JPH0377926B2 - - Google Patents
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- JPH0377926B2 JPH0377926B2 JP59278268A JP27826884A JPH0377926B2 JP H0377926 B2 JPH0377926 B2 JP H0377926B2 JP 59278268 A JP59278268 A JP 59278268A JP 27826884 A JP27826884 A JP 27826884A JP H0377926 B2 JPH0377926 B2 JP H0377926B2
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- radiation
- radiation generator
- industrial
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- tables
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
- G01N23/046—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using tomography, e.g. computed tomography [CT]
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/40—Imaging
- G01N2223/419—Imaging computed tomograph
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- Health & Medical Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
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- General Health & Medical Sciences (AREA)
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- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、工業用製品およびその製品材料（以
下、被検体と指称する）をオンラインで検査でき
る産業用CTスキヤナに関する。
下、被検体と指称する）をオンラインで検査でき
る産業用CTスキヤナに関する。
従来、この種のCTスキヤナは、人体の断層像
を撮影する医療用診断装置として広く利用されて
おり、その走査方式の種別により種々の世代のも
のが出回つている。例えば第２世代および第３世
代と称するCTスキヤナのうち、第２世代のCTス
キヤナは被検体を挟んでＸ線管とＸ線検出器とが
対峙され、これらの機器がトランスレート（直
線）動作とローテイト（回転）動作を同時に繰返
しながらＸ線管より被検体撮影領域よりも狭いフ
アン状Ｘ線ビームを照射し、被検体の投影データ
を取得する方式である。
を撮影する医療用診断装置として広く利用されて
おり、その走査方式の種別により種々の世代のも
のが出回つている。例えば第２世代および第３世
代と称するCTスキヤナのうち、第２世代のCTス
キヤナは被検体を挟んでＸ線管とＸ線検出器とが
対峙され、これらの機器がトランスレート（直
線）動作とローテイト（回転）動作を同時に繰返
しながらＸ線管より被検体撮影領域よりも狭いフ
アン状Ｘ線ビームを照射し、被検体の投影データ
を取得する方式である。
一方、第３世代のCTスキヤナは、被検体を挟
んで対峙されるＸ線管とＸ線検出器とが一体とな
つて被検体の周りを回転しながら、その間、一定
角度回転するごとにＸ線管より被検体撮影領域を
含むフアン状Ｘ線を照射し、被検体の撮影データ
を取得する方式である。
んで対峙されるＸ線管とＸ線検出器とが一体とな
つて被検体の周りを回転しながら、その間、一定
角度回転するごとにＸ線管より被検体撮影領域を
含むフアン状Ｘ線を照射し、被検体の撮影データ
を取得する方式である。
次に、第４世代と称するCTスキヤナは、被検
体を中心にして被検体の周囲に多数の検出器素子
が配列され、Ｘ線管が被検体の周りを回転しなが
らフアン状Ｘ線ビームを照射し、被検体の投影デ
ータを取得する方式である。
体を中心にして被検体の周囲に多数の検出器素子
が配列され、Ｘ線管が被検体の周りを回転しなが
らフアン状Ｘ線ビームを照射し、被検体の投影デ
ータを取得する方式である。
従つて、以上述べたような第２ないし第４世代
のCTスキヤナは、何れも被検体を所定位置に静
止させて検査する必要があるためにオンラインに
よる検査には不向きであり、また各世代ごとにそ
の世代固有の走査方式でデータの取得を行うもの
であつた。
のCTスキヤナは、何れも被検体を所定位置に静
止させて検査する必要があるためにオンラインに
よる検査には不向きであり、また各世代ごとにそ
の世代固有の走査方式でデータの取得を行うもの
であつた。
本発明は以上のような点に着目してなされたも
ので、被検体検査のオンライン化に適し、かつ必
要に応じて走査方式を変更して被検体を検査し得
る産業用CTスキヤナを提供することにある。
ので、被検体検査のオンライン化に適し、かつ必
要に応じて走査方式を変更して被検体を検査し得
る産業用CTスキヤナを提供することにある。
本発明は、全周照射可能な放射線発生器を中心
として、その同心円上に多数の検出器素子より成
る多チヤンネル検出器を設けるとともに、前記放
射線発生器と多チヤンネル検出器の中間位置に公
軸および自転する様な一個以上の被検体を配置
し、前記被検体と多チヤンネル検出器とを相対的
に可変して第１世代ないし第４世代に類似した走
査方式の中から適宜に１つの走査方式を選択して
投影データを取得する産業用CTスキヤナである。
として、その同心円上に多数の検出器素子より成
る多チヤンネル検出器を設けるとともに、前記放
射線発生器と多チヤンネル検出器の中間位置に公
軸および自転する様な一個以上の被検体を配置
し、前記被検体と多チヤンネル検出器とを相対的
に可変して第１世代ないし第４世代に類似した走
査方式の中から適宜に１つの走査方式を選択して
投影データを取得する産業用CTスキヤナである。
以下、本発明の一実施例について第１図ないし
第４図を参照して説明する。第１図は本発明CT
スキヤナの全体構成を示す図であつて、スキヤナ
本体１０のほぼ中心位置に360度にわたつて放射
線例えばＸ線を全放射する放射線発生器１１が配
置されている。この放射線発生器１１は例えば全
周照射形Ｘ線管またはRI（放射性同位元素）によ
る放射線源等が使用され、前者の全周照射形Ｘ線
管の如きは第２図に示すようにフイラメント１１
ａから放射された電子ビーム１１ｂが加速されて
フラツトターゲツト１１ｃに衝突し、このターゲ
ツト１１ｃからＸ線１１ｄが全周に放射されるよ
うになつている。
第４図を参照して説明する。第１図は本発明CT
スキヤナの全体構成を示す図であつて、スキヤナ
本体１０のほぼ中心位置に360度にわたつて放射
線例えばＸ線を全放射する放射線発生器１１が配
置されている。この放射線発生器１１は例えば全
周照射形Ｘ線管またはRI（放射性同位元素）によ
る放射線源等が使用され、前者の全周照射形Ｘ線
管の如きは第２図に示すようにフイラメント１１
ａから放射された電子ビーム１１ｂが加速されて
フラツトターゲツト１１ｃに衝突し、このターゲ
ツト１１ｃからＸ線１１ｄが全周に放射されるよ
うになつている。
さらに、放射線発生器１１を中心にしてその同
心円上に第３図で詳細に示すように数百〜数千個
の検出器素子１２ａ，…より成る多チヤンネル検
出器１２がリング状に設けられ、各検出器素子１
２ａ，…は一般的に指向性を持たせてあり、放射
線発生器１１の焦点に対し指向するようになつて
いる。１３Ａ〜１３Ｄは第４図に示すように被検
体１４を載置する自転テーブルであつて、これら
は放射線発生器１１と多チヤンネル検出器１２と
の間に例えば同心円上で、かつ等間隔をもつて設
定され、公転テーブル１５上に載置されて公転し
ながら自転する様な構成となつている。１６Ａ〜
１６Ｄは自転テーブル駆動部であつて、これらの
駆動部１６Ａ〜１６Ｄにはテーブル制御部１７か
ら公転に対し自転角または角速度を制御するため
の自転駆動制御信号が与えられる。１８は公転と
自転の関係を定めて公転テーブルを駆動部１９お
よびテーブル制御部１７を制御する機構制御部で
ある。２０は各構成要素を統括制御する制御コン
ソールであつて、人為的な操作およびシーケンス
プログラムに基づいて必要な信号を機構制御部１
８、CPU２１および放射線制御部２２に供給す
る。このCPU２１は、制御コンソール２０から
の指令に基づいて動作するが、制御コンソール２
０とは別にCPU自身がプログラムを持つて主導
的に行なう場合があり、この場合にはCPU自身
のプログラムに従つてデータ収集部２４によつて
収集されたデータを前処理し、かつ画像再構成処
理を行なうものである。放射線制御部２２は、制
御コンソール２０から指令を受けて高圧発生器２
５を駆動し、高圧発生器２５から放射線発生器１
１に高電圧を印加し全周方向に放射線を照射させ
るものである。２６はCRTデイスプレイ等の表
示部である。
心円上に第３図で詳細に示すように数百〜数千個
の検出器素子１２ａ，…より成る多チヤンネル検
出器１２がリング状に設けられ、各検出器素子１
２ａ，…は一般的に指向性を持たせてあり、放射
線発生器１１の焦点に対し指向するようになつて
いる。１３Ａ〜１３Ｄは第４図に示すように被検
体１４を載置する自転テーブルであつて、これら
は放射線発生器１１と多チヤンネル検出器１２と
の間に例えば同心円上で、かつ等間隔をもつて設
定され、公転テーブル１５上に載置されて公転し
ながら自転する様な構成となつている。１６Ａ〜
１６Ｄは自転テーブル駆動部であつて、これらの
駆動部１６Ａ〜１６Ｄにはテーブル制御部１７か
ら公転に対し自転角または角速度を制御するため
の自転駆動制御信号が与えられる。１８は公転と
自転の関係を定めて公転テーブルを駆動部１９お
よびテーブル制御部１７を制御する機構制御部で
ある。２０は各構成要素を統括制御する制御コン
ソールであつて、人為的な操作およびシーケンス
プログラムに基づいて必要な信号を機構制御部１
８、CPU２１および放射線制御部２２に供給す
る。このCPU２１は、制御コンソール２０から
の指令に基づいて動作するが、制御コンソール２
０とは別にCPU自身がプログラムを持つて主導
的に行なう場合があり、この場合にはCPU自身
のプログラムに従つてデータ収集部２４によつて
収集されたデータを前処理し、かつ画像再構成処
理を行なうものである。放射線制御部２２は、制
御コンソール２０から指令を受けて高圧発生器２
５を駆動し、高圧発生器２５から放射線発生器１
１に高電圧を印加し全周方向に放射線を照射させ
るものである。２６はCRTデイスプレイ等の表
示部である。
次に、以上のように構成されたCTスキヤナの
作用によつて説明する。先ず、各走査方式による
データ収集を説明するに際し、多チヤンネル検出
器１２の全検出器素子数2Dが第５図に示す如く
配置されているものとする。以上のような検出器
素子の位置関係において第２世代ないし第４世代
に類似したデータ収集について述べる。
作用によつて説明する。先ず、各走査方式による
データ収集を説明するに際し、多チヤンネル検出
器１２の全検出器素子数2Dが第５図に示す如く
配置されているものとする。以上のような検出器
素子の位置関係において第２世代ないし第４世代
に類似したデータ収集について述べる。
(1) 第２世代に類似したデータ収集。
制御コンソール２０から第６図に示すように
動作開始信号Ｓ１が発生されると、この動作開
始信号Ｓ１を受けて機構制御部１８は所定方向
に公転させるための公転駆動制御信号を公転テ
ーブル駆動部１９に供給する。これにより、公
転テーブル駆動部１９は公転テーブル１５を反
時計方向に360°／2Dずつ公転させ、一方、テ
ーブル制御部１８は各自転テーブル駆動部１６
Ａ〜１６Ｄを介して自転テーブル１３Ａ〜１３
Ｄを360°／2Dずつ時計方向に自転させる（ス
テツプS2、S3）。以上のようにして自転テーブ
ル１３Ａ〜１３Ｄを公転させながら自転させる
とともに、制御コンソール２０より放射線制御
