JPH0223946A - Ｘ線ｃｔ装置 - Google Patents
Ｘ線ｃｔ装置Info
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- JPH0223946A JPH0223946A JP63175962A JP17596288A JPH0223946A JP H0223946 A JPH0223946 A JP H0223946A JP 63175962 A JP63175962 A JP 63175962A JP 17596288 A JP17596288 A JP 17596288A JP H0223946 A JPH0223946 A JP H0223946A
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- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の目的］
（産業上の利用分野）
本発明は、被検体（通常は患者）のＸ線投影データに基
づいて該被検体の断層像を再構成するＸ線ＣＴ装置に関
する。
づいて該被検体の断層像を再構成するＸ線ＣＴ装置に関
する。
（従来の技術）
第３世代のＸ線ＣＴ装置は、偏平な扇状の拡がり角θを
有するファンビームＸ線（以下「Ｘ線」と称する）を曝
射するＸ線管と、このＸ線を検出するＸ線検出器とを被
検体を挟んで対向させ、かつこれらＸ線管及びＸ線検出
器を、前記被検体を中心に互いに同方向に同一角速度で
回転移動させて、被検体断面上の種々の方向についての
Ｘ線投影データ（プロジェクションデータ）を収集し、
充分なデータを収集した後、このデータを解析し被検体
断面の個々の位置に対応するＸ線吸収率を算出して、そ
の吸収率に応じた階調度を与えて前記被検体断面におけ
る画像を再構成するようにしたものである。
有するファンビームＸ線（以下「Ｘ線」と称する）を曝
射するＸ線管と、このＸ線を検出するＸ線検出器とを被
検体を挟んで対向させ、かつこれらＸ線管及びＸ線検出
器を、前記被検体を中心に互いに同方向に同一角速度で
回転移動させて、被検体断面上の種々の方向についての
Ｘ線投影データ（プロジェクションデータ）を収集し、
充分なデータを収集した後、このデータを解析し被検体
断面の個々の位置に対応するＸ線吸収率を算出して、そ
の吸収率に応じた階調度を与えて前記被検体断面におけ
る画像を再構成するようにしたものである。
第７図は従来のＸ線ＣＴ装置に用いられているＸ線検出
器を示している。このＸ線検出器１は、高圧容器４内に
多数の高電圧印加用電極２及び信号取出用電極３を交互
に配置し、容器内部にＸｅ（キセノン）等の高圧ガスを
封入して成る。尚、Ｘ線検出器は一般に円弧状の外形を
なすが、第７図ではその一部のみを切出し直線で近似し
である。
器を示している。このＸ線検出器１は、高圧容器４内に
多数の高電圧印加用電極２及び信号取出用電極３を交互
に配置し、容器内部にＸｅ（キセノン）等の高圧ガスを
封入して成る。尚、Ｘ線検出器は一般に円弧状の外形を
なすが、第７図ではその一部のみを切出し直線で近似し
である。
Ｘ線検出器１における複数の高電圧印加用電極２は、共
通の高電圧源５に接続され、複数の信号取出電極３は、
Ｘ線ＣＴ装置におけるデータ収集部（Ｄ Ａ Ｓ ：
［）ａｔａ Ａｃｑｕｉｓｉｔｉｏｎ Ｓｙｓｔｅｍ）
５に接続されている。被検体を透過したＸ線は同図に
おいて矢印７で示す方向から入射する。すると、この入
射Ｘ線が本検出器１により電離電流として検出され、そ
れが検出信号としてデータ収集部６に伝達される。
通の高電圧源５に接続され、複数の信号取出電極３は、
Ｘ線ＣＴ装置におけるデータ収集部（Ｄ Ａ Ｓ ：
［）ａｔａ Ａｃｑｕｉｓｉｔｉｏｎ Ｓｙｓｔｅｍ）
５に接続されている。被検体を透過したＸ線は同図に
おいて矢印７で示す方向から入射する。すると、この入
射Ｘ線が本検出器１により電離電流として検出され、そ
れが検出信号としてデータ収集部６に伝達される。
ところで、第３世代のＸ線ＣＴ装置においては、レイ（
ＲＡＹ）数が検出器のチャンネル数で決定されるため、
検出器のチャンネルピッチの制限を越えて解像度を上げ
ることが難しい。
ＲＡＹ）数が検出器のチャンネル数で決定されるため、
検出器のチャンネルピッチの制限を越えて解像度を上げ
ることが難しい。
この解像度の向上を図ったものとして、オフセット・デ
ィテクタ（ＯＦＦＳＥＴ ＤＥＴＥＣＴＯＲ）方式が挙
げられる。この方式は、第５図に示すように、Ｘ線管と
Ｘ線検出器との回転中心Ｏが、Ｘ線検出器の１７４チヤ
ンネル相当の距離分だけずれるようにＸ線焦点１０及び
Ｘ線検出器２０を位置決めし、この状態でデータ収集を
行うようにしたものである。
ィテクタ（ＯＦＦＳＥＴ ＤＥＴＥＣＴＯＲ）方式が挙
げられる。この方式は、第５図に示すように、Ｘ線管と
