JP2006003200A - コンピュータ断層撮影装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 放射線検出器3の分解能が規定する放射線パスの回転に沿った被検体基準の放射線パス方位ψに対し、πを超えて方位が重複するようにTRスキャンし、平行移動位置をtとして、放射線パス方位ψおよび平行移動位置tで記述される透過データP(ψ,t)と方位が同じで向きが逆である透過データP(ψ+π,t)が平行移動位置t上で回転の中心であるtcに対し、互いに対称であることを利用して回転の中心tcを求める。
【選択図】 図1
Description
以下、本発明の第1実施形態について図1、図2を参照して説明する。
θmax=2・atan{N/2・Δξ/FDD} ………(1)
θ0=θmax−2・β ,(θ0>0)(β≧0) ………(2)
(K−1)・θ0+θmax=π+2・α ,(α>0) ………(3)
となるように設定する。ここで、Nはn方向チャンネル数、Δξはチャンネルピッチである。回転に沿った被検体基準のX線パス方位をψとすると、このスキャンで、ψについて、(K−1)・θ0+θmaxの範囲のデータが収集される。そして、ψのデータ範囲の両端部で、2・αだけの重複データを収集するとともに、トランスレート間で2・βの重複データを収集する。ψはチャンネルnとトランスレート番号k、(1〜K)とで決まる。ψはたとえば、式、
θ=atan{(n−nc)・Δξ/FDD} ………(4)
ψ=θ+(k−1)・θ0+θmax/2 ………(5)
で決まる。ここで、(図3を参照して、)ncは中央チャンネルである。θはチャンネルnのX線ビーム内の配置角に相当する。なお、第1実施形態ではトランスレート間の重複はなくてもよい(β=0)。
tc(θ)=tcc−FCD・tanθ ………(6)
で求められる。ここでtccは回転中心Cが中央チャンネルncを横切るt値である。FCDとθが既知であるのでtccが判ればtcが全て判ることになる。
対称性偏差=Σt{|P(α,t)−P(π+α,t’)|}/点数 ……… (7)
で計算する。これは、図6に示すようにtと対称点t’(=2・tcc−t)でのPの差の絶対値をtを変えながら加算し、加算点数で割って平均を取る計算である。一般にt’はデータ点に一致しないので補間計算が必要である。なお、偏差はこれには限られず、標準偏差などでもよい。ここで得られた偏差値はtccとともに記憶する。
tcc={tcc(γ)のγ=−ΓないしΓ間の平均} ………(8)
としてtccを求める。ここで、Γはα以下の角度を選び、平均はγ=0に対し対称な計算点群で行う。対称からずれると誤差の原因となる。
P(α,t)とP(π+α,t)、
P(α+θ0,t)とP(π+α+θ0,t)、
P(α+2・θ0,t)とP(π+α+2・θ0,t)、
…
のように、それぞれで求めることができ、それらのどれかを選ぶか、平均するかで、tccが得られる。なお、iを任意の自然数として、i・π+2・α’のスキャンで同様に回転中心求出できる、ことは容易に理解できる。また、上記で、π差の逆向き経路でtccを求めているが、i’・2・π回転でデータは同じなので、(π+i’・2・π)差の逆向き経路でtccを求めるようにしてもよい。
第2実施形態の構成は、図1、2に示す第1実施形態の構成と同様である。
「P(θ0/2、k、t)とP(−θ0/2、k+1、t)はt方向にずらすと一致する」
ということが言える。ここでkは1ないしK−1である。このずれ量Δgは求めることができる。図11はΔg求出フローチャートである。k=1ないしK−1に対し、図11のフローでそれぞれΔgを求める。
偏差=Σt{|P(θ0/2、k、t)−P(−θ0/2、k+1、t+Δg)|}/点数…(9)
で計算する。これは、Δgずらした互いの差の絶対値の平均を求める計算である。一般にt+Δgはデータ点一致しないので補間計算が必要である。なお、偏差はこれには限られず、標準偏差などでもよい。ここで得られた偏差値はΔgとともに記憶する。
Δg/2=FCD・tan(θ0/2) ………(10)
を用いて、修正されたFCDを求める。このFCDを用いて、式(6)でtc(θ)が全て求められる。再構成は第1実施形態と同様である。
FCD(γ)=Δg(γ)/{tan(θ0/2−γ)+tan(θ0/2+γ)} ………(11)
でFCD(γ)を求め、γ=−ΓないしΓ間で平均してFCDを求める。ここで、Γはβ以下の角度を選ぶ。
第3実施形態の構成は図1、2に示す第1実施形態の構成と同様である。
第3実施形態は、第2実施形態のFCD較正を変更して、機構の往復誤差の較正を含めたものである。t移動の往路と復路で位置誤差Δr(基準位置の誤差)が生じることはよく起こることである。例えば機構にガタがあったような場合にこれが起こる。図12は往復誤差Δrを含む撮影面14上の投影データPで、Kが奇数、5の場合である。この時、Δgには誤差が生じ、各kで求めたずれ量ΔgをそれぞれΔkとすると、
Δ1=Δg+Δr
Δ2=Δg−Δr
Δ3=Δg+Δr ………(12)
Δ4=Δg−Δr
の関係がある。これから未知数であるΔgとΔrを式、
Δg=(Δ1+Δ2+Δ3+Δ4)/4 ………(13)
Δr=(Δ1−Δ2+Δ3−Δ4)/4 ………(14)
で求め、さらに、Δgから式(10)で修正されたFCDを求め、次に、式、
