JPS61155739A - 産業用ｃｔスキャナ - Google Patents
産業用ｃｔスキャナInfo
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- JPS61155739A JPS61155739A JP59278268A JP27826884A JPS61155739A JP S61155739 A JPS61155739 A JP S61155739A JP 59278268 A JP59278268 A JP 59278268A JP 27826884 A JP27826884 A JP 27826884A JP S61155739 A JPS61155739 A JP S61155739A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
- G01N23/046—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using tomography, e.g. computed tomography [CT]
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/40—Imaging
- G01N2223/419—Imaging computed tomograph
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、工業用製品およびその製品材料（以下、被検
体と指体する）を適宜な世代に変更してオンラインで検
査できる産業用ＣＴスキャナに関する。
体と指体する）を適宜な世代に変更してオンラインで検
査できる産業用ＣＴスキャナに関する。
従来、この種のＣＴ Ｘ中ヤナは、人体の断層像を撮影
する医療用診断装置として広く利用されておシ、その走
査方式の種別により種々の世代のものが出回っている。
する医療用診断装置として広く利用されておシ、その走
査方式の種別により種々の世代のものが出回っている。
例えば第２世代および第３世代と称するＣＴスキャナの
うち、第２世代ＯＣＴスキャナは被検体を挾んでＸ線管
とＸ線検出器とが対峙され、これらの機器がトランスレ
ート（直線）動作とローティト（回転）動作を同時に繰
返しながらＸ線管より被検体撮影領域よシも狭いファン
状Ｘ！ｉ！ビームを照射し、被検体の投影データを取得
する方式である。
うち、第２世代ＯＣＴスキャナは被検体を挾んでＸ線管
とＸ線検出器とが対峙され、これらの機器がトランスレ
ート（直線）動作とローティト（回転）動作を同時に繰
返しながらＸ線管より被検体撮影領域よシも狭いファン
状Ｘ！ｉ！ビームを照射し、被検体の投影データを取得
する方式である。
一方、第３世代ＯＣＴスキャナは、被検体を挾んで対峙
されるＸａ管とＸ！ｌ検出器とが一体となって被検体の
周９ｔ−回転しながら、その間、一定角度回転するとと
ＫＸ線管よ）被検体撮影領域を含むファン状Ｘ線を照射
し、被検体の投影データを取得する方式である。
されるＸａ管とＸ！ｌ検出器とが一体となって被検体の
周９ｔ−回転しながら、その間、一定角度回転するとと
ＫＸ線管よ）被検体撮影領域を含むファン状Ｘ線を照射
し、被検体の投影データを取得する方式である。
次に、第４世代と称するＣＴスキャナは、被検体を中心
にして被検体の周囲に多数の検出器素子が配列され、Ｘ
線管が被検体の周りを回転しながらファン状Ｘ線ビーム
を照射し、被検体の投影ｒ−夕を取得する方式である。
にして被検体の周囲に多数の検出器素子が配列され、Ｘ
線管が被検体の周りを回転しながらファン状Ｘ線ビーム
を照射し、被検体の投影ｒ−夕を取得する方式である。
従って、以上述べたような第２ないしｆｓ４世代のＣＴ
スキャナは、何れも被検体を所定位置に静止させて検査
する必要がおるためにオンラインによる検査には不向き
であり、また各世代ごとにＸ線管とＸ＠検出器の配置お
よびスキャン動作等がそれぞれ異なっているので、適宜
