JPH0537215U - 歯科用鋳造物x線検査装置 - Google Patents

歯科用鋳造物x線検査装置

Info

Publication number
JPH0537215U
JPH0537215U JP9582591U JP9582591U JPH0537215U JP H0537215 U JPH0537215 U JP H0537215U JP 9582591 U JP9582591 U JP 9582591U JP 9582591 U JP9582591 U JP 9582591U JP H0537215 U JPH0537215 U JP H0537215U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ray
sample
sample table
box
inspection apparatus
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP9582591U
Other languages
English (en)
Other versions
JPH087846Y2 (ja
Inventor
健司 楠
英一 新井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
J Morita Manufaturing Corp
Original Assignee
J Morita Manufaturing Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by J Morita Manufaturing Corp filed Critical J Morita Manufaturing Corp
Priority to JP1991095825U priority Critical patent/JPH087846Y2/ja
Publication of JPH0537215U publication Critical patent/JPH0537215U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPH087846Y2 publication Critical patent/JPH087846Y2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Dental Tools And Instruments Or Auxiliary Dental Instruments (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 従来の歯科用鋳造物の非破壊検査用のX線検
査装置は、試料台への被検試料の載置設定の際にX線照
射範囲に正確に位置付けることが困難であった。同一物
を再度、試料台上の同じ位置で再撮影する場合、又は同
一X線フィルム上に、同一物又は異なった試料を複数回
撮影する場合の位置付けの再現性と確実性とを確保する
必要がある。また試料内部欠陥を拡大するための手段を
必要とする。 【構成】 上記試料台をX線フィルム用カセットホルダ
ーとX線源との間で連続的にネジ軸による螺進機構によ
って移動調節可能とする。これによりX線フィルム上の
画像を拡大率可変とし、またX線錐とほぼ一致する光路
を有する光により、試料台上面を照明する照光装置をX
線源近傍に固定する。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は、歯科用鋳造物の被破壊検査により、鋳造欠陥の存否を調べるX線検 査装置において、X線感光体及びX線錐に対する被検試料の位置付けを確実にし たX線検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
歯科用鋳造物、例えばチタン製の義歯床は、鋳造時に鋳巣(ブローホールや収 縮孔など)が導入されたまま使用されると、破損の原因となるので、鋳造後には 、鋳造物の内部にある鋳造欠陥をX線検査によって事前に調査しておくことが品 質管理上望ましいとされている。
【0003】 このため、従来から、X線防護した撮影箱の上部にX線源となるX線発生器と 、その下部にX線フィルムなど感光体を内蔵したカセットと、を配置し、X線源 と感光体との間に試料台を配置して、試料台上に被検試料である鋳造物を載せ、 X線の鋳造物の透過像をX線感光体に投影して感光させる装置が利用されている 。
【0004】 また、X線フィルムを内蔵するフィルムカセットを上下方向移動可能に支持機 構により支持して、被検試料とフィルム感光面との距離を調整することにより、 拡大撮影することのできるX線検査装置も提案されており、鋳造物内部の微小な 欠陥を拡大してX線画像写真を得るものが知られている(実開昭60−7914 8号)。
【0005】
【考案が解決しようとする課題】
従来の歯科用鋳造物のX線検査装置は、試料台への被検試料の載置・設定の際 に、X線照射範囲の中心に正確に被検査試料を位置付けることが困難であり、同 一物を再度同じ位置で再撮影す場合に、X線フィルム画像との配置に再現性が悪 く、試料画像がフィルム面より逸脱したりX線が照射されていない位置に載置し たため、X線画像が得られないという問題が従来から生じていた。
【0006】 特に、フィルム感光面に比して小さな鋳造義歯床を撮影するような場合には、 大きなX線フィルム使用は不経済となり、数回に撮影利用感光面を区分して、有 効利用を図る必要がある。
【0007】 また、小さな鋳造物や微少な内部欠陥を拡大してX線撮影する上記技術は便利 であるけれども、X線源からの試料台上面までの距離d1 を固定して、X線フィ ルムカセットを下方に昇降移動させて、X線源からX線フィルムの感光面までの 距離d2 を可変とするのは被検試料の実寸に対するX線フィルム感光面上の画像 寸法の比率、即ち拡大率はd2 /d1 となり、撮影箱の高さに限界があることか ら、拡大率には限界があり、さらに大きな拡大率を得るにはd2 を大きく、従っ て、X線フィルム自体を大きくする必要がある。
【0008】 本考案は、上記問題に鑑み、試料台上面への被検試料の位置付けを正確かつ容 易にし、また拡大率を大きな範囲にわたって調整可能にした試料台を備えた歯科 用鋳造物のX線検査装置を提供するものである。
【0009】
【課題を解決するための手段】
本考案の歯科用鋳造物のX線検査装置は、X線防護が施された撮影箱の内側下 部に固定されてX線感光体を内蔵したカセットを収容するカセットホルダーと、 当該X線感光体の感光面に対向して当該撮影箱上部に配置されたX線源と、当該 カセットホルダーとX線源との間に配置されて被検試料を載置する試料台と、被 検試料を交換するため当該撮影箱に設けられた開閉扉と、から成る歯科鋳造物用 X線検査装置であって、上記試料台を当該カセットホルダーとX線源との間で連 続的にもしくは段階的に移動させる倍率可変用移動調節手段が設けられて成るこ とを特徴とするものである。
【0010】 また、本考案は、当該試料台は、当該カセットホルダーとX線源との間に配置 され、又は当該カセットホルダーと一体に形成されていてもよく、このようなX 線検査装置において当該試料台上面を直交線状にもしくはX線照射域全域に光を 照射する照光装置が、上記X線源近傍に設けられて成る歯科用鋳造物のX線検査 装置を包含するものである。
【0011】 本考案は、当該試料台上面に、X線照射範囲、X線照射中心及びX線感光体の 投影範囲の少なくともいずれかを表示する標識が添付されているX線検査装置並 びに当該上記試料台上面の被検試料載置範囲を複数に区画するX線透過部を板面 上に有するX線遮蔽板が当該試料台上面に移動可能に添付されて成るX線検査装 置を含むものである。
【0012】
【作用】
本考案のX線検査装置は、固定されたX線源及びX線感光体との間を試料台が 昇降移動するので、試料台の上面に載せられた被検試料を、X線源に近づけるほ どX線感光面上の拡大率は大きくすることができ、従って、鋳造物内部の微細な 欠陥、例えば鋳巣を拡大してその形状や成因を詳細に調べることができる。
【0013】 試料台上面は、直交線状に又はX線照射範囲を光が照射されているから、あら かじめ、試料台上面にX線照射範囲内でかつ、下方の感光体の感光面に投影でき る被検試料載置装置範囲を指示することができ、載置不良による撮影の失敗を回 避できる。
【0014】 また、X線の透過部を備えたX線遮蔽板を試料台上に移動可能に添付するので 、当該透過部を透過するX線のみが、感光面に投影されるので、当該透過部に載 置された被検試料のX線フィルム画像が得られ、従って、当該透過部以外のX線 遮蔽板で覆われたX線感光体の感光面は、未感光のままであり、当該遮蔽体を適 宜移動回動させれば、当該未感光の感光面を、次の撮影に利用することができ、 X線フィルムなどの被検試料に比して大きな感光体を有効に利用できる。
【0015】
【実施例】
本考案の実施例を図面に基づき、以下に説明する。
【0016】 図1は、本考案のX線検査装置1の内部側面図であるが、装置1内のX線発生 器2の下部のX線源21の下方には、X線防護壁11で仕切られた撮影箱が設け られ、当該箱内底部にはカセットホルダー6が固定され、当該ホルダー6内に装 入されるカセット71中に内蔵されているX線フィルム7の感光面がX線源21 からのX線Xの中心軸に対して垂直になるように設定されている。
【0017】 カセットホルダー6上方には、被検試料5が載置される合成樹脂製の試料台3 が、試料台3上面を水平に保持しながら、移動調節手段により、垂直方向に昇降 可能に設けられている。本実施例の移動調節手段には、モータ33により回動さ れるネジ軸34が、検査箱内の隅方に立設され、このネジ軸34に螺合する試料 台保持具32によって試料台3が水平に保持されている。
【0018】 上記撮影箱の前面には、同様にX線防護の施された開閉扉12が設けられて、 被検試料5の装入やX線フィルムカセット71の交換に供され、また撮影箱の側 面には、内部観察用のX線遮蔽ガラスが取着されている。
【0019】 図2は、X線源21、X線フィルムカセット71内のX線フィルム7及び昇降 可動の試料台3の配置関係を示しているが、本考案の試料台3に載置された被検 試料5の水平方向寸法は、試料台3を上昇してX線源21に近づける程、拡大さ れて、X線フィルム7上に投影され、現象フィルム上に拡大画像が得られる。そ の寸法拡大率は、図2中に示したように、X線源21からの試料台3上面の距離 d1 に対するX線源21からのX線フィルム7の距離d2 の比、即ちd2 /d1 によって近似でき、本例においては試料台3を、X線源21に近づけることがで き、拡大率を高くすることが可能となる。 またX線源21からの試料台3の距離又は拡大率を表示した目盛尺を、撮影箱 の側面に添設すれば、拡大率を読み取ることができる。
【0020】 図3は、試料台3を段階的に移動調節する手段を示している。撮影箱内の後部 側壁に、本例では上下の2箇所に水平保持板35、35´が蝶番を介して折りた たみ可能に添設され、試料台3は、当該保持板35、35´と側壁より突設され た突出片36、36´とに、水平を保持して係止される。そこで上下いずれかの 水平保持板35、35´を選択して、試料台の高さを調節することができ、不使 用の水平保持板は、壁面に添うように折り返しておく。
【0021】 図4は、試料台3の上面に、X線錐Xの中心軸位置を表す十字形の光の標識8 a、8bを照射するX線検査装置を示しているが、本例では、電球とスリット( 不図示)を有する2個の照光装置81a、81bが撮影箱の上方のX線源21の 極く近傍に固定されており、X線フィルムカセット71を兼用する試料台6の上 面に、照射X線の中心位置を明示することができる。
【0022】 図5(A)は、試料台3上面にX線照射範囲を明示する光の照明円8を照射す るようにしたX線検査装置を示している。本例では、照光装置81を撮影箱の上 方片隅に固定し、その電球83から小円形の投光部82を通過した光が、X線源 21の直下に設けられた反射鏡84に反射して、放射状に試料台を照明する。こ の場合、照射する光が形成する円錐と、X線源から放射されるX線錐とが一致す るように照光装置81と反射鏡84が配置されている。
【0023】 そこで、試料台3´が上昇しても、その照明内8´の大きさと位置は、その試 料台3´におけるX線錐の照射範囲と一致するから、照明円の範囲内に被検試料 を載置すれば、X線フィルム7の感光面には確実に投影され、被検試料の画像が 感光面外に逸脱する危険性は回避される。
【0024】 図5(A)において反射鏡84は、合成樹脂製の基板に金属アルミニウム薄膜 を使用した鏡体84である場合には常時、照光可能に固定されていてももよい。 また図5(B)、(C)に示すように、照明円8を必要としないときは、蝶番8 5により回動させて(同(B))、又は保持部材86、87間を摺動させて(同 (C))、反射鏡84をX線照射域から退避させる構造も採用できる。
【0025】 図5(A)には、試料台3上面に、X線の照射中心軸を明示する十字線の標識 9が記載されている。また、その十字線は試料台3上面を四分割しており、小型 の被検試料を2個又は4個同時に分割された区画内に載置すれば、X線照射範囲 から逸脱されることなく、同時にX線撮影をすることができる。
【0026】 図6(A)においては、図5(A)に示したような試料台3の上面に載せられ るマスキング用の方形鉛板製のX線遮蔽板92を示している。このX線遮蔽板9 2には、上記のようにX線照射範囲を四分割して形成される一区画より若干小さ めの矩形形状を有するX線透過部91、即ち、通常は開口部91が設けられてい るので、試料台3の上面に載置されたX線遮蔽板の当該開口部91内に被検試料 を置いて、X線撮影すれば、X線フィルム7の感光面は、当該開口部91を透過 したX線にのみ感光し、当該X線遮蔽板92で覆われたX線フィルム上の領域は 未感光のままである。そこで、次いで、X線遮蔽枚を水平面域内に1/4回転す るかもしくは水平軸廻りに反転させて、再度、試料台3上面に載置すれば、X線 フイルム7の未感光域に開口部91の透過X線を投影感光させ、同時に先の撮影 の感光域は、X線遮蔽板により遮蔽される。従って本例では、一枚のX線フィル ムを4回のX線撮影に利用することができる。
【0027】 図6(B)は、試料台3上面に載置係止されたX線遮蔽板92は、X線錐の中 心軸に対象に四区画分に相当する大きな開口部が設けられて、その開口部には矩 形の三個のX線遮蔽片93a、93b、93cが摺動可能に嵌め込まれており、 当該X線遮蔽片93a、93b、93cによって覆われない残余の開口部91を 被検試料載置範囲に利用するものである。この例においては、開口部91を覆う ように例えば当該遮蔽片93cを摺動させれば当該遮蔽片93cの元の位置が新 たな開口部91として、被検試料の載置範囲に利用するのであり、この操作を順 次繰り返せば一枚のX線フイルム7を4回のX線撮影に使用できる。
【0028】 図6に示した例では、試料台3の上面の被検試料の載置範囲を四分割するもの であるが、同様に二分割その他の分割も容易になし得る。
【0029】
【考案の効果】
本考案の歯科用鋳造物の非破壊検査のためのX線検査装置は、対向して固定さ れたX線源とX線フィルムカセットとの間を試料台を移動させる移動調節手段が 設けられているから、拡大撮影が容易であり、特に薄肉の鋳造物をX線源に近づ けることにより、鋳造物中の小さな鋳巣を拡大したX線フィルム画像を容易に得 ることができる。
【0030】 また本装置は、照光装置により試料台上面を十字線状に又は、被検試料載置可 能範囲全域を照明して、載置の位置を指示するので被検試料のX線画像がX線フ ィルム等の感光体の感光面から逸脱することがなく、撮影の位置決めが容易とな る。
【0031】 また、X線透過部を有するX線遮蔽板を試料台上面に載置して、X線透過部よ り感光させるX線の範囲を分割するので、1枚の感光体につき、同一の又は異な った被検試料を複数回X線撮影することができ、感光体の節約と、被検試料の位 置決めが容易となり、また作業性も向上する。
【図面の簡単な説明】
【図1】試料台の移動調節の可能な移動調節手段を備え
たX線検査装置の縦断面図。
【図2】X線源とX線フィルムと試料台との関係を示す
図。
【図3】移動調節手段を備えたX線検査装置の内部斜視
図。
【図4】照光装置を備えたX線検査装置の内部斜視図。
【図5】照光装置と鏡体を備えたX線検査装置の図4同
様図(A)と、鏡体の移動機構図(B、C)。
【図6】試料台と、X線遮蔽板との配置関係を示す斜視
図(A、B)。
【符号の説明】
1 装置本体 11 防護壁 2 X線発生器 21 X線源 3 試料台 34 ネジ軸 6 カセットホルダー 7 X線フィルム 71 フィルムカセット 81 照光装置 9 標識 91 X線透過部 92 X線遮蔽板
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成3年11月22日
【手続補正1】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】全図
【補正方法】変更
【補正内容】
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】

Claims (5)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 X線防護が施された撮影箱の内側下部に
    固定されてX線感光体を内蔵したカセットを収容するカ
    セットホルダーと、当該X線感光体の感光面に対向して
    当該撮影箱上部に配置されたX線源と、当該カセットホ
    ルダーとX線源との間に配置されて被検試料を載置する
    試料台と、被検試料を交換するため当該撮影箱に設けら
    れた開閉扉と、から成る歯科用鋳造物のX線検査装置に
    おいて、 上記試料台を当該カセットホルダーとX線源との間で連
    続的にもしくは段階的に移動させる倍率可変用移動調節
    手段が設けられて成ることを特徴とする歯科用鋳造物の
    X線検査装置。
  2. 【請求項2】 上記試料台上面を直交線状にもしくはX
    線照射域全域に光を照射する照光装置が、上記X線源近
    傍に設けられて成る請求項1記載のX線検査装置。
  3. 【請求項3】 上記試料台上面に、X線照射範囲、X線
    照射中心及びX線感光体の投影範囲の少なくともいずれ
    かを表示する標識が添付されている請求項1又は2記載
    のX線検査装置。
  4. 【請求項4】 上記試料台上面の被検試料載置範囲を複
    数に分割するX線透過部を板面上に有するX線遮蔽板が
    当該試料台上面に移動可能に添付されて成る請求項1、
    2、又は3記載のX線検査装置。
  5. 【請求項5】 X線防護が施された撮影箱の内側下部に
    固定されてX線感光体を内蔵したカセットを収容するカ
    セットホルダーと、当該X線感光体の感光面に対向して
    当該撮影箱の上部に配置されたX線源と、当該カセット
    ホルダーとX線源との間に配置されもしくは当該カセッ
    トホルダーと一体に形成されて被検試料を載置する試料
    台と、被検試料を交換する開閉扉と、から成る歯科用鋳
    造物のX線検査装置において、 上記試料台上面を直交線状にもしくはX線照射域の全域
    に光を照射する照光装置が上記X線源近傍に設けられて
    成る歯科鋳造物のX線検査装置。
JP1991095825U 1991-10-25 1991-10-25 歯科用鋳造物x線検査装置 Expired - Lifetime JPH087846Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1991095825U JPH087846Y2 (ja) 1991-10-25 1991-10-25 歯科用鋳造物x線検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1991095825U JPH087846Y2 (ja) 1991-10-25 1991-10-25 歯科用鋳造物x線検査装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0537215U true JPH0537215U (ja) 1993-05-21
JPH087846Y2 JPH087846Y2 (ja) 1996-03-06

Family

ID=14148185

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1991095825U Expired - Lifetime JPH087846Y2 (ja) 1991-10-25 1991-10-25 歯科用鋳造物x線検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH087846Y2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009216537A (ja) * 2008-03-11 2009-09-24 Aloka Co Ltd X線撮影装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6079148U (ja) * 1983-11-07 1985-06-01 朝日レントゲン工業株式会社 歯科用鋳造体x線検査装置
JPH03209117A (ja) * 1990-01-10 1991-09-12 Nippon Steel Corp X線ct装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6079148U (ja) * 1983-11-07 1985-06-01 朝日レントゲン工業株式会社 歯科用鋳造体x線検査装置
JPH03209117A (ja) * 1990-01-10 1991-09-12 Nippon Steel Corp X線ct装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009216537A (ja) * 2008-03-11 2009-09-24 Aloka Co Ltd X線撮影装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPH087846Y2 (ja) 1996-03-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI233655B (en) Reticle and optical characteristic measuring method
US6106152A (en) X-ray exposure system and method for operating same
WO1995014432A1 (en) Alignment method for radiography and radiography apparatus incorporating same
US3476476A (en) Alignment means for photo repeat machine
US1700496A (en) Method of identifying precious stones
US3751170A (en) Method and apparatus for positioning bodies relative to each other
JP2024500621A (ja) 位相コントラストx線撮像システムの視野視覚化
US4659172A (en) Rotatable and translatable mounting mechanism for a specimen pattern in optical processing apparatus
US4358854A (en) Measuring devices for X-ray fluorescence analysis
JPH087846Y2 (ja) 歯科用鋳造物x線検査装置
US4498749A (en) Folded optical large format photomicrographic camera system
US3856398A (en) Apparatus and method for wide area, dark field, high resolution autoradiography
US4092669A (en) Apparatus for measuring spatial data from recorded images
JPH0318352A (ja) X線診断装置
US7933513B2 (en) System for duplicating radiographic film images
US3548730A (en) Reflex camera with binocular focusing and microphotometric control
US3626828A (en) Stereo photomicrography system
NL8902975A (nl) Werkwijze en inrichting voor het onderzoeken van optische stelsels.
Lin et al. A holographic photomask defect inspection system
JPH0724097Y2 (ja) X線検査装置
US5024512A (en) Microfilm reader with microfilm and reticle images provided to each of two binocular eyepieces
US3890044A (en) Camera apparatus
JPH01312405A (ja) 埋設深度測定法
WO1991007703A1 (en) Apparatus for making holograms
US3638549A (en) Photographing system for oscilloscope