JP4541172B2 - Information management system in component mounting line - Google Patents
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Description
本発明は、回路基板に電子部品を実装する部品実装ラインにおいて種々の情報を管理し表示する情報管理システムに関するものである。 The present invention relates to an information management system for managing and displaying various information on a component mounting line for mounting electronic components on a circuit board.
従来から、はんだ印刷装置(又はディスペンサ)、実装装置、リフロー炉等を一列に配列して生産ライン(部品実装ライン)を構成し、回路基板を搬送しつつこれら各装置を経由させることにより基板上に電子部品を実装することが行われている。 Conventionally, a soldering device (or dispenser), a mounting device, a reflow furnace, etc. are arranged in a line to form a production line (component mounting line), and the circuit board is transported through each of these devices and then on the substrate. Electronic components are mounted on the board.
この種の生産ラインでは、上記の装置毎にその下流側に検査装置を設け、回路基板に施された処理(作業)内容を検査することにより処理不良があると判断した場合には、必要に応じてその基板をライン落ちさせるとともに検査結果をフィードバックして次の基板の処理に反映させることが行われている。 In this type of production line, an inspection device is provided on the downstream side of each of the above devices, and it is necessary when it is determined that there is a processing defect by inspecting the processing (work) content applied to the circuit board. Accordingly, the line of the substrate is dropped and the inspection result is fed back and reflected in the processing of the next substrate.
また、各回路基板にバーコード等の識別情報を設け、各検査装置においてこの識別情報を読み取って検査結果と共に情報管理装置(上位計算機)に送信、格納(記憶)し、各回路基板の各検査装置における検査結果を情報管理装置において一元管理することも行われている(例えば特許文献1)。
各回路基板の検査装置における検査結果を情報管理装置により一元的に管理する特許文献1に係る情報管理システムによると、基板に処理不良が発生した場合には、情報管理装置に格納されている検査結果を分析することにより不良原因を解析することが可能となる。
According to the information management system according to
しかしながら、特許文献1のような情報管理システムでは、不良原因の分析や評価は、各検査装置の検査結果のみに基づいて行われるため、不良原因を正確に特定するのは必ずしも容易ではなく、信頼性の高い分析結果を速やかに得ることは難しかった。従って、この点に改良の余地が残されている。
However, in the information management system such as
本発明は上記の事情に鑑みてなされたものであって、部品実装ラインにおける不良原因等の分析をより正確に、かつ速やかに行えるようにすることを目的としている。 The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to enable more accurate and quick analysis of a cause of a defect in a component mounting line.
上記課題を解決するために、本発明の情報管理システムは、ペースト塗布装置、部品実装装置、リフロー装置のうち少なくとも部品実装装置を含む複数の処理装置を有し、かつ各処理装置の下流側に、画像認識に基づき当該基板を検査する検査装置を備えた部品実装ラインにおける情報管理システムであって、各基板の各検査装置における検査結果および検査に用いられた画像情報を、各基板をそれぞれ特定可能な識別情報と共に蓄積するとともに、各処理装置の処理に関する設定条件、各処理装置のメンテナンス関連情報、各処理装置のエラー関連情報および処理に関する各種履歴のうち少なくともメンテナンス関連情報及びエラー関連情報を含む情報である生産関連情報を蓄積するデータベースと、このデータベースに蓄積される情報を画面表示可能な表示手段と、この表示手段により情報表示させるべき対象基板を前記識別情報に基づき特定可能な特定手段と、前記データベースに蓄積されたデータのうち、前記特定手段により特定される基板の各検査装置による検査結果および前記画像情報を、前記表示手段の同一の表示画面内に表示するとともに、これら検査結果および画像情報と共に各処理装置の前記生産関連情報を前記同一の表示画面内に表示する表示制御手段とを備えているものである(請求項1)。 In order to solve the above problems, an information management system of the present invention has a plurality of processing devices including at least a component mounting device among a paste application device, a component mounting device, and a reflow device, and is provided downstream of each processing device. , An information management system in a component mounting line equipped with an inspection device for inspecting the board based on image recognition, in which each board is identified with the inspection result of each inspection device and the image information used for the inspection It stores together with possible identification information, and includes at least maintenance-related information and error-related information among setting conditions related to processing of each processing device, maintenance-related information of each processing device, error-related information of each processing device, and various histories related to processing. A database that stores production-related information that is information, and information that is stored in this database Display means capable of surface display, specification means capable of specifying a target substrate on which information is to be displayed by the display means based on the identification information, and of the data stored in the database, the substrate specified by the specification means The inspection result and the image information by each inspection apparatus are displayed in the same display screen of the display means, and the production related information of each processing apparatus is displayed in the same display screen together with the inspection result and the image information. Display control means.
この構成によれば、各検査装置の検査結果とその検査に用いられた画像情報がデータベースに蓄積されて一元管理される。そして、オペレータが特定手段により基板を特定すると、表示制御手段により当該基板の各検査装置における検査結果および画像情報が表示手段による同一の表示画面内に表示される。これよりオペレータは、各検査装置における検査結果および画像情報を同一の表示画面内で確認しながら多面的に処理不良等の発生原因を解析することが可能となる。特に、表示制御手段により各処理装置の生産関連情報も同一の表示画面内に表示されるため、オペレータは、生産関連情報を参考にしつつ処理不良等の発生原因を解析することが可能となり、より多面的な解析を行うことが可能となる。 According to this configuration, the inspection result of each inspection apparatus and the image information used for the inspection are accumulated in the database and managed centrally. Then, when the operator specifies the substrate by the specifying unit, the display control unit displays the inspection result and the image information in each inspection apparatus of the substrate in the same display screen by the display unit. As a result, the operator can analyze the cause of the processing failure and the like in a multifaceted manner while confirming the inspection result and image information in each inspection apparatus on the same display screen. In particular, since the production control information of each processing device is also displayed in the same display screen by the display control means, the operator can analyze the cause of the processing failure or the like while referring to the production related information. Multifaceted analysis can be performed.
また、前記表示制御手段は、前記特定手段により特定される基板の情報と共に、当該基板の直前又は直後に処理された基板の情報を前記同一の表示画面内に表示するように構成されているのが好適である(請求項2)。 Further, the display control means is configured to display information on a substrate processed immediately before or immediately after the substrate together with information on the substrate specified by the specifying means in the same display screen. (Claim 2).
この構成によれば、表示制御手段により、連続して処理された複数の基板に関する検査結果等の情報が同一の表示画面内に表示される。そのため、オペレータは、連続的に処理された各基板の処理状況を事後的に経過観察することが可能となる。 According to this configuration, information such as inspection results regarding a plurality of substrates processed in succession is displayed in the same display screen by the display control means. Therefore, the operator can follow-up the processing status of each substrate processed continuously afterwards.
また、上記の情報管理システムにおいては、表示手段に表示される情報をスクロールさせるための操作手段を有し、前記表示制御手段は、前記操作手段の操作に基づき連続して処理された複数の基板の前記情報をスクロール表示可能に構成されているものであるのが好適である(請求項3)。 The information management system further includes an operation unit for scrolling information displayed on the display unit, and the display control unit includes a plurality of substrates processed continuously based on the operation of the operation unit. It is preferable that the information is scroll-displayable (claim 3).
この構成によれば、必要に応じて、オペレータによる操作手段の操作に基づき、連続して処理された基板に関する情報が表示画面内にスクロール表示される。そのため、連続的に処理された複数の基板に関する情報を限られた表示画面を使って効率的に表示させながら不良原因等の解析に当ることが可能となる。 According to this configuration, as necessary, information on the continuously processed substrates is scroll-displayed in the display screen based on the operation of the operation means by the operator. For this reason, it is possible to analyze the cause of defects while efficiently displaying information on a plurality of substrates processed continuously using a limited display screen.
一方、上記の情報管理システムにおいて、前記表示制御手段は、前記特定手段により特定される複数の基板の情報を同一の表示画面内に表示するものであってもよい(請求項4)。 On the other hand, in the above information management system, the display control means may display information on a plurality of substrates specified by the specifying means within the same display screen.
この構成によれば、特定手段により特定された任意の複数の基板に関する検査結果等の情報が表示制御手段により同一の表示画面内に表示される。そのため、基板の処理順序に拘わらず、任意の複数の基板に関する情報を表示させて不良原因等の解析に当ることが可能となる。 According to this configuration, information such as inspection results regarding a plurality of substrates specified by the specifying unit is displayed on the same display screen by the display control unit. Therefore, regardless of the processing order of the substrates, it is possible to display information on any of a plurality of substrates and analyze the cause of the defect.
本発明の請求項1〜4に係る情報管理システムによると、基板の各検査装置における検査結果、検査に用いた画像情報および各処理装置のメンテナンス関連情報等の生産関連情報を同一の表示画面内に表示させることができるため、各検査装置の検査結果及び画像情報を比較しつつ生産関連情報を参考にすることにより多面的に処理不良の発生原因を解析することができる。従って、検査装置の検査結果だけに基づいて処理不良の発生原因を分析する従来のこの種のシステムに比べると、より信頼性の高い分析結果を得ることができるようになる。特に、請求項2〜4に係る情報管理システムによると、複数の基板に関す
る情報を同一の表示画面内に表示させることができるため、基板の処理状況を事後的に経過観察することにより処理不良の発生原因をより正確に、かつ速やかに探知することができるようになる。
According to the information management system according to the first to fourth aspects of the present invention, the production result information such as the inspection result in each inspection device of the substrate, the image information used for the inspection, and the maintenance related information of each processing device are displayed in the same display screen. Therefore, it is possible to analyze the cause of the processing failure in a multifaceted manner by referring to the production related information while comparing the inspection results and image information of the respective inspection apparatuses. Therefore, a more reliable analysis result can be obtained as compared with a conventional system of this type that analyzes the cause of processing failure based only on the inspection result of the inspection apparatus. In particular, according to the information management system according to
本発明の実施の形態について図面を用いて説明する。 Embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
図1は、本発明の情報管理システムが適用される部品実装ラインを概略的に示している。この生産ラインは、ローダー(図示省略)、はんだ印刷装置(又はディスペンサ)1、印刷検査装置2、2種類の実装装置3A,3B、実装検査装置4、リフロー炉5、はんだ付検査装置6およびアンローダー(図示省略)を一列に備え、これらを互いにコンベア7で連結した構成となっている。そして、コンベア7により回路基板(以下、単に基板という)を搬送しながら、順次はんだ印刷、部品実装およびリフローの各処理を施すとともに、検査装置2,4,6により各処理後の基板を検査するように構成されている。
FIG. 1 schematically shows a component mounting line to which the information management system of the present invention is applied. This production line includes a loader (not shown), a solder printing device (or dispenser) 1, a
各検査装置2,4,6は、図示を省略するがCCDカメラを搭載したヘッドとこのヘッドを平面的に移動させる駆動装置等を備えており、基板の被実装面を撮像することによりその画像データに基づいて各処理の検査、具体的には、印刷検査装置2では印刷ずれ等の検査、実装検査装置4およびリフロー炉5では部品の実装ずれ等の検査が実施されるようになっている。
Although not shown, each
各装置1〜6は、それぞれ制御装置が搭載された自律型の装置であって、各装置の動作が各自の制御装置により個別に駆動制御されるが、この部品実装ラインでは、さらに各装置1〜6(制御装置)に対してオンラインで接続される中央管理装置8(データベース)が設けられており、各種データがこの中央管理装置8により集中管理されるとともにこの中央管理装置8と各装置1〜6(制御装置)との間で必要なデータの送受信が行われるようになっている。
Each of the
図2は、中央管理装置8の構成の一例を示すブロック図である。 FIG. 2 is a block diagram illustrating an example of the configuration of the central management device 8.
