JP4526949B2 - 赤外検出器用読出し回路 - Google Patents

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Description

本発明は、低オフセット且つ低ノイズのオートゼロ型CMOS集積回路に関し、特に、赤外検出器用読出し回路に関するものである。
フォーカルプレーンアレイはいくつかの個々の検出素子(画素)を有する。リニアまたはフォーカルプレーンアレイ内の画素数は増加しつつある。信号マルチプレクサは高度に複雑な検出器特有の集積回路であり、全てのチャンネルを並列に読みとるものである。最も一般的に使用されている検出回路は、直接的射出ステージと、容量性帰還トランスインピーダンス増幅器(CTIA)である。
読出し回路における従来の検出バッファステージは容量性帰還トランスインピーダンス増幅器を備える。CTIAの目的は、全ての検出電流、好ましくは、ゼロバイアスまたは動抵抗が高い逆バイアス状態での検出電流を累積することである。増幅器は検出器を仮想接地レベルに保ち、一方、検出器電流はコンデンサに流れ続け、出力部には積分時間と信号電流に比例した電圧信号を発生する。検出器とCTIAの直流結合は、出力電圧変換に対する検出器電流の素晴らしい無歪性をもたらす。ゼロオフセットの理想状態では、暗電流の影響はなく、従って暗電流ノイズはない。この場合、検出器における電圧差はないので、検出器シャント抵抗は作用しない。しかしながら、実際にはこのような回路は重大な欠陥、即ち、演算増幅器入力電圧が不均一(オフセット)であり、読出し回路上に固定パターンのノイズを引き起こし、積分時間を制限している。回路は、相対的に小さな並列抵抗を有する赤外ダイオードにより発生される非常に微小な電流を測定するように適合されることが必要であり、従って、非常に小さなオフセットエラー電圧を有する増幅器を必要とする。
前記演算増幅器入力電圧の不均一を補正するために、オートゼロ(AZ)回路を使用することが一般的である。このような機構は、例えば、C. Enz 及びG. Themes 著「演算増幅器の欠陥の影響を低減するための回路技術:オートゼロ、相関ダブルサンプリング及びチョッパー安定化」(Proceedings of the IEEE, 第84巻、第11版、1996年11月刊、1584−1614頁)及び米国特許4884039号において論じられている。この特許は、基準電圧とオフセット補正電圧を供給する電圧源と、増幅器のオフセットエラーを補正する電流を供給するための一組の補助トランジスタを備えた一次オフセット演算回路を含む差動増幅器を開示している。
残余オフセット電圧のいくつかの数値結果が、「マイクロパワーCMOS使用増幅器」(IEEE J. 個相回路、第SC−20巻、805−807頁、1985年6月刊)に開示されている。
米国特許4884039号公報 C. Enz 及びG. Themes 著「演算増幅器の欠陥の影響を低減するための回路技術:オートゼロ、相関ダブルサンプリング及びチョッパー安定化」(Proceedings of the IEEE, 第84巻、第11版、1996年11月刊、1584−1614頁) 「マイクロパワーCMOS使用増幅器」(IEEE J. 個相回路、第SC−20巻、805−807頁、1985年6月刊)
図1は従来の検出器バッファステージを示し、電荷検知トランスインピーダンス増幅器(CTIA)(11)より成る。CTIAは、好ましくはゼロバイアス又は高い動抵抗の逆バイアス103の状態で、全ての検出電流102を蓄積する。しかしながら、変化するオフセット電圧をいつも処理しなければならない。従って、CMOS増幅器を適用する場合は、オートゼロ(AZ)回路を使用することが一般的である。赤外検出器ダイオード101と、CTIA(11)を形成している主増幅器107とそれの積分コンデンサ106との結合体の差動入力−(122)と+(121)に与えられる低等価入力インピーダンスとの間の直流結合により、システムは検出電流102の出力電圧変換に対する優秀な直線性(無歪性)を表す。しかしながら、焦点面アレイにおける個々の演算増幅器の入力オフセット電圧の不均一性により、このような読出しアレイ上の所謂固定パターンノイズを増大させ、より悪いチャンネルが早期に飽和状態となるために積分時間が制限される。
図2は補助オートゼロ(AZ)演算増幅器に基づく前記従来構成の変形態様を示し、上記偏差に対する補正を行うものである。その構成は2つの増幅器を備えた設計であり、AZ増幅器110が、主CTIAステージ11のオフセット作用を低減するために使用されている。この補正用AZ演算増幅器110は、電源減退抵抗408と409(図4参照)の導入により、主演算増幅器と比較して、相互コンダクタンスの減衰をもたらすことが知られている。各積分サイクルの開始前に、AZスイッチ111とスイッチ115を同時に閉じとするとともに、任意のスイッチ116を開とすることにより、各CTIAは再度オートゼロ処理される。このサイクルの最後に、最初にスイッチ11を開とすることにより、補正係数が補助増幅器110のコンデンサ112に保持される。次に、スイッチ105を短時間閉じとすることにより、CTIAの主演算増幅器107とそれの積分コンデンサ106は仮想ゼロ開始点にリセットされる。次に、真の積分サイクルが開始し、S&Hコンデンサ109上の積分検出電流信号から得られる増幅器出力電圧を(スイッチ108を閉じとすることにより)サンプリングするとともに(スイッチ108を開とすることにより)ホールディングすることで積分サイクルは終了する。最後に、同一回路のアレイのホールドコンデンサ109に保持された全ての得られた情報は、選択シフトレジスタに開始パルスを与えることにより読み出される。このレジスタは、次の増幅器117により緩衝された各チャンネルの出力118を順次選択し、それの出力信号を、所謂ビデオ信号を発生する共通の出力バッファ増幅器に振り向ける。この信号はビデオ表示画面に表示可能であり、赤外ダイオードアレイにより検出された信号の画像を提供できる。
本発明の目的は、上記従来技術の課題を解決するとともに、低ノイズで且つ高均一性のオートゼロ型集積回路増幅器を提供することである。特に、赤外検出器用読出し回路を提供するものである。
本発明は、第1の入力と第2の入力と出力を有する主演算増幅器、及び前記第2の入力と前記出力との間に接続された積分コンデンサを含む容量性帰還トランスインピーダンス演算増幅器と、積分コンデンサと並列に接続された第1のスイッチとを備えた装置であって、更に、第3の入力と第4の入力を有するオートゼロ演算増幅器を備え、前記第3の入力と前記第1の入力に対して仮想接地電位の信号が入力され、前記第4の入力は、2つのオフセットエラーコンデンサ、第2のスイッチ、及び第3のスイッチを含む回路により前記出力に接続されており、前記2つのスイッチ(111,113)は、前記第4の入力(124)と前記出力(125)との間に直列に接続されたMOSスイッチであり、前記2つのオフセットエラーコンデンサ(112,114)の一端子が仮想接地電位に接続され、前記オフセットエラーコンデンサ(112,114)のうちの一方のコンデンサ(112)の他の端子と前記出力(125)とが、前記第2のスイッチ(111)に接続され、前記オフセットエラーコンデンサ(112,114)のうちの他方のコンデンサ(114)の他の端子と前記第4の入力(124)とが第3のスイッチ(113)に接続されていることを特徴とする。
好ましい実施形態では、前記オートゼロ演算増幅器(110)は、2つの差動入力MOSトランジスタを備え、前記各トランジスタのゲートは、前記第3、第4の入力(123,124)にそれぞれ接続され、抵抗器が接続されたMOSトランジスタ(508,509)が、前記差動入力MOSトランジスタのそれぞれに直列に接続されている
好ましい実施形態では、前記第2のスイッチと第3のスイッチは、前記スイッチの両面への電荷注入を最小化するように設けられた各々4つのトランジスタを備える。
好ましくは、前記積分コンデンサは複数のコンデンサを並列に備え、各並列の分岐には分離スイッチが該分岐内のコンデンサの両側に設けられる。
典型的には、前記出力は更にサンプルホールド回路に接続されている。
他の好ましい実施形態では、赤外検出用読出し回路は、上記装置を複数個備える。
図2のオートゼロ方式は電子工学業界において公知であるが、図3の方式は従来技術の解決策では見いだされない新規な特徴の組合せを含むものである。増幅器のコモンモード拒絶はノイズを減衰させるために使用される。AZ増幅器は、好ましくは、独立した回路ブロックとして構成されるのではなく、(図4と5に示すような)基本的CTIA演算増幅器の第1の出力段内に埋設される。AZ増幅器は、基本演算増幅器107を流れる電流を仮想接地電位104により近づくように補正する。米国特許4884039号公報も埋設された方式を利用しているが、そこでは外部コンデンサは差動的には結合されていない。差動増幅器は、所謂コモンモード電圧(即ち、入力に与えられる同じ電圧)に対してよりも、それの入力における差動電圧に対してより敏感である。従って、オートゼロ訂正コンデンサに保持されたエラー補正電圧は、増幅器が最も敏感である差動入力間に直接接続されている。訂正コンデンサの端子の1つは仮想接地に接続され、ノイズがあるか又はゆっくりと変化している。このことは、外部設置電圧は、通常はコンデンサの両端子における電圧を一定に維持するコンデンサの原理により、コモンモード電圧として増幅器の入力に与えられることになるので、特に問題である。
図3は、長い積分時間を達成すると共に、必要な設置面積を相対的に小さく維持しつつ、非常に優れた直線性を保持する新規な手段を示すものである。従来のオートゼロは、1つだけのスイッチ111と1つのエラー保持コンデンサ112を用いて(図2参照)実施されていた。これには2つの重大な欠陥がある。増幅器の出力dv/dtは、MOSスイッチのドレイン・ソースの漂遊容量と閾値下または弱い変換電流と協働して、保持用コンデンサ内に流れ込む小さいが無視できない電流を引き起こす。これにより、保持されたエラー電圧は僅かに変化し、特に、長い積分時間または小さな積分コンデンサの値のとき、又はそれらの両方の状態のとき、即ち、システムが入力電流に最も敏感で、従ってオフセットエラーに最も敏感であるときに、出力を上昇させて非直線性となる。第2のコンデンサ114とスイッチ113を設けることにより、第2スイッチ113を跨る非常に低い電圧差のために、増幅器出力dv/dtから遙かに優れた絶縁が確保される。
2つのコンデンサ(114,112)と2つのスイッチ(113,111)を用いた方式は訂正コンデンサ上の残りの電圧エラーを大いに低減し、特に、4つの充分に補正されたMOSスイッチ601,602,603,604(図6参照)を更に使用することで、ほぼ完全な一致が得られる。これらスイッチはスイッチの両側への電荷注入を最小に抑え、よってシステム上のオフセットエラーも最小に抑える。例えばEnzで提案されたような、3つのトランジスタを用いた方式では、異なるサイズのトランジスタが必要であり、そのため処理工程の変化は効果的なトランジスタサイズ間の予期できない比率となるので、補正を達成することは不可能となる。オフセット補正電圧エラーとノイズを最小に抑えるために、すでに説明したように、複数のコンデンサが訂正増幅器110の差動入力間に直接接続される。このようにして、仮想接地電圧源104の発生しうるノイズまたは遅い変化が差動入力段110のコモンモード拒絶により減衰される。このようにして、5Vの供給電圧での残差オフセット電圧としては10μVの低い値が得られ、これに対して従来技術では、3Vの供給電圧でのオフセット電圧は200μVであることが報告されている。
図4は結合された主及びAZ演算増幅器の更に詳細を示すもので、所謂ソース負帰還型抵抗器408と409を含んでいる。図4はPMOS差動入力トランジスタを有する方式を示しているが、これは単に実施可能な一例にすぎず、あらゆる種類のトランジスタと反転された供給電源の極性を用いた方式であっても全く同じ基本的機能を有することは当業者に明らかである。図4に示す訂正差動入力の組のソース負帰還型抵抗器408−409は、図5に示すような詳細な構成の他の方式の抵抗器が接続されたMOSトランジスタ508−509で代替することもできる。それはAZ訂正差動入力の組の要部詳細、即ち、所謂ソース負帰還型抵抗器、あるいはオフセット補正MOSトランジスタの組のソースに抵抗器が接続されたMOSトランジスタを使用した構成を示している。MOSトランジスタは、遙かに低い相互コンダクタンスが得られるように変換特性を変更している。更に、上記相互コンダクタンスは従来のMOS入力の組のものよりも遙かに広い電圧範囲に渡って略直線的である。このようにして、全ての不完全なオフセット補正電圧もまた、一次と二次の訂正入力の組の間の相互コンダクタンスの比率と同じ比率で低減される。また、大きなオフセット電圧エラーも補足されて訂正され、その結果、全体としてより良い最終の生産の歩どまりと長期間の動作が保証される。上記抵抗器が接続されたMOSトランジスタを使用したことで、全てのCMOS処理工程に適用可能であるという大きな利点が更に得られる。
本発明の他の目的は、CTIAフィードバックまたは積分コンデンサに関する。図7に示すように、図3の積分コンデンサ106の実施可能な詳細構成において、別々のコンデンサ710乃至713は異なる値であり、結果としての積分器の感度を変更するために帰還増幅器間に接続された全コンデンサの値を変更することを可能とする。コンデンサの個数とそれらの値は、必要なトランスインピーダンス(又はゲイン)の範囲と値により、設計的に変更されることは明らかである。コンデンサは、片側のみの切替ではなく、両側が切替えられる構成である(スイッチ701乃至708参照)。この方式は、コンデンサをその周辺部から完全に絶縁し、情報の電荷を(スイッチオフされた)帰還型コンデンサに影響を及ぼすことなく、他の電荷領域の動作を実行することを可能にする。この最後の特徴は、多数のAZ構成を導入するのに必要である。このような信号取得方法を用いて、全積分時間フレーム内の規則的な時間ごとに、帰還コンデンサがCTIA増幅器からスイッチオフされる。その瞬間に新たなAZ動作が行われ、次に、帰還コンデンサが再度CTIAに接続され、積分サイクルを持続する。このような多数のAZ方式の効果は、連続したAZのノイズ電圧を効果的に平均化することである。このため、ノイズを最小化するために使用される全ての手段の如何にかかわらず、その少量が保持されたオートゼロ補正電圧内にいつも残存し、同じ少量の赤外ダイオード電流を連続して読み出すことは、連続した積分出力電圧値に可能な相対的に大きなエラーとなるであろう。
オートゼロ補正なしの従来の検出器バッファステージを示す図である。 オートゼロ補正を備えた従来の検出器バッファステージを示す図である。 本発明の新規なオートゼロ補正の構成を示す図である。 原理的なCTIA演算増幅器とAZ増幅器のトランジスタレベルの詳細を示す図である。 原理的なCTIA演算増幅器とAZ増幅器のトランジスタレベルの詳細の別の解決を示す図である。 4つのトランジスタを備えるオートゼロスイッチ方式のトランジスタレベルの詳細を示す図である。 マルチプルオートゼロ構成用の両側切替集積コンデンサの詳細を示す図である。
符号の説明
11 CTIA
15 回路
102 赤外検出器ダイオード
102 検出電流
104 仮想接地電圧源
105 スイッチ
106 積分コンデンサ
107 主増幅器
110 訂正増幅器
111,113 スイッチ
112,114 コンデンサ
121,122,123,124 入力
125 出力

Claims (6)

  1. 第1の入力(121)と第2の入力(122)と出力(125)を有する主演算増幅器(107)、及び前記第2の入力と前記出力との間に接続された積分コンデンサ(106)を含む容量性帰還トランスインピーダンス演算増幅器(11)と、前記積分コンデンサ(106)と並列に接続された第1のスイッチ(105)とを備えた装置であって、更に、第3の入力(123)と第4の入力(124)を有するオートゼロ演算増幅器(110)を備え、前記第3の入力(123)と前記第1の入力(121)に対して仮想接地電位の信号が入力され、前記第4の入力(124)は、2つのオフセットエラーコンデンサ(112,114)、第2のスイッチ(111)、及び第3のスイッチ(113)を含む回路(15)により前記出力(125)に接続されており、
    前記2つのスイッチ(111,113)は、前記第4の入力(124)と前記出力(125)との間に直列に接続されたMOSスイッチであり、
    前記2つのオフセットエラーコンデンサ(112,114)の一端子が仮想接地電位に接続され、
    前記オフセットエラーコンデンサ(112,114)のうちの一方のコンデンサ(112)の他の端子と前記出力(125)とが、前記第2のスイッチ(111)に接続され、
    前記オフセットエラーコンデンサ(112,114)のうちの他方のコンデンサ(114)の他の端子と前記第4の入力(124)とが第3のスイッチ(113)に接続されていることを特徴とする装置。
  2. 前記オートゼロ演算増幅器(110)は、2つの差動入力MOSトランジスタを備え、前記各トランジスタのゲートは、前記第3、第4の入力(123,124)にそれぞれ接続され、
    抵抗器が接続されたMOSトランジスタ(508,509)が、前記差動入力MOSトランジスタのそれぞれに直列に接続されていることを特徴とする請求項記載の装置。
  3. 前記第2のスイッチ(111)と前記第3のスイッチ(113)は、前記スイッチ(111,113)の両面への電荷注入を最小化するように設けられた各々4つのトランジスタ(601,602,603,604)を備えることを特徴とする請求項1記載の装置。
  4. 前記積分コンデンサ(106)は複数のコンデンサを並列に備え、各並列の分岐には分離スイッチが該分岐内の前記コンデンサの両側に設けられたことを特徴とする請求項1記載の装置。
  5. 前記出力(125)は更にサンプルホールド回路に接続されたことを特徴とする請求項1記載の装置。
  6. 前記請求項1〜のいずれか1項に記載の装置を複数個備えたことを特徴とする赤外検出用読出し回路。
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Families Citing this family (33)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100656666B1 (ko) * 2004-09-08 2006-12-11 매그나칩 반도체 유한회사 이미지 센서
US7268607B2 (en) * 2004-12-10 2007-09-11 L-3 Communications Corporation Integrating capacitance circuitry for an integrating amplifier and related method
JP2006222495A (ja) * 2005-02-08 2006-08-24 Olympus Corp 光電流検出回路
JP2006279377A (ja) 2005-03-29 2006-10-12 Handotai Rikougaku Kenkyu Center:Kk チョッパ増幅回路
US7486115B2 (en) * 2005-07-01 2009-02-03 Cambridge Analog Technologies, Inc. Sampled-data circuits using zero crossing detection
US8294495B2 (en) 2005-07-01 2012-10-23 Maxim Integrated Products, Inc. Constant slope ramp circuits for sampled-data circuits
US7522086B2 (en) 2005-12-29 2009-04-21 Cambridge Analog Technologies, Inc. Reference circuits for sampled-data circuits
US7504866B2 (en) 2005-12-29 2009-03-17 Cambridge Analog Technologies, Inc. Output hold circuits for sample-data circuits
KR100782304B1 (ko) * 2006-02-03 2007-12-06 삼성전자주식회사 Cds오프셋 보정 기능을 갖는 이미지 센서와이미지센서의 cds 방법
US7411460B2 (en) * 2006-03-10 2008-08-12 Exar Corporation Elimination of dummy detector on optical detectors using input common mode feedback
JP5292689B2 (ja) * 2006-10-31 2013-09-18 日本電気株式会社 熱型赤外線撮像装置及びその動作方法
US7525472B2 (en) * 2006-12-27 2009-04-28 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Integration type and converter and device including same
CN100510661C (zh) * 2007-02-14 2009-07-08 中国科学院安徽光学精密机械研究所 反射式铟镓砷陷阱辐射探测器
CN101425098B (zh) * 2007-10-31 2010-08-25 中国科学院沈阳自动化研究所 红外探测器输出的模拟方法及装置
WO2009157964A1 (en) * 2008-06-26 2009-12-30 Marshall Delph Earle Techniques for monitoring storm conditions
GB2470214A (en) 2009-05-14 2010-11-17 Powervation Ltd Determining DC-DC converter losses
JP5296612B2 (ja) * 2009-06-22 2013-09-25 浜松ホトニクス株式会社 積分回路および光検出装置
JP2011004327A (ja) * 2009-06-22 2011-01-06 Hamamatsu Photonics Kk 積分回路および光検出装置
US8816268B1 (en) * 2011-04-29 2014-08-26 Bae Systems Information And Electronic Systems Integration Inc. Input unit cell circuitry for transducer readout
TWI439046B (zh) * 2011-08-12 2014-05-21 Richtek Technology Corp 自動調零放大器及相關的偵測模組
US8258864B1 (en) * 2011-09-21 2012-09-04 Hong Kong Applied Science And Technology Research Institute Co., Ltd. Ultra low voltage multi-stage high-speed CMOS comparator with autozeroing
CN103036511B (zh) * 2012-12-14 2015-06-03 电子科技大学 红外焦平面阵列探测器读出电路的adc余量放大电路
TWI492538B (zh) * 2013-01-14 2015-07-11 Univ Nat Chi Nan Switchable reading device
JP6380882B2 (ja) * 2013-06-17 2018-08-29 セイコーNpc株式会社 信号検出回路
GB2524521A (en) * 2014-03-25 2015-09-30 Voltech Instr Ltd Apparatus and methods for measuring electrical current
JP6832649B2 (ja) 2016-08-17 2021-02-24 ブリルニクス インク 固体撮像装置、固体撮像装置の駆動方法、および電子機器
US10924701B2 (en) * 2019-07-18 2021-02-16 Omnivision Technologies, Inc. Column amplifier reset circuit with comparator
JP7383500B2 (ja) * 2020-01-16 2023-11-20 浜松ホトニクス株式会社 固体撮像装置およびアンプアレイ
CN112738359A (zh) * 2020-12-30 2021-04-30 长春长光辰芯光电技术有限公司 Ctia像素单元
FR3123121A1 (fr) 2021-05-19 2022-11-25 Stmicroelectronics (Grenoble 2) Sas Capteur de lumiere ambiante
US11894670B2 (en) * 2021-09-21 2024-02-06 Raytheon Company High-energy suppression for infrared imagers or other imaging devices
US11843355B2 (en) 2022-02-04 2023-12-12 Raytheon Company High-energy suppression for capacitor transimpedance amplifier (CTIA)-based imagers or other imaging devices
CN117939319B (zh) * 2024-03-22 2024-06-04 中国科学院云南天文台 一种短波红外探测器的优化采样方法及系统

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4047059A (en) * 1976-05-24 1977-09-06 Rca Corporation Comparator circuit
US4978872A (en) * 1984-12-17 1990-12-18 Hughes Aircraft Company Integrating capactively coupled transimpedance amplifier
JPH07105447B2 (ja) * 1988-12-15 1995-11-13 株式会社東芝 伝送ゲート
US5043820A (en) * 1989-03-27 1991-08-27 Hughes Aircraft Company Focal plane array readout employing one capacitive feedback transimpedance amplifier for each column
JP3625930B2 (ja) * 1995-10-26 2005-03-02 株式会社日立製作所 半導体集積回路装置
US5905398A (en) * 1997-04-08 1999-05-18 Burr-Brown Corporation Capacitor array having user-adjustable, manufacturer-trimmable capacitance and method
US6087897A (en) * 1999-05-06 2000-07-11 Burr-Brown Corporation Offset and non-linearity compensated amplifier and method
TW580568B (en) * 2001-11-27 2004-03-21 Matsushita Electric Works Ltd An infrared detecting circuit and an infrared detector

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