JP4548306B2 - シリコン単結晶の製造方法 - Google Patents
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Description
COPは、鏡面研磨されたシリコンウェーハをアンモニアと過酸化水素の混合液で洗浄すると、ウェーハ表面に出現するピットである。このウェーハをパーティクルカウンタで測定すると、このピットがパーティクルとして検出される。このピットは結晶に起因する。COPは電気的特性、例えば酸化膜の経時絶縁破壊特性(Time Dependent dielectric Breakdown、TDDB)、酸化膜耐圧特性(Time Zero Dielectric Breakdown、TZDB)等を劣化させる原因となる。またCOPがウェーハ表面に存在するとデバイスの配線工程において段差を生じ、断線の原因となり得る。そして素子分離部分においてもリーク等の原因となり、製品の歩留りを低くする。
OSFは、結晶成長時に微小な酸素析出核がシリコン単結晶中に導入され、半導体デバイスを製造する際の熱酸化工程等で顕在化する欠陥である。このOSFは、デバイスのリーク電流を増加させる等の不良原因になる。L/Dは、転位クラスタとも呼ばれたり、或いはこの欠陥を生じたシリコンウェーハをフッ酸を主成分とする選択エッチング液に浸漬するとピットを生じることから転位ピットとも呼ばれる。このL/Dも、電気的特性、例えばリーク特性、アイソレーション特性等を劣化させる原因となる。以上のことから、半導体集積回路を製造するために用いられるシリコンウェーハからCOP、OSF及びL/Dを減少させることが必要となっている。
上述のことから、無欠陥のインゴットは、熱酸化処理を行った際にリング状に発生するOSF(Pバンド)がウェーハ中心部で消滅し、かつL/D(Bバンド)を発生しない領域のV/G(mm2/分・℃)の範囲内で作られることが判る。この無欠陥のインゴットの生産性や収率等を向上するには、インゴットの引上げ方向及び半径方向にわたって無欠陥領域とするためのインゴットの引上げ速度の幅、即ちピュアマージンを拡大することが必要である。ピュアマージンはインゴットの引上げ時における固液界面形状と何らかの相関性があると考えられている。
そこで、固液界面形状を無欠陥のインゴットを製造するための制御因子として用いる方法が研究されており、シリコン融液とシリコン単結晶インゴットとの固液界面の形状を考慮して無欠陥のインゴットを製造する方法(例えば、特許文献2参照。)が開示されている。この無欠陥のインゴットを製造する方法では、シリコン融液とシリコン単結晶インゴットの境界である固液界面の形状と、引上げ中のインゴットの側面における温度分布との関係を適切に調整することによって、無欠陥のインゴットを安定かつ再現性よく製造できるようになっている。
一方、シリコン単結晶インゴットの製造コストを低減するために、同一のるつぼを使用して、複数本のインゴットを引上げるいわゆるマルチ引上げ法が採用される場合がある。このマルチ引上げ法では、インゴットの引上げ本数が増えるに従ってるつぼの変形が大きくなるため、インゴット内部に発生する欠陥部分もインゴットの引上げ本数が増える毎に増大するという問題点があった。
本発明の目的は、るつぼの変形を考慮してシリコン単結晶インゴットを引上げることにより、品質不良のインゴットの発生を防止できる、特にマルチ引上げ法により引上げたときに、るつぼの変形を考慮して、1本目に引上げたインゴットと同等の品質を有するインゴットを複数本引上げることができる、シリコン単結晶の製造方法を提供することにある。