に世代を変えて使用することができなかった。
スキャナは、何れも被検体を所定位置に静止させて検査
する必要がおるためにオンラインによる検査には不向き
であり、また各世代ごとにＸ線管とＸ＠検出器の配置お
よびスキャン動作等がそれぞれ異なっているので、適宜
に世代を変えて使用することができなかった。
本発明は以上のような点に着目してなされたもので、被
検体検査のオンライン化に適し、かつ必要に応じて世代
を変更して被検体を検査し得る産業用ＣＴスキャナを提
供することにある。
検体検査のオンライン化に適し、かつ必要に応じて世代
を変更して被検体を検査し得る産業用ＣＴスキャナを提
供することにある。
本発明は、全周照射可能な放射線発生器を中心として、
その同心円上に多数の検出器素子より成る多チャンネル
検出器を設けるとともに。
その同心円上に多数の検出器素子より成る多チャンネル
検出器を設けるとともに。
前記放射線発生器と多チャ／ネル検出器の中間位置に分
軸および自転する様な一個以上の被検体を配置し、前記
被検体と多チャンネル検出器とを相対的に可変して第１
世代ないし第４世代の中から適宜に１つの世代を選択し
て投影データを取得する産業用ＣＴスキャナである。
軸および自転する様な一個以上の被検体を配置し、前記
被検体と多チャンネル検出器とを相対的に可変して第１
世代ないし第４世代の中から適宜に１つの世代を選択し
て投影データを取得する産業用ＣＴスキャナである。
以下、本発明の一実施例九ついて第１図ないし第４図を
参照して説明する。第１図は本発明ＣＴスキャナの全体
構成を示す図であって、スキャナ本体１０のほぼ中心位
置に３６０度にわたって放射線例えばＸ線を全放射する
放射線発生器１１が配置されている。この放射線発生器
１ノは例えば全周照射形ｘｔｔｓｖま九ＦｉＲＩ（放射
性同位元素）による放射線源等が使用され、前者の全周
照射形Ｘ線管の如きは第２図に示すようにフィラメント
１１ａから放射された電子ビーム１１ｂが加速されてフ
ラットターゲット１ｉｅＫ衝突し、このターゲットｊＪ
ｅからＸ＠１ｌｔｉが全周に放射されるようになってい
る。
参照して説明する。第１図は本発明ＣＴスキャナの全体
構成を示す図であって、スキャナ本体１０のほぼ中心位
置に３６０度にわたって放射線例えばＸ線を全放射する
放射線発生器１１が配置されている。この放射線発生器
１ノは例えば全周照射形ｘｔｔｓｖま九ＦｉＲＩ（放射
性同位元素）による放射線源等が使用され、前者の全周
照射形Ｘ線管の如きは第２図に示すようにフィラメント
１１ａから放射された電子ビーム１１ｂが加速されてフ
ラットターゲット１ｉｅＫ衝突し、このターゲットｊＪ
ｅからＸ＠１ｌｔｉが全周に放射されるようになってい
る。
さらに、放射線発生器１１を中心にしてその同心円上に
第３図で詳細に示すように数百〜数十個の検出器素子Ｊ
２１．・・・より成る多チャンネル検出器１２がリング
状に設けられ、各検出器素子１２ａ、・・・は一般的に
指向性を持たせてあり、放射線発生器Ｉノの焦点に対し
指向するようになっている。１３１〜１３０は第４図に
示すように被検体Ｊ４を載置する自転テーブルであって
、これらは放射線発生器１ノと多チャンネル検出器１２
との間に例えば同心円上で、かつ等間隔をもって設定さ
れ、公転テーブル１５上に載置されて分軸しながら自転
する様な構成となっている。１６人〜Ｊ６Ｄは自転テー
ブル駆動部であって、これらの駆動部１６１〜１６ＤＫ
はテーブル制御部１７から公転に対し自転角または角速
度を制御するための自転駆動制御信号が与えられる。１
８は公転と自転の関係を定めて公転テーブル駆動部Ｊ９
およびテーブル制御部１７を制御する機構制御部である
。
第３図で詳細に示すように数百〜数十個の検出器素子Ｊ
２１．・・・より成る多チャンネル検出器１２がリング
状に設けられ、各検出器素子１２ａ、・・・は一般的に
指向性を持たせてあり、放射線発生器Ｉノの焦点に対し
指向するようになっている。１３１〜１３０は第４図に
