JPS59181134A - X線ct装置 - Google Patents
X線ct装置Info
- Publication number
- JPS59181134A JPS59181134A JP58053933A JP5393383A JPS59181134A JP S59181134 A JPS59181134 A JP S59181134A JP 58053933 A JP58053933 A JP 58053933A JP 5393383 A JP5393383 A JP 5393383A JP S59181134 A JPS59181134 A JP S59181134A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ray
- detector
- ray tube
- subject
- sampling
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 22
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 2
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N novaluron Chemical compound C1=C(Cl)C(OC(F)(F)C(OC(F)(F)F)F)=CC=C1NC(=O)NC(=O)C1=C(F)C=CC=C1F NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 102000005840 alpha-Galactosidase Human genes 0.000 description 1
- 108010030291 alpha-Galactosidase Proteins 0.000 description 1
- 229940033685 beano Drugs 0.000 description 1
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 1
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 239000003550 marker Substances 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、診断のだめの医療機器の分野に属し、X線C
T装置に19.Iする。
T装置に19.Iする。
周知のように、第3世代のX線CT装置(R=R方式)
においては、被検体を挾んでX線管に対向して円弧状の
検出器を配置し、撮影にあたっては、通常、X線管と検
出器が一体となって被検体の周シを回転し、一定角度毎
にX線を被検体に曝射し、360°回転してその間に被
検体に関し多方向からの投影データ゛を得ることにより
撮影は終了する。
においては、被検体を挾んでX線管に対向して円弧状の
検出器を配置し、撮影にあたっては、通常、X線管と検
出器が一体となって被検体の周シを回転し、一定角度毎
にX線を被検体に曝射し、360°回転してその間に被
検体に関し多方向からの投影データ゛を得ることにより
撮影は終了する。
、ところで空間分解能の優れたCT像を得るためには回
転時の投影データのサンプリング間隔をより狭くするこ
とが要求される。しかし、第3世代のXIwCT装置に
あっては、X線管と検出器が一体となって被検体の周り
を回転する機構であるため、回転時におけるサンプリン
グ点が機械的に定まシ、サンプリング点数を増加させる
ことが困r(でちった。との点では被検体を囲むように
多数の検出器が円周上に配列されX線管のみが回転する
第4世代OCT装置では、回転時の投影データのサンプ
リング点数の増減が比較的に容易にコントロールできる
。
転時の投影データのサンプリング間隔をより狭くするこ
とが要求される。しかし、第3世代のXIwCT装置に
あっては、X線管と検出器が一体となって被検体の周り
を回転する機構であるため、回転時におけるサンプリン
グ点が機械的に定まシ、サンプリング点数を増加させる
ことが困r(でちった。との点では被検体を囲むように
多数の検出器が円周上に配列されX線管のみが回転する
第4世代OCT装置では、回転時の投影データのサンプ
リング点数の増減が比較的に容易にコントロールできる
。
そこで上記第3世代OCT装置においてサンゾリング点
数を」1;q加さぜるために案出されたのが多熱点X線
質である。これによると確かに焦点数だけのサンプリン
グ点数が倍増し、その限シでは空間分’j’i’l’能
の向」二に’c″N−りできる。
数を」1;q加さぜるために案出されたのが多熱点X線
質である。これによると確かに焦点数だけのサンプリン
グ点数が倍増し、その限シでは空間分’j’i’l’能
の向」二に’c″N−りできる。
しかし、例えは焦点数2のX線管については、検出器の
