JPWO2019008620A1 - X線ct装置 - Google Patents
X線ct装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JPWO2019008620A1 JPWO2019008620A1 JP2019528189A JP2019528189A JPWO2019008620A1 JP WO2019008620 A1 JPWO2019008620 A1 JP WO2019008620A1 JP 2019528189 A JP2019528189 A JP 2019528189A JP 2019528189 A JP2019528189 A JP 2019528189A JP WO2019008620 A1 JPWO2019008620 A1 JP WO2019008620A1
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ray
- marker
- flat plate
- subject
- image
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
- G01N23/046—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using tomography, e.g. computed tomography [CT]
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/40—Imaging
- G01N2223/401—Imaging image processing
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Pulmonology (AREA)
- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
Description
12 X線検出器
13 回転ステージ
15 ステージ移動機構
16 定盤
20 マーカ部材
21 平板
22 支持部
30 制御装置
31 X線コントローラ
32 ステージコントローラ
40 パーソナルコンピュータ
41 メモリ
42 演算装置
43 記憶装置
44 通信部
48 表示装置
49 入力装置
51 マーカ特徴点検出部
52 焦点移動量算出部
53 CT画像再構成部
M マーカ
W 被写体
12 X線検出器
13 回転ステージ
15 ステージ移動機構
16 定盤
20 マーカ部材
21 平板
22 支持部
30 制御装置
31 X線コントローラ
32 ステージコントローラ
40 パーソナルコンピュータ
41 メモリ
42 演算装置
43 記憶装置
44 通信部
48 表示装置
49 入力装置
51 マーカ特徴点検出部
52 焦点移動量算出部
53 CT画像再構成部
M マーカ
W 被写体
Claims (7)
- 被写体に複数の角度からX線を照射して取得した投影データに基づいて前記被写体の断層画像を再構成するX線CT装置であって、
X線を発生するX線源と、
前記X線源に対向配置されるX線を検出するためのX線検出器と、
前記X線源と前記X線検出器との間に配置される前記被写体を載置するための回転ステージと、
前記X線検出器が検出した前記被写体の投影データに基づいて演算処理を実行する制御装置と、
マーカが少なくとも2か所設けられた平板と、前記平板を支持する支持部とから成り、前記回転ステージと前記X線源との間の位置であって、CTスキャンの実行中に前記マーカが前記X線検出器の検出範囲内に含まれる位置、かつ、前記平板が前記被写体の投影像に重畳しない位置に配置されるマーカ部材と、
を備え、
前記制御装置は、
前記X線源の焦点と前記マーカとを通る直線が前記X線検出器と交差する点である特徴点を、前記マーカの投影像を画像処理することにより検出し、2次元X線画像上の前記特徴点の座標を求めるマーカ特徴点検出部と、
前記マーカ特徴点検出部により求めた2つの異なるフレームの前記特徴点の座標を用いて、前記X線源の焦点が前記2つの異なるフレームが得られる間に移動した量を3次元的に算出する焦点移動量算出部と、
を備え、
前記X線源の焦点移動量に基づいて前記被写体の断層画像を再構成するときの座標系を修正することを特徴とするX線CT装置。 - 請求項1に記載のX線CT装置において、
前記マーカ部材は、前記X線検出器に対する前記平板の設置角度が変化しないように固定され、
前記焦点移動量算出部は、前記平板の設置角度情報を利用して、前記X線源の焦点の移動量を3次元的に算出するX線CT装置。 - 請求項1に記載のX線CT装置において、
前記マーカ部材は、前記平板を前記X線源のX線照射口に近接させて配置されるX線CT装置。 - 請求項1に記載のX線CT装置において、
前記マーカ特徴点検出部は、前記マーカの投影像を画像処理して輝度重心点を求め、前記輝度重心点を前記特徴点の座標とするX線CT装置。 - 請求項1に記載のX線CT装置において、
前記マーカ部材における前記平板は、X線を減衰させる材料から成るX線CT装置。 - 請求項5に記載のX線CT装置において、
前記マーカは、前記平板内に設けられた空洞、あるいは、前記平板に形成された貫通孔または凹部であるX線CT装置。 - 請求項5に記載のX線CT装置において、
前記マーカは、前記平板の表面に配設されたX線を減衰させる材料から成る円柱または円錐台形状の部材であるX線CT装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2021187680A JP7251602B2 (ja) | 2017-07-03 | 2021-11-18 | X線ct装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/JP2017/024319 WO2019008620A1 (ja) | 2017-07-03 | 2017-07-03 | X線ct装置 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2021187680A Division JP7251602B2 (ja) | 2017-07-03 | 2021-11-18 | X線ct装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2019008620A1 true JPWO2019008620A1 (ja) | 2020-02-27 |
JP7164524B2 JP7164524B2 (ja) | 2022-11-01 |
Family
ID=64949871
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019528189A Active JP7164524B2 (ja) | 2017-07-03 | 2017-07-03 | X線ct装置 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11002690B2 (ja) |
EP (1) | EP3620778A4 (ja) |
JP (1) | JP7164524B2 (ja) |
CN (1) | CN110621985B (ja) |
TW (1) | TWI680293B (ja) |
WO (1) | WO2019008620A1 (ja) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP3690428A4 (en) * | 2017-09-28 | 2021-06-09 | Saki Corporation | INSPECTION POSITION SPECIFICATION PROCESS, THREE-DIMENSIONAL IMAGE GENERATION PROCESS AND INSPECTION DEVICE |
JP7143567B2 (ja) * | 2018-09-14 | 2022-09-29 | 株式会社島津テクノリサーチ | 材料試験機および放射線ct装置 |
EP3932317A4 (en) | 2019-02-26 | 2022-10-05 | National University Corporation Shizuoka University | X-RAY IMAGING DEVICE |
JP2020186913A (ja) * | 2019-05-09 | 2020-11-19 | 株式会社リガク | X線ct装置、及びct画像再構成方法 |
CN111449668B (zh) * | 2020-04-23 | 2023-06-23 | 深圳市安健科技股份有限公司 | 三维扫描重建中实时几何校正的标记装置、方法及系统 |
CN111812130A (zh) * | 2020-07-15 | 2020-10-23 | 深圳市金园智能科技有限公司 | 一种基于x射线的材料内部3d成像方法及装置 |
CN114280086B (zh) * | 2021-11-16 | 2024-01-23 | 中国电子科技集团公司第三十八研究所 | 一种ct成像装置 |
CN114199905B (zh) * | 2021-12-13 | 2024-02-20 | 中国航发南方工业有限公司 | 一种机匣内部缺陷的空间定位方法及系统 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000298105A (ja) * | 1999-04-14 | 2000-10-24 | Toshiba Fa Syst Eng Corp | コンピュータ断層撮影装置 |
JP2002333408A (ja) * | 2001-05-08 | 2002-11-22 | Hitachi Medical Corp | 産業用x線ct装置 |
JP2004340630A (ja) * | 2003-05-13 | 2004-12-02 | Sony Corp | コンピュータ断層撮像方法及び装置 |
JP2005270297A (ja) * | 2004-03-24 | 2005-10-06 | Canon Inc | 放射線ct撮影装置及び放射線ct撮影システム及びそれを用いた放射線ct撮影方法 |
JP2007255951A (ja) * | 2006-03-20 | 2007-10-04 | Ratoc System Engineering Co Ltd | X線検査装置 |
JP2017086816A (ja) * | 2015-11-17 | 2017-05-25 | 東芝メディカルシステムズ株式会社 | X線コンピュータ断層撮影装置 |
Family Cites Families (29)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4054402B2 (ja) | 1997-04-25 | 2008-02-27 | 株式会社東芝 | X線断層撮影装置 |
JPS5850059B2 (ja) | 1977-02-04 | 1983-11-08 | 日本電気株式会社 | 受信信号制御回路 |
JPS62284250A (ja) * | 1986-05-31 | 1987-12-10 | Toshiba Corp | 産業用ctスキヤナ |
JP3743594B2 (ja) | 1998-03-11 | 2006-02-08 | 株式会社モリタ製作所 | Ct撮影装置 |
US6960020B2 (en) * | 2001-08-31 | 2005-11-01 | Analogic Corporation | Image positioning method and system for tomosynthesis in a digital X-ray radiography system |
DE10206190A1 (de) * | 2002-02-14 | 2003-09-04 | Siemens Ag | Verfahren und Vorrichtung zur Erzeugung eines Volumendatensatzes |
US7310404B2 (en) | 2004-03-24 | 2007-12-18 | Canon Kabushiki Kaisha | Radiation CT radiographing device, radiation CT radiographing system, and radiation CT radiographing method using the same |
JP4375555B2 (ja) | 2004-05-14 | 2009-12-02 | 株式会社島津製作所 | X線ct装置 |
US7344307B2 (en) * | 2004-11-12 | 2008-03-18 | General Electric Company | System and method for integration of a calibration target into a C-arm |
DE102005021020A1 (de) * | 2005-05-06 | 2006-11-16 | Siemens Ag | Verfahren zur Berechnung einer Orthogonal-Röntgenabschwächung eines Objekts anhand einer gemessenen Referenz-Röntgenabschwächung sowie zugehörige Vorrichtung |
WO2008038283A2 (en) * | 2006-09-25 | 2008-04-03 | Mazor Surgical Technologies Ltd. | C-arm computerized tomography system |
US7835811B2 (en) * | 2006-10-07 | 2010-11-16 | Voxelogix Corporation | Surgical guides and methods for positioning artificial teeth and dental implants |
EP2091459B1 (en) * | 2006-10-23 | 2013-09-11 | Hirdesh Sahni | An image guided whole body stereotactic needle placement device with falling arc |
DE102007043820B4 (de) | 2007-09-13 | 2020-06-04 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh | Verfahren zur Bestimmung eines Korrekturwerts einer Bremsfleckposition einer Röntgenquelle einer Messanordnung sowie eine Messanordnung zum Erzeugen von Durchstrahlungsbildern |
CN101398397B (zh) * | 2007-09-30 | 2012-05-30 | 首都师范大学 | 多次扫描模式的ct成像方法 |
CN102123664B (zh) * | 2008-08-13 | 2014-05-07 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 使用旋转中心寻找算法进行环形伪影校正的校准方法 |
WO2010064287A1 (ja) * | 2008-12-01 | 2010-06-10 | 株式会社 島津製作所 | 放射線撮像装置 |
JP5400546B2 (ja) * | 2009-09-28 | 2014-01-29 | 株式会社日立メディコ | X線ct装置 |
US9408579B2 (en) * | 2010-05-11 | 2016-08-09 | Takara Telesystems Corp. | Radiation imaging apparatus and phantom used for the same |
CN102652674B (zh) * | 2011-03-04 | 2014-02-19 | 首都师范大学 | 一种消除ct图像中的几何伪影的方法和系统 |
US9693748B2 (en) * | 2011-07-23 | 2017-07-04 | Broncus Medical Inc. | System and method for automatically determining calibration parameters of a fluoroscope |
DE102011083416A1 (de) * | 2011-09-26 | 2013-03-28 | CT Imaging GmbH | Röntgengerät |
EP2765408B1 (en) | 2011-10-04 | 2018-07-25 | Nikon Corporation | X-ray device, x-ray irradiation method, and manufacturing method for structure |
JP6032729B2 (ja) | 2012-05-08 | 2016-11-30 | 国立研究開発法人理化学研究所 | イメージングマーカーおよびその利用 |
CN106030293B (zh) * | 2014-01-23 | 2019-11-26 | 株式会社蛟簿 | X射线检查装置以及x射线检查方法 |
JP2015215218A (ja) | 2014-05-09 | 2015-12-03 | 株式会社島津製作所 | 放射線検査装置 |
JP6394082B2 (ja) | 2014-06-09 | 2018-09-26 | 株式会社島津製作所 | X線検査装置 |
KR102144273B1 (ko) * | 2014-10-14 | 2020-08-13 | 가부시키가이샤 리가쿠 | X선 박막 검사 장치 |
CN106361367B (zh) * | 2016-12-01 | 2019-10-08 | 上海联影医疗科技有限公司 | 一种检测器的校正方法和使用该校正方法的装置及设备 |
-
2017
- 2017-07-03 JP JP2019528189A patent/JP7164524B2/ja active Active
- 2017-07-03 US US16/605,551 patent/US11002690B2/en active Active
- 2017-07-03 EP EP17917158.2A patent/EP3620778A4/en active Pending
- 2017-07-03 WO PCT/JP2017/024319 patent/WO2019008620A1/ja unknown
- 2017-07-03 CN CN201780090704.4A patent/CN110621985B/zh active Active
-
2018
- 2018-07-03 TW TW107122978A patent/TWI680293B/zh active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000298105A (ja) * | 1999-04-14 | 2000-10-24 | Toshiba Fa Syst Eng Corp | コンピュータ断層撮影装置 |
JP2002333408A (ja) * | 2001-05-08 | 2002-11-22 | Hitachi Medical Corp | 産業用x線ct装置 |
JP2004340630A (ja) * | 2003-05-13 | 2004-12-02 | Sony Corp | コンピュータ断層撮像方法及び装置 |
JP2005270297A (ja) * | 2004-03-24 | 2005-10-06 | Canon Inc | 放射線ct撮影装置及び放射線ct撮影システム及びそれを用いた放射線ct撮影方法 |
JP2007255951A (ja) * | 2006-03-20 | 2007-10-04 | Ratoc System Engineering Co Ltd | X線検査装置 |
JP2017086816A (ja) * | 2015-11-17 | 2017-05-25 | 東芝メディカルシステムズ株式会社 | X線コンピュータ断層撮影装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP7164524B2 (ja) | 2022-11-01 |
TWI680293B (zh) | 2019-12-21 |
WO2019008620A1 (ja) | 2019-01-10 |
CN110621985A (zh) | 2019-12-27 |
US11002690B2 (en) | 2021-05-11 |
EP3620778A4 (en) | 2020-08-19 |
EP3620778A1 (en) | 2020-03-11 |
CN110621985B (zh) | 2022-03-11 |
US20200124545A1 (en) | 2020-04-23 |
TW201907154A (zh) | 2019-02-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI680293B (zh) | X線電腦斷層裝置 | |
JP2019128163A (ja) | 計測用x線ct装置、及び、その校正方法 | |
US20030043962A1 (en) | Image positioning method and system for tomosynthesis in a digital X-ray radiography system | |
JP5125423B2 (ja) | X線断層画像によるはんだ電極の検査方法およびこの方法を用いた基板検査装置 | |
JP2009505083A (ja) | コンピュータ断層撮影用測定装置および方法 | |
JP4561990B2 (ja) | X線撮影装置 | |
US20070114428A1 (en) | Radiation Image Capturing Condition Correction Apparatus and Radiation Image Capturing Condition Correction Method | |
US10729390B2 (en) | Rotary collimator for determining the position of an element provided with sensors in an X-ray imaging system | |
JP2012112790A (ja) | X線ct装置 | |
JP6394082B2 (ja) | X線検査装置 | |
JPWO2018083930A1 (ja) | 放射線断層撮影装置の撮像倍率校正方法 | |
CN117871557A (zh) | 检查装置、以及检查区域的确定方法 | |
JP5011085B2 (ja) | 検査装置,検査装置のアライメント方法及び校正用ファントムの製作方法 | |
JP5487519B2 (ja) | 産業用x線ct装置および撮像方法 | |
US20160183892A1 (en) | Method for imaging by means of an x-ray device and x-ray device | |
JP2012042340A (ja) | X線ct装置 | |
JP7251602B2 (ja) | X線ct装置 | |
JP2021050937A (ja) | 計測用x線ct装置の校正方法、測定方法、及び、計測用x線ct装置 | |
JP2009276142A (ja) | 放射線検査システム及び放射線検査の撮像方法 | |
JP4479503B2 (ja) | 断層撮影装置 | |
JP2013061257A (ja) | X線検査装置、x線検査装置の制御方法、x線検査装置を制御するためのプログラム、および、当該プログラムを格納した記録媒体 | |
JP2005134213A (ja) | X線断層撮像方法及び装置 | |
JP2006292462A (ja) | コンピュータ断層撮影装置 | |
JP2005195530A (ja) | 校正器、及び、校正方法 | |
JP2012120564A (ja) | X線撮影装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20191015 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20191015 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20200220 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20201013 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20201202 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20210608 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20211019 |
|
C60 | Trial request (containing other claim documents, opposition documents) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C60 Effective date: 20211118 |
|
C22 | Notice of designation (change) of administrative judge |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C22 Effective date: 20220111 |
|
C13 | Notice of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C13 Effective date: 20220628 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20220720 |
|
C23 | Notice of termination of proceedings |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C23 Effective date: 20220906 |
|
C03 | Trial/appeal decision taken |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C03 Effective date: 20221004 |
|
C30A | Notification sent |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C3012 Effective date: 20221004 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20221020 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 7164524 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |