’部分の形状にパターン化された混合インク層(以下インクパターンと記す)3a’が形成される。尚、ここでは、混合インク層3’を構成する有機半導体層3-1、有機層3-2、および有機半導体層3-1ともが、印刷用凹版5側に転写された状態を図示した。しかしながら、混合インク層3aは、有機半導体層3-1と有機層3-2との間で分離されても良く、印刷用凹版5側への転写は、最上層の有機半導体層3-1のみ、または最上層の有機半導体層3-1および有機層3-2のみであっても良い。
次に、図5(1)に示すように、インクパターン3a’が形成された印刷版1を、基板10に対向配置させる。
ここでこの基板10は、例えば第1実施形態で説明したと同様の構成であって、絶縁性の支持基板11上にゲート電極13が配列形成され、これらのゲート電極13を覆う状態でゲート絶縁膜15が設けられ、このゲート絶縁膜15上にソース電極17sおよびドレイン電極17dが設けられたものであることとする。
以上のような構成の基板10におけるソース電極17sおよびドレイン電極17dの形成面側に、第1実施形態と同様に、インクパターン3a’を対向させた状態で印刷版1を配置する。そして、基板10におけるソース電極17sおよびドレイン電極17dに対して、印刷版1のインクパターン3a’を位置合わせする。この状態で、基板10に対して印刷版1を押し圧し、基板10にインクパターン3a’を密着させる。
次に、図5(2)に示すように、基板10側から印刷版1を引き剥がす。これにより、基板10における各ソース電極17s−ドレイン電極17d間に、印刷版1側からインクパターン3a’のうちの少なくとも最上層の有機半導体層3-1を転写印刷する。この際、有機層3-2は、図示したように基板10側に転写印刷されても良いし、印刷版1側に残されても良い。
そして以上のように基板10側に転写印刷されたインクパターン3a’部分が、有機半導体材料を含有する混合インク層(3’)で構成された有機半導体薄膜19’となる。
以上により、基板10には、ゲート電極13上にゲート絶縁膜15を介してソース電極17sおよびドレイン電極17dが設けられ、これらのソース電極17sおよびドレイン電極17d間に有機半導体薄膜19’が形成された薄膜トランジスタTr’が設けられる。
このような第2実施形態によれば、印刷版からの転写印刷が不可能であった有機半導体材料(TIPSペンタセン)とともに、転写印刷が可能な有機材料を用いて混合インク層3’を構成し、有機半導体層3-1と有機層3-2とに相分離させることで、混合インク層3’(インクパターン3a’)のうちの少なくとも有機半導体層3-1の基板10上への転写印刷が可能になった。これにより、特性は良好であったが印刷に不向きな有機半導体材料を印刷プロセスに適用することが可能になり、有機半導体薄膜の印刷形成における有機半導体材料の選択性が高められる。この結果、印刷法を適用して特性の良好な薄膜半導体装置を得ることが可能になる。
<第3実施形態>
次に、本発明の第3実施形態を説明する。ここでは、薄膜半導体装置として、液晶表示装置のバックプレーンの製造方法を説明し、これに引き続きこのバックプレーンを用いた液晶表示装置の構成を説明する。
先ず、図6(a)の回路図および図6(b)の画素部平面図を用いてバックプレーン20の構成を説明する。ここで作製するバックプレーン20の支持基板21には、表示領域21Aとその周辺領域21Bとが設定されている。表示領域21Aには、複数の走査線23と複数の信号線24とが縦横に配線されており、それぞれの交差部に対応して1つの画素aが設けられた画素アレイ部として構成されている。また、表示領域21Aには、複数の共通配線25が走査線23と平行に配線されている。一方、周辺領域21Bには、走査線23を走査駆動する走査線駆動回路26と、輝度情報に応じた映像信号(すなわち入力信号)を信号線24に供給する信号線駆動回路27とが配置されている。
各画素aには、例えばスイッチング素子としての薄膜トランジスタTrおよび保持容量Csからなる画素回路が設けられ、さらにこの画素回路に接続された画素電極29が設けられている。また保持容量Csは、共通配線25から延設された下部電極25c−画素電極29間で構成される。薄膜トランジスタTrは、走査線23から延設されたゲート電極23gと、信号線24から延設されたソース電極24sと、画素電極29から延設されたドレイン電極29dとを備えており、さらにソース電極24s−ドレイン電極29d間にわたる有機半導体薄膜33を備えている。
そして、薄膜トランジスタTrを介して信号線24から書き込まれた映像信号が保持容量Csに保持され、保持された信号量に応じた電圧が画素電極29に供給される構成となっている。
また以上のような回路が形成された支持基板21上には、ここでの図示を省略した分離絶縁膜および配向膜が設けられている。
以上のような構成のパックプレーン20を作製する手順は、次のようである。
先ず、支持基板21上に画素駆動回路の一部を形成する。この場合、図6(b)の平面図におけるA−A’断面に対応する図7(1)に示すように、支持基板21上に、走査線とこれに接続されたゲート電極23g、共通配線およびこれに接続された下部電極25cを形成する。これらの配線および電極の形成は、例えば印刷法によって行う。次に、これらの配線および電極を覆う状態でゲート絶縁膜31を成膜する。
次に、図7(2)に示すように、支持基板21におけるゲート絶縁膜31上に、同一プロセスにて、画素電極29、ソース電極24sとこれに接続された信号線24、さらにはドレイン電極29dとこれに接続された画素電極29を形成する。これにより、下部電極25cと画素電極29との間にゲート絶縁膜31を狭持してなる容量素子Csが形成される。尚、これらの電極形成は、例えば印刷法を用いて行なわれる。
