JP4506682B2 - 電子部品の搬送装置及び電子部品の検査装置 - Google Patents
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Description
図1〜図3を参照して、本実施形態に係る電子部品の検査装置1の構成について説明する。図1は、本実施形態に係る電子部品の検査装置を示す概略上面図である。図2は、本実施形態に係る電子部品の検査装置を示す概略側面図である。図3は、本実施形態に係る電子部品の検査装置の各要素を概略的に示すブロック図である。
図3及び図4〜図12を参照して、上述した電子部品の検査装置1の動作について説明する。図4〜図12は、電子部品の検査の一工程を示す電子部品の検査装置の概略側面図である。
Claims (5)
- 電子部品を把持する複数の把持部を有する把持手段と、
前記電子部品を保持する複数の保持部を有し、該各保持部が前記把持手段の前記各把持部に把持されている電子部品を前記把持手段から受け取ると共に、前記各保持部により保持した前記各電子部品を搬送する搬送手段と、
前記各電子部品が良品であるか否かの良否判定をするための判定情報を、前記各電子部品に対して非接触でそれぞれ取得する判定情報取得手段と、
前記判定情報取得手段によって取得された前記各電子部品の前記判定情報に基づいて、前記各電子部品の良否判定を行う良否判定手段とを備え、
前記判定情報取得手段が、前記搬送手段と同期して移動しながら、前記判定情報を取得し、
前記良否判定手段が、前記電子部品が不良であると判定した回数を、その電子部品を把持していた前記各把持部ごとにカウントして、前記各把持部のうち前記回数が所定の閾値を超えた把持部を異常であると判定することを特徴とする電子部品の検査装置。 - 前記把持手段は、コアにコイルを巻線して前記電子部品を製造するための巻線機であり、
前記巻線機は、前記把持部としてのチャックを複数有していることを特徴とする請求項1に記載された電子部品の検査装置。 - 前記判定情報取得手段は、前記各電子部品を撮像することで前記判定情報としての撮像画像を取得することを特徴とする請求項1又は2に記載された電子部品の検査装置。
- フラッシュ光を前記各電子部品に照射するフラッシュ光光源と、
前記フラッシュ光光源によるフラッシュ光の照射を制御する光源制御手段とを更に備え、
前記光源制御手段は、前記判定情報取得手段が前記各電子部品の前記判定情報を取得可能な位置に到達したときに、前記フラッシュ光光源によりフラッシュ光の照射を行わせることを特徴とする請求項3に記載された電子部品の検査装置。 - 前記良否判定手段により不良品であると判定された電子部品があったときに、前記複数の保持部のうち不良品である該電子部品を保持している保持部に対して該電子部品を解放するように指示する指示手段を更に備えることを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項に記載された電子部品の検査装置。
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