部２２およびCPU２１に対してそれぞれ放射
線発生指令およびデータ収集指令を与える。こ
こで、放射線制御部２２は高圧発生器２５を動
作させて高電圧を発生させ、放射線発生器１１
より放射線を全周照射させる。各自転テーブル
１３Ａ〜１３Ｄ上の被検体１４により、吸収さ
れて出力された放射線透過データは各検出器素
子１２ａ，…によつて検出され、さらに後続の
データ収集部２４のデータ収集されてCPU２
１に送られる。ここで、CPU２１は各検出器
素子１２ａ，…ごとに対応する収集データのう
ち、例えば１個の被検体１４に着目すると、第
６図のステツプS4に示すように（2D−Ｍ＋Ｌ）
チヤンネルからＬチヤンネル間のデータを取得
して第７図に示す自身の画像メモリテーブルに
アドレスを与えてサイノグラムを作成する。第
７図において縦軸方向はチヤンネルNO（回転
角度ピツチ）であり、横軸方向は放射線ビーム
本数（データ取得位置）を示す。しかして、Ｌ
＝０即ち零チヤンネルスタート時には（2D−
Ｍ＋Ｌ）＝2D−Ｍの式から2D−Ｍ〜０即ち１
〜Ｍのデータ取得位置のデータを取得し、縦軸
チヤンネルNO“０”に格納される。引き続き、
１公転位置分ずれてチヤンネルNO“１“では１
〜Ｍのデータ取得位置のデータを取得して格納
する。ここで、データ取得位置とは、公転テー
ブル１５に対して固定されたＸ線パス位置を言
い、放射線発生器１１の焦点を起点として自転
テーブル１６を覆うように時計方向に１からＭ
まで等角度間隔で扇形にならべたパス位置であ
る。そして、最終的には自転テーブルを180°＋
フアン角度公転させて各被検体１４ごとにデー
タを取得し、作成されたサイノグラムのデータ
について前処理および画像再構成処理を行え
ば、第２世代に類似した走査方式によつて取得
された投影データについて４個の被検体１４，
…の断層像が作成できる。
動作開始信号Ｓ１が発生されると、この動作開
始信号Ｓ１を受けて機構制御部１８は所定方向
に公転させるための公転駆動制御信号を公転テ
ーブル駆動部１９に供給する。これにより、公
転テーブル駆動部１９は公転テーブル１５を反
時計方向に360°／2Dずつ公転させ、一方、テ
ーブル制御部１８は各自転テーブル駆動部１６
Ａ〜１６Ｄを介して自転テーブル１３Ａ〜１３
Ｄを360°／2Dずつ時計方向に自転させる（ス
テツプS2、S3）。以上のようにして自転テーブ
ル１３Ａ〜１３Ｄを公転させながら自転させる
とともに、制御コンソール２０より放射線制御
部２２およびCPU２１に対してそれぞれ放射
線発生指令およびデータ収集指令を与える。こ
こで、放射線制御部２２は高圧発生器２５を動
作させて高電圧を発生させ、放射線発生器１１
より放射線を全周照射させる。各自転テーブル
１３Ａ〜１３Ｄ上の被検体１４により、吸収さ
れて出力された放射線透過データは各検出器素
子１２ａ，…によつて検出され、さらに後続の
データ収集部２４のデータ収集されてCPU２
１に送られる。ここで、CPU２１は各検出器
素子１２ａ，…ごとに対応する収集データのう
ち、例えば１個の被検体１４に着目すると、第
６図のステツプS4に示すように（2D−Ｍ＋Ｌ）
チヤンネルからＬチヤンネル間のデータを取得
して第７図に示す自身の画像メモリテーブルに
アドレスを与えてサイノグラムを作成する。第
７図において縦軸方向はチヤンネルNO（回転
角度ピツチ）であり、横軸方向は放射線ビーム
本数（データ取得位置）を示す。しかして、Ｌ
＝０即ち零チヤンネルスタート時には（2D−
Ｍ＋Ｌ）＝2D−Ｍの式から2D−Ｍ〜０即ち１
〜Ｍのデータ取得位置のデータを取得し、縦軸
チヤンネルNO“０”に格納される。引き続き、
１公転位置分ずれてチヤンネルNO“１“では１
〜Ｍのデータ取得位置のデータを取得して格納
する。ここで、データ取得位置とは、公転テー
ブル１５に対して固定されたＸ線パス位置を言
い、放射線発生器１１の焦点を起点として自転
テーブル１６を覆うように時計方向に１からＭ
まで等角度間隔で扇形にならべたパス位置であ
る。そして、最終的には自転テーブルを180°＋
フアン角度公転させて各被検体１４ごとにデー
タを取得し、作成されたサイノグラムのデータ
について前処理および画像再構成処理を行え
ば、第２世代に類似した走査方式によつて取得
された投影データについて４個の被検体１４，
…の断層像が作成できる。
(2) 第３世代に類似したデータ収集
この第３世代に類似した走査方式は、制御コ
ンソール２０から第８図に示すように動作開始
信号Ｓ１１が発生されると、この信号Ｓ１１を
受けて機構制御部１８とは各公転テーブル駆動
部１９およびテーブル制御部１７に駆動制御信
号を供給し、公転テーブル１５および自転テー
ブル１３Ａ〜１３ＤをステツプS12、S13の如
き360°×Ｋ／2Dの回転角度条件で公転および
自転を行なう。また、制御コンソール２０から
の指令によつて高圧発生器２５から放射線発生
器１１に高電圧を印加し、これにより放射線発
生器１１より放射線を全周照射されるととも
に、このとき被検体１４から透過して出力され
る放射線透過データを多チヤンネル検出器１２
で検出され、更にその検出データをデータ収集
部２４で収集する。ここで、CPU２１は、１
個の被検体１４に着目すると、第５図の検出器
素子数の関係図から明らかなように（2D−Ｍ
＋KN）〜KNチヤンネル間のデータを収集す
る（ステツプS14）。このデータ収集式におい
てＮ＝０〜Ｌ、Ｌ≧（D°＋Ｍ）／Ｋの関係式と
なる。また、Ｋは角度ピツチ（整数）であり、
例えばＫ＝２ならば２チヤンネルごとの回転角
度ピツチ（プロジエンシヨン方向）ごとにレイ
方向の検出器素子数Ｍについてデータを取り込
んで第９図に示す如く上側から順次にアドレス
を指定してサイノグラムを作成する。そして、
このデータ収集は、ステツプS15のようにKN
＝KL＝Ｄ＋Ｍとなるまで公転および自転を繰
返しながらKN＝KL即ちＮ＝Ｌまでデータを
取得してサイノグラムを作成完了する。なお、
以上のようなデータ収集は各被検体１４ごとに
行なつてサイノグラムを作成する。そして、作
成されたサイノグラムのデータについて前処理
および画像再構成処理を行えば、第３世代に類
似した走査方式によつて取得されたデータにつ
いて４個の被検体１４，…の断層像を作成する
ことができる。
ンソール２０から第８図に示すように動作開始
信号Ｓ１１が発生されると、この信号Ｓ１１を
受けて機構制御部１８とは各公転テーブル駆動
部１９およびテーブル制御部１７に駆動制御信
号を供給し、公転テーブル１５および自転テー
ブル１３Ａ〜１３ＤをステツプS12、S13の如
き360°×Ｋ／2Dの回転角度条件で公転および
自転を行なう。また、制御コンソール２０から
の指令によつて高圧発生器２５から放射線発生
器１１に高電圧を印加し、これにより放射線発
生器１１より放射線を全周照射されるととも
に、このとき被検体１４から透過して出力され
る放射線透過データを多チヤンネル検出器１２
で検出され、更にその検出データをデータ収集
部２４で収集する。ここで、CPU２１は、１
個の被検体１４に着目すると、第５図の検出器
素子数の関係図から明らかなように（2D−Ｍ
＋KN）〜KNチヤンネル間のデータを収集す
る（ステツプS14）。このデータ収集式におい
てＮ＝０〜Ｌ、Ｌ≧（D°＋Ｍ）／Ｋの関係式と
なる。また、Ｋは角度ピツチ（整数）であり、
例えばＫ＝２ならば２チヤンネルごとの回転角
度ピツチ（プロジエンシヨン方向）ごとにレイ
方向の検出器素子数Ｍについてデータを取り込
んで第９図に示す如く上側から順次にアドレス
を指定してサイノグラムを作成する。そして、
このデータ収集は、ステツプS15のようにKN
＝KL＝Ｄ＋Ｍとなるまで公転および自転を繰
返しながらKN＝KL即ちＮ＝Ｌまでデータを
取得してサイノグラムを作成完了する。なお、
以上のようなデータ収集は各被検体１４ごとに
行なつてサイノグラムを作成する。そして、作
成されたサイノグラムのデータについて前処理
および画像再構成処理を行えば、第３世代に類
似した走査方式によつて取得されたデータにつ
いて４個の被検体１４，…の断層像を作成する
ことができる。
(3) 第４世代に類似したデータ収集
この第４世代に類似した走査方式は、第１０
図に示すように動作開始信号Ｓ２１を受けて機
構制御部１８は公転テーブル駆動部１９を介し
て公転テーブル１５を反時計方向に第１１図に
示す如くφ1角度公転させたとき（ステツプ
S22）、同じくテーブル制御部１７および各自
転テーブル駆動部１６Ａ〜１６Ｄを介して自転
テーブル１３Ａ〜１３ＤをステツプS23に示す
ようにφ1＋α即ちデイテクタフアン角度αだ
け余計に時計方向に自転させながら被検体１４
からの放射線透過データを収集し、第１２図の
ようにアドレスを指定してサイノグラムを作成
する。そして、ステツプＳ２４で360°公転した
か否か判断し、360°公転したときサイノグラム
を作成する。この360°公転する間に第１２図の
メモリテーブルがデータによつてうまり、サイ
ノグラムが完成される。
図に示すように動作開始信号Ｓ２１を受けて機
構制御部１８は公転テーブル駆動部１９を介し
て公転テーブル１５を反時計方向に第１１図に
示す如くφ1角度公転させたとき（ステツプ
S22）、同じくテーブル制御部１７および各自
転テーブル駆動部１６Ａ〜１６Ｄを介して自転
テーブル１３Ａ〜１３ＤをステツプS23に示す
ようにφ1＋α即ちデイテクタフアン角度αだ
け余計に時計方向に自転させながら被検体１４
からの放射線透過データを収集し、第１２図の
ようにアドレスを指定してサイノグラムを作成
する。そして、ステツプＳ２４で360°公転した
か否か判断し、360°公転したときサイノグラム
を作成する。この360°公転する間に第１２図の
メモリテーブルがデータによつてうまり、サイ
ノグラムが完成される。
従つて、以上のような実施例は構成によれ
ば、複数のテーブル１３Ａ〜１３Ｄを所定の公
転および自転を保持しながら各テーブル１３Ａ
〜１３Ｄ上の被検体１４，…を同時にスキヤン
してデータを取得し、かつスキヤン終了後に順
次被検体１４を取り出して次の被検体１４をセ
ツトできるので、被検体１４をオンラインによ
つて検査できる。また、スキヤナ本体１０を中
心にＸ線管またはRIを設置して放射線を全周
照射する構成としたので、極めて高い放射線利
用率で放射線を利用できる。また、全周照射型
の放射線発生器１１を用いれば、放射線量率分
布が360°方向にほぼ均一であり、通常の放射線
発生器１１による分布よりも大幅に改善でき
る。また、放射線発生器１１の焦点と各検出器
素子１２ａ，…は１：１で対応しており、一般
的な第４世代CTスキヤナのように線量、エネ
ルギーとも変化することがなく安定動作を確保
できる。
ば、複数のテーブル１３Ａ〜１３Ｄを所定の公
転および自転を保持しながら各テーブル１３Ａ
〜１３Ｄ上の被検体１４，…を同時にスキヤン
してデータを取得し、かつスキヤン終了後に順
次被検体１４を取り出して次の被検体１４をセ
ツトできるので、被検体１４をオンラインによ
つて検査できる。また、スキヤナ本体１０を中
心にＸ線管またはRIを設置して放射線を全周
照射する構成としたので、極めて高い放射線利
用率で放射線を利用できる。また、全周照射型
の放射線発生器１１を用いれば、放射線量率分
布が360°方向にほぼ均一であり、通常の放射線
発生器１１による分布よりも大幅に改善でき
る。また、放射線発生器１１の焦点と各検出器
素子１２ａ，…は１：１で対応しており、一般
的な第４世代CTスキヤナのように線量、エネ
ルギーとも変化することがなく安定動作を確保
できる。
さらに、自転テーブル１３Ａ〜１３Ｄの公転
および自転の角速度を制御することにより、第
２世代ないし第４世代の何れかの世代に類似し
た走査方式の１つの選択でき、よつて被検体１
４等に応じて最適な走査方式で被検体１４を検
査でき、ひいてはデータ収集速度および精度等
を改善できる。また、第４世代に類似した方式
にあつてはデテクタフアン角αを自由に選択し
てデータを収集することができる。
および自転の角速度を制御することにより、第
２世代ないし第４世代の何れかの世代に類似し
た走査方式の１つの選択でき、よつて被検体１
４等に応じて最適な走査方式で被検体１４を検
査でき、ひいてはデータ収集速度および精度等
を改善できる。また、第４世代に類似した方式
にあつてはデテクタフアン角αを自由に選択し
てデータを収集することができる。
なお、本発明は上記実施例に限定されるもの
ではない。上記実施例ではＸ線管として第２図
に示す如くフラツトターゲツト１１ｃのものを
用いたが、例えば円錐状のターゲツトを用いた
ものでもよく、要は360°方向に均一な放射線エ
ネルギーと線量分布を持つ特性のものであれば
よい。また、４個の自転テーブル１３Ａ〜１３
Ｄを用いたが、この数に限定されるものではな
く、さらに４個の自転テーブル１３Ａ〜１３Ｄ
を備えるも被検体１４は必らず各テーブル１３
Ａ〜１３Ｄに載置される必要はなく、任意のテ
ーブル例えば１３Ａのみに被検体１４を載せて
検査してもよい。その他、本発明はその要旨を
逸脱しない範囲で種々変形して実施できる。
ではない。上記実施例ではＸ線管として第２図
に示す如くフラツトターゲツト１１ｃのものを
用いたが、例えば円錐状のターゲツトを用いた
ものでもよく、要は360°方向に均一な放射線エ
ネルギーと線量分布を持つ特性のものであれば
よい。また、４個の自転テーブル１３Ａ〜１３
Ｄを用いたが、この数に限定されるものではな
く、さらに４個の自転テーブル１３Ａ〜１３Ｄ
を備えるも被検体１４は必らず各テーブル１３
Ａ〜１３Ｄに載置される必要はなく、任意のテ
ーブル例えば１３Ａのみに被検体１４を載せて
検査してもよい。その他、本発明はその要旨を
逸脱しない範囲で種々変形して実施できる。
以上詳記したように本発明によれば、被検体、
精度、データ収集速度等に応じて任意の世代に類
似した走査方式を選択して走査することが可能で
あり、また同時に多数の被検体に対して所望の走
査方式で放射線を曝射してデータを収集でき、オ
ンライン化による検査に適用して好適な産業用
CTスキヤナを提供できる。
精度、データ収集速度等に応じて任意の世代に類
似した走査方式を選択して走査することが可能で
あり、また同時に多数の被検体に対して所望の走
査方式で放射線を曝射してデータを収集でき、オ
ンライン化による検査に適用して好適な産業用
CTスキヤナを提供できる。
第１図ないし第４図は本発明に係る産業用CT
スキヤナの一実施例として構成を説明するための
もので、第１図は本発明産業用CTスキヤナの全
体構成図、第２図は放射線発生器の一具体例とし
ての全周照射Ｘ線管の構成図、第３図はスキヤナ
本体の上面を示す模式図、第４図はテーブルを駆
動するための機構図、第５図ないし第１２図は本
発明産業用CTスキヤナを適宜世代変更して使用
する場合の説明図であつて、第５図は検出器素子
の配置関係を示す図、第６図および第７図は第２
世代の走査方式として使用した場合の動作流れ図
およびサイノグラム図、第８図および第９図は第
３世代の走査方式として使用した場合の動作流れ
図およびサイノグラム図、第１０図ないし第１２
図は第４世代の走査方式として使用した場合の動
作流れ図、公転と自転の関係を示す図およびサイ
ノグラム図である。 １０……スキヤナ本体、１１……放射線発生
器、１２……多チヤンネル検出器、１２ａ……検
出器素子、１３Ａ〜１３Ｄ……自転テーブル、１
５……公転テーブル、１８……機構制御部、２０
……制御コンソール、２１……CPU、２２……
放射線制御部、２４……データ収集部。
スキヤナの一実施例として構成を説明するための
もので、第１図は本発明産業用CTスキヤナの全
体構成図、第２図は放射線発生器の一具体例とし
ての全周照射Ｘ線管の構成図、第３図はスキヤナ
本体の上面を示す模式図、第４図はテーブルを駆
動するための機構図、第５図ないし第１２図は本
発明産業用CTスキヤナを適宜世代変更して使用
する場合の説明図であつて、第５図は検出器素子
の配置関係を示す図、第６図および第７図は第２
世代の走査方式として使用した場合の動作流れ図
およびサイノグラム図、第８図および第９図は第
３世代の走査方式として使用した場合の動作流れ
図およびサイノグラム図、第１０図ないし第１２
図は第４世代の走査方式として使用した場合の動
作流れ図、公転と自転の関係を示す図およびサイ
ノグラム図である。 １０……スキヤナ本体、１１……放射線発生
器、１２……多チヤンネル検出器、１２ａ……検
出器素子、１３Ａ〜１３Ｄ……自転テーブル、１
５……公転テーブル、１８……機構制御部、２０
……制御コンソール、２１……CPU、２２……
放射線制御部、２４……データ収集部。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 中心位置に設置された全周方向に放射線を照
射する放射線発生器と、この放射線発生器を中心
としてその第１の同心円上に複数の検出器素子を
配列させた多チヤンネル検出器と、この多チヤン
ネル検出器と放射線発生器との間に位置し、か
つ、前記放射線発生器を中心として第２の同心円
上に所定の間隔を有して複数のテーブルが配置さ
れ、これらテーブルに被検体を載置して前記第２
の同心円の中心に対する公転と前記各テーブルの
自転軸に対する自転とを行うように回転制御する
回転制御手段と、前記多チヤンネル検出器と前記
被検体とを相対的に可変して任意の走査方式によ
りデータを取得するデータ取得手段とを備えてい
ることを特徴とする産業用CTスキヤナ。 ２ 放射線発生器は、フラツトターゲツトを用い
た全周照射型Ｘ線管であることを特徴とする特許
請求の範囲第１項記載の産業用CTスキヤナ。 ３ 放射線発生器は、円錐状ターゲツトを用いた
全周照射型Ｘ線管であることを特徴とする特許請
求の範囲第１項記載の産業用CTスキヤナ。 ４ 放射線発生器は、RI線源を用いたものであ
る特許請求の範囲第１項記載の産業用CTスキヤ
ナ。 ５ テーブルは、公転テーブル上に自転可能に複
数の自転テーブルを配置したものである特許請求
の範囲第１項記載の産業用CTスキヤナ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59278268A JPS61155739A (ja) | 1984-12-27 | 1984-12-27 | 産業用ｃｔスキャナ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59278268A JPS61155739A (ja) | 1984-12-27 | 1984-12-27 | 産業用ｃｔスキャナ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61155739A JPS61155739A (ja) | 1986-07-15 |
| JPH0377926B2 true JPH0377926B2 (ja) | 1991-12-12 |
Family
ID=17594972
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59278268A Granted JPS61155739A (ja) | 1984-12-27 | 1984-12-27 | 産業用ｃｔスキャナ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61155739A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005195494A (ja) * | 2004-01-08 | 2005-07-21 | Toshiba It & Control Systems Corp | コンピュータ断層撮影装置 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2662105B2 (ja) * | 1991-04-08 | 1997-10-08 | キヤノン株式会社 | 密着型センサおよびイメージスキャナならびにファクシミリ |
-
1984
- 1984-12-27 JP JP59278268A patent/JPS61155739A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005195494A (ja) * | 2004-01-08 | 2005-07-21 | Toshiba It & Control Systems Corp | コンピュータ断層撮影装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61155739A (ja) | 1986-07-15 |
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