その後、図7(3)に示すように、例えば第2実施形態において図4(1)〜図4(4)を用いて説明した手順により、印刷版1の撥液面A上に混合インク層3’からなるインクパターン3a’を形成したものを容易する。ここでは、第2実施形態と同様に、有機半導体層3-1間に有機層3-2が挟持されたインクパターン3a’を印刷版1の撥液面A上に設けた構成を示している。
そして、支持基板21におけるソース電極24s、ドレイン電極29d、信号線24、および画素電極29の形成面側に、インクパターン3a’が形成された印刷版1を対向配置する。この際、インクパターン3a’の形成面側を支持基板21側に向けて印刷版1を配置する。また、支持基板21上のソース電極24sおよびドレイン電極29dに対して、インクパターン3a’が対向配置されるように、支持基板21と印刷版1とを位置合わせする。
この状態で、支持基板21と印刷版1とを押し圧し、インクパターン3a’を基板21側のソース電極24sからドレイン電極29dにわたる部分に密着させる。
次いで、図7(4)に示すように、支持基板21側から印刷版1を引き剥がす。これにより、支持基板21側における各ソース電極24s−ドレイン電極29d間に、印刷版1側からインクパターン3a’のうちの少なくとも最上層の有機半導体層3-1を転写印刷する。この際、有機層3-2は、図示したように支持基板21側に転写印刷されても良いし、印刷版1側に残されても良い。
以上のように支持基板21側に転写印刷されたインクパターン3a’部分が、有機半導体材料を含有する混合インク層(3’)で構成された有機半導体薄膜33となる。
以上により、支持基板21には、ゲート電極23g上にゲート絶縁膜31を介してソース電極24sおよびドレイン電極29dが設けられ、これらのソース電極24sおよびドレイン電極29d間に有機半導体薄膜33が形成された薄膜トランジスタTr’が設けられる。
次に、図7(5)に示すように、画素電極29の周縁と有機半導体薄膜33とを覆う形状の分離絶縁膜35を形成し、この分離絶縁膜35の開口窓35aの底部に画素電極29を広く露出させる。そして、分離絶縁膜35および画素電極29上を覆う状態で、支持基板21の上方に配向膜37を形成する。
以上により、液晶表示装置用のバックプレーン(薄膜半導体装置)20を完成させる。
次に、以上のようにして作製したバックプレーン(薄膜半導体装置)20を用いた液晶表示装置の製造方法を説明する。
先ず、図8に示すように、パックプレーン20に対向配置させる対向基板41を用意し、この一主面側に共通電極43および配向膜45をこの順に形成する。尚、対向基板41側における共通電極43の下部には、ここでの図示を省略したカラーフィルタや位相差層等、必要に応じた部材が設けられることとする。
次に、配向膜37−45同士を向かい合わせ、ここでの図示を省略したスペーサを挟持させた状態でパックプレーン20と対向基板41とを対向配置し、基板20−41間に液晶相LCを充填して周囲を封止することで、液晶表示装置50を完成させる。
以上のようなパックプレーン20の製造方法、およびこれに続けて行われる表示装置の製造方法によれば、所望の有機半導体材料を用いた転写印刷によって有機半導体薄膜33が形成される。この結果、特性の良好な有機半導体薄膜33が、転写印刷によるより簡便な手順で形成され、特性の良好なバックプレーン20や液晶表示装置50を低コストで作製することが可能になる。
尚、上述した実施形態においては、半導体薄膜19,19’,33のパターン形成に、印刷用凹版を用いて印刷版上の混合インク層3をインクパターン3aとし、これを基板10上に転写印刷した反転オフセット印刷を適用する方法を説明した。しかしながら本発明は、凸版印刷、凹版印刷、樹脂凸版印刷、など印刷版上の混合インクを、被印刷版としての基板上に転写印刷する方法に広く適用可能であり、同様の効果を得ることができる。
また上述した実施形態においては、ボトムゲート・ボトムコンタクト構造の有機薄膜トランジスタTr,Tr’の作製に本発明を適用した構成を説明した。しかしながら、本発明は、有機半導体薄膜を用いた薄膜半導体装置の製造比広く適用可能であり、例えば薄膜トランジスタであれば、他の層構成の有機薄膜トランジスタの作製にも適用可能である。さらに上述した実施形態においては、薄膜半導体装置のとして、有機薄膜トランジスタやこれを用いた液晶表示装置用のバックプレーンを例示した。しかしながら本発明の薄膜半導体装置は、有機半導体薄膜を用いた電子機器に広く適用可能である。例えば、表示装置であれば、有機電界発光素子を用いた有機ELディスプレイのようなフレキシブルディスプレイに適用できる。また表示装置以外にも、IDタグ、センサー等の電子機器への適用が可能であり、同様の効果を得ることができる。
第1実施形態の製造方法を説明するための断面工程図(その1)である。 第1実施形態の製造方法を説明するための断面工程図(その2)である。 第1実施形態中で例示した構成で作製した有機薄膜トランジスタのTFT特性を示す図である。 第2実施形態の製造方法を説明するための断面工程図(その1)である。 第2実施形態の製造方法を説明するための断面工程図(その2)である。 第3実施形態において薄膜半導体装置として製造する液晶表示装置のバックプレーンの構成図である。 第3実施形態の製造方法を説明するための断面工程図である。 第3実施形態で作製したバックプレーンを用いて構成される液晶表示装置の断面図である。
符号の説明
1…印刷版、3,3’…混合インク層、3-1…有機半導体層(有機半導体材料を含有する層)、3-2…有機層(有機材料を含有する層)、10…基板、13,23g…ゲート電極、15,31…ゲート絶縁膜、17s,24s…ソース電極、17d,29d…ドレイン電極、19,19’,33…有機半導体薄膜、20…バックプレーン(薄膜半導体装置)、21…支持基板、Tr,Tr’…薄膜トランジスタ(薄膜半導体装置)