示すように被検体Ｊ４を載置する自転テーブルであって
、これらは放射線発生器１ノと多チャンネル検出器１２
との間に例えば同心円上で、かつ等間隔をもって設定さ
れ、公転テーブル１５上に載置されて分軸しながら自転
する様な構成となっている。１６人〜Ｊ６Ｄは自転テー
ブル駆動部であって、これらの駆動部１６１〜１６ＤＫ
はテーブル制御部１７から公転に対し自転角または角速
度を制御するための自転駆動制御信号が与えられる。１
８は公転と自転の関係を定めて公転テーブル駆動部Ｊ９
およびテーブル制御部１７を制御する機構制御部である
。
２０は各構成要素を統括制御する制御コンソールであっ
て１人為的な操作およびジ−タンスプログラムに基づい
て必要な信号を機構制御部１Ｂ、ＣＰＵ２１および放射
線制御部２２に供給する。このＣＰＵ Ｊ ｊは、制御
コンノール２σからの指令に基づいて動作するが、制御
コンソール２０とは別Ｋ ＣＰＵ自身がプログラムを持
って主導的に行なう場合があり、この場合にはＣＰＵ自
身のプログラムに従ってデータ収集部２３によりて収集
されたデータを前処理し、かつ画像再構成処理を行なう
ものである。放射線制御部２２は、制御コンソール２０
から指令を受けて高圧発生器２５ｔ−駆動し、高圧発生
器２５から放射線発生器ＪＪＫ高電圧を印加し全周方向
に放射線を照射させるものである。２６はＣＲＴディス
プレイ等の表示部である。
て１人為的な操作およびジ−タンスプログラムに基づい
て必要な信号を機構制御部１Ｂ、ＣＰＵ２１および放射
線制御部２２に供給する。このＣＰＵ Ｊ ｊは、制御
コンノール２σからの指令に基づいて動作するが、制御
コンソール２０とは別Ｋ ＣＰＵ自身がプログラムを持
って主導的に行なう場合があり、この場合にはＣＰＵ自
身のプログラムに従ってデータ収集部２３によりて収集
されたデータを前処理し、かつ画像再構成処理を行なう
ものである。放射線制御部２２は、制御コンソール２０
から指令を受けて高圧発生器２５ｔ−駆動し、高圧発生
器２５から放射線発生器ＪＪＫ高電圧を印加し全周方向
に放射線を照射させるものである。２６はＣＲＴディス
プレイ等の表示部である。
次に、以上のように構成されたＣＴスキャナの作用につ
いて説明する。先ず、各世代を説明するに際し、多チャ
ンネル検出器１２の全検出器素子数２Ｄが第５図に示す
如く配置されているものとする。以上のような検出器素
子の位置関係において第２世代ないし第４世代のデータ
収集について述べる。
いて説明する。先ず、各世代を説明するに際し、多チャ
ンネル検出器１２の全検出器素子数２Ｄが第５図に示す
如く配置されているものとする。以上のような検出器素
子の位置関係において第２世代ないし第４世代のデータ
収集について述べる。
（１）第２世代によるデータ収集。
制御コンソール２０から第６図に示すように動作開始信
号８７が発生されると、この動作開始信号Ｓ１を受けて
機構制御部１８は所定方向に公転させるための公転駆動
制御信号を公転テーブル駆動部１９に供給する。これに
よシ、公転テーブル駆動部１９は公転テーブル１５を反
時計方向に３６０°／２Ｄずつ公転させ、一方、テーブ
ル制御部１８は各自転テーブル駆動部７６Ａ〜１６Ｄｆ
介して自転テーブル１３Ａ〜１３Ｄｔ−３６０°／２Ｄ
ずつ自転させる（ステップ８２゜８３）。以上のように
して自転テーブル７ＪＡ〜１３０を公転させながら自転
させるとともに、制御コンソール２０より放射線制御部
２２およびＣＰＵ ２１に対してそれぞれ放射線発生指
令およびデータ収集指令を与える。ここで、放射線制御
部２２は高圧発生器２５を動作させて高電圧を発生させ
、放射線発生器１ノより放射線を全周照射させる。各自
転テーブル１３１〜１３０上の被検体ノ４により、吸収
されて出力された放射線透過データは各検出器素子Ｊ２
１．・・・によって検出され、さらに後続のデータ収集
部２４でデータ収集されてＣＰＵ ；ｔ Ｊに送られる
。
号８７が発生されると、この動作開始信号Ｓ１を受けて
