JPH03209117A - Ｘ線ｃｔ装置 - Google Patents
Ｘ線ｃｔ装置Info
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- JPH03209117A JPH03209117A JP2004256A JP425690A JPH03209117A JP H03209117 A JPH03209117 A JP H03209117A JP 2004256 A JP2004256 A JP 2004256A JP 425690 A JP425690 A JP 425690A JP H03209117 A JPH03209117 A JP H03209117A
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
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- CVOFKRWYWCSDMA-UHFFFAOYSA-N 2-chloro-n-(2,6-diethylphenyl)-n-(methoxymethyl)acetamide;2,6-dinitro-n,n-dipropyl-4-(trifluoromethyl)aniline Chemical compound CCC1=CC=CC(CC)=C1N(COC)C(=O)CCl.CCCN(CCC)C1=C([N+]([O-])=O)C=C(C(F)(F)F)C=C1[N+]([O-])=O CVOFKRWYWCSDMA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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Landscapes
- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は産業用のＸ＆ＩＣＴ装直、特に微細構造物の内
部を非破壊で検査するのに好適なＸｍＣ Ｔ装置に関す
るものである。
部を非破壊で検査するのに好適なＸｍＣ Ｔ装置に関す
るものである。
医療用のＸ線ＣＴｖｊｔ置は、外部から生体内部の組織
を観察することができるという優れた特徴から現在では
広く昔及している。またＸＩＩＡＣＴ装置は金属、セラ
ミソクス、複合材料等の内部の微小欠陥を非破壊で検査
することもできるので、近年産業用としても材料の品質
評価などに盛んに利用されつつある。
を観察することができるという優れた特徴から現在では
広く昔及している。またＸＩＩＡＣＴ装置は金属、セラ
ミソクス、複合材料等の内部の微小欠陥を非破壊で検査
することもできるので、近年産業用としても材料の品質
評価などに盛んに利用されつつある。
ＣＴ画倣を得る場合には、まずＸ線源、被検☆の回転中
心、及びＸ線横出器の検出中心が同一道線上に並ぶよう
正確に配置すること（以下、中Ｉ〔位置合わせと称する
。）が必要となる。これらＣ配直が直線からはずれると
アーチファクトが生しＣＴ＠像の画質が低下してしまう
からである。
心、及びＸ線横出器の検出中心が同一道線上に並ぶよう
正確に配置すること（以下、中Ｉ〔位置合わせと称する
。）が必要となる。これらＣ配直が直線からはずれると
アーチファクトが生しＣＴ＠像の画質が低下してしまう
からである。
従来より、この中心位置合ゎせを正確に行うために様々
な工夫がなされている。例えば特開昭５（７２８４７号
公報では、Ｘ線を照射しないでＸ線源のフィラメントの
みを加熱させ、赤外線検出器でその中心位置を検出する
ことによって、実際に使用する場合の検出器の位置を調
整する方法及びその装置が提案されている，実開昭５８
−１１５２０８号公報では、ＣＴ画像用の各投影データ
の重心位置を計算し、投影データの中心位置を後のソフ
トウェアで補正することにょりＣＴ画像を得る装置が提
案されている。
な工夫がなされている。例えば特開昭５（７２８４７号
公報では、Ｘ線を照射しないでＸ線源のフィラメントの
みを加熱させ、赤外線検出器でその中心位置を検出する
ことによって、実際に使用する場合の検出器の位置を調
整する方法及びその装置が提案されている，実開昭５８
−１１５２０８号公報では、ＣＴ画像用の各投影データ
の重心位置を計算し、投影データの中心位置を後のソフ
トウェアで補正することにょりＣＴ画像を得る装置が提
案されている。
また実開昭５９１７２４０２号公報では、Ｘ線源の前面
にビンホールのスリノトを用意し、その投影像をフィル
ム上に記録することにより、その位置から検出器の中心
位置を調整する機構が提案されている。さらム二特開昭
６１−１８１４４３号公報では、ＣＴ画像を再構威する
際にソフトウエアによって中心のずれを計算し、補正す
る方法及び装置が提案されている． 〔発明が解決しようとする課題〕 医療用のＸ線ＣＴ装置の場合必要とされる分解能は数１
００μｍ程度であり、また被検体となる人体の大きさに
それ程ばらつきがないので、この分解能を被検体の寸法
に応して変える必要性は少ない。
にビンホールのスリノトを用意し、その投影像をフィル
ム上に記録することにより、その位置から検出器の中心
位置を調整する機構が提案されている。さらム二特開昭
６１−１８１４４３号公報では、ＣＴ画像を再構威する
際にソフトウエアによって中心のずれを計算し、補正す
る方法及び装置が提案されている． 〔発明が解決しようとする課題〕 医療用のＸ線ＣＴ装置の場合必要とされる分解能は数１
００μｍ程度であり、また被検体となる人体の大きさに
それ程ばらつきがないので、この分解能を被検体の寸法
に応して変える必要性は少ない。
しかし、各種の材料が被検体となりその寸法もまちまち
である産業用のＸ線ＣＴ装置の場合には、被検体の寸注
等に応して分解能を変えることができ、ＣＴ画像のｉｉ
！素サイズを任意に変えることができるものが望ましい
。この目的のために本出願人は、先にＸ線源、被検体及
びＸ線検出器相互の距離を変化させることによって断層
像を任意の倍率に拡大投影しＣＴ画像の分解能、画素サ
イズを可変としたＸ線ＣＴ装置を提案した。
である産業用のＸ線ＣＴ装置の場合には、被検体の寸注
等に応して分解能を変えることができ、ＣＴ画像のｉｉ
！素サイズを任意に変えることができるものが望ましい
。この目的のために本出願人は、先にＸ線源、被検体及
びＸ線検出器相互の距離を変化させることによって断層
像を任意の倍率に拡大投影しＣＴ画像の分解能、画素サ
イズを可変としたＸ線ＣＴ装置を提案した。
このようにＸ’４１ＡＢ、被検体またはＸ線検出器を移
動させる装置では、これらを固定した装置にくらべてＸ
線源、被検体の回転中心及びＸ線検出器の検出中心が同
一の直線がら逸脱する可能性が高くなり、中心位置合わ
せの必要性が生しる．しかし、従来の装置では、ＸｖＡ
源、被検体及びＸ線検出器が相互に固定されていること
を前提としているため、これらの位置を移動させて分解
能、ｉｉ！素サイズを任意に変えることができる装置に
そのまま用いることは極めて難しい。特に、産業用のＸ
線ＣＴ装置の場合、医療用のものに比べて必要とされる
分解能が非常に高いので、精度の点でも問題がある。
動させる装置では、これらを固定した装置にくらべてＸ
線源、被検体の回転中心及びＸ線検出器の検出中心が同
一の直線がら逸脱する可能性が高くなり、中心位置合わ
せの必要性が生しる．しかし、従来の装置では、ＸｖＡ
源、被検体及びＸ線検出器が相互に固定されていること
を前提としているため、これらの位置を移動させて分解
能、ｉｉ！素サイズを任意に変えることができる装置に
そのまま用いることは極めて難しい。特に、産業用のＸ
線ＣＴ装置の場合、医療用のものに比べて必要とされる
分解能が非常に高いので、精度の点でも問題がある。
本発明は、上記事情に基づいてなされたものであり、被
検体の寸法などを考慮して必要な分解能となるようＸ線
源、被検体、Ｘ線検出器の相対位置を移動した場合に、
中心位置合ゎせを正確、かつ自動的に行うことができる
Ｘ線ＣＴ装置を提供することを目的とするものである。
検体の寸法などを考慮して必要な分解能となるようＸ線
源、被検体、Ｘ線検出器の相対位置を移動した場合に、
中心位置合ゎせを正確、かつ自動的に行うことができる
Ｘ線ＣＴ装置を提供することを目的とするものである。
ご課題を解快するための手段〕
前記の目的を達威するための本発明に係るＸ線ＣＴ装置
は、Ｘ線ビームを発生するＸ線源と、該Ｘ線源に対向し
て設けられ被検体を透過したＸ線を検出するＸ＆！検出
器とを有し、前記Ｘ線源に対する前記被検体及び前記Ｘ
線検出器の相対位置を所定の範囲内で任意に移動するこ
とができるＸ＆ｌｌＣＴ装置において、 前記Ｘ線源を原点とし、前記Ｘ線ビームの放射方向をＸ
軸とするＸ−Ｙ直交座標上において、前記被検体を移動
したときに前記被検体の回転中心が描く第１の移動軌跡
、及び前記Ｘ線検出器を移動したときに前記Ｘ線検出器
の検出中心が描く第２の移動軌跡を求める手段と、 前記被検体及び前記Ｘ線検出器を任意の位置に移動した
ときに、前記手段によって求めた前記第１及び第２の移
動軌跡に基づいて、前記Ｘ軸に対する前記被検体の回転
中心及び前記Ｘ線検出器の検出中心の位置のずれを求め
る手段と、該手段によって求めたずれの値に基ヴいて前
記被検体及びＸ４１１検出器のうち少なくとも一方をＹ
軸方向ムこ移動しで、前記Ｘ線源、前記被検体の回転中
心及び前記Ｘ線検出器の検出中心を同一直線上に配置す
る移動手段とを設けたことを特徴とするものである。
は、Ｘ線ビームを発生するＸ線源と、該Ｘ線源に対向し
て設けられ被検体を透過したＸ線を検出するＸ＆！検出
器とを有し、前記Ｘ線源に対する前記被検体及び前記Ｘ
線検出器の相対位置を所定の範囲内で任意に移動するこ
とができるＸ＆ｌｌＣＴ装置において、 前記Ｘ線源を原点とし、前記Ｘ線ビームの放射方向をＸ
軸とするＸ−Ｙ直交座標上において、前記被検体を移動
したときに前記被検体の回転中心が描く第１の移動軌跡
、及び前記Ｘ線検出器を移動したときに前記Ｘ線検出器
の検出中心が描く第２の移動軌跡を求める手段と、 前記被検体及び前記Ｘ線検出器を任意の位置に移動した
ときに、前記手段によって求めた前記第１及び第２の移
動軌跡に基づいて、前記Ｘ軸に対する前記被検体の回転
中心及び前記Ｘ線検出器の検出中心の位置のずれを求め
る手段と、該手段によって求めたずれの値に基ヴいて前
記被検体及びＸ４１１検出器のうち少なくとも一方をＹ
軸方向ムこ移動しで、前記Ｘ線源、前記被検体の回転中
心及び前記Ｘ線検出器の検出中心を同一直線上に配置す
る移動手段とを設けたことを特徴とするものである。
本来は被検体が移動する方向の延長線上にＸ線源がある
ことが理想的であるが、機械的な取り付け精度等の問題
からある程度のずれが生ずることは避けられない。また
、ＸｔＪ検出器が移動する軌跡も同様に厳密に被検体の
移動の軌跡と完全に平行とすることはできない。しかし
、被検体及びＸ線検出器の移動そのものの精度が高けれ
ばその軌跡は直線とみなすことができる。したがって、
Ｘ線源を原点とし、Ｘ線ビームの放射方向をＸ軸とする
Ｘ−Ｙ直交座標上において、被検体の回転中心の移動の
軌跡、及びＸ線検出器の検出中心の移動の軌跡を、とも
に一次関数として表すことができる。
ことが理想的であるが、機械的な取り付け精度等の問題
からある程度のずれが生ずることは避けられない。また
、ＸｔＪ検出器が移動する軌跡も同様に厳密に被検体の
移動の軌跡と完全に平行とすることはできない。しかし
、被検体及びＸ線検出器の移動そのものの精度が高けれ
ばその軌跡は直線とみなすことができる。したがって、
Ｘ線源を原点とし、Ｘ線ビームの放射方向をＸ軸とする
Ｘ−Ｙ直交座標上において、被検体の回転中心の移動の
軌跡、及びＸ線検出器の検出中心の移動の軌跡を、とも
に一次関数として表すことができる。
この移動軌跡が求まれば、被検体の寸法に応して、被検
体及びＸ線検出器を任意の位置へ移動した場合番こも、
計算によって被検体の回転中心、及びＸ線検出器の検出
中心のＸ軸からのずれを求めることができる．この計算
で求めた値に基づいて被検体及びＸ線検出器の何れか一
方をＹ軸方向に移動することによって、Ｘ線源、被検体
及びＸ線検出器を同一直線上に配置することができる。
体及びＸ線検出器を任意の位置へ移動した場合番こも、
計算によって被検体の回転中心、及びＸ線検出器の検出
中心のＸ軸からのずれを求めることができる．この計算
で求めた値に基づいて被検体及びＸ線検出器の何れか一
方をＹ軸方向に移動することによって、Ｘ線源、被検体
及びＸ線検出器を同一直線上に配置することができる。
以下に、本発明の実施例について図面を参照しつつ説明
する． 第１図は、本発明の一実施例であるＸ線ＣＴ装置の構戒
を示す図である。同図に示すＸ線ＣＴ装置は、Ｘ線ａ１
、被検体Ａを矢印の方向（Ｘ軸方向〉に移動する第ｌの
自動Ｘ軸ステージ２、多数のＸ線検出素子が一次元的に
配列されたＸ線検出器３、ＣＴ断層面に平行な隙間を有
しその隙間が可変可能であるコリメート板４、同図の矢
印Ｚの方向にコリメート板４の隙間を調節する自動Ｚ軸
ステージ５、Ｘ線検出器３及びコリメート板４が載置さ
れた第２の自動Ｘ軸ステージ６、自動Ｘ軸ステージ２．
６及び自動Ｚ軸ステージ５を制御するコントローラ７、
被検体を透過したＸ線の投影データの収集を制御するコ
ンピュータ８よりなる。
する． 第１図は、本発明の一実施例であるＸ線ＣＴ装置の構戒
を示す図である。同図に示すＸ線ＣＴ装置は、Ｘ線ａ１
、被検体Ａを矢印の方向（Ｘ軸方向〉に移動する第ｌの
自動Ｘ軸ステージ２、多数のＸ線検出素子が一次元的に
配列されたＸ線検出器３、ＣＴ断層面に平行な隙間を有
しその隙間が可変可能であるコリメート板４、同図の矢
印Ｚの方向にコリメート板４の隙間を調節する自動Ｚ軸
ステージ５、Ｘ線検出器３及びコリメート板４が載置さ
れた第２の自動Ｘ軸ステージ６、自動Ｘ軸ステージ２．
６及び自動Ｚ軸ステージ５を制御するコントローラ７、
被検体を透過したＸ線の投影データの収集を制御するコ
ンピュータ８よりなる。
尚、被積体Ａを載置した自動Ｘ軸ステージ２は、中心位
置合わせを行う場合にはＸ軸と垂直なＹ軸方向（同図の
紙面に垂直な方向）にも移動することができる。
置合わせを行う場合にはＸ軸と垂直なＹ軸方向（同図の
紙面に垂直な方向）にも移動することができる。
第１図において、Ｘ線＃１から照射されたＸ線は被検体
Ａを透過してＸ線検出器３に到達する力匁このときＸ線
源１、被検体Ａ、及びＸ線検出器３の相対的な位置に応
した倍率で拡大投影される。
Ａを透過してＸ線検出器３に到達する力匁このときＸ線
源１、被検体Ａ、及びＸ線検出器３の相対的な位置に応
した倍率で拡大投影される。
すなわち、被検体Ａ及びＸ線検出Ｈ３をＸ軸上で移動さ
せることによって、被検体Ａの寸法とＣＴ画像のマトリ
ソクス数を考慮した最適な拡大率でＣＴ画像を得ること
ができる。
せることによって、被検体Ａの寸法とＣＴ画像のマトリ
ソクス数を考慮した最適な拡大率でＣＴ画像を得ること
ができる。
第２図はＸ線ｆＡ１の位置を原点とする座標上に、第１
図の配置を上からみたときの被検体Ａの回転中心の移動
の軌跡】１及びＸ線検出器３の検出中心の移動の軌跡１
２を示す図である。尚、Ｘ軸は、本実施例ではＸ線源１
が発するＸ線ビームの中心軸、或いは被検体ＡがＸ線源
に一番近づいた位置（ｘｏ，Ｏ）とＸ締源のなす直線で
ある。木来は被検体Ａが移動する方向の延長線上にＸ線
＃１があるのが理想的であるが、機械的な取り付け精度
等の問題からある程度のずれが生ずることは避けられな
い。また、Ｘ線検出器が移動する軌跡も同様に厳密に被
検体Ａの移動の軌跡と完全に平行とすることはできない
。このような状態でＣＴ画像を再構戒しても被検体人の
回転中心位置の投影像をＸ線検出器３の中心位置で検出
することができず、アーチファクトが生し画質が低下す
る。
図の配置を上からみたときの被検体Ａの回転中心の移動
の軌跡】１及びＸ線検出器３の検出中心の移動の軌跡１
２を示す図である。尚、Ｘ軸は、本実施例ではＸ線源１
が発するＸ線ビームの中心軸、或いは被検体ＡがＸ線源
に一番近づいた位置（ｘｏ，Ｏ）とＸ締源のなす直線で
ある。木来は被検体Ａが移動する方向の延長線上にＸ線
＃１があるのが理想的であるが、機械的な取り付け精度
等の問題からある程度のずれが生ずることは避けられな
い。また、Ｘ線検出器が移動する軌跡も同様に厳密に被
検体Ａの移動の軌跡と完全に平行とすることはできない
。このような状態でＣＴ画像を再構戒しても被検体人の
回転中心位置の投影像をＸ線検出器３の中心位置で検出
することができず、アーチファクトが生し画質が低下す
る。
以上のような不都合を解消するために次に説明する手続
きで位置の補正を行う。第２図において、Ｘ軸ステージ
２及び６の移動そのものの精度が高ければその軌跡は直
線とみなすことができる。したがって、被検体Ａの回転
中心の移動の軌跡１ｌとＸ線検出器の検出中心の移動の
軌跡１２を、ともに一次関数として表すことができ、そ
れぞれの移動範囲を （ｘｏ．０）から（Ｘ１．ｙｌ）まで、（Ｘ＊−ｙ２〉
から（Ｘｉ．ｙ３）まで〜とする。
きで位置の補正を行う。第２図において、Ｘ軸ステージ
２及び６の移動そのものの精度が高ければその軌跡は直
線とみなすことができる。したがって、被検体Ａの回転
中心の移動の軌跡１ｌとＸ線検出器の検出中心の移動の
軌跡１２を、ともに一次関数として表すことができ、そ
れぞれの移動範囲を （ｘｏ．０）から（Ｘ１．ｙｌ）まで、（Ｘ＊−ｙ２〉
から（Ｘｉ．ｙ３）まで〜とする。
最初に、本来の被検体とは別の針のように径。
小さいものを被検体として（ｘｏ．０）の位置Ｇ設置し
、Ｘ線検出器３を（Ｘ２．３’Ｚ）の位置において投影
像を得る。このとき、どのＸ線検出譚子によって投影像
が得られたかを知ることによって、Ｘ線検出器の検出中
心のＸ軸からのずれｙ２を求めることができる。更に、
Ｘ線検出器３を（Ｘｓ．ｙｓ〉の位置におき、同様にこ
の位置でのずれｙ３を求める。これより軌跡ｌ２の方程
式ｘ３ −ｘ， が得られる。
、Ｘ線検出器３を（Ｘ２．３’Ｚ）の位置において投影
像を得る。このとき、どのＸ線検出譚子によって投影像
が得られたかを知ることによって、Ｘ線検出器の検出中
心のＸ軸からのずれｙ２を求めることができる。更に、
Ｘ線検出器３を（Ｘｓ．ｙｓ〉の位置におき、同様にこ
の位置でのずれｙ３を求める。これより軌跡ｌ２の方程
式ｘ３ −ｘ， が得られる。
次に針のように径の小さい上記被検体を（ｘ＋．ｙｉの
位置に設置し、Ｘ線検出Ｈ３を（ｘｚ．ｙｚ）の位置に