tc(θ)=tcc−FCD・tanθ (k:奇数:1,3,5)
tc(θ)=tcc+Δr−FCD・tanθ (k:偶数:2,4) ………(15)
でtc(θ)を求める。Kが3より大きな任意の奇数の場合、同様にtc(θ)が求められる。図13は往復誤差Δrを含む撮影面14上の投影データPで、Kが偶数、6の場合である。この時、
Δ1=Δg+Δr
Δ2=Δg−Δr
Δ3=Δg+Δr ………(16)
Δ4=Δg−Δr
Δ5=Δg+Δr
の関係がある。これから未知数であるΔgとΔrを(Δ5を使わず)式(13)、(14)で求めるか、あるいは(Δ5も使用して)式、
Δg={(Δ1+Δ3+Δ5)・2+(Δ2+Δ4)・3}/12 ………(17)
Δr={(Δ1+Δ3+Δ5)・2−(Δ2+Δ4)・3}/12 ………(18)
で求め、さらに、Δgから式(10)で修正されたFCDを求め、次に、式、
tc(θ)=tcc−Δr/2−FCD・tanθ (k:奇数:1,3,5)
tc(θ)=tcc+Δr/2−FCD・tanθ (k:偶数:2,4,6)
でtc(θ)を求める。Kが4より大きな任意の奇数の場合、同様にtc(θ)が求められる。以上により、3より大きなKについて、t移動の往復誤差Δrを修正した回転中心tc(θ)が全て求められる。再構成は第1実施形態と同様である。
第3実施形態によれば、第1実施形態の効果に加えて、透過データ自身から、FCDの誤差とt移動の往復誤差を自動調整して回転中心tcを求めることができる。これにより、FCD誤差及び往復誤差によって生じるトランスレート継ぎ目のデータ段差によるアーチファクトを低減することができる。
第3実施形態では、断面像を得るためのTRスキャン自身のデータから回転中心tcを求めているが、回転中心求出専用のTRスキャン(専用TRスキャン)を行ってもよい。この専用TRスキャンはトランスレートを省いて行うもので、たとえば、1回目、2回目、3回目とK回目のトランスレートのみを行う。1回目とK回目からtccが求まり、1回目、2回目、3回目からΔg、Δrが求まるので、tcが求出できる。1回目とK回目以外のトランスレートの組み合わせは、Δg、Δrが求まればよいので、他にも色々な組み合わせが可能である。なお、専用TRスキャンは、断面像を撮るときと異なるθ0、α、β、Kを用いてもよい。
第4実施形態の構成は図1、2に示す第1実施形態の構成と同様である。
第5実施形態の構成は、図1、2に示す第1実施形態の構成と同様であるが、機構部12にFCD、FDD可変機構を追加した点が異なる。FCD、FDDはデータ処理部19に変更指示を入力することで、機構制御部(図示省略)を介して変更することができる。
Claims (5)
- 放射線源と、被検体を透過した放射線ビームを検出する放射線検出器と、該被検体と該放射線ビームとに相対回転を与える回転手段と、該被検体と該放射線ビームとに相対平行移動を与える平行移動手段と、この平行移動手段による平行移動と前記回転手段によるステップ回転を交互に繰り返すTRスキャンの間に、前記放射線検出器によって複数の位置で検出された前記被検体の透過データから前記被検体の断面像を得るコンピュータ断層撮影装置であって、
前記放射線検出器の分解能が規定する放射線パスの前記回転手段による回転に沿った被検体基準の放射線パス方位ψに対し、πを超えて方位が重複するようにTRスキャンするスキャン制御手段と、
前記平行移動位置をtとして、前記放射線パス方位ψおよび前記平行移動位置tで記述される透過データP(ψ,t)と方位が同じで向きが逆である透過データP(ψ+π,t)が前記平行移動位置t上で前記回転手段による回転の中心であるtcに対し、互いに対称であることを利用して前記回転の中心tcを求める回転中心求出手段と、
を有することを特徴とするコンピュータ断層撮影装置。 - 請求項1記載のコンピュータ断層撮影装置であって、
前記スキャン制御手段は、前記回転手段による回転に沿った測定する前記放射線ビームの広がり角θmaxより小さな前記ステップ回転の角度θ0でTRスキャンし、前記回転中心求出手段は、角度θmaxとθ0との差により、前記放射線パス方位ψに対し重複が生じる前記透過データの重複部において、透過データP(ψ,t)が同じになることにより、前記回転中心tcを求めることを特徴とするコンピュータ断層撮影装置。 - 請求項1または2に記載のコンピュータ断層撮影装置であって、
前記放射線ビームはコーン状、前記放射線検出器は2次元分解能であることを特徴とするコンピュータ断層撮影装置。 - 請求項1乃至3のいずれか1項に記載のコンピュータ断層撮影装置であって、
前記放射線ビームの焦点と前記回転軸との最小距離を、被検体の大きさに応じて変更する最小距離変更手段を、さらに有することを特徴とするコンピュータ断層撮影装置。 - 請求項1乃至4記載のいずれか1項に記載のコンピュータ断層撮影装置であって、
前記放射線ビームの焦点と前記放射線検出器間の距離を変更する距離変更手段と、
前記距離変更手段よって変更される距離に応じて、前記ステップ回転の角度を自動的に変更するスキャン制御手段と、
をさらに有することを特徴とするコンピュータ断層撮影装置。
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Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008064758A (ja) * | 2006-09-06 | 2008-03-21 | Yxlon Internatl X-Ray Gmbh | X線ct検査装置及びct検査方法 |
