JP4535080B2 - 光記録媒体およびその製造方法 - Google Patents

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Description

本発明は、光記録媒体およびその製造方法に関する。詳しくは、無機記録膜を有する光記録媒体に関する。
近年、大容量の情報を記録できる高密度記録の光記録媒体が望まれている。例えば、この要求に応えるために、ブルーレイディスク(Blu-ray Disc(登録商標):BD、以下BDと称する)の規格が策定され、ハイビジョン画像を光記録媒体に録画、保存することが可能となっている。ハイビジョンの通常再生速度を1倍速とすると、記録型のBDでは既に2倍速までの記録に対応している。
例えば、青色レーザ記録に適した光記録媒体として、ゲルマニウム(Ge)の酸化物を含む第1の記録膜と、それに隣接して設けられた、チタン(Ti)を含む第2の記録膜とからなる無機記録膜を備えるものが提案されている(例えば特許文献1参照)。この光記録媒体は4層膜で構成されていながら広いパワーマージンと非常に高い耐久性を有し、BDなどへの応用が可能であるが、今後更なる高線速記録対応が望まれている。
特開2006−281751号公報
記録特性として高線速記録に対応するためには、高記録感度化する必要がある。ところが、ゲルマニウム(Ge)酸化物を含む第1の記録膜の酸素組成や膜厚、ならびにチタン(Ti)を含む第2の記録膜の膜厚などの最適化により高記録感度化すると、記録パワーマージンが狭くなるという問題が生じる。
なお、ゲルマニウム(Ge)の酸化物を記録材料とする場合、記録原理が基本的に熱記録であるため、記録感度の線速依存性はある一定比であり、パワーマージンなどの記録特性は線速依存性が少ない。したがって、高線速記録時の記録感度を上げるためには低線速でも記録感度を上げることが有効であり、その際にパワーマージンを広く確保するには、低線速でも同様に広くパワーマージンを確保することが全体の特性を向上する指標になる。
したがって、本発明の目的は、広パワーマージン化を実現できる光記録媒体およびその製造方法を提供することにある。
上述の課題を解決するために、本願第1の発明は、
無機記録膜を有する光記録媒体であって、
無機記録膜に隣接する透明導電膜を備え、
無機記録膜は、
チタン(Ti)および窒素(N)を含む第1の記録膜と、
ゲルマニウム(Ge)の酸化物を含む第2の記録膜と
を備え、
透明導電膜は、スズ(Sn)の酸化物を含み、
透明導電膜は、第2の記録膜の側に設けられていることを特徴とする光記録媒体である。
本願第2の発明は、
無機記録膜を備える光記録媒体の製造方法であって、
チタン(Ti)および窒素(N)を含む第1の記録膜を形成する工程と、
第1の記録膜に隣接する、ゲルマニウム(Ge)の酸化物を含む第2の記録膜を形成する工程と
第2の記録膜に隣接する透明導電膜を形成する工程と
を備え、
透明導電膜は、スズ(Sn)の酸化物を含むことを特徴とする光記録媒体の製造方法である。
本発明では、記録光を照射すると第2の記録膜に含まれる酸素が分離し、第1の記録膜と第2の記録膜との界面に酸素含有量の多いGe層が形成される。すなわち、第2の記録膜が光学定数の異なる保存安定性の高い安定な2層に分離する。これにより、再生光を照射した際に、記録光を照射した部分と記録光を照射していない部分との反射光量が変化するので、良好な信号特性が得られる。第1の記録膜は、記録前後でほとんど物理的特性が変化することはなく、第2の記録膜との界面での反応を促進する、いわば触媒的作用を発現する。
以上説明したように、本発明によれば、無機記録膜と誘電体膜との間に透明導電膜を設けているので、広パワーマージン化を実現できる。
以下、本発明の実施形態について図面を参照しながら説明する。
(1)第1の実施形態
光記録媒体の構成
図1は、本発明の第1の実施形態に係る光記録媒体の一構成例を示す概略断面図である。この光記録媒体10は、基板1上に、無機記録膜2、透明導電膜3、誘電体膜4、光透過層5が順次積層された構成を有する。
この第1の実施形態に係る光記録媒体10では、光透過層5の側からレーザ光を無機記録膜2に照射することにより、情報信号の記録または再生が行われる。例えば、400nm以上410nm以下の範囲の波長を有するレーザ光を、0.84以上0.86以下の範囲の開口数を有する対物レンズにより集光し、光透過層5の側から無機記録膜2に照射することにより、情報信号の記録および/または再生が行われる。このような光記録媒体10としては、例えばBD−Rが挙げられる。
以下、光記録媒体10を構成する基板1、無機記録膜2、透明導電膜3、誘電体膜4および光透過層5について順次説明する。
