JP4433796B2 - 基板上パターン層の製造方法 - Google Patents
基板上パターン層の製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4433796B2 JP4433796B2 JP2003536803A JP2003536803A JP4433796B2 JP 4433796 B2 JP4433796 B2 JP 4433796B2 JP 2003536803 A JP2003536803 A JP 2003536803A JP 2003536803 A JP2003536803 A JP 2003536803A JP 4433796 B2 JP4433796 B2 JP 4433796B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- deposit
- substrate
- liquid
- deposits
- liquid material
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05B—ELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
- H05B33/00—Electroluminescent light sources
- H05B33/10—Apparatus or processes specially adapted to the manufacture of electroluminescent light sources
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
- G02B6/10—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings of the optical waveguide type
- G02B6/12—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings of the optical waveguide type of the integrated circuit kind
- G02B6/13—Integrated optical circuits characterised by the manufacturing method
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K71/00—Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
- H10K71/60—Forming conductive regions or layers, e.g. electrodes
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/10—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern
- H05K3/12—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using thick film techniques, e.g. printing techniques to apply the conductive material or similar techniques for applying conductive paste or ink patterns
- H05K3/1241—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using thick film techniques, e.g. printing techniques to apply the conductive material or similar techniques for applying conductive paste or ink patterns by ink-jet printing or drawing by dispensing
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K71/00—Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
- H10K71/10—Deposition of organic active material
- H10K71/12—Deposition of organic active material using liquid deposition, e.g. spin coating
- H10K71/13—Deposition of organic active material using liquid deposition, e.g. spin coating using printing techniques, e.g. ink-jet printing or screen printing
- H10K71/135—Deposition of organic active material using liquid deposition, e.g. spin coating using printing techniques, e.g. ink-jet printing or screen printing using ink-jet printing
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K85/00—Organic materials used in the body or electrodes of devices covered by this subclass
- H10K85/10—Organic polymers or oligomers
- H10K85/111—Organic polymers or oligomers comprising aromatic, heteroaromatic, or aryl chains, e.g. polyaniline, polyphenylene or polyphenylene vinylene
- H10K85/113—Heteroaromatic compounds comprising sulfur or selene, e.g. polythiophene
- H10K85/1135—Polyethylene dioxythiophene [PEDOT]; Derivatives thereof
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Thin Film Transistor (AREA)
- Application Of Or Painting With Fluid Materials (AREA)
- Electrodes Of Semiconductors (AREA)
- Gas-Filled Discharge Tubes (AREA)
- Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
Description
また、上記の本発明の一つは、第一の液状材料の複数の液滴を第一の堆積物として基板上に堆積する工程と、前記第一の液状材料と互いに不混和性の第二の液状材料の複数の液滴を、前記第一の材料が液状である期間に、前記第一の材料と接触するように、第二の堆積物として基板上に堆積する工程と、前記堆積した液状材料の内の少なくとも一つから、固形堆積物を前記基板上に形成する工程と、前記第二の液状材料と互いに不混和性の液状材料の複数の液滴を、第三の堆積物として、前記第一との間に所定の隙間が設けられると共に、その隙間に前記第二の堆積物が前記第一及び当該第三の堆積物と重なって付与されるように、前記基板上に堆積する工程と、を有する基板上パターンの形成方法である。
本発明の一つの特徴としては、以下の工程を有する基板上パターン層の製造方法が提供される。即ち、第一の液状材料の複数の液滴を、第一の堆積物として基板上に堆積する工程と、第一の液状材料とは互いに不混和性の第二の液状材料の複数の液滴を、第二の堆積物として、第一の材料が液状である期間に第一の材料と接触するように、基板上に堆積する工程と、上記の液状材料の内の少なくとも一つから固形堆積物を基板上に生成する工程とである。
γLGCOSθ=γSG−γSL
(a)ノズル間の物理的距離
(b)二つのヘッドの走査方向における相互オフセット角
(c)液滴の堆積(発射)間隔
(a)堆積した液体からの界面上へのイオンの選択的な吸着
(b)一方の液体から他方の液体へのイオンの拡散
(c)界面への双極性分子の吸着又は配向
(d)仕事関数の相違に起因する二液体間における電子移動
2 ポリイミド細線
3、4 エッチング除去領域
5 ソース領域
6 ドレイン領域
7 インク液滴
8 半導体層
9 絶縁体層
10 ゲート電極
11 ヘッド
12 方向
13 乾燥装置
15 第一の線状堆積物
16 第二の線状堆積物
17 第三の細線
17a 導電性の細線
18 ギャップ(堆積物)
19、20 堆積物
91 画素電極
92 ソース電極
93 ドレイン電極
94 ゲート電極
95 データ線
96 ゲート線
160、170 堆積物
180 境界平面
Claims (35)
- 第一の液状材料の複数の液滴を第一の堆積物として基板上に堆積する工程と、
前記第一の液状材料と互いに不混和性の第二の液状材料の複数の液滴を、前記第一の材料が液状である期間に、前記第一の材料と接触するように、第二の堆積物として基板上に堆積する工程と、
を含み、
前記第一の堆積物は、前記第二の堆積物が前記第一の堆積物の方向へ広がることを阻止するように領域画定用堆積物として働き、
前記第二の堆積物が目的堆積物として働き、
前記第二の堆積物から、固形堆積物を前記基板上に形成する工程とを有する、基板上パターンの形成方法。 - 請求項1記載の方法において、
前記第一の堆積物および前記第二の堆積物は線状であり、
前記第一の堆積物と前記第二の堆積物との間の界面は平坦であり、
前記固形堆積物のエッジは前記第一の堆積物によって規定されていることを特徴とする基板上パターンの形成方法。 - 第一の液状材料の複数の液滴を第一の堆積物として基板上に堆積する工程と、
前記第一の液状材料と互いに不混和性の第二の液状材料の複数の液滴を、前記第一の材料が液状である期間に、前記第一の材料と接触するように、第二の堆積物として基板上に堆積する工程と、
前記堆積した液状材料の内の少なくとも一つから、固形堆積物を前記基板上に形成する工程と、
前記第二の液状材料と互いに不混和性の液状材料の複数の液滴を、第三の堆積物として、前記第一との間に所定の隙間が設けられると共に、その隙間に前記第二の堆積物が前記第一及び当該第三の堆積物と重なって付与されるように、前記基板上に堆積する工程と、を有する基板上パターンの形成方法。 - 請求項3記載の方法において、前記固形堆積物は前記第二の液状材料から生成される方法。
- 請求項1記載の方法において、
前記第一の液状材料と互いに不混和性の液状材料の複数の液滴を、第三の堆積物として、前記第一の材料が液状である期間に、前記第一の材料と接触するとともに、前記第二の材料との間に前記第一の堆積物を受容する所定の隙間が設けられるように、前記基板上に堆積する工程を更に有する方法。 - 請求項5記載の方法において、前記固形堆積物は前記第二及び前記第三の液状材料から生成される方法。
- 請求項1乃至6の何れか一に記載の方法において、前記第一、前記第二、及び前記第三の堆積物の少なくとも一の前記複数の液滴を、インクジェット印刷法を用いて堆積する方法。
- 請求項1乃至7の何れか一に記載の方法において、少なくとも一の前記堆積物は、懸濁質又は溶質を有し、前記固形堆積物は当該懸濁質又は溶質の材料によって形成される方法。
- 請求項1乃至8の何れか一に記載の方法において、前記固形堆積物は少なくとも一の前記液状材料の固形化により形成される方法。
- 請求項8又は9記載の方法において、前記固形堆積物は電気伝導性を有する方法。
- 請求項4に従属する請求項10に記載の方法において、前記第一及び前記第三の堆積物は領域画定用堆積物であり、前記第二の堆積物は電気伝導性材料を有する目的堆積物である方法。
- 請求項6に従属する請求項10に記載の方法において、前記第一及び前記第三の堆積物は電気伝導性材料を有する目的堆積物であり、前記第二の堆積物は間隔形成用堆積物である方法。
- 請求項11又は12記載の方法において、前記電気伝導性材料は、例えばAu、Ag、Cu、Pt、P b 又はA l 微粒子等の金属微粒子の懸濁質である方法。
- 請求項13記載の方法において、前記懸濁質は無極性有機溶媒中に存在する方法。
- 請求項14記載の方法において、前記第一及び第三の堆積物は水又は極性有機溶媒を有する方法。
