JP3377920B2 - 液晶表示パネルの製造方法 - Google Patents

液晶表示パネルの製造方法

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Description

【発明の詳細な説明】 【0001】 【発明の属する技術分野】本発明は、ガラス基板間に挟
持された液晶に対する電圧の印加を制御して画像を表示
する液晶表示パネルの製造方法に関するものである。 【0002】 【従来の技術】従来から、図3に示したように、液晶表
示パネルは、柔らかく、シート抵抗が0.2Ω/□ぐら
いの低抵抗な金属であるAl、又は、そのようなAlに
3%程度のTa(タンタル)、Ti(チタン)等の高融
点金属を含有させたAl系合金で形成されている複数の
走査信号配線3と複数の映像信号配線2と、その配線が
交差する位置にある透明導電膜(ITO)で形成された
画素電極6とから構成されている。その画素電極6の一
つ一つの液晶セルに対して、TFTトランジスタによっ
て電圧の印加を制御することにより、画像表示を行って
いる。 【0003】このような液晶表示パネルは、その製造工
程においては、ダストによるパターニング異常や静電気
等による素子破壊など様々な原因で不良が発生するた
め、液晶駆動用LSIに実装する電極の全数に検査用プ
ローブ電極を接触させて、製造工程で複数回の検査を実
施し、製造が行われている。 【0004】しかし、近年では表示品位の向上のため高
精細化が進んでおり、画素数が増加する傾向である。そ
のため、液晶駆動用LSIの実装電極間隔は狭くなり、
上記で述べた製造過程で複数回の検査をするための検査
用プローブ電極の接触間隔も狭くなり、そのような状態
で映像信号配線や走査信号配線の一本一本にプローブ電
極を接触させるということは、その作製費用が非常に高
価なものとなったり、作製期間も長くなるということに
つながる。その上、プローブ電極の接触の安定性を得る
ことやプローブ電極の保守などが大変困難となる。 【0005】特に液晶駆動用LSIをゲート実装電極4
およびソース実装電極5に直接実装するチップオングラ
ス工法を用いた液晶表示パネルでは、検査用プローブを
ゲート実装電極4およびソース実装電極5のパッドに直
接コンタクトすることは不可能である。 【0006】そのため、プローブなどの開発費の抑制、
開発期間の短縮、簡易な信号かつ簡易なプローブで検査
できることが望まれている。そこで、簡易的な検査方法
として、図3に示したように、ソース実装電極5に接続
された複数の映像信号配線2とゲート実装電極4に接続
された複数の走査信号配線3の少なくとも一方に接続部
12で接続した共通バス配線1に対して、検査用電極端
子9を形成し、この検査用電極端子9に検査用プローブ
を立てて検査用信号13を供給して液晶表示パネルの検
査を行い、その良否の判定を行っている。その後に、液
晶画面8より外側に設けた共通バス配線1に接続する映
像信号配線2と走査信号配線3の少なくともどちらか一
方を、図3に示したように、切断する部分11をレーザ
ー光により切断することによって切り離し、液晶表示パ
ネルの最終形態を得ている。 【0007】このように、液晶表示パネルの共通バス配
線をレーザー光で切断する工程は、一番最後であり、画
像表示検査を行った後に行う特に重要な工程である。こ
の工程で不良パネルを出さないことが、ロスコストの削
減および生産性向上のためには不可欠である。 【0008】 【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記のよ
うな従来の液晶表示パネルでは、前述のように、映像信
号配線2、走査信号配線3、および共通バス配線1の各
配線は、柔らかく且つ低抵抗な金属であるAl、また
は、そのようなAlにTa(タンタル)、Ti(チタ
ン)等の高融点金属を含有させたAl系合金で形成され
ている。 【0009】各配線1,2,3をレーザー光で切断した
とき、切断されたAlが飛び散り、他の配線と隣接ショ
ートしたり、又、Alは非常に腐食しやすいためレーザ
ー光で切断した端面から容易に腐食が進行したりすると
いう問題点を有していた。 【0010】また、画面内部の配線2,3にショートが
あった場合は、抵抗が低いため共通バス配線1が直接リ
ークすることにより画面全体の表示異常となり、ショー
トした配線2,3部分を特定することが不可能であると
いう問題点も有していた。 【0011】さらに、このAlは抵抗が低いため、液晶
画面8より外側で発生したサージ電圧がそのまま直接液
晶画面8内に進入し、その部分で絶縁破壊が起こるとい
う問題点をも有していた。 【0012】本発明は、上記従来の問題点を解決するも
ので、サージ電圧の進入による絶縁破壊を防止してパネ
ルの不良率を低下することができ、また、ショートした
配線の位置を確実に特定し不良配線の救済処置を施すこ
とが可能となり歩留まりを向上することができ、さらに
映像信号配線、走査信号配線および共通バス配線の各配
線に対するレーザー光での切断の際に、その切断に起因
して起こる切断されたAlの飛び散りによる配線ショー
トや切断端面の腐食などによる不良発生を低減すること
ができる液晶表示パネルの製造方法を提供する。 【0013】 【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
本発明の液晶表示パネルは、映像信号配線及び走査信号
配線の少なくともどちらか一方と液晶画面より外側の共
通バス配線とを、直接つなぐのではなく、Al又はAl
系合金より高抵抗で硬度が高く且つ高融点で良好な耐腐
食性を有する導電性材料で形成された接続配線を介して
接続することにより、接続配線の高抵抗という特性を利
用して、液晶画面より外側で発生したサージ電圧をその
液晶画面内への進入を防止して、周りに逃がすととも
に、画像検査工程における線欠陥の検出を容易にするこ
とを特徴とする。 【0014】また、接続配線の高硬度および高融点とい
う特性を利用して、レーザー光切断の際の金属の飛び散
りを抑制するとともに、接続配線の良耐腐食性という特
性を利用して、レーザー光切断による腐食を防止するこ
とを特徴とする。 【0015】以上により、サージ電圧の侵入による絶縁
破壊を防止して部材としての不良率を低下することがで
きるとともに、映像信号配線、走査信号配線および共通
バス配線の各配線に対するレーザー光での切断の際に、
その切断に起因して起こる切断されたAlの飛び散りに
よる配線ショートや切断端面の腐食などによる不良発生
を低減することができる。 【0016】 【発明の実施の形態】本発明の請求項1に記載の液晶表
示パネルの製造方法は、ガラス基板間に挟持された液晶
印加する電圧を、前記ガラス基板上に形成されたAl
またはAl系合金からなる複数の映像信号配線および走
査信号配線を通じて制御し、前記ガラス基板上の液晶画
面に画像を表示する液晶表示パネルの製造方法であっ
て、前記複数の映像信号配線または複数の走査信号配線
の前記液晶画面外における部分と、前記複数の映像信号
配線または複数の走査信号配線を検査用電極端子に共通
接続するため前記液晶画面外に設けられた共通バス配線
との間に、これらを接続する前記AlまたはAl系合金
より高抵抗で硬度が高くかつ高融点で良好な耐食性を有
する導電体からなる接続配線を形成する接続配線形成工
程と、前記検査用電極端子から検査用信号を入れ、画像
検査を行った後、前記接続配線レーザー光により2回
切断する接続配線切断工程とを含む方法とする。 【0017】 【0018】 【0019】これらの構成によると、映像信号配線及び
走査信号配線の少なくともどちらか一方と液晶画面より
外側の共通バス配線とを、直接つなぐのではなく、Al
又はAl系合金より高抵抗で硬度が高く且つ高融点で良
好な耐腐食性を有する導電性材料で形成された接続配線
を介して接続することにより、接続配線の高抵抗という
特性を利用して、液晶画面より外側で発生したサージ電
圧をその液晶画面内への進入を防止して、周りに逃がす
とともに、画像検査工程における線欠陥の検出を容易に
する。 【0020】また、接続配線の高硬度および高融点とい
う特性を利用して、レーザー光切断の際の金属の飛び散
りを抑制するとともに、接続配線の良耐腐食性という特
性を利用して、レーザー光切断による腐食を防止する。 【0021】以下、本発明の実施の形態を示す液晶表示
パネルについて、図面を参照しつつ具体的に説明する。
図1は本実施の形態の液晶表示パネルの概略構成図であ
る。なお、図3に示した従来の液晶表示パネルと同一構
成部分には同一の符号を付して詳細な説明を省略する。 【0022】図1に示した液晶表示パネルは、アクティ
ブ駆動方式の液晶表示パネルであり、一対のガラス基板
間に液晶が封入され、ガラス基板間の一方に備えた対向
電極(図示せず)と、ガラス基板間の他方に備えた複数
の走査信号配線3及び複数の映像信号配線2と、複数の
走査信号配線3と映像信号配線2が交差する部分に設け
た画素電極6と、複数の映像信号配線2または複数の走
査信号配線3に接続する接続配線10と、その接続配線
10に接続する共通バス配線1とを備えたものである。 【0023】ここで、映像信号配線2と走査信号配線3
を備えるガラス基板7を説明すると、複数の映像信号配
線2の駆動用LSIであるソースドライバ5を実装する
ための電極と反対の端にある共通バス配線1とは、それ
ぞれの間に形成された赤(R),緑(G),青(B)の
画素配列をもつ映像信号配線2と接続配線10とによっ
て接続される。すなわち、1本の共通バス配線1に対し
て映像信号配線2が3本毎に対応する接続配線10を介
して接続され、3本の共通バス配線1はそれぞれ対応す
る検査用電極端子9に接続されている。 【0024】このような構成により、各映像信号配線2
の駆動用LSIであるソースドライバ5の実装電極に検
査用のプローブを接続しなくても、共通バス配線1に接
続されている検査用電極端子9にプローブを接続するこ
とによって、画像表示の検査を容易に行うことができ
る。 【0025】又、このままの状態では最終の液晶表示パ
ネルにはならないので、図1に示した液晶画面8の外側
で、映像信号配線2と共通バス配線1をつなぐために設
けた接続配線10をレーザー光で切断する部分11を切
断することにより、共通バス配線1により接続されてい
た各映像信号配線2が一本一本分離した状態の最終の液
晶表示パネルになる。 【0026】ここで、レーザー光により切断する部分1
1を切断する工程及び接続配線10を説明する。図2に
示したように、液晶画面8より液晶画面外15に伸びた
複数の映像信号配線2は、低抵抗金属であるAl、また
は、そのようなAlに3%程度のTa(タンタル)やT
i(チタン)等の高融点金属を含有させたAl系合金で
形成されている。これらの映像信号配線2に接続する接
続配線10は、高抵抗で硬度が高く高融点な導電体材料
で形成されている。これら映像信号配線2および接続配
線10は直接接続することはできないので、液晶画面外
15において、接続部12を設けて接続されている。
又、映像信号配線2と同じ材質で形成された共通バス配
線1も接続部12を通じて接続配線10に接続されてい
る。 【0027】そして各々共通バス配線1の一方には検査
用電極端子9を設けている。レーザー光で切断する工程
は、この検査用電極端子9から検査用信号13を入れて
画像検査を行うことにより検査工程が終了し、このよう
なパネル工程が完了した後に行う。このとき液晶表示パ
ネルに対して表側から切断すると偏光板等で接続配線1
0が見えなくなり切断しにくいので、液晶表示パネルに
対して裏側から切断する。 【0028】液晶表示パネルを裏側が見えるように置
き、真上からレーザー光で接続配線10を一番端から連
続して他方の端まで切断する。通常、一回では切れない
ので2回往復すれば確実に切断できる。レーザー光で切
断する幅は約50〜100μmで、1回目切断した後2
00〜300μmぐらい離れたところを、1回目が終わ
ったところからは始めのほうに向けて2回目のレーザ光
で切断を行う。このように、レーザー光を用いて接続配
線10のみを切断することによって、簡単かつ容易に液
晶表示パネルを形成することができる。 【0029】なお、上述では映像信号配線2についての
み説明したが、走査信号配線3についても基本的には同
様である。すなわち、上記の液晶表示パネルにおいて、
映像信号配線2と同じ材質で形成された複数の走査信号
配線3の駆動用LSIであるゲートドライバ4の実装電
極の反対側に接続配線10と共通バス配線1を形成す
る。このときも画像検査終了しパネル工程完成後その接
続配線10をレーザー光により切断する部分11を切断
することによって最終形態の液晶表示パネルが得られ
る。 【0030】また、上述の液晶表示パネルは、同一ガラ
ス基板上に映像信号配線と走査信号配線を形成する薄膜
トランジスタ等を利用したアクティブ駆動方式を用いて
いるが、これらの配線を別々に形成する単純マトリクス
駆動方式においても同様に適用することもできる。 【0031】又、接続配線10の材料の一つとして、硬
度が高く高抵抗で高融点材料の一つである透明導電膜
(ITO)を用いれば、プロセス上容易に形成でき、コ
スト削減にもつながり生産性の向上になる。もし線幅6
μmで線の長さが600μmならば、膜厚1500Åで
シート抵抗が10Ω/□の透明導電膜(ITO)は1K
Ωの抵抗になるが、一方、共通バス配線1,映像信号配
線2および走査信号配線3の形成材料であり膜厚350
0Åでシート抵抗が0.1Ω/□のAlは、10Ωの抵
抗にしかならない。 【0032】又、共通バス配線1,映像信号配線2およ
び走査信号配線3の形成材料として用いられ、AlにT
a(タンタル)、Ti(チタン)等を含有させたAl系
合金の場合は、シート抵抗がAlの場合の約1.56倍
であるが、抵抗はAlのみの場合の約2倍ぐらいにしか
ならず、従って高抵抗にはならない。画像検査工程で線
欠陥を見つけるためには、数KΩ必要なので、透明導電
膜(ITO)にすれば、線欠陥などを容易にみつけられ
ることが期待できる。 【0033】又、透明導電膜(ITO)を用いれば、隣
接不良率は0%であるけれど、AlやAl系合金を用い
た場合は約90%以上が隣接不良になってしまい、もう
一度レーザーカットを行わなければならない。このこと
から透明導電膜(ITO)を用いれば生産性の向上につ
ながるうえ、画素電極6と同じ材料を用いているのでプ
ロセス上容易に形成できる。 【0034】又、COG工法(チップオングラス工法)
などの、液晶駆動用LSIチップをガラス基板7上へ直
接実装する実装電極は、実装間隔も狭くなりプローブの
形状も複雑になるため、直接検査用プローブを当てるこ
とは困難であり、上記で述べた検査方法を取らなければ
ならない。この時も接続配線をレーザー光で切断しなけ
ればいけないので、高抵抗で硬度が高く高融点な材料で
形成された接続配線10を用いることはとても有効であ
り適している。 【0035】 【発明の効果】以上のように本発明によれば、映像信号
配線及び走査信号配線の少なくともどちらか一方と液晶
画面より外側の共通バス配線とを、直接つなぐのではな
く、Al又はAl系合金より高抵抗で硬度が高く且つ高
融点で良好な耐腐食性を有する導電性材料で形成された
接続配線を介して接続することにより、接続配線の高抵
抗という特性を利用して、液晶画面より外側で発生した
サージ電圧をその液晶画面内への進入を防止して、周り
に逃がすとともに、画像検査工程における線欠陥の検出
を容易にすることができる。 【0036】また、接続配線の高硬度および高融点とい
う特性を利用して、レーザー光切断の際の金属の飛び散
りを抑制するとともに、接続配線の良耐腐食性という特
性を利用して、レーザー光切断による腐食を防止するこ
とができる。 【0037】そのため、サージ電圧の浸入による絶縁破
壊を防止して部材としての不良率を低下させ、また、画
像検査工程における線欠陥の検出を容易にし、さらに、
接続配線の切断の際には、確実に接続配線を切断すると
ともに金属の飛び散りによる配線ショートや切断断面の
腐食による不良発生を防止することができる。
【図面の簡単な説明】 【図1】本発明の実施の形態の液晶表示パネルの構成図 【図2】同実施の形態におけるレーザー光切断部分の拡
大図 【図3】従来の液晶表示パネルの概略構成図 【符号の説明】 1 共通バス配線 2 映像信号配線 3 走査信号配線 10 接続配線
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 大友 哲哉 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電 器産業株式会社内 (72)発明者 井村 秀之 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電 器産業株式会社内 (56)参考文献 特開 平8−101397(JP,A) 特開 平8−136942(JP,A) 特開 平1−237622(JP,A) 特開 平4−324822(JP,A)

Claims (1)

  1. (57)【特許請求の範囲】 【請求項1】 ガラス基板間に挟持された液晶に印加す
    る電圧を、前記ガラス基板上に形成されたAlまたはA
    l系合金からなる複数の映像信号配線および走査信号配
    線を通じて制御し、前記ガラス基板上の液晶画面に画像
    を表示する液晶表示パネルの製造方法であって、 前記複数の映像信号配線または複数の走査信号配線の前
    記液晶画面外における部分と、前記複数の映像信号配線
    または複数の走査信号配線を検査用電極端子に共通接続
    するため前記液晶画面外に設けられた共通バス配線との
    間に、これらを接続する前記AlまたはAl系合金より
    高抵抗で硬度が高くかつ高融点で良好な耐食性を有する
    導電体からなる接続配線を形成する接続配線形成工程
    と、 前記検査用電極端子から検査用信号を入れ、画像検査を
    行った後、 前記接続配線レーザー光により2回切断
    る接続配線切断工程とを含む液晶表示パネルの製造方
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