Claims (12)

  1. 溶剤に溶解させたインクの状態において印刷版から基板への転写が不可能な有機半導体材料と共に転写が可能な有機材料を混合した混合インク層を、印刷版の一主面側に形成する工程と、
    前記印刷版側の混合インク層を基板上に転写することにより、当該基板上に当該混合インク層を転写してなる有機半導体薄膜を形成する工程とを含み、
    前記印刷版の表面エネルギーα、前記有機半導体材料の表面エネルギーβ1、および前記有機材料の表面エネルギーβ2の関係が、α>β1かつα<β2である
    有機半導体薄膜の形成方法。
  2. 前記印刷版上において、前記有機半導体材料を含有する層間に前記有機材料を含有する層を挟持した状態に前記混合インク層を相分離させ、
    前記基板上には、前記印刷版上に形成された前記混合インク層における少なくとも最上層の前記有機半導体材料を含有する層を転写する
    請求項1に記載の有機半導体薄膜の形成方法。
  3. 前記有機半導体材料および前記有機材料のうちの少なくとも一方が高分子材料である
    請求項に記載の有機半導体薄膜の形成方法。
  4. 前記転写が可能な有機材料は、半導体材料である
    請求項1〜のうちの1項に記載の有機半導体薄膜の形成方法。
  5. 前記転写が可能な有機材料は、絶縁性材料である
    請求項1〜のうちの1項に記載の有機半導体薄膜の形成方法。
  6. 前記有機半導体材料はTIPSペンタセンである
    請求項1〜3のうちの1項に記載の有機半導体薄膜の形成方法。
  7. 前記有機半導体薄膜を、薄膜トランジスタのソース電極−ドレイン電極間にわたって形成する
    請求項1〜3のうちのいずれか1項に記載の有機半導体薄膜の形成方法。
  8. 溶剤に溶解させたインクの状態において印刷版から基板への転写が不可能な有機半導体材料と共に転写が可能な有機材料を混合した混合インク層を、印刷版の一主面側に形成する工程と、
    前記印刷版側の混合インク層を基板上に転写することにより、当該基板上に当該混合インク層を転写してなる有機半導体薄膜を形成する工程とを含み、
    前記印刷版の表面エネルギーα、前記有機半導体材料の表面エネルギーβ1、および前記有機材料の表面エネルギーβ2の関係が、α>β1かつα<β2である
    薄膜半導体装置の製造方法。
  9. 前記印刷版上において、前記有機半導体材料を含有する層間に前記有機材料を含有する層を挟持した状態に前記混合インク層を相分離させ、
    前記基板上には、前記印刷版上に形成された前記混合インク層における少なくとも最上層の前記有機半導体材料を含有する層を転写する
    請求項8に記載の有機半導体薄膜の形成方法。
  10. 前記基板上にはソース電極とドレイン電極とが形成されており、前記有機半導体薄膜は当該ソース電極−ドレイン電極間にわたる基板上に転写される
    請求項8または9に記載の薄膜半導体装置の製造方法。
  11. 前記基板の表面側には、ゲート電極を介してゲート絶縁膜が形成されており、当該ゲート絶縁膜上に前記ソース電極とドレイン電極とが形成されている
    請求項10に記載の薄膜半導体装置の製造方法。
  12. 前記有機半導体材料はTIPSペンタセンである
    請求項8に記載の薄膜半導体装置の製造方法。
JP2008195958A 2008-07-30 2008-07-30 有機半導体薄膜の形成方法および薄膜半導体装置の製造方法 Expired - Fee Related JP4552160B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008195958A JP4552160B2 (ja) 2008-07-30 2008-07-30 有機半導体薄膜の形成方法および薄膜半導体装置の製造方法
US12/508,007 US8222096B2 (en) 2008-07-30 2009-07-23 Method for forming organic semiconductor thin film and method of manufacturing thin-film semiconductor device
CN2009101636013A CN101640252B (zh) 2008-07-30 2009-07-30 有机半导体薄膜的形成方法及薄膜半导体装置的制造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008195958A JP4552160B2 (ja) 2008-07-30 2008-07-30 有機半導体薄膜の形成方法および薄膜半導体装置の製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2010034367A JP2010034367A (ja) 2010-02-12
JP4552160B2 true JP4552160B2 (ja) 2010-09-29