- 請求項11又は12記載の方法において、前記電気伝導性材料は、導電性高分子である方法。
- 請求項16記載の方法において、前記高分子はポリ(3,4−エチレンジオキシチオフェン)、その誘導体、ポリアニリン、又はその誘導体である方法。
- 請求項16又は17記載の方法において、前記第二の堆積物は無極性有機溶媒を有する方法。
- 請求項18記載の方法において、前記第二の堆積物の前記溶媒は高分子の溶質を有する方法。
- ソース電極及びドレイン電極が、請求項12,16乃至19の何れか一に記載の前記第一及び前記第三の堆積物から形成される、薄膜トランジスタの製造方法。
- 請求項20記載の方法において、そのチャネル長が50μmより短い方法。
- 請求項21記載の方法において、前記チャネル長が実質的に10μmである方法。
- データ線又は信号線が、請求項11及び13乃至15の何れか一に記載の前記第二の堆積物として形成される、集積回路の製造方法。
- 請求項23記載の方法において、前記データ線又は前記信号線の幅が50μmより狭い方法。
- 請求項24記載の方法において、前記幅が実質的に10μmである方法。
- その薄膜トランジスタが請求項20乃至22の何れか一によって製造される、アクティブマトリクスTFTアレイの製造方法。
- 請求項26記載の方法において、信号線又はデータ線が請求項23乃至25の何れか一によって製造される方法。
- 請求項26又は27に記載の方法において、その画素電極がインクジェット印刷法によって製造される方法。
- 請求項1乃至9の何れか一に記載の方法において、何れの堆積物も電気伝導性を有しない方法。
- 導光路の製造方法であって、当該導光路が、請求項3に従属する請求項29に記載の方法による、前記第二の堆積物として製造される方法。
- 請求項30記載の方法において、前記第二の堆積物が高分子を有する方法。
- プラズマディスプレイパネルのセパレータの製造方法であって、壁構造が、請求項3に従属する請求項29に記載の方法による、前記第二の堆積物として製造される方法。
- 請求項32記載の方法において、前記第二の堆積物が無機のコロイドを有する方法。
- 請求項32記載の方法において、前記第三の領域が高分子を有する方法。
- 請求項1乃至34の何れか一に記載の方法において、前記堆積物の全てが線状に堆積する方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB0120230A GB2379083A (en) | 2001-08-20 | 2001-08-20 | Inkjet printing on a substrate using two immiscible liquids |
PCT/IB2002/005807 WO2003034130A2 (en) | 2001-08-20 | 2002-08-20 | Methods of fabricating patterned layers on a substrate |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005505420A JP2005505420A (ja) | 2005-02-24 |
JP4433796B2 true JP4433796B2 (ja) | 2010-03-17 |
Family
ID=9920681
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003536803A Expired - Fee Related JP4433796B2 (ja) | 2001-08-20 | 2002-08-20 | 基板上パターン層の製造方法 |
Country Status (9)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7364996B2 (ja) |
EP (1) | EP1451018A2 (ja) |
JP (1) | JP4433796B2 (ja) |
KR (1) | KR100832808B1 (ja) |
CN (1) | CN1286666C (ja) |
AU (1) | AU2002358928A1 (ja) |
GB (1) | GB2379083A (ja) |
TW (1) | TW589665B (ja) |
WO (1) | WO2003034130A2 (ja) |
Families Citing this family (59)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB0030095D0 (en) * | 2000-12-09 | 2001-01-24 | Xaar Technology Ltd | Method of ink jet printing |
JP2005524224A (ja) * | 2002-04-26 | 2005-08-11 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | アクティブマトリクスディスプレイ装置 |
EP1434281A3 (en) * | 2002-12-26 | 2007-10-24 | Konica Minolta Holdings, Inc. | Manufacturing method of thin-film transistor, thin-film transistor sheet, and electric circuit |
US7183146B2 (en) * | 2003-01-17 | 2007-02-27 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method of manufacturing semiconductor device |
US7405033B2 (en) * | 2003-01-17 | 2008-07-29 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method for manufacturing resist pattern and method for manufacturing semiconductor device |
JP4869601B2 (ja) | 2003-03-26 | 2012-02-08 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置および半導体装置の作製方法 |
