JP4494804B2 - コンピュータ断層撮影装置 - Google Patents
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Description
前記ハーフスキャンで得た前記被検体の多数の透過データが作るサイノグラム上で多数点での透過データと、仮想回転中心を設定することで決る前記多数点とそれぞれ逆向き放射線経路をなす多数点での透過データとの相関を前記仮想回転中心を変えながら求め、当該相関の最良値を与える前記仮想回転中心を前記回転手段における回転の中心として求める回転中心求出手段を具備することを特徴とする。
前記ヘリカルスキャンで得た前記被検体の多数の透過データが作るサイノグラム上で、多数点での透過データと、仮想回転中心を設定することで決るこの多数点とそれぞれ逆向き放射線経路をなす多数点での透過データとの相関を前記仮想回転中心を変えながら求め、当該相関の最良値を与える前記仮想回転中心を前記回転手段における回転の中心として求める回転中心求出手段を具備することを特徴とする。
図1は本発明に係るCTスキャナの第1実施形態の構成図である。
θr=−(θ−θc)+θc=2・θc−θ ……(1)
φr=φ−π−2・(θ−θc) ……(2)
の関係がある。ここでθcは回転中心Cの配置角である。透過データP(θ,φ)とP(θr,φr)が略同一であることを利用して回転中心を求める。
θ00=2・(θc−θ1)と2・(θ2−θc)の小さい方 ……(3)
α=φlast−(π+θ00) ……(4)
でθ00,αを決める。領域Rの点A,B,G,Hと領域Rrの点A’,B’,G’,H’はそれぞれ互いに逆パスである。
S3で、θ,φを領域R内で変え、
S4で、逆パスを計算し、
S5で、順パス、逆パスのデータの差を相関値に積算し、
S6で、θ,φをくりかえし、
S7で、規格化した相関値を求める。
第2実施形態は、図1の第1実施形態と同じハードウェアであり、第1実施形態がハーフスキャン動作における回転中心求出であったのに対し、第2実施形態はヘリカルスキャン動作における回転中心求出であり、データ処理部19における回転中心求出部21の動作が異なる。
θr=−(θ−θc)+θc=2・θc−θ …… (1)
φr=φ−π−2・(θ−θc) ……(2)
の関係がある。ここでθcは回転軸13の配置角である。
zd=−a・(φ−φr)/2=−a・(π/2+θ−θc) ……(5)
zdr=−zd=a・(π/2+θ−θc) …… (6)
となることが求められる。ここで、aは定数で式、
a=ヘリカルピッチ×拡大率/2π ……(7)
で得られる。順パスのθとφを与えると、式(1)(2)(5)(6)でθr,φr,zd,zdrが計算でき、(任意のθ,φについて)順パスと逆パスが求まる。透過データP(θ,φ,zd)とP(θr,φr,zdr)が略同一であることを利用して回転中心を求める。
θ00=2・(θc−θ1)と2・(θ2−θc)の小さい方 ……(8)
α=φ2−φ1−(π+θ00) ……(9)
でθ00,αを決める。領域R,Rrはそれぞれ式(5)、(6)で規定される順パス面、逆パス面上の領域である。領域Rの点A,B,G,Hと領域Rrの点A’,B’,G’,H’はそれぞれ互いに逆パスである。
T3で、θ,φを領域R内で変え、
T4で、順パス、逆パスを計算し、
T5で、順パス、逆パスのデータの差を相関値に積算し、
T6で、θ,φをくりかえし、
T7で、規格化した相関値を求める。
θr=−(θ−θc)+θc=2・θc−θ ……(1’)
φr=φ−3π−2・(θ−θc) ……(2’)
zd=−a・(φ−φr)/2=−a・(3π/2+θ−θc) ……(5’)
zdr=−zd=a・(3π/2+θ−θc) ……(6’)
を用いれば相関取りができる。nπ相関(nは奇数)の場合も容易に類推できる。図10はヘリカルスキャン約1.5回転からの回転中心求出例である。ここでは、π相関と3π相関を組み合わせて回転中心求出を行なっている。
Claims (4)
- 放射線源と、被検体を透過した放射線ビームを検出する放射線検出器と、該被検体を該放射線ビームに対し相対回転させる回転手段とを有し、1回転に満たない前記回転の間の多数の前記回転の位置でそれぞれ前記放射線検出器で検出した前記被検体の多数の透過データを得るハーフスキャンを実施して前記被検体の断面像を得るコンピュータ断層撮影装置において、
前記ハーフスキャンで得た前記被検体の多数の透過データが作るサイノグラム上で多数点での透過データと、仮想回転中心を設定することで決る前記多数点とそれぞれ逆向き放射線経路をなす多数点での透過データとの相関を前記仮想回転中心を変えながら求め、当該相関の最良値を与える前記仮想回転中心を前記回転手段における回転の中心として求める回転中心求出手段を具備することを特徴とするコンピュータ断層撮影装置。 - 放射線源と、被検体を透過した放射線ビームを検出する放射線検出器と、該被検体を該放射線ビームに対し相対回転させる回転手段と、該被検体を該放射線ビームに対し該回転の軸方向に相対移動させる回転軸方向移動手段とを有し、前記回転と前記回転軸方向移動とを並行して行なう間に前記放射線検出器で検出した前記被検体の多数の透過データを得るヘリカルスキャンを実施して前記被検体の断面像を得るコンピュータ断層撮影装置において、
前記ヘリカルスキャンで得た前記被検体の多数の透過データが作るサイノグラム上で、多数点での透過データと、仮想回転中心を設定することで決るこの多数点とそれぞれ逆向き放射線経路をなす多数点での透過データとの相関を前記仮想回転中心を変えながら求め、当該相関の最良値を与える前記仮想回転中心を前記回転手段における回転の中心として求める回転中心求出手段を具備することを特徴とするコンピュータ断層撮影装置。 - 請求項1記載のコンピュータ断層撮影装置において、
前記回転角をφ、前記放射線源からの前記回転の面に沿った放射線経路角をθ、前記仮想回転中心をθcとして、放射線経路(θ,φ)から式、
θr=−(θ−θc)+θc
φr=φ−π−2・(θ−θc)
で逆向き放射線経路(θr,φr)を求める逆向き経路求出手段を具備することを特徴とするコンピュータ断層撮影装置。 - 請求項2記載のコンピュータ断層撮影装置において、
前記回転角をφ、前記放射線源からの回転の面に沿った放射線経路角をθ、前記仮想回転中心をθc、前記回転の面からの前記放射線検出器の検出高さをzd、定数をaとして、θ,φから式、
zd=−a・(π/2+θ−θc)
でzdを求め、放射線経路(θ,φ,zd)から式、
θr=−(θ−θc)+θc
φr=φ−π−2・(θ−θc)
zdr=−zd
で逆向き放射線経路(θr,φr,zdr)を求める逆向き経路求出手段を具備することを特徴とするコンピュータ断層撮影装置。
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JP5205022B2 (ja) * | 2007-09-21 | 2013-06-05 | 東芝Itコントロールシステム株式会社 | コンピュータ断層撮影装置 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000298105A (ja) * | 1999-04-14 | 2000-10-24 | Toshiba Fa Syst Eng Corp | コンピュータ断層撮影装置 |
JP2001299738A (ja) * | 2000-04-14 | 2001-10-30 | Toshiba Corp | X線コンピュータ断層撮影装置 |
JP2002062268A (ja) * | 2000-08-24 | 2002-02-28 | Toshiba Fa Syst Eng Corp | コンピュータ断層撮影装置 |
JP3325301B2 (ja) * | 1991-09-12 | 2002-09-17 | 株式会社東芝 | X線ct装置 |
JP2002303592A (ja) * | 2001-04-05 | 2002-10-18 | Shimadzu Corp | 断層撮影装置 |
JP2002310943A (ja) * | 2001-04-12 | 2002-10-23 | Toshiba It & Control Systems Corp | コンピュータ断層撮影装置 |
JP3616928B2 (ja) * | 2004-07-29 | 2005-02-02 | 東芝Itコントロールシステム株式会社 | コンピュータ断層撮影装置 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60126143A (ja) * | 1983-12-12 | 1985-07-05 | 横河メディカルシステム株式会社 | X線断層撮像装置 |
JPS60256436A (ja) * | 1984-05-31 | 1985-12-18 | 株式会社島津製作所 | Ct装置の位置調整装置 |
JPS61155738A (ja) * | 1984-12-27 | 1986-07-15 | Toshiba Corp | 産業用ctスキヤナ |
JPS61155739A (ja) * | 1984-12-27 | 1986-07-15 | Toshiba Corp | 産業用ctスキャナ |
JPS6397502A (ja) * | 1986-10-14 | 1988-04-28 | 富士車輌株式会社 | 塵芥収集車の制御装置 |
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Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3325301B2 (ja) * | 1991-09-12 | 2002-09-17 | 株式会社東芝 | X線ct装置 |
JP2000298105A (ja) * | 1999-04-14 | 2000-10-24 | Toshiba Fa Syst Eng Corp | コンピュータ断層撮影装置 |
JP2001299738A (ja) * | 2000-04-14 | 2001-10-30 | Toshiba Corp | X線コンピュータ断層撮影装置 |
JP2002062268A (ja) * | 2000-08-24 | 2002-02-28 | Toshiba Fa Syst Eng Corp | コンピュータ断層撮影装置 |
JP2002303592A (ja) * | 2001-04-05 | 2002-10-18 | Shimadzu Corp | 断層撮影装置 |
JP2002310943A (ja) * | 2001-04-12 | 2002-10-23 | Toshiba It & Control Systems Corp | コンピュータ断層撮影装置 |
JP3616928B2 (ja) * | 2004-07-29 | 2005-02-02 | 東芝Itコントロールシステム株式会社 | コンピュータ断層撮影装置 |
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