X線1;:’i r1幅の中点と検出器及びX線量・の
回転中心とを1ぶ侃想線上から互いに等距離に2個の焦
点を有していたため、360°回転中におけるX線管の
刻向位11qに発するX線ビームが被検体に関してもと
のビームと重複したサンプリングを行っており、実質的
に180°回転して得た投影データしか収集していない
ことになる。この限りでrat x 紗のオリ用効率が
悪く、むだな被曝線量が多いという問題点があった。
X線1;:’i r1幅の中点と検出器及びX線量・の
回転中心とを1ぶ侃想線上から互いに等距離に2個の焦
点を有していたため、360°回転中におけるX線管の
刻向位11qに発するX線ビームが被検体に関してもと
のビームと重複したサンプリングを行っており、実質的
に180°回転して得た投影データしか収集していない
ことになる。この限りでrat x 紗のオリ用効率が
悪く、むだな被曝線量が多いという問題点があった。
本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、検出器の物
理的チャンネル数によシ限定される第3111代のCT
装置におけるサンプリング間隔を心密庶化できると共に
、そのサンプリング間隔を均キfにし、空間分解能の優
iたCT像を得ることができるX線CT装置の提供を目
的とする。
理的チャンネル数によシ限定される第3111代のCT
装置におけるサンプリング間隔を心密庶化できると共に
、そのサンプリング間隔を均キfにし、空間分解能の優
iたCT像を得ることができるX線CT装置の提供を目
的とする。
上記目的を達成するための本発明の概要け、被検体の周
囲にX線管と多チャンネル検出器を対向させた状態で回
転させて所定周期毎にファンビーム状X線を被検体に曝
射し、検出器から投影プ゛−タを収集するX線CT装置
において、前記X線管を、多チャンネル検出器のファン
ビー・ム状X線開ロ幅の中点と多チャンネル検出器及び
X線管の回転中心とを通る仮想線よシ互いに異なる所定
距離に位置する複数の焦点を有する多焦点X線管によっ
て構成し、X線透過データのサンプリング密度を増加し
たことを特徴とするものである。
囲にX線管と多チャンネル検出器を対向させた状態で回
転させて所定周期毎にファンビーム状X線を被検体に曝
射し、検出器から投影プ゛−タを収集するX線CT装置
において、前記X線管を、多チャンネル検出器のファン
ビー・ム状X線開ロ幅の中点と多チャンネル検出器及び
X線管の回転中心とを通る仮想線よシ互いに異なる所定
距離に位置する複数の焦点を有する多焦点X線管によっ
て構成し、X線透過データのサンプリング密度を増加し
たことを特徴とするものである。
本発明の一実施例につき図面f:参照しながら説明する
。
。
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図である。
同図において、1で示すのは多焦点のX線管であり、2
で示すのは被検体3を挾んでX線管に対向して円弧状に
配置された多チャンネルの検出器で、この検出器は?l
υ検休3体透過X線を検出するものである。X線管、1
と検出器2とは一体となって被検体3の体軸を中心とし
て回転可能に構成されている。4で示すのはデータ収集
部であり、X線の+1射にまり被検体3を透過した透過
X線量を検出した検出器2によるデータ(投影データ)
を収集し、プ”イジタル値に変換した投影データを出゛
力するものである。5で示すのはX線管制御部であり、
X IPii ’t’f 1に高圧発生部6よp高電圧
を供給すると共に、後述するシステム制御部で制御され
るタイミング(CてX線管1を動作させるように構成さ
れている。7で示すのはシステム制御部であり、XIf
9CT装餡各部の装作各部イミングを制御するように構
成たれている。8で示すのはデータ処理装置でちゃ、こ
のデータ処理装置8には前記デ−タ収集部4から出力さ
れる投影データが入力され、このデータを基に例えばコ
ンボリューション法七により断層像を再構成処理し、デ
ィスプレ・rコンソール9に断層像を表示するようにな
っている。尚、図中において20は架台であり、10は
コントロールコンソールであり、11は架台機構制御部
である。
で示すのは被検体3を挾んでX線管に対向して円弧状に
配置された多チャンネルの検出器で、この検出器は?l
υ検休3体透過X線を検出するものである。X線管、1
と検出器2とは一体となって被検体3の体軸を中心とし
て回転可能に構成されている。4で示すのはデータ収集
部であり、X線の+1射にまり被検体3を透過した透過
X線量を検出した検出器2によるデータ(投影データ)
を収集し、プ”イジタル値に変換した投影データを出゛
力するものである。5で示すのはX線管制御部であり、
X IPii ’t’f 1に高圧発生部6よp高電圧
を供給すると共に、後述するシステム制御部で制御され
るタイミング(CてX線管1を動作させるように構成さ
れている。7で示すのはシステム制御部であり、XIf