JP3823981B2 (ja) * | 2003-05-12 | 2006-09-20 | セイコーエプソン株式会社 | パターンと配線パターン形成方法、デバイスとその製造方法、電気光学装置、電子機器及びアクティブマトリクス基板の製造方法 |
US7192859B2 (en) * | 2003-05-16 | 2007-03-20 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method of manufacturing semiconductor device and display device |
US6969166B2 (en) | 2003-05-29 | 2005-11-29 | 3M Innovative Properties Company | Method for modifying the surface of a substrate |
JP4570340B2 (ja) * | 2003-07-31 | 2010-10-27 | 京セラ株式会社 | 塗装方法、塗装部材および電子機器 |
US7354808B2 (en) * | 2003-08-15 | 2008-04-08 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Resist composition and method for manufacturing semiconductor device using the same |
JP4712332B2 (ja) * | 2003-08-28 | 2011-06-29 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 薄膜トランジスタの作製方法 |
CN1842745B (zh) * | 2003-08-28 | 2013-03-27 | 株式会社半导体能源研究所 | 薄膜晶体管、薄膜晶体管的制造方法、以及显示器件的制造方法 |
DE602004027852D1 (de) * | 2003-09-02 | 2010-08-05 | Pixdro Ltd | System zur Schaffung feiner Linien mittels Tintenstrahltechnologie |
GB0324189D0 (en) * | 2003-10-16 | 2003-11-19 | Univ Cambridge Tech | Short-channel transistors |
CN100483632C (zh) | 2003-10-28 | 2009-04-29 | 株式会社半导体能源研究所 | 用于制造半导体器件的方法 |
KR101002332B1 (ko) * | 2003-12-30 | 2010-12-17 | 엘지디스플레이 주식회사 | 액정표시소자 및 그 제조방법 |
US7494923B2 (en) | 2004-06-14 | 2009-02-24 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Manufacturing method of wiring substrate and semiconductor device |
US20060022174A1 (en) * | 2004-07-27 | 2006-02-02 | General Electric Company | Electroactive chemical composition and method of coating |
EP1622212B1 (en) | 2004-07-29 | 2010-04-21 | Konarka Technologies, Inc. | Process for coating nanostructured electrodes |
JP2006035173A (ja) * | 2004-07-29 | 2006-02-09 | Sharp Corp | インクジェット装置およびパターン修正装置 |
JP4992427B2 (ja) * | 2004-09-22 | 2012-08-08 | コニカミノルタホールディングス株式会社 | 薄膜トランジスタ |
KR101219035B1 (ko) * | 2005-05-03 | 2013-01-07 | 삼성디스플레이 주식회사 | 유기 박막 트랜지스터 표시판 및 그 제조 방법 |
US7670882B2 (en) * | 2005-04-05 | 2010-03-02 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Electronic device fabrication |
US7510951B2 (en) | 2005-05-12 | 2009-03-31 | Lg Chem, Ltd. | Method for forming high-resolution pattern with direct writing means |
KR100833017B1 (ko) * | 2005-05-12 | 2008-05-27 | 주식회사 엘지화학 | 직접 패턴법을 이용한 고해상도 패턴형성방법 |
JP4860980B2 (ja) | 2005-10-20 | 2012-01-25 | ローム株式会社 | モータ駆動回路およびそれを用いたディスク装置 |
US7365022B2 (en) * | 2006-01-20 | 2008-04-29 | Palo Alto Research Center Incorporated | Additive printed mask process and structures produced thereby |
JP4565573B2 (ja) * | 2006-09-07 | 2010-10-20 | 株式会社フューチャービジョン | 液晶表示パネルの製造方法 |
JP5098325B2 (ja) * | 2006-12-21 | 2012-12-12 | セイコーエプソン株式会社 | トランジスタ、トランジスタの製造方法、電子デバイスおよび電子機器 |
DE102007001953B4 (de) | 2007-01-10 | 2009-12-31 | Technische Universität Chemnitz | Mikrostrukturierter Film, Verfahren zu seiner Herstellung und seine Verwendung |
