JP4515659B2 - 液晶表示パネル - Google Patents
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、液晶表示パネル、詳しくは走査信号配線及び映像信号配線の少なくとも一方に検査用薄膜トランジスタが接続された液晶表示パネルに関する。
【０００２】
【従来の技術】
図３は従来の液晶表示パネルの一部を示す構成図である。なお、図３には、液晶表示パネルを構成するアレイ基板の一部のみが示されている。４０はアレイ基板の外縁を示しており、アレイ基板は矢印方向に広がっている。図３に示すように、液晶表示パネルは、主に、複数の映像信号配線３１ａ、これと直角に交わるように配置された複数の走査信号配線３１ｂ、及び走査信号配線３１ｂと映像信号配線３１ａとが交差する位置に配置された画素３２で構成されている。３９は表示画面を示している。
【０００３】
通常、走査信号配線３１ｂと映像信号配線３１ａとは、柔らかく、シート抵抗が０．２Ω／□（即ち、長さ１μｍ、幅１μｍで０．２Ω）程度の低抵抗金属であるアルミニウム又は、アルミニウムにＴａ（タンタル）、Ｔｉ（チタン）等の高融点金属を３％程度含有させたアルミニウム系合金で形成されている。画素３２は、画素電極３２ａに電圧を印加するための画素用薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）３２ａ、補助容量部３２ｂ、及び透明導電膜（ＩＴＯ）で形成された画素電極３２ｃで構成されている。画像表示は、各画素電極３２ｃと対応した液晶セルに印加する電圧を画素用薄膜トランジスタ３２ａで制御することによって行われる。
【０００４】
ところで、このような構成の液晶表示パネルの場合、製造工程におけるダストによるパターニング異常や、静電気等による素子破壊等といった様々な原因の不良が発生する。このため、液晶表示パネルの製造工程においては、複数回に渡り、液晶駆動用ＬＳＩに実装する電極の全数に検査用プローブ電極を接触させて点灯画像検査を実施している。
【０００５】
しかし、近年表示品位の向上のため高精細化が進んでおり、画素数は増加する傾向にある。そのため、液晶駆動用ＬＳＩに実装する電極間の間隔も狭くなってきており、又上記で述べた製造工程において複数回の検査をするための検査用プローブ電極における電極間の間隔（接触間隔）も、例えば１８μｍ程度と狭くなってきている。更に、映像信号配線３１ａや走査信号配線３１ｂの一本一本に検査用プローブ電極を接触させようとすると、検査用プローブ電極の作製費用が非常に高価なものとなり、作製期間も長くなる。また、この場合、検査用プローブ電極の接触の安定性や検査用プローブ電極の保守などが困難となる。
【０００６】
特に液晶駆動用ＬＳＩを直接ガラス基板上に実装するチップオングラス工法を用いた液晶表示パネルにおいては、ＬＳＩを実装するためのＰＡＤの大きさが小さくなり、間隔も狭くなるため、電極パッドへの検査用プローブ電極による直接のコンタクトは不可能である。かかる状況から、プローブなどの開発費の抑制、開発期間の短縮が望まれており、更に簡易な信号と簡易なプローブとで検査できる点灯画像検査が望まれている。
【０００７】
そのため、図３に示した液晶表示パネルにおいては、複数の映像信号配線３１ａ及び複数の走査信号配線３１ｂのうち少なくとも一方（図３の例では映像信号配線３１ａ）と接続された共通配線３４を設けている。この共通配線３４には検査用ＰＡＤ３６が形成されており、この検査用ＰＡＤ３６に検査用プローブ電極を接触させて検査用信号を供給することよって、液晶表示パネルの良否判定を行っている。
【０００８】
また、近年の液晶表示パネルにおいては、狭額縁化を図る必要がある。そのため、図３に示した液晶表示パネルにおいては、画面とガラス基板との間のスペースは小さくすべく、共通配線３４と映像信号配線３１ａとの間に複数の検査用薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）３５が形成されており、共通配線３４と映像信号配線３１ａとは検査用薄膜トランジスタ３５の電極と接続されている。３３は共通配線３４と映像信号配線３１ａとを接続する接続配線であり、低抵抗金属であるアルミニウム又は、アルミニウムにＴａ（タンタル）、Ｔｉ（チタン）等の高融点金属を３％程度含有させたアルミニウム系合金で形成されている。
【０００９】
また、この複数の検査用薄膜トランジスタ３５のゲート電極と接続するように、共通のゲート配線３８が設けられている。ゲート配線３８にはゲート電圧用ＰＡＤ３７が形成されている。このゲート電圧用ＰＡＤ３７からゲート配線３８にゲート電圧を印加することにより、検査用薄膜トランジスタ３５をスイッチングすることができる。図３に示す液晶表示パネルにおいては、ゲート電圧用ＰＡＤ３７にゲート電圧を印加して薄膜トランジスタ３５をＯＮ状態とし、共通配線３４に形成された検査用ＰＡＤ３６にプローブ電極を接触させて検査用信号を供給することによって簡易な点灯画像検査が行われる。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、図３に示す液晶表示パネルでは、いずれかの薄膜トランジスタ３５において、何らかの欠陥により、これと接続されたゲート配線３８と接続配線３３との間や、同じくゲート配線３８と走査信号配線３１ｂ又は映像信号配線３１ａ（図３の例では映像信号配線１ａ）との間にショートが発生すると、欠陥の生じていない薄膜トランジスタ３５に接続された走査信号配線３１ｂ又は映像信号配線３１ａの信号電圧が、この欠陥のある薄膜トランジスタ３５に引っ張られてしまうという事態が生じる。この場合、液晶表示の画面全体が表示異常となり検査が行えないという問題が生じてしまう。
【００１１】
また、このような点灯画像検査が行えないとすると、歩留まり等を把握するのが困難となり、更に液晶表示パネルの品位が最終検査まで分からないため、非常に生産性の効率が悪くなってしまう。
【００１２】
本発明の目的は、上記問題点を解消し、確実な点灯画像検査を可能とし得る液晶表示パネルを提供することにある。
【００１３】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために本発明にかかる液晶表示パネルは、複数の映像信号配線と、複数の走査信号配線と、表示画面よりも外側の領域に配置され、前記複数の映像信号配線及び前記複数の走査信号配線の少なくとも一方と接続される複数のスイッチング素子と、前記複数のスイッチング素子よりも外側の領域に配置され、検査用信号を供給するための共通配線と、前記複数のスイッチング素子を前記共通配線に接続するための接続配線とが設けられたアレイ基板を含む液晶表示パネルであって、前記接続配線は前記複数の映像信号配線及び前記複数の走査信号配線よりも大きな抵抗を有していることを特徴とする。
【００１４】
本発明にかかる液晶表示パネルにおいて、接続配線の抵抗値は５ＫΩ以上であるのが好ましい。また、本発明にかかる液晶表示パネルにおいて、スイッチング素子としては薄膜トランジスタまたはダイオードを用いることができる。また、接続配線としては、透明導電膜で形成されたものを用いるのが好ましい。更にアレイ基板はチップオングラス工法で形成されているのが好ましい。
【００１５】
【発明の実施の形態】
（実施の形態１）
以下、本発明の実施の形態１にかかる液晶表示パネルについて、図１を参照しながら説明する。図１は本発明の実施の形態１にかかる液晶表示パネルの一部を示す構成図である。なお、図１には、本発明の実施の形態１にかかる液晶表示パネルを構成するアレイ基板の一部のみが示されている。１０はアレイ基板の外縁を示しており、アレイ基板は矢印の方向に広がっている。
【００１６】
図１に示すように、本実施の形態１にかかる液晶表示パネルにおいて、アレイ基板には、複数の映像信号配線１ａと、複数の走査信号配線１ｂと、複数のスイッチング素子５と、共通配線４とが設けられている。このアレイ基板はチップオングラス工法で形成されたものである。
【００１７】
図１の例では、複数の映像信号配線１ａと複数の走査信号配線１ｂとは互いに直角に交わるようにアレイ基板上に設けられている。映像信号線１ａと走査信号配線１ｂとが交差する位置には画素２が設けられている。画素２は、従来の液晶表示パネルと同様に、画素用薄膜トランジスタ２ａと、補助容量部２ｂと、透明導電膜（ＩＴＯ）で形成された画素電極２ｃとで構成されている。
【００１８】
また、図１に示すように、複数のスイッチング素子５は、アレイ基板上において表示画面９よりも外側の領域に配置されている。各スイッチング素子５はそれぞれ映像信号配線１ａと接続されている。なお、図１では示していないが、本発明にかかる液晶表示パネルにおいては、走査信号配線１ｂと接続されるスイッチング素子を更に設けることもできる。また、走査信号配線１ｂのみがスイッチング素子５と接続された態様とすることもできる。
【００１９】
図１の例では、スイッチング素子５として薄膜トランジスタが用いられている。このため、各スイッチング素子５の電極は、ゲート配線８と接続されている。７はゲート配線８にゲート電圧を印加するためのゲート電圧用ＰＡＤである。このゲート電圧用ＰＡＤ７からゲート配線８にゲート電圧を印加することにより、検査用薄膜トランジスタであるスイッチング素子５をスイッチングすることができる。なお、薄膜トランジスタにおけるＷ／Ｌ（拡散層の幅／拡散層の長さ）の値（例えば１２５μｍ／４μｍ）は、導通時の抵抗（Ｒｏｎ抵抗）が数１０ＫΩ〜数１００ＫΩになるよう決定される。図１の例では、Ｒｏｎ抵抗は約７０ＫΩ〜９０ＫΩに設定されており、Ｗ／Ｌの値は１００程度に設定されている。
【００２０】
共通配線４はスイッチング素子５を介して映像信号配線１ａに検査用信号を供給するためのものである。共通配線４は、アレイ基板上において複数のスイッチング素子５の外側に配置されている。６は検査用プローブ電極を接触させるための検査用ＰＡＤである。３は共通配線４とスイッチング素子５とを接続するための接続配線である。
【００２１】
このような構成により、本実施の形態１にかかる液晶表示パネルにおいても従来と同様に簡易な点灯画像検査を行うことができる。具体的には、ゲート電圧用ＰＡＤ７にゲート電圧を印加して薄膜トランジスタ５をＯＮ状態とし、共通配線４に形成された検査用ＰＡＤ６にプローブ電極を接触させて検査用信号を供給することによって点灯画像検査を行うことができる。
【００２２】
但し、本実施の形態１にかかる液晶表示パネル１においては、従来と異なり、接続配線３は、複数の映像信号配線１ａ及び複数の走査信号配線１ｂよりも大きな抵抗を有している。具体的には、接続配線３における抵抗値は、５ＫΩ以上、好ましくは１０ＫΩ〜１００ＫΩとなるように設定されている。接続配線３における抵抗値の設定は、それを構成する材料のシート抵抗を加味しながら線幅、長さを調整することによって行うことができる。
【００２３】
接続配線３の構成材料としては、上記の抵抗値を達成できるものであれば特に限定することなく用いることができる。具体的には、画素電極２ｃを形成するのに用いられる透明導電膜が、硬度が高く、高融点材料である点で好ましいものとして挙げられる。透明導電膜で接続配線３を形成するのであれば、画素電極２ｃと接続配線３とは同一の工程で形成できるため、製造工程が複雑とならず生産性の向上を高めることができる。また、この場合、コストの削減を図ることもできる。
【００２４】
このように、本実施の形態１にかかる液晶表示パネル１においては、共通配線４とスイッチング素子５とを接続する接続配線３は、従来のものよりも高い抵抗値を有している。このため、スイッチング素子の一つに欠陥が生じてショートが発生した場合であっても、欠陥の生じていないスイッチング素子５に接続された走査信号配線１ｂ又は映像信号配線１ａの信号電圧が、この欠陥のあるスイッチング素子５に引っ張られてしまうという事態が生じるのを抑制でき、従来に比べて点灯表示検査を確実に行うことができる。このことは、ひいては液晶表示パネルの生産性の向上及び歩留まりの向上につながる。
【００２５】
（実施の形態２）
次に本発明の実施の形態２にかかる液晶表示パネルについて、図２を参照しながら説明する。図２は本発明の実施の形態２にかかる液晶表示パネルの一部を示す構成図である。なお、図２には、図１と同様、本発明の実施の形態２にかかる液晶表示パネルを構成するアレイ基板の一部のみが示されている。２０はアレイ基板の外縁を示しており、アレイ基板は矢印の方向に広がっている。
【００２６】
図２に示すように、本実施の形態２にかかる液晶表示パネルにおいても、実施の形態１と同様に、複数の映像信号配線１１ａと、複数の走査信号配線１１ｂと、複数のスイッチング素子１５と、共通配線１４とが設けられている。このうち、映像信号配線１１ａ、走査信号配線１１ｂ、共通配線１４は実施の形態１と同様のものである。また、検査用ＰＡＤ１６は図１で示した検査用ＰＡＤ６と同様のものである。画素１２も図１で示した画素２と同様のものであり、画素用薄膜トランジスタ１２ａと、補助容量部２ｂと、透明導電膜（ＩＴＯ）で形成された画素電極２ｃとで構成されている。１９は表示画面である。
【００２７】
但し、本実施の形態２においては、スイッチング素子１５としてダイオードが用いられており、この点のみ実施の形態１と異なっている。このように、スイッチング素子１５としてダイオードを用いた場合は、実施の形態１のようにスイッチングのためのゲート配線を設ける必要がないため、更なる狭額縁化を図ることができるという利点がある。
【００２８】
また、図２に示す本実施の形態２においても接続配線１３は、複数の映像信号配線１１ａ及び複数の走査信号配線１１ｂよりも大きな抵抗を有している。接続配線１３における抵抗値も、図１で示した接続配線３と同様に設定されている。また、接続配線１３も接続配線３と同様に透明導電膜で形成するのが好ましい。
【００２９】
このため、本実施の形態２にかかる液晶表示パネルを用いても、スイッチング素子の一つに欠陥が生じてショートが発生した場合に、欠陥の生じていないスイッチング素子５に接続された走査信号配線１ｂ又は映像信号配線１ａの信号電圧が、この欠陥のあるスイッチング素子５に引っ張られてしまうという事態が生じるのを抑制でき、従来に比べて点灯表示検査を確実に行うことができる。
【００３０】
【発明の効果】
以上のように、本発明にかかる液晶表示パネルを用いれば、従来の液晶表示パネルと異なり、スイッチング素子にショート欠陥が発生しても確実に点灯表示検査を行うことができる。このため、後工程に不良品が持ち込まれるのを抑制でき、生産性の向上及び歩留まりの向上を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態１にかかる液晶表示パネルの一部を示す構成図
【図２】本発明の実施の形態２にかかる液晶表示パネルの一部を示す構成図
【図３】従来の液晶表示パネルの一部を示す構成図
【符号の説明】
１ａ 映像信号配線
１ｂ 走査信号配線
２ 画素
２ａ 画素用薄膜トランジスタ
２ｂ 補助容量部
２ｃ 画素電極
３ 接続配線
４ 共通配線
５ スイッチング素子
６ 検査用ＰＡＤ
７ ゲート電圧用ＰＡＤ
８ ゲート配線
９ 表示画面
１０ アレイ基板の外縁
【発明の属する技術分野】
本発明は、液晶表示パネル、詳しくは走査信号配線及び映像信号配線の少なくとも一方に検査用薄膜トランジスタが接続された液晶表示パネルに関する。
【０００２】
【従来の技術】
図３は従来の液晶表示パネルの一部を示す構成図である。なお、図３には、液晶表示パネルを構成するアレイ基板の一部のみが示されている。４０はアレイ基板の外縁を示しており、アレイ基板は矢印方向に広がっている。図３に示すように、液晶表示パネルは、主に、複数の映像信号配線３１ａ、これと直角に交わるように配置された複数の走査信号配線３１ｂ、及び走査信号配線３１ｂと映像信号配線３１ａとが交差する位置に配置された画素３２で構成されている。３９は表示画面を示している。
【０００３】
通常、走査信号配線３１ｂと映像信号配線３１ａとは、柔らかく、シート抵抗が０．２Ω／□（即ち、長さ１μｍ、幅１μｍで０．２Ω）程度の低抵抗金属であるアルミニウム又は、アルミニウムにＴａ（タンタル）、Ｔｉ（チタン）等の高融点金属を３％程度含有させたアルミニウム系合金で形成されている。画素３２は、画素電極３２ａに電圧を印加するための画素用薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）３２ａ、補助容量部３２ｂ、及び透明導電膜（ＩＴＯ）で形成された画素電極３２ｃで構成されている。画像表示は、各画素電極３２ｃと対応した液晶セルに印加する電圧を画素用薄膜トランジスタ３２ａで制御することによって行われる。
【０００４】
ところで、このような構成の液晶表示パネルの場合、製造工程におけるダストによるパターニング異常や、静電気等による素子破壊等といった様々な原因の不良が発生する。このため、液晶表示パネルの製造工程においては、複数回に渡り、液晶駆動用ＬＳＩに実装する電極の全数に検査用プローブ電極を接触させて点灯画像検査を実施している。
【０００５】
しかし、近年表示品位の向上のため高精細化が進んでおり、画素数は増加する傾向にある。そのため、液晶駆動用ＬＳＩに実装する電極間の間隔も狭くなってきており、又上記で述べた製造工程において複数回の検査をするための検査用プローブ電極における電極間の間隔（接触間隔）も、例えば１８μｍ程度と狭くなってきている。更に、映像信号配線３１ａや走査信号配線３１ｂの一本一本に検査用プローブ電極を接触させようとすると、検査用プローブ電極の作製費用が非常に高価なものとなり、作製期間も長くなる。また、この場合、検査用プローブ電極の接触の安定性や検査用プローブ電極の保守などが困難となる。
【０００６】
特に液晶駆動用ＬＳＩを直接ガラス基板上に実装するチップオングラス工法を用いた液晶表示パネルにおいては、ＬＳＩを実装するためのＰＡＤの大きさが小さくなり、間隔も狭くなるため、電極パッドへの検査用プローブ電極による直接のコンタクトは不可能である。かかる状況から、プローブなどの開発費の抑制、開発期間の短縮が望まれており、更に簡易な信号と簡易なプローブとで検査できる点灯画像検査が望まれている。
【０００７】
そのため、図３に示した液晶表示パネルにおいては、複数の映像信号配線３１ａ及び複数の走査信号配線３１ｂのうち少なくとも一方（図３の例では映像信号配線３１ａ）と接続された共通配線３４を設けている。この共通配線３４には検査用ＰＡＤ３６が形成されており、この検査用ＰＡＤ３６に検査用プローブ電極を接触させて検査用信号を供給することよって、液晶表示パネルの良否判定を行っている。
【０００８】
また、近年の液晶表示パネルにおいては、狭額縁化を図る必要がある。そのため、図３に示した液晶表示パネルにおいては、画面とガラス基板との間のスペースは小さくすべく、共通配線３４と映像信号配線３１ａとの間に複数の検査用薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）３５が形成されており、共通配線３４と映像信号配線３１ａとは検査用薄膜トランジスタ３５の電極と接続されている。３３は共通配線３４と映像信号配線３１ａとを接続する接続配線であり、低抵抗金属であるアルミニウム又は、アルミニウムにＴａ（タンタル）、Ｔｉ（チタン）等の高融点金属を３％程度含有させたアルミニウム系合金で形成されている。
【０００９】
また、この複数の検査用薄膜トランジスタ３５のゲート電極と接続するように、共通のゲート配線３８が設けられている。ゲート配線３８にはゲート電圧用ＰＡＤ３７が形成されている。このゲート電圧用ＰＡＤ３７からゲート配線３８にゲート電圧を印加することにより、検査用薄膜トランジスタ３５をスイッチングすることができる。図３に示す液晶表示パネルにおいては、ゲート電圧用ＰＡＤ３７にゲート電圧を印加して薄膜トランジスタ３５をＯＮ状態とし、共通配線３４に形成された検査用ＰＡＤ３６にプローブ電極を接触させて検査用信号を供給することによって簡易な点灯画像検査が行われる。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、図３に示す液晶表示パネルでは、いずれかの薄膜トランジスタ３５において、何らかの欠陥により、これと接続されたゲート配線３８と接続配線３３との間や、同じくゲート配線３８と走査信号配線３１ｂ又は映像信号配線３１ａ（図３の例では映像信号配線１ａ）との間にショートが発生すると、欠陥の生じていない薄膜トランジスタ３５に接続された走査信号配線３１ｂ又は映像信号配線３１ａの信号電圧が、この欠陥のある薄膜トランジスタ３５に引っ張られてしまうという事態が生じる。この場合、液晶表示の画面全体が表示異常となり検査が行えないという問題が生じてしまう。
【００１１】
また、このような点灯画像検査が行えないとすると、歩留まり等を把握するのが困難となり、更に液晶表示パネルの品位が最終検査まで分からないため、非常に生産性の効率が悪くなってしまう。
【００１２】
本発明の目的は、上記問題点を解消し、確実な点灯画像検査を可能とし得る液晶表示パネルを提供することにある。
【００１３】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために本発明にかかる液晶表示パネルは、複数の映像信号配線と、複数の走査信号配線と、表示画面よりも外側の領域に配置され、前記複数の映像信号配線及び前記複数の走査信号配線の少なくとも一方と接続される複数のスイッチング素子と、前記複数のスイッチング素子よりも外側の領域に配置され、検査用信号を供給するための共通配線と、前記複数のスイッチング素子を前記共通配線に接続するための接続配線とが設けられたアレイ基板を含む液晶表示パネルであって、前記接続配線は前記複数の映像信号配線及び前記複数の走査信号配線よりも大きな抵抗を有していることを特徴とする。
【００１４】
本発明にかかる液晶表示パネルにおいて、接続配線の抵抗値は５ＫΩ以上であるのが好ましい。また、本発明にかかる液晶表示パネルにおいて、スイッチング素子としては薄膜トランジスタまたはダイオードを用いることができる。また、接続配線としては、透明導電膜で形成されたものを用いるのが好ましい。更にアレイ基板はチップオングラス工法で形成されているのが好ましい。
【００１５】
【発明の実施の形態】
（実施の形態１）
以下、本発明の実施の形態１にかかる液晶表示パネルについて、図１を参照しながら説明する。図１は本発明の実施の形態１にかかる液晶表示パネルの一部を示す構成図である。なお、図１には、本発明の実施の形態１にかかる液晶表示パネルを構成するアレイ基板の一部のみが示されている。１０はアレイ基板の外縁を示しており、アレイ基板は矢印の方向に広がっている。
【００１６】
図１に示すように、本実施の形態１にかかる液晶表示パネルにおいて、アレイ基板には、複数の映像信号配線１ａと、複数の走査信号配線１ｂと、複数のスイッチング素子５と、共通配線４とが設けられている。このアレイ基板はチップオングラス工法で形成されたものである。
【００１７】
図１の例では、複数の映像信号配線１ａと複数の走査信号配線１ｂとは互いに直角に交わるようにアレイ基板上に設けられている。映像信号線１ａと走査信号配線１ｂとが交差する位置には画素２が設けられている。画素２は、従来の液晶表示パネルと同様に、画素用薄膜トランジスタ２ａと、補助容量部２ｂと、透明導電膜（ＩＴＯ）で形成された画素電極２ｃとで構成されている。
【００１８】
また、図１に示すように、複数のスイッチング素子５は、アレイ基板上において表示画面９よりも外側の領域に配置されている。各スイッチング素子５はそれぞれ映像信号配線１ａと接続されている。なお、図１では示していないが、本発明にかかる液晶表示パネルにおいては、走査信号配線１ｂと接続されるスイッチング素子を更に設けることもできる。また、走査信号配線１ｂのみがスイッチング素子５と接続された態様とすることもできる。
【００１９】
図１の例では、スイッチング素子５として薄膜トランジスタが用いられている。このため、各スイッチング素子５の電極は、ゲート配線８と接続されている。７はゲート配線８にゲート電圧を印加するためのゲート電圧用ＰＡＤである。このゲート電圧用ＰＡＤ７からゲート配線８にゲート電圧を印加することにより、検査用薄膜トランジスタであるスイッチング素子５をスイッチングすることができる。なお、薄膜トランジスタにおけるＷ／Ｌ（拡散層の幅／拡散層の長さ）の値（例えば１２５μｍ／４μｍ）は、導通時の抵抗（Ｒｏｎ抵抗）が数１０ＫΩ〜数１００ＫΩになるよう決定される。図１の例では、Ｒｏｎ抵抗は約７０ＫΩ〜９０ＫΩに設定されており、Ｗ／Ｌの値は１００程度に設定されている。
【００２０】
共通配線４はスイッチング素子５を介して映像信号配線１ａに検査用信号を供給するためのものである。共通配線４は、アレイ基板上において複数のスイッチング素子５の外側に配置されている。６は検査用プローブ電極を接触させるための検査用ＰＡＤである。３は共通配線４とスイッチング素子５とを接続するための接続配線である。
【００２１】
このような構成により、本実施の形態１にかかる液晶表示パネルにおいても従来と同様に簡易な点灯画像検査を行うことができる。具体的には、ゲート電圧用ＰＡＤ７にゲート電圧を印加して薄膜トランジスタ５をＯＮ状態とし、共通配線４に形成された検査用ＰＡＤ６にプローブ電極を接触させて検査用信号を供給することによって点灯画像検査を行うことができる。
【００２２】
但し、本実施の形態１にかかる液晶表示パネル１においては、従来と異なり、接続配線３は、複数の映像信号配線１ａ及び複数の走査信号配線１ｂよりも大きな抵抗を有している。具体的には、接続配線３における抵抗値は、５ＫΩ以上、好ましくは１０ＫΩ〜１００ＫΩとなるように設定されている。接続配線３における抵抗値の設定は、それを構成する材料のシート抵抗を加味しながら線幅、長さを調整することによって行うことができる。
【００２３】
接続配線３の構成材料としては、上記の抵抗値を達成できるものであれば特に限定することなく用いることができる。具体的には、画素電極２ｃを形成するのに用いられる透明導電膜が、硬度が高く、高融点材料である点で好ましいものとして挙げられる。透明導電膜で接続配線３を形成するのであれば、画素電極２ｃと接続配線３とは同一の工程で形成できるため、製造工程が複雑とならず生産性の向上を高めることができる。また、この場合、コストの削減を図ることもできる。
【００２４】
このように、本実施の形態１にかかる液晶表示パネル１においては、共通配線４とスイッチング素子５とを接続する接続配線３は、従来のものよりも高い抵抗値を有している。このため、スイッチング素子の一つに欠陥が生じてショートが発生した場合であっても、欠陥の生じていないスイッチング素子５に接続された走査信号配線１ｂ又は映像信号配線１ａの信号電圧が、この欠陥のあるスイッチング素子５に引っ張られてしまうという事態が生じるのを抑制でき、従来に比べて点灯表示検査を確実に行うことができる。このことは、ひいては液晶表示パネルの生産性の向上及び歩留まりの向上につながる。
【００２５】
（実施の形態２）
次に本発明の実施の形態２にかかる液晶表示パネルについて、図２を参照しながら説明する。図２は本発明の実施の形態２にかかる液晶表示パネルの一部を示す構成図である。なお、図２には、図１と同様、本発明の実施の形態２にかかる液晶表示パネルを構成するアレイ基板の一部のみが示されている。２０はアレイ基板の外縁を示しており、アレイ基板は矢印の方向に広がっている。
【００２６】
図２に示すように、本実施の形態２にかかる液晶表示パネルにおいても、実施の形態１と同様に、複数の映像信号配線１１ａと、複数の走査信号配線１１ｂと、複数のスイッチング素子１５と、共通配線１４とが設けられている。このうち、映像信号配線１１ａ、走査信号配線１１ｂ、共通配線１４は実施の形態１と同様のものである。また、検査用ＰＡＤ１６は図１で示した検査用ＰＡＤ６と同様のものである。画素１２も図１で示した画素２と同様のものであり、画素用薄膜トランジスタ１２ａと、補助容量部２ｂと、透明導電膜（ＩＴＯ）で形成された画素電極２ｃとで構成されている。１９は表示画面である。
【００２７】
但し、本実施の形態２においては、スイッチング素子１５としてダイオードが用いられており、この点のみ実施の形態１と異なっている。このように、スイッチング素子１５としてダイオードを用いた場合は、実施の形態１のようにスイッチングのためのゲート配線を設ける必要がないため、更なる狭額縁化を図ることができるという利点がある。
【００２８】
また、図２に示す本実施の形態２においても接続配線１３は、複数の映像信号配線１１ａ及び複数の走査信号配線１１ｂよりも大きな抵抗を有している。接続配線１３における抵抗値も、図１で示した接続配線３と同様に設定されている。また、接続配線１３も接続配線３と同様に透明導電膜で形成するのが好ましい。
【００２９】
このため、本実施の形態２にかかる液晶表示パネルを用いても、スイッチング素子の一つに欠陥が生じてショートが発生した場合に、欠陥の生じていないスイッチング素子５に接続された走査信号配線１ｂ又は映像信号配線１ａの信号電圧が、この欠陥のあるスイッチング素子５に引っ張られてしまうという事態が生じるのを抑制でき、従来に比べて点灯表示検査を確実に行うことができる。
【００３０】
【発明の効果】
以上のように、本発明にかかる液晶表示パネルを用いれば、従来の液晶表示パネルと異なり、スイッチング素子にショート欠陥が発生しても確実に点灯表示検査を行うことができる。このため、後工程に不良品が持ち込まれるのを抑制でき、生産性の向上及び歩留まりの向上を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態１にかかる液晶表示パネルの一部を示す構成図
【図２】本発明の実施の形態２にかかる液晶表示パネルの一部を示す構成図
【図３】従来の液晶表示パネルの一部を示す構成図
【符号の説明】
１ａ 映像信号配線
１ｂ 走査信号配線
２ 画素
２ａ 画素用薄膜トランジスタ
２ｂ 補助容量部
２ｃ 画素電極
３ 接続配線
４ 共通配線
５ スイッチング素子
６ 検査用ＰＡＤ
７ ゲート電圧用ＰＡＤ
８ ゲート配線
９ 表示画面
１０ アレイ基板の外縁
Claims (6)
- 複数の映像信号配線と、複数の走査信号配線と、表示画面よりも外側の領域に配置され、前記複数の映像信号配線及び前記複数の走査信号配線の少なくとも一方と接続される複数のスイッチング素子と、前記複数のスイッチング素子よりも外側の領域に配置され、検査用信号を供給するための共通配線と、前記複数のスイッチング素子を前記共通配線に接続するための接続配線とが設けられたアレイ基板を含む液晶表示パネルであって、
前記接続配線は前記複数の映像信号配線及び前記複数の走査信号配線よりも大きな抵抗を有していることを特徴とする液晶表示パネル。 - 前記接続配線の抵抗値が、５ＫΩ以上である請求項１記載の液晶表示パネル。
- 前記複数のスイッチング素子が薄膜トランジスタである請求項１記載の液晶表示パネル。
- 前記複数のスイッチング素子がダイオードである請求項１記載の液晶表示パネル。
- 前記接続配線が、透明導電膜で形成されている請求項１から３のいずれかに記載の液晶表示パネル。
- 前記アレイ基板が、チップオングラス工法で形成されたものである請求項１から４のいずれかに記載の液晶表示パネル。
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