JP4551204B2 - インピーダンス測定装置 - Google Patents

インピーダンス測定装置 Download PDF

Info

Publication number
JP4551204B2
JP4551204B2 JP2004358842A JP2004358842A JP4551204B2 JP 4551204 B2 JP4551204 B2 JP 4551204B2 JP 2004358842 A JP2004358842 A JP 2004358842A JP 2004358842 A JP2004358842 A JP 2004358842A JP 4551204 B2 JP4551204 B2 JP 4551204B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
capacitor
impedance
voltage
charge
measuring apparatus
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2004358842A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2006162572A5 (ja
JP2006162572A (ja
Inventor
友厚 棚橋
義郎 山羽
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Asahi Kasei EMD Corp
Original Assignee
Asahi Kasei EMD Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Asahi Kasei EMD Corp filed Critical Asahi Kasei EMD Corp
Priority to JP2004358842A priority Critical patent/JP4551204B2/ja
Publication of JP2006162572A publication Critical patent/JP2006162572A/ja
Publication of JP2006162572A5 publication Critical patent/JP2006162572A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4551204B2 publication Critical patent/JP4551204B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Description

本発明は、インピーダンス測定装置に関し、より詳細には、低容量のコンデンサを1つ設けることで広範囲のインピーダンスを高精度に測定できるようにしたインピーダンス測定装置に関する。
従来から、機器の使用環境における温度,湿度,風速等の変量を測定するインピーダンス測定装置については提案されている(例えば、特許文献1参照)。この種のインピーダンス測定装置において、低コストで高精度が維持できるようにすることが求められている。
図6は、従来のインピーダンス測定装置を説明するための構成図で、図中符号51はパルスカウンタ、52はCPU、53は湿度センサ、54はパルス発生装置、55a,55bはパルスカウンタ51のクロック信号を発生するためのオシレータ、56a,56bはアナログスイッチ、101,102はトランジスタ、202,203,204はコンデンサ、301はコンパレータを示している。
まず、CPU52からアナログスイッチ56aに2ビットの信号を出力して被測定対象コンデンサをコンデンサ202に決定し(“00”ならコンデンサ202、“01”ならコンデンサ203、“10”ならコンデンサ204、なお、コンデンサ202,203,204はそれぞれ9100F,22F,0.91μFである。)、また、アナログスイッチ56bに1ビットの信号を出力してカウンタクロックをオシレータ55aの出力に決定する(“0”なら標準クロックオシレータ55a、“1”なら高周波数オシレータ55b)。
CPU52からパルス発生装置54にパルス発生の命令を出力すると、トランジスタ101,102を介してb点にはAC電圧が印加される。それと同時に湿度センサ53,コンデンサ202にも印加される(湿度センサにDC電圧を数百ms以上連続して印加すると湿度センサを急速に素子劣化させることになるので、このようにAC電圧を印加している。)。
b点を0Vに切換えた後、CPU52からパルス発生を止める信号及びカウンタ51に対してスタート信号を出力する。すると、トランジスタ101,102は共にオフし、湿度センサ53とコンデンサ202の直列回路に+1Vが印加される状態となり、コンデンサ202は充電を始め、Vrefと同電位になるとコンパレータ301より“H”の信号がカウンタ51に出力され(c点にはVrefに相当する電圧が抵抗分圧により発生している)、このカウンタ51の動作がストップする。以上の動作と同時にCPU52内部のカウンタによってカウンタ51に対してスタート信号を出力した後の時間をカウンタしている。そして、そのカウント値をCPU52に送り、コンデンサ202の充電電圧がVrefに達するまでの時間tを測定する。
ここで、この充電時間tが10mから100μの範囲内であれば、湿度センサ53の抵抗値及び実際の湿度の値は、時間tを変数とした、ある一次関数R(t)=αt+β(Rは湿度センサの抵抗値、α,βは定数)によって求めることができる。
また、実際の湿度は、R(t)を変数としたある関数F(R(t))で求められる。この処理はCPU52内部で行われる。
上述した測定手法は、環境条件の湿度が中湿度域(おおよそ20%〜60%)であれば測定完了となるが、湿度が約20%以下では湿度センサ53の抵抗値が数10MΩ、GΩのオーダとなるので充電時間が10m以上となり、湿度センサ53にはDC電圧を連続的に数百m以上印加すると急速な劣化が起こることから、CPU52内のカウンタで計測した充電時間が10m以上になった瞬間にCPU52からパルス発生装置54にパルス発生信号、カウンタ51にカウントストップ信号、コンデンサ選択信号“01”がアナログスイッチ56aに送られ、コンデンサ203(22F)を選択する。
その後、上述した場合と同様にコンデンサ203の充電時間を求め、湿度センサ53の抵抗値及び実際の湿度を求める。湿度が約60%以上であれば湿度センサ53の抵抗値が数KΩ,数10KΩのオーダとなり、充電時間が100μ以下となるので、カウンタ51のカウント値の精度に影響してしまうことから、CPU52からパルス発生装置54にパルス発生信号がアナログスイッチ56aに容量選択信号“10”が送られ、容量204(0.91μF)を選択する。
その後、コンデンサ204の充電時間を求め、湿度センサ53の抵抗値及び実際の湿度を求める。また、容量204(0.91μF)の充電時間が100μ以下であるならば測定精度を向上させるために、アナログスイッチ56bに1ビットのカウンタクロック選択信号“1”を出力してクロック周波数を上げ、再度コンデンサ204の充電時間を求め、湿度センサ53の抵抗値及び実際の湿度を求める。
このような従来技術によれば、測定対象とする湿度範囲を少なくとも3種類の範囲に分割するとともに、湿度センサと容量の組合せもこの分割数に合せて備え、湿度域にあわせて組合せを切り換えることによって測定可能な湿度範囲が広がる。
また、コンデンサを中容量→小容量→大容量と切り換えて行くので、一般的には短時間で測定が完了でき、湿度センサの素子劣化を避け、測定精度を維持できる。
なお、本発明に係るその他の従来技術を記載したものとしては、特許文献2乃至6がある。
特開平6−221882号公報 特開平5−149905号公報 特開平7−12768号公報 特開平7−270355号公報 特開平7−311169号公報 特開2004−309501号公報
しかしながら、低コストで高精度が維持できるインピーダンス測定装置を実現するためには、なお一層の改良の余地が残されている。つまり、上述したような広い範囲で高精度にインピーダンスを測定する従来技術としては、例えば、インピーダンスの大きさによって容量が異なる複数のコンデンサを切り替える手法(特許文献1参照)があるが、このような従来手法では、低インピーダンスを測定するために高容量のコンデンサが必要になり、結果として低コストで測定装置を実現できないという問題があった。
また、ルックアップテーブルを用いた検索手段としては、例えば、上述したような特許文献1に示すような方法があるが、この従来方法では、測定精度を高くしようとすると記憶装置の容量が大きくなるため、コストが高くなるという問題があった。
本発明は、このような問題に鑑みてなされたもので、その目的とするところは、低容量のコンデンサを1つ設けることで広範囲のインピーダンスを高精度に測定できるようにしたインピーダンス測定装置を提供することにある。
本発明は、このような目的を達成するためになされたもので、請求項1に記載の発明は、被測定対象である、所定のインピーダンスを持ったインピーダンス素子と、該インピーダンス素子に直列接続されたコンデンサと、前記インピーダンス素子と前記コンデンサからなる回路に負の一定直流電圧を印加して前記コンデンサを充電する第1の直流電圧発生手段と、前記コンデンサの端子電圧が正のしきい値電圧に達すると正の一定直流電圧を印加して前記コンデンサを放電する第2の直流電圧発生手段と、前記コンデンサの端子電圧が0ボルトに達すると、前記第1の直流電圧発生手段により再び負の一定直流電圧を印加して前記コンデンサを充電し、この充放電時間を測定するカウント手段と、該カウント手段による測定値から前記インピーダンス素子のインピーダンスを演算する演算手段とを備え、充放電回数を可変にすることで、広い範囲のインピーダンスを測定可能にし、前記インピーダンス素子を破壊することなくインピーダンスを測定するために、測定時に前記インピーダンス素子を流れる直流電流を平均すると0になるようにしたことを特徴とする。
また、請求項に記載の発明は、請求項1に記載の発明において、前記コンデンサは、低容量のコンデンサを1つ設けたものであることを特徴とする。
また、請求項に記載の発明は、請求項1又は2に記載の発明において、前記カウント手段が、測定開始時からの充放電の回数をカウントする充放電カウンタ及び測定開始時からのクロックをカウントする測定用カウンタからなり、前記測定用カウンタの値を前記充放電カウンタの値で割った値から、前記演算手段を構成する記憶手段に格納されたルックアップテーブルを検索することを特徴とする。
また、請求項に記載の発明は、請求項に記載の発明において、離散的な前記ルックアップテーブルの各点を線形演算で近似することを特徴とする。
また、請求項に記載の発明は、請求項1乃至のいずれかに記載の発明において、前記カウント手段の前段に、前記コンデンサの充電電圧値と閾値電圧とを比較する比較手段を設けたことを特徴とする。
また、請求項に記載の発明は、請求項に記載の発明において、前記比較手段の閾値電圧の代わりに、前記第2の直流電源からの正の一定直流電圧を用いたことを特徴とする。
このように、本発明のインピーダンス測定装置は、あるインピーダンスを持ったインピーダンス素子とコンデンサを接続し、この回路に負の一定直流電圧を印加してコンデンサを充電し、コンデンサの端子電圧が正のしきい値電圧に達すると正の一定直流電圧を印加してコンデンサを放電し、コンデンサの端子電圧が0ボルトに達すると再び負の一定直流電圧を印加してコンデンサを充電し、この充放電時間をカウント手段で測定し、この測定値から演算手段によってインピーダンス素子のインピーダンスを求めるものである。
インピーダンスを持ったインピーダンス素子に正または負の直流電圧を印加してコンデンサを充放電し、インピーダンス素子のインピーダンスが大きいときは、インピーダンス素子を流れる電流が微少であるため、コンデンサの充放電時間が大きくなる。このとき、測定用カウンタで1回の充放電時間を測定する。インピーダンスが小さいときは、インピーダンス素子を流れる電流が増大してコンデンサの1回の充放電時間が短くなるため、カウンタによる測定精度が悪くなる。このため、インピーダンスが小さいときは、充放電時間の合計が所定のカウンタ値以上(例えば、32カウント以上)になるまで充放電を繰り返し、この充放電時間を測定用カウンタで測定することで高精度に測定できる。
また、充放電回数を可変にすることで、広い範囲のインピーダンスを高精度に測定することが出来る。例えば、数kΩから数100MEGΩまで指数関数的にインピーダンスが変化するインピーダンス素子であっても高精度に測定することが出来る。
本発明によれば、被測定対象である、所定のインピーダンスを持ったインピーダンス素子と、インピーダンス素子に直列接続されたコンデンサと、インピーダンス素子とコンデンサからなる回路に負の一定直流電圧を印加してコンデンサを充電する第1の直流電圧発生手段と、コンデンサの端子電圧が正のしきい値電圧に達すると正の一定直流電圧を印加して前記コンデンサを放電する第2の直流電圧発生手段と、コンデンサの端子電圧が0ボルトに達すると、第1の直流電圧発生手段により再び負の一定直流電圧を印加してコンデンサを充電し、この充放電時間を測定するカウント手段と、カウント手段による測定値からインピーダンス素子のインピーダンスを演算する演算手段とを備え、充放電回数を可変にすることで、広い範囲のインピーダンスを測定可能にし、インピーダンス素子を破壊することなくインピーダンスを測定するために、測定時にインピーダンス素子を流れる直流電流を平均すると0になるようにしたので、低容量のコンデンサを1つ設けることで広範囲のインピーダンスを高精度に測定できるようにしたインピーダンス測定装置を実現することができる。
以下、図面を参照して本発明の実施例について説明する。
図1は、本発明のインピーダンス測定装置の実施例1を説明するための構成図、図2は、図1における回路構成の各信号波形を示す図である。図中符号1は被測定対象のインピーダンス素子、2はコンデンサ、3は負の一定直流電圧を発生する第1の直流電源、4は正の一定直流電圧を発生する第2の直流電源、5は充放電回数カウンタ、6はコントローラ、7は記憶装置(ROM)、8は測定用カウンタ、9は測定用クロック発生装置、10はオペアンプ、11〜16は第1〜第6のアナログスイッチSW1〜SW6、17はコンパレータ、18は閾値電圧発生電源、20は演算装置を示している。
本発明のインピーダンス装置は、所定のインピーダンスを持ったインピーダンス素子1と、このインピーダンス素子1に直列接続されたコンデンサ2と、インピーダンス素子1とコンデンサ2からなる回路に負の一定直流電圧を印加してコンデンサ2を充電する第1の直流電源3と、コンデンサ2の端子電圧が正のしきい値電圧に達すると正の一定直流電圧を印加してコンデンサを放電する第2の直流電源4と、コンデンサ2の端子電圧が0ボルトに達すると、第1の直流電源3により再び負の一定直流電圧を印加してコンデンサ2を充電し、この充放電時間を測定するカウンタ5と、このカウンタ5による測定値からインピーダンス素子1のインピーダンスを演算する演算装置20とから構成されている。
また、演算装置20は、充放電回数カウンタ5と接続されているコントローラ6と、このコントローラ6と接続されている記憶装置7と、コントローラ6と接続されている測定用カウンタ8と、この測定用カウンタ8と接続されている測定用クロック発生装置9とから構成されている。また、アナログスイッチSW1〜SW6は、コントローラ6で制御されている。
図3は、実施例1のインピーダンス測定装置の動作を説明するためのフローチャートを示す図である。
まず、コントローラ6からアナログスイッチSW1〜SW6に制御信号を出力し、SW1,SW2,及びSW6をOFFし、SW3,SW4,及びSW5をONする。同時に充放電カウンタ値及び測定用カウンタ値を0に設定する(S1)。このとき回路は非測定状態である。その後、回路が測定状態に遷移し、コントローラ6がSW3及びSW4をOFFし、SW1をONすると(S2)、図2に示すように、A点に負の直流電圧が印加されるため測定対象のインピーダンス素子1に正の一定直流電流が流れ、コンデンサ2が充電されていく(S3)。このとき、測定用カウンタ8は、コンデンサ2の充放電の時定数より速いクロック(測定用クロック発生装置9)でカウントされる。
そして、コンデンサ2の充電電圧値(C点)がコンパレータ17のマイナス入力側(B点)に与えられている閾値電圧に等しくなった瞬間、コンパレータ17から“H”信号が出力され(S4)、コントローラ6がSW1及びSW5をOFFし、SW2及びSW6をONする(S5)。すると、A点には正の直流電圧が印加されるため測定対象のインピーダンス素子1に負の一定直流電流が流れ、コンデンサ2が放電されていく(S6)。そして、コンデンサ2の充電電圧値(C点)がコンパレータ17のマイナス入力側(B点)に与えられている0Voltになった瞬間、コンパレータ17から“L”信号が出力され(S7)、充放電カウンタ値に1を加算する(S8)。
ここで、測定用カウンタ値が閾値(例えば32)より小さい場合(S9)、コントローラ6はSW2及びSW6をOFFし、SW1及びSW5をONし、再びコンデンサ2の充放電動作を繰り返す(S10)。測定用カウンタ値が閾値(例えば32)より大きい場合(S9)、コントローラ6はSW1,SW2及びSW6をOFFし、SW3,SW4及びSW5をONし(S11)、コントローラ6は充放電カウンタ値、測定用カウンタ値及び図4に示すような記憶装置7に格納されたルックアップテーブルを参照して線形演算でインピーダンスを求める(S12)。
具体的には、まず、(測定用カウンタ値÷充放電カウンタ値)を記憶装置7のルックアップテーブルの01番地と比較し、(測定用カウンタ値÷充放電カウンタ値)>(01番地のデータ)であれば02番地のデータと比較する。このようにして、ルックアップテーブルのアドレスを変えながら比較し、アドレスP番地で(測定用カウンタ値÷充放電カウンタ値)<(ルックアップテーブルのデータ)となると、コントローラ6はアドレス(P−1)番地とP番地のデータを線形補間してインピーダンスを求める。
図5は、本発明のインピーダンス測定装置の実施例2を説明するための構成図で、図1と同じ機能を有する構成要素については同一の符号を付してある。図1に示した実施例1との相違は、コンパレータ17の閾値電圧であるB点が、SW5を介して正の直流電圧を発生する第2の直流電源4に接続されている点である。なお、信号波形図,フローチャート及び記録装置に格納されるルックアップテーブルは、実施例1と同様である。
本実施例2において、SW5は第2の直流電源4に接続されており、コンパレータ17の閾値電圧発生電源18をなくして、測定対象のインピーダンス素子1に印加する正の一定直流電圧を用いていることが特徴である。このため、実施例1よりもさらに低コストでインピーダンス測定装置を提供することができる。
本発明のインピーダンス測定装置の実施例1を説明するための構成図である。 図1における回路構成の各信号波形を示す図である。 実施例1のインピーダンス測定装置の動作を説明するためのフローチャートを示す図である。 記憶装置に格納されたルックアップテーブルを示す図である。 本発明のインピーダンス測定装置の実施例2を説明するための構成図である。 従来のインピーダンス測定装置を説明するための構成図である。
符号の説明
1 被測定対象のインピーダンス素子
2 コンデンサ
3 負の一定直流電圧を発生する第1の直流電源
4 正の一定直流電圧を発生する第2の直流電源
5 充放電回数カウンタ
6 コントローラ
7 記憶装置(ROM)
8 測定用カウンタ
9 測定用クロック発生装置
10 オペアンプ
11〜16 第1〜第6のアナログスイッチSW1〜SW6
17 コンパレータ
18 閾値電圧発生電源
20 演算装置

Claims (6)

  1. 被測定対象である、所定のインピーダンスを持ったインピーダンス素子と、該インピーダンス素子に直列接続されたコンデンサと、前記インピーダンス素子と前記コンデンサからなる回路に負の一定直流電圧を印加して前記コンデンサを充電する第1の直流電圧発生手段と、前記コンデンサの端子電圧が正のしきい値電圧に達すると正の一定直流電圧を印加して前記コンデンサを放電する第2の直流電圧発生手段と、前記コンデンサの端子電圧が0ボルトに達すると、前記第1の直流電圧発生手段により再び負の一定直流電圧を印加して前記コンデンサを充電し、この充放電時間を測定するカウント手段と、該カウント手段による測定値から前記インピーダンス素子のインピーダンスを演算する演算手段とを備え、充放電回数を可変にすることで、広い範囲のインピーダンスを測定可能にし、
    前記インピーダンス素子を破壊することなくインピーダンスを測定するために、測定時に前記インピーダンス素子を流れる直流電流を平均すると0になるようにしたことを特徴とするインピーダンス測定装置。
  2. 前記コンデンサは、低容量のコンデンサを1つ設けたものであることを特徴とする請求項に記載のインピーダンス測定装置。
  3. 前記カウント手段が、測定開始時からの充放電の回数をカウントする充放電カウンタ及び測定開始時からのクロックをカウントする測定用カウンタからなり、前記測定用カウンタの値を前記充放電カウンタの値で割った値から、前記演算手段を構成する記憶手段に格納されたルックアップテーブルを検索することを特徴とする請求項1又は2に記載のインピーダンス測定装置。
  4. 離散的な前記ルックアップテーブルの各点を線形演算で近似することを特徴とする請求項に記載のインピーダンス測定装置。
  5. 前記カウント手段の前段に、前記コンデンサの充電電圧値と閾値電圧とを比較する比較手段を設けたことを特徴とする請求項1乃至のいずれかに記載のインピーダンス測定装置。
  6. 前記比較手段の閾値電圧の代わりに、前記第2の直流電源からの正の一定直流電圧を用いたことを特徴とする請求項に記載のインピーダンス測定装置。
JP2004358842A 2004-12-10 2004-12-10 インピーダンス測定装置 Active JP4551204B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004358842A JP4551204B2 (ja) 2004-12-10 2004-12-10 インピーダンス測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004358842A JP4551204B2 (ja) 2004-12-10 2004-12-10 インピーダンス測定装置

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2006162572A JP2006162572A (ja) 2006-06-22
JP2006162572A5 JP2006162572A5 (ja) 2008-01-17
JP4551204B2 true JP4551204B2 (ja) 2010-09-22

Family

ID=36664745

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004358842A Active JP4551204B2 (ja) 2004-12-10 2004-12-10 インピーダンス測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4551204B2 (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5697233B2 (ja) * 2010-09-16 2015-04-08 東日本旅客鉄道株式会社 環境情報計測装置、環境情報計測システム、及び環境情報計測方法
CN105277795B (zh) * 2015-10-10 2019-02-26 安徽天玄智能科技有限公司 一种接地阻抗监测采集分析仪
JP7325528B2 (ja) * 2019-11-08 2023-08-14 日立Astemo株式会社 湿度センサ診断装置

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62261968A (ja) * 1986-05-09 1987-11-14 Yokogawa Electric Corp 物理量測定回路
JPS63163179A (ja) * 1986-12-25 1988-07-06 Canon Inc 抵抗値測定回路
JPH05149905A (ja) * 1991-12-02 1993-06-15 Canon Inc 測定装置
JPH09193437A (ja) * 1995-11-16 1997-07-29 Fuji Photo Film Co Ltd サーマルヘッドの抵抗データ測定方法及び装置並びにこれを備えたサーマルプリンタ
JP2001153903A (ja) * 1999-11-30 2001-06-08 Hioki Ee Corp 抵抗測定方法およびその装置
JP2003083044A (ja) * 2001-09-07 2003-03-19 Honda Motor Co Ltd 吸着材の劣化判定装置
JP2004125460A (ja) * 2002-09-30 2004-04-22 Nitto Denko Corp シート抵抗値測定機器および測定方法

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62261968A (ja) * 1986-05-09 1987-11-14 Yokogawa Electric Corp 物理量測定回路
JPS63163179A (ja) * 1986-12-25 1988-07-06 Canon Inc 抵抗値測定回路
JPH05149905A (ja) * 1991-12-02 1993-06-15 Canon Inc 測定装置
JPH09193437A (ja) * 1995-11-16 1997-07-29 Fuji Photo Film Co Ltd サーマルヘッドの抵抗データ測定方法及び装置並びにこれを備えたサーマルプリンタ
JP2001153903A (ja) * 1999-11-30 2001-06-08 Hioki Ee Corp 抵抗測定方法およびその装置
JP2003083044A (ja) * 2001-09-07 2003-03-19 Honda Motor Co Ltd 吸着材の劣化判定装置
JP2004125460A (ja) * 2002-09-30 2004-04-22 Nitto Denko Corp シート抵抗値測定機器および測定方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2006162572A (ja) 2006-06-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5841284A (en) Apparatus for monitoring power of battery to supply electric power to load
JP5495356B2 (ja) 物理量センサ
JP5011541B2 (ja) 位置指示器
US8604809B2 (en) Current sensor capacity measuring system
US7262640B2 (en) Voltage-frequency conversion apparatus
JP4269710B2 (ja) 周波数測定回路およびそれを用いた振動センサ式差圧・圧力伝送器
KR20180103073A (ko) 압전 부하의 충전 제어용 전자 회로
JPH06242159A (ja) 静電容量測定装置
JP2019168892A (ja) 演算増幅回路及びこれを使用した電流検出装置
JP4817960B2 (ja) オシレータ回路及び半導体記憶装置
JP4551204B2 (ja) インピーダンス測定装置
JP4451731B2 (ja) 集積回路のrc時定数と目標値の比率を求める方法および装置
JP2010025667A (ja) 並列抵抗測定方法及びその装置
JP2009236603A (ja) 温度センサ、温度センサの製造方法、電気泳動装置、および電子機器
JP3204091B2 (ja) 充放電電流測定装置
JP6212256B2 (ja) Ad変換処理装置
JPH11135156A (ja) 二次電池の充放電電流検出方法及び装置
JPH07311169A (ja) 環境測定装置
TWM611616U (zh) 測量被動元件的測量電路
JP2009222431A (ja) クーロンカウンタ、そのダイナミックレンジ可変方法
JP2023163205A (ja) 磁気抵抗素子の熱安定性評価装置および評価方法
JP2015219703A (ja) 静電検出装置
JP2010096634A (ja) 電圧検出装置
JP2015152508A (ja) 静電容量型センサー装置、半導体集積回路装置、及び、電子機器
JP3842877B2 (ja) 抵抗測定装置

Legal Events

Date Code Title Description
A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712

Effective date: 20070402

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20071128

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20071128

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20091224

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100105

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100126

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100402

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100519

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100702

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100709

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4551204

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130716

Year of fee payment: 3

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350