US8821799B2 (en) | 2007-01-26 | 2014-09-02 | Palo Alto Research Center Incorporated | Method and system implementing spatially modulated excitation or emission for particle characterization with enhanced sensitivity |
US9164037B2 (en) | 2007-01-26 | 2015-10-20 | Palo Alto Research Center Incorporated | Method and system for evaluation of signals received from spatially modulated excitation and emission to accurately determine particle positions and distances |
KR20080081605A (ko) * | 2007-03-06 | 2008-09-10 | 삼성전자주식회사 | 절연 모기판에 얼라인 마크를 형성하는 단계를 포함하는액정 표시 장치의 제조 방법 |
GB2447509A (en) * | 2007-03-16 | 2008-09-17 | Seiko Epson Corp | Pattern for Inkjet TFT circuit development |
JP5023764B2 (ja) * | 2007-03-30 | 2012-09-12 | ブラザー工業株式会社 | パターン形成方法及びパターン形成装置。 |
DE102007029445A1 (de) | 2007-06-22 | 2008-12-24 | Werner A. Goedel | Verfahren zur Darstellung hierarchisch strukturierter Filme mittels Inkjet-Druck |
US8551556B2 (en) * | 2007-11-20 | 2013-10-08 | Palo Alto Research Center Incorporated | Method for obtaining controlled sidewall profile in print-patterned structures |
US8629981B2 (en) | 2008-02-01 | 2014-01-14 | Palo Alto Research Center Incorporated | Analyzers with time variation based on color-coded spatial modulation |
US8373860B2 (en) | 2008-02-01 | 2013-02-12 | Palo Alto Research Center Incorporated | Transmitting/reflecting emanating light with time variation |
JP5319769B2 (ja) * | 2008-06-30 | 2013-10-16 | スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー | パターン形成された基板の形成方法 |
FR2958561B1 (fr) * | 2010-04-08 | 2012-05-04 | Commissariat Energie Atomique | Procede de fabrication de deux zones adjacentes en materiaux differents |
JP5600662B2 (ja) * | 2010-12-15 | 2014-10-01 | 日本特殊陶業株式会社 | 伝導体パターンの形成方法 |
CN102222770B (zh) * | 2011-06-17 | 2012-12-19 | 华中科技大学 | 一种小线宽沟道的制备方法及其应用 |
US9029800B2 (en) | 2011-08-09 | 2015-05-12 | Palo Alto Research Center Incorporated | Compact analyzer with spatial modulation and multiple intensity modulated excitation sources |
US8723140B2 (en) | 2011-08-09 | 2014-05-13 | Palo Alto Research Center Incorporated | Particle analyzer with spatial modulation and long lifetime bioprobes |
JP5529835B2 (ja) * | 2011-11-22 | 2014-06-25 | 富士フイルム株式会社 | 導電性パターン形成方法及び導電性パターン形成システム |
US9093475B2 (en) * | 2012-03-28 | 2015-07-28 | Sharp Laboratories Of America, Inc | Thin film transistor short channel patterning by substrate surface energy manipulation |
US8796083B2 (en) * | 2012-05-15 | 2014-08-05 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Fluoropolymer mask for transistor channel definition |
FR2996163B1 (fr) * | 2012-10-03 | 2016-02-05 | Essilor Int | Procede d'impression d'un motif par jet d'encre sur une surface |
WO2014162287A2 (en) * | 2013-04-06 | 2014-10-09 | Indian Institute Of Technology Kanpur | Organic thin film transistors and methods for their manufacturing and use |
