JP6331644B2 - 薄膜トランジスタアレイおよびその製造方法 - Google Patents
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Description
本発明の第1の実施形態に係る薄膜トランジスタアレイ100および薄膜トランジスタアレイ100を構成する薄膜トランジスタ101を図1〜3に示す。図1は、説明のため層間絶縁膜11と上部画素電極13とを省略して表した薄膜トランジスタアレイ100の平面図である。図2および3は、同様に層間絶縁膜11と上部画素電極13を省略した、薄膜トランジスタアレイ100の1画素を構成する薄膜トランジスタ101の平面図および断面図である。図2および3に示すように、本実施形態に係る薄膜トランジスタ101は、絶縁基板1上に、ゲート電極2およびゲート電極2に接続されたゲート配線3、ならびに、キャパシタ電極14およびキャパシタ電極14に接続されたキャパシタ配線15が積層される。その上には、ゲート絶縁膜4が積層され、ゲート絶縁膜4の上層には、上から見てゲート電極2と重なる領域に互いに間隙を有するソース電極5およびドレイン電極7が積層される。ドレイン電極7には、上から見てキャパシタ電極14と重なっている画素電極10が接続される。ソース電極5には、ソース配線6が接続される。画素電極10および/またはソース配線6の上には、後述する半導体層8’を形成する材料を弾く性質を有する撥液性絶縁膜16パターンが積層される。上から見て、ソース電極5とドレイン電極7との間隙に半導体パターン8が積層され、半導体パターン8を覆うように保護層9が積層される。また、図1に示すように、薄膜トランジスタアレイ100では、撥液性絶縁膜16と保護層9が複数の薄膜トランジスタ101に渡ってストライプ形状に形成される。
次に、薄膜トランジスタアレイ100の製造方法を説明する。説明のために、図4Aおよび4Bには、1画素分の薄膜トランジスタ101を示す。
次に、本発明の第2の実施形態に係る薄膜トランジスタアレイ200および薄膜トランジスタアレイ200を構成する薄膜トランジスタ201を図5および6に示す。図5および6は、説明のために層間絶縁膜11と上部画素電極13とを省略して表した、薄膜トランジスタアレイ200およびその1画素部分である薄膜トランジスタ201を示す平面図である。薄膜トランジスタアレイ200は、薄膜トランジスタアレイ101とほぼ同様であるが、撥液性絶縁膜16パターンの形成場所が異なる。すなわち、撥液性絶縁膜16パターンがソース配線6に平行なストライプ形状をしており、複数画素にまたがるように形成されている。これにより、半導体層8を’ストライプ形状に印刷しても、撥液性絶縁膜16上には半導体層8’が弾かれて形成されず、各画素に独立した半導体パターン8を形成することができる。そのため、各画素に独立した半導体パターンの形成および位置合せが容易となる。単純であるストライプ形状のパターンニングは容易であり、ゲート配線3に平行な方向に位置ずれしても影響がないので位置合せも容易である。
次に、本発明の第3および4の実施形態に係る薄膜トランジスタアレイ300および400とそれらを構成する薄膜トランジスタ301および401を図7〜10に示す。図7〜10も、説明のために層間絶縁膜11と上部画素電極13と省略して表す。図7および8は、薄膜トランジスタアレイ300およびその1画素部分の薄膜トランジスタ301を示す平面図である。また、図9および10は、薄膜トランジスタアレイ400およびその1画素部分の薄膜トランジスタ401を示す平面図である。薄膜トランジスタ301および薄膜トランジスタ401は、薄膜トランジスタ201とほぼ同様であるが、画素電極10の形状が異なる。また、薄膜トランジスタ401では、ソース電極5の一部およびドレイン電極7がL字型形状をしている。これらの形状に限定される必要はないが、ドレイン電極7と画素電極10がそれぞれゲート電極2およびキャパシタ電極14に重なっていない部分は半導体パターン8に重なっていないことが望ましい。ゲート電極およびキャパシタ電極の電圧比によるオフ時に流れる電流の制御が不可能となり、オンオフ比の低下につながるためである。
本発明の実施例1について、図1を用いて説明する。
本発明の実施例2について、図5を用いて説明する。
絶縁基板1としてポリエチレンナフタレート(PEN)フィルムを用いた。PEN基板上に銀インクを転写印刷し、180℃で1時間乾燥させ、膜厚100nmのゲート電極2、ゲート配線3、キャパシタ電極14、キャパシタ配線15を得た。
2 ゲート電極
3 ゲート配線
4 ゲート絶縁膜
5 ソース電極
6 ソース配線
7 ドレイン電極
8 半導体パターン
8’ 半導体層
9 保護層
10 画素電極
11 層間絶縁膜
12 層間絶縁膜の穴
13 上部画素電極
14 キャパシタ電極
15 キャパシタ配線
16 撥液性絶縁膜
100、200、300、400 薄膜トランジスタアレイ
101、201、301、401 薄膜トランジスタ
Claims (6)
- 絶縁基板と、キャパシタ電極と、ソース電極と、前記ソース電極と所定の間隙を有して形成されたドレイン電極と、前記ドレイン電極に接続され、平面視において前記キャパシタ電極と重なる画素電極と、少なくとも前記ソース電極と前記ドレイン電極との前記間隙に形成された半導体パターンとを有する複数の薄膜トランジスタと、
前記キャパシタ電極が接続される複数のキャパシタ配線と、
前記キャパシタ配線と直交する方向に延伸し、前記ソース電極が接続される複数のソース配線とを含む薄膜トランジスタアレイであって、
前記キャパシタ電極および前記画素電極は平面視において少なくとも、前記半導体パターンと前記キャパシタ配線との間の領域、および前記半導体パターンと隣接する前記薄膜トランジスタとの間の領域に形成され、
前記半導体パターンの材料を弾く材料を含み、前記半導体パターンを挟むとともに、前記半導体パターンと前記キャパシタ配線との間の領域、または前記半導体パターンと隣接する前記薄膜トランジスタとの間の領域において前記キャパシタ電極および前記画素電極に重なるようにストライプ形状に形成された複数の撥液性絶縁層パターンとを備える、薄膜トランジスタアレイ。 - 前記撥液性絶縁層パターンが前記ソース配線に直交するストライプ形状である、請求項1記載の薄膜トランジスタアレイ。
- 前記撥液性絶縁層パターンが前記ソース配線に平行なストライプ形状である、請求項1記載の薄膜トランジスタアレイ。
- 前記半導体パターン上に保護層を有し、前記保護層が、前記撥液性絶縁層パターンと直交する方向で複数の前記半導体パターンにまたがるストライプ形状である、請求項1〜3のいずれかに記載の薄膜トランジスタアレイ。
- 前記画素電極上に開口を有する層間絶縁膜と、前記層間絶縁膜上に前記開口を介して前記画素電極に接続された上部画素電極とをさらに有する、請求項1〜4のいずれかに記載の薄膜トランジスタアレイ。
- 請求項1〜5のいずれかに記載の薄膜トランジスタアレイの製造方法であって、
絶縁基板上に、キャパシタ電極、ソース電極、ソース配線、ドレイン電極および画素電極を形成する工程と、
前記画素電極および/またはソース配線の上に撥液性絶縁層パターンを形成する工程と、
半導体パターンの材料を前記撥液性絶縁層パターンに直交するストライプ形状に印刷する工程とを含み、
前記半導体パターンの材料を印刷する工程において、前記半導体パターンの材料を前記撥液性絶縁層パターンに弾かせることによって、前記各撥液性絶縁層パターン間に独立し、前記キャパシタ電極および前記画素電極と重ならない前記半導体パターンを形成する、薄膜トランジスタアレイの製造方法。
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