JP2002062268A

JP2002062268A - コンピュータ断層撮影装置

Info

Publication number: JP2002062268A
Application number: JP2000253979A
Authority: JP
Inventors: Masaji Fujii; 正司藤井; Kiichiro Uyama; 喜一郎宇山; Teruo Yamamoto; 輝夫山本; Kenji Arai; 健治新井; Masaaki Sonoda; 正明園田
Original assignee: Toshiba FA Systems Engineering Corp
Current assignee: Toshiba FA Systems Engineering Corp
Priority date: 2000-08-24
Filing date: 2000-08-24
Publication date: 2002-02-28
Anticipated expiration: 2020-08-24
Also published as: JP3916385B2

Abstract

(57)【要約】【課題】操作に熟練を要さず、操作者にとって扱い易い
こと。【解決手段】放射線ビームを放射する放射線源1と、放
射線源1からの放射線ビーム2を空間分解能をもって検出
する放射線検出器3と、放射線ビーム2内で被検体4を相
対回転させる回転手段5,6と、回転手段5,6による相対回
転中に放射線検出器3で得られた被検体4の多方向からの
透過データから、被検体4の断面像を作成する再構成手
段24と、装置本体の状態変化から必要になった較正種類
を判定する必要較正判定手段22とを備える。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、非破壊検査装置の
うちのコンピュータ断層撮影装置に係り、特に操作に熟
練を要さず、操作者にとって扱い易いコンピュータ断層
撮影装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】近年、小型電子部品等を高分解能で検査
することを目的として、高分解能型の産業用のコンピュ
ータ断層撮影装置（以下、ＣＴスキャナ）が製作される
ようになってきている。

【０００３】図４は、この種の従来の高分解能型のＣＴ
スキャナのシステム構成例を示す概要図である。

【０００４】図４において、Ｘ線管１０１と、このＸ線
管１０１から放射されるコーン状のＸ線ビーム１０２を
２次元の空間分解能をもって検出する検出器１０３が対
向して配置され、このＸ線ビーム１０２中の被検体１０
４の透過像を得るようになっている。

【０００５】断面像を撮影する場合には、回転テーブル
１０５上の被検体１０４を、回転・昇降機構１０６によ
り回転させながら、多数の透過像を得る（スキャンと称
する）。

【０００６】この多数の透過像を、データ処理部１０９
で処理して、被検体１０４の１枚あるいは複数枚の断面
像を得る。

【０００７】回転テーブル１０５および検出器１０３
は、シフト機構１０７により、Ｘ線管１０１に近づけた
り遠ざけたりされ、撮影距離ＦＣＤと検出距離ＦＤＤが
変更でき、目的に応じて撮影倍率（＝ＦＤＤ／ＦＣＤ）
を変えることができる。

【０００８】被検体１０４の撮影位置の変更は、被検体
１０４を回転軸１１８方向に昇降させて行なうが、回転
テーブル１０５を同時に回転および昇降させるヘリカル
スキャンを行なって、広い領域の断面像（３次元像）を
１回の撮影で得る方法もある。

【０００９】一方、このような従来の高分解能型のＣＴ
スキャナでは、撮影距離ＦＣＤ、検出距離ＦＤＤを変更
する度に、歪較正、スライス面較正、回転中心較正等の
較正をやり直す必要がある。

【００１０】まず、歪較正は、検出器１０３の歪の較正
である。

【００１１】検出器１０３は、Ｘ線ＩＩ１１２とテレビ
カメラ１１３とより成る。

【００１２】歪は、主にＸ線ＩＩの検出面が曲面である
ことにより生じ、検出距離ＦＤＤにより変化する。

【００１３】操作者は、検出距離ＦＤＤが変化する度
に、図５（ａ）に示す較正治具であるグリッド板１２０
を、検出器１０３の前面に取付けて歪較正を行なう。

【００１４】グリッド板１２０は、アクリル板１２１に
金属線のグリッド（格子）１２２を埋め込んだもので、
この歪較正で歪補正に用いるパラメータを求める。

【００１５】また、スライス面較正は、透過像上におけ
る撮影面１１９の位置を設定する較正である。

【００１６】撮影面１１９は、Ｘ線焦点Ｆを通って回転
軸１１８に直交する面と定義される面で、検出距離ＦＤ
Ｄあるいは撮影距離ＦＣＤを変えた時に、機構誤差のた
め透過像上で変化する。

【００１７】操作者は、検出距離ＦＤＤ、撮影距離ＦＣ
Ｄが変化する度に較正を行なう。

【００１８】較正は、まず、回転テーブル１０５を昇降
させて、透過像上でテーブル面が直線になる位置で停止
させる。

【００１９】次に、図５（ｂ）に示す較正治具であるワ
イヤ板１２３を、検出器１０３の前面に取付けて、テー
ブル面の像にワイヤ１２５の像が一致するように位置調
整する。

【００２０】次に、テーブルを視野から外し、ワイヤ１
２５の像を取り込んで撮影面１１９の位置を設定する。

【００２１】さらに、回転中心較正は、透過像上におけ
る回転軸１１８の位置を設定する較正である。

【００２２】回転軸１１８は、検出距離ＦＤＤあるいは
撮影距離ＦＣＤを変えた時に、機構誤差のため透過像上
で変化する。

【００２３】操作者は、検出距離ＦＤＤ、撮影距離ＦＣ
Ｄが変化する度に較正を行なう。

【００２４】較正は、まず、図５（ｃ）に示す較正治具
である中心較正ファントム１２６を、回転テーブル１０
５の上に載置し、３６０度の回転角にわたってワイヤ１
２８の像を取り込み、これから回転軸１１８の位置を設
定する。

【００２５】装置の機構部分全体は、遮蔽箱１１４に収
納されている。

【００２６】また、Ｘ線が外部に漏れるのを防止する遮
蔽箱１１４には開口１１５があり、試料扉１１６を開け
閉めして被検体１０４を交換する。

【００２７】図６は、従来の遮蔽箱１１４の詳細な一構
成例を示す概要図である。

【００２８】図６において、試料扉１１６はレール１３
１で支えられ、スライドさせて開閉する。

【００２９】試料扉１１６には鉛ガラス１３０の窓があ
り、内部を観察することができる。

【００３０】側面には、別にメンテナンス扉１３２が設
けられており、内部の点検や部品交換のために点検者が
出入りできるようになっている。

【００３１】かかる遮蔽箱１１４の問題点は、操作者が
試料等を内部に落下させた時に、側面に回ってメンテナ
ンス扉１３２から入らなければならない点と、メンテナ
ンス扉１３２が側面にあるため、物が置けないスペース
ができたり、壁に付けた設置ができなくなる点である。

【００３２】図７は、従来の遮蔽箱１１４の詳細な他の
構成例を示す概要図である。

【００３３】図７に示すように、これは開口１１５と試
料扉１１６を大きくして、メンテナンス扉を兼ねるよう
にしたものである。

【００３４】かかる遮蔽箱１１４の問題点は、試料扉１
１６は鉛等を貼ってＸ線遮蔽されているので重くなり、
操作性が非常に悪くなる点である。

【００３５】特に、試料交換は頻繁に行なうので問題で
ある。

【００３６】

【発明が解決しようとする課題】ところで、最近では、
ＣＴスキャナを用いた検査に対する要求が強く、被検体
の種類や検査内容も拡大し、さまざまな分野に普及しつ
つある。

【００３７】そして、このような状況下において、従来
の高分解能型のＣＴスキャナの扱い難さを解消する要望
が、益々強くなってきている。

【００３８】しかしながら、上述した従来の高分解能型
のＣＴスキャナでは、較正操作が面倒であり、しかも装
置の検出距離ＦＤＤ、撮影距離ＦＣＤ等の検査条件を変
更すると、その変更に見合った種類の較正をその都度選
んで実施しなければならず、非常に煩わしいものとなつ
ている。