その特徴ある構成は、量産用るつぼ14と同形同大の実験用るつぼ34に上記量産用るつぼ14への供給量と同量のシリコン原料を供給した後にこのシリコン原料を量産用ヒータ18と同形同大の実験用ヒータ38により融解したときの実験用るつぼ34の変形量及び実験用ヒータ38への供給電力の履歴を測定して量産用るつぼ14の変形傾向を求める工程と、量産用るつぼ14にシリコン原料を供給する前に量産用るつぼ14の寸法を測定する工程と、量産用るつぼ14に供給した所定量のシリコン原料を量産用ヒータ18により融解してシリコン融液13の貯留量を測定するとともにシリコン原料の融解時の量産用ヒータ18への供給電力の履歴を測定する工程と、量産用るつぼ14を鉛直方向に移動しシリコン融液13表面を熱遮蔽部材24の下端から所定のギャップXをあけて下方に位置させたときの量産用るつぼ14外部の鉛直方向に関しての初期るつぼ外部位置を測定する工程と、上記実験用るつぼ34及び実験用ヒータ38により求めた量産用るつぼ14の変形傾向と量産用るつぼ14の寸法とシリコン融液13の貯留量と量産用ヒータ18への供給電力の履歴とシリコン原料融解後の初期るつぼ外部位置に基づいてシリコン原料融解時の量産用るつぼ14の変形量を予測する工程と、この予測された量産用るつぼ14の変形量に基づいて上記所定のギャップXをあけたときの量産用るつぼ14内部の鉛直方向に関しての初期るつぼ内部位置を予測する工程と、上記測定された初期るつぼ外部位置及び上記予測された初期るつぼ内部位置に基づいてインゴット11の最適な引上げ速度を予測計算して設定引上げ速度とする工程と、この設定引上げ速度でインゴット11の引上げを開始する工程とを含むところにある。
この請求項1に記載されたシリコン単結晶の製造方法では、シリコン原料の融解時の量産用るつぼ14の変形量を、量産用るつぼ14の変形傾向、量産用るつぼ14の寸法、シリコン融液13の貯留量、量産用ヒータ18への供給電力の履歴及びシリコン原料融解後の初期るつぼ外部位置から予測し、この予測された量産用るつぼ14の変形量に基づいて上記所定のギャップXをあけたときの初期るつぼ内部位置を予測し、更に初期るつぼ外部位置及び初期るつぼ内部位置に基づいて無欠陥のインゴット11を引上げるための最適な引上げ速度をコンピュータを用いて予測計算する。この最適な引上げ速度を設定引上げ速度としてインゴット11の引上げを開始する。即ち、インゴット11の引上げ時に、量産用るつぼ14の変形によるインゴット11の品質への影響を加味したインゴット11の品質の予測計算をコンピュータを用いて行うことにより、インゴット11内に欠陥が発生するか否かを予測し、インゴット11内に欠陥の発生しないインゴット11の引上げ条件をコンピュータを用いて算出する。そしてこの計算結果をインゴット11の引上げ速度にフィードバックさせてその引上げ速度でインゴット11を引上げる。
この請求項2に記載されたシリコン単結晶の製造方法では、インゴット11の引上げ中に、インゴット11の直径の変化及びシリコン融液13表面の鉛直方向の位置の変化に基づいて所定時間毎にインゴット11の品質の予測計算を行い、設定引上げ速度を修正しながらインゴット11を引上げる。これにより全長にわたって無欠陥であるインゴット11を引上げることができる。
この請求項3に記載されたシリコン単結晶の製造方法では、引上げ中のインゴット11外周面の晶壁線が消失してインゴット11が有転位化した場合、引上げ途中のインゴット11の融解時の量産用るつぼ14の変形量を、量産用るつぼ14の変形傾向、量産用るつぼ14の寸法、シリコン融液13の貯留量、量産用ヒータ18への供給電力の履歴及び引上げ途中のインゴット11融解後の初期るつぼ外部位置から予測し、この予測された量産用るつぼ14の変形量に基づいて上記所定のギャップXをあけたときの初期るつぼ内部位置を予測し、更に初期るつぼ外部位置及び初期るつぼ内部位置に基づいて無欠陥のインゴット11を引上げるための最適な引上げ速度をコンピュータを用いて予測計算する。この最適な引上げ速度を設定引上げ速度としてインゴット11の引上げを開始する。即ち、引上げ途中のインゴット11を量産用ヒータ18により融解するときに量産用るつぼ14が変形するけれども、この量産用るつぼ14の変形によるインゴット11の品質への影響を加味したインゴット11の品質の予測計算をコンピュータを用いて行うことにより、インゴット11内に欠陥が発生するか否かを予測し、インゴット11内に欠陥の発生しないインゴット11の引上げ条件をコンピュータを用いて算出する。そしてこの計算結果をインゴット11の引上げ速度にフィードバックさせてその引上げ速度でインゴット11を引上げる。
その特徴ある構成は、実験用るつぼ34及び実験用ヒータ38により求めた量産用るつぼ14の変形傾向と前に引上げたインゴット11の引上げ実績とから量産用るつぼ14の変形量を予測する工程と、量産用るつぼ14にシリコン原料を再供給しこのシリコン原料を量産用ヒータ18により融解してシリコン融液13の貯留量を再測定するとともにシリコン原料の融解時の量産用ヒータ18への供給電力の履歴を再測定する工程と、量産用るつぼ14を鉛直方向に移動しシリコン融液13表面を熱遮蔽部材24の下端から所定のギャップXをあけて下方に位置させたときの量産用るつぼ14外部の鉛直方向に関しての初期るつぼ外部位置を再測定する工程と、上記予測した量産用るつぼ14の変形量と上記再測定したシリコン融液13の貯留量と上記再測定した量産用ヒータ18への供給電力の履歴と上記再測定したシリコン原料融解後の初期るつぼ外部位置に基づいてシリコン原料融解時の量産用るつぼ14の変形量を再予測する工程と、この予測された量産用るつぼ14の変形量に基づいて上記所定のギャップXをあけたときの量産用るつぼ14内部の鉛直方向に関しての初期るつぼ内部位置を再予測する工程と、上記測定された初期るつぼ外部位置及び上記再予測された初期るつぼ内部位置に基づいてインゴット11の最適な引上げ速度を再予測計算して設定引上げ速度とする工程と、この設定引上げ速度でインゴット11の引上げを開始する工程とを含むところにある。
この請求項4に記載されたシリコン単結晶の製造方法では、1本目のインゴット11の引上げ時に用いた量産用るつぼ14をそのまま用いて2本目又は3本目以降のインゴット11を引上げるとき、上記予測した量産用るつぼ14の変形量と上記再測定したシリコン融液13の貯留量と上記再測定した量産用ヒータ18への供給電力の履歴と上記再測定したシリコン原料融解後の初期るつぼ外部位置とからインゴット11の引上げ中の量産用るつぼ14の変形量を再予測する。この再予測された量産用るつぼ14の変形量に基づいて上記所定のギャップXをあけたときの量産用るつぼ14内部の鉛直方向に関しての初期るつぼ内部位置を予測し、上記初期るつぼ外部位置及び上記初期るつぼ内部位置に基づいて無欠陥のインゴット11を引上げるための最適な引上げ速度を再予測計算し、この最適な引上げ速度を設定引上げ速度としてインゴット11の引上げを開始する。
この請求項5に記載されたシリコン単結晶の製造方法では、インゴット11の引上げ中に、インゴット11の直径の変化及びシリコン融液13表面の鉛直方向の位置の変化に基づいて所定時間毎にインゴット11の品質の予測計算を行い、設定引上げ速度を修正しながらインゴット11を引上げる。これにより1つの量産用るつぼ14を用いて引上げた全てのインゴット11が全長にわたって無欠陥となる。
また引上げ中のインゴット外周面の晶壁線が消失してインゴットが有転位化した場合、引上げ途中のインゴットを量産用ヒータにより融解して、インゴットを再びシリコン融液から引上げる。この場合、融解したシリコン融液からインゴットを再び引上げる前に、所定のギャップを開けて初期るつぼ外部位置を測定し、実験用るつぼの変形傾向と初期るつぼ外部位置との関係などに基づいてシリコン原料融解時の量産用るつぼの変形量を予測し、量産用るつぼの変形量に基づいて上記所定のギャップをあけたときの初期るつぼ内部位置を予測し、更にインゴットの最適な引上げ速度を予測計算から導き出して最適な引上げ速度でインゴットの引上げを開始すれば、上記と同様に無欠陥のインゴットを引上げることができる。
また設定引上げ速度でのインゴットの引上げ中に、インゴットの直径の変化とシリコン融液表面の鉛直方向の位置の変化とを測定し、インゴットの直径の変化とシリコン融液表面の鉛直方向の位置の変化に基づいて設定引上げ速度を修正し、この修正した設定引上げ速度でインゴットを引上げ、更にインゴットの引上げ中に上記ギャップの変化の測定と上記設定引上げ速度の修正と上記修正した設定引上げ速度での引上げとを繰返せば、全長にわたって無欠陥であるインゴットを引上げることができる。
更に設定引上げ速度でのインゴットの引上げ中に、インゴットの直径の変化とシリコン融液表面の鉛直方向の位置の変化とを測定し、インゴットの直径の変化とシリコン融液表面の鉛直方向の位置の変化に基づいて設定引上げ速度を修正し、この修正した設定引上げ速度でインゴットを引上げ、インゴットの引上げ中に上記ギャップの変化の測定と上記設定引上げ速度の修正と上記修正した設定引上げ速度での引上げとを繰返せば、1つの量産用るつぼから引上げられた全てのインゴットが全長にわたって無欠陥となる。
図2に示すように、シリコン単結晶インゴット11の引上げ機10のメインチャンバ12内には、シリコン融液13を貯留する量産用るつぼ14が設けられる。この量産用るつぼ14は、石英により形成されかつシリコン融液13が貯留される石英るつぼ14aと、カーボンにより形成されかつ石英るつぼ14aを挿入可能な凹部14cを有し石英るつぼ14aの外周面及び下面を被覆するカーボンるつぼ14bとを有する。カーボンるつぼ14bは支軸16を介してるつぼ駆動手段17に接続され、るつぼ駆動手段17は量産用るつぼ14を回転させるとともに昇降させるように構成される。また量産用るつぼ14は、カーボンるつぼ14bの外周面から所定の間隔をあけて外側に設けられた量産用ヒータ18により包囲され、このヒータ18は保温筒19により包囲される。量産用ヒータ18は石英るつぼ14aに供給されたシリコン原料である高純度のシリコン多結晶体又はシリコン単結晶体のいずれか一方又は双方を加熱・溶融してシリコン融液13にする。更にメインチャンバ12の上端には、メインチャンバ12より小径の円筒状のプルチャンバ21が接続される。このプルチャンバ21の上端にはシード引上げ手段(図示せず)が設けられ、このシード引上げ手段は下端がメインチャンバ12内のシリコン融液13表面に達する引上げ軸22を回転させかつ昇降させるように構成される。この引上げ軸22の下端にはシードチャック23が設けられ、このチャック23は種結晶(図示せず)を把持するように構成される。この種結晶の下端をシリコン融液13中に浸漬した後、シード引上げ手段により種結晶及び量産用るつぼ14をそれぞれ回転させかつ上昇させることにより、種結晶の下端からインゴット11を引上げて成長させるように構成される。
先ず量産用るつぼ14と材質が同一でありかつ量産用るつぼ14と同形同大に形成された実験用るつぼ34と、量産用ヒータ18と材質が同一でありかつ量産用ヒータ18と同形同大に形成された実験用ヒータ38とを用意し、これらの部材の寸法を測定した後に、上記実験用るつぼ34及び実験用ヒータ38を引上げ機10のメインチャンバ12内に設置する。この状態で実験用るつぼ34に所定量のシリコン原料を供給して、このシリコン原料を実験用ヒータ38により融解した後、室温まで冷却して実験用るつぼ34をメインチャンバ12から取出すとともに、実験用るつぼ34から固化したシリコンを取出して、実験用るつぼ34の変形量を測定する。また実験用るつぼ34内のシリコン融液13からインゴット11を引上げ、その引上げ途中でインゴット11外周面の晶壁線が消失してインゴット11が有転位化した場合を考慮し、引上げ途中のインゴットを実験用ヒータ38により融解した後、室温まで冷却して実験用るつぼ34をメインチャンバ12から取出すとともに、実験用るつぼ34から固化したシリコンを取出して、実験用るつぼ34の変形量を測定する。
11 シリコン単結晶インゴット
13 シリコン融液
14 量産用るつぼ
18 量産用ヒータ
24 熱遮蔽部材
34 実験用るつぼ
38 実験用ヒータ
X ギャップ
Claims (5)
- シリコン単結晶引上げ機(10)の量産用るつぼ(14)に所定量のシリコン原料を供給した後に前記シリコン原料を量産用ヒータ(18)により融解して前記量産用るつぼ(14)にシリコン融液(13)を貯留し、前記量産用るつぼ(14)に貯留されたシリコン融液(13)からシリコン単結晶インゴット(11)を引上げ、前記シリコン融液(13)表面から所定のギャップ(X)をあけて上方に設けられた熱遮蔽部材(24)により前記引上げ中のインゴット(11)を包囲するシリコン単結晶の製造方法において、
量産用るつぼ(14)と同形同大の実験用るつぼ(34)に量産用るつぼへの供給量と同量のシリコン原料を供給した後に前記シリコン原料を前記量産用ヒータ(18)と同形同大の実験用ヒータ(38)により融解したときの前記実験用るつぼ(34)の変形量及び前記実験用ヒータ(38)への供給電力の履歴を測定して前記量産用るつぼ(14)の変形傾向を求める工程と、
前記量産用るつぼ(14)にシリコン原料を供給する前に前記量産用るつぼ(14)の寸法を測定する工程と、
前記量産用るつぼ(14)に供給した所定量のシリコン原料を前記量産用ヒータ(18)により融解して前記シリコン融液(13)の貯留量を測定するとともに前記シリコン原料の融解時の前記量産用ヒータ(18)への供給電力の履歴を測定する工程と、
前記量産用るつぼ(14)を鉛直方向に移動し前記シリコン融液(13)表面を前記熱遮蔽部材(24)の下端から所定のギャップ(X)をあけて下方に位置させたときの前記量産用るつぼ(14)外部の鉛直方向に関しての初期るつぼ外部位置を測定する工程と、
前記実験用るつぼ(34)及び前記実験用ヒータ(38)により求めた前記量産用るつぼ(14)の変形傾向と前記量産用るつぼ(14)の寸法と前記シリコン融液(13)の貯留量と前記量産用ヒータ(18)への供給電力の履歴と前記シリコン原料融解後の前記初期るつぼ外部位置に基づいて前記シリコン原料融解時の前記量産用るつぼ(14)の変形量を予測する工程と、
前記予測された量産用るつぼ(14)の変形量に基づいて前記所定のギャップ(X)をあけたときの前記量産用るつぼ(14)内部の鉛直方向に関しての初期るつぼ内部位置を予測する工程と、
前記測定された初期るつぼ外部位置及び前記予測された初期るつぼ内部位置に基づいて前記インゴット(11)の最適な引上げ速度を予測計算して設定引上げ速度とする工程と、
前記設定引上げ速度で前記インゴット(11)の引上げを開始する工程と
を含むことを特徴とするシリコン単結晶の製造方法。 - 設定引上げ速度でのインゴット(11)の引上げ中に、前記インゴット(11)の直径の変化とシリコン融液(13)表面の鉛直方向の位置の変化とを測定する工程と、
前記インゴット(11)の直径の変化と前記シリコン融液(13)表面の鉛直方向の位置の変化に基づいて前記設定引上げ速度を修正する工程と、
前記修正した設定引上げ速度で前記インゴット(11)を引上げる工程と、
前記インゴット(11)の引上げ中に前記測定工程と前記修正工程と前記引上げ工程とを繰返す工程と
を更に含む請求項1記載のシリコン単結晶の製造方法。 - 請求項2の方法で1本目のインゴット(11)を引上げている途中で前記インゴット(11)が有転位化したとき、この引上げ途中のインゴット(11)を再び量産用ヒータ(18)により融解して前記シリコン融液(13)の貯留量を再び測定するとともに前記引上げ途中のインゴット(11)の融解時の前記量産用ヒータ(18)への供給電力の履歴を測定する工程と、
