JP4542918B2 - 軸受の異常検出装置 - Google Patents
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Description
例えば、圧延設備では、メタルイン時等に大きなAE信号が発生するが、軸受の異常に起因するAE信号とは、バンドパスフィルタでは区別することができず、軸受の異常を誤判定することがある。
本発明は、このような低速回転で用いられる軸受で生じる潤滑切れ起因の摩耗の異常検出についても検出可能な軸受の異常検出装置を提供することを目的とする。
実験の結果、AEセンサが検出し出力したAE信号は、図4の波形図に示すようになった。ここで、(a)は、軸受の潤滑が正常な場合、(b)は、軸受のグリースの一部を除去して、接触面の油膜を薄くした場合、(c)は、軸受のグリースを完全に除去した場合を示し、潤滑切れに起因してAE信号が変化することが分かる。
図1は、本発明に係る軸受の異常検出装置の実施の形態の構成を示すブロック図である。この軸受の異常検出装置は、図示しない軸受から発生するAE(アコースティクエミッション)を検出するAEセンサ1と、AEセンサ1が出力したAE信号を増幅するプリアンプ2と、増幅されたAE信号の内、80kHz〜500kHzの周波数成分を周波数弁別するバンドパスフィルタ3(周波数弁別手段)とを備えている。
AEセンサ1が、軸受から発生するAEを検出し出力したAE信号は、プリアンプ2により増幅され、バンドパスフィルタ3に与えられる。バンドパスフィルタ3は、与えられたAE信号の内、80kHz〜500kHzの周波数成分を周波数弁別し、検波回路4に与える。
尚、軸受鋼又はその他の鋼からなる軸受の、潤滑切れ、摩耗、はく離等の異常時に発生するAEの周波数は、80kHz〜500kHz(軸受鋼の場合は200kHz前後)の範囲に収まることが、実験により確認されている。
レベル比較回路5は、包絡線検波されたAE信号のレベルと閾値とを比較し、その比較結果を持続時間算出回路7及び立上り時間算出回路9へ与える。
持続時間算出回路7は、レベル比較回路5の比較結果が、AE信号のレベルの方が大となってから、AE信号のレベルの方が小となる迄の時間を、AE信号の持続時間として算出し、持続時間比較回路8へ与える。
持続時間比較回路8は、与えられたAE信号の持続時間と、予め実験した結果から定められた所定時間(第1時間、例えば10msec)とを比較し、その比較結果をAND回路11へ与える。
立上り時間比較回路10は、与えられたAE信号の立上り時間と、予め実験した結果から定められた所定時間(第2時間、例えば1msec)とを比較し、その比較結果をAND回路11へ与える。
カウント値比較回路13は、与えられたカウント値が、予め設定された値(1以上)に達したときに、軸受が異常であることを示す信号を表示回路14に与える。表示回路14、与えられた信号に基づき、軸受が異常であることを、表示灯の点灯等により表示する。
2 プリアンプ
3 バンドパスフィルタ(周波数弁別手段)
4 検波回路(検波手段)
5 レベル比較回路(比較手段)
6 A/Dコンバータ
7 持続時間算出回路(持続時間算出手段)
8 持続時間比較回路(第1判定手段)
9 立上り時間算出回路(立上り時間算出手段)
10立上り時間比較回路(第2判定手段)
11 AND回路
12 カウンタ
13 カウント値比較回路
14 表示回路
22,24 軸受
23 ロール
Claims (1)
- 回転軸受から受けたアコースティクエミッション(AE)を検出してAE信号を出力するAEセンサを備え、該AEセンサが出力したAE信号に基づき、前記回転軸受の異常を検出する軸受の異常検出装置において、
前記AE信号の所定範囲の周波数成分を弁別する周波数弁別手段と、該周波数弁別手段が弁別した信号を検波する検波手段と、該検波手段が検波した信号のレベル及び閾値を比較する比較手段と、該比較手段の比較結果が、前記信号のレベルの方が大となってから、前記信号のレベルの方が小となる迄の該信号の持続時間を算出する持続時間算出手段と、前記比較結果が、前記信号のレベルの方が大となってから、該信号のレベルが極大値になる迄の立上り時間を算出する立上り時間算出手段と、前記持続時間算出手段が算出した持続時間が第1時間より長いか否かを判定する第1判定手段と、前記立上り時間算出手段が算出した立上り時間が、前記第1時間より短い第2時間より長いか否かを判定する第2判定手段とを備え、前記第1判定手段及び第2判定手段が共に長いと判定した回数に基づき、前記回転軸受の異常を検出するように構成してあることを特徴とする軸受の異常検出装置。
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