【００３９】このため、操作者の操作に熟練を要し、誤
操作によって画質が低下することも多くなつている。

【００４０】また、装置の設置、試料の交換、メンテナ
ンス等においても、遮蔽箱の試料扉やメンテナンス扉の
配置構造が、扱い難いものとなつている。

【００４１】本発明の目的は、操作に熟練を要さず、操
作者にとって扱い易いコンピュータ断層撮影装置を提供
することにある。

【００４２】

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、請求項１に対応する発明のコンピュータ断層撮影
装置は、放射線ビームを放射する放射線源と、放射線源
からの放射線ビームを空間分解能をもって検出する放射
線検出器と、放射線ビーム内で被検体を相対回転させる
回転手段と、回転手段による相対回転中に放射線検出器
で得られた被検体の多方向からの透過データから、被検
体の断面像を作成する再構成手段と、装置本体の状態変
化から必要になった較正種類を判定する必要較正判定手
段とを備えている。

【００４３】従って、請求項１に対応する発明のコンピ
ュータ断層撮影装置においては、幾何条件変更や温度変
動や放射線条件変更等で装置の状態が変化した時に、必
要になった較正の種類が自動的に判定されるため、操作
者はいつどの較正が必要かを心配する必要がなくなる。

【００４４】また、請求項２に対応する発明のコンピュ
ータ断層撮影装置は、上記請求項１に対応する発明のコ
ンピュータ断層撮影装置において、必要較正判定手段に
より判定された種類の較正として、エアー較正（利得較
正）、歪較正、スライス面較正、回転中心較正、ＦＣＤ
較正（撮影距離較正）のうちの少なくとも１つの較正を
自動的に行なう自動較正手段を付加している。

【００４５】従って、請求項２に対応する発明のコンピ
ュータ断層撮影装置においては、較正が自動的に行なわ
れるため、操作性を向上することができる。

【００４６】さらに、請求項３に対応する発明のコンピ
ュータ断層撮影装置は、上記請求項１または請求項２に
対応する発明のコンピュータ断層撮影装置において、少
なくとも放射線源と放射線検出器と被検体とを収納し被
検体交換用の開口を有する放射線遮蔽箱と、放射線遮蔽
箱の開口を覆う２つの部分に分割されそれぞれ開閉自在
な放射線遮蔽扉とを付加している。

【００４７】従って、請求項３に対応する発明のコンピ
ュータ断層撮影装置においては、試料の交換時には１つ
の扉を用い、メンテナンス時には２つの扉を用いること
ができるため、操作性がよく、操作者にとって扱い易い
コンピュータ断層撮影装置を得ることができる。

【００４８】一方、請求項４に対応する発明のコンピュ
ータ断層撮影装置は、放射線ビームを放射する放射線源
と、放射線源からの放射線ビームを空間分解能をもって
検出する放射線検出器と、放射線ビーム内で被検体を相
対回転させる回転手段と、回転手段による相対回転中に
放射線検出器で得られた被検体の多方向からの透過デー
タから、被検体の断面像を作成する再構成手段と、少な
くとも放射線源と放射線検出器と被検体とを収納し被検
体交換用の開口を有する放射線遮蔽箱と、放射線遮蔽箱
の開口を覆う２つの部分に分割されそれぞれ開閉自在な
放射線遮蔽扉とを備えている。

【００４９】従って、請求項４に対応する発明のコンピ
ュータ断層撮影装置においては、試料の交換時には１つ
の扉を用い、メンテナンス時には２つの扉を用いること
ができるため、操作性がよく、操作者にとって扱い易い
コンピュータ断層撮影装置を得ることができる。

【００５０】

【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施の形態につ
いて図面を参照して詳細に説明する。

【００５１】図１（ａ）および（ｂ）は、本実施の形態
によるＣＴスキャナのシステム構成例を示す平面図およ
び正面図である。

【００５２】図１において、放射線源であるＸ線管１と
しては、放射するＸ線ビーム２の焦点Ｆが数ないし数十
μｍのマイクロフォーカスＸ線管を用い、放射線検出器
３にはＸ線ＩＩ（像増強管）とテレビカメラからなるも
のを用いている。

【００５３】Ｘ線管１および放射線検出器３は対向して
配置され、シフト機構８より支持されている。

【００５４】被検体４は、回転テーブル５上に載置さ
れ、回転・昇降機構６により、Ｘ線ビーム２内で撮影面
１４に沿って回転されると共に、撮影面１４に直角に昇
降される。

【００５５】また、被検体４は、回転テーブル５と共に
回転中心オフセット機構７により、Ｘ線ビーム２を横切
って図示ＣＯＦ方向に動かされると共に、シフト機構８
により、Ｘ線管１と放射線検出器３との間を移動して、
撮影距離ＦＣＤが変更される。

【００５６】放射線検出器３は、Ｘ線ビーム２を２次元
の空間分解能をもって検出するものであり、シフト機構
８により、Ｘ線管１と放射線検出器３との間を移動し
て、検出距離ＦＤＤが変更される。

【００５７】グリッド板１１は、従来と同じ構造であ
り、グリッド駆動部１２により、放射線検出器３の前面
に出し入れされる。

【００５８】回転テーブル５には、回転軸１３に垂直に
Ｘ線吸収の少ない狭いギャップ１５が設けられ、スライ
ス面較正の時に使われる。

【００５９】一方、構成要素として、他に、放射線検出
器３からの透過像を処理するデータ処理部１９と、処理
結果等を表示する表示部２０と、データ処理部１９から
の指令で機構部を制御する機構制御部１８と、Ｘ線管１
の管電圧、管電流を制御するＸ線制御部１７および高電
圧発生器１６と、Ｘ線管１と被検体４と放射線検出器３
を含む部分を収納するＸ線の遮蔽箱２５等を備えてい
る。

【００６０】データ処理部１９および表示部２０は、通
常のコンピュータで、ＣＰＵ、メモリ、ディスク、キー
ボード、インターフェース等からなり、断層撮影のシー
クエンスやデータから断面像を再構成するソフトウエア
等を記憶している。

【００６１】操作者は、データ処理部１９および表示部
２０を用いて、メニュー選択や条件設定、機構部手動操
作、断層撮影の開始、装置のステータス読取、断面像の
表示、断面像の解析等を行なう。

【００６２】データ処理部１９は、断層撮影のスキャン
制御部２１と、必要較正判定部２２と、自動較正部２３
と、再構成部２４とを備えて成る。

【００６３】スキャン制御部２１は、断層撮影のスキャ
ン制御を行なう。

【００６４】必要較正判定部２２は、装置本体の状態変
化から必要になった較正の種類を判定し選択する。

【００６５】自動較正部２３は、必要較正判定部２０に
より判定選択された種類の較正として、例えばエアー較
正（利得較正）、歪較正、スライス面較正、回転中心較
正、ＦＣＤ較正（撮影距離較正）のうちの、少なくとも
１つの較正を自動的に行なう。

【００６６】再構成部２４は、スキャン制御部２１によ
る断層撮影のスキャン制御により、回転テーブル５によ
る被検体４の回転中に放射線検出器３で得られた被検体
４の多方向からの透過データから、被検体４の断面像を
作成（再構成）する。

【００６７】図２（ａ）および（ｂ）は、本実施の形態
のＣＴスキャナにおける遮蔽箱の構成例を示す平面図お
よび正面図である。

【００６８】図２において、遮蔽箱２５は、鉄板に鉛板
を貼り付けて作られており、開口３０を有している。

【００６９】この開口３０は、上部が試料扉３１、下部
がメンテナンス扉３２で、それぞれ覆われるようになっ
ている。

【００７０】この試料扉３１、メンテナンス扉３２は、
それぞれ鉄板と鉛板でできているが、試料扉３１の方
は、内部観察用の鉛ガラス３４の窓が設けられている。

【００７１】試料扉３１は、遮蔽箱２５に付けたレール
３３で支持されて引き戸式に開閉され、メンテナンス扉
３２は、ちょうつがい３５で遮蔽箱２５に取付けられて
ドア式に開閉される。

【００７２】ここで、２つの扉３１，３２は、閉じた時
に互いに重なり合ってＸ線が漏れないようにしている。

【００７３】また、２つの扉３１，３２のそれぞれに
は、Ｘ線インターロックが付けてあり、２つ共に閉じた
時にＸ線放射が可能となるようにしている。

【００７４】さらに、２つの扉３１，３２を開いた時
に、開口３０は障害物無く開き、内部のメンテナンスが
行なえるようにしている。

【００７５】次に、以上のように構成した本実施の形態
によるＣＴスキャナの作用について説明する。

【００７６】図１において、透過像のみを得る場合に
は、操作者は被検体４を回転テーブル５に載せ、Ｘ線を
ＯＮし、透過像を表示部２０に表示させる。

【００７７】断面像の場合には、回転・昇降機構６で被
検体４を昇降させ、検査位置中心を撮影面１４に合わせ
る。

【００７８】これは、透過像を見ながら行なうこともで
きる。

【００７９】管電圧と管電流と積分時間を設定してスキ
ャンを開始すると、回転テーブル５が回転し、この間に
データ処理部１９により透過像が収集され、３６０゜方
向で得られた多数の透過データから、撮影面１４に平行
な１枚あるいは複数枚の断面像が再構成され、表示部２
０に表示される。

【００８０】ここで、積分時間は１透過像の収集時間で
ある。

【００８１】以上の作用は、スキャン制御部２１と再構
成部２４で行なわれる。

【００８２】操作者は、被検体４の全体の大きさや検査
部分の位置や大きさにより、検出距離ＦＤＤと撮影距離
ＦＣＤを調整する。

【００８３】また、検出距離ＦＤＤと撮影距離ＦＣＤを
変えた時に、回転中心が視野中心から大きくずれないよ
うに回転中心オフセットを変更する。

【００８４】この回転中心オフセットは、オフセットス
キャン（回転中心を視野の端に設定して撮影領域を拡大
するスキャン）を行なう時にも動かされる。

【００８５】必要較正判定部２２では、スキャン前に装
置の状態変化から必要になった較正の種類を判定し選択
し、表示部２０に表示させる。

【００８６】操作者が、自動較正スタートを指令する
と、自動較正部２３では、必要較正判定部２２で判定選
択された種類の較正が自動的に行なわれる。

【００８７】図３は、装置の状態変化とその時必要な較
正の種類の一例を示す図である。

【００８８】図３において、必要較正判定部２２では、
電源投入（全体あるいは一部）時には、全ての較正が選
択される。

【００８９】前回スキャンから、検出距離ＦＤＤ、撮影
距離ＦＣＤ、回転中心オフセット、管電圧、管電流、積
分時間が変更された場合には、それぞれに対して図示丸
印の較正種類（複数変更の場合は論理和）が選択され
る。

【００９０】そして、前回較正時と比較して、温度変化
が規定値以上になった場合には、エアー較正と回転中心
較正が選択される。

【００９１】また、前回較正時から時間経過が規定値以
上になった場合にも、エアー較正と回転中心較正が選択
される。

【００９２】ここで、各較正について順に説明する。

【００９３】（エアー較正）まず、エアー較正は、放射
線検出器３の利得の較正である。

【００９４】自動較正部２３では、回転テーブル５を下
降させ、Ｘ線をＯＮさせ、Ｘ線ビーム２に何も入らない
状態でエアー像が収集される。

【００９５】この時、飽和が起こらないように、放射線
検出器３のゲインが自動設定される。

【００９６】そして、この設定後、エアー像を多数収集
して加算平均して、エアーデータが作成され記憶され
る。

【００９７】スキャン時に、このエアーデータは、チャ
ンネル毎の利得補正に使われる。

【００９８】（歪較正）また、歪較正は、放射線検出器
３の歪の較正である。

【００９９】歪は、主にＸ線ＩＩの検出面が曲面である
ことにより生じ、検出距離ＦＤＤにより変化する。

【０１００】自動較正部２３では、回転テーブル５を下
降させ、Ｘ線ビーム２に被検体４が入らないようにし
て、グリッド板１１が放射線検出器３の前面に挿入され
る。

【０１０１】次に、Ｘ線をＯＮさせてグリッド像を撮影
し、その歪みから補正係数が求められ記憶される。

【０１０２】スキャン時に、この係数を使って歪補正が
なされる。

【０１０３】（スライス面較正）さらに、スライス面較
正は、透過像上における撮影面１４の位置を設定する較
正である。

【０１０４】撮影面１４は、Ｘ線焦点Ｆを通って回転軸
１３に直交する面と定義される面で、検出距離ＦＤＤあ
るいは撮影距離ＦＣＤを変えた時に、機構誤差のため透
過像上で変化する。

【０１０５】自動較正部２３では、Ｘ線をＯＮさせ、回
転テーブル５を昇降させながら回転テーブル５の透過像
が収集される。

【０１０６】さらに、多数の透過像の中から、ギャップ
１５が最もはっきり見える画像が選択され、このギャッ
プ１５の中心を通る線を設定して、スライス面として記
憶される。

【０１０７】このスライス面は、断面像作成の基準座標
として使用される。

【０１０８】（回転中心較正）また、回転中心較正は、
透過像上における回転軸１３の位置を設定する較正であ
る。

【０１０９】回転軸１３は、検出距離ＦＤＤあるいは撮
影距離ＦＣＤを変えた時に、機構誤差のため透過像上で
変化する。

【０１１０】また、管電圧を変えた時にも、Ｘ線焦点が
ずれるため変化する。

【０１１１】自動較正部２３では、Ｘ線をＯＮさせ、回
転テーブル５を回転させながら、被検体４あるいは回転
テーブル５自身の透過像が、３６０度に渡って収集され
る。

【０１１２】そして、この透過像を３６０度分平均して
平均透過像を作り、これから回転中心が求められる。

【０１１３】この場合、原理的に、平均画像は回転中心
に対して左右が対称になるので、これを利用して、例え
ば重心算出等で自動的に回転中心が求められる。

【０１１４】この回転中心線は、断面像作成の基準座標
として使用される。

【０１１５】なお、この回転中心較正は、スキャンで得
られた被検体４の透過像自身を使って行なうこともでき
る。

【０１１６】この場合には、スキャン後に回転中心較正
を行なってから断面像が再構成される。

【０１１７】（ＦＣＤ較正）さらに、ＦＣＤ較正は、シ
フト機構８の図示しないＦＣＤ値読取用エンコーダの較
正である。

【０１１８】撮影距離ＦＣＤ値が真値と異なると、同じ
比率で画像上の寸法が変化してしまう。

【０１１９】自動較正部２３では、スキャンを行ない、
回転テーブル５自身の断面像が作成される。

【０１２０】そして、この断面像で求めた回転テーブル
５の直径ｄｇと既知の実測値ｄｔとの比ｄｔ／ｄｇを、
現在の撮影距離ＦＣＤ値に乗算して修正撮影距離ＦＣＤ
値が求められ、エンコーダが較正される。

【０１２１】なお、上述した各較正の他に、放射線検出
器３のＸ線ＯＦＦ時の出力を求めるオフセット較正があ
るが、これはスキャン前に通常必ず行なうものであるの
で、その説明については省略している（システムにより
選択的に行なうようにすることもできる）。

【０１２２】次に、試料の交換を行なう時には、試料扉
３１をスライドさせて開いて行なわれる（図２を参
照）。

【０１２３】また、Ｘ線管１や放射線検出器３の調整、
交換等のメンテナンスを行なう時には、試料扉３１の他
に、メンテナンス扉３２も開いて行なわれる。

【０１２４】上述したように、本実施の形態によるＣＴ
スキャナでは、キーボード入力するだけで較正が自動的
に行なわれるため、極めて操作が容易となる。

【０１２５】また、装置の状態変化があった時には、そ
れに見合った種類の較正が自動的に選択され表示される
ため、操作者にとって何時どの較正が必要かを心配する
必要がなく煩わしさがなくなり、初心者でも極めて容易
に扱え、誤操作も少なくすることができる。

【０１２６】さらに、試料の交換は、軽くて小さな試料
扉３１の開閉で行なえ、試料を内部に落下させた時等
に、前面から直ちにメンテナンス扉３２を開けて取り出
すことができる、試料が重い時にメンテナンス扉３２も
開けて開口３０を広くして出し入れできる等、操作性が
よくなる。

【０１２７】また、メンテナンス扉３２が前面にあるの
で、側面、後面に物を置いたり、壁に付けたりすること
ができ、スペースファクタがよくなる。

【０１２８】さらに、メンテナンス扉３２の上に試料扉
３１があるので、メンテナンス時の開口がメンテナンス
扉３２よりも大きくすることができる（メンテナンス扉
３２を小さくすることができる）。

【０１２９】（その他の実施の形態）（ａ）前記実施の形態では、操作者の指令で自動較正を
スタートさせるようにした場合について説明したが、こ
の指令なしでスキャン開始前に必要になった較正を自動
的に行なうようにしてもよい。

【０１３０】（ｂ）前記実施の形態では、試料扉３１は
引き戸式、メンテナンス扉３２はドア式とした場合につ
いて説明したが、両方の扉ともいずれの方式であつても
構わない。

【０１３１】（ｃ）前記実施の形態において、扉は少な
くとも、試料扉３１およびメンテナンス扉３２の２つと
も閉、または試料扉３１およびメンテナンス扉３２の２
つとも開、あるいは試料扉３１のみ開、の３つの状態が
とれれば、それ以外は任意でよい。

【０１３２】例えば、メンテナンス扉３２は、試料扉３
１が全開の時にのみ開けることができる構造としても、
あるいは単独で開け閉めできる構造としてもよいし、ま
た試料扉３１は、メンテナンス扉３２が開の時に閉まら
なくてもよいが閉まる構造としてもよい。

【０１３３】（ｄ）前記実施の形態において、試料扉３
１およびメンテナンス扉３２の２つの扉の形状は何でも
よく、両者の配置関係も上下でなくてもよい。

【０１３４】（ｅ）前記実施の形態において、放射線ビ
ームとしては、Ｘ線ビームでなく、γ線ビーム等の放射
線ビームを用いてもよい。

【０１３５】（ｆ）前記実施の形態において、放射線検
出器３としては、フラットパネル型２次元検出器でもよ
く、また放射線ビームを１次元の空間分解能をもって検
出する放射線検出器についても、同様に適用することが
可能である。

【０１３６】（ｇ）前記実施の形態において、放射線検
出器３のＸ線ＩＩの視野サイズ切換機能を追加すること
も可能である。

【０１３７】この場合には、この視野サイズ切換を行な
った時に、ＩＰ較正、歪較正、スライス面較正、回転中
心較正が選択される。

【０１３８】

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、操
作に熟練を要さず、操作者にとって扱い易いコンピュー
タ断層撮影装置が提供できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明によるＣＴスキャナの一実施の形態を示
す平面図および正面図。

【図２】同実施の形態のＣＴスキャナにおける遮蔽箱の
構成例を示す平面図および正面図。

【図３】装置の状態変化とその時必要な較正の種類の一
例を示す図。

【図４】従来の高分解能型のＣＴスキャナのシステム構
成例を示す概要図。

【図５】従来の較正治具の一例を示す概要図。

【図６】従来の遮蔽箱の詳細な一構成例を示す概要図。

【図７】従来の遮蔽箱の詳細な他の構成例を示す概要
図。

【符号の説明】

１…Ｘ線管２…Ｘ線ビーム３…放射線検出器４…被検体５…回転テーブル６…回転・昇降機構７…回転中心オフセット機構８…シフト機構９…検出器支持フレーム１０…Ｘ線管支持フレーム１１…グリッド板１２…グリッド駆動部１３…回転軸１４…撮影面１５…ギャップ１６…高電圧発生器１７…Ｘ線制御部１８…機構制御部１９…データ処理部２０…表示部２１…スキャン制御部２２…必要較正判定部２３…自動較正部２４…再構成部２５…遮蔽箱３０…開口３１…試料扉３２…メンテナンス扉３３…レール３４…鉛ガラス３５…ちょうつがい１０１…Ｘ線管１０２…Ｘ線ビーム１０３…検出器１０４…被検体１０５…回転テーブル１０６…回転・昇降機構１０７…シフト機構１０８…支持部１０９…データ処理部１１０…機構制御部１１１…Ｘ線制御部１１２…Ｘ線ＩＩ１１３…テレビカメラ１１４…遮蔽箱１１５…開口１１６…試料扉１１８…回転軸１１９…撮影面１２０…グリッド板１２１…アクリル板１２２…グリッド（格子）１２３…ワイヤ板１２４…アクリル板１２５…ワイヤ１２６…中心較正ファントム１２７…アクリルパイプ１２８…ワイヤ１３０…鉛ガラス１３１…レール１３２…メンテナンス扉。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者宇山喜一郎東京都府中市晴見町２丁目24番地の１東芝エフエーシステムエンジニアリング株式会社内 (72)発明者山本輝夫東京都府中市晴見町２丁目24番地の１東芝エフエーシステムエンジニアリング株式会社内 (72)発明者新井健治東京都府中市晴見町２丁目24番地の１東芝エフエーシステムエンジニアリング株式会社内 (72)発明者園田正明東京都府中市晴見町２丁目24番地の１東芝エフエーシステムエンジニアリング株式会社内Ｆターム(参考） 2G001 AA01 BA11 CA01 DA01 DA02 DA03 DA09 FA02 FA06 FA08 FA16 FA30 GA03 GA04 GA05 GA08 GA09 GA11 HA13 HA14 JA02 JA08 JA11 LA11 PA02 PA12 PA14 SA01 SA13

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】放射線ビームを放射する放射線源と、前記放射線源からの放射線ビームを空間分解能をもって
検出する放射線検出器と、前記放射線ビーム内で被検体を相対回転させる回転手段
と、前記回転手段による相対回転中に前記放射線検出器で得
られた被検体の多方向からの透過データから、前記被検
体の断面像を作成する再構成手段と、装置本体の状態変化から必要になった較正種類を判定す
る必要較正判定手段と、を備えて成ることを特徴とするコンピュータ断層撮影装
置。
【請求項２】前記請求項１に記載のコンピュータ断層
撮影装置において、前記必要較正判定手段により判定された種類の較正とし
て、エアー較正（利得較正）、歪較正、スライス面較
正、回転中心較正、ＦＣＤ較正（撮影距離較正）のうち
の少なくとも１つの較正を自動的に行なう自動較正手段
を付加して成ることを特徴とするコンピュータ断層撮影
装置。
【請求項３】前記請求項１または請求項２に記載のコ
ンピュータ断層撮影装置において、少なくとも前記放射線源と前記放射線検出器と前記被検
体とを収納し被検体交換用の開口を有する放射線遮蔽箱
と、前記放射線遮蔽箱の開口を覆う２つの部分に分割されそ
れぞれ開閉自在な放射線遮蔽扉と、を付加して成ることを特徴とするコンピュータ断層撮影
装置。
【請求項４】放射線ビームを放射する放射線源と、前記放射線源からの放射線ビームを空間分解能をもって
検出する放射線検出器と、前記放射線ビーム内で被検体を相対回転させる回転手段
と、前記回転手段による相対回転中に前記放射線検出器で得
られた被検体の多方向からの透過データから、前記被検
体の断面像を作成する再構成手段と、少なくとも前記放射線源と前記放射線検出器と前記被検
体とを収納し被検体交換用の開口を有する放射線遮蔽箱
と、前記放射線遮蔽箱の開口を覆う２つの部分に分割されそ
れぞれ開閉自在な放射線遮蔽扉と、を備えて成ることを特徴とするコンピュータ断層撮影装
置。