前記量産用るつぼ(14)を鉛直方向に移動し前記シリコン融液(13)表面を前記熱遮蔽部材(24)の下端から所定のギャップ(X)をあけて下方に位置させたときの前記量産用るつぼ(14)外部の鉛直方向に関しての初期るつぼ外部位置を測定する工程と、
前記実験用るつぼ(34)及び前記実験用ヒータ(38)により求めた前記量産用るつぼ(14)の変形傾向と前記量産用るつぼ(14)の寸法と前記シリコン融液(13)の貯留量と前記量産用ヒータ(18)への供給電力の履歴と前記引上げ途中のインゴット(11)融解後の前記初期るつぼ外部位置に基づいて前記引上げ途中のインゴット(11)融解時の前記量産用るつぼ(14)の変形量を予測する工程と、
前記予測された量産用るつぼ(14)の変形量に基づいて前記所定のギャップ(X)をあけたときの前記量産用るつぼ(14)内部の鉛直方向に関しての初期るつぼ内部位置を予測する工程と、
前記測定された初期るつぼ外部位置及び前記予測された初期るつぼ内部位置に基づいて前記インゴット(11)の最適な引上げ速度を予測計算して設定引上げ速度とする工程と、
前記設定引上げ速度で前記インゴット(11)の引上げを開始する工程と
を含むことを特徴とするシリコン単結晶の製造方法。 - 請求項1ないし3いずれか1項に記載の方法で1本目のインゴット(11)を引上げた後に、前記1本目のインゴット(11)の引上げ時に用いた量産用るつぼ(14)をそのまま用いて2本目又は3本目以降のインゴット(11)を引上げるシリコン単結晶の引上げ方法において、
実験用るつぼ(34)及び実験用ヒータ(38)により求めた前記量産用るつぼ(14)の変形傾向と前に引上げたインゴット(11)の引上げ実績とから前記量産用るつぼ(14)の変形量を予測する工程と、
前記量産用るつぼ(14)にシリコン原料を再供給しこのシリコン原料を前記量産用ヒータ(18)により融解して前記シリコン融液(13)の貯留量を再測定するとともに前記シリコン原料の融解時の前記量産用ヒータ(18)への供給電力の履歴を再測定する工程と、
前記量産用るつぼ(14)を鉛直方向に移動し前記シリコン融液(13)表面を前記熱遮蔽部材(24)の下端から所定のギャップ(X)をあけて下方に位置させたときの前記量産用るつぼ(14)外部の鉛直方向に関しての初期るつぼ外部位置を再測定する工程と、
前記予測した量産用るつぼ(14)の変形量と前記再測定したシリコン融液(13)の貯留量と前記再測定した量産用ヒータ(18)への供給電力の履歴と前記再測定したシリコン原料融解後の前記初期るつぼ外部位置に基づいて前記シリコン原料融解時の前記量産用るつぼ(14)の変形量を再予測する工程と、
前記再予測された量産用るつぼ(14)の変形量に基づいて前記所定のギャップ(X)をあけたときの前記量産用るつぼ(14)内部の鉛直方向に関しての初期るつぼ内部位置を再予測する工程と、
前記再測定された初期るつぼ外部位置及び前記再予測された初期るつぼ内部位置に基づいて前記インゴット(11)の最適な引上げ速度を再予測計算して設定引上げ速度とする工程と、
前記設定引上げ速度で前記インゴット(11)の引上げを開始する工程と
を含むことを特徴とするシリコン単結晶の製造方法。 - 設定引上げ速度でのインゴット(11)の引上げ中に、前記インゴット(11)の直径の変化とシリコン融液(13)表面の鉛直方向の位置の変化とを測定する工程と、
前記インゴット(11)の直径の変化と前記シリコン融液(13)表面の鉛直方向の位置の変化に基づいて前記設定引上げ速度を修正する工程と、
前記修正した設定引上げ速度で前記インゴット(11)を引上げる工程と、
前記インゴット(11)の引上げ中に前記測定工程と前記修正工程と前記引上げ工程とを繰返す工程と
を更に含む請求項4記載のシリコン単結晶の製造方法。
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