おいて投影像を得る。このとき投影像が得られるＹ軸上
の位置をｙよ。とすると、 Ｘ ！ の関係からｙ，を求めることができる。これより軌跡１
１の方程式 Ｘ， −Ｘｓ が得られる。
位置に設置し、Ｘ線検出Ｈ３を（ｘｚ．ｙｚ）の位置に
おいて投影像を得る。このとき投影像が得られるＹ軸上
の位置をｙよ。とすると、 Ｘ ！ の関係からｙ，を求めることができる。これより軌跡１
１の方程式 Ｘ， −Ｘｓ が得られる。
このような予備的な測定を行った上で本来の被検体の撮
影に移る。被検体Ａの寸法に応して、最適な分解能とな
るように、被検体Ａ及びＸ線検出器３を適当な位置に移
動した結果、被検体ＡのＸ座標がｘ０＋ΔＸｏ （た
だしｘ０≦ｘ０＋Δｘ０≦ｘ，） 、Ｘ繍検出器３のＸ
座標がｘ２＋ΔＸ＝（ただしＸ．≦Ｘ，＋Δｘｚ；Ｓｘ
，）であったとする。このとき、被検体Ａの中心位置の
ｙ座標の値ｙ０。は（３）式にこのＸ座標及び（２）の
値を代入して次のように求められる， 一方、Ｘ線検出器３の検出中心のｙ座標の値ｙ３。は、
（１）弐に上記Ｘ座標の値ｘ２＋Δｘ２を代入すること
によって、 Ｘ コ ー ｘｚ となる。したがって、Ｘ線Ｂｌの位置（原点〉とこの（
ｘ，＋ΔＸｉ．３’：＋ｏ）とを結ぶ直線の方程式は、 となり、この直線上に被検体Ａの回転中心があるときに
最も高品賞のＣＴ画像が得られるが、実際には、ずれが
あるので一般にはこの直線上にはない。ここでｘ＝ｘ，
十ΔＸｏにおける直！ （６）のｙ座標のＭ ｙ ａｙ
は（５）式及び（６）式からｘ ３ 〜 ｘ２ となる。
影に移る。被検体Ａの寸法に応して、最適な分解能とな
るように、被検体Ａ及びＸ線検出器３を適当な位置に移
動した結果、被検体ＡのＸ座標がｘ０＋ΔＸｏ （た
だしｘ０≦ｘ０＋Δｘ０≦ｘ，） 、Ｘ繍検出器３のＸ
座標がｘ２＋ΔＸ＝（ただしＸ．≦Ｘ，＋Δｘｚ；Ｓｘ
，）であったとする。このとき、被検体Ａの中心位置の
ｙ座標の値ｙ０。は（３）式にこのＸ座標及び（２）の
値を代入して次のように求められる， 一方、Ｘ線検出器３の検出中心のｙ座標の値ｙ３。は、
（１）弐に上記Ｘ座標の値ｘ２＋Δｘ２を代入すること
によって、 Ｘ コ ー ｘｚ となる。したがって、Ｘ線Ｂｌの位置（原点〉とこの（
ｘ，＋ΔＸｉ．３’：＋ｏ）とを結ぶ直線の方程式は、 となり、この直線上に被検体Ａの回転中心があるときに
最も高品賞のＣＴ画像が得られるが、実際には、ずれが
あるので一般にはこの直線上にはない。ここでｘ＝ｘ，
十ΔＸｏにおける直！ （６）のｙ座標のＭ ｙ ａｙ
は（５）式及び（６）式からｘ ３ 〜 ｘ２ となる。
したがって、Δ）’ ＝ Ｙ ａ。一ｙ０。に相当する
距離だけ被検体Ａが載置された自動Ｘ軸ステージ２をＹ
軸方向へ移動させることによって、Ｘ線源１、被検体Ａ
の回転中心、及びＸｖＡ検出器３の検出中心を同一直線
上に置くことができる。このような計算はコンピュータ
８によって行い、自動Ｘ軸ステージ２等の制御はコント
ローラ７によって行われる。
距離だけ被検体Ａが載置された自動Ｘ軸ステージ２をＹ
軸方向へ移動させることによって、Ｘ線源１、被検体Ａ
の回転中心、及びＸｖＡ検出器３の検出中心を同一直線
上に置くことができる。このような計算はコンピュータ
８によって行い、自動Ｘ軸ステージ２等の制御はコント
ローラ７によって行われる。
尚、上記の実施例では、被検体Ａを移動して、Ｘ線ｓ１
と被検体ＡとＸ線検出器３とを同一直線上に配置する場
合について説明したが、これはＸ！１ｌ検出器３を移動
してもよい、また被検体ＡとＸ線検出器３の双方を移動
してＸ線源１と被検体ＡとＸ線検出器３とを同一直線上
に配置してもよい。
と被検体ＡとＸ線検出器３とを同一直線上に配置する場
合について説明したが、これはＸ！１ｌ検出器３を移動
してもよい、また被検体ＡとＸ線検出器３の双方を移動
してＸ線源１と被検体ＡとＸ線検出器３とを同一直線上
に配置してもよい。
以上説明したように本発明によれば、金属、セラ≧ノク
ス、複合材料等の種々の被検体の寸法やＣＴ画像のマト
リノクス数を考慮した最通な倍率となるようＸ線源、被
横体、及びＸｗａ検出器の相対位置を移動する場合でも
、その移動のためのステージの機械的な位置精度などか
ら問題となる被検体の回転中心及びＸｖＡ検出素子の位
置のずれを自動的に補正することができるので、アーチ
ファクトのない高精度なＣＴ画像が得られるＸ線ＣＴ装
ｌを提供することができる．
ス、複合材料等の種々の被検体の寸法やＣＴ画像のマト
リノクス数を考慮した最通な倍率となるようＸ線源、被
横体、及びＸｗａ検出器の相対位置を移動する場合でも
、その移動のためのステージの機械的な位置精度などか
ら問題となる被検体の回転中心及びＸｖＡ検出素子の位
置のずれを自動的に補正することができるので、アーチ
ファクトのない高精度なＣＴ画像が得られるＸ線ＣＴ装
ｌを提供することができる．
第１図は本発明の一実施例であるＸ＆ＩＣＴ装置の構威
を示す図、第２図はＸ線源の位置を原点とする座標上に
、第１図の配直を上からみたときの被検体の回転中心の
移動の軌跡、及びＸ線検出器の検出中心の移動の軌跡を
示す図である．１・・・Ｘ線源、２．６・・・自動Ｘ軸
ステージ、３・・・Ｘ線検出器、４・・・コリメート板
、５・・・自動Ｚ軸ステージ、７・・・コントローラ、
８・・・コンピュータ。
を示す図、第２図はＸ線源の位置を原点とする座標上に
、第１図の配直を上からみたときの被検体の回転中心の
移動の軌跡、及びＸ線検出器の検出中心の移動の軌跡を
示す図である．１・・・Ｘ線源、２．６・・・自動Ｘ軸
ステージ、３・・・Ｘ線検出器、４・・・コリメート板
、５・・・自動Ｚ軸ステージ、７・・・コントローラ、
８・・・コンピュータ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 Ｘ線ビームを発生するＸ線源と、該Ｘ線源に対向して設
けられ被検体を透過したＸ線を検出するＸ線検出器とを
有し、前記Ｘ線源に対する前記被検体及び前記Ｘ線検出
器の相対位置を所定の範囲内で任意に移動することがで
きるＸ線ＣＴ装置において、 前記Ｘ線源を原点とし、前記Ｘ線ビームの放射方向をＸ
軸とするＸ−Ｙ直交座標上において、前記被検体を移動
したときに前記被検体の回転中心が描く第１の移動軌跡
、及び前記Ｘ線検出器を移動したときに前記Ｘ線検出器
の検出中心が描く第２の移動軌跡を求める手段と、 前記被検体及び前記Ｘ線検出器を任意の位置に移動した
ときに、前記手段によって求めた前記第１及び第２の移
動軌跡に基づいて、前記Ｘ軸に対する前記被検体の回転
中心及び前記Ｘ線検出器の検出中心の位置のずれを求め
る手段と、 該手段によって求めたずれの値に基づいて前記被検体及
びＸ線検出器のうち少なくとも一方をＹ軸方向に移動し
て、前記Ｘ線源、前記被検体の回転中心及び前記Ｘ線検
出器の検出中心を同一直線上に配置する移動手段とを設
けたことを特徴をするＸ線ＣＴ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2004256A JPH0692886B2 (ja) | 1990-01-10 | 1990-01-10 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2004256A JPH0692886B2 (ja) | 1990-01-10 | 1990-01-10 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03209117A true JPH03209117A (ja) | 1991-09-12 |
| JPH0692886B2 JPH0692886B2 (ja) | 1994-11-16 |
Family
ID=11579462
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2004256A Expired - Lifetime JPH0692886B2 (ja) | 1990-01-10 | 1990-01-10 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0692886B2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0537215U (ja) * | 1991-10-25 | 1993-05-21 | 株式会社モリタ製作所 | 歯科用鋳造物ｘ線検査装置 |
| DE4335300C1 (de) * | 1993-10-15 | 1994-10-27 | Siemens Ag | Computertomograph mit Fächerstrahl |
| JP2002062268A (ja) * | 2000-08-24 | 2002-02-28 | Toshiba Fa Syst Eng Corp | コンピュータ断層撮影装置 |
| JP2006292462A (ja) * | 2005-04-07 | 2006-10-26 | Shimadzu Corp | コンピュータ断層撮影装置 |
| JP2009505083A (ja) * | 2005-08-16 | 2009-02-05 | カール ツァイス インドゥストリエレ メステヒニク ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | コンピュータ断層撮影用測定装置および方法 |
-
1990
- 1990-01-10 JP JP2004256A patent/JPH0692886B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0537215U (ja) * | 1991-10-25 | 1993-05-21 | 株式会社モリタ製作所 | 歯科用鋳造物ｘ線検査装置 |
| DE4335300C1 (de) * | 1993-10-15 | 1994-10-27 | Siemens Ag | Computertomograph mit Fächerstrahl |
| JP2002062268A (ja) * | 2000-08-24 | 2002-02-28 | Toshiba Fa Syst Eng Corp | コンピュータ断層撮影装置 |
| JP2006292462A (ja) * | 2005-04-07 | 2006-10-26 | Shimadzu Corp | コンピュータ断層撮影装置 |
| JP2009505083A (ja) * | 2005-08-16 | 2009-02-05 | カール ツァイス インドゥストリエレ メステヒニク ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | コンピュータ断層撮影用測定装置および方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0692886B2 (ja) | 1994-11-16 |
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