機構制御部１８は所定方向に公転させるための公転駆動
制御信号を公転テーブル駆動部１９に供給する。これに
よシ、公転テーブル駆動部１９は公転テーブル１５を反
時計方向に３６０°／２Ｄずつ公転させ、一方、テーブ
ル制御部１８は各自転テーブル駆動部７６Ａ〜１６Ｄｆ
介して自転テーブル１３Ａ〜１３Ｄｔ−３６０°／２Ｄ
ずつ自転させる（ステップ８２゜８３）。以上のように
して自転テーブル７ＪＡ〜１３０を公転させながら自転
させるとともに、制御コンソール２０より放射線制御部
２２およびＣＰＵ ２１に対してそれぞれ放射線発生指
令およびデータ収集指令を与える。ここで、放射線制御
部２２は高圧発生器２５を動作させて高電圧を発生させ
、放射線発生器１ノより放射線を全周照射させる。各自
転テーブル１３１〜１３０上の被検体ノ４により、吸収
されて出力された放射線透過データは各検出器素子Ｊ２
１．・・・によって検出され、さらに後続のデータ収集
部２４でデータ収集されてＣＰＵ ；ｔ Ｊに送られる
。
ここで、ＣＰＵ ２ Ｊは各検出器素子１２＆、・・・
ごとく対応する収集データのうち、例えば１個の被検体
２４に着目すると、第６図のステ、プ８４に示すように
（２Ｄ−Ｍ−Ｌ） チャンネルからＬチャンネル間の
データを取得してに７図に示す自身の画像メモリテーブ
ルにアドレスを与えてサイノブラムを作成する。第７図
において縦軸方向はチャンネルＮｏ （回転角度ピッチ
ンで６１）、横軸方向は放射線ビーム本数（データ取得
位置ンを示す。しかして、Ｌ＝Ｏ即ち零チャンネルスタ
ート時には（２Ｄ−Ｍ−Ｌ ）＝２０−Ｍの式から２０
−Ｍ〜０即ち１−Ｍのデータ取得位置のデータを取得し
、縦軸チャンネルＮＯ″Ｏ” に格納される。引き続き
、１チヤンネルずれてチャンネルＮＯ”１−では２〜Ｍ
、Ｍ＋１Ｏｒ−ｐ取得位置のｒ−夕を取得して格納する
。
ごとく対応する収集データのうち、例えば１個の被検体
２４に着目すると、第６図のステ、プ８４に示すように
（２Ｄ−Ｍ−Ｌ） チャンネルからＬチャンネル間の
データを取得してに７図に示す自身の画像メモリテーブ
ルにアドレスを与えてサイノブラムを作成する。第７図
において縦軸方向はチャンネルＮｏ （回転角度ピッチ
ンで６１）、横軸方向は放射線ビーム本数（データ取得
位置ンを示す。しかして、Ｌ＝Ｏ即ち零チャンネルスタ
ート時には（２Ｄ−Ｍ−Ｌ ）＝２０−Ｍの式から２０
−Ｍ〜０即ち１−Ｍのデータ取得位置のデータを取得し
、縦軸チャンネルＮＯ″Ｏ” に格納される。引き続き
、１チヤンネルずれてチャンネルＮＯ”１−では２〜Ｍ
、Ｍ＋１Ｏｒ−ｐ取得位置のｒ−夕を取得して格納する
。
このとき、例えば第５図のＰ点とＱ点位置の取得データ
は被検体１４に対して全く逆方向から放射線を照射した
と同様であるので、第７図のように各チャンネルＮＯの
データを右下側から右上側に補間データとして格納して
サイノブラフを作成する。そして、最終的には自転テー
ブルを１８００＋ファン角度公転させて各被検体１４ご
とにデータを取得し、作成されたサイノブラムのデータ
について前処理および画像再構成処理を行えば、第２世
代の走査方式によって取得された投影データについて４
個の被検体ノ４．・・・の断層像が作成できる。
は被検体１４に対して全く逆方向から放射線を照射した
と同様であるので、第７図のように各チャンネルＮＯの
データを右下側から右上側に補間データとして格納して
サイノブラフを作成する。そして、最終的には自転テー
ブルを１８００＋ファン角度公転させて各被検体１４ご
とにデータを取得し、作成されたサイノブラムのデータ
について前処理および画像再構成処理を行えば、第２世
代の走査方式によって取得された投影データについて４
個の被検体ノ４．・・・の断層像が作成できる。
（２）第３世代によるデータ収集
この第３世代は、制御コンソール２０から第８図に示す
ように動作開始信号Ｅｌｌが発生されると、この信号Ｓ
ｌｌを受けて機構制御部１８は各公転テーブル駆動部１
９およびテーブル制御部１７に駆動制御信号を供給し、
公転テーブル１５および自転テーブルｉｓｈ〜１３０を
ステ、ｆＳ Ｊ Ｚ 、 Ｓ １ｓの如き３６０ ’Ｘ
！７２Ｄの回転角度条件で分軸および自転を行なう。ま
た、制御コンソール２０からの指令によって高圧発生器
２５から放射線発生器１１に高電圧を印加し、これによ
り放射線発生器１１よシ放射線を全周照射されるととも
に、このとき被検体１４から透過して出力される放射線
透過データを多チャンネル検出器１２で検出され、更に
その検出ｒ−夕をデータ収集部２４で収集する。
ように動作開始信号Ｅｌｌが発生されると、この信号Ｓ
ｌｌを受けて機構制御部１８は各公転テーブル駆動部１
９およびテーブル制御部１７に駆動制御信号を供給し、
公転テーブル１５および自転テーブルｉｓｈ〜１３０を
ステ、ｆＳ Ｊ Ｚ 、 Ｓ １ｓの如き３６０ ’Ｘ
！７２Ｄの回転角度条件で分軸および自転を行なう。ま
た、制御コンソール２０からの指令によって高圧発生器
２５から放射線発生器１１に高電圧を印加し、これによ
り放射線発生器１１よシ放射線を全周照射されるととも
に、このとき被検体１４から透過して出力される放射線
透過データを多チャンネル検出器１２で検出され、更に
その検出ｒ−夕をデータ収集部２４で収集する。
ここで、ＣＰＵ ２ Ｊは、１個の被検体Ｊ４に着目す
ると、第５図の検出器素子数の関係図から明らかなよう
に（２Ｄ−Ｍ＋ＫＮ） 〜ＫＮチャンネル間のデータを
収集する（ステップ５１４）。このデータ収集式におい
てＮ−０〜Ｌ％Ｌ≧τｘＭの関係式となる。また、Ｋは
角度ピッチ（整数）であシ、例えばに＝２ならば２チヤ
ンネルごとの回転角度ピッチ（グロゾエンシ、ン方向）
ごとにレイ方向の検出器素子数Ｖについてデータを取り
込んで第９図に示す如く上側から順次にアドレスを指定
してサイノブラムを作成する。そして、このデータ収集
は、ステ、グ８１５のように窟＝ ＫＬ ＝ Ｄ ＋
Ｍとなるまで公転および自転を繰返しながら窟＝肛即ち
Ｎ＝Ｌまでデータを取得してサイノブラムを作成完了す
る。なお、以上のようなデータ収集は各被検体１４ごと
に行なりてサイノブラムを作成する。そして、作成され
たサイノブラムのデータについて前処理および画像再構
成処理を行えば、第３世代の走査方式によって取得され
たデータについて４個の被検体１４．・・・の断層像を
作成することができる。
ると、第５図の検出器素子数の関係図から明らかなよう
に（２Ｄ−Ｍ＋ＫＮ） 〜ＫＮチャンネル間のデータを
収集する（ステップ５１４）。このデータ収集式におい
てＮ−０〜Ｌ％Ｌ≧τｘＭの関係式となる。また、Ｋは
角度ピッチ（整数）であシ、例えばに＝２ならば２チヤ
ンネルごとの回転角度ピッチ（グロゾエンシ、ン方向）
ごとにレイ方向の検出器素子数Ｖについてデータを取り
込んで第９図に示す如く上側から順次にアドレスを指定
してサイノブラムを作成する。そして、このデータ収集
は、ステ、グ８１５のように窟＝ ＫＬ ＝ Ｄ ＋
Ｍとなるまで公転および自転を繰返しながら窟＝肛即ち
Ｎ＝Ｌまでデータを取得してサイノブラムを作成完了す
る。なお、以上のようなデータ収集は各被検体１４ごと
に行なりてサイノブラムを作成する。そして、作成され
たサイノブラムのデータについて前処理および画像再構
成処理を行えば、第３世代の走査方式によって取得され
たデータについて４個の被検体１４．・・・の断層像を
作成することができる。
（３） 第４世代によるデータ収集
この第４世代の走査方式は、第１０図に示すように動作
開始信号８２１を受けて機構制御部１８は公転テーブル
駆動部１９を介して公転テーブル１５ｔ−反時計方向に
５１１１図に示す如＜ｆ＋角度公転させたとき（ステ、
プ８２２）、同じくテーブル制御部１７および各自転テ
ーブル駆動部Ｊ６ｉＡ〜１６Ｄを介して自転テーブルＪ
ＪＡ〜１３０をステ、７’Ｓ ２３に示すようにｆ１＋
α即ち放射線のファン角度だけ余計に時計方向に自転さ
せながら被検体１４からの放射線透過データを収集し、
第１２図のようにアドレスを指定してサイノブラムを作
成する。そして、ステラｆｓｘ４で３６０’公転したか
否か判断し、３６０°公転したときサイノブラムを作成
する。
開始信号８２１を受けて機構制御部１８は公転テーブル
駆動部１９を介して公転テーブル１５ｔ−反時計方向に
５１１１図に示す如＜ｆ＋角度公転させたとき（ステ、
プ８２２）、同じくテーブル制御部１７および各自転テ
ーブル駆動部Ｊ６ｉＡ〜１６Ｄを介して自転テーブルＪ
ＪＡ〜１３０をステ、７’Ｓ ２３に示すようにｆ１＋
α即ち放射線のファン角度だけ余計に時計方向に自転さ
せながら被検体１４からの放射線透過データを収集し、
第１２図のようにアドレスを指定してサイノブラムを作
成する。そして、ステラｆｓｘ４で３６０’公転したか
否か判断し、３６０°公転したときサイノブラムを作成
する。
この３６０°公転する間に第１２図のメモリテーブルが
ｒ−夕によってうまり、サイノブラムが完成される。
ｒ−夕によってうまり、サイノブラムが完成される。
従って、以上のような実施例の構成によれば、複数のテ
ーブルｊｊＡ〜ノ３Ｄｔ−所定の公転および自転を保持
しながら各テーブルＪＪＡ〜ＪＪＤ上の被検体１４．・
・・を同時にスキャンしてｒ−夕を取得し、かつスキャ
ン終了後に順次被検体１４を取り出して次の被検体１４
をセットできるので、被検体Ｊ４１：オンラインによっ
て検査できる。ｔ＆、ス中ヤナ本体ＪＯの中心にＸ線管
またはＲＩを設置して放射線を全周照射する構成とし九
ので、極めて高い放射線利用率で放射線を利用できる。
ーブルｊｊＡ〜ノ３Ｄｔ−所定の公転および自転を保持
しながら各テーブルＪＪＡ〜ＪＪＤ上の被検体１４．・
・・を同時にスキャンしてｒ−夕を取得し、かつスキャ
ン終了後に順次被検体１４を取り出して次の被検体１４
をセットできるので、被検体Ｊ４１：オンラインによっ
て検査できる。ｔ＆、ス中ヤナ本体ＪＯの中心にＸ線管
またはＲＩを設置して放射線を全周照射する構成とし九
ので、極めて高い放射線利用率で放射線を利用できる。
また、全周照射型の放射線発生器１ノを用いれば、放射
線量率分布が３６０°方向にほぼ均一であり、通常の放
射線発生器１ノによる分布よシも大幅に改善できる。
線量率分布が３６０°方向にほぼ均一であり、通常の放
射線発生器１ノによる分布よシも大幅に改善できる。
また、放射線発生器１ノの焦点と各検出器素子ノ２１．
・・・は１：１で対応しており、一般的な１１Ｅ４世代
ＣＴスキャナのように線量、エネルギーとも変化するこ
とがなく安定動作を確保できる。
・・・は１：１で対応しており、一般的な１１Ｅ４世代
ＣＴスキャナのように線量、エネルギーとも変化するこ
とがなく安定動作を確保できる。
さらに、自転テーブルＪＪＡ〜１３０の公転および自転
の角速度を制御することによシ、第２世代ないし第４世
代の何れかの世代を選択でき、よって被検体１４等に応
じて最適な世代で被検体１４を検査でき、ひいてはデー
タ収集速度および精度等を改善できる。また、第４世代
の走査方式にあってはｆチクタフアン角αを自由に選択
してデータを収集することができる。
の角速度を制御することによシ、第２世代ないし第４世
代の何れかの世代を選択でき、よって被検体１４等に応
じて最適な世代で被検体１４を検査でき、ひいてはデー
タ収集速度および精度等を改善できる。また、第４世代
の走査方式にあってはｆチクタフアン角αを自由に選択
してデータを収集することができる。
なお、本発明は上記実施例に限定されるものではない。
上記実施例ではＸ線管として第２図に示す如くフラ、ト
ターグ、トＪＪＣのものを用いたが、例えば円錐状のタ
ーグツトを用いたものでもよく、賛は３６０°方向に均
一な放射線エネルギーと線量分布を持つ特性のものでお
ればよい。また、４個の自転テーブル１３Ａ〜１３０を
用いたが、この数に限定されるものではなく、さらに４
個の自転テーブルｔｓｈ〜ＪＪＤを備えるも被検体１４
は必らず各テーブルＪＪＡ−１３０に載置きれる必要は
なく、任意のテーブル例えばＪＪＡのみに被検体Ｊ４を
載せて検査してもよい。その他、本発明はその要旨を逸
脱しない範囲で種々変形して実施できる。
ターグ、トＪＪＣのものを用いたが、例えば円錐状のタ
ーグツトを用いたものでもよく、賛は３６０°方向に均
一な放射線エネルギーと線量分布を持つ特性のものでお
ればよい。また、４個の自転テーブル１３Ａ〜１３０を
用いたが、この数に限定されるものではなく、さらに４
個の自転テーブルｔｓｈ〜ＪＪＤを備えるも被検体１４
は必らず各テーブルＪＪＡ−１３０に載置きれる必要は
なく、任意のテーブル例えばＪＪＡのみに被検体Ｊ４を
載せて検査してもよい。その他、本発明はその要旨を逸
脱しない範囲で種々変形して実施できる。
以上詳記したように本発明によれば、被検体。
精度、データ収集速度等に応じて任意の世代を選択して
走査することが可能であり、また同時に多数の被検体く
対して所望の走査方式で放射線を曝射してデータを収集
でき、オンライン化による検査に適用して好適な産業用
ＣＴスキャナを提供できる。
走査することが可能であり、また同時に多数の被検体く
対して所望の走査方式で放射線を曝射してデータを収集
でき、オンライン化による検査に適用して好適な産業用
ＣＴスキャナを提供できる。
第１図ないし第４図は本発明に係る産業用ＣＴスキャナ
の一実施例として構成を説明するためのもので、第１図
は本発明産業用ＣＴスキャナの全体構成図、第２図は放
射線発生器の一具体例としての全周照射Ｘ線管の構成図
、第３図はスキャナ本体の上面を示す模式図、第４図は
テーブルを駆動するための機構図、第５図ないし第１２
図は本発明産業用ＣＴスキャナを適宜世代変更して使用
する場合の説明図であって、第５図は検出器素子の配置
関係を示す図、第６図および第７図は第２世代の走査方
式として使用した場合の動作流れ図およびサイノブラム
図、第８図および第９図は第３世代の走査方式として使
用した場合の動作流れ図およびサイノブラム図、第１０
図ないし第１２図は第４世代の走査方式として使用した
場合の動作流れ図、公転と自転の関係を示す図およびサ
イノブ２ム図でおる。 １０・・・スキャナ本体、１１・・・放射線発生器、１
２・・・多チャンネル検出器、１２ｍ、・・・ ・・・
検出器素子、１３１〜１３０・・・自転テーブル、１５
・・・公転テーブル、１８・−ｍ構制御部、２０・・・
制御コンソール、２ノ・・・ＣＰＵ、Ｚ！・・・放射１
［制御１部、２４・・・データ収集部。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第１′Ｂ 第２６０ 第３図 第４図 第 ９Ｗｉ 第１０ＩＩ 第１１図 第１２ ！１！！１
の一実施例として構成を説明するためのもので、第１図
は本発明産業用ＣＴスキャナの全体構成図、第２図は放
射線発生器の一具体例としての全周照射Ｘ線管の構成図
、第３図はスキャナ本体の上面を示す模式図、第４図は
テーブルを駆動するための機構図、第５図ないし第１２
図は本発明産業用ＣＴスキャナを適宜世代変更して使用
する場合の説明図であって、第５図は検出器素子の配置
関係を示す図、第６図および第７図は第２世代の走査方
式として使用した場合の動作流れ図およびサイノブラム
図、第８図および第９図は第３世代の走査方式として使
用した場合の動作流れ図およびサイノブラム図、第１０
図ないし第１２図は第４世代の走査方式として使用した
場合の動作流れ図、公転と自転の関係を示す図およびサ
イノブ２ム図でおる。 １０・・・スキャナ本体、１１・・・放射線発生器、１
２・・・多チャンネル検出器、１２ｍ、・・・ ・・・
検出器素子、１３１〜１３０・・・自転テーブル、１５
・・・公転テーブル、１８・−ｍ構制御部、２０・・・
制御コンソール、２ノ・・・ＣＰＵ、Ｚ！・・・放射１
［制御１部、２４・・・データ収集部。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第１′Ｂ 第２６０ 第３図 第４図 第 ９Ｗｉ 第１０ＩＩ 第１１図 第１２ ！１！！１
Claims (5)
- （１）中心位置に設置された全周方向に放射線を照射す
る放射線発生器と、この放射線発生器を中心としてその
同心円上に複数の検出器素子を配列させた多チャンネル
検出器と、この多チャンネル検出器と放射線発生器の間
に位置し、かつ同心円上に所定の間隔を有してテーブル
が配置され、これらのテーブルに被検体を載置して所定
の公転と自転関係を保持して回転制御する回転制御手段
と、前記多チャンネル検出器と前記被検体とを相対的に
可変して任意の走査方式によりデータを取得するデータ
取得手段とを備えていることを特徴とする産業用ＣＴス
キャナ。 - （２）放射線発生器は、フラットターゲットを用いた全
周照射型Ｘ線管であることを特徴とする特許請求の範囲
第（１）項記載の産業用ＣＴスキャナ。 - （３）放射線発生器は、円錐状ターゲットを用いた全周
照射型Ｘ線管であることを特徴とする特徴とする特許請
求の範囲第（１）項記載の産業用ＣＴスキャナ。 - （４）放射線発生器は、ＲＩ線源を用いたものである特
許請求の範囲第（１）項記載の産業用ＣＴスキャナ。 - （５）テーブルは、公転テーブル上に自転可能に複数の
自転テーブルが配置されたものである特許請求の範囲第
（１）項記載の産業用ＣＴスキャナ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59278268A JPS61155739A (ja) | 1984-12-27 | 1984-12-27 | 産業用ｃｔスキャナ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59278268A JPS61155739A (ja) | 1984-12-27 | 1984-12-27 | 産業用ｃｔスキャナ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61155739A true JPS61155739A (ja) | 1986-07-15 |
| JPH0377926B2 JPH0377926B2 (ja) | 1991-12-12 |
Family
ID=17594972
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59278268A Granted JPS61155739A (ja) | 1984-12-27 | 1984-12-27 | 産業用ｃｔスキャナ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61155739A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04309058A (ja) * | 1991-04-08 | 1992-10-30 | Canon Inc | 密着型センサおよびイメージスキャナならびにファクシミリ |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4494804B2 (ja) * | 2004-01-08 | 2010-06-30 | 東芝Ｉｔコントロールシステム株式会社 | コンピュータ断層撮影装置 |
-
1984
- 1984-12-27 JP JP59278268A patent/JPS61155739A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04309058A (ja) * | 1991-04-08 | 1992-10-30 | Canon Inc | 密着型センサおよびイメージスキャナならびにファクシミリ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0377926B2 (ja) | 1991-12-12 |
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