Family

ID=41608773

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008195958A Expired - Fee Related JP4552160B2 (ja) 2008-07-30 2008-07-30 有機半導体薄膜の形成方法および薄膜半導体装置の製造方法

Country Status (3)

Country Link
US (1) US8222096B2 (ja)
JP (1) JP4552160B2 (ja)
CN (1) CN101640252B (ja)

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4432993B2 (ja) * 2007-04-16 2010-03-17 ソニー株式会社 パターン形成方法および半導体装置の製造方法
TW201117446A (en) * 2009-11-12 2011-05-16 Nat Univ Tsing Hua Method for forming organic layer of electronic device by contact printing
TW201119110A (en) * 2009-11-18 2011-06-01 Metal Ind Res & Dev Ct Fabrication method of organic thin-film transistors
US8773627B2 (en) * 2011-10-07 2014-07-08 Japan Display West Inc. Liquid crystal display device and method for manufacturing liquid crystal display device
DE102012024599B4 (de) * 2011-12-20 2020-07-09 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Anordnung mit optisch transparenten und funktionalen Bauelementen
US10137299B2 (en) 2013-09-27 2018-11-27 The Regents Of The University Of California Engaging the cervical spinal cord circuitry to re-enable volitional control of hand function in tetraplegic subjects
CN104218152A (zh) * 2014-09-01 2014-12-17 南京邮电大学 一种有机薄膜晶体管的制备方法
CN106183382B (zh) * 2016-07-10 2018-12-11 复旦大学 一种基于可热降解柔性印章的薄膜转印装置与方法
EP3974021B1 (en) 2017-06-30 2023-06-14 ONWARD Medical N.V. A system for neuromodulation
WO2019110400A1 (en) 2017-12-05 2019-06-13 Ecole Polytechnique Federale De Lausanne (Epfl) A system for planning and/or providing neuromodulation
CN109060922B (zh) * 2018-08-03 2020-06-05 京东方科技集团股份有限公司 一种薄膜晶体管及其制备方法、传感器
ES2911465T3 (es) 2018-11-13 2022-05-19 Onward Medical N V Sistema de control para la reconstrucción y/o restauración del movimiento de un paciente
EP3695878B1 (en) 2019-02-12 2023-04-19 ONWARD Medical N.V. A system for neuromodulation
EP3827871A1 (en) 2019-11-27 2021-06-02 ONWARD Medical B.V. Neuromodulation system
CN111180581A (zh) * 2019-12-30 2020-05-19 电子科技大学 一种基于有机薄膜晶体管的湿度传感器及其制备方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006352143A (ja) * 2005-06-18 2006-12-28 Samsung Sdi Co Ltd 有機半導体のパターニング方法
JP2007016227A (ja) * 2005-06-10 2007-01-25 Sumitomo Chemical Co Ltd 芳香族グラフト重合体
JP2009135467A (ja) * 2007-10-31 2009-06-18 Sumitomo Chemical Co Ltd 薄膜能動素子群、薄膜能動素子アレイ、有機発光装置、表示装置および薄膜能動素子群の製造方法

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
ATE475971T1 (de) * 2003-11-28 2010-08-15 Merck Patent Gmbh Organische halbleiterschicht-formulierungen mit polyacenen und organischen binderpolymeren
JP2007067390A (ja) 2005-08-05 2007-03-15 Sony Corp 半導体装置の製造方法および半導体装置の製造装置
JP2007150246A (ja) * 2005-11-02 2007-06-14 Ricoh Co Ltd 有機トランジスタ及び表示装置
JP2007311377A (ja) * 2006-05-16 2007-11-29 Sony Corp 薄膜トランジスタの製造方法および薄膜トランジスタならびに表示装置
TWI323039B (en) * 2006-10-24 2010-04-01 Micro-casting lithography and method for fabrication of organic thin film transistor

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007016227A (ja) * 2005-06-10 2007-01-25 Sumitomo Chemical Co Ltd 芳香族グラフト重合体
JP2006352143A (ja) * 2005-06-18 2006-12-28 Samsung Sdi Co Ltd 有機半導体のパターニング方法
JP2009135467A (ja) * 2007-10-31 2009-06-18 Sumitomo Chemical Co Ltd 薄膜能動素子群、薄膜能動素子アレイ、有機発光装置、表示装置および薄膜能動素子群の製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
US20100029040A1 (en) 2010-02-04
CN101640252B (zh) 2011-11-09
JP2010034367A (ja) 2010-02-12
CN101640252A (zh) 2010-02-03
US8222096B2 (en) 2012-07-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4552160B2 (ja) 有機半導体薄膜の形成方法および薄膜半導体装置の製造方法
JP4181154B2 (ja) 有機薄膜トランジスタを備える有機電界発光表示装置及びその製造方法
TW561638B (en) Fabrication of organic light emitting diode using selective printing of conducting polymer layers
JP2008042043A (ja) 表示装置
JP2007311377A (ja) 薄膜トランジスタの製造方法および薄膜トランジスタならびに表示装置
JP2008300612A (ja) 表示装置及びその製造方法
US20070058101A1 (en) Liquid crystal display device
TWI352251B (en) Flat panel display
US7858513B2 (en) Fabrication of self-aligned via holes in polymer thin films
JP4389978B2 (ja) 表示装置および表示装置の製造方法
US20140057433A1 (en) Pixel capacitors
JPWO2008075625A1 (ja) 半導体デバイス
JP2005079549A (ja) 有機薄膜トランジスタ
JP2013207071A (ja) 薄膜トランジスタとその製造方法及び表示装置
JP2007324510A (ja) 半導体装置の製造方法
JP5262966B2 (ja) 表示装置および表示装置の製造方法
JP2018041759A (ja) 薄膜トランジスタおよび画像表示装置
JP5135891B2 (ja) 有機tft素子及びこれを用いた有機elディスプレイパネル
JP5181515B2 (ja) パターン形成方法および電子素子の製造方法
JP4882873B2 (ja) 有機elデバイス及び有機elディスプレイパネル
JP5440031B2 (ja) 薄膜トランジスタアレイの製造方法
JP2016163029A (ja) 薄膜トランジスタ、薄膜トランジスタアレイの製造方法及び画素表示装置
JP6331644B2 (ja) 薄膜トランジスタアレイおよびその製造方法
JP5757142B2 (ja) 有機半導体素子の製造方法
CN102124568B (zh) 包括静电感应晶体管和薄膜晶体管的电子器件、电子器件制造方法和显示面板

Legal Events

Date Code Title Description
RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20091109

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100324

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100524

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100617

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100630

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130723

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130723

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees