JP4528011B2 - 被検査面の検査方法及び装置 - Google Patents
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Description
この検査手法では、塗装面上の特定位置にある独立欠陥がその検査対象とできる。
この検査方法にあっては、被検査面を移動させる必要はないが、概して、塗装面の比較的広い範囲に渡ってストライプの境界線画像に位置ずれを起こさせるような塗装面の乱れが発生している状況が検出対象となる。
また、通常、撮像装置は、その撮像光学系の焦点は、塗装面に合わされている。
この模式は、明暗パターンを鏡像として画素側から見た場合の状態を示しており、欠陥より上側に引かれた一点鎖線は、nで示す欠陥表面部位の法線に対して、各画素に映り込む光が、欠陥表面部位での反射条件を満たす条件下で、明暗パターンのどの部位から出発しているかを明らかにしたものである。
また、比較的高範囲に渡る周期的な欠陥であっても、その欠陥を方向性なく検出することができる検査方法及び装置を得ることである。
前記検査光として、各網目内の形状が同一の網目を形成するように分布される光ビームであって、照射面に於ける当該光ビームの照射領域が各網目を形成する網の位置に設定され、非照射領域が前記各網目内に設定され、且つ、光軸に垂直な平面における前記照射領域の面積である照射面積が、前記非照射領域の面積である非照射面積より小さい光ビームを照射面から照射し、
前記被検査面の非照射領域に対応する画像領域を、閉じた暗領域毎に抽出するとともに、前記閉じた暗領域内に独立の明領域が存在する場合に、前記独立の明領域を注目領域として、
前記撮像画像における、前記被検査面の非照射領域に対応する画像領域の明暗情報に基づいて、前記被検査面を検査することである。
この検査光が照射された被検査面を、CCDカメラ等の撮像装置で撮像すると、被検査面が平面で、その面上に欠陥が無い場合は、照射側の明暗パターンがほぼそのまま映り込む。これに対して欠陥が存在する場合は、例えば、図5に示すように、欠陥が暗部分の直下等にある場合、照射側の明部分から照射された光が、欠陥で光路を曲げられて、本来、暗部分となるべき領域に映り込む状況を形成できる。
さらに、この構成は、網が照射部に網目内が非照射部に対応し、非照射面積が大きく選択されていることで、暗部分に現れる明部として、欠陥を検出する確率を高いものとできる。
発明者らの検討では、網目の大きさを25mm程度にする場合、平面視概略丸で、半径0.3mm、深さが0.03mm程度の欠陥を、通用のCCDカメラで識別できた。
また、検査に際して、被検査体を、通常、検査装置に対して、相対移動をさせながら順次検査して行くこととなるため、この移動に伴って、いずれかの網目部で、欠陥を明確な欠陥画像として捕らえて、確実な検出を行える。
被検査面に所定のパターン形状の検査光を照射する照射手段と、前記検査光が照射された被照射状態にある前記被検査面の撮像画像を撮像する撮像手段と、前記撮像手段により得られる撮像画像を画像処理する画像処理手段とを備えた検査装置としては、
前記照射手段が、前記検査光として、各網目内の形状が同一の網目を形成するように分布される光ビームであって、照射面に於ける当該光ビームの照射領域が各網目を形成する網の位置に設定され、非照射領域が前記各網目内に設定され、且つ、光軸に垂直な平面における前記照射領域の面積である照射面積が、前記非照射領域の面積である非照射面積より小さい光ビームを照射面から照射し、
前記画像処理手段が、前記画像処理において、前記被検査面の非照射領域に対応する画像領域の明暗情報を処理可能に構成され、当該画像処理手段が、被検査面の非照射領域に対応する画像領域である閉じた暗領域を各別に抽出する閉暗領域抽出手段と、抽出された閉じた暗領域内に存する独立の明領域を抽出する独立明領域抽出手段とを備えることで、装置を構成することができる。
さらに、前記被検査面の非照射領域に対応する画像領域を、閉じた暗領域毎に抽出するとともに、前記閉じた暗領域内に独立の明領域が存在する場合に、前記独立の明領域を注目領域とする構成を採用する。この構成では、検査光が網目を形成することに注目して、この網目内の領域を基本的に閉を成す暗領域として認識し、この暗領域内に独立の明領域が存在する場合は、非検査面に異常(欠陥)が存在する可能性があるとして、注目領域とするのであるが、例えば、被検査面が曲面となっており、基本となる網目形状に比較的大幅な変形が発生する場合にあっても、検査光が有する形状的特徴を利用して、有効な欠陥検出を実行できる。
撮像画像内に存し、前記高輝度と低輝度との中間輝度の領域である中間輝度領域を注目領域として検査を行うことが好ましい。
従って、高輝度部及び低輝度部を除くことで、欠陥の存在の確率が高い領域を容易に抽出することができ、簡単な画像処理で、迅速に目的の欠陥によると考えられる画像領域を抽出できる。
撮像画像内に存し、前記高輝度と低輝度との中間輝度の領域である中間輝度領域を抽出する中間輝度領域抽出手段を備えた構成で達成できる。
前記被検査面の照射領域に対応する画像領域である連続した明領域を抽出する連続明領域抽出手段と、
抽出された前記連続した明領域を注目領域から排除する排除手段を備えておけばよい。
この場合は、発光素子を使用することで、間接照射構造を取る場合等、輝度不足に伴う微小欠陥の見逃し等が発生する可能性を低減でき、充分な照射側での輝度を確保して、確実で信頼性の高い検査を行える。また、例えば、黒板上における発光素子の分布の変更で、任意の網目状分布を有する光ビームを得ることが可能となる。
さらに、後にも示すように、本願にあっては、撮像装置の焦点を照射側の照射面に合わせて撮像画像を得るが、この場合に、発光素子の発光部とその背景との輝度差を大きく取れるため、撮像側の画像をよりシャープなものとでき、一般に、ぼけた、小さな画像となりやすい欠陥起因の画像部位を容易に浮き立たせることができる。
しかしながら、前記輝度差を調節可能にしておくと、映り込みに必要な光量を被検出対象の状態に応じて選択しやすく、信頼性の高い検出を行える。
従って、前記被検査面が曲面である場合に、前記撮像画像における前記網目の形状が円もしくは正多角形状となる網目形状に、前記被検査面の曲面形状に対応した前記照射面における検査光の網目状分布を設定することが好ましい。
例えば、図7(ハ)に示すように、画像上下方向の収縮が発生する曲面を対象とする場合、この収縮を見込んで、網目分布を縦長のものとしておく。
このようにしておくと、撮像画像においては、連続した明部として認識される部位内の、網目内部に対応する暗部の面積を所定面積以上、確保することができ、欠陥存在の影響により、中間輝度の領域が網目内に形成される場合も、その形成が独立領域となるようにすることが可能となり、本願手法を適用して、良好に検出を行うことができる。
前記被検査面の曲面形状に対応して、前記撮像画像における前記網目の形状が円もしくは正多角形状となる網目形状に、前記照射面における検査光の網状分布を設定することで、上記方法を使用する検査装置を得ることができる。
図1は、本願に係る検査装置100を使用して自動車ボディ1の塗装面を検査している状態を示しており、塗装の終了したボディ1がコンベア2により紙面左方に搬送されている。
検査装置100は、本願独特のパターンを有する検査光を照射する照射装置3、この照射装置3の照射面を塗装面を介して撮像する撮像装置4、及びこれら装置を動作制御するとともに、得られる撮像画像を画像処理する検査装置本体7を備えて構成されている。
照射装置3は、図2に示すように、外枠部5内に複数の発光ダイオード6を、所定パターンを形成するように分散配置して構成されており、外枠部5の内壁面5a、及び外枠部内で発光ダイオード6が配設される部位以外の部分が黒板5bとして構成されている。
本願で採用される発光ダイオード6は通常の発光ダイオードであり、先に説明した照射装置3の照射面3aは、この黒板5b上に発光ダイオード6の丸型先端が所定パターンを描くように配置されたものとされている。
従って、この照射装置3を照射側正面から見た場合、あたかも、複数の黒丸が均等に配置されたように見え、撮像に際して、その焦点を前記照射面3aに合わせて撮像することで、黒板5b及び発光ダイオード6からなる明・暗パターンを、図3(イ)に示すような明部分となる網内に、暗部分となる黒丸が分散配置された画像として取り込むこととなる。
検査装置本体7は、動作制御部7a、画像処理部7bを備えて構成されており、動作制御部7aが検査装置全体の動作を制御するとともに、画像処理部7bは撮像装置4により得られた撮像画像を画像処理して、モニター8側及びコンピュータ9側へ出力するように構成されている。
これら3値化処理及び排除処理により、検査において注目すべき注目領域を特定することができる。このとき、注目領域の面積を基に、その領域の欠陥らしさを判定する面積判定手段72も備えられている。
さらに、各注目領域のラベリングを行うとともに、これらの領域の面積及び重心を求める後処理手段73が備えられている。
以上、検査装置100の構成を主に説明したが、以下、欠陥の有無に基づいて場合分けして、その撮像画像及び画像処理画像がどのような形態を示すかを説明する。ここでは、説明を容易にするために、原則として塗装面が平面である場合に関して説明する。
これらの画像で、白い部分は輝度を有する部分を、影をつけた部分は暗い画像部位を示している。
これらの画像は、左上端部から2行2列目にある暗い画像部位を形成する網目の下に欠陥がある場合を示している。他の部位は正常な状態を示している。
下地が平面の塗装面では、明部分(発光ダイオード6が配設される網部)に対応する高輝度K1の部分C1、暗部分(黒板部5bからなる網目内部)に対応する低輝度K2の部分C2が得られるのであり、塗装の正常な部分(具体的には欠陥がなく、塗装厚み班もない)では、明部分に対応する高輝度K1の部分C1が、照射側のパターンのまま網目を形成して撮像される。
正常な場合であっても、ボディ表面自体が曲面となっている場合は、この曲面形状に従って、連続した輝点として現れる網目の撮像画像にゆがみが発生する。しかしながら、欠陥の無い塗装面の撮像画像は、車と照射系、撮像系の位置関係が判明しているので、その正常画像を特定でき、例え、前記ボディ表面自体が曲面であっても、撮像画像から正常な画像部を排除して、目的とする欠陥領域とおぼしき部位を抽出することが可能となる。
塗装面に部分的な欠陥があり、その欠陥の凸・凹により、暗部分(黒板5bからなる網目内部)に対応する低輝度K2の部分C2において、少し輝度の高い中間輝度の部分C3を形成することができる。
この撮像画像は、先に説明した撮像側の明部分からの光線の映り込みにより発生すると考えられ、具体的には、図4に示すように、黒丸内に認められる、独立の明点部位もしくはリング状のものとなる。欠陥が、理想的な平面視円形の窪みの場合、全周部位からの光の映り込みが発生する。
そこで、本願装置では、欠陥によるとおぼしき注目領域の抽出に際して、3値化処理及び膨張・収縮処理を施す。
撮像画像には、上記のように、明部分に対応する高輝度K1の部分C1と、暗部分に対応する低輝度K2の部分C2とから成立するとともに、その境界部位に中間輝度の部分C4が介在している。
さらに、欠陥が、本願にいう網目内に存在する場合は、暗部分内に明るい部分(中間輝
度の部分)C3が現れる。発明者らの経験では、この部分C3の形状は、欠陥の網目内の
位置、欠陥の大きさ、撮像距離等で変化するが、網目内の中央下部に存する場合は、中間輝度の明点として識別できる。
そこで、3値化処理を実行すると、中間輝度の部分C3及び部分C4のみが残る。
さらに、中間輝度の部分C3に比べて前述の境界部分C4は微小なので、膨張及び収縮処理を数回行うと、この境界部分C4が消えて、欠陥により形成される中間輝度の部分C3が残る。
結果、図3(ハ)に示すように、この中間輝度の部分C3のみを注目領域として抽出することができる。この領域は面積判定の対象とされ、問題となる可能性のある所定面積より大きい場合は、ラベリング処理、面積及び重心計算処理を行い、所定データが、コンピュータ9側へ送られる。
この検査装置には、3値化処理手段に換えて、2値化処理手段が備えられている。
この2値化処理手段における処理閾値は、例えば、欠陥により形成される中間輝度領域を、明領域として識別する閾値に設定しておく。
このように設定しておくと、図7(イ)に示すように、被検査面が平面で、照射装置における照射面での発光ダイオードの分布を連続した2つのリングとする場合、同右図に示すように、連続リングと、その中の明の独立領域として欠陥画像を得ることができる。
このような検査方法を実行するには、画像処理手段に、被検査面の照射領域に対応する画像領域である連続した明領域を抽出する連続明領域抽出手段と、抽出された前記連続した明領域を注目領域から排除する排除手段を備えておくこととなる。
この目的を達成しようとすると、被検査面の形状を考慮した網目パターンを選択することが必要となる。
そこで、塗装面が曲面の場合は、撮像画像において網目が映り込む形状分布において、網目内に対応する画像暗部分の面積ができるだけ広がりを有するように、設定する。即ち、撮像画像において、円、あるいは正多角形(正三角、四角形等)となる形状に選択する。
このような例を図7に基づいて説明する。同図において、(イ)は先にも示したように、被検査面が平面である場合であり、(ロ)は曲面である場合を示している。同図に示すように、被検査面が紙面左右方向に回転軸を有する円筒形状の場合、撮像側で紙面上下方向の縮小が発生するため、(ハ)に示すように、この方向で予め網目分布を縦方向に伸長しておく。その伸長度合いは、画像における網目形状を基準に考える。
このように照射面における網目形状を設定することで、本願、検査方法において、的確な検査を行うことができる。
即ち、本願における照射面における検査光の形状的特質として、暗部分が閉領域として形成され、この領域の周りに、発光ダイオード6により形成される明部分が存在するため、画像処理において、塗装面の非照射領域に対応する画像領域を、閉じた暗領域として抽出するとともに、この閉じた暗領域内に独立の明領域が存在する場合に、この独立の明領域を注目領域とすることも可能である。
(1) 上記の実施の形態にあっては、検査光を得るのに、黒板の所定部位に発光素子としての複数の発光ダイオードを複数並べたものを使用したが、図9に示すように、先に説明した従来技術に見られるような、光源21の前に拡散板22を、さらにその前に網目を形成するための光透過部23を設けた照射装置を使用してもよい。この場合、明部分と暗部分との境界線が比較的明確に形成できるため、この境界線のゆらぎとして、所謂、「なし地」も、境界線が描く傾き方向で検出することができる。
さらに、図10(ハ)に示すように、正方形パターンが千鳥状に配設される場合は、異なった列に属する網目のいずれかで、欠陥を捕らえる可能性が高まり、好ましい。
さらに、図10(二)に示すように、網目内の形状を三角としておくと、所定、3方向で画像処理を迅速に実行することが可能となる。
4 撮像装置
6 発光ダイオード
K1 明部分に対応する高輝度
K2 暗部分に対応する低輝度
C1 明部分に対応する高輝度の部分
C2 暗部分に対応する低輝度の部分
C3 欠陥による中間輝度の部分
C4 照射面における輝度分布に起因して中間輝度で撮像される部分
Claims (11)
- 被検査面に所定のパターン形状の検査光を照射し、被照射状態にある前記被検査面の撮像画像により前記被検査面を検査する検査方法であって、
前記検査光として、各網目の形状が同一の網目を形成するように分布される光ビームであって、照射面に於ける当該光ビームの照射領域が各網目を形成する網の位置に設定され、非照射領域が前記各網目内に設定され、且つ、光軸に垂直な平面における前記照射領域の面積である照射面積が、前記非照射領域の面積である非照射面積より小さい光ビームを照射面より照射し、
前記被検査面の非照射領域に対応する画像領域を、閉じた暗領域として抽出するとともに、前記閉じた暗領域内に独立の明領域が存在する場合に、前記独立の明領域を注目領域として、前記撮像画像における、前記被検査面の非照射領域に対応する画像領域の明暗情報に基づいて、前記被検査面を検査する検査方法。 - 正常な被検査面に前記検査光を照射した状態における撮像画像を正常撮像画像とし、前記正常撮像画像における照射領域の輝度を高輝度と、非照射領域の輝度を低輝度とする場合に、
撮像画像内に存し、前記高輝度と低輝度との中間輝度の領域である中間輝度領域を注目領域とする請求項1記載の検査方法。 - 前記被検査面の照射領域に対応する画像領域を、連続する明領域として抽出するとともに、前記連続する明領域を注目領域から排除する請求項1項記載の検査方法。
- 前記被検査面が曲面である場合に、前記撮像画像における前記網目の形状が円もしくは正多角形状となる網目形状に、前記被検査面の曲面形状に対応した前記照射面における検査光の網目状分布を設定する請求項1〜3のいずれか1項記載の検査方法。
- 被検査面に所定のパターン形状の検査光を照射する照射手段と、前記検査光が照射された被照射状態にある前記被検査面の撮像画像を撮像する撮像手段と、前記撮像手段により得られる撮像画像を画像処理する画像処理手段とを備えた検査装置であって、
前記照射手段は、前記検査光として、各網目の形状が同一の網目を形成するように分布される光ビームであって、照射面に於ける当該光ビームの照射領域が各網目を形成する網の位置に設定され、非照射領域が前記各網目内に設定され、且つ、光軸に垂直な平面における前記照射領域の面積である照射面積が、前記非照射領域の面積である非照射面積より小さい光ビームを照射面より照射し、
前記画像処理手段は、前記画像処理において、前記被検査面の非照射領域に対応する画像領域の明暗情報を処理可能に構成され、当該画像処理手段が、被検査面の非照射領域に対応する画像領域である閉じた暗領域を各別に抽出する閉暗領域抽出手段と、抽出された閉じた暗領域内に存する独立の明領域を抽出する独立明領域抽出手段とを備えている検査装置。 - 前記画像処理手段が、
正常な被検査面に前記検査光を照射した状態における撮像画像を正常撮像画像とし、前記正常撮像画像における照射領域の輝度を高輝度と、非照射領域の輝度を低輝度とする場合に、
撮像画像内に存し、前記高輝度と低輝度との中間輝度の領域である中間輝度領域を抽出する中間輝度領域抽出手段を備えた請求項5記載の検査装置。 - 前記照射手段において前記光ビームが、前記非照射領域である網目を形成するように網状に分布された複数の発光素子により形成される請求項5又は6記載の検査装置。
- 前記照射手段において前記光ビームが、前記非照射領域である網目を形成するように網状に分布された幅狭のスリット間を透過して形成される請求項5又は6記載の検査装置。
- 前記網目の大きさを調節可能に構成されている請求項5〜8のいずれか1項記載の検査装置。
- 前記被検査面の照射領域と非照射領域との輝度差を調節可能に構成されている請求項5〜9のいずれか1項記載の検査装置。
- 前記照射手段において、
前記被検査面の曲面形状に対応して、前記撮像画像における前記網目の形状が円もしくは正多角形状となる網目形状に、前記照射面における検査光の網状分布を設定されている請求項5〜10のいずれか1項記載の検査装置。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004105452A JP4528011B2 (ja) | 2003-10-21 | 2004-03-31 | 被検査面の検査方法及び装置 |
EP04792632A EP1677098A4 (en) | 2003-10-21 | 2004-10-20 | DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING DEFECTS IN A SURFACE |
US10/576,486 US7599050B2 (en) | 2003-10-21 | 2004-10-20 | Surface defect inspecting method and device |
PCT/JP2004/015466 WO2005038445A1 (ja) | 2003-10-21 | 2004-10-20 | 表面欠陥検査方法及び装置 |
KR1020067008567A KR100742003B1 (ko) | 2003-10-21 | 2004-10-20 | 표면 결함 검사 방법 및 장치 |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003360584 | 2003-10-21 | ||
JP2004105452A JP4528011B2 (ja) | 2003-10-21 | 2004-03-31 | 被検査面の検査方法及び装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005148047A JP2005148047A (ja) | 2005-06-09 |
JP4528011B2 true JP4528011B2 (ja) | 2010-08-18 |
Family
ID=34703047
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004105452A Expired - Fee Related JP4528011B2 (ja) | 2003-10-21 | 2004-03-31 | 被検査面の検査方法及び装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4528011B2 (ja) |
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Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20091019 |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |