JP2002328397A - 液晶表示パネル - Google Patents
液晶表示パネルInfo
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 確実な点灯画像検査を可能とし得る液晶表示
パネルを提供することにある。 【解決手段】 複数の映像信号配線１ａと、複数の走査
信号配線１ｂと、表示画面９よりも外側の領域に配置さ
れ、複数の映像信号配線１ａと接続される複数のスイッ
チング素子５と、複数のスイッチング素子５よりも外側
の領域に配置され、検査用信号を供給するための共通配
線４と、複数のスイッチング素子５を共通配線４に接続
するための接続配線３とが設けられたアレイ基板を含む
液晶表示パネルにおいて、接続配線３として、複数の映
像信号配線１ａ及び複数の走査信号配線１ｂよりも大き
な抵抗を有しているものを用いる。
パネルを提供することにある。 【解決手段】 複数の映像信号配線１ａと、複数の走査
信号配線１ｂと、表示画面９よりも外側の領域に配置さ
れ、複数の映像信号配線１ａと接続される複数のスイッ
チング素子５と、複数のスイッチング素子５よりも外側
の領域に配置され、検査用信号を供給するための共通配
線４と、複数のスイッチング素子５を共通配線４に接続
するための接続配線３とが設けられたアレイ基板を含む
液晶表示パネルにおいて、接続配線３として、複数の映
像信号配線１ａ及び複数の走査信号配線１ｂよりも大き
な抵抗を有しているものを用いる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示パネル、
詳しくは走査信号配線及び映像信号配線の少なくとも一
方に検査用薄膜トランジスタが接続された液晶表示パネ
ルに関する。
詳しくは走査信号配線及び映像信号配線の少なくとも一
方に検査用薄膜トランジスタが接続された液晶表示パネ
ルに関する。
【０００２】
【従来の技術】図３は従来の液晶表示パネルの一部を示
す構成図である。なお、図３には、液晶表示パネルを構
成するアレイ基板の一部のみが示されている。４０はア
レイ基板の外縁を示しており、アレイ基板は矢印方向に
広がっている。図３に示すように、液晶表示パネルは、
主に、複数の映像信号配線３１ａ、これと直角に交わる
ように配置された複数の走査信号配線３１ｂ、及び走査
信号配線３１ｂと映像信号配線３１ａとが交差する位置
に配置された画素３２で構成されている。３９は表示画
面を示している。
す構成図である。なお、図３には、液晶表示パネルを構
成するアレイ基板の一部のみが示されている。４０はア
レイ基板の外縁を示しており、アレイ基板は矢印方向に
広がっている。図３に示すように、液晶表示パネルは、
主に、複数の映像信号配線３１ａ、これと直角に交わる
ように配置された複数の走査信号配線３１ｂ、及び走査
信号配線３１ｂと映像信号配線３１ａとが交差する位置
に配置された画素３２で構成されている。３９は表示画
面を示している。
【０００３】通常、走査信号配線３１ｂと映像信号配線
３１ａとは、柔らかく、シート抵抗が０．２Ω／□（即
ち、長さ１μｍ、幅１μｍで０．２Ω）程度の低抵抗金
属であるアルミニウム又は、アルミニウムにＴａ（タン
タル）、Ｔｉ（チタン）等の高融点金属を３％程度含有
させたアルミニウム系合金で形成されている。画素３２
は、画素電極３２ａに電圧を印加するための画素用薄膜
トランジスタ（ＴＦＴ）３２ａ、補助容量部３２ｂ、及
び透明導電膜（ＩＴＯ）で形成された画素電極３２ｃで
構成されている。画像表示は、各画素電極３２ｃと対応
した液晶セルに印加する電圧を画素用薄膜トランジスタ
３２ａで制御することによって行われる。
３１ａとは、柔らかく、シート抵抗が０．２Ω／□（即
ち、長さ１μｍ、幅１μｍで０．２Ω）程度の低抵抗金
属であるアルミニウム又は、アルミニウムにＴａ（タン
タル）、Ｔｉ（チタン）等の高融点金属を３％程度含有
させたアルミニウム系合金で形成されている。画素３２
は、画素電極３２ａに電圧を印加するための画素用薄膜
トランジスタ（ＴＦＴ）３２ａ、補助容量部３２ｂ、及
び透明導電膜（ＩＴＯ）で形成された画素電極３２ｃで
構成されている。画像表示は、各画素電極３２ｃと対応
した液晶セルに印加する電圧を画素用薄膜トランジスタ
３２ａで制御することによって行われる。
【０００４】ところで、このような構成の液晶表示パネ
ルの場合、製造工程におけるダストによるパターニング
異常や、静電気等による素子破壊等といった様々な原因
の不良が発生する。このため、液晶表示パネルの製造工
程においては、複数回に渡り、液晶駆動用ＬＳＩに実装
する電極の全数に検査用プローブ電極を接触させて点灯
画像検査を実施している。
ルの場合、製造工程におけるダストによるパターニング
異常や、静電気等による素子破壊等といった様々な原因
の不良が発生する。このため、液晶表示パネルの製造工
程においては、複数回に渡り、液晶駆動用ＬＳＩに実装
する電極の全数に検査用プローブ電極を接触させて点灯
画像検査を実施している。
【０００５】しかし、近年表示品位の向上のため高精細
化が進んでおり、画素数は増加する傾向にある。そのた
め、液晶駆動用ＬＳＩに実装する電極間の間隔も狭くな
ってきており、又上記で述べた製造工程において複数回
の検査をするための検査用プローブ電極における電極間
の間隔（接触間隔）も、例えば１８μｍ程度と狭くなっ
てきている。更に、映像信号配線３１ａや走査信号配線
３１ｂの一本一本に検査用プローブ電極を接触させよう
とすると、検査用プローブ電極の作製費用が非常に高価
なものとなり、作製期間も長くなる。また、この場合、
検査用プローブ電極の接触の安定性や検査用プローブ電
極の保守などが困難となる。
化が進んでおり、画素数は増加する傾向にある。そのた
め、液晶駆動用ＬＳＩに実装する電極間の間隔も狭くな
ってきており、又上記で述べた製造工程において複数回
の検査をするための検査用プローブ電極における電極間
の間隔（接触間隔）も、例えば１８μｍ程度と狭くなっ
てきている。更に、映像信号配線３１ａや走査信号配線
３１ｂの一本一本に検査用プローブ電極を接触させよう
とすると、検査用プローブ電極の作製費用が非常に高価
なものとなり、作製期間も長くなる。また、この場合、
検査用プローブ電極の接触の安定性や検査用プローブ電
極の保守などが困難となる。
【０００６】特に液晶駆動用ＬＳＩを直接ガラス基板上
に実装するチップオングラス工法を用いた液晶表示パネ
ルにおいては、ＬＳＩを実装するためのＰＡＤの大きさ
が小さくなり、間隔も狭くなるため、電極パッドへの検
査用プローブ電極による直接のコンタクトは不可能であ
る。かかる状況から、プローブなどの開発費の抑制、開
発期間の短縮が望まれており、更に簡易な信号と簡易な
プローブとで検査できる点灯画像検査が望まれている。
に実装するチップオングラス工法を用いた液晶表示パネ
ルにおいては、ＬＳＩを実装するためのＰＡＤの大きさ
が小さくなり、間隔も狭くなるため、電極パッドへの検
査用プローブ電極による直接のコンタクトは不可能であ
る。かかる状況から、プローブなどの開発費の抑制、開
発期間の短縮が望まれており、更に簡易な信号と簡易な
プローブとで検査できる点灯画像検査が望まれている。
【０００７】そのため、図３に示した液晶表示パネルに
おいては、複数の映像信号配線３１ａ及び複数の走査信
号配線３１ｂのうち少なくとも一方（図３の例では映像
信号配線３１ａ）と接続された共通配線３４を設けてい
る。この共通配線３４には検査用ＰＡＤ３６が形成され
ており、この検査用ＰＡＤ３６に検査用プローブ電極を
接触させて検査用信号を供給することよって、液晶表示
パネルの良否判定を行っている。
おいては、複数の映像信号配線３１ａ及び複数の走査信
号配線３１ｂのうち少なくとも一方（図３の例では映像
信号配線３１ａ）と接続された共通配線３４を設けてい
る。この共通配線３４には検査用ＰＡＤ３６が形成され
ており、この検査用ＰＡＤ３６に検査用プローブ電極を
接触させて検査用信号を供給することよって、液晶表示
パネルの良否判定を行っている。
【０００８】また、近年の液晶表示パネルにおいては、
狭額縁化を図る必要がある。そのため、図３に示した液
晶表示パネルにおいては、画面とガラス基板との間のス
ペースは小さくすべく、共通配線３４と映像信号配線３
１ａとの間に複数の検査用薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）
３５が形成されており、共通配線３４と映像信号配線３
１ａとは検査用薄膜トランジスタ３５の電極と接続され
ている。３３は共通配線３４と映像信号配線３１ａとを
接続する接続配線であり、低抵抗金属であるアルミニウ
ム又は、アルミニウムにＴａ（タンタル）、Ｔｉ（チタ
ン）等の高融点金属を３％程度含有させたアルミニウム
系合金で形成されている。
狭額縁化を図る必要がある。そのため、図３に示した液
晶表示パネルにおいては、画面とガラス基板との間のス
ペースは小さくすべく、共通配線３４と映像信号配線３
１ａとの間に複数の検査用薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）
３５が形成されており、共通配線３４と映像信号配線３
１ａとは検査用薄膜トランジスタ３５の電極と接続され
ている。３３は共通配線３４と映像信号配線３１ａとを
接続する接続配線であり、低抵抗金属であるアルミニウ
ム又は、アルミニウムにＴａ（タンタル）、Ｔｉ（チタ
ン）等の高融点金属を３％程度含有させたアルミニウム
系合金で形成されている。
【０００９】また、この複数の検査用薄膜トランジスタ
３５のゲート電極と接続するように、共通のゲート配線
３８が設けられている。ゲート配線３８にはゲート電圧
用ＰＡＤ３７が形成されている。このゲート電圧用ＰＡ
Ｄ３７からゲート配線３８にゲート電圧を印加すること
により、検査用薄膜トランジスタ３５をスイッチングす
ることができる。図３に示す液晶表示パネルにおいて
は、ゲート電圧用ＰＡＤ３７にゲート電圧を印加して薄
膜トランジスタ３５をＯＮ状態とし、共通配線３４に形
成された検査用ＰＡＤ３６にプローブ電極を接触させて
検査用信号を供給することによって簡易な点灯画像検査
が行われる。
３５のゲート電極と接続するように、共通のゲート配線
３８が設けられている。ゲート配線３８にはゲート電圧
用ＰＡＤ３７が形成されている。このゲート電圧用ＰＡ
Ｄ３７からゲート配線３８にゲート電圧を印加すること
により、検査用薄膜トランジスタ３５をスイッチングす
ることができる。図３に示す液晶表示パネルにおいて
は、ゲート電圧用ＰＡＤ３７にゲート電圧を印加して薄
膜トランジスタ３５をＯＮ状態とし、共通配線３４に形
成された検査用ＰＡＤ３６にプローブ電極を接触させて
検査用信号を供給することによって簡易な点灯画像検査
が行われる。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図３に
示す液晶表示パネルでは、いずれかの薄膜トランジスタ
３５において、何らかの欠陥により、これと接続された
ゲート配線３８と接続配線３３との間や、同じくゲート
配線３８と走査信号配線３１ｂ又は映像信号配線３１ａ
（図３の例では映像信号配線１ａ）との間にショートが
発生すると、欠陥の生じていない薄膜トランジスタ３５
に接続された走査信号配線３１ｂ又は映像信号配線３１
ａの信号電圧が、この欠陥のある薄膜トランジスタ３５
に引っ張られてしまうという事態が生じる。この場合、
液晶表示の画面全体が表示異常となり検査が行えないと
いう問題が生じてしまう。
示す液晶表示パネルでは、いずれかの薄膜トランジスタ
３５において、何らかの欠陥により、これと接続された
ゲート配線３８と接続配線３３との間や、同じくゲート
配線３８と走査信号配線３１ｂ又は映像信号配線３１ａ
（図３の例では映像信号配線１ａ）との間にショートが
発生すると、欠陥の生じていない薄膜トランジスタ３５
に接続された走査信号配線３１ｂ又は映像信号配線３１
ａの信号電圧が、この欠陥のある薄膜トランジスタ３５
に引っ張られてしまうという事態が生じる。この場合、
液晶表示の画面全体が表示異常となり検査が行えないと
いう問題が生じてしまう。
【００１１】また、このような点灯画像検査が行えない
とすると、歩留まり等を把握するのが困難となり、更に
液晶表示パネルの品位が最終検査まで分からないため、
非常に生産性の効率が悪くなってしまう。
とすると、歩留まり等を把握するのが困難となり、更に
液晶表示パネルの品位が最終検査まで分からないため、
非常に生産性の効率が悪くなってしまう。
【００１２】本発明の目的は、上記問題点を解消し、確
実な点灯画像検査を可能とし得る液晶表示パネルを提供
することにある。
実な点灯画像検査を可能とし得る液晶表示パネルを提供
することにある。
【００１３】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明にかかる液晶表示パネルは、複数の映像信号配
線と、複数の走査信号配線と、表示画面よりも外側の領
域に配置され、前記複数の映像信号配線及び前記複数の
走査信号配線の少なくとも一方と接続される複数のスイ
ッチング素子と、前記複数のスイッチング素子よりも外
側の領域に配置され、検査用信号を供給するための共通
配線と、前記複数のスイッチング素子を前記共通配線に
接続するための接続配線とが設けられたアレイ基板を含
む液晶表示パネルであって、前記接続配線は前記複数の
映像信号配線及び前記複数の走査信号配線よりも大きな
抵抗を有していることを特徴とする。
に本発明にかかる液晶表示パネルは、複数の映像信号配
線と、複数の走査信号配線と、表示画面よりも外側の領
域に配置され、前記複数の映像信号配線及び前記複数の
走査信号配線の少なくとも一方と接続される複数のスイ
ッチング素子と、前記複数のスイッチング素子よりも外
側の領域に配置され、検査用信号を供給するための共通
配線と、前記複数のスイッチング素子を前記共通配線に
接続するための接続配線とが設けられたアレイ基板を含
む液晶表示パネルであって、前記接続配線は前記複数の
映像信号配線及び前記複数の走査信号配線よりも大きな
抵抗を有していることを特徴とする。
【００１４】本発明にかかる液晶表示パネルにおいて、
接続配線の抵抗値は５ＫΩ以上であるのが好ましい。ま
た、本発明にかかる液晶表示パネルにおいて、スイッチ
ング素子としては薄膜トランジスタまたはダイオードを
用いることができる。また、接続配線としては、透明導
電膜で形成されたものを用いるのが好ましい。更にアレ
イ基板はチップオングラス工法で形成されているのが好
ましい。
接続配線の抵抗値は５ＫΩ以上であるのが好ましい。ま
た、本発明にかかる液晶表示パネルにおいて、スイッチ
ング素子としては薄膜トランジスタまたはダイオードを
用いることができる。また、接続配線としては、透明導
電膜で形成されたものを用いるのが好ましい。更にアレ
イ基板はチップオングラス工法で形成されているのが好
ましい。
【００１５】
【発明の実施の形態】（実施の形態１）以下、本発明の
実施の形態１にかかる液晶表示パネルについて、図１を
参照しながら説明する。図１は本発明の実施の形態１に
かかる液晶表示パネルの一部を示す構成図である。な
お、図１には、本発明の実施の形態１にかかる液晶表示
パネルを構成するアレイ基板の一部のみが示されてい
る。１０はアレイ基板の外縁を示しており、アレイ基板
は矢印の方向に広がっている。
実施の形態１にかかる液晶表示パネルについて、図１を
参照しながら説明する。図１は本発明の実施の形態１に
かかる液晶表示パネルの一部を示す構成図である。な
お、図１には、本発明の実施の形態１にかかる液晶表示
パネルを構成するアレイ基板の一部のみが示されてい
る。１０はアレイ基板の外縁を示しており、アレイ基板
は矢印の方向に広がっている。
【００１６】図１に示すように、本実施の形態１にかか
る液晶表示パネルにおいて、アレイ基板には、複数の映
像信号配線１ａと、複数の走査信号配線１ｂと、複数の
スイッチング素子５と、共通配線４とが設けられてい
る。このアレイ基板はチップオングラス工法で形成され
たものである。
る液晶表示パネルにおいて、アレイ基板には、複数の映
像信号配線１ａと、複数の走査信号配線１ｂと、複数の
スイッチング素子５と、共通配線４とが設けられてい
る。このアレイ基板はチップオングラス工法で形成され
たものである。
【００１７】図１の例では、複数の映像信号配線１ａと
複数の走査信号配線１ｂとは互いに直角に交わるように
アレイ基板上に設けられている。映像信号線１ａと走査
信号配線１ｂとが交差する位置には画素２が設けられて
いる。画素２は、従来の液晶表示パネルと同様に、画素
用薄膜トランジスタ２ａと、補助容量部２ｂと、透明導
電膜（ＩＴＯ）で形成された画素電極２ｃとで構成され
ている。
複数の走査信号配線１ｂとは互いに直角に交わるように
アレイ基板上に設けられている。映像信号線１ａと走査
信号配線１ｂとが交差する位置には画素２が設けられて
いる。画素２は、従来の液晶表示パネルと同様に、画素
用薄膜トランジスタ２ａと、補助容量部２ｂと、透明導
電膜（ＩＴＯ）で形成された画素電極２ｃとで構成され
ている。
【００１８】また、図１に示すように、複数のスイッチ
ング素子５は、アレイ基板上において表示画面９よりも
外側の領域に配置されている。各スイッチング素子５は
それぞれ映像信号配線１ａと接続されている。なお、図
１では示していないが、本発明にかかる液晶表示パネル
においては、走査信号配線１ｂと接続されるスイッチン
グ素子を更に設けることもできる。また、走査信号配線
１ｂのみがスイッチング素子５と接続された態様とする
こともできる。
ング素子５は、アレイ基板上において表示画面９よりも
外側の領域に配置されている。各スイッチング素子５は
それぞれ映像信号配線１ａと接続されている。なお、図
１では示していないが、本発明にかかる液晶表示パネル
においては、走査信号配線１ｂと接続されるスイッチン
グ素子を更に設けることもできる。また、走査信号配線
１ｂのみがスイッチング素子５と接続された態様とする
こともできる。
【００１９】図１の例では、スイッチング素子５として
薄膜トランジスタが用いられている。このため、各スイ
ッチング素子５の電極は、ゲート配線８と接続されてい
る。７はゲート配線８にゲート電圧を印加するためのゲ
ート電圧用ＰＡＤである。このゲート電圧用ＰＡＤ７か
らゲート配線８にゲート電圧を印加することにより、検
査用薄膜トランジスタであるスイッチング素子５をスイ
ッチングすることができる。なお、薄膜トランジスタに
おけるＷ／Ｌ（拡散層の幅／拡散層の長さ）の値（例え
ば１２５μｍ／４μｍ）は、導通時の抵抗（Ｒｏｎ抵
抗）が数１０ＫΩ〜数１００ＫΩになるよう決定され
る。図１の例では、Ｒｏｎ抵抗は約７０ＫΩ〜９０ＫΩ
に設定されており、Ｗ／Ｌの値は１００程度に設定され
ている。
薄膜トランジスタが用いられている。このため、各スイ
ッチング素子５の電極は、ゲート配線８と接続されてい
る。７はゲート配線８にゲート電圧を印加するためのゲ
ート電圧用ＰＡＤである。このゲート電圧用ＰＡＤ７か
らゲート配線８にゲート電圧を印加することにより、検
査用薄膜トランジスタであるスイッチング素子５をスイ
ッチングすることができる。なお、薄膜トランジスタに
おけるＷ／Ｌ（拡散層の幅／拡散層の長さ）の値（例え
ば１２５μｍ／４μｍ）は、導通時の抵抗（Ｒｏｎ抵
抗）が数１０ＫΩ〜数１００ＫΩになるよう決定され
る。図１の例では、Ｒｏｎ抵抗は約７０ＫΩ〜９０ＫΩ
に設定されており、Ｗ／Ｌの値は１００程度に設定され
ている。
【００２０】共通配線４はスイッチング素子５を介して
映像信号配線１ａに検査用信号を供給するためのもので
ある。共通配線４は、アレイ基板上において複数のスイ
ッチング素子５の外側に配置されている。６は検査用プ
ローブ電極を接触させるための検査用ＰＡＤである。３
は共通配線４とスイッチング素子５とを接続するための
接続配線である。
映像信号配線１ａに検査用信号を供給するためのもので
ある。共通配線４は、アレイ基板上において複数のスイ
ッチング素子５の外側に配置されている。６は検査用プ
ローブ電極を接触させるための検査用ＰＡＤである。３
は共通配線４とスイッチング素子５とを接続するための
接続配線である。
【００２１】このような構成により、本実施の形態１に
かかる液晶表示パネルにおいても従来と同様に簡易な点
灯画像検査を行うことができる。具体的には、ゲート電
圧用ＰＡＤ７にゲート電圧を印加して薄膜トランジスタ
５をＯＮ状態とし、共通配線４に形成された検査用ＰＡ
Ｄ６にプローブ電極を接触させて検査用信号を供給する
ことによって点灯画像検査を行うことができる。
かかる液晶表示パネルにおいても従来と同様に簡易な点
灯画像検査を行うことができる。具体的には、ゲート電
圧用ＰＡＤ７にゲート電圧を印加して薄膜トランジスタ
５をＯＮ状態とし、共通配線４に形成された検査用ＰＡ
Ｄ６にプローブ電極を接触させて検査用信号を供給する
ことによって点灯画像検査を行うことができる。
【００２２】但し、本実施の形態１にかかる液晶表示パ
ネル１においては、従来と異なり、接続配線３は、複数
の映像信号配線１ａ及び複数の走査信号配線１ｂよりも
大きな抵抗を有している。具体的には、接続配線３にお
ける抵抗値は、５ＫΩ以上、好ましくは１０ＫΩ〜１０
０ＫΩとなるように設定されている。接続配線３におけ
る抵抗値の設定は、それを構成する材料のシート抵抗を
加味しながら線幅、長さを調整することによって行うこ
とができる。
ネル１においては、従来と異なり、接続配線３は、複数
の映像信号配線１ａ及び複数の走査信号配線１ｂよりも
大きな抵抗を有している。具体的には、接続配線３にお
ける抵抗値は、５ＫΩ以上、好ましくは１０ＫΩ〜１０
０ＫΩとなるように設定されている。接続配線３におけ
る抵抗値の設定は、それを構成する材料のシート抵抗を
加味しながら線幅、長さを調整することによって行うこ
とができる。
【００２３】接続配線３の構成材料としては、上記の抵
抗値を達成できるものであれば特に限定することなく用
いることができる。具体的には、画素電極２ｃを形成す
るのに用いられる透明導電膜が、硬度が高く、高融点材
料である点で好ましいものとして挙げられる。透明導電
膜で接続配線３を形成するのであれば、画素電極２ｃと
接続配線３とは同一の工程で形成できるため、製造工程
が複雑とならず生産性の向上を高めることができる。ま
た、この場合、コストの削減を図ることもできる。
抗値を達成できるものであれば特に限定することなく用
いることができる。具体的には、画素電極２ｃを形成す
るのに用いられる透明導電膜が、硬度が高く、高融点材
料である点で好ましいものとして挙げられる。透明導電
膜で接続配線３を形成するのであれば、画素電極２ｃと
接続配線３とは同一の工程で形成できるため、製造工程
が複雑とならず生産性の向上を高めることができる。ま
た、この場合、コストの削減を図ることもできる。
【００２４】このように、本実施の形態１にかかる液晶
表示パネル１においては、共通配線４とスイッチング素
子５とを接続する接続配線３は、従来のものよりも高い
抵抗値を有している。このため、スイッチング素子の一
つに欠陥が生じてショートが発生した場合であっても、
欠陥の生じていないスイッチング素子５に接続された走
査信号配線１ｂ又は映像信号配線１ａの信号電圧が、こ
の欠陥のあるスイッチング素子５に引っ張られてしまう
という事態が生じるのを抑制でき、従来に比べて点灯表
示検査を確実に行うことができる。このことは、ひいて
は液晶表示パネルの生産性の向上及び歩留まりの向上に
つながる。
表示パネル１においては、共通配線４とスイッチング素
子５とを接続する接続配線３は、従来のものよりも高い
抵抗値を有している。このため、スイッチング素子の一
つに欠陥が生じてショートが発生した場合であっても、
欠陥の生じていないスイッチング素子５に接続された走
査信号配線１ｂ又は映像信号配線１ａの信号電圧が、こ
の欠陥のあるスイッチング素子５に引っ張られてしまう
という事態が生じるのを抑制でき、従来に比べて点灯表
示検査を確実に行うことができる。このことは、ひいて
は液晶表示パネルの生産性の向上及び歩留まりの向上に
つながる。
【００２５】（実施の形態２）次に本発明の実施の形態
２にかかる液晶表示パネルについて、図２を参照しなが
ら説明する。図２は本発明の実施の形態２にかかる液晶
表示パネルの一部を示す構成図である。なお、図２に
は、図１と同様、本発明の実施の形態２にかかる液晶表
示パネルを構成するアレイ基板の一部のみが示されてい
る。２０はアレイ基板の外縁を示しており、アレイ基板
は矢印の方向に広がっている。
２にかかる液晶表示パネルについて、図２を参照しなが
ら説明する。図２は本発明の実施の形態２にかかる液晶
表示パネルの一部を示す構成図である。なお、図２に
は、図１と同様、本発明の実施の形態２にかかる液晶表
示パネルを構成するアレイ基板の一部のみが示されてい
る。２０はアレイ基板の外縁を示しており、アレイ基板
は矢印の方向に広がっている。
【００２６】図２に示すように、本実施の形態２にかか
る液晶表示パネルにおいても、実施の形態１と同様に、
複数の映像信号配線１１ａと、複数の走査信号配線１１
ｂと、複数のスイッチング素子１５と、共通配線１４と
が設けられている。このうち、映像信号配線１１ａ、走
査信号配線１１ｂ、共通配線１４は実施の形態１と同様
のものである。また、検査用ＰＡＤ１６は図１で示した
検査用ＰＡＤ６と同様のものである。画素１２も図１で
示した画素２と同様のものであり、画素用薄膜トランジ
スタ１２ａと、補助容量部２ｂと、透明導電膜（ＩＴ
Ｏ）で形成された画素電極２ｃとで構成されている。１
９は表示画面である。
る液晶表示パネルにおいても、実施の形態１と同様に、
複数の映像信号配線１１ａと、複数の走査信号配線１１
ｂと、複数のスイッチング素子１５と、共通配線１４と
が設けられている。このうち、映像信号配線１１ａ、走
査信号配線１１ｂ、共通配線１４は実施の形態１と同様
のものである。また、検査用ＰＡＤ１６は図１で示した
検査用ＰＡＤ６と同様のものである。画素１２も図１で
示した画素２と同様のものであり、画素用薄膜トランジ
スタ１２ａと、補助容量部２ｂと、透明導電膜（ＩＴ
Ｏ）で形成された画素電極２ｃとで構成されている。１
９は表示画面である。
【００２７】但し、本実施の形態２においては、スイッ
チング素子１５としてダイオードが用いられており、こ
の点のみ実施の形態１と異なっている。このように、ス
イッチング素子１５としてダイオードを用いた場合は、
実施の形態１のようにスイッチングのためのゲート配線
を設ける必要がないため、更なる狭額縁化を図ることが
できるという利点がある。
チング素子１５としてダイオードが用いられており、こ
の点のみ実施の形態１と異なっている。このように、ス
イッチング素子１５としてダイオードを用いた場合は、
実施の形態１のようにスイッチングのためのゲート配線
を設ける必要がないため、更なる狭額縁化を図ることが
できるという利点がある。
【００２８】また、図２に示す本実施の形態２において
も接続配線１３は、複数の映像信号配線１１ａ及び複数
の走査信号配線１１ｂよりも大きな抵抗を有している。
接続配線１３における抵抗値も、図１で示した接続配線
３と同様に設定されている。また、接続配線１３も接続
配線３と同様に透明導電膜で形成するのが好ましい。
も接続配線１３は、複数の映像信号配線１１ａ及び複数
の走査信号配線１１ｂよりも大きな抵抗を有している。
接続配線１３における抵抗値も、図１で示した接続配線
３と同様に設定されている。また、接続配線１３も接続
配線３と同様に透明導電膜で形成するのが好ましい。
【００２９】このため、本実施の形態２にかかる液晶表
示パネルを用いても、スイッチング素子の一つに欠陥が
生じてショートが発生した場合に、欠陥の生じていない
スイッチング素子５に接続された走査信号配線１ｂ又は
映像信号配線１ａの信号電圧が、この欠陥のあるスイッ
チング素子５に引っ張られてしまうという事態が生じる
のを抑制でき、従来に比べて点灯表示検査を確実に行う
ことができる。
示パネルを用いても、スイッチング素子の一つに欠陥が
生じてショートが発生した場合に、欠陥の生じていない
スイッチング素子５に接続された走査信号配線１ｂ又は
映像信号配線１ａの信号電圧が、この欠陥のあるスイッ
チング素子５に引っ張られてしまうという事態が生じる
のを抑制でき、従来に比べて点灯表示検査を確実に行う
ことができる。
【００３０】
【発明の効果】以上のように、本発明にかかる液晶表示
パネルを用いれば、従来の液晶表示パネルと異なり、ス
イッチング素子にショート欠陥が発生しても確実に点灯
表示検査を行うことができる。このため、後工程に不良
品が持ち込まれるのを抑制でき、生産性の向上及び歩留
まりの向上を図ることができる。
パネルを用いれば、従来の液晶表示パネルと異なり、ス
イッチング素子にショート欠陥が発生しても確実に点灯
表示検査を行うことができる。このため、後工程に不良
品が持ち込まれるのを抑制でき、生産性の向上及び歩留
まりの向上を図ることができる。
【図１】本発明の実施の形態１にかかる液晶表示パネル
の一部を示す構成図
の一部を示す構成図
【図２】本発明の実施の形態２にかかる液晶表示パネル
の一部を示す構成図
の一部を示す構成図
【図３】従来の液晶表示パネルの一部を示す構成図
１ａ 映像信号配線 １ｂ 走査信号配線 ２ 画素 ２ａ 画素用薄膜トランジスタ ２ｂ 補助容量部 ２ｃ 画素電極 ３ 接続配線 ４ 共通配線 ５ スイッチング素子 ６ 検査用ＰＡＤ ７ ゲート電圧用ＰＡＤ ８ ゲート配線 ９ 表示画面 １０ アレイ基板の外縁
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｈ０１Ｌ 29/78 ６２４ Ｆターム(参考） 2H092 GA60 GA61 HA04 HA06 JA01 JA24 JA38 JA42 JA48 JB77 KB04 MA57 NA25 NA30 5C094 AA42 AA43 BA03 BA04 BA43 CA19 DB01 DB04 EA03 EA04 EA07 EB02 FB12 5F110 AA24 BB01 GG28 GG29 NN72 NN73 5G435 AA17 BB12 CC09 EE33 EE41 GG21 HH12 KK05
Claims (6)
- 【請求項１】 複数の映像信号配線と、複数の走査信号
配線と、表示画面よりも外側の領域に配置され、前記複
数の映像信号配線及び前記複数の走査信号配線の少なく
とも一方と接続される複数のスイッチング素子と、前記
複数のスイッチング素子よりも外側の領域に配置され、
検査用信号を供給するための共通配線と、前記複数のス
イッチング素子を前記共通配線に接続するための接続配
線とが設けられたアレイ基板を含む液晶表示パネルであ
って、 前記接続配線は前記複数の映像信号配線及び前記複数の
走査信号配線よりも大きな抵抗を有していることを特徴
とする液晶表示パネル。 - 【請求項２】 前記接続配線の抵抗値が、５ＫΩ以上で
ある請求項１記載の液晶表示パネル。 - 【請求項３】 前記複数のスイッチング素子が薄膜トラ
ンジスタである請求項１記載の液晶表示パネル。 - 【請求項４】 前記複数のスイッチング素子がダイオー
ドである請求項１記載の液晶表示パネル。 - 【請求項５】 前記接続配線が、透明導電膜で形成され
ている請求項１から３のいずれかに記載の液晶表示パネ
ル。 - 【請求項６】 前記アレイ基板が、チップオングラス工
法で形成されたものである請求項１から４のいずれかに
記載の液晶表示パネル。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001132462A JP4515659B2 (ja) | 2001-04-27 | 2001-04-27 | 液晶表示パネル |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001132462A JP4515659B2 (ja) | 2001-04-27 | 2001-04-27 | 液晶表示パネル |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002328397A true JP2002328397A (ja) | 2002-11-15 |
| JP4515659B2 JP4515659B2 (ja) | 2010-08-04 |
Family
ID=18980471
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001132462A Expired - Lifetime JP4515659B2 (ja) | 2001-04-27 | 2001-04-27 | 液晶表示パネル |
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| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4515659B2 (ja) |
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-
2001
- 2001-04-27 JP JP2001132462A patent/JP4515659B2/ja not_active Expired - Lifetime
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| US9747831B2 (en) | 2008-04-01 | 2017-08-29 | Samsung Display Co., Ltd. | Flat panel display device, method of aging the same, and method of testing lighting of the same |
| USRE49135E1 (en) | 2008-04-01 | 2022-07-12 | Samsung Display Co., Ltd. | Flat panel display device, method of aging the same, and method of testing lighting of the same |
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| JP4515659B2 (ja) | 2010-08-04 |
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