JPH03245054A - 揺動軸受の異常診断装置 - Google Patents
揺動軸受の異常診断装置Info
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- JPH03245054A JPH03245054A JP2043762A JP4376290A JPH03245054A JP H03245054 A JPH03245054 A JP H03245054A JP 2043762 A JP2043762 A JP 2043762A JP 4376290 A JP4376290 A JP 4376290A JP H03245054 A JPH03245054 A JP H03245054A
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- 230000005856 abnormality Effects 0.000 title claims abstract description 38
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 24
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 claims description 11
- 230000006378 damage Effects 0.000 abstract description 13
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 abstract description 5
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 22
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000003708 edge detection Methods 0.000 description 3
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
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- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
- Testing Of Devices, Machine Parts, Or Other Structures Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
この発明は、2つの部材間に介設され、一方の部材を他
方の部材に揺動可能に連結する揺動輪受の異常診断装置
に関する。
方の部材に揺動可能に連結する揺動輪受の異常診断装置
に関する。
〈従来の技術〉
従来、揺動軸受の異常診断装置としては、揺動軸受が発
生する振動を検出し、検出した振動が基準値を越える異
常値を示したときに、その揺動軸受は異常であると判別
するようにしたものがある。
生する振動を検出し、検出した振動が基準値を越える異
常値を示したときに、その揺動軸受は異常であると判別
するようにしたものがある。
〈発明が解決しようとする課題〉
しかしながら、上記従来の揺動軸受の異常診断装置は、
振動に基づいて異常診断を行うようにしているため、異
常の診断に際し、外部振動等の外乱の影響を受けて、し
ばしば誤診するという問題があった。また、揺動軸受が
低速で揺動する場合に、揺動軸受に異常があっても異常
と診断するに十分な大きさの振動が発生しないため、異
常検出ができないという問題があった。
振動に基づいて異常診断を行うようにしているため、異
常の診断に際し、外部振動等の外乱の影響を受けて、し
ばしば誤診するという問題があった。また、揺動軸受が
低速で揺動する場合に、揺動軸受に異常があっても異常
と診断するに十分な大きさの振動が発生しないため、異
常検出ができないという問題があった。
そこで、この発明の目的は、外乱をうけることなく、揺
動輪受の異常を正確に診断でき、特に、低速で揺動する
揺動軸受であってもその異常を正確に診断することので
きる揺動軸受の異常診断装置を提供することにある。
動輪受の異常を正確に診断でき、特に、低速で揺動する
揺動軸受であってもその異常を正確に診断することので
きる揺動軸受の異常診断装置を提供することにある。
く課題を解決するための手段〉
本発明者は、揺動軸受と回転軸受とでは破壊損傷の構造
が異なることを知見した。すなわち第4図(a) 、
(b)に示すように、回転軸受の損傷は、一般に内部の
介在物を起点として転送面に至るはく離であり、揺動軸
受の損傷は転送面の摩耗、へこみであることを知見した
。これは回転軸受は、高速、すなわち高角速度で駆動さ
れ、揺動軸受は低速、すなわち低角速度で駆動されるか
らであると考えられる。このような損傷、破壊の構造の
違いにより、軸受の損傷を示すAE(アコースティック
エミッノヨン)の持続時間は、AE倍信号包絡線検波し
た波形を示す第5図(a) 、 (b)に示すように異
なる。第5図(a)に示す回転軸受においては、損傷を
表わすAEの持続時間は1msであり、揺動軸受におい
ては、損傷を表わすAEの持続時間は20m5である。
が異なることを知見した。すなわち第4図(a) 、
(b)に示すように、回転軸受の損傷は、一般に内部の
介在物を起点として転送面に至るはく離であり、揺動軸
受の損傷は転送面の摩耗、へこみであることを知見した
。これは回転軸受は、高速、すなわち高角速度で駆動さ
れ、揺動軸受は低速、すなわち低角速度で駆動されるか
らであると考えられる。このような損傷、破壊の構造の
違いにより、軸受の損傷を示すAE(アコースティック
エミッノヨン)の持続時間は、AE倍信号包絡線検波し
た波形を示す第5図(a) 、 (b)に示すように異
なる。第5図(a)に示す回転軸受においては、損傷を
表わすAEの持続時間は1msであり、揺動軸受におい
ては、損傷を表わすAEの持続時間は20m5である。
AE倍信号のものを示す第6図(a)。
(b)からも、揺動軸受の方か回転軸受よりも損傷を表
わすAEの持続時間が長くなることが分かった。
わすAEの持続時間が長くなることが分かった。
このような発見に基づき、この発明では、基準値を越え
るAEの持続時間を計測し、この持続時間の長いAEの
みを損傷を表わすものとして、カウントすることによっ
て、持続時間の短いAEを排除して、外乱を受けないよ
うにし、揺動軸受の異常の有無を正確に診断するのであ
る。
るAEの持続時間を計測し、この持続時間の長いAEの
みを損傷を表わすものとして、カウントすることによっ
て、持続時間の短いAEを排除して、外乱を受けないよ
うにし、揺動軸受の異常の有無を正確に診断するのであ
る。
すなわち、この発明の揺動軸受の異常診断装置は、揺動
軸受か発生するアコースティックエミッノヨンを検出し
てAE倍信号出力するAEセンサと、上記AE倍信号基
準値とを比νするAE比較手段と、上記AE比較手段の
出力を受け、上記AE倍信号上記基準値を越えていると
きの持続時間を算出する持続時間算出手段と、上記持続
時間算出手段から持続時間を表わす信号を受けて、持続
時間が基準値を越えたか否かを比較する持続時間比較手
段と、上記揺動輪受の揺動角度を検出する揺動角度検出
手段と、上記揺動角度検出手段からの揺動角度を表わす
信号を受けて、上記持続時間比較手段から出力された持
続時間が基準値を越えたことを表わす信号の数を揺動角
度毎に積算する積算手段と、上記積算手段から出力され
た積算値と基準値とを比較して、いずれかの積算値が基
準値を越えたときに、揺動輪受に異常が生じたことを表
わす信号を出力する異常判別手段とを備えたことを特徴
としている。
軸受か発生するアコースティックエミッノヨンを検出し
てAE倍信号出力するAEセンサと、上記AE倍信号基
準値とを比νするAE比較手段と、上記AE比較手段の
出力を受け、上記AE倍信号上記基準値を越えていると
きの持続時間を算出する持続時間算出手段と、上記持続
時間算出手段から持続時間を表わす信号を受けて、持続
時間が基準値を越えたか否かを比較する持続時間比較手
段と、上記揺動輪受の揺動角度を検出する揺動角度検出
手段と、上記揺動角度検出手段からの揺動角度を表わす
信号を受けて、上記持続時間比較手段から出力された持
続時間が基準値を越えたことを表わす信号の数を揺動角
度毎に積算する積算手段と、上記積算手段から出力され
た積算値と基準値とを比較して、いずれかの積算値が基
準値を越えたときに、揺動輪受に異常が生じたことを表
わす信号を出力する異常判別手段とを備えたことを特徴
としている。
〈作用〉
上記揺動軸受から発生するAEはAEセンサにより検出
される。AE比較手段は、上記AEセンサからのAE倍
信号基準値とを比較する。持続時間算出手段は、AE比
校手段からの中力を受けて、上記AE倍信号上記基準値
を越えているときの持続時間を算出する。上記持続時間
比較手段は、持続時間算出手段から出力された持続時間
が基準値を越えたか否かを比較する。こうすることによ
って、基準レベル以上で、かつ、持続時間の長いAEの
みが検出され、雑音が排除されるのである。
される。AE比較手段は、上記AEセンサからのAE倍
信号基準値とを比較する。持続時間算出手段は、AE比
校手段からの中力を受けて、上記AE倍信号上記基準値
を越えているときの持続時間を算出する。上記持続時間
比較手段は、持続時間算出手段から出力された持続時間
が基準値を越えたか否かを比較する。こうすることによ
って、基準レベル以上で、かつ、持続時間の長いAEの
みが検出され、雑音が排除されるのである。
次いで、揺動角度検出手段から出力された揺動軸受の揺
動角度毎に、積算手段によって、持続時間比較手段から
出力された持続時間が基準値を越えたことを表わす信号
の出力が積算される。そして、異常判別手段によって、
積算手段から入力された積算値と基準値とが比較され、
いずれから積算値が基準値を越えたときに揺動軸受の異
常を表わす信号が出力される。このように、AE倍信号
レベルが基準値以上で、かつ、その持続時間が一定長さ
以上で、かつ、ある揺動角度に一定回数以上である場合
に、揺動軸受の異常と判別するので、正確確実に揺動軸
受の異常が判別される。しかも、従来のように振動を検
出するのではなく、AEを検出するため、低速で揺動す
る揺動軸受であっても、異常があれば確実に検出される
。
動角度毎に、積算手段によって、持続時間比較手段から
出力された持続時間が基準値を越えたことを表わす信号
の出力が積算される。そして、異常判別手段によって、
積算手段から入力された積算値と基準値とが比較され、
いずれから積算値が基準値を越えたときに揺動軸受の異
常を表わす信号が出力される。このように、AE倍信号
レベルが基準値以上で、かつ、その持続時間が一定長さ
以上で、かつ、ある揺動角度に一定回数以上である場合
に、揺動軸受の異常と判別するので、正確確実に揺動軸
受の異常が判別される。しかも、従来のように振動を検
出するのではなく、AEを検出するため、低速で揺動す
る揺動軸受であっても、異常があれば確実に検出される
。
〈実施例〉
以下、この発明を図示の実施例により詳細に説明する。
第1図はこの発明の揺動軸受の異常診断装置の一実施例
を示すブロック図であり、lはAEセンサ、2はプリア
ップ、3はバンドパスフィルタ4はメインアンプ、5は
包絡線検波回路である。
を示すブロック図であり、lはAEセンサ、2はプリア
ップ、3はバンドパスフィルタ4はメインアンプ、5は
包絡線検波回路である。
また、6はAE比較回路、7は持続時間算出手段として
の積分回路、8はAE比較回路6の出力のトレイリング
エツジを検出するエツジ検出回路、9は持続時間比較手
段としての持続時間比較回路である。また、10はスイ
ッチ回路、11−1゜11−2.−.11−Nは積算回
路、12−11−.2.−.12−Nは比較回路、13
はOR回路、14は表示回路、15はタイマー、16は
揺動角度検出回路である。上記比較回路+2−1.12
2、・、+2−Nと上記OR回路13により、異常判別
手段17か構成さ乙ている。
の積分回路、8はAE比較回路6の出力のトレイリング
エツジを検出するエツジ検出回路、9は持続時間比較手
段としての持続時間比較回路である。また、10はスイ
ッチ回路、11−1゜11−2.−.11−Nは積算回
路、12−11−.2.−.12−Nは比較回路、13
はOR回路、14は表示回路、15はタイマー、16は
揺動角度検出回路である。上記比較回路+2−1.12
2、・、+2−Nと上記OR回路13により、異常判別
手段17か構成さ乙ている。
上g2AEセンサlは、第2図に示すように、クランク
21とすべり子22と連接棒23とで構成されるすへり
子クランク機構20の上記すべり子22と連接棒23と
の連結部近傍に図示の如く装着されている。そして、揺
動輪受24は、連接棒23のピン23aとすべり子22
間に介設され、連接棒23をすべり子22に揺動可能に
連結する。
21とすべり子22と連接棒23とで構成されるすへり
子クランク機構20の上記すべり子22と連接棒23と
の連結部近傍に図示の如く装着されている。そして、揺
動輪受24は、連接棒23のピン23aとすべり子22
間に介設され、連接棒23をすべり子22に揺動可能に
連結する。
そして、AEセンサlは揺動軸受24からのAEを確実
に検出して、AE倍信号を出力する。また、第1図に示
すバンドパスフィルター3は、AEセッサlにより検出
され、プリアンプ2により増幅されたAE倍信号うち、
揺動軸受24の異常に起因するAE信号以外をカットで
きるように、通過帯域が150KHz〜300KHzに
設定されている。メインアンプ4はバンドパスフィルタ
ー4からの出力を増幅し、包絡線検波回路5はメインア
ップ4からの出力を包絡線検波する。AE比較回路6は
、包絡線検波回路5から出力された信号が基準値を越え
たか否かを判別し、所定レベル以上のAE倍信号検出す
る。積分回路7はAE比較回路6からの入力がH”であ
る場合に、その入力°H”を後記するリセットパルスを
受けるまで積分して、AE倍信号基準値を越えている持
続時間を算出する。エツジ検出回路8は、AE比較回路
6から出力された“H”信号のトレイリングエツジ、す
なわち立ち下がりを検出して、積分回路7にリセットパ
ルスを出力する。積分回路7は、このリセットパルスを
受けるまでAE比較回路6の出力を積分しているので、
“H”レベルの持続時間を計時していることになる。持
続時間比較回路9は、積分回路7から出力された持続時
間を表わす信号が基準値のレベルを越えたときに、パル
スbをスイッチ回路10に出力する。
に検出して、AE倍信号を出力する。また、第1図に示
すバンドパスフィルター3は、AEセッサlにより検出
され、プリアンプ2により増幅されたAE倍信号うち、
揺動軸受24の異常に起因するAE信号以外をカットで
きるように、通過帯域が150KHz〜300KHzに
設定されている。メインアンプ4はバンドパスフィルタ
ー4からの出力を増幅し、包絡線検波回路5はメインア
ップ4からの出力を包絡線検波する。AE比較回路6は
、包絡線検波回路5から出力された信号が基準値を越え
たか否かを判別し、所定レベル以上のAE倍信号検出す
る。積分回路7はAE比較回路6からの入力がH”であ
る場合に、その入力°H”を後記するリセットパルスを
受けるまで積分して、AE倍信号基準値を越えている持
続時間を算出する。エツジ検出回路8は、AE比較回路
6から出力された“H”信号のトレイリングエツジ、す
なわち立ち下がりを検出して、積分回路7にリセットパ
ルスを出力する。積分回路7は、このリセットパルスを
受けるまでAE比較回路6の出力を積分しているので、
“H”レベルの持続時間を計時していることになる。持
続時間比較回路9は、積分回路7から出力された持続時
間を表わす信号が基準値のレベルを越えたときに、パル
スbをスイッチ回路10に出力する。
一方、揺動角度検出回路16は、第2図に示すクランク
角θを検出して、このクランク角θとクランク半径rと
連接棒23の長さQに基づいて、次式により、連接棒2
3の揺動角度φ、すなわち揺動軸受24の揺動角度φを
算出する (sinφ=(r/+2)sinθ、0°≦θ≦360
°)。
角θを検出して、このクランク角θとクランク半径rと
連接棒23の長さQに基づいて、次式により、連接棒2
3の揺動角度φ、すなわち揺動軸受24の揺動角度φを
算出する (sinφ=(r/+2)sinθ、0°≦θ≦360
°)。
また、積算回路11−1.11−2.−・、ItNは揺
動軸受24の揺動角度範囲2φをN分割した夫々に対応
するよう設けられている。上記スイッチ回路IOは上記
揺動角度検出回路16のからの揺動角度信号Cを受けて
、この揺動角度信号Cの示す揺動角度φをその担当範囲
に含む積算回路111.11−2.・−、11−(N−
1)または11−Nに、上記持続時間比較回路9はから
の出力すが入力されるように切り替わるものである。タ
イマー15は、予め設定された時間を計時する毎に、上
記複数の積算回路11−1.11−2.・・・、11−
Hにリセット信号gを入力する。
動軸受24の揺動角度範囲2φをN分割した夫々に対応
するよう設けられている。上記スイッチ回路IOは上記
揺動角度検出回路16のからの揺動角度信号Cを受けて
、この揺動角度信号Cの示す揺動角度φをその担当範囲
に含む積算回路111.11−2.・−、11−(N−
1)または11−Nに、上記持続時間比較回路9はから
の出力すが入力されるように切り替わるものである。タ
イマー15は、予め設定された時間を計時する毎に、上
記複数の積算回路11−1.11−2.・・・、11−
Hにリセット信号gを入力する。
上記積算回路11−1.11−2.・・・、11−Nは
、夫々、持続時間比較回路9よりスイッチ回路10を介
して入力された信号すを積算する。すなわち、積算回路
11−1.11−2.・・・、11−Nは、持続時間比
較回路9からの信号すを、揺動角度検出回路16からの
揺動角度信号Cに応じて、揺動角度範囲2φをN分割し
た夫々毎に積算する。
、夫々、持続時間比較回路9よりスイッチ回路10を介
して入力された信号すを積算する。すなわち、積算回路
11−1.11−2.・・・、11−Nは、持続時間比
較回路9からの信号すを、揺動角度検出回路16からの
揺動角度信号Cに応じて、揺動角度範囲2φをN分割し
た夫々毎に積算する。
積算回路11−1.LL−2,・・・、11−Nの積算
値d+、dt、−・、dnは比較回路12−1.12−
2.−・12−Nに夫々入力される。比較回路12−1
は、積算回路11−1からの積算値d、を基準値S、と
比較し、積算値d1が基準値S、を越えたときに、この
ことを示す信号elをOR回路13に入力する。
値d+、dt、−・、dnは比較回路12−1.12−
2.−・12−Nに夫々入力される。比較回路12−1
は、積算回路11−1からの積算値d、を基準値S、と
比較し、積算値d1が基準値S、を越えたときに、この
ことを示す信号elをOR回路13に入力する。
他の比較回路12−2.12−3−、+ 2−Nも同様
に積算回路11−2.11−3.、l l−Nからの積
算値dt、cL”’ 、dnを基準値S、と比較し、積
算値d!、d3・、dnが基準値S、を越えたときに、
このことを示す信号ey、ea、”’、enをOR回路
13こ夫々入力する。OR回路13は比較回路121.
12−2.−.12−Nの少むくともいずれか一つより
上記信号e、、e、、 またはenが入力されたとき
、このことを示す信号h、すなわち揺動軸受の異常信号
りを表示回路14に入力する。そして、この表示回路1
1に揺動軸受に異常があることを表示させる。なお、各
積算回路+1−1.112、−.11−Nの積算値は、
上記タイマー15からの上記リセット信号gの入力によ
り、所定時間毎にリセットさ杷るようになっている。
に積算回路11−2.11−3.、l l−Nからの積
算値dt、cL”’ 、dnを基準値S、と比較し、積
算値d!、d3・、dnが基準値S、を越えたときに、
このことを示す信号ey、ea、”’、enをOR回路
13こ夫々入力する。OR回路13は比較回路121.
12−2.−.12−Nの少むくともいずれか一つより
上記信号e、、e、、 またはenが入力されたとき
、このことを示す信号h、すなわち揺動軸受の異常信号
りを表示回路14に入力する。そして、この表示回路1
1に揺動軸受に異常があることを表示させる。なお、各
積算回路+1−1.112、−.11−Nの積算値は、
上記タイマー15からの上記リセット信号gの入力によ
り、所定時間毎にリセットさ杷るようになっている。
上記構成において、いま、揺動軸受24の転送面に摩耗
やへこみ等による異常があるとする。そして、揺動軸受
24は、第2図のようなすべり子クランク機構20の作
動による連接棒23の揺動と共に、すべり子22に対し
て図中矢印Xで示すように揺動しているとする。
やへこみ等による異常があるとする。そして、揺動軸受
24は、第2図のようなすべり子クランク機構20の作
動による連接棒23の揺動と共に、すべり子22に対し
て図中矢印Xで示すように揺動しているとする。
すると、この揺動軸受24は、第3図に示すように、連
接棒23が上記異常部分に負荷が作用する揺動角度φ“
(クランク角θ°)になる毎に、大きなAEを発生する
。このAEはAEセンサlにより検出され、プリアンプ
2で増幅され、バンドパスフィルター3で150KHz
−300KHzのAE倍信号抽出される。このバンドパ
スフィルター3からの出力はメインアンプ4て増幅され
、さらに包絡線検波回路5で包絡線検波されて、AE比
較回路6に入力される。AE比較回路6ては、包絡線検
波回路5から入力された信号が基準値を越えたか否かが
判別され、所定レヘル以上のAE倍信号検出される。積
分回路7はAE比較回路6からの入力が“H”である場
合に、その入力“H”を二ノジ検出回路8からリセット
パルスを受けるまで積分して、“H”レベルの持続時間
を計時する。積分回路7から入力された持続時間を表わ
す信号が基準値のレベルを越えたときに、持続時間比較
回路9から、パルスがスイッチ回路10に出力される。
接棒23が上記異常部分に負荷が作用する揺動角度φ“
(クランク角θ°)になる毎に、大きなAEを発生する
。このAEはAEセンサlにより検出され、プリアンプ
2で増幅され、バンドパスフィルター3で150KHz
−300KHzのAE倍信号抽出される。このバンドパ
スフィルター3からの出力はメインアンプ4て増幅され
、さらに包絡線検波回路5で包絡線検波されて、AE比
較回路6に入力される。AE比較回路6ては、包絡線検
波回路5から入力された信号が基準値を越えたか否かが
判別され、所定レヘル以上のAE倍信号検出される。積
分回路7はAE比較回路6からの入力が“H”である場
合に、その入力“H”を二ノジ検出回路8からリセット
パルスを受けるまで積分して、“H”レベルの持続時間
を計時する。積分回路7から入力された持続時間を表わ
す信号が基準値のレベルを越えたときに、持続時間比較
回路9から、パルスがスイッチ回路10に出力される。
こうすることによって、持続時間の長い揺動輪受24の
損傷を表わすAE倍信号発生のみが検出される。一方、
揺動角度検出回路16は、第2図中θで示すクランク角
度を検出して、揺動角度φを表わす信号をスイッチ回路
10に出力する。上記スイッチ回路10は揺動角度検出
回路16からの揺動角度信号Cを受け、この揺動角度信
号Cの示す揺動角度φをその担当範囲に含む積算回路1
1111−2.・・、 11−(N−1)または(11
−N)に、上記持続時間比較9からの出力すが入力され
るように切り替わる。タイマー15は予め設定された時
間を計時する毎に、上記積算回路11−1.11−2.
−・、11−Nにリセット信号gを入力する。
損傷を表わすAE倍信号発生のみが検出される。一方、
揺動角度検出回路16は、第2図中θで示すクランク角
度を検出して、揺動角度φを表わす信号をスイッチ回路
10に出力する。上記スイッチ回路10は揺動角度検出
回路16からの揺動角度信号Cを受け、この揺動角度信
号Cの示す揺動角度φをその担当範囲に含む積算回路1
1111−2.・・、 11−(N−1)または(11
−N)に、上記持続時間比較9からの出力すが入力され
るように切り替わる。タイマー15は予め設定された時
間を計時する毎に、上記積算回路11−1.11−2.
−・、11−Nにリセット信号gを入力する。
上記積算回路8−L、S−2,・、8−Nは夫々、持続
時間比較回路9よりスイッチ回路lOを介して入力され
る信号すの数をカウントする。すなわち、積算回路11
−1.11−2.・・・、11−Nは、持続時間比較回
路9からの信号すの出力を、揺動角度検出回路16から
の揺動角度信号Cに応じて、揺動角度範囲2φをN分割
した夫々毎に積算する。
時間比較回路9よりスイッチ回路lOを介して入力され
る信号すの数をカウントする。すなわち、積算回路11
−1.11−2.・・・、11−Nは、持続時間比較回
路9からの信号すの出力を、揺動角度検出回路16から
の揺動角度信号Cに応じて、揺動角度範囲2φをN分割
した夫々毎に積算する。
各積算回路t t−t、t 1−2.・、II−Nの積
算値(L、dt、・、dnは比較回路12−1.12−
211−Nに夫々入力される。比較回路121は、積算
回路11−1からの積算値diを基準値S、と比較し、
積算値d、が基準値S、を越えたときに、このことを示
す信号e1がOR回路13に入力される。他の比較回路
12−2.12−3.・・12−Hにおいても、積算回
路11−2.113 ・・・ 11−Nからの積算値d
t、d3.・・、dnが基準値S、と比較され、積算値
d、、d3.・・、dnが基準値Stを越えたとき、こ
のことを示す信号e t 、e s 、・・、enがO
R回路13に夫々入力される。OR回路13は上記比較
回路12−1.12−2.・・・、12−Hの少なくと
もいずれか一つより上記信号e I −e * +また
はenが入力されたとき、異常信号りを表示回路14に
出力して、異常を表示する。
算値(L、dt、・、dnは比較回路12−1.12−
211−Nに夫々入力される。比較回路121は、積算
回路11−1からの積算値diを基準値S、と比較し、
積算値d、が基準値S、を越えたときに、このことを示
す信号e1がOR回路13に入力される。他の比較回路
12−2.12−3.・・12−Hにおいても、積算回
路11−2.113 ・・・ 11−Nからの積算値d
t、d3.・・、dnが基準値S、と比較され、積算値
d、、d3.・・、dnが基準値Stを越えたとき、こ
のことを示す信号e t 、e s 、・・、enがO
R回路13に夫々入力される。OR回路13は上記比較
回路12−1.12−2.・・・、12−Hの少なくと
もいずれか一つより上記信号e I −e * +また
はenが入力されたとき、異常信号りを表示回路14に
出力して、異常を表示する。
このように、AE倍信号レベルが所定値以上で、かつ持
続時間が所定値以上長いAE倍信号発生数を揺動角度毎
にカプトして、その積算値に基づいて、揺動輪受の異常
の有無を判断するので、持続時間が長く、一定揺動角度
毎に生じる揺動軸受の凰満に起因したAEのみを抽出し
て、異常を判断することになり、正確に揺動軸受の異常
を診断できる。
続時間が所定値以上長いAE倍信号発生数を揺動角度毎
にカプトして、その積算値に基づいて、揺動輪受の異常