(基板)
基板1は、中央に開口(以下センターホールと称する)が形成された円環形状を有する。この基板1の一主面は、凹凸面11となっており、この凹凸面11上に無機記録膜2が成膜される。以下では、凹凸面11のうち凹部をイングルーブGin、凸部をオングルーブGonと称する。
このイングルーブGinおよびオングルーブGonの形状としては、例えば、スパイラル状、同心円状などの各種形状が挙げられる。また、イングルーブGinおよび/またはオングルーブGinが、アドレス情報を付加するためのウォブル(蛇行)されている。
基板1の径(直径)は、例えば120mmに選ばれる。基板1の厚さは、剛性を考慮すると、好ましくは0.3mm〜1.3mm、より好ましくは0.6mm〜1.3mm、例えば1.1mmに選ばれる。また、センタホールの径(直径)は、例えば15mmに選ばれる。
基板1の材料としては、例えばプラスチック材料またはガラスを用いることができ、コストの観点から、プラスチック材料を用いることが好ましい。プラスチック材料としては、例えばポリカーボネート系樹脂、ポリオレフィン系樹脂、アクリル系樹脂などを用いることができる。
(無機記録膜)
無機記録膜2は、基板1の凹凸面11上に順次積層された第1の記録膜2aおよび第2の記録膜2bからなる。第1の記録膜2aが基板1の凹凸面11の側に設けられ、第2の記録膜2bが透明導電膜3の側に設けられている。
第1の記録膜2aは、チタン(Ti)を主成分として含んでいる。また、第1の記録膜2aは、パワーマージン改善の観点から、マンガン(Mn)、ジルコニウム(Zr)、ハフニウム(Hf)などの低熱伝導性金属を添加剤として含むことが好ましい。低熱伝導性金属の含有量は、パワーマージン改善の観点から、好ましくは1〜40原子%、より好ましくは2〜30原子%、更により好ましくは5〜28原子%である。また、第1の記録膜2aは、記録感度の調整の観点から、微量な窒素(N)を含むことが好ましい。第1の記録膜2aの膜厚は、好ましくは10〜50nmである。
第2の記録膜2bは、ゲルマニウム(Ge)の酸化物を主成分として含んでいる。第2の記録膜2bにおけるゲルマニウム(Ge)の酸化物の含有量は、好ましくは88〜97原子%、より好ましくは90〜97原子%、更により好ましくは90〜95原子%である。また、第2の記録膜2bは、耐久性向上の観点から、スズ(Sn)を添加剤として含むことが好ましい。第2の記録膜2bにおけるスズ(Sn)の含有量は、好ましくは3〜12原子%、より好ましくは3〜10原子%、更により好ましくは5〜10原子%である。3原子%以上であると優れた耐久性を得ることができ、12原子%以下であると優れた信号特性を得ることができるからである。なお、第1の記録膜2aがチタン(Ti)を主成分とし、第2の記録膜2bがゲルマニウム(Ge)の酸化物を主成分とすれば、基本的に良好な記録特性を得ることができる。
第2の記録膜2bの吸収係数kは、変調度およびキャリア対ノイズ比(以下C/N比と称する)の向上などの観点から、好ましくは0.15以上0.90以下、より好ましくは0.20以上0.70以下、更により好ましくは0.25以上0.60以下である。また、第2の記録膜2bの膜厚は、好ましくは10〜35nmである。
なお、本明細書における吸収係数kは波長410nmにおけるものである。この吸収係数kは、エリプソメータ(ルドルフ社製、商品名:Auto EL-462P17)を用いて以下のようにして求めることができる。エリプソメータにて楕円偏光の位相角Δと楕円の振幅強度比から求められる正接Ψを測定し、段差計(Tencor社製、商品名:P15)で求めた膜厚から、複素屈折率Nと吸収系数kを求める。なお、市販のエリプソメータの付属解析ソフトではこの作業を最小2乗法などを用いて行っている。
(透明導電膜)
透明導電膜3は、第2の記録膜2bに隣接して設けられている。透明導電膜3は、SnO2およびIn23の少なくとも1種を主成分として含んでいることが好ましい。また、透明導電膜3の膜厚は、好ましくは1〜5nmである。1nm以上であるとパワーマージンを広くすることができ、5nm以下であると優れた記録感度を得ることができる。
(誘電体膜)
誘電体膜4は、透明導電膜3に隣接して設けられ、無機記録膜2の光学的および機械的保護、すなわち耐久性の向上、ならびに記録時の無機記録膜2の変形、すなわちふくらみの抑制などを行うためのものである。この誘電体膜4の材料としては、例えばSiN、ZnS−SiO2、AlN、Al23、SiO2、SiO2−Cr23−ZrO2(以下SCZと称する)などを用いることができ、ZnS−SiO2を用いることが好ましい。記録信号のS/Nを向上し、良好な信号特性を得ることができるからである。誘電体膜4の厚さは、好ましくは10〜100nmである。
(光透過層)
光透過層5は、例えば、レジンコート型またはシート貼り合わせ型の光透過層5である。ここで、レジンコート型の貼り合わせ層4とは、レジンコート法により形成された光透過層5を示し、シート貼り合わせ型の光透過層5とは、シート貼り合わせ法により形成された光透過層5を示す。なお、レジンコート法およびシート貼り合わせ法については後述する。
光透過層5の厚さは、好ましくは10〜177μmの範囲内から選ばれ、例えば100μmに選ばれる。このような薄い光透過層5と、例えば0.85程度の高NA(numerical aperture)化された対物レンズとを組み合わせることによって、高密度記録を実現することができる。また、光透過層5の内径(直径)は、例えば22.7mmに選ばれる。
レジンコート型の光透過層5は、UVレジンなどの感光性樹脂を硬化してなるレジンカバーである。シート貼り合わせ型の光透過層は、例えば、円環形状を有する光透過性シート(フィルム)と、この光透過性シートを基板1に対して貼り合わせるための接着層とから構成される。接着層は、例えばUVレジンまたは感圧性粘着剤(Pressure Sensitive Adhesive:PSA、以下PSAと称する)からなる。
光透過性シートおよびレジンカバーは、記録および再生に用いられるレーザ光に対して、吸収能が低い材料からなることが好ましく、具体的には透過率90パーセント以上の材料からなることが好ましい。光透過性シートの材料としては、例えばポリカーボネート樹脂、ポリオレフィン系樹脂(例えばゼオネックス(登録商標))などが挙げられる。レジンカバーの材料としては、例えば紫外線硬化型のアクリル系樹脂が挙げられる。また、光透過性シートの厚さは、好ましくは0.3mm以下に選ばれ、より好ましくは3〜177μmの範囲内から選ばれる。
上述のように、チタン(Ti)を含む第1の記録膜2aとゲルマニウム(Ge)の酸化物を含む第2の記録膜2bとを無機記録膜2として備える光記録媒体10では、記録時に第2の記録膜2bが酸素含有量の異なる2層に分離することが記録のメカニズムとなっている。第1の記録膜2aと第2の記録膜2bとが隣接していることでこのような第2の記録膜2bの分離が発生する。その酸素分離には第1の記録膜2aの表面が重要な役割を担っており、第1の記録膜2aの表面のTi酸化物が記録光である青色光などを吸収し、光触媒効果が発現することが記録原理になっていると考えられる。これは、チタン(Ti)を含まない材料、例えばアルミニウム(Al)や銀(Ag)を主成分とする合金を用いたり、第1記録膜2aと第2の記録膜2bの間にわずか数nmのSiNやZnS−SiO2などの不活性な絶縁誘電体膜を形成した場合、第2の記録膜2bがきれいに分離せず、極端に変調度が低下する、という実験結果が得られていることから間接的に実証される。
また、このような記録メカニズムであるために、第2の記録膜2bへの添加剤の添加がゲルマニウム(Ge)と酸素(O)の分離に与える影響が大きい。また、第1の記録膜2aへの添加剤の添加により光触媒効果が変わるので、第1の記録膜2aへの添加剤の添加が記録特性に与える影響は大きい。更に、透明導電膜3を第2の記録膜2bのどちらかの主面に隣接して形成することにより、パワーマージンなどの記録特性に影響が生じる。
光記録媒体の製造方法
次に、本発明の第1の実施形態に係る光記録媒体の製造方法について説明する。
(基板の成形工程)
まず、一主面に凹凸面11が形成された基板1を成形する。基板1の成形の方法としては、例えば射出成形(インジェクション)法、フォトポリマー法(2P法:Photo Polymerization)などを用いることができる。
(第1の記録膜の成膜工程)
次に、基板1を、例えばチタン(Ti)を主成分とするターゲットが備えられた真空チャンバ内に搬送し、真空チャンバ内を所定の圧力になるまで真空引きする。その後、真空チャンバ内にプロセスガスを導入しながら、ターゲットをスパッタリングして、基板1上に第1の記録膜2aを成膜する。
この成膜工程における成膜条件の一例を以下に示す。
到達真空度:5.0×10-5Pa
雰囲気:0.1〜0.6Pa
投入電力:1〜3kW
ガス種:ArガスおよびN2ガス
Arガス流量:10〜40sccm
2ガス流量:1〜10sccm
(第2の記録膜の成膜工程)
次に、基板1を、例えばゲルマニウム(Ge)を主成分とするターゲットが備えられた真空チャンバ内に搬送し、真空チャンバ内を所定の圧力になるまで真空引きする。その後、真空チャンバ内にプロセスガスを導入しながら、ターゲットをスパッタリングして、第1の記録膜2a上に第2の記録膜2bを成膜する。
この成膜工程における成膜条件の一例を以下に示す。
到達真空度:5.0×10-5Pa
雰囲気:0.1〜0.6Pa
投入電力:1〜3kW
ガス種:ArガスおよびO2ガス
Arガス流量:24sccm
2ガス流量:9sccm
(透明導電膜の成膜工程)
次に、基板1を、例えばSnO2およびInO2の少なくとも1種を主成分とするターゲットが備えられた真空チャンバ内に搬送し、真空チャンバ内を所定の圧力になるまで真空引きする。その後、真空チャンバ内にプロセスガスを導入しながら、ターゲットをスパッタリングして、第2の記録膜2b上に透明導電膜3を成膜する。
この成膜工程における成膜条件の一例を以下に示す。
到達真空度:5.0×10-5Pa
雰囲気:0.1〜0.6Pa
投入電力:1〜3kW
ガス種:Arガス
Arガス流量:24sccm
(誘電体膜の成膜工程)
次に、基板1を、例えばZnS−SiO2からなるターゲットが備えられた真空チャンバ内に搬送し、真空チャンバ内を所定の圧力になるまで真空引きする。その後、真空チャンバ内にプロセスガスを導入しながら、ターゲットをスパッタリングして、透明導電膜3上に誘電体膜4を成膜する。
この成膜工程における成膜条件の一例を以下に示す。
到達真空度:5.0×10-5Pa
雰囲気:0.1〜0.6Pa
投入電力:1〜4kW
ガス種:Arガス
Arガス流量:6sccm
(光透過層の形成工程)
次に、光透過層5を誘電体膜4上に形成する。光透過層5の形成方法としては、例えばレジンコート法、シート接着法などを用いることができ、コスト低減の観点からすると、レジンコート法が好ましい。レジンコート法とは、UVレジンなどの感光性樹脂を誘電体膜4上にスピンコートし、UV光などの光を感光性樹脂に照射することにより、レジンカバーとしての光透過層5を形成するものである。シート接着法とは、光透過性シートを接着剤を用いて、基板1上の凹凸面11側に貼り合わせることにより、光透過層5を形成するものである。
また、シート接着法としては、例えばシートレジン接着法、シートPSA接着法などを用いることができる。シートレジン接着法とは、誘電体膜4上に塗布されたUVレジンなどの感光性樹脂を用いて、光透過性シートを基板1上の凹凸面11側に貼り合わせることにより、光透過層5を形成するものである。シートPSA接着法は、光透過性シートを、このシートの一主面に予め均一に塗布された感圧性粘着剤(PSA)を用いて、基板1上の凹凸面11側に貼り合わせることにより、光透過層5を形成するものである。
以上の工程により、図1に示す光記録媒体10が得られる。
上述したように、本発明の第1の実施形態によれば、無機記録膜2と誘電体膜4との間に透明導電膜3を設けているので、膜総数3〜5層程度で、パワーマージンなどの記録特性を向上することができる。また、膜厚や添加剤を適宜調整することで、パワーマージン、2Tの振幅、反射率などの基本的な記録再生特性を低線速記録から高線速記録まで最適化することが可能となる。
また、第1の記録膜2a、第2の記録膜2b、透明導電膜3、誘電体膜4、光透過層5を基板1上に順次積層するだけで光記録媒体10を形成できるので、単純な膜構成を有した高記録密度の光記録媒体10を実現できる。すなわち、低廉な高記録密度の光記録媒体10を提供することができる。
(2)第2の実施形態
図2は、本発明の第2の実施形態に係る光記録媒体の一構成例を示す概略断面図である。第2の実施形態は、上述の第1の実施形態において、誘電体膜4を第1の誘電体膜4aおよび第2の誘電体膜4bにより構成したものである。なお、上述の第1の実施形態と同様の部分には同一の符号を付してその説明を省略する。
第1の誘電体膜4aは透明導電膜3の側に設けられ、第2の誘電体膜4bは光透過層5の側に設けられている。第1の誘電体膜4aおよび第2の誘電体膜4bは、例えば互いに異なる材料および/または組成の誘電体からなる。
第1の誘電体膜4aの材料としては、成膜速度などの観点から、ZnS−SiO2を用いることが好ましい。第1の誘電体膜4aの膜厚は、例えば10〜100nmである。第2の誘電体膜4bの材料としては、SiN、SCZなどの安定な誘電体を用いることが好ましい。このような安定な誘電体を用いると、光透過層5として貼り合わせ型のものを用いた場合に、第1の誘電体膜4aに含まれる硫黄(S)などの成分が光透過層5のPSAなどと反応し光透過層5が劣化し、耐久性が低下することを抑制することができる。また、光透過層5としてレジンコート型のものを用いた場合に、レジン硬化時の収縮による耐久性の低下を抑制することができる。第2の誘電体膜4bの膜厚は、例えば1〜10nmである。
次に、本発明の第2の実施形態に係る光記録媒体の製造方法の一例について説明する。この光記録媒体の製造方法は、上述の第1の実施形態において、誘電体膜の成膜工程に代えて第1の誘電体膜および第2の誘電体膜の成膜工程を備えるものである。
以下に、第1の誘電体膜および第2の誘電体膜の成膜条件の一例を示す。
(第1の誘電体膜の成膜工程)
基板1を、例えばZnS−SiO2からなるターゲットが備えられた真空チャンバ内に搬送し、真空チャンバ内を所定の圧力になるまで真空引きする。その後、真空チャンバ内にプロセスガスを導入しながら、ターゲットをスパッタリングして、透明導電膜3上に第1の誘電体膜4aを成膜する。
この成膜工程における成膜条件の一例を以下に示す。
到達真空度:5.0×10-5Pa
雰囲気:0.1〜0.6Pa
投入電力:1〜4kW
ガス種:Arガス
Arガス流量:6sccm
(第2の誘電体膜の成膜工程)
次に、基板1を、例えばSCZからなるターゲットが備えられた真空チャンバ内に搬送し、真空チャンバ内を所定の圧力になるまで真空引きする。その後、真空チャンバ内にプロセスガスを導入しながら、ターゲットをスパッタリングして、第1の誘電体膜4a上に第2の誘電体膜4bを成膜する。
この成膜工程における成膜条件の一例を以下に示す。
真空到達度:5.0×10-5Pa
雰囲気:0.1〜0.6Pa
投入電力:1〜3kW
ガス種:Arガス
Arガス流量:15sccm
上述したように、本発明の第2の実施形態によれば、無機記録膜2と誘電体膜4との間に透明導電膜3を設け、誘電体膜4を第1の誘電体膜4aと第2の誘電体膜4bとから構成しているので、第1の実施形態に比べて耐久性をより向上することができる。
以下、実施例により本発明を具体的に説明するが、本発明はこれらの実施例のみに限定されるものではない。なお、以下の実施例においては、上述の実施形態と対応する部分には同一の符号を付す。
本実施例の光記録媒体10は、BDの光学系に対応させて設計した光記録媒体、具体的には、開口数0.85の2群対物レンズと波長405nmの青紫色半導体レーザ光源とを用いた光ディスク記録再生装置に合わせて設計した光記録媒体である。
本実施例では、光記録媒体の評価装置として、BDディスク検査機(パルステック工業株式会社製、商品名:ODU−1000)を用いた。光源の波長は405.2nmとした。記録時の線速度は19.67m/s(4倍速:4x)もしくは9.83m/s(2倍速:2x)、再生時の線速度は4.92m/s(1倍速:1x)、チャンネルビット長は74.50nm(直径12cmの光ディスクに25GBの記録密度)とした。変調方式は17PPとし、最短マークである2Tマークのマーク長は0.149μm、8Tマークのマーク長は0.596μmとし、トラックピッチは0.32μmとした。
また、ジッター測定はパルステック工業株式会社製のイコライザーボードを通して、横河電機株式会社製のタイムインターバルアナライザー、TA720を用いて行った。イコライザーは規格準拠とし、リミットイコライザーを通した後の信号のジッターを測定した。
記録感度Pwoの測定は、低パワーから高パワー側にパワースイープを行い、システムが許容できるオーバーパワー側とアンダーパワー側の記録パワー値の中心をPwoとした。 パワーマージンの測定についてはいくつか規定の方法があるが、本実施例では、リミットイコライザーを通した後のジッター値が8.5%以下である範囲を記録感度のマージンとし、そのパワー範囲を最適パワーで割ったものをパワーマージンと定義した。
その他、振幅、変調度などの測定にはテクトロニクス社製のデジタルオシロスコープ、TDS7104を用いた。
また、本実施例の吸収係数kは、エリプソメータ(ルドルフ社製、商品名:Auto EL-462P17)を用いて以下のようにして求めた。エリプソメータにて楕円偏光の位相角Δと楕円の振幅強度比から求められる正接Ψを測定し、段差計(Tencor社製、商品名:P15)で求めた膜厚から、複素屈折率Nと吸収系数kを求めた。なお、吸収係数kは波長410nmにおけるものである。
実施例1−1〜1−6、比較例1−1
実施例1−1〜1−6、比較例1−1では、膜厚の異なる透明導電膜3を無機記録膜2と誘電体膜4との間に設けることにより光記録媒体10を作製し、その特性を評価した。
まず、射出成形により、厚さ1.1mmのポリカーボネート基板(以下PC基板と称する)1を作製した。なお、このPC基板1上には、イングルーブGinおよびオングルーブGonを有する凹凸面11を形成した。このイングルーブGinの深さは20nmとし、トラックピッチは0.32μmとした。
次に、成膜装置(Unaxis社製、商品名:Sprinter)を用いて、膜厚22nmのTiMnN膜2a、膜厚25nmのGe酸化物膜2b、膜厚0〜6nmのSnO2膜3、膜厚52nmのZnS−SiO2膜4a、膜厚4nmのSi34膜4bを基板1上に順次成膜した。なお、これらの成膜は大気暴露せずに行った。その後、UVレジンをSi34膜4b上にスピンコートし、UV光照射により硬化させ、光透過層5を形成した。この光透過層5の厚さは、100μmとした。以上により、目的とする光記録媒体10を得た。
具体的な成膜手順は以下の通りである。
(TiMnN膜の成膜工程)
まず、真空チャンバ内を真空引きした後、真空チャンバ内にArガスおよびN2ガスを導入しながら、TiMnターゲットをスパッタリングして、膜厚22nmのTiMnN膜2aを基板1上に成膜した。このTiMnターゲット中のマンガン(Mn)の含有量を20原子%とした。
この成膜工程における成膜条件を以下に示す。
到達真空度:5.0×10-5Pa
雰囲気:0.2Pa
投入電力:3kW
Arガス流量:30sccm
2ガス流量:6sccm
(Ge酸化物膜の成膜工程)
次に、真空チャンバ内を真空引きした後、真空チャンバ内にArガスおよびO2ガスを導入しながら、Geターゲットを反応性スパッタリングによりコスパッタして、膜厚25nmのGe酸化物膜2bをTiMnN膜2a上に成膜した。なお、Ge酸化物膜2bの酸素(O)の含有量は、吸収係数kが0.6となるように調製した。
この成膜工程における成膜条件を以下に示す。
到達真空度:5.0×10-5Pa
雰囲気:0.2Pa
投入電力:Geターゲット(ターゲット2つ) 0.4kW
Arガス流量:30sccm
2ガス:30〜40sccm
(SnO2膜の成膜工程)
次に、真空チャンバ内を真空引きした後、真空チャンバ内にArガスを導入しながら、SnO2ターゲットをスパッタリングして、膜厚0〜6nmのSnO2膜3をGe酸化物膜2b上に成膜した。
この成膜工程における成膜条件を以下に示す。
到達真空度:5.0×10-5Pa
雰囲気:0.2Pa
投入電力:SnO2ターゲット 0.4kW
Arガス流量:10sccm
なお、膜厚はスパッタ時間により調製した。
(ZnS−SiO2膜の成膜工程)
次に、真空チャンバ内を真空引きした後、真空チャンバ内にArガスを導入しながら、ZnS−SiO2ターゲットをスパッタリングして、膜厚52nmのZnS−SiO2膜4aをGe酸化物膜2b上に成膜した。なお、ZnS−SiO2膜4aの組成比(原子比)ZnS:SiO2を80:20に調製した。
この成膜工程における成膜条件を以下に示す。
到達真空度:5.0×10-5Pa
雰囲気:0.1Pa
投入電力:1kW
Arガス流量:6sccm
(Si34膜の成膜工程)
次に、真空チャンバ内を真空引きした後、真空チャンバ内にArガスおよびN2ガスを導入しながら、Siターゲットをスパッタリングして、膜厚4nmのSi34膜4bを基板1上に成膜した。
この成膜工程における成膜条件を以下に示す。
到達真空度:5.0×10-5Pa
雰囲気:0.3Pa
投入電力:4kW
Arガス流量:50sccm
2ガス流量:37sccm
<パワーマージンの評価>
上述のようにして得られた光記録媒体10に対して4x記録、1x再生を行い、パワーマージンを求めた。その結果を表1および図3に示す。表1および図3から、SnO2膜3の膜厚が厚いほどパワーマージンは広がる傾向が見られることがわかる。
<記録感度の評価>
また、上述のようにして得られた光記録媒体10に対して2x記録、1x再生を行い、記録感度Pwoを求めた。その結果、SnO2膜3の膜厚が5nm以下であると2倍速(2x)規格の記録感度7mWを満たすことができることが分かった。
以上の評価結果によると、パワーマージンの観点から、無機記録膜2と誘電体膜4との間に透明導電膜3を設けることが好ましい。また、パワーマージンおよび記録感度の観点から、無機記録膜2と誘電体膜4との間に透明導電膜3を設けると共に、その膜厚を1〜5nmの範囲内にすることが好ましい。
Figure 0004535080
実施例2−1〜実施例2−5、比較例2−1
実施例2−1〜実施例2−5、比較例2−1では、膜厚の異なる透明導電膜3を無機記録膜2と誘電体膜4との間に設けると共に、第2の記録膜2bにスズ(Sn)を添加することにより光記録媒体10を作製し、その特性を評価した。
成膜装置(Unaxis社製、商品名:Sprinter)を用いて、膜厚25nmのGeSnO膜2b、膜厚0〜5nmのSnO2膜3をTiMnN膜2a上に順次成膜する以外のことは、比較例1−1、実施例1−1〜1−5と同様にして光記録媒体10を得た。
GeSnO膜およびSnO2膜の成膜工程を以下に示す。
(GeSnO膜の成膜工程)
真空チャンバ内を真空引きした後、真空チャンバ内にArガスおよびO2ガスを導入しながら、GeターゲットおよびSnターゲットを反応性スパッタリングによりコスパッタして、膜厚25nmのGeOSn膜2bをTiMnN膜2a上に成膜した。なお、GeOSn膜2bにおける酸素(O)の含有量をGeOSn膜2bの吸収係数kが0.67となるように調製した。また、GeOSn膜2bにおけるスズ(Sn)の含有量が10原子%となり、GeOSn膜2bにおけるGeOx(0<x<2)の含有量が90原子%となるように、GeOSn膜2bの組成を調製した。
この成膜工程における成膜条件は以下の通りである。
到達真空度:5.0×10-5Pa
雰囲気:0.2Pa
投入電力:Geターゲット(ターゲット2つ) 0.4kW、Snターゲット 0.1〜0.5kW
Arガス流量:30sccm
酸素ガス:30〜40sccm
(SnO2膜の成膜工程)
次に、真空チャンバ内を真空引きした後、真空チャンバ内にArガスを導入しながら、SnO2ターゲットをスパッタリングして、膜厚0〜5nmのSnO2膜3をGe酸化物膜2b上に成膜した。
この成膜工程における成膜条件を以下に示す。
到達真空度:5.0×10-5Pa
雰囲気:0.2Pa
投入電力:SnO2ターゲット 0.4kW
Arガス流量:10sccm
なお、膜厚はスパッタ時間により調製した。
<パワーマージンの評価>
上述のようにして得られた光記録媒体10に対して4x記録、1x再生を行い、パワーマージンを求めた。その結果を表2および図4に示す。表2および図4から、SnO2膜3の膜厚が厚いほどパワーマージンは広がる傾向が見られることがわかる。
<記録感度の評価>
上述のようにして得られた光記録媒体10に対して2x記録、1x再生を行い、記録感度Pwoを求めた。その結果、SnO2膜3の膜厚が5nm以下であると2x規格の記録感度7mWを満たすことができることが分かった。また、SnO2膜の膜厚が6nm以上である光記録媒体10に対して2x記録、1x再生を行い、同様に記録感度Pwoを求めたところ、SnO2膜の膜厚が6nm以上であると、2x規格の記録感度7mWを満たすことができないことが確認できた。
<耐久性の評価>
実施例1−1〜1−6、比較例1−1、実施例2−1〜2−5、比較例2−1の光記録媒体10に対して耐久性試験を以下のようにして行った。まず、恒温槽にて、80℃85%RH(相対湿度)下に400時間、光記録媒体10を保持し、その後、SER(Symbol Error Rate)の測定および顕微鏡観察を行った。その結果、スズ(Sn)を第2の記録膜2bに含有させていない実施例1−1〜1−6、比較例1−1では、SERの上昇が大きく、顕微鏡観察により多数の10μm大の白点が観測された。また、スズ(Sn)を第2の記録膜2bに含有させた実施例2−1〜2−5、比較例2−1では、顕微鏡観察により白点は観測されず、SERの上昇が抑制された。したがって、スズ(Sn)の添加は耐久性向上に有効である。
以上の評価結果によると、パワーマージンおよび耐久性の観点から、無機記録膜2と誘電体膜4との間に透明導電膜3を設けると共に、第2の記録膜2bにスズ(Sn)を添加することが好ましい。また、パワーマージン、記録感度および耐久性の観点から、無機記録膜2と誘電体膜4との間に透明導電膜3を設け、その膜厚を1〜5nmの範囲内にすると共に、第2の記録膜2bにスズ(Sn)を添加することが好ましい。
Figure 0004535080
実施例3−1〜3−5、比較例3−1
実施例3−1〜3−5、比較例3−1では、膜厚の異なる透明導電膜3を無機記録膜2と誘電体膜4との間に設けると共に、光透過層5に隣接してSCZからなる第2の誘電体膜4bを設けることにより光記録媒体10作製し、その特性を評価した。
成膜装置(Unaxis社製、商品名:Sprinter)を用いて、ZnS−SiO2膜4aの成膜後、大気暴露せずに、Si34膜4bに代えて膜厚4nmのSCZ膜4bを成膜する以外のことは、実施例2−1〜2−5、比較例2−1と同様にして光記録媒体10を得た。
SCZ膜の成膜工程を以下に示す。
(SCZ膜の成膜工程)
真空チャンバ内を真空引きした後、真空チャンバ内にArガスを導入しながら、SCZターゲットをスパッタリングして、膜厚4nmのSCZ膜4bをZnS−SiO2膜4a上に成膜した。
この成膜工程における成膜条件を以下に示す。
到達真空度:5.0×10-5Pa
雰囲気:0.2Pa
投入電力:SCZターゲット 2.0kW
Arガス流量:15sccm
なお、膜厚はスパッタ時間により調製した。
<パワーマージンの評価>
上述のようにして得られた光記録媒体10に対して、4x記録、1x再生を行い、パワーマージンを求めた。その結果を表3および図5に示す。表3および図5から、SnO2膜3の膜厚が厚いほどパワーマージンは広がる傾向が見られることがわかる。また、光透過層5に隣接して設けられた誘電体層4の種類に依らず、実施例2とほぼ同様の効果が得られることがわかる。
<記録感度の評価>
上述のようにして得られた光記録媒体10に対して2x記録、1x再生を行い、記録感度Pwoを求めた。その結果、SnO2膜3の膜厚が5nm以下であると2x規格の記録感度7mWを満たすことができることが分かった。また、SnO2膜の膜厚が6nm以上である光記録媒体10に対して2x記録、1x再生を行い、同様に記録感度Pwoを求めたところ、SnO2膜の膜厚が6nm以上であると、2x規格の記録感度7mWを満たすことができないことが確認できた。
以上の評価結果によると、パワーマージンの観点から、無機記録膜2と誘電体膜4との間に透明導電膜3を設けることが好ましい。また、パワーマージンおよび記録感度の観点から、無機記録膜2と誘電体膜4との間に透明導電膜3を設けると共に、その膜厚を1〜5nmの範囲内にすることが好ましい。
Figure 0004535080
以上、本発明の実施形態および実施例について具体的に説明したが、本発明は、上述の実施形態および実施例に限定されるものではなく、本発明の技術的思想に基づく各種の変形が可能である。
例えば、上述の実施形態および実施例において挙げた数値はあくまでも例に過ぎず、必要に応じてこれと異なる数値を用いてもよい。
また、上述の実施形態および実施例の各構成は、本発明の主旨を逸脱しない限り、互いに組み合わせることが可能である。
また、上述の実施形態および実施例では、単層の無機記録膜を有する光記録媒体に対して本発明を適用した例について説明したが、本発明は2層以上の無機記録膜を有する光記録媒体に対しても適用可能である。
また、上述の実施形態および実施例では、無機記録膜上に光透過層を有し、この光透過層側からレーザ光を無機記録膜に照射することにより情報信号の記録または再生が行われる光記録媒体に対して本発明を適用した場合を例として説明したが、本発明はこの例に限定されるものではない。例えば、基板上に無機記録膜を有し、基板側からレーザ光を無機記録膜に照射することにより情報信号の記録または再生が行われる光記録媒体、または2枚の基板を貼り合わせてなり、一方の基板の側からレーザ光を基板間の無機記録膜に照射することにより情報信号の記録または再生が行われる光記録媒体に対しても本発明は適用可能である。
本発明の第1の実施形態に係る光記録媒体の一構成例を示す概略断面図である。 本発明の第2の実施形態に係る光記録媒体の一構成例を示す概略断面図である。 実施例1−1〜1−6、比較例1−1のSnO2膜厚とパワーマージンとの関係を示すグラフである。 実施例2−1〜2−5、比較例2−1のSnO2膜厚とパワーマージンとの関係を示すグラフである。 実施例3−1〜3−5、比較例3−1のSnO2膜厚とパワーマージンとの関係を示すグラフである。
符号の説明
1 基板
2 無機記録膜
2a 第1の記録膜
2b 第2の記録膜
3 透明導電膜
4 誘電体膜
4a 第1の誘電体膜
4b 第2の誘電体膜
5 光透過層
10 光記録媒体
11 凹凸面
Gin イングルーブ
Gon オングルーブ

Claims (5)

  1. 無機記録膜を有する光記録媒体であって、
    上記無機記録膜に隣接する透明導電膜を備え、
    上記無機記録膜は、
    チタン(Ti)および窒素(N)を含む第1の記録膜と、
    ゲルマニウム(Ge)の酸化物を含む第2の記録膜と
    を備え、
    上記透明導電膜は、スズ(Sn)の酸化物からなり
    上記透明導電膜は、上記第2の記録膜の側に設けられていることを特徴とする光記録媒体。
  2. 上記透明導電膜の膜厚は、1〜5nmであることを特徴とする請求項1記載の光記録媒体。
  3. 上記第2の記録膜は、スズ(Sn)をさらに含むことを特徴とする請求項1の光記録媒体。
  4. 上記第1の記録膜は、マンガン(Mn)をさらに含むことを特徴とする請求項1記載の光記録媒体。
  5. 無機記録膜を備える光記録媒体の製造方法であって、
    チタン(Ti)および窒素(N)を含む第1の記録膜を形成する工程と、
    上記第1の記録膜に隣接する、ゲルマニウム(Ge)の酸化物を含む第2の記録膜を形成する工程と
    上記第2の記録膜に隣接する透明導電膜を形成する工程と
    を備え、
    上記透明導電膜は、スズ(Sn)の酸化物からなることを特徴とする光記録媒体の製造方法。
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