Ｘ線検出器との回転中心Ｏが、Ｘ線検出器の１７４チヤ
ンネル相当の距離分だけずれるようにＸ線焦点１０及び
Ｘ線検出器２０を位置決めし、この状態でデータ収集を
行うようにしたものである。
第６図はこのオフセット・ディテクタ方式において回転
角度Ｏ°と１８０°との位置関係を示している。この方
式によれば、実効的にＲＡＹ数を２倍にまで増大するこ
とができ、より細かく情報量の多いデータ収集が可能と
なるため、解像度を大幅に向上させ得る。
角度Ｏ°と１８０°との位置関係を示している。この方
式によれば、実効的にＲＡＹ数を２倍にまで増大するこ
とができ、より細かく情報量の多いデータ収集が可能と
なるため、解像度を大幅に向上させ得る。
（発明が解決しようとする課題）
しかし、実際には回転角度Ｏ°と１８０°というように
、時間的にまた位置的に全く異なるデータでおるため均
一な特性とはならない。その原因は、 イ）回転架台上のＸ線管とＸ線検出器との変位によって
、Ｘ線焦点とＸ線検出器との位置がずれてしまうこと。
、時間的にまた位置的に全く異なるデータでおるため均
一な特性とはならない。その原因は、 イ）回転架台上のＸ線管とＸ線検出器との変位によって
、Ｘ線焦点とＸ線検出器との位置がずれてしまうこと。
口）Ｘ線曝射方向や被検体との距離の違いによって、被
検体より生ずる散乱線に違いがあること。
検体より生ずる散乱線に違いがあること。
等である。
実際に均一なデータが得られない場合、再構成像上に種
々のアーチファクトく偽像）を生ずる。
々のアーチファクトく偽像）を生ずる。
このアーチファクトは読影診断能の低下を招来する。
そこで本発明は上記の欠点を除去するもので、その目的
とするところは、アーチファクトを生ずることなく解像
度に優れた再構成像を（ｑることができるＸｔＱＣＴ装
置を提供することにある。
とするところは、アーチファクトを生ずることなく解像
度に優れた再構成像を（ｑることができるＸｔＱＣＴ装
置を提供することにある。
［発明の構成］
（課題を解決するための手段）
本発明は、被検体に向けてＸ線を曝射するＸ線源と、複
数の検出チャンネルを有して成り、曝射されたＸ線の被
検体透過成分を検出するＸ線検出器とを備え、前記Ｘ線
源と前記Ｘ線検出器とを互いに同一方向に同一速度で回
転移動させながら前記被検体の多方向からのプロジェク
ションデータを収集して前記被検体の断層像を再構成す
るＸ線ＣＴ装置において、Ｘ線源の回転移動方向に所定
間隔を有して第１の焦点と第２の焦点とを形成しくｑる
Ｘ線管により前記Ｘ線源を形成し、且つ、前記第１．第
２の焦点の切換えにより、検出チャンネル１／２ピッチ
分のＸ線検出器の回転移動前後で焦点移動軌跡上の同一
位置からのＸ線曝射を可能とするＸ線制御手段と、この
異なる焦点からのＸ線曝射によって（ｑられたデータを
１プロジェクションデータとして処理する画像再構成手
段とを備えたものである。
数の検出チャンネルを有して成り、曝射されたＸ線の被
検体透過成分を検出するＸ線検出器とを備え、前記Ｘ線
源と前記Ｘ線検出器とを互いに同一方向に同一速度で回
転移動させながら前記被検体の多方向からのプロジェク
ションデータを収集して前記被検体の断層像を再構成す
るＸ線ＣＴ装置において、Ｘ線源の回転移動方向に所定
間隔を有して第１の焦点と第２の焦点とを形成しくｑる
Ｘ線管により前記Ｘ線源を形成し、且つ、前記第１．第
２の焦点の切換えにより、検出チャンネル１／２ピッチ
分のＸ線検出器の回転移動前後で焦点移動軌跡上の同一
位置からのＸ線曝射を可能とするＸ線制御手段と、この
異なる焦点からのＸ線曝射によって（ｑられたデータを
１プロジェクションデータとして処理する画像再構成手
段とを備えたものである。
ここで、前記２焦点Ｘ線管における第１．第２の焦点間
距離は、前記第１の焦点から前記Ｘ線源及び前記Ｘ線検
出器の回転移動の中心までの距離と、この回転移動の中
心から前記Ｘ線検出器までの距離との比率に前記Ｘ線検
出器の検出チャンネルの１７２ピッチの長さを乗じた値
に等しくなるようにするとよい。
距離は、前記第１の焦点から前記Ｘ線源及び前記Ｘ線検
出器の回転移動の中心までの距離と、この回転移動の中
心から前記Ｘ線検出器までの距離との比率に前記Ｘ線検
出器の検出チャンネルの１７２ピッチの長さを乗じた値
に等しくなるようにするとよい。
また、前記Ｘ線管として、フィラメントからアノードに
向う電子の量を制御し得る制御グリッドを有するものを
適用し、この制御グリッドを介して前記第１．第２の焦
点切換えを行うようにするとよい。
向う電子の量を制御し得る制御グリッドを有するものを
適用し、この制御グリッドを介して前記第１．第２の焦
点切換えを行うようにするとよい。
さらに、被検体に向けてＸ線を＠射するＸ線源と、複数
の検出チャンネルを有して成り、曝射されたＸ線の被検
体透過成分を検出するＸ線検出器とを備え、前記Ｘ線源
と前記Ｘ線検出器とを互いに同一方向に同一速度で回転
移動させながら前記被検体の多方向からのプロジェクシ
ョンデータを収集して前記被検体の断層像を再構成する
Ｘ線０丁装置において、Ｘ線源の回転移動方向に所定間
隔を有して第１の焦点と第２の焦点とを形成し得るＸ線
管により前記Ｘ線源を形成し、且つ、前記被検体の同一
スライスについて前記第１の焦点からのＸ線曝射による
第１のスキャンを実行した後に前記第２の焦点からのＸ
線曝射による第２のスキャンを実行するスキャン制御手
段と、この第１゜第２のスキャンによって得られたデー
タを合成して画像再構成を行う画像再構成手段とを備え
るようにしてもよい。
の検出チャンネルを有して成り、曝射されたＸ線の被検
体透過成分を検出するＸ線検出器とを備え、前記Ｘ線源
と前記Ｘ線検出器とを互いに同一方向に同一速度で回転
移動させながら前記被検体の多方向からのプロジェクシ
ョンデータを収集して前記被検体の断層像を再構成する
Ｘ線０丁装置において、Ｘ線源の回転移動方向に所定間
隔を有して第１の焦点と第２の焦点とを形成し得るＸ線
管により前記Ｘ線源を形成し、且つ、前記被検体の同一
スライスについて前記第１の焦点からのＸ線曝射による
第１のスキャンを実行した後に前記第２の焦点からのＸ
線曝射による第２のスキャンを実行するスキャン制御手
段と、この第１゜第２のスキャンによって得られたデー
タを合成して画像再構成を行う画像再構成手段とを備え
るようにしてもよい。
（作 用）
前記Ｘ線制御手段の制御下で第１．第２の焦点の切換え
が行われ、この焦点切換えにより、検出チャンネル１／
２ピッチ分のＸ線検出器の回転移動前後で焦点移動軌跡
上の同一位置からのＸ線曝射が行われる。このように異
なる焦点からのＸ線曝射によるデータを１プロジェクシ
ョンデータとして取扱うことにより、ＲＡＹ数を２倍と
することができ再構成像の解像度の向上が図れる。しか
も、従来のオフセット・ディテクタ方式のように時間的
２位置的に全く異なるデータを用いるものではないので
、再構成像上にアーチファクトが生ずることもない。
が行われ、この焦点切換えにより、検出チャンネル１／
２ピッチ分のＸ線検出器の回転移動前後で焦点移動軌跡
上の同一位置からのＸ線曝射が行われる。このように異
なる焦点からのＸ線曝射によるデータを１プロジェクシ
ョンデータとして取扱うことにより、ＲＡＹ数を２倍と
することができ再構成像の解像度の向上が図れる。しか
も、従来のオフセット・ディテクタ方式のように時間的
２位置的に全く異なるデータを用いるものではないので
、再構成像上にアーチファクトが生ずることもない。
また、第１．第２の焦点間距離を上記の如く設定するこ
とにより、ＲＡＹ数増大を適確に行うことができる。
とにより、ＲＡＹ数増大を適確に行うことができる。
更に、第１．第２の焦点切換えをＸ線管の制御グリッド
を介して行うようにすれば、第１．第２の焦点の高速切
換えが可能となり、スキャン時間の短縮を図る上で、都
合がよい。
を介して行うようにすれば、第１．第２の焦点の高速切
換えが可能となり、スキャン時間の短縮を図る上で、都
合がよい。
また、前記第１のスキャンを実行した後に前記第２のス
キャンを実行するようにしても、ＲＡＹ数増大を図るこ
とができ、従って上記と同様にアーチファクトを生ずる
ことなく再構成像の解像度を向上し得る。しかもこの場
合には、第１．第２の焦点を高速に切換えて使用する場
合に比してＸ線管のアノードにおけるターゲットの温度
上昇が少なく熱負荷が軽くなるという利点をも有する。
キャンを実行するようにしても、ＲＡＹ数増大を図るこ
とができ、従って上記と同様にアーチファクトを生ずる
ことなく再構成像の解像度を向上し得る。しかもこの場
合には、第１．第２の焦点を高速に切換えて使用する場
合に比してＸ線管のアノードにおけるターゲットの温度
上昇が少なく熱負荷が軽くなるという利点をも有する。
また、逆に温度上昇が少ない分だけ線但を増すこともで
きる。
きる。
（実施例）
以下、本発明を実施例により具体的に説明する。
第１図は本発明の一実施例を示している。
Ｘ線源４３．放射線検出器３５．データ収集部３９は、
ガントリ（架台とも称される）の回転系に属し、被検体
Ｐを中心に同一方向に回動する。
ガントリ（架台とも称される）の回転系に属し、被検体
Ｐを中心に同一方向に回動する。
ガントリは撮影孔を有し、この撮影孔内に被検体Ｐが配
置される。Ｘ線源例えばＸ線管４３は、Ｘ線コントロー
ラ４６の制御下で、被検体Ｐに向けてＸ線を曝射するも
のである。Ｘ線検出器３５は、Ｘ線の被検体透過成分を
検出するものでおり、複＠（例えば５１２）の検出チャ
ンネルを有して成る。このＸ１１検出器３５の詳細な構
成は第７図に示すのと同様である。データ収集部３９は
、Ｘ線検出器３５の検出出力を取込んで被検体ＰのＸ線
投影データ（プロジエクシミンデータ）の収束を行うも
のである。このデータ収集部３９はスキャンコントロー
ラ４５の制御下にある。１スキヤンコントローラ４５は
、Ｘ線によるＣＴスキャンの実行制御を司るものである
。
置される。Ｘ線源例えばＸ線管４３は、Ｘ線コントロー
ラ４６の制御下で、被検体Ｐに向けてＸ線を曝射するも
のである。Ｘ線検出器３５は、Ｘ線の被検体透過成分を
検出するものでおり、複＠（例えば５１２）の検出チャ
ンネルを有して成る。このＸ１１検出器３５の詳細な構
成は第７図に示すのと同様である。データ収集部３９は
、Ｘ線検出器３５の検出出力を取込んで被検体ＰのＸ線
投影データ（プロジエクシミンデータ）の収束を行うも
のである。このデータ収集部３９はスキャンコントロー
ラ４５の制御下にある。１スキヤンコントローラ４５は
、Ｘ線によるＣＴスキャンの実行制御を司るものである
。
尚、寝台コントローラ４８は、被検体Ｐを載置する寝台
の動作（主として天板移動）を制御するものであり、こ
の寝台コントローラ４Ｂ、）Ｂｇコントローラ４６及び
ガントリコントローラ４７は、スキャンコントローラ４
５の制御下におる。
の動作（主として天板移動）を制御するものであり、こ
の寝台コントローラ４Ｂ、）Ｂｇコントローラ４６及び
ガントリコントローラ４７は、スキャンコントローラ４
５の制御下におる。
画像再構成部４４は、前記データ収集部３９によって収
集されたＸ線投影データに基づく画像再構成処理の実行
により、被検体Ｐの断層像を形成するものである。また
、ＣＰＬＪ （中央処理装置）５４は、本実施例装置全
体の動作制御を司るものでおり、メモリ５３．ディスク
５２．デイスプレィコンソール５１１画像再構成部４４
．スキャンコントローラ４５は、ＣＰＵバス５５を介し
てこのＣＰ’Ｕ５４に結合されている。そして前記画像
再構成部４４にお、いて形成された断層像のデータはＣ
ＰＵ５４のｖＩｎ下でデイスプレィコンソール５１に転
送され、ＣＲＴデイスプレィ５０により可視化されるよ
うになっている。デイスプレィコンソール５１にはキー
ボード４９が接続されており、このキーボード４９によ
って、ｔｌａｅ３条件や画像データの処理条件を設定す
ることができるようになっている。
集されたＸ線投影データに基づく画像再構成処理の実行
により、被検体Ｐの断層像を形成するものである。また
、ＣＰＬＪ （中央処理装置）５４は、本実施例装置全
体の動作制御を司るものでおり、メモリ５３．ディスク
５２．デイスプレィコンソール５１１画像再構成部４４
．スキャンコントローラ４５は、ＣＰＵバス５５を介し
てこのＣＰ’Ｕ５４に結合されている。そして前記画像
再構成部４４にお、いて形成された断層像のデータはＣ
ＰＵ５４のｖＩｎ下でデイスプレィコンソール５１に転
送され、ＣＲＴデイスプレィ５０により可視化されるよ
うになっている。デイスプレィコンソール５１にはキー
ボード４９が接続されており、このキーボード４９によ
って、ｔｌａｅ３条件や画像データの処理条件を設定す
ることができるようになっている。
ここで、前記Ｘ線管４３は、第１．第２の焦点を有する
。この第１．第２の焦点は、Ｘ線管４３の回転移動方向
く矢印３１方向）に所定の間隔を有して形成される。そ
してこの第１．第２の焦点間距離は次のように設定され
る。
。この第１．第２の焦点は、Ｘ線管４３の回転移動方向
く矢印３１方向）に所定の間隔を有して形成される。そ
してこの第１．第２の焦点間距離は次のように設定され
る。
第４図に示すように第１の焦点４１の直下の検出チャン
ネルを３５ａとした場合、第１．第２の焦点４１．４２
間間距離は、次式が成立するように決定される。
ネルを３５ａとした場合、第１．第２の焦点４１．４２
間間距離は、次式が成立するように決定される。
Ｄ／ａ＝ （ｄ／２＞／ｂ ・・（１）すなわ
ち、 ［）＝ａ−ｂ／２ｂ ・・・（２）とな
る。ここで、ａは第１の焦点４１から回転移動中心Ｏま
での距離で必り、ｂはこの回転移動中心ＯからＸ線検出
器３５までの距離であり、ｄはＸ線検出器３５の検出チ
ャンネルのピッチである。
ち、 ［）＝ａ−ｂ／２ｂ ・・・（２）とな
る。ここで、ａは第１の焦点４１から回転移動中心Ｏま
での距離で必り、ｂはこの回転移動中心ＯからＸ線検出
器３５までの距離であり、ｄはＸ線検出器３５の検出チ
ャンネルのピッチである。
例えば、ｄ＝１ｍ、ａ＝ｂ＝５００ｍとし、これを前（
２）式に代入すると、［）＝ ０．５．となる。Ｄ＝０
．５＃程度のＸ線管の製造は容易である。
２）式に代入すると、［）＝ ０．５．となる。Ｄ＝０
．５＃程度のＸ線管の製造は容易である。
また、前記Ｘ線コントローラ４６は、Ｘ線管４３よりの
Ｘ線曝射を制御するものである。そしてこのＸ線コント
ローラ４６の制御により第１．第２の焦点４１．４２を
切換えることで、検出チャンネル１／２ピッチ分のＸ線
検出器３９の回転移動前後で焦点移動軌跡上の同一位置
からのＸ線曝射が可能となる（これについては後に詳述
する）。
Ｘ線曝射を制御するものである。そしてこのＸ線コント
ローラ４６の制御により第１．第２の焦点４１．４２を
切換えることで、検出チャンネル１／２ピッチ分のＸ線
検出器３９の回転移動前後で焦点移動軌跡上の同一位置
からのＸ線曝射が可能となる（これについては後に詳述
する）。
第１．第２の焦点切換えは、グリッド制御によるのが望
ましい。
ましい。
すなわち、Ｘ線管４３として、第１．第２の焦点に対応
する第１．第２のフィラメント毎に、該フィラメントよ
りアノードに向う電子の母を制御可能な第１．第２の制
御グリッドを有するものを適用しくこの場合三極管構造
となる）、この制御グリッドへの電圧印加により第１．
第２の焦点切換えを行うのである。フィラメントに対し
て制御グリッドを負電位とすれば当該焦点よりのＸ線曝
射は行われず、制御グリッドをフィラメントと同電位に
すれば当該焦点よりのＸ線曝射が行われる。
する第１．第２のフィラメント毎に、該フィラメントよ
りアノードに向う電子の母を制御可能な第１．第２の制
御グリッドを有するものを適用しくこの場合三極管構造
となる）、この制御グリッドへの電圧印加により第１．
第２の焦点切換えを行うのである。フィラメントに対し
て制御グリッドを負電位とすれば当該焦点よりのＸ線曝
射は行われず、制御グリッドをフィラメントと同電位に
すれば当該焦点よりのＸ線曝射が行われる。
ここで、本発明におけるＸ線制御手段はこのＸ線コン（
・ローラ４６によって実現される。
・ローラ４６によって実現される。
更に、前記画像再構成部４４においては、検出チャンネ
ル１／２ピッチ分のＸ線検出器の回転移動前後で焦点移
動軌跡上の同一位置からのＸ線曝射によって１ｑられた
データが１プロジェクションデータとして取扱われ、画
像再構成処理が実行される。ここで、本発明における画
像再構成手段はこの画像再構成部４４によって実現され
る。
ル１／２ピッチ分のＸ線検出器の回転移動前後で焦点移
動軌跡上の同一位置からのＸ線曝射によって１ｑられた
データが１プロジェクションデータとして取扱われ、画
像再構成処理が実行される。ここで、本発明における画
像再構成手段はこの画像再構成部４４によって実現され
る。
次に、上記構成の作用について説明する。
Ｘ線管４３により被検体Ｐに向けてＸ線が曝射され、曝
射されたＸ線の被検体透過成分がＸ線検出器３５に入射
される。ここでＸ線管４３よりのＸ線曝射はＸ線コント
ローラ４６の制御下で次のように行われる。
射されたＸ線の被検体透過成分がＸ線検出器３５に入射
される。ここでＸ線管４３よりのＸ線曝射はＸ線コント
ローラ４６の制御下で次のように行われる。
第２図において、回転移動角Ｏ°の場合の第２の焦点４
２の位置をＡ１とし、検出チャンネル１／２ピッチ分の
回転移動後の当該第２焦点４２の位置をＡ２とする。こ
こで、Ｘ線管４３の焦点をＡ２からＡ１に瞬時に移すと
、つまり、第２の焦点４２から第１の焦点４１に瞬時に
切換えたとすると、この場合の焦点、Ｘ線ビーム、Ｘ線
検出器の位置関係は第３図に示すように、Ｘ線検出器３
５が検出チャンネルの１７２ピッチ分だけ回転移動した
のにもかかわらず、焦点移動軌跡上の同一位置よりのＸ
線曝射となる。これによれば、先の（１／２ピッチ回転
移動前の）Ｘ線曝射による場合と後の（１／２ピッチ回
転移動後の）Ｘ線曝射による場合とを合成すると、ＲＡ
Ｙ数はいずれか一方の場合に比して２倍に増大する。
２の位置をＡ１とし、検出チャンネル１／２ピッチ分の
回転移動後の当該第２焦点４２の位置をＡ２とする。こ
こで、Ｘ線管４３の焦点をＡ２からＡ１に瞬時に移すと
、つまり、第２の焦点４２から第１の焦点４１に瞬時に
切換えたとすると、この場合の焦点、Ｘ線ビーム、Ｘ線
検出器の位置関係は第３図に示すように、Ｘ線検出器３
５が検出チャンネルの１７２ピッチ分だけ回転移動した
のにもかかわらず、焦点移動軌跡上の同一位置よりのＸ
線曝射となる。これによれば、先の（１／２ピッチ回転
移動前の）Ｘ線曝射による場合と後の（１／２ピッチ回
転移動後の）Ｘ線曝射による場合とを合成すると、ＲＡ
Ｙ数はいずれか一方の場合に比して２倍に増大する。
このような焦点切換えによるＸ線曝射がＸ線検出器の検
出チャンネル１／２ピッチ分の回転移動毎に繰返され、
被検体Ｐの多方向からのプロジェクションデータが収集
される。そして、画像再構成部４４においては、上記の
１７２ピッチ分の回転移動前後の同一焦点位置からのＸ
線曝射によるデータが１プロジェクションデータとして
取扱われ、所定の画像再構成処理が実行される。この処
理によって得れた画像はＣＲＴデイスプレィ５０に表ポ
され、また必要に応じてディスク５２に格納される。上
記の画像再構成処理によって得られる画像は、ＲＡＹ数
増大により高解像度となる。
出チャンネル１／２ピッチ分の回転移動毎に繰返され、
被検体Ｐの多方向からのプロジェクションデータが収集
される。そして、画像再構成部４４においては、上記の
１７２ピッチ分の回転移動前後の同一焦点位置からのＸ
線曝射によるデータが１プロジェクションデータとして
取扱われ、所定の画像再構成処理が実行される。この処
理によって得れた画像はＣＲＴデイスプレィ５０に表ポ
され、また必要に応じてディスク５２に格納される。上
記の画像再構成処理によって得られる画像は、ＲＡＹ数
増大により高解像度となる。
ここで、上記実施例では、第１．第２の焦点４１．４２
の高速切換えを行うものについて説明したが、被検体Ｐ
の同一スライスについて次のように２回スキャンしても
上記と同様の効果が得られる。
の高速切換えを行うものについて説明したが、被検体Ｐ
の同一スライスについて次のように２回スキャンしても
上記と同様の効果が得られる。
先ず、第１の焦点４１のみを用いたＸ線曝射による第１
のスキャンを実行して被検体Ｐの多方向からのデータを
収集する。次に、第２の焦点４２のみを用いたＸ線曝射
による第２のスキャンを実行して同様に被検体Ｐの多方
向からのデータを収集する。このような第１．第２のス
キャンはスキャンコントローラ４５によって制御される
。ここで本発明におけるスキャン制御手段はこのスキャ
ンコントローラ４５によって実現される。
のスキャンを実行して被検体Ｐの多方向からのデータを
収集する。次に、第２の焦点４２のみを用いたＸ線曝射
による第２のスキャンを実行して同様に被検体Ｐの多方
向からのデータを収集する。このような第１．第２のス
キャンはスキャンコントローラ４５によって制御される
。ここで本発明におけるスキャン制御手段はこのスキャ
ンコントローラ４５によって実現される。
このようにしてもＲＡＹ数を２倍に増大することができ
、従って上記と同様の効果を奏する。しかも、この場合
、第１．第２のスキャンに時間差があることから、上記
のように第１．第２の焦点を高速に切換えるのに比して
Ｘ線管のアノードにおけるターゲットの温度上昇が少な
くて済むという利点をも有する。つまり、Ｘ線管の７ノ
ードが回転しているため、上記のように第１．第２の焦
点を高速に切換えた場合、焦点切換え後のターゲツト面
は焦点切換前のＸ線曝射において既に電子衝突により加
熱された状態にあり、加熱温度的制限より必然的にＸ線
量を抑えなければならないが、上記のように第１．第２
のスキャンを行うようにすれば、ターゲットの温度上昇
を抑えることができ、７ノードの熱負荷が軽くて済むか
ら、温度上昇が少ない分だけ縁組を増すことができる。
、従って上記と同様の効果を奏する。しかも、この場合
、第１．第２のスキャンに時間差があることから、上記
のように第１．第２の焦点を高速に切換えるのに比して
Ｘ線管のアノードにおけるターゲットの温度上昇が少な
くて済むという利点をも有する。つまり、Ｘ線管の７ノ
ードが回転しているため、上記のように第１．第２の焦
点を高速に切換えた場合、焦点切換え後のターゲツト面
は焦点切換前のＸ線曝射において既に電子衝突により加
熱された状態にあり、加熱温度的制限より必然的にＸ線
量を抑えなければならないが、上記のように第１．第２
のスキャンを行うようにすれば、ターゲットの温度上昇
を抑えることができ、７ノードの熱負荷が軽くて済むか
ら、温度上昇が少ない分だけ縁組を増すことができる。
以上本発明の実、圧倒について説明したが、本発明は上
記実施例に限定されるものではなく、種々の変形実施が
可能であるのはいうまでもない。
記実施例に限定されるものではなく、種々の変形実施が
可能であるのはいうまでもない。
【発明の効果］
本発明は、以上詳述したように構成されているので、以
下に記載されるような効果を奏する。
下に記載されるような効果を奏する。
請求項１記載のＸ線ＣＴ装置によれば、ＲＡＹ数を２倍
とすることにより解像度に優れた再構成像を得ることが
できる。しかも、従来のオフセット・ディテクタ方式の
ように時間的９位置的に異なるデータを用いるものでは
ないので、再構成像上にアーチファクトを生ずることも
ない。
とすることにより解像度に優れた再構成像を得ることが
できる。しかも、従来のオフセット・ディテクタ方式の
ように時間的９位置的に異なるデータを用いるものでは
ないので、再構成像上にアーチファクトを生ずることも
ない。
また、請求項２記載のＸ線ＣＴ装置によれば、第１．第
２の焦点間距離の適正化により、上記のＲＡ・Ｙ数増大
を適確に行うことができる。
２の焦点間距離の適正化により、上記のＲＡ・Ｙ数増大
を適確に行うことができる。
そして、請求項３記載のＸ線ＣＴ装置によれば、制御グ
リッドを介して第１．第２の焦点切換えを行うようにし
ているので、この焦点切換えを高速に行うことができる
。
リッドを介して第１．第２の焦点切換えを行うようにし
ているので、この焦点切換えを高速に行うことができる
。
更に、請求項４記載のＸＩ！ＩＣＴ装置によれば、第１
．第２のスキャンを実行し、そのデータを合成して画像
再構成を行うようにしており、請求項１記載の装置と同
様に、アーチファクトを生ずることなく再構成画像の解
像度を向上させることができ、また、アノードの熱負荷
の低減を図ることができる。
．第２のスキャンを実行し、そのデータを合成して画像
再構成を行うようにしており、請求項１記載の装置と同
様に、アーチファクトを生ずることなく再構成画像の解
像度を向上させることができ、また、アノードの熱負荷
の低減を図ることができる。
第１図は本発明の一実施例装置を示すブロック図、第２
図及び第３図は第１．第２の焦点切換えによるＸ線曝射
の説明図、第４図は第１．第２の焦点間距離設定の説明
図、第５図及び第６図はディテクタ・オフセット方式の
説明図、第７図はＸ線検出器の詳細な説明図である。 ３５・・・Ｘ線検出器、４３・・・ＸＩｌ管、４４・・
・画像再構成部（画像再構成手段）、４５・・・スキャ
ンコントローラ （スキャン制御手段）、 ４６・・・Ｘ線コントローラ（Ｘ線制御手段）、Ｐ・・
・被検体。 Ａ１ ′そど一ンチ 第 図 ｉ。 第 ・） 図
図及び第３図は第１．第２の焦点切換えによるＸ線曝射
の説明図、第４図は第１．第２の焦点間距離設定の説明
図、第５図及び第６図はディテクタ・オフセット方式の
説明図、第７図はＸ線検出器の詳細な説明図である。 ３５・・・Ｘ線検出器、４３・・・ＸＩｌ管、４４・・
・画像再構成部（画像再構成手段）、４５・・・スキャ
ンコントローラ （スキャン制御手段）、 ４６・・・Ｘ線コントローラ（Ｘ線制御手段）、Ｐ・・
・被検体。 Ａ１ ′そど一ンチ 第 図 ｉ。 第 ・） 図
Claims (4)
- （１）被検体に向けてＸ線を曝射するＸ線源と、複数の
検出チャンネルを有して成り、曝射されたＸ線の被検体
透過成分を検出するＸ線検出器とを備え、前記Ｘ線源と
前記Ｘ線検出器とを互いに同一方向に同一速度で回転移
動させながら前記被検体の多方向からのプロジェクショ
ンデータを収集して前記被検体の断層像を再構成するＸ
線ＣＴ装置において、Ｘ線源の回転移動方向に所定間隔
を有して第１の焦点と第２の焦点とを形成し得るＸ線管
により前記Ｘ線源を形成し、且つ、前記第１、第２の焦
点の切換えにより、検出チャンネル１／２ピッチ分のＸ
線検出器の回転移動前後で焦点移動軌跡上の同一位置か
らのＸ線曝射を可能とするＸ線制御手段と、この異なる
焦点からのＸ線曝射によつて得られたデータを１プロジ
ェクションデータとして処理する画像再構成手段とを備
えたことを特徴とするＸ線ＣＴ装置。 - （２）前記第１の焦点から前記Ｘ線源及び前記Ｘ線検出
器の回転移動の中心までの距離と、この回転移動の中心
から前記Ｘ線検出器までの距離との比率に前記Ｘ線検出
器の検出チャンネルの１／２ピッチの長さを乗じた値に
等しい距離を有して前記Ｘ線管における第１、第２の焦
点を形成するようにした請求項１記載のＸ線ＣＴ装置。 - （３）前記Ｘ線管は、フィラメントからアノードに向う
電子の量を制御し得る制御グリッドを有し、この制御グ
リッドを介して前記第１、第２の焦点切換えを行うよう
にした請求項１又は２記載のＸ線ＣＴ装置。 - （４）被検体に向けてＸ線を曝射するＸ線源と、複数の
検出チャンネルを有して成り、曝射されたＸ線の被検体
透過成分を検出するＸ線検出器とを備え、前記Ｘ線源と
前記Ｘ線検出器とを互いに同一方向に同一速度で回転移
動させながら前記被検体の多方向からのプロジェクショ
ンデータを収集して前記被検体の断層像を再構成するＸ
線ＣＴ装置において、Ｘ線源の回転移動方向に所定間隔
を有して第１の焦点と第２の焦点とを形成し得るＸ線管
により前記Ｘ線源を形成し、且つ、前記被検体の同一ス
ライスについて前記第１の焦点からのＸ線曝射による第
１のスキャンを実行した後に前記第２の焦点からのＸ線
曝射による第２のスキャンを実行するスキャン制御手段
と、この第１、第２のスキャンによって得られたデータ
を合成して画像再構成を行う画像再構成手段とを備えた
ことを特徴とするＸ線ＣＴ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63175962A JPH0223946A (ja) | 1988-07-14 | 1988-07-14 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63175962A JPH0223946A (ja) | 1988-07-14 | 1988-07-14 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0223946A true JPH0223946A (ja) | 1990-01-26 |
Family
ID=16005302
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63175962A Pending JPH0223946A (ja) | 1988-07-14 | 1988-07-14 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0223946A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04231940A (ja) * | 1990-06-20 | 1992-08-20 | General Electric Co <Ge> | 物体を撮像するｃｔ装置 |
| JPH05208007A (ja) * | 1991-11-20 | 1993-08-20 | General Electric Co <Ge> | Ｃｔシステム用逆重畳積分フィルタ |
| JP2000139893A (ja) * | 1998-11-09 | 2000-05-23 | Siemens Ag | Ｃｔ装置 |
| JP2007519461A (ja) * | 2004-01-29 | 2007-07-19 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 画素千鳥状化及び焦点変調を有するコンピュータ断層撮像装置及び方法 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4149079A (en) * | 1976-07-14 | 1979-04-10 | Elscint, Ltd. | Method of and means for scanning a body to enable a cross-section thereof to be reconstructed |
| JPS57200133A (en) * | 1981-05-30 | 1982-12-08 | Shimadzu Corp | Computer tomograph photographing apparatus |
| JPS59181134A (ja) * | 1983-03-31 | 1984-10-15 | 株式会社東芝 | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JPS60106439A (ja) * | 1983-07-28 | 1985-06-11 | エルシント リミテツド | 放射線透過による診断装置及び方法 |
-
1988
- 1988-07-14 JP JP63175962A patent/JPH0223946A/ja active Pending
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| US4149079A (en) * | 1976-07-14 | 1979-04-10 | Elscint, Ltd. | Method of and means for scanning a body to enable a cross-section thereof to be reconstructed |
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| US5361291A (en) * | 1991-11-20 | 1994-11-01 | General Electric Company | Deconvolution filter for CT system |
| JP2000139893A (ja) * | 1998-11-09 | 2000-05-23 | Siemens Ag | Ｃｔ装置 |
| JP4623785B2 (ja) * | 1998-11-09 | 2011-02-02 | シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト | Ｃｔ装置 |
| JP2007519461A (ja) * | 2004-01-29 | 2007-07-19 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 画素千鳥状化及び焦点変調を有するコンピュータ断層撮像装置及び方法 |
| JP4763620B2 (ja) * | 2004-01-29 | 2011-08-31 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 画素千鳥状化及び焦点変調を有するコンピュータ断層撮像装置及び方法 |
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