の有無を判断するので、持続時間が長く、一定揺動角度
毎に生じる揺動軸受の凰満に起因したAEのみを抽出し
て、異常を判断することになり、正確に揺動軸受の異常
を診断できる。
上記実施例では、持続時間算出手段を積分回路で構成し
たか、クロックパルスをカウンタて計数するようにして
も良い。また、上記実施例では、揺動角度検出手段は、
クランク角θを検出し、この検出したクランク角Oより
揺動角度φを算出するしのであったか、揺動角度検出手
段はこれに限らず、揺動軸受の揺動角度を直接検出する
ものであってもよい。
たか、クロックパルスをカウンタて計数するようにして
も良い。また、上記実施例では、揺動角度検出手段は、
クランク角θを検出し、この検出したクランク角Oより
揺動角度φを算出するしのであったか、揺動角度検出手
段はこれに限らず、揺動軸受の揺動角度を直接検出する
ものであってもよい。
〈発明の効果〉
以上より明らかなように、この発明の揺動輪受の異常診
断装置は、持続時間の長いAE倍信号発生数を揺動角度
毎に積算し、この積算値を基準値と比較して、揺動軸受
の異常を診断するので、揺動軸受固有のへこみ、摩耗に
よって生じ、かつ周期的に生じるAE倍信号検出して、
低速等の悪条件の場合でも、揺動軸受の異常を正確に検
出することができる。
断装置は、持続時間の長いAE倍信号発生数を揺動角度
毎に積算し、この積算値を基準値と比較して、揺動軸受
の異常を診断するので、揺動軸受固有のへこみ、摩耗に
よって生じ、かつ周期的に生じるAE倍信号検出して、
低速等の悪条件の場合でも、揺動軸受の異常を正確に検
出することができる。
第1図はこの発明の揺動軸受の異常診断装置の実施例を
示すブロック図、第2図は揺動軸受およびAEセンサの
配置の説明図、第3図は異常がある揺動軸受がその作動
と共に発生するAEのその発生数と揺動角度との関係の
一例を示した図、第4図(a) 、 (b)は回転軸受
と揺動軸受の破損の構造を示す図、第5図(a) 、
(b)は回転軸受と揺動軸受の包絡線検波後のAE倍信
号示す図、第6図(a)。 (b)は回転軸受と揺動輪受のAE倍信号波形図である
。 l ・AEセンサ、6・・AE比較回路、7 積分回路
、8−エツジ検出回路、 9・持続時間比較回路、IO・スイッチ回路、11・積
算回路、16 揺動角度検出回路、17−異常判別手段
、24・揺動輪受。 第2図 20 第3図 フランク″Ae AE板幅(mV ) 第41河(0) 回転軸受 第4図(b) )S乞重カ庫由受 AE撮幅(mV)
示すブロック図、第2図は揺動軸受およびAEセンサの
配置の説明図、第3図は異常がある揺動軸受がその作動
と共に発生するAEのその発生数と揺動角度との関係の
一例を示した図、第4図(a) 、 (b)は回転軸受
と揺動軸受の破損の構造を示す図、第5図(a) 、
(b)は回転軸受と揺動軸受の包絡線検波後のAE倍信
号示す図、第6図(a)。 (b)は回転軸受と揺動輪受のAE倍信号波形図である
。 l ・AEセンサ、6・・AE比較回路、7 積分回路
、8−エツジ検出回路、 9・持続時間比較回路、IO・スイッチ回路、11・積
算回路、16 揺動角度検出回路、17−異常判別手段
、24・揺動輪受。 第2図 20 第3図 フランク″Ae AE板幅(mV ) 第41河(0) 回転軸受 第4図(b) )S乞重カ庫由受 AE撮幅(mV)
Claims (1)
- (1)揺動軸受が発生するアコースティックエミッショ
ンを検出してAE信号を出力するAEセンサと、 上記AE信号と基準値とを比較するAE比較手段と、 上記AE比較手段の出力を受け、上記AE信号が上記基
準値を越えているときの持続時間を算出する持続時間算
出手段と、 上記持続時間算出手段から持続時間を表わす信号を受け
て、持続時間が基準値を越えたか否かを比較する持続時
間比較手段と、 上記揺動軸受の揺動角度を検出する揺動角度検出手段と
、 上記揺動角度検出手段からの揺動角度を表わす信号を受
けて、上記持続時間比較手段から出力された持続時間が
基準値を越えたことを表わす信号の出力を揺動角度毎に
積算する積算手段と、上記積算手段から出力された積算
値と基準値とを比較して、いずれかの積算値が基準値を
越えたときに、揺動軸受に異常が生じたことを表わす信
号を出力する異常判別手段とを備えたことを特徴とする