9CT装餡各部の装作各部イミングを制御するように構
成たれている。8で示すのはデータ処理装置でちゃ、こ
のデータ処理装置8には前記デ−タ収集部4から出力さ
れる投影データが入力され、このデータを基に例えばコ
ンボリューション法七により断層像を再構成処理し、デ
ィスプレ・rコンソール9に断層像を表示するようにな
っている。尚、図中において20は架台であり、10は
コントロールコンソールであり、11は架台機構制御部
である。
第2図は本発明のX綜CT装置に使用される多焦点X線
管の一例を示す概略説明図である。
管の一例を示す概略説明図である。
同図において、1は複数の焦点(実施例では焦点数は2
個)を有するX線管であり、このX線管1は・熱電子を
放出するフイラメン)12A及び12Bを設けた陰極と
、加速された電子が衝突するクーケ゛ット13を備えた
陽極とよシな一二−陰極と陽極との間に高圧ケーブル1
4A及び14Bから供給される高電圧を印加するように
構成されている。ターグツト13面のA及びBIiフィ
ラメント12A及び12Bから放出された電子が衝突す
る部分(焦点)であシ、この部分からX線が発生する。
個)を有するX線管であり、このX線管1は・熱電子を
放出するフイラメン)12A及び12Bを設けた陰極と
、加速された電子が衝突するクーケ゛ット13を備えた
陽極とよシな一二−陰極と陽極との間に高圧ケーブル1
4A及び14Bから供給される高電圧を印加するように
構成されている。ターグツト13面のA及びBIiフィ
ラメント12A及び12Bから放出された電子が衝突す
る部分(焦点)であシ、この部分からX線が発生する。
尚、(2)中において、15は陰極スリーブであシ、1
6は陽極軸である。第2図に示す実施例では多重フィラ
メント方式であるが、電子偏向による単一フィラメント
方式にしてもよい。重要なことは、同一の焦点の大きさ
を有し、且つ最適な位置に焦点を作り出すX線管を利用
することにある。又、実施例ではフィラメント12Aと
12Bの切接1は外部によシ行なう例であシ、2系統の
高H−ケーブル14A及び14Bが具備している。ここ
で焦fF、A及び焦点Bの位置については、第3図に示
すように、多チャンネルの検出器2及びX線管1の回転
中心Cと、多チャンネルの検出器2のX線開口幅の中点
から+1チャンネルずれた位置Hと結ぶ直線上に焦点A
があり、前記回転中心Cと藺ハ1゛4今出器2のX線開
口幅の中点から一上チヤンネルずれた位置Gと結ぶ直線
」二に焦点Bがある。
6は陽極軸である。第2図に示す実施例では多重フィラ
メント方式であるが、電子偏向による単一フィラメント
方式にしてもよい。重要なことは、同一の焦点の大きさ
を有し、且つ最適な位置に焦点を作り出すX線管を利用
することにある。又、実施例ではフィラメント12Aと
12Bの切接1は外部によシ行なう例であシ、2系統の
高H−ケーブル14A及び14Bが具備している。ここ
で焦fF、A及び焦点Bの位置については、第3図に示
すように、多チャンネルの検出器2及びX線管1の回転
中心Cと、多チャンネルの検出器2のX線開口幅の中点
から+1チャンネルずれた位置Hと結ぶ直線上に焦点A
があり、前記回転中心Cと藺ハ1゛4今出器2のX線開
口幅の中点から一上チヤンネルずれた位置Gと結ぶ直線
」二に焦点Bがある。
このようにXI%l管1の熱点A及び焦点Bを検出器2
に対して配置し、被検体の周シを回転しながら、X線を
周期的に曝射し、被検体の投影データを検出器2にて収
集する。焦点A及びBFiX線ノ(ルス4FTに切シ換
える。このようにして収集したデータを検出器の各チャ
ンネル2A、2B、2C。
に対して配置し、被検体の周シを回転しながら、X線を
周期的に曝射し、被検体の投影データを検出器2にて収
集する。焦点A及びBFiX線ノ(ルス4FTに切シ換
える。このようにして収集したデータを検出器の各チャ
ンネル2A、2B、2C。
2Dの各中点を通過する線として表わし、被4・・7惇
上にその線と回転中心Cを通る線とが直交する点として
表現したものが第4図である。同図において回転中心C
4中心とした被検体上の同心円は、X線管と検出器が被
検体に対して360°[「!1転したときの前記直交す
る点の軌跡を描いたものである。
上にその線と回転中心Cを通る線とが直交する点として
表現したものが第4図である。同図において回転中心C
4中心とした被検体上の同心円は、X線管と検出器が被
検体に対して360°[「!1転したときの前記直交す
る点の軌跡を描いたものである。
例えば、焦点Aから曝射されたX線の投影ブータラ検出
器のチャンネル2人の中点を通過する線Rとして表わし
λそのRと回転中心Ci通る線とが直交する点をPとす
れは、X線管lと検出器2とが360゜回転したときK
このPの描く軌跡が最も外側の円であるQとなる。この
ようにして焦点A及び焦点Bから曝射されたX線の投影
データを表わした検出器の各チャンネル2A、2B、2
C,2Dの各中点を通過する線と回転中心Cを通る線と
が直交する各々の点が3606スキヤンしたときに描く
軌跡は、第4図に示すよう忙回転中心Cを中心として被
検体上に描かれた同心円となる。この図面から明らかな
ように3600回転時における焦点A及び焦点Bがら発
するX線ビームによる被検体上のサンプリングが重複し
ておらず、被検体上には検出器サンプリングピッチの4
倍の密度のサンプリングが得られる。
器のチャンネル2人の中点を通過する線Rとして表わし
λそのRと回転中心Ci通る線とが直交する点をPとす
れは、X線管lと検出器2とが360゜回転したときK
このPの描く軌跡が最も外側の円であるQとなる。この
ようにして焦点A及び焦点Bから曝射されたX線の投影
データを表わした検出器の各チャンネル2A、2B、2
C,2Dの各中点を通過する線と回転中心Cを通る線と
が直交する各々の点が3606スキヤンしたときに描く
軌跡は、第4図に示すよう忙回転中心Cを中心として被
検体上に描かれた同心円となる。この図面から明らかな
ように3600回転時における焦点A及び焦点Bがら発
するX線ビームによる被検体上のサンプリングが重複し
ておらず、被検体上には検出器サンプリングピッチの4
倍の密度のサンプリングが得られる。
尚、第4図では説明上の便宜のため、同一のX線管の位
置から焦点A、BjpX線ビームを曝射しているが、実
際上は間欠的にパルスを出して焦点Aと焦点Bを交互に
切り換える方式としている。
置から焦点A、BjpX線ビームを曝射しているが、実
際上は間欠的にパルスを出して焦点Aと焦点Bを交互に
切り換える方式としている。
このような方式でも被検体上に描かれる前記同心円の軌
跡は同じである。
跡は同じである。
被検体の周りを360°回転しMfロジエクションのデ
ータを得た時のデータ配列は以下の表のようになる。
ータを得た時のデータ配列は以下の表のようになる。
表
上記表のように奇数プロジェクションは焦点A。
係数プロジェクションは焦点Bを使用したデータが得ら
れる。
れる。
上記データを基にして再’t?’?成処仰を行う時のコ
ンボリューションは、プロジェクションイ1位なq)で
奇数/偶数は関係なく一様に処理がb]能である。
ンボリューションは、プロジェクションイ1位なq)で
奇数/偶数は関係なく一様に処理がb]能である。
パックプロジェクション時に焦点位置A、B&てよシ補
間テーブルを変化させる。この時、奇数/係数プロジェ
クションは第4図に示すように180°対向する近辺に
あっても、絶対に同じ軌跡を描力・ない。つま9、再構
成マトリックスを極座標で表わした時、中心から一定間
隔の円E上に均一に・マツクプロジエクションされ、る
。
間テーブルを変化させる。この時、奇数/係数プロジェ
クションは第4図に示すように180°対向する近辺に
あっても、絶対に同じ軌跡を描力・ない。つま9、再構
成マトリックスを極座標で表わした時、中心から一定間
隔の円E上に均一に・マツクプロジエクションされ、る
。
以上のように再構成処理の・マツクゾロジエクション時
に焦点位置に応じた崖標補間を行なうことに」=す、検
出器の物理的サンプリング2.・L度を焦点1個のノー
マルの時に比し4倍に向上すること75;できる。
に焦点位置に応じた崖標補間を行なうことに」=す、検
出器の物理的サンプリング2.・L度を焦点1個のノー
マルの時に比し4倍に向上すること75;できる。
上記実施例において、焦点位1riA及びBとXトノ管
及び検出器の回転中心Cとを結ぶ線を、検LIXR’r
’i31 の物理的中点より各々+iチャンネル、−iチャンネル
ずれている箇所に設定したのは、360°回転スキャン
による被検体を通るX線ビームのサンプリング間隔をf
Mにすると共にその間隔を均等にするためである。
及び検出器の回転中心Cとを結ぶ線を、検LIXR’r
’i31 の物理的中点より各々+iチャンネル、−iチャンネル
ずれている箇所に設定したのは、360°回転スキャン
による被検体を通るX線ビームのサンプリング間隔をf
Mにすると共にその間隔を均等にするためである。
尚、V上説明した本発明の実施例においては、360°
回転スキャンによる被検体を通るX線ビームのサンプリ
ング間隔を均等にすることができるが、実際の計算では
検出器周辺チャンネルにてサンプリングの不均一が発生
する。これは検出器が扇状ビームを検出器面にて90°
で入射することを条件としているが、本発明では焦点位
置がずれているため検出器への入射角がチャンネル毎に
ずれており、周辺チャンネル程ずれが大きいからである
。しかし、扇状ビームのファン角度と比較すると実用上
は等間隔のサンプリングと考えてよい。
回転スキャンによる被検体を通るX線ビームのサンプリ
ング間隔を均等にすることができるが、実際の計算では
検出器周辺チャンネルにてサンプリングの不均一が発生
する。これは検出器が扇状ビームを検出器面にて90°
で入射することを条件としているが、本発明では焦点位
置がずれているため検出器への入射角がチャンネル毎に
ずれており、周辺チャンネル程ずれが大きいからである
。しかし、扇状ビームのファン角度と比較すると実用上
は等間隔のサンプリングと考えてよい。
本発明は上記実施例に限定されることなく、本番のを旨
を変魁しない範囲で実施できる。例えばX線管における
焦点の個数は上記実施例で示した2個に限定されず、N
個の焦点にすることも可能である(N=2.3.4・・
・)。この時のサンプリング密度は焦点1個のノーマル
の時に比べて2XN倍となる。
を変魁しない範囲で実施できる。例えばX線管における
焦点の個数は上記実施例で示した2個に限定されず、N
個の焦点にすることも可能である(N=2.3.4・・
・)。この時のサンプリング密度は焦点1個のノーマル
の時に比べて2XN倍となる。
例えばN=3の時の焦点の最適配「位置は、炊点り、E
、Fと回転中心Cを結ぶ線分の延長が検1 3 5 吊器上においてその開口幅の中点から12’12’12
チヤンネル各々ずれる位を灯に配置する。この時のサン
プリング密度は焦点1個のノーマル時に比べて6倍とな
シ、然もサンプリング間隔が均等になっている。
、Fと回転中心Cを結ぶ線分の延長が検1 3 5 吊器上においてその開口幅の中点から12’12’12
チヤンネル各々ずれる位を灯に配置する。この時のサン
プリング密度は焦点1個のノーマル時に比べて6倍とな
シ、然もサンプリング間隔が均等になっている。
尚、本発明のX線CT装置により得られるデータは、被
検体上において均等にサンプリングされているので、対
向ビームを利用してのビーノ・倍増化の手法も効率よく
利用可能である。
検体上において均等にサンプリングされているので、対
向ビームを利用してのビーノ・倍増化の手法も効率よく
利用可能である。
本発明は以上説明したように、多焦点X線管を活用し且
つこの焦点位置を最適配置することによシ、検出器の物
理的チャンネル数により限定される第3世代OCT装置
におけるサンプリング間隔を高密度化できると共に、そ
のサンプリング間隔を均等にし、空間分解能の優れたC
T像を得ることができるX線CT装置を提供するもので
ある。
つこの焦点位置を最適配置することによシ、検出器の物
理的チャンネル数により限定される第3世代OCT装置
におけるサンプリング間隔を高密度化できると共に、そ
のサンプリング間隔を均等にし、空間分解能の優れたC
T像を得ることができるX線CT装置を提供するもので
ある。
第1図は本発明のX線CT装置の一実施例を示すブロッ
ク図、第2図は前記実施例に使用される多焦点X線管の
一例を示す概略説明図、第3図は前記実施例における多
焦点X線管と検出器の最適配置状態を示す説明図、第4
図はAi前記実施例における核検体上のす/7°リング
ピッチの概念を示す説明図である。
ク図、第2図は前記実施例に使用される多焦点X線管の
一例を示す概略説明図、第3図は前記実施例における多
焦点X線管と検出器の最適配置状態を示す説明図、第4
図はAi前記実施例における核検体上のす/7°リング
ピッチの概念を示す説明図である。
Claims (1)
- 被検体の周囲にX線管と多チャンネル検出器を対向させ
た状態で回転させて所定周期毎にファンビーノ、状X線
を被検体に曝射しζ検出器から投影で一夕を収集するX
#jICT装置において、前記Xi’ll、多チャンネ
ル検出器のファンビーム状X□線開口幅の中点と多チャ
ンネル検出器及びX線管の回転中心とを通る仮想線よシ
互いに異なる所定距離に位置する複数の焦点を有する多
焦点X線管によって描成し、X線透過データのサンプリ
ング密バI:を増加したことを特徴とするX線CT装置
。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58053933A JPS59181134A (ja) | 1983-03-31 | 1983-03-31 | X線ct装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58053933A JPS59181134A (ja) | 1983-03-31 | 1983-03-31 | X線ct装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59181134A true JPS59181134A (ja) | 1984-10-15 |
Family
ID=12956537
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58053933A Pending JPS59181134A (ja) | 1983-03-31 | 1983-03-31 | X線ct装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59181134A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6253636A (ja) * | 1985-09-02 | 1987-03-09 | 株式会社島津製作所 | 撮像装置 |