WO2008038176A1 (en) * | 2006-09-25 | 2008-04-03 | Koninklijke Philips Electronics N. V. | Shifting an object for complete trajectories in rotational x-ray imaging |
JP2019027839A (ja) * | 2017-07-27 | 2019-02-21 | 国立大学法人東北大学 | 放射線画像生成装置及び放射線画像生成方法 |
JP2021043014A (ja) * | 2019-09-09 | 2021-03-18 | 株式会社ミツトヨ | X線計測装置の校正方法 |
JP2021043046A (ja) * | 2019-09-10 | 2021-03-18 | 株式会社ミツトヨ | X線計測装置の校正方法 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4733484B2 (ja) * | 2005-09-13 | 2011-07-27 | 東芝Itコントロールシステム株式会社 | コンピュータ断層撮影装置 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09325185A (ja) * | 1996-06-03 | 1997-12-16 | Toshiba Fa Syst Eng Kk | 放射線検出器とその製造方法と透視検査装置とctスキャナ |
JP2000298105A (ja) * | 1999-04-14 | 2000-10-24 | Toshiba Fa Syst Eng Corp | コンピュータ断層撮影装置 |
JP2002062268A (ja) * | 2000-08-24 | 2002-02-28 | Toshiba Fa Syst Eng Corp | コンピュータ断層撮影装置 |
JP2004037267A (ja) * | 2002-07-03 | 2004-02-05 | Shimadzu Corp | コンピュータ断層撮影装置 |
JP2004061256A (ja) * | 2002-07-29 | 2004-02-26 | Shimadzu Corp | コンピュータ断層撮影装置 |
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Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09325185A (ja) * | 1996-06-03 | 1997-12-16 | Toshiba Fa Syst Eng Kk | 放射線検出器とその製造方法と透視検査装置とctスキャナ |
JP2000298105A (ja) * | 1999-04-14 | 2000-10-24 | Toshiba Fa Syst Eng Corp | コンピュータ断層撮影装置 |
JP2002062268A (ja) * | 2000-08-24 | 2002-02-28 | Toshiba Fa Syst Eng Corp | コンピュータ断層撮影装置 |
JP2004037267A (ja) * | 2002-07-03 | 2004-02-05 | Shimadzu Corp | コンピュータ断層撮影装置 |
JP2004061256A (ja) * | 2002-07-29 | 2004-02-26 | Shimadzu Corp | コンピュータ断層撮影装置 |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008064758A (ja) * | 2006-09-06 | 2008-03-21 | Yxlon Internatl X-Ray Gmbh | X線ct検査装置及びct検査方法 |
WO2008038176A1 (en) * | 2006-09-25 | 2008-04-03 | Koninklijke Philips Electronics N. V. | Shifting an object for complete trajectories in rotational x-ray imaging |
US8045677B2 (en) | 2006-09-25 | 2011-10-25 | Koninklijke Philips Electronics N V Eindhoven | Shifting an object for complete trajectories in rotational X-ray imaging |
JP2019027839A (ja) * | 2017-07-27 | 2019-02-21 | 国立大学法人東北大学 | 放射線画像生成装置及び放射線画像生成方法 |
JP2021043014A (ja) * | 2019-09-09 | 2021-03-18 | 株式会社ミツトヨ | X線計測装置の校正方法 |
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