揺動軸受の異常診断装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2043762A JP2839623B2 (ja) | 1990-02-22 | 1990-02-22 | 揺動軸受の異常診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2043762A JP2839623B2 (ja) | 1990-02-22 | 1990-02-22 | 揺動軸受の異常診断装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03245054A true JPH03245054A (ja) | 1991-10-31 |
JP2839623B2 JP2839623B2 (ja) | 1998-12-16 |
Family
ID=12672772
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2043762A Expired - Fee Related JP2839623B2 (ja) | 1990-02-22 | 1990-02-22 | 揺動軸受の異常診断装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2839623B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006226731A (ja) * | 2005-02-15 | 2006-08-31 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 軸受の異常検出装置 |
WO2008117765A1 (ja) | 2007-03-26 | 2008-10-02 | Nippon Steel Corporation | 極低速回転機械の異常診断方法及び装置 |
WO2009096551A1 (ja) * | 2008-01-30 | 2009-08-06 | Jfe Advantech Co., Ltd. | 軸受の診断システム |
JP2019113453A (ja) * | 2017-12-25 | 2019-07-11 | 株式会社ニチゾウテック | ゲートピン検査装置および検査方法 |
-
1990
- 1990-02-22 JP JP2043762A patent/JP2839623B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006226731A (ja) * | 2005-02-15 | 2006-08-31 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 軸受の異常検出装置 |
JP4542918B2 (ja) * | 2005-02-15 | 2010-09-15 | 住友金属工業株式会社 | 軸受の異常検出装置 |
WO2008117765A1 (ja) | 2007-03-26 | 2008-10-02 | Nippon Steel Corporation | 極低速回転機械の異常診断方法及び装置 |
US8534128B2 (en) | 2007-03-26 | 2013-09-17 | Nippon Steel & Sumitomo Metal Corporation | Method and system for abnormality diagnosis of very low speed rotating machine |
WO2009096551A1 (ja) * | 2008-01-30 | 2009-08-06 | Jfe Advantech Co., Ltd. | 軸受の診断システム |
JPWO2009096551A1 (ja) * | 2008-01-30 | 2011-05-26 | Jfeアドバンテック株式会社 | 軸受の診断システム |
JP4874406B2 (ja) * | 2008-01-30 | 2012-02-15 | Jfeアドバンテック株式会社 | 軸受の診断システム |
KR101429952B1 (ko) * | 2008-01-30 | 2014-08-13 | 제이에프이 어드밴테크 가부시키가이샤 | 베어링의 진단 시스템 |
JP2019113453A (ja) * | 2017-12-25 | 2019-07-11 | 株式会社ニチゾウテック | ゲートピン検査装置および検査方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2839623B2 (ja) | 1998-12-16 |
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