JPS62102740A (ja) * | 1985-10-28 | 1987-05-13 | ピカ− インタ−ナシヨナル インコ−ポレイテツド | 断層撮影スキャナー |
JPH01318946A (ja) * | 1988-04-18 | 1989-12-25 | Siemens Ag | コンピュータトモグラフィ装置 |
JPH0223946A (ja) * | 1988-07-14 | 1990-01-26 | Toshiba Corp | X線ct装置 |
JP2000139893A (ja) * | 1998-11-09 | 2000-05-23 | Siemens Ag | Ct装置 |
-
1983
- 1983-03-31 JP JP58053933A patent/JPS59181134A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6253636A (ja) * | 1985-09-02 | 1987-03-09 | 株式会社島津製作所 | 撮像装置 |
JPS62102740A (ja) * | 1985-10-28 | 1987-05-13 | ピカ− インタ−ナシヨナル インコ−ポレイテツド | 断層撮影スキャナー |
JPH01318946A (ja) * | 1988-04-18 | 1989-12-25 | Siemens Ag | コンピュータトモグラフィ装置 |
JPH0223946A (ja) * | 1988-07-14 | 1990-01-26 | Toshiba Corp | X線ct装置 |
JP2000139893A (ja) * | 1998-11-09 | 2000-05-23 | Siemens Ag | Ct装置 |
JP4623785B2 (ja) * | 1998-11-09 | 2011-02-02 | シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト | Ct装置 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4144457A (en) | Tomographic X-ray scanning system | |
US5598453A (en) | Method for X-ray fluoroscopy or radiography, and X-ray apparatus | |
US6229870B1 (en) | Multiple fan beam computed tomography system | |
JPH0614912A (ja) | コンピュータ断層撮影システムで画像を作成する方法と装置 | |
US6876718B2 (en) | Scatter correction methods and apparatus | |
JP2010082428A (ja) | X線コンピュータ断層撮影装置 | |
JP2010035812A (ja) | X線コンピュータ断層撮影装置 | |
US5400379A (en) | Multi-slice x-ray CT using a detector mask | |
JP2008012206A (ja) | X線断層撮影装置 | |
JP2004160218A (ja) | X線コンピュータ断層装置、x線コンピュータ断層装置制御方法、及びx線コンピュータ断層撮影プログラム | |
US8538505B2 (en) | Method for 3-D data collection with a biplane C-arm system with biplane acquisition multiplexing | |
JP2020528294A (ja) | スキャナー機能が追加されたx−線断層撮影装置 | |
JP3980696B2 (ja) | 画像再構成処理装置 | |
JP3977624B2 (ja) | X線コンピュータ断層撮影装置 | |
JPS60106439A (ja) | 放射線透過による診断装置及び方法 | |
JPH09262230A (ja) | X線ct装置 | |
JPS59181134A (ja) | X線ct装置 | |
JP4398525B2 (ja) | X線コンピュータ断層撮影装置 | |
US20040208275A1 (en) | X-ray computed tomography apparatus | |
JP4460853B2 (ja) | マルチスライス画像再構成のための方法及び装置 | |
JPH02172446A (ja) | コンピユータトモグラフ | |
JPH11299768A (ja) | X線ct装置 | |
JPH0274010U (ja) | ||
JPS6146136B2 (ja) | ||
JPH10295683A (ja) | 電子ビームx線ct装置 |