JP4402418B2 - 露光装置およびデバイス製造方法 - Google Patents
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基板を保持して移動する基板ステージと、
前記原版のパターンの一部を前記基板上に投影する投影光学系と、
前記投影光学系に対してスキャン方向に離れて配置され、かつ、前記投影光学系に対して対称に配置されたアライメントスコープユニットを有し、各アライメントスコープユニットが、前記基板の露光領域に付随する複数のアライメントマークであって、スキャン方向と同列に複数存在し、かつ、スキャン方向と直交する方向の列に複数存在する複数のアライメントマークのアライメント計測を同時に行うアライメント計測手段と、
前記各アライメントスコープユニットによるアライメント計測結果に基づいて、前記原版のパターンが前記投影光学系を介して前記基板にスキャン露光されるように、前記基板ステージの移動を制御する制御手段と、を備え、
前記制御手段は、前記基板ステージが静止している状態から所定の加速距離および整定距離を移動した後に前記基板の露光領域が露光されるように、前記基板ステージの移動を制御し、
前記各アライメントスコープユニットは、前記投影光学系から前記加速距離と前記整定距離の和だけ離れて配置されることを特徴とする。
図8は液晶パネルの製造のフローチャートである。ステップ1(アレイ設計工程)では液晶アレイの回路設計を行なう。ステップ2(マスク製造工程)では設計した回路パターンを形成したマスクを製作する。
一方、ステップ3(基板製造工程)ではガラス基板を製造する。ステップ4(アレイ製造工程)は所謂「前工程」と呼ばれ、前記用意したマスクとガラス基板とを用いてリソグラフィ技術によってガラス基板上に実際のアレイ回路を形成する。
次のステップ5(パネル製造工程)は所謂「後工程」と呼ばれ、別途の工程で製造されているカラーフィルタと張合わされた後周辺部を封止され、液晶が注入される工程である。ステップ6(検査工程)ではステップ5のあとで、タブやバックライト組み立てがされ、エージングが加えられた液晶パネルモジュールの動作確認テスト、耐久性テスト等の検査を行なう。こうした工程を経て液晶パネルが完成し、これがステップ7(出荷)される。
ステップ15(現像工程)では露光したガラス基板を現像する。ステップ16(エッチング工程)では現像したレジスト以外の部分を削り取る。ステップ17(レジスト剥離工程)ではエッチングがすんで不要となったレジストを取り除く。これらのステップを繰り返し行なうことによってウエハ上に多重に回路パターンが形成される。
尚本実施例の製造方法を用いれば高精度な液晶パネルを容易に製造することができる。
1b ミラー
1c 集光レンズ
1d ミラー
2 アライメントスコープ
3 マスク
3a マスクステージ
3b 基準プレート
4 投影光学系
4a 露光領域
5 基板
5a 露光領域
5b アライメントマーク
5c 次の露光領域
6 オフアクシスアライメントスコープ
6a 照明手段
6b 光学手段
6c 撮像手段
7 基板ステージ
7a 基準マーク
8 基板ステージ定盤
9 画像処理装置
10 制御装置
Claims (6)
- 原版を保持して移動する原版ステージと、
基板を保持して移動する基板ステージと、
前記原版のパターンの一部を前記基板上に投影する投影光学系と、
前記投影光学系に対してスキャン方向に離れて配置され、かつ、前記投影光学系に対して対称に配置されたアライメントスコープユニットを有し、各アライメントスコープユニットが、前記基板の露光領域に付随する複数のアライメントマークであって、スキャン方向と同列に複数存在し、かつ、スキャン方向と直交する方向の列に複数存在する複数のアライメントマークのアライメント計測を同時に行うアライメント計測手段と、
前記各アライメントスコープユニットによるアライメント計測結果に基づいて、前記原版のパターンが前記投影光学系を介して前記基板にスキャン露光されるように、前記基板ステージの移動を制御する制御手段と、を備え、
前記制御手段は、前記基板ステージが静止している状態から所定の加速距離および整定距離を移動した後に前記基板の露光領域が露光されるように、前記基板ステージの移動を制御し、
前記各アライメントスコープユニットは、前記投影光学系から前記加速距離と前記整定距離の和だけ離れて配置されることを特徴とする露光装置。 - 前記各アライメントスコープユニットは、前記露光領域に付随する複数のアライメントマークをそれぞれ撮像する複数のアライメントスコープを有することを特徴とする請求項1に記載の露光装置。
- 前記各アライメントスコープユニットは、撮像素子と、前記露光領域に付随する複数のアライメントマークの像を前記撮像素子上に投影する手段とを備え、前記撮像素子により、前記複数のアライメントマークを同時に撮像することを特徴とする請求項1に記載の露光装置。
- 前記制御手段は、ある露光領域について一方の前記アライメントスコープユニットでの計測を経てスキャン露光が完了した後、スキャン方向に直交する方向において隣接する別の露光領域についてスキャン露光を行う場合、該スキャン露光完了の後、他方の前記アライメントスコープユニットの計測位置に該別の露光領域に付随するマークが位置するように前記基板ステージの移動を制御することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の露光装置。
- 前記各アライメントスコープユニットのベースライン補正量を計測する手段を具備することを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の露光装置。
- 請求項1乃至5のいずれか1項に記載の露光装置を用いて基板を露光するステップを有することを特徴とするデバイス製造方法。
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