この図に示すように、中央管理装置8は、その動作制御を司るための制御部本体10を有している。この制御部本体10は、論理演算を実行するCPU12、そのCPU12を制御する種々のプログラムなどを予め記憶するROM13、装置動作中に種々のデータを一時的に記憶するRAM14、HDD15およびI/Oコントローラ(IOC)16等からなり、これらCPU12等が互いに内部バスにより接続された構成となっている。
As shown in the figure, the central management device 8 has a control unit
HDD15には、各種アプリケーションソフト用のプログラムや上記各装置1〜6の生産に関する各種情報、例えば基板データ、部品データ、印刷および実装位置データ、リフロー温度データ等の種々のデータが格納(記憶)されている。
The
IOC16には、キーボードやマウス等の入力手段18、CRTモニタやLCDモニタからなる表示手段19が接続されるとともに上記各装置1〜6が接続されており、制御部本体10は、入力手段18により入力される所定の指示情報や、各装置1〜6からの各種操作信号を受けて当該管理装置全体の制御を行うようになっている。
The IOC 16 is connected to an input means 18 such as a keyboard and a mouse, and a display means 19 such as a CRT monitor or an LCD monitor, and the
なお、制御部本体10には、さらに光磁気ディスク等の外部記憶装置17が設けられており、上記各装置1〜6における生産履歴等の種々の情報がこの外部記憶装置17に蓄積(記憶)されている。具体的には、各基板の検査装置2,4,6における検査結果および各検査に用いられた基板の画像データ(画像情報)等の検査情報、各処理装置(装置1,3A,3B,5)で発生したエラーやメンテナンスに関する情報等が記憶されている。
The control unit
外部記憶装置17に記憶される情報のうち上記検査情報は、部品実装ラインの稼動中、各検査装置2,4,6から自動送信され、各基板の識別情報と共に外部記憶装置17に順次記憶される。基板の識別情報は、例えばバーコードやQRコードとして基板毎に記されており、各検査装置2,4,6における基板の画像認識の際に同時に読み取られ、検査結果および画像データと共に中央管理装置8に送信されるようになっている。なお、エラー関連情報やメンテナンス関連情報等は、各装置1〜6に設けられるキーボード等の入力手段18をオペレータが操作し、エラー内容やメンテナンス内容を入力することにより中央管理装置8に送信されるようになっている。
Of the information stored in the
図3は、制御部本体10に含まれる機能構成のうち、外部記憶装置17に記憶されている情報を表示手段19により画像表示させるための機能構成をブロック図で示している。
FIG. 3 is a block diagram illustrating a functional configuration for causing the
この図に示すように、制御部本体10は、上記の機能構成として主制御部21と表示制御部22とを有している。
As shown in the figure, the control unit
主制御部21は、画像表示のための各種処理を統括的に制御するものである。表示制御部22は、予め記憶されているプログラムに従って前記表示手段19に所定の画面表示を行うとともに、オペレータの前記入力手段18の操作による表示指示に応じて、前記外部記憶装置17に記憶されている各種情報を表示手段19に表示させるべく表示制御を行うものである。具体的には、基板の識別情報の入力に応じ、この識別情報により特定される基板およびその前後(直前、直後)に生産された基板の各検査結果とその際の検査画像(画像データ)、さらに表示可能なメンテナンス関連情報等がある場合には当該情報を表示手段19の同一画面内に表示させる。なお、当実施形態では、前記入力手段18が本発明に係る特定手段に相当する。
The
図4は、表示制御部22の制御に基づく表示手段19の表示画面の一例を示している。
FIG. 4 shows an example of the display screen of the display means 19 based on the control of the
この図に示すように、表示画面30は、その右側から順に上記各装置1〜6にそれぞれ対応する表示スペース301〜306とされている。
As shown in this figure, the
画面30の中段左端には、入力された識別情報31(図示の例ではn)が表示され、当該識別情報31に対応する基板(識別情報がnの基板;以下、指定基板という)の各検査装置2,4,6における検査画像および検査結果がそれぞれ横並びに表示される。
The input identification information 31 (n in the illustrated example) is displayed at the left end of the middle stage of the
具体的には、印刷検査装置2、実装検査装置4およびはんだ付検査装置6の各検査画像P1〜P3が、それぞれ対応する検査スペース302,304,306に右側から順に横並びに表示されるとともに、各検査画像P1〜P3の直ぐ下側にそれぞれの検査結果32が表示される。なお、図示の例は、電子部品として集積回路チップIC1,チップ抵抗R1,チップコンデンサC1を実装する場合の例であって、従って、検査画像P1は基板上ランドにはんだが塗布された直後、検査画像P2は部品の実装処理が終了した直後、検査画像P3はリフロー処理が終了した直後の基板をそれぞれ示す画像である。
Specifically, the inspection images P1 to P3 of the
また、画面30の上段には、指定基板(識別情報nの基板)の直後に生産された基板(識別情報がn+1の基板)の各検査画像P1〜P3および検査結果32が同様にして横並び表示され、さらに画面30の下段には、指定基板の直前に生産された基板(識別情報がn−1の基板)の各検査画像P1〜P3および検査結果32が同様にして横並びに表示される。これにより指定基板を含む連続して生産された3つの基板の各検査装置2,4,6における検査画像P1〜P3および検査結果が同一表示画面30内に表示される。
Further, in the upper part of the
画面30には、さらにはんだ印刷装置1、実装装置3A,3Bおよびリフロー炉5のメンテナンスに関する情報(メンテナンス関連情報34という)とエラーに関する情報(エラー関連情報35)とが表示される。
The
これらの表示34,35のうちメンテナンス関連情報34は、メンテナンス内容、メンテナンス時間等のメンテナンスに関する種々の情報であって、メンテナンスが行われた装置に対応する表示スペース301,303,305であって、かつその実施時期に対応した位置に表示される。例えば、はんだ印刷装置1において、指定基板(n)とその次の基板(n+1)との処理の間にメンテナンスによる停止期間があった場合には、はんだ印刷装置1の表示ペース301であって、中段の表示部分と上段の表示部分との間にメンテナンス関連情報34が表示される(図示の例では「ライン停止ため20分停止」というメンテナンス関連情報34が表示されている)。
Of these
一方、エラー関連情報35は、エラーの内容、対処方法等のエラーに関する種々の情報であって、エラーが発生した基板に対応し、かつ当該エラーが検出された検査装置2,4,6に対応する表示スペース302,304,306に表示される(図示の例では、指定基板(n)についてチップ抵抗R1の実装ミスが発生したためこれを手作業で実装することにより処理した旨の表示(「R1手実装」)が表示スペース304にされている)。
On the other hand, the error-related
次に、上記制御部本体10の制御に基づく表示手段19の表示動作の一例について図5のフローチャートに基づいて説明する。
Next, an example of the display operation of the display means 19 based on the control of the
まず、中央管理装置8が起動すると、表示制御部22により表示手段19に所定のメニュー画面が表示される(ステップS1)。メニュー画面には、中央管理装置8において実行可能な各種演算、表示等のメニューが、入力手段18の操作により選択可能に表示される。この際、メニューの一つとして外部記憶装置17の各種情報を表示させるための例えば「工程分析画面表示」の選択欄が表示される。
First, when the central management device 8 is activated, a predetermined menu screen is displayed on the display means 19 by the display control unit 22 (step S1). On the menu screen, menus such as various calculations and displays that can be executed in the central management device 8 are displayed so as to be selectable by operating the input means 18. At this time, for example, a selection column of “process analysis screen display” for displaying various information of the
次いで、上記メニューから「工程分析画面表示」が選択されたか否かが判断され、ここでYESと判断されると、基板を特定するための識別情報の入力画面が表示され、さらに当該識別情報の入力有無が判断される(ステップS2〜S4)。ここで、YESと判断されると、すなわちオペレータが入力手段18を操作して基板の識別情報を入力すると、表示制御部22により図4に示したような画面が表示手段19に表示される(ステップS5)。具体的には、指定した基板(入力された識別情報により特定される基板)及びその前後に生産された基板の各検査装置2,4,6の検査画像、検査結果が同一の表示画面内に表示されるとともに、各装置1,3A,3B,5においてメンテナンスが実施され、あるいは各検査装置2,4,6においてエラーが発生していた場合には、これらメンテナンス関連情報34及びエラー関連情報35がこの表示画面内に併せて表示される。
Next, it is determined whether or not “display process analysis screen” is selected from the menu. If YES is determined here, an input screen of identification information for specifying the substrate is displayed, and further, the identification information is displayed. The presence / absence of input is determined (steps S2 to S4). When YES is determined here, that is, when the operator operates the input means 18 to input the identification information of the board, the
次いで、画面切換入力の有無が判断される(ステップS6)。図示を省略するが、上記表示画面内には、例えば「画面切換」の選択欄が表示されており、オペレータが入力手段18を操作してこの欄を選択した場合には、ステップS6においてYESと判断され、この場合には、ステップS3に移行されて識別情報の入力画面が表示される。これにより、オペレータが再度、別の識別情報を入力すると、他の基板に関する検査画像等の情報が表示手段19に表示されることとなる。 Next, it is determined whether or not there is a screen switching input (step S6). Although not shown, for example, a “screen switching” selection field is displayed in the display screen. If the operator selects this field by operating the input means 18, YES is selected in step S 6. In this case, the process proceeds to step S3, and an input screen for identification information is displayed. Accordingly, when the operator inputs another identification information again, information such as an inspection image regarding another substrate is displayed on the display means 19.
ステップS6でNOと判断された場合には、さらに終了入力の有無が判断される(ステップS7)。図示を省略するが、ステップS5の表示画面内には、上記の「画面切換」欄に加えて「表示終了」の欄が表示されており、オペレータが入力手段18を操作してこの欄を選択した場合には、ステップS7でYESと判断され、この場合には、ステップS1
に移行されて表示手段19にメニュー画面が表示される。なお、ステップS7においてNOと判断された場合には、ステップS6に移行される。
If NO is determined in step S6, it is further determined whether or not there is an end input (step S7). Although not shown, in the display screen of step S5, in addition to the “screen switching” field, a “display end” field is displayed. The operator operates the input means 18 to select this field. If so, YES is determined in the step S7, and in this case, the step S1
The menu screen is displayed on the display means 19. If NO is determined in step S7, the process proceeds to step S6.
以上のような部品実装ラインによると、各基板の各検査装置2,4,6における検査結果および検査画像が中央管理装置8に蓄積され、必要な場合には、オペレータが当該中央管理装置8の入力手段18を操作して所望の基板を指定することにより、当該基板の各検査装置2,4,6における検査結果および検査画像を表示手段19の同一の表示画面内に表示させることができる。そのため、処理不良が発生した場合などには、同一の表示画面内に表示された各検査画像等を見比べながら当該基板の各工程の作業状況、すなわちはんだ印刷装置1、実装装置3A,3Bおよびリフロー炉5の各処理状況を確認することにより、多面的に不良原因を解析することができる。
According to the component mounting line as described above, the inspection results and inspection images of the
特に、この中央管理装置8では、オペレータによる指定基板に加えて、その前後に生産された基板の検査結果および検査画像を同一の表示画面内に表示させ、さらにはんだ印刷装置1、実装装置3A,3Bおよびリフロー炉5の各メンテナンス関連情報34およびエラー関連情報35についてもその表示画面内に併せて表示させるようにしているので、オペレータは、連続的に生産された基板に関するはんだ印刷装置1、実装装置3A,3Bおよびリフロー炉5における処理状況を、各装置1,3A,3B,5のメンテナンス情報およびエラー情報を参考にしつつ事後的に経過観察することができる。
In particular, in this central management device 8, in addition to the substrate specified by the operator, the inspection results and inspection images of the substrates produced before and after that are displayed on the same display screen, and further, the
従って、処理不良等が発生した際に、単にその検査結果のみに基づいて不良要因等を解析し得るように構成されている従来のこの種の情報管理システムと比較すると、不良要因の解析をより正確に、かつ速やかに行うことができるようになる。 Therefore, when a processing failure or the like occurs, the failure factor can be analyzed more than the conventional information management system of this type configured to be able to analyze the failure factor based only on the inspection result. It becomes possible to carry out accurately and promptly.
なお、上述した部品実装ラインは、本発明に係る情報管理システムが適用された部品実装ラインの一実施形態であって、その具体的な構成は、本発明の要旨を逸脱しない範囲で適宜変更可能である。例えば、次のようなものであってもよい。
(1)実施形態では、図4に示すように、表示手段19の同一の表示画面30内に、指定基板を含みその前後に生産された基板の検査画像、検査結果を表示しているが次のように表示してもよい。
The above-described component mounting line is an embodiment of a component mounting line to which the information management system according to the present invention is applied, and the specific configuration thereof can be changed as appropriate without departing from the gist of the present invention. It is. For example, the following may be used.
(1) In the embodiment, as shown in FIG. 4, in the
a)指定基板を上段(又は下段)に表示し、その下側(又は上側)に、指定基板の前(又は後)に連続して生産された一乃至複数の基板の検査画像等を表示する。 a) The designated board is displayed on the upper (or lower) stage, and the inspection image or the like of one or more boards continuously produced before (or after) the designated board is displayed below (or above) the designated board. .
b)指定基板として、オペレータが任意に指定した複数の基板の検査画像等を表示する。 b) Display inspection images of a plurality of substrates arbitrarily designated by the operator as designated substrates.
c)指定基板の検査画像等だけを表示する。 c) Only the inspection image of the specified board is displayed.
要は、指定基板の各検査装置2,4,6における検査結果および検査画像(検査に用いられた画像情報)を表示するものであればよい。
(2)実施形態では、各検査装置2,4,6の検査画像等を横並びに表示しているが、縦並びに表示するようにしてもよい。
(3)表示手段19に表示される基板の検査画像等をマウス等の操作手段を使ってスクロールさせるように構成してもよい。具体的には、表示制御部22により表示画面30内にスクロールバーを表示させ、これをマウスにより操作させたり、キーボードの「PageUp」「PageDown」キーを押すことにより、連続して生産された基板の検査画像等をスクロール表示させるように構成してもよい。この構成によれば、連続的に処理された複数の基板に関する検査画像等の情報を限られた表示画面を使って効率的に表示させながら不良原因等の解析に当ることができる。
(4)実施形態では、生産関連情報として、はんだ印刷装置1、実装装置3A,3Bおよびリフロー炉5のメンテナンス関連情報34やエラー関連情報35を表示するようにしているが、この情報に加えて(又はこの情報に代えて)、各装置1,3A,3B,5の処理に関する設定条件を表示するようにしてもよい。例えば、図4において、はんだ印刷装置1の表示スペース301のうち各基板に対応する箇所(段)に、印刷処理に使用したマスク番号等の情報を、実装装置3A,3Bの表示スペース303のうち各基板に対応する箇所)に、使用されたノズル番号や段取り(部品供給装置の配列)等の情報を、リフロー炉5の表示スペース305うち各基板に対応する箇所に、温度に関する情報等をそれぞれ表示するようにしてもよい。このようにすれば、不良原因等の解析をこれらの設定条件を考慮しながら行うことが可能となるため、よりスムーズに原因解析を行うことが可能となる。
(5)実施形態では、入力手段18の操作により指定された基板(その前後に生産された基板を含む)の検査画像の全体を表示するようにしているが、例えば、さらに入力手段18の操作により検査画像のうち特定の実装ポイントのみの検査画像を表示させるようにしてもよい。この場合、当該検査画像を拡大表示する等して認識容易に表示するのが好ましい。これによれば、基板の特定の実装ポイントについて問題がある場合に有用となる。
In short, what is necessary is just to display the inspection result and the inspection image (image information used for the inspection) in each
(2) In the embodiment, the inspection images and the like of the
(3) You may comprise so that the test | inspection image etc. of the board | substrate displayed on the display means 19 may be scrolled using operation means, such as a mouse | mouth. Specifically, the
(4) In the embodiment, the maintenance-related
(5) In the embodiment, the entire inspection image of the substrate (including substrates produced before and after) specified by the operation of the
1 クリームはんだ印刷装置
2 印刷検査装置
3A,3B 実装装置
4 実装検査装置
5 リフロー炉
6 はんだ付検査装置
8 中央管理装置
10 制御部本体
17 外部記憶装置
18 入力手段
19 表示手段
21 主制御部
22 表示制御部
DESCRIPTION OF
Claims (4)
各基板の各検査装置における検査結果および検査に用いられた画像情報を、各基板をそれぞれ特定可能な識別情報と共に蓄積するとともに、各処理装置の処理に関する設定条件、各処理装置のメンテナンス関連情報、各処理装置のエラー関連情報および処理に関する各種履歴のうち少なくとも前記メンテナンス関連情報及びエラー関連情報を含む情報である生産関連情報を蓄積するデータベースと、
このデータベースに蓄積される情報を画面表示可能な表示手段と、
この表示手段により情報表示させるべき対象基板を前記識別情報に基づき特定可能な特定手段と、
前記データベースに蓄積されたデータのうち、前記特定手段により特定される基板の各検査装置による検査結果および前記画像情報を、前記表示手段の同一の表示画面内に表示するとともに、これら検査結果および画像情報と共に各処理装置の前記生産関連情報を前記同一の表示画面内に表示する表示制御手段とを備えている
ことを特徴とする部品実装ラインにおける情報管理システム。 A component having a plurality of processing devices including at least a component mounting device among a paste coating device, a component mounting device, and a reflow device, and an inspection device for inspecting the substrate based on image recognition on the downstream side of each processing device An information management system for a mounting line,
The inspection results and the image information used for the inspection of each inspection apparatus for each substrate are stored together with identification information for identifying each substrate, setting conditions relating to the processing of each processing apparatus, maintenance-related information for each processing apparatus, A database for accumulating production-related information that is information including at least the maintenance-related information and error-related information among error-related information and processing-related various history of each processing device;
Display means capable of displaying information stored in the database on a screen;
A specifying unit capable of specifying a target substrate to be displayed by the display unit based on the identification information;
Of the data stored in the database, the inspection result and the image information by each inspection device of the substrate specified by the specifying means are displayed on the same display screen of the display means, and the inspection result and the image are displayed. An information management system for a component mounting line, comprising: display control means for displaying the production-related information of each processing apparatus together with information on the same display screen.
前記表示制御手段は、前記特定手段により特定される基板の情報と共に、当該基板の直前又は直後に処理された基板の情報を前記同一の表示画面内に表示する
ことを特徴とする部品実装ラインにおける情報管理システム。 In the information management system in the component mounting line according to claim 1,
In the component mounting line, the display control means displays the information on the board processed immediately before or after the board together with the information on the board specified by the specifying means in the same display screen. Information management system.
前記表示手段に表示される情報をスクロールさせるための操作手段を有し、
前記表示制御手段は、前記操作手段の操作に基づき連続して処理された複数の基板の前記情報をスクロール表示可能に構成されている
ことを特徴とする部品実装ラインにおける情報管理システム。 In the information management system in the component mounting line according to claim 1 or 2,
Having an operation means for scrolling information displayed on the display means;
The information management system in a component mounting line, wherein the display control means is configured to be able to scroll-display the information of a plurality of substrates processed continuously based on the operation of the operation means.
前記表示制御手段は、前記特定手段により特定される複数の基板の情報を同一の表示画面内に表示する
ことを特徴とする部品実装ラインにおける情報管理システム。
In the information management system in the component mounting line according to claim 1,
The information management system in a component mounting line, wherein the display control means displays information on a plurality of boards specified by the specifying means on the same display screen.
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