KR102353254B1 (ko) | 2014-08-07 | 2022-01-18 | 오르보테크 엘티디. | 리프트 인쇄 시스템 |
WO2016063270A1 (en) | 2014-10-19 | 2016-04-28 | Orbotech Ltd. | Llift printing of conductive traces onto a semiconductor substrate |
KR102282860B1 (ko) | 2015-01-19 | 2021-07-28 | 오르보테크 엘티디. | 희생 지지부를 가진 3차원 금속 구조물의 프린팅 |
US10471538B2 (en) | 2015-07-09 | 2019-11-12 | Orbotech Ltd. | Control of lift ejection angle |
KR101682527B1 (ko) | 2015-10-03 | 2016-12-06 | (주)마이크로텍시스템 | 박형 햅틱 모듈을 이용한 마우스 겸용 터치 키패드 |
KR102546450B1 (ko) | 2015-11-22 | 2023-06-21 | 오르보테크 엘티디. | 프린팅된 3-차원 구조들의 표면 특성들의 제어 |
TW201901887A (zh) | 2017-05-24 | 2019-01-01 | 以色列商奧寶科技股份有限公司 | 於未事先圖樣化基板上電器互連電路元件 |
CN113448173B (zh) * | 2020-05-25 | 2022-03-01 | 重庆康佳光电技术研究院有限公司 | 一种涂布方法和涂布系统 |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB406933A (en) * | 1933-08-31 | 1934-03-08 | Shellmar Products Co | Improvements in or relating to methods of printing |
US5132248A (en) * | 1988-05-31 | 1992-07-21 | The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy | Direct write with microelectronic circuit fabrication |
FR2674033B1 (fr) * | 1991-03-14 | 1993-07-23 | Corning Inc | Composant optique integre a liaison entre un guide d'onde integre et une fibre optique, fonctionnant dans un large domaine de temperature. |
EP0736890B1 (en) * | 1995-04-04 | 2002-07-31 | Canon Kabushiki Kaisha | Metal-containing compostition for forming electron-emitting device and methods of manufacturing electron-emitting device, electron source and image-forming apparatus |
US6180297B1 (en) * | 1995-05-01 | 2001-01-30 | Xerox Corporation | Migration imaging process |
US5736074A (en) * | 1995-06-30 | 1998-04-07 | Micro Fab Technologies, Inc. | Manufacture of coated spheres |
JP2917897B2 (ja) * | 1996-03-29 | 1999-07-12 | 日本電気株式会社 | 半導体装置の製造方法 |
JP3899566B2 (ja) | 1996-11-25 | 2007-03-28 | セイコーエプソン株式会社 | 有機el表示装置の製造方法 |
JPH10268338A (ja) * | 1997-01-23 | 1998-10-09 | Toshiba Corp | 液晶表示装置およびその製造方法 |
JPH11286105A (ja) * | 1998-04-01 | 1999-10-19 | Sony Corp | 記録方法及び記録装置 |
WO2001008242A1 (en) * | 1999-07-21 | 2001-02-01 | E Ink Corporation | Preferred methods for producing electrical circuit elements used to control an electronic display |
CN1245769C (zh) * | 1999-12-21 | 2006-03-15 | 造型逻辑有限公司 | 溶液加工 |
CN100483774C (zh) | 1999-12-21 | 2009-04-29 | 造型逻辑有限公司 | 半导体器件及其形成方法 |
US6599775B2 (en) * | 2001-05-18 | 2003-07-29 | Advanpack Solutions Pte Ltd | Method for forming a flip chip semiconductor package, a semiconductor package formed thereby, and a substrate therefor |
-
2001
- 2001-08-20 GB GB0120230A patent/GB2379083A/en not_active Withdrawn
-
2002
- 2002-08-15 TW TW091118426A patent/TW589665B/zh not_active IP Right Cessation
- 2002-08-20 AU AU2002358928A patent/AU2002358928A1/en not_active Abandoned
- 2002-08-20 CN CNB028163192A patent/CN1286666C/zh not_active Expired - Fee Related
- 2002-08-20 EP EP02793272A patent/EP1451018A2/en not_active Withdrawn
- 2002-08-20 KR KR1020047001614A patent/KR100832808B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2002-08-20 WO PCT/IB2002/005807 patent/WO2003034130A2/en active Application Filing
- 2002-08-20 JP JP2003536803A patent/JP4433796B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2002-08-20 US US10/482,297 patent/US7364996B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
AU2002358928A1 (en) | 2003-04-28 |
JP2005505420A (ja) | 2005-02-24 |
KR100832808B1 (ko) | 2008-05-27 |
US20040253835A1 (en) | 2004-12-16 |
TW589665B (en) | 2004-06-01 |
GB2379083A (en) | 2003-02-26 |
KR20040028972A (ko) | 2004-04-03 |
CN1545453A (zh) | 2004-11-10 |
US7364996B2 (en) | 2008-04-29 |
WO2003034130A3 (en) | 2004-06-03 |
WO2003034130A2 (en) | 2003-04-24 |
CN1286666C (zh) | 2006-11-29 |
EP1451018A2 (en) | 2004-09-01 |
GB0120230D0 (en) | 2001-10-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4433796B2 (ja) | 基板上パターン層の製造方法 | |
JP5060695B2 (ja) | 電子素子配列から電子回路を構成する方法および該方法により形成される電子回路 | |
JP5073141B2 (ja) | 内部接続の形成方法 | |
US7582509B2 (en) | Micro-embossing fabrication of electronic devices | |
JP5014547B2 (ja) | 電子スイッチング素子またはトランジスタの電極を基板上に形成する方法 | |
KR101186966B1 (ko) | 유기 트랜지스터를 제조하기 위한 자체-정렬 공정 | |
JP4713818B2 (ja) | 有機トランジスタの製造方法、及び有機el表示装置の製造方法 | |
US7709306B2 (en) | Active layer island | |
JP6115008B2 (ja) | 配線部材、および、電子素子の製造方法と、それを用いた配線部材、積層配線、電子素子、電子素子アレイ及び表示装置。 | |
TW200933560A (en) | Active matrix substrate and electronic display device | |
JP2012156543A (ja) | ポリマー薄膜における自己整合ビアホールの形成 | |
CA2514133C (en) | Reverse printing | |
EP1629525B1 (en) | A structure for a semiconductor arrangement and a method of manufacturing a semiconductor arrangement | |
Kawase et al. | All-polymer thin film transistors fabricated by inkjet printing | |
US20080119011A1 (en) | Method of film coating and device manufactured thereby | |
US20040175963A1 (en) | Production of electronic devices by solution processing | |
US9093475B2 (en) | Thin film transistor short channel patterning by substrate surface energy manipulation |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20040420 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070320 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20070521 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090609 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090807 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090807 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20091208 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20091221 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4433796 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130108 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130108 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